JPS60155320A - 放電加工装置 - Google Patents
放電加工装置Info
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- JPS60155320A JPS60155320A JP1051784A JP1051784A JPS60155320A JP S60155320 A JPS60155320 A JP S60155320A JP 1051784 A JP1051784 A JP 1051784A JP 1051784 A JP1051784 A JP 1051784A JP S60155320 A JPS60155320 A JP S60155320A
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- JP
- Japan
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- gain
- frequency
- amplitude
- unit
- electric discharge
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- Pending
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H1/00—Electrical discharge machining, i.e. removing metal with a series of rapidly recurring electrical discharges between an electrode and a workpiece in the presence of a fluid dielectric
- B23H1/02—Electric circuits specially adapted therefor, e.g. power supply, control, preventing short circuits or other abnormal discharges
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は放電加工装置の改良に関するものである。
従来の竺電加工装置の基本的なゲイン調整回路の一例を
、警1図に示す、電檀(1)と工作物(2)には加工用
電源(a) i=接続され、電fM(1)と工作物(2
)との間に、テ(レス電圧を印加している。また、Km
(1)と工作物(2)との間の平均加工電圧は、電気抵
抗器(4a) (4b)によ°て分圧されてゝぞ・その
風圧を■!とする。(5)は別の直流電源であり、その
両端に接続された可変抵抗器(6)によって、直流電源
(5)の電圧は分圧されてお9、その電圧を■2 とす
る。
、警1図に示す、電檀(1)と工作物(2)には加工用
電源(a) i=接続され、電fM(1)と工作物(2
)との間に、テ(レス電圧を印加している。また、Km
(1)と工作物(2)との間の平均加工電圧は、電気抵
抗器(4a) (4b)によ°て分圧されてゝぞ・その
風圧を■!とする。(5)は別の直流電源であり、その
両端に接続された可変抵抗器(6)によって、直流電源
(5)の電圧は分圧されてお9、その電圧を■2 とす
る。
■2はvlと比較するだめの基準電圧であシ、その電圧
値は可奪抵抗器(6)により調整される。電圧VlとV
2 kl、直列に接続された主軸モータの巻線(8)と
、ゲイン調整用可変抵抗器(7)の両端にそれぞれ印加
されてhる。V+と■2との成位差(■3 =V+ −
V2)によって、主軸モータ(8)の巻線(9)に流れ
る醒流の大きさ及び方向が変化し、主軸モータ(8)の
回転速度及び方向を調整しており、上記の動作にL9、
KW(1)と加工物(2)との間の距離を制御してやる
。この時ゲイン調整用抵抗M (7) e f化させる
ことにより、同−電位差■3に対する喧流が斐化し、こ
れがゲインの調整になる。具体的には可1抵抗器(7)
の抵抗器設定によシ、抵抗値が大きければ、電位差■3
による主軸モータの巻線(9)全流れる献流は小さくな
り、主軸モータ(8)の回転速度に遅くなる。また逆に
、可変抵抗器(7)の抵抗器の設定値が小さければ、電
位差V3にょるゼ流は大きくな9、主軸モータ(8)の
回転速度は速くなる。上下方向の動きについては、電位
差v3の符号によ−・て制御さね、 [11:位差■3
が正であれば、モータの巻線(9)の左から右方向に市
原は流れ、主軸モータ(8)げ下方向に下げようとする
5t′だ電位差■3が負であれば、モータの巻線(9)
の右から左方向に1r流(−流ね、主軸モータ(8)は
上方向に上げようとするユ上記の動作でもって、極間の
jll”j御がなされている。
値は可奪抵抗器(6)により調整される。電圧VlとV
2 kl、直列に接続された主軸モータの巻線(8)と
、ゲイン調整用可変抵抗器(7)の両端にそれぞれ印加
されてhる。V+と■2との成位差(■3 =V+ −
V2)によって、主軸モータ(8)の巻線(9)に流れ
る醒流の大きさ及び方向が変化し、主軸モータ(8)の
回転速度及び方向を調整しており、上記の動作にL9、
KW(1)と加工物(2)との間の距離を制御してやる
。この時ゲイン調整用抵抗M (7) e f化させる
ことにより、同−電位差■3に対する喧流が斐化し、こ
れがゲインの調整になる。具体的には可1抵抗器(7)
の抵抗器設定によシ、抵抗値が大きければ、電位差■3
による主軸モータの巻線(9)全流れる献流は小さくな
り、主軸モータ(8)の回転速度に遅くなる。また逆に
、可変抵抗器(7)の抵抗器の設定値が小さければ、電
位差V3にょるゼ流は大きくな9、主軸モータ(8)の
回転速度は速くなる。上下方向の動きについては、電位
差v3の符号によ−・て制御さね、 [11:位差■3
が正であれば、モータの巻線(9)の左から右方向に市
原は流れ、主軸モータ(8)げ下方向に下げようとする
5t′だ電位差■3が負であれば、モータの巻線(9)
の右から左方向に1r流(−流ね、主軸モータ(8)は
上方向に上げようとするユ上記の動作でもって、極間の
jll”j御がなされている。
上記の装置で放電カー下を行う場合、ゲイン調整用可父
抵抗に# (7)を、あらがじめJP定してやる必要が
あり、またその設定IOが一1uJ凶な饅とげ限らない
、なぜなら最適ゲインId ’?L (1(1)の形状
・7J11工面積によって異なり、加工進行中でも随時
変化するためである。具体的な動きとして、ゲインが高
すぎると、主軸モータ(8)の回転速度が上がシ、ti
(1)及び主軸モータ(8)との接触部より異音と振動
ケ発し加工速度全激減させると同時に、機械の寿命も短
くする。反対に、ゲインが低すぎると、主軸モータの回
転速lyがコ撰いために加工速度は、−やはり低下する
結果となる。しかしながら、ゲインを決定するのはむず
かしく、現状としては、作業者が機俯に付きっ切りで、
作業者の勘によって随時補正を施さなければならないと
いう欠点を持ち、放屯加工の無人化を阻んで^る。
抵抗に# (7)を、あらがじめJP定してやる必要が
あり、またその設定IOが一1uJ凶な饅とげ限らない
、なぜなら最適ゲインId ’?L (1(1)の形状
・7J11工面積によって異なり、加工進行中でも随時
変化するためである。具体的な動きとして、ゲインが高
すぎると、主軸モータ(8)の回転速度が上がシ、ti
(1)及び主軸モータ(8)との接触部より異音と振動
ケ発し加工速度全激減させると同時に、機械の寿命も短
くする。反対に、ゲインが低すぎると、主軸モータの回
転速lyがコ撰いために加工速度は、−やはり低下する
結果となる。しかしながら、ゲインを決定するのはむず
かしく、現状としては、作業者が機俯に付きっ切りで、
作業者の勘によって随時補正を施さなければならないと
いう欠点を持ち、放屯加工の無人化を阻んで^る。
この発明は、上記のような従来のものの欠点を除去する
ためになされたもので、従来の放電加工装置に、振1池
測だ装置及び、周波数測定装置、振幅判断装置1周波数
判断技置、ゲイン変更指令装置を備えることにより、ゲ
インを自:効1シ11何1できる放電加工装置を提供す
ることを目的としている。
ためになされたもので、従来の放電加工装置に、振1池
測だ装置及び、周波数測定装置、振幅判断装置1周波数
判断技置、ゲイン変更指令装置を備えることにより、ゲ
インを自:効1シ11何1できる放電加工装置を提供す
ることを目的としている。
第2図はこの発明の一寅施例を示す(苦成図である。
即ち、従来のゲイン調整回路に、自動で随時ゲインff
:最適値に設定するような:A整回路にするために、主
軸にはりニアヌク°−ルα0’を取9付け、リニアスケ
ール(11の出力より、振幅及び周波数を測定する振幅
ン則定装置α東と周波数測定装置(121を備え、上記
各測定圃の出力2−/cれぞれに1定の値と比較し判断
するために、振幅判断装置α第と周波数判断装置α〜に
入力する。上記判−1結果に基づいで、上記制御装置の
制御糸のゲイン會調琶するゲイン変更指令装置qυに入
力され、ゲイン変更秒置から最頑な方向量をパルスモー
タαDに出]Jする。パルスモータ(IηはゲインA整
用の1J槌抵抗滞(7)を切かす。
:最適値に設定するような:A整回路にするために、主
軸にはりニアヌク°−ルα0’を取9付け、リニアスケ
ール(11の出力より、振幅及び周波数を測定する振幅
ン則定装置α東と周波数測定装置(121を備え、上記
各測定圃の出力2−/cれぞれに1定の値と比較し判断
するために、振幅判断装置α第と周波数判断装置α〜に
入力する。上記判−1結果に基づいで、上記制御装置の
制御糸のゲイン會調琶するゲイン変更指令装置qυに入
力され、ゲイン変更秒置から最頑な方向量をパルスモー
タαDに出]Jする。パルスモータ(IηはゲインA整
用の1J槌抵抗滞(7)を切かす。
次に1周波数測定装置@、振幅測定装置α東1周波数判
断装置a9.振幅判ω「装置−、ゲイン2史指令装置O
Qの、酷合的な動作の流izを、第3図に示す5最初に
振幅データと周波数データが、振幅イ勘定装置側と周波
数測定装置(2)によつ°C入力される(ステップ0υ
)5次に入力された振幅データが、最適振幅1liL範
囲上限より大きいかどうかを比較する(ステップu’a
> 、振幅及び周波数とゲインの関係′f:第4肉に
示すが、振幅データと周波数データが、上限設定値より
大きい時のみ、ゲイン変更装置qGによってゲインを下
げるという動作を行わせるため、振幅データが上限設定
6119大であれば、次に周波数データと、最J□□□
周波数−G囲下画との比較を、周波数判!rr装(腎α
eによって比較する(ステップ■)。周波数データと上
限Jシ定値との比較(ヌテップ錯)によって、周波数デ
ータが、」−眼設定値より大であれば、ゲイン変史指令
装@’、 O(Dによッテ、ゲイン減少指令が、パルス
モータσ〃にM られる(ステップ夙)。
断装置a9.振幅判ω「装置−、ゲイン2史指令装置O
Qの、酷合的な動作の流izを、第3図に示す5最初に
振幅データと周波数データが、振幅イ勘定装置側と周波
数測定装置(2)によつ°C入力される(ステップ0υ
)5次に入力された振幅データが、最適振幅1liL範
囲上限より大きいかどうかを比較する(ステップu’a
> 、振幅及び周波数とゲインの関係′f:第4肉に
示すが、振幅データと周波数データが、上限設定値より
大きい時のみ、ゲイン変更装置qGによってゲインを下
げるという動作を行わせるため、振幅データが上限設定
6119大であれば、次に周波数データと、最J□□□
周波数−G囲下画との比較を、周波数判!rr装(腎α
eによって比較する(ステップ■)。周波数データと上
限Jシ定値との比較(ヌテップ錯)によって、周波数デ
ータが、」−眼設定値より大であれば、ゲイン変史指令
装@’、 O(Dによッテ、ゲイン減少指令が、パルス
モータσ〃にM られる(ステップ夙)。
次に、第4図に示す油p、糸幅データが最適振1咄値蔽
囲下限より小でかっ、周波μ・データが最適周波数値す
囲上限より小である詩のみ9、ゲイン変更装置OQによ
ってゲインを上げるとhう動作全行わせるため、振幅デ
ータと下1沢設定饋との比f[4(ステップ曲)にエフ
、振幅データが、下心設定fuILり小であれば、次に
周波数テークとんガ;周波数上限との比軟を1周e、数
判Wf伎置0しによって比較する(ステップ田)。周波
数データと、上限設定値との比w(ステップ(至))に
よって、周波数データが上限設定頃より小であれば、ゲ
イン変更指令装[(lblによってゲイン増大指令がパ
ルスモータαυに送られる(ステップ@)。上記に示す
範囲以外では第4図に示す通り、そのままの状匹が最適
であるため、ゲイン変更指令装置叫からは、ゲイン減少
指令及びゲイン増大指令のステップ(ステップ(ロ)@
)(1通らずに、処理ザイクルの先頭(ステップ0υ)
に仄る。
囲下限より小でかっ、周波μ・データが最適周波数値す
囲上限より小である詩のみ9、ゲイン変更装置OQによ
ってゲインを上げるとhう動作全行わせるため、振幅デ
ータと下1沢設定饋との比f[4(ステップ曲)にエフ
、振幅データが、下心設定fuILり小であれば、次に
周波数テークとんガ;周波数上限との比軟を1周e、数
判Wf伎置0しによって比較する(ステップ田)。周波
数データと、上限設定値との比w(ステップ(至))に
よって、周波数データが上限設定頃より小であれば、ゲ
イン変更指令装[(lblによってゲイン増大指令がパ
ルスモータαυに送られる(ステップ@)。上記に示す
範囲以外では第4図に示す通り、そのままの状匹が最適
であるため、ゲイン変更指令装置叫からは、ゲイン減少
指令及びゲイン増大指令のステップ(ステップ(ロ)@
)(1通らずに、処理ザイクルの先頭(ステップ0υ)
に仄る。
振幅測定装置の動作IQ坤を第5図に示す。主軸が上方
向に動いた時のブラスイg号をカウンタ叩で数える。リ
ニアスケールの信号に一定の主軸移動につ@1パルス出
力されるため、上方向に動いたフ”ラス信号°の連1完
1直の敏によって、どれだけ振;陽があるか判定できる
。ここで主軸が下方向に動いた詩のマイナス信号が入力
されると、マイナス信号の前までにあったプラス信号の
数がラッチ回路Q呻により、ラッチされ′VO四を通し
てCPU(11Jに送られる。またマイナス信号は%遅
延回路0831に通り、ラッチのタイミングより少し遅
れてリセットされ、また新しくプラス信号が入力される
と、カ へウンタαηで、主軸の振幅量ヲ数え始める。
向に動いた時のブラスイg号をカウンタ叩で数える。リ
ニアスケールの信号に一定の主軸移動につ@1パルス出
力されるため、上方向に動いたフ”ラス信号°の連1完
1直の敏によって、どれだけ振;陽があるか判定できる
。ここで主軸が下方向に動いた詩のマイナス信号が入力
されると、マイナス信号の前までにあったプラス信号の
数がラッチ回路Q呻により、ラッチされ′VO四を通し
てCPU(11Jに送られる。またマイナス信号は%遅
延回路0831に通り、ラッチのタイミングより少し遅
れてリセットされ、また新しくプラス信号が入力される
と、カ へウンタαηで、主軸の振幅量ヲ数え始める。
したがって、この装置により、主軸の上方向の移LiI
I量(振幅)が測定できる。
I量(振幅)が測定できる。
次に周波数データ@を第6図に示す。主軸の上下運動に
ともなう、リニアスケールαqの出力信−号を可逆カウ
ンタαηが数え、それ(iz D/Aコンバータ(社)
によりアナログ信号に駁換し、その周波数をFA コン
バーダ四で、直圧に於換する。f1″模された酸圧信号
のアナログ信号をNのコンバータ(至)でデジタル(白
妙に変侠し、T、10CAを通してCPU■υに入力す
る。
ともなう、リニアスケールαqの出力信−号を可逆カウ
ンタαηが数え、それ(iz D/Aコンバータ(社)
によりアナログ信号に駁換し、その周波数をFA コン
バーダ四で、直圧に於換する。f1″模された酸圧信号
のアナログ信号をNのコンバータ(至)でデジタル(白
妙に変侠し、T、10CAを通してCPU■υに入力す
る。
なお、この発明の1湾成に以上の実施例に限定されるも
のでなく、例えば周波数及び振I唱検出のためのリニア
スケールの池に、タコジェネ、エンコーダ、レゾルバ、
差動トランスなども利用でき有効である。
のでなく、例えば周波数及び振I唱検出のためのリニア
スケールの池に、タコジェネ、エンコーダ、レゾルバ、
差動トランスなども利用でき有効である。
以上のように、この発明により、従来作業者が機械に付
きっ切りで行ってめたゲインli8整が、自動的に随時
決定されるため、上記のような欠点は改善され、放電加
工の自動化、無人化につながる。
きっ切りで行ってめたゲインli8整が、自動的に随時
決定されるため、上記のような欠点は改善され、放電加
工の自動化、無人化につながる。
また%最適なゲインが得られるために、加工速度も上昇
し、さらには振動も載板するために機械の寿命も長くな
り有効である。
し、さらには振動も載板するために機械の寿命も長くな
り有効である。
第1図は従来の基本的なゲイン調整の回路図、@2図は
従来の回路に、自動ゲイン−Jゐ整袋11金組み込んだ
回路図、第3図に自動ゲイン調整多訛の制御卸のフロー
チャート1刃、椙4は1v工振幅及び周波数とゲインの
13III係図、第5図α嶽嗜陥判O「装置り図、第6
図は周波数判断装置図を示す。 図中、(1)はゼ1章、(2)(″を加工°吻、l:3
)t、r加工用心諒、(4)は畦気抵抗器、(5)げ直
流電源、(6ン及び(7)は可髪抵抗器、(8)に主軸
モータ、(9)は主軸モータの巻線、Qlはリニアスケ
ール、(1υはパルスモータ、@は周波数ホリ定装置べ
、t13は振ψ品沖j定伎11、圓(2」示I品イ41
断装置、α句は周波数列断読1i’Ltt針ニゲイン変
更装置。 α7)は可逆カウンタ、0尋は遅延回路、v9はう・ソ
チ装置、(イ)は入出力製置、シVは中央地理装置を示
す。 なお図中同一符号は同一部分を示す。 代理人 大岩増雄 第1図 第2図 第3図 手続補正書(自発) 昭和 年 月 日 特許庁長官殿 1、事件の表示 特願昭58−010517号2、発明
の名称 放電加工装置 3、補正をする者 代表者片山仁へ部 5、補正の対象 (1)明細書の特許請求の範囲の欄。 (2)明細書の発明の詳細な説明の欄。 (3) 明細書の図面の簡単な説明の欄。 6、補正の内容 fl) 明細書の特許請求の範囲を別紙の通り訂正する
。 (2)明細書中、第2負第4行目に「パレス電圧」とあ
るのを「パルス電圧」と訂正する。 (3)同書中、第2頁第12行目に[主軸モータの巻線
(8)ゴとあるのをU主軸モータ(8)の巻線(9)J
と訂正する。 (4)同書中、第2頁第18行目に「加工物(2)」と
あるのを「工作物(2)」と訂正する。 (5)同書中、第3頁第3行目に「主軸モータの巻線(
9)」とあるのを[主軸モータ(8)の巻#(9Nと訂
正する。 (6)同書中、第6頁第1行目に「上限設定値」とある
のを「下限設定値」と訂正する。 (7) 同書中、第6頁第8行目〜第9行目に[上限設
定値Jとあるのを「下限設定値Jと訂正する。 (8)同書中、第9頁第20行目にrt2Dは中央処理
装置を示す。」とあるのを「Qυは中央処理装置。 翰ハイコンバータ、(ハ)はいコンバータ、(財)は〜
勺コンバータを示す。」と訂正する。 7、添付書類の目録 (1)訂正後の特許請求の範囲を記載した書面1通 以上 特許請求の範囲 対向した電極と被加工物との間の距離を一定に保つよう
に制御されている極間に、パルス電圧を印加して、上記
被加工物を加工する放電加工装置において、主軸振動の
振幅を検出し、測定する振幅測定装置と、主軸振動の周
波数を検出し測定する周波数測定装置を備え、上記各測
定値の出力を読み込み、それぞれ所定の値と比較し判断
するだめの振幅判断装置及び周波数判断装置と、該判断
装置の判断結果に基づいて、上記制御装置の制御系のゲ
インを調整するゲイン変更指令装置を備えたことを特徴
とする放電加工装置。
従来の回路に、自動ゲイン−Jゐ整袋11金組み込んだ
回路図、第3図に自動ゲイン調整多訛の制御卸のフロー
チャート1刃、椙4は1v工振幅及び周波数とゲインの
13III係図、第5図α嶽嗜陥判O「装置り図、第6
図は周波数判断装置図を示す。 図中、(1)はゼ1章、(2)(″を加工°吻、l:3
)t、r加工用心諒、(4)は畦気抵抗器、(5)げ直
流電源、(6ン及び(7)は可髪抵抗器、(8)に主軸
モータ、(9)は主軸モータの巻線、Qlはリニアスケ
ール、(1υはパルスモータ、@は周波数ホリ定装置べ
、t13は振ψ品沖j定伎11、圓(2」示I品イ41
断装置、α句は周波数列断読1i’Ltt針ニゲイン変
更装置。 α7)は可逆カウンタ、0尋は遅延回路、v9はう・ソ
チ装置、(イ)は入出力製置、シVは中央地理装置を示
す。 なお図中同一符号は同一部分を示す。 代理人 大岩増雄 第1図 第2図 第3図 手続補正書(自発) 昭和 年 月 日 特許庁長官殿 1、事件の表示 特願昭58−010517号2、発明
の名称 放電加工装置 3、補正をする者 代表者片山仁へ部 5、補正の対象 (1)明細書の特許請求の範囲の欄。 (2)明細書の発明の詳細な説明の欄。 (3) 明細書の図面の簡単な説明の欄。 6、補正の内容 fl) 明細書の特許請求の範囲を別紙の通り訂正する
。 (2)明細書中、第2負第4行目に「パレス電圧」とあ
るのを「パルス電圧」と訂正する。 (3)同書中、第2頁第12行目に[主軸モータの巻線
(8)ゴとあるのをU主軸モータ(8)の巻線(9)J
と訂正する。 (4)同書中、第2頁第18行目に「加工物(2)」と
あるのを「工作物(2)」と訂正する。 (5)同書中、第3頁第3行目に「主軸モータの巻線(
9)」とあるのを[主軸モータ(8)の巻#(9Nと訂
正する。 (6)同書中、第6頁第1行目に「上限設定値」とある
のを「下限設定値」と訂正する。 (7) 同書中、第6頁第8行目〜第9行目に[上限設
定値Jとあるのを「下限設定値Jと訂正する。 (8)同書中、第9頁第20行目にrt2Dは中央処理
装置を示す。」とあるのを「Qυは中央処理装置。 翰ハイコンバータ、(ハ)はいコンバータ、(財)は〜
勺コンバータを示す。」と訂正する。 7、添付書類の目録 (1)訂正後の特許請求の範囲を記載した書面1通 以上 特許請求の範囲 対向した電極と被加工物との間の距離を一定に保つよう
に制御されている極間に、パルス電圧を印加して、上記
被加工物を加工する放電加工装置において、主軸振動の
振幅を検出し、測定する振幅測定装置と、主軸振動の周
波数を検出し測定する周波数測定装置を備え、上記各測
定値の出力を読み込み、それぞれ所定の値と比較し判断
するだめの振幅判断装置及び周波数判断装置と、該判断
装置の判断結果に基づいて、上記制御装置の制御系のゲ
インを調整するゲイン変更指令装置を備えたことを特徴
とする放電加工装置。
Claims (1)
- 対向したKWと被加工物との間の距#を−、定に保つよ
うに制御されているU間に・/< v i q圧を印加
して、上記被加工物を加工する放電加工装置におりで、
主軸振動の振幅を検出し1.測定する振幅測定装置と、
主軸振動の周波数>)3出し測定する周波数測定装置を
1!川え、上記各ru、す定値の出力を読み込み・そ″
ぞれ所定蹟と比較し判#、tbための振幅判断装置及び
周、波数判断装置と、該判断装置の判断結果に基づいて
、上記制御装置の制御系のゲインを調整するゲインf更
指令装置を備えたことを特徴とする放電加工装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1051784A JPS60155320A (ja) | 1984-01-24 | 1984-01-24 | 放電加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1051784A JPS60155320A (ja) | 1984-01-24 | 1984-01-24 | 放電加工装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60155320A true JPS60155320A (ja) | 1985-08-15 |
Family
ID=11752414
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1051784A Pending JPS60155320A (ja) | 1984-01-24 | 1984-01-24 | 放電加工装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60155320A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4792654A (en) * | 1987-11-04 | 1988-12-20 | Hughes Aircraft Company | Method and apparatus for manufacturing slow-wave structures for traveling-wave tubes |
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JP2009137367A (ja) * | 2007-12-05 | 2009-06-25 | Owl Porter:Kk | コンテナー内の結露の発生を抑制することができる冷凍輸送車 |
WO2011161764A1 (ja) * | 2010-06-22 | 2011-12-29 | 三菱電機株式会社 | 放電加工制御装置 |
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1984
- 1984-01-24 JP JP1051784A patent/JPS60155320A/ja active Pending
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