JPS60155320A - 放電加工装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は放電加工装置の改良に関するものである。

〔従来技術〕

従来の竺電加工装置の基本的なゲイン調整回路の一例を
、警１図に示す、電檀（１）と工作物（２）には加工用
電源（ａ）　ｉ＝接続され、電ｆＭ（１）と工作物（２
）との間に、テ（レス電圧を印加している。また、Ｋｍ
（１）と工作物（２）との間の平均加工電圧は、電気抵
抗器（４ａ）　（４ｂ）によ°て分圧されてゝぞ・その
風圧を■！とする。（５）は別の直流電源であり、その
両端に接続された可変抵抗器（６）によって、直流電源
（５）の電圧は分圧されてお９、その電圧を■２　とす
る。

■２はｖｌと比較するだめの基準電圧であシ、その電圧
値は可奪抵抗器（６）により調整される。電圧ＶｌとＶ
２　ｋｌ、直列に接続された主軸モータの巻線（８）と
、ゲイン調整用可変抵抗器（７）の両端にそれぞれ印加
されてｈる。Ｖ＋と■２との成位差（■３　＝Ｖ＋　−
Ｖ２）によって、主軸モータ（８）の巻線（９）に流れ
る醒流の大きさ及び方向が変化し、主軸モータ（８）の
回転速度及び方向を調整しており、上記の動作にＬ９、
ＫＷ（１）と加工物（２）との間の距離を制御してやる
。この時ゲイン調整用抵抗Ｍ　（７）　ｅ　ｆ化させる
ことにより、同−電位差■３に対する喧流が斐化し、こ
れがゲインの調整になる。具体的には可１抵抗器（７）
の抵抗器設定によシ、抵抗値が大きければ、電位差■３
による主軸モータの巻線（９）全流れる献流は小さくな
り、主軸モータ（８）の回転速度に遅くなる。また逆に
、可変抵抗器（７）の抵抗器の設定値が小さければ、電
位差Ｖ３にょるゼ流は大きくな９、主軸モータ（８）の
回転速度は速くなる。上下方向の動きについては、電位
差ｖ３の符号によ−・て制御さね、　［１１：位差■３
が正であれば、モータの巻線（９）の左から右方向に市
原は流れ、主軸モータ（８）げ下方向に下げようとする
５ｔ′だ電位差■３が負であれば、モータの巻線（９）
の右から左方向に１ｒ流（−流ね、主軸モータ（８）は
上方向に上げようとするユ上記の動作でもって、極間の
ｊｌｌ”ｊ御がなされている。

上記の装置で放電カー下を行う場合、ゲイン調整用可父
抵抗に＃　（７）を、あらがじめＪＰ定してやる必要が
あり、またその設定ＩＯが一１ｕＪ凶な饅とげ限らない
、なぜなら最適ゲインＩｄ　’？Ｌ　（１（１）の形状
・７Ｊ１１工面積によって異なり、加工進行中でも随時
変化するためである。具体的な動きとして、ゲインが高
すぎると、主軸モータ（８）の回転速度が上がシ、ｔｉ
（１）及び主軸モータ（８）との接触部より異音と振動
ケ発し加工速度全激減させると同時に、機械の寿命も短
くする。反対に、ゲインが低すぎると、主軸モータの回
転速ｌｙがコ撰いために加工速度は、−やはり低下する
結果となる。しかしながら、ゲインを決定するのはむず
かしく、現状としては、作業者が機俯に付きっ切りで、
作業者の勘によって随時補正を施さなければならないと
いう欠点を持ち、放屯加工の無人化を阻んで＾る。

〔発明の概要〕

この発明は、上記のような従来のものの欠点を除去する
ためになされたもので、従来の放電加工装置に、振１池
測だ装置及び、周波数測定装置、振幅判断装置１周波数
判断技置、ゲイン変更指令装置を備えることにより、ゲ
インを自：効１シ１１何１できる放電加工装置を提供す
ることを目的としている。

第２図はこの発明の一寅施例を示す（苦成図である。

即ち、従来のゲイン調整回路に、自動で随時ゲインｆｆ
：最適値に設定するような：Ａ整回路にするために、主
軸にはりニアヌク°−ルα０’を取９付け、リニアスケ
ール（１１の出力より、振幅及び周波数を測定する振幅
ン則定装置α東と周波数測定装置（１２１を備え、上記
各測定圃の出力２−／ｃれぞれに１定の値と比較し判断
するために、振幅判断装置α第と周波数判断装置α〜に
入力する。上記判−１結果に基づいで、上記制御装置の
制御糸のゲイン會調琶するゲイン変更指令装置ｑυに入
力され、ゲイン変更秒置から最頑な方向量をパルスモー
タαＤに出］Ｊする。パルスモータ（ＩηはゲインＡ整
用の１Ｊ槌抵抗滞（７）を切かす。

次に１周波数測定装置＠、振幅測定装置α東１周波数判
断装置ａ９．振幅判ω「装置−、ゲイン２史指令装置Ｏ
Ｑの、酷合的な動作の流ｉｚを、第３図に示す５最初に
振幅データと周波数データが、振幅イ勘定装置側と周波
数測定装置（２）によつ°Ｃ入力される（ステップ０υ
）５次に入力された振幅データが、最適振幅１ｌｉＬ範
囲上限より大きいかどうかを比較する（ステップｕ’ａ
　＞　、振幅及び周波数とゲインの関係′ｆ：第４肉に
示すが、振幅データと周波数データが、上限設定値より
大きい時のみ、ゲイン変更装置ｑＧによってゲインを下
げるという動作を行わせるため、振幅データが上限設定
６１１９大であれば、次に周波数データと、最Ｊ□□□
周波数−Ｇ囲下画との比較を、周波数判！ｒｒ装（腎α
ｅによって比較する（ステップ■）。周波数データと上
限Ｊシ定値との比較（ヌテップ錯）によって、周波数デ
ータが、」−眼設定値より大であれば、ゲイン変史指令
装＠’、　Ｏ（Ｄによッテ、ゲイン減少指令が、パルス
モータσ〃にＭ　られる（ステップ夙）。

次に、第４図に示す油ｐ、糸幅データが最適振１咄値蔽
囲下限より小でかっ、周波μ・データが最適周波数値す
囲上限より小である詩のみ９、ゲイン変更装置ＯＱによ
ってゲインを上げるとｈう動作全行わせるため、振幅デ
ータと下１沢設定饋との比ｆ［４（ステップ曲）にエフ
、振幅データが、下心設定ｆｕＩＬり小であれば、次に
周波数テークとんガ；周波数上限との比軟を１周ｅ、数
判Ｗｆ伎置０しによって比較する（ステップ田）。周波
数データと、上限設定値との比ｗ（ステップ（至））に
よって、周波数データが上限設定頃より小であれば、ゲ
イン変更指令装［（ｌｂｌによってゲイン増大指令がパ
ルスモータαυに送られる（ステップ＠）。上記に示す
範囲以外では第４図に示す通り、そのままの状匹が最適
であるため、ゲイン変更指令装置叫からは、ゲイン減少
指令及びゲイン増大指令のステップ（ステップ（ロ）＠
）（１通らずに、処理ザイクルの先頭（ステップ０υ）
に仄る。

振幅測定装置の動作ＩＱ坤を第５図に示す。主軸が上方
向に動いた時のブラスイｇ号をカウンタ叩で数える。リ
ニアスケールの信号に一定の主軸移動につ＠１パルス出
力されるため、上方向に動いたフ”ラス信号°の連１完
１直の敏によって、どれだけ振；陽があるか判定できる
。ここで主軸が下方向に動いた詩のマイナス信号が入力
されると、マイナス信号の前までにあったプラス信号の
数がラッチ回路Ｑ呻により、ラッチされ′ＶＯ四を通し
てＣＰＵ（１１Ｊに送られる。またマイナス信号は％遅
延回路０８３１に通り、ラッチのタイミングより少し遅
れてリセットされ、また新しくプラス信号が入力される
と、カ　へウンタαηで、主軸の振幅量ヲ数え始める。

したがって、この装置により、主軸の上方向の移ＬｉＩ
Ｉ量（振幅）が測定できる。

次に周波数データ＠を第６図に示す。主軸の上下運動に
ともなう、リニアスケールαｑの出力信−号を可逆カウ
ンタαηが数え、それ（ｉｚ　Ｄ／Ａコンバータ（社）
によりアナログ信号に駁換し、その周波数をＦＡ　コン
バーダ四で、直圧に於換する。ｆ１″模された酸圧信号
のアナログ信号をＮのコンバータ（至）でデジタル（白
妙に変侠し、Ｔ、１０ＣＡを通してＣＰＵ■υに入力す
る。

なお、この発明の１湾成に以上の実施例に限定されるも
のでなく、例えば周波数及び振Ｉ唱検出のためのリニア
スケールの池に、タコジェネ、エンコーダ、レゾルバ、
差動トランスなども利用でき有効である。

〔発明の効果〕

以上のように、この発明により、従来作業者が機械に付
きっ切りで行ってめたゲインｌｉ８整が、自動的に随時
決定されるため、上記のような欠点は改善され、放電加
工の自動化、無人化につながる。

また％最適なゲインが得られるために、加工速度も上昇
し、さらには振動も載板するために機械の寿命も長くな
り有効である。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の基本的なゲイン調整の回路図、＠２図は
従来の回路に、自動ゲイン−Ｊゐ整袋１１金組み込んだ
回路図、第３図に自動ゲイン調整多訛の制御卸のフロー
チャート１刃、椙４は１ｖ工振幅及び周波数とゲインの
１３ＩＩＩ係図、第５図α嶽嗜陥判Ｏ「装置り図、第６
図は周波数判断装置図を示す。 図中、（１）はゼ１章、（２）（″を加工°吻、ｌ：３
）ｔ、ｒ加工用心諒、（４）は畦気抵抗器、（５）げ直
流電源、（６ン及び（７）は可髪抵抗器、（８）に主軸
モータ、（９）は主軸モータの巻線、Ｑｌはリニアスケ
ール、（１υはパルスモータ、＠は周波数ホリ定装置べ
、ｔ１３は振ψ品沖ｊ定伎１１、圓（２」示Ｉ品イ４１
断装置、α句は周波数列断読１ｉ’Ｌｔｔ針ニゲイン変
更装置。 α７）は可逆カウンタ、０尋は遅延回路、ｖ９はう・ソ
チ装置、（イ）は入出力製置、シＶは中央地理装置を示
す。 なお図中同一符号は同一部分を示す。 代理人　大岩増雄 第１図 第２図 第３図 手続補正書（自発） 昭和　年　月　日 特許庁長官殿 １、事件の表示　特願昭５８−０１０５１７号２、発明
の名称 放電加工装置 ３、補正をする者 代表者片山仁へ部 ５、補正の対象 （１）明細書の特許請求の範囲の欄。 （２）明細書の発明の詳細な説明の欄。 （３）　明細書の図面の簡単な説明の欄。 ６、補正の内容 ｆｌ）　明細書の特許請求の範囲を別紙の通り訂正する
。 （２）明細書中、第２負第４行目に「パレス電圧」とあ
るのを「パルス電圧」と訂正する。 （３）同書中、第２頁第１２行目に［主軸モータの巻線
（８）ゴとあるのをＵ主軸モータ（８）の巻線（９）Ｊ
と訂正する。 （４）同書中、第２頁第１８行目に「加工物（２）」と
あるのを「工作物（２）」と訂正する。 （５）同書中、第３頁第３行目に「主軸モータの巻線（
９）」とあるのを［主軸モータ（８）の巻＃（９Ｎと訂
正する。 （６）同書中、第６頁第１行目に「上限設定値」とある
のを「下限設定値」と訂正する。 （７）　同書中、第６頁第８行目〜第９行目に［上限設
定値Ｊとあるのを「下限設定値Ｊと訂正する。 （８）同書中、第９頁第２０行目にｒｔ２Ｄは中央処理
装置を示す。」とあるのを「Ｑυは中央処理装置。 翰ハイコンバータ、（ハ）はいコンバータ、（財）は〜
勺コンバータを示す。」と訂正する。 ７、添付書類の目録 （１）訂正後の特許請求の範囲を記載した書面１通 以上 特許請求の範囲 対向した電極と被加工物との間の距離を一定に保つよう
に制御されている極間に、パルス電圧を印加して、上記
被加工物を加工する放電加工装置において、主軸振動の
振幅を検出し、測定する振幅測定装置と、主軸振動の周
波数を検出し測定する周波数測定装置を備え、上記各測
定値の出力を読み込み、それぞれ所定の値と比較し判断
するだめの振幅判断装置及び周波数判断装置と、該判断
装置の判断結果に基づいて、上記制御装置の制御系のゲ
インを調整するゲイン変更指令装置を備えたことを特徴
とする放電加工装置。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 対向したＫＷと被加工物との間の距＃を−、定に保つよ
   うに制御されているＵ間に・／＜　ｖ　ｉ　ｑ圧を印加
   して、上記被加工物を加工する放電加工装置におりで、
   主軸振動の振幅を検出し１．測定する振幅測定装置と、
   主軸振動の周波数＞）３出し測定する周波数測定装置を
   １！川え、上記各ｒｕ、す定値の出力を読み込み・そ″
   ぞれ所定蹟と比較し判＃、ｔｂための振幅判断装置及び
   周、波数判断装置と、該判断装置の判断結果に基づいて
   、上記制御装置の制御系のゲインを調整するゲインｆ更
   指令装置を備えたことを特徴とする放電加工装置。