JPS60137477A - 球形物の選別装置 - Google Patents
球形物の選別装置Info
- Publication number
- JPS60137477A JPS60137477A JP24732583A JP24732583A JPS60137477A JP S60137477 A JPS60137477 A JP S60137477A JP 24732583 A JP24732583 A JP 24732583A JP 24732583 A JP24732583 A JP 24732583A JP S60137477 A JPS60137477 A JP S60137477A
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- sorting
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- rotary disk
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は球形物若しくはこれに近似した形状の物品を選
別するための装置特に選別物に光を投射してその反射光
の光量を測定し−ご光学的な選別を行うようにした球形
物の選別装置に関するものである。
別するための装置特に選別物に光を投射してその反射光
の光量を測定し−ご光学的な選別を行うようにした球形
物の選別装置に関するものである。
本発明の目的は構成が簡単であり、而も迅速且つ正確に
選別を行うことができる球形物の選別装置を提供しよう
とするものである。
選別を行うことができる球形物の選別装置を提供しよう
とするものである。
選別をしようとする物品に光を投射しその反射光の光量
により、所定の反射光以外のものを選別するという手段
は従来より知られている。然しなからこれらは専ら穀類
等のような粒状物の選別を対象としておりその選別方法
も所定のガイドから連続的に流下する物品にその流下方
向と直交するようにして光を投射し、この投射光の反射
光をセンサーで検知して選別を行うという方法であった
ため被選別物の形状が粒状物のようなものに限定され例
えば真珠のような一定の大きさをもった球形物の選別に
は適さないという欠点があった。
により、所定の反射光以外のものを選別するという手段
は従来より知られている。然しなからこれらは専ら穀類
等のような粒状物の選別を対象としておりその選別方法
も所定のガイドから連続的に流下する物品にその流下方
向と直交するようにして光を投射し、この投射光の反射
光をセンサーで検知して選別を行うという方法であった
ため被選別物の形状が粒状物のようなものに限定され例
えば真珠のような一定の大きさをもった球形物の選別に
は適さないという欠点があった。
本発明はこれらの問題に対処しようとするものであり以
下に記載する発明の完成によりその目的を達成すること
ができたものである。
下に記載する発明の完成によりその目的を達成すること
ができたものである。
以下に本発明の実施例を図面を参照して説明する。
総括的にAで示す選別装置は円形の基gi1、円形の回
転盤2、流入ガイド3及びエジェクター4を含む光セン
サ−5によって構成している。基盤1と回転盤2とは同
一の大きさをもった円形の盤体をもって構成するもので
あり一定の傾斜を持つように取りつけられた基盤1の上
面に回転盤2を回転自在に取りつけている。回転盤2は
その周縁部にそって被選別物P・・Pを収容するための
透孔21・・21を所定間隔をおくようにして多数穿設
している。光センサ−5は回転盤2の透孔21にその上
面より投射された投射光の反射光を検知できるように設
置しておりここで検知した反射光が所定値を越えるか或
いは所定値に達しない場合にはその一端に接続した増幅
機構51及びタイミング調節機構52を介してエジェク
ター4により排除を行うようにしている。エジェクター
4の作動は圧縮空気の噴出による公知の強制排除方法を
用いることが望ましい。なお回転盤2の周縁部には被選
別物P・・Pの脱落防止の為の周壁22を設けている。
転盤2、流入ガイド3及びエジェクター4を含む光セン
サ−5によって構成している。基盤1と回転盤2とは同
一の大きさをもった円形の盤体をもって構成するもので
あり一定の傾斜を持つように取りつけられた基盤1の上
面に回転盤2を回転自在に取りつけている。回転盤2は
その周縁部にそって被選別物P・・Pを収容するための
透孔21・・21を所定間隔をおくようにして多数穿設
している。光センサ−5は回転盤2の透孔21にその上
面より投射された投射光の反射光を検知できるように設
置しておりここで検知した反射光が所定値を越えるか或
いは所定値に達しない場合にはその一端に接続した増幅
機構51及びタイミング調節機構52を介してエジェク
ター4により排除を行うようにしている。エジェクター
4の作動は圧縮空気の噴出による公知の強制排除方法を
用いることが望ましい。なお回転盤2の周縁部には被選
別物P・・Pの脱落防止の為の周壁22を設けている。
流入ガイド3は回転盤2の上面の回転開始部位に盤面と
近接するようにして設けるものであり回転盤2の面上に
投入された被選別物P・・Pが透孔21に一つ宛嵌入す
ることを案内し且つ余分の被選別物が光センサ−4の方
向に移動させられるのを防止している。°11は基盤1
の周縁部に形成した被選別物の落下孔であり回転盤2の
透孔21が該孔の上面に位置した時に基盤1による支承
が解放されて落下させられるようにしている。12は被
選別物の分離板であり自重により落下する被選別物Pが
回転盤2の回転による慣性力の影響によって遠くまで放
られないようにし不合格品との区別を完全に行うことが
できるようにしている。なお基盤1に形成する落下孔1
1は第1図及び第2図例示のように一個所だけ設ける場
合のほか、第6図及び第7図に例示するように開閉底1
3と落下孔11との併用によることも出来る。この場合
には開閉底13はセンサー5及びタイミング調節機構5
2と連動させて不合格品が開閉底13部分に来た時にの
みこれが解放するようし合格選別物P・・Pが通過する
場合にはそのまま閉止の状態を維持するようにすればよ
い。また光センサ−5は選別精度を高めるために複数個
設置することが望ましいが(第4図参照)その他に第5
図例示のように上下両面からセンサー5.5による検知
を行うようにすることもできる。但しセンサー5を回転
盤2の上面側からのみ行うようにする場合には基盤1を
センサー5の選別用バックグラウンドとして利用するこ
とができるが上下両面から光の投射を行う場合には基盤
Iを透明若しくは透明に近い材質で構成し別に選別用の
バンクグラウンド(図示しない)を設レノることが必要
である。この場合のバックグラウンドの取りつけ方等は
公知の技術に従えばよい。図中6は投射光源用のランプ
である。
近接するようにして設けるものであり回転盤2の面上に
投入された被選別物P・・Pが透孔21に一つ宛嵌入す
ることを案内し且つ余分の被選別物が光センサ−4の方
向に移動させられるのを防止している。°11は基盤1
の周縁部に形成した被選別物の落下孔であり回転盤2の
透孔21が該孔の上面に位置した時に基盤1による支承
が解放されて落下させられるようにしている。12は被
選別物の分離板であり自重により落下する被選別物Pが
回転盤2の回転による慣性力の影響によって遠くまで放
られないようにし不合格品との区別を完全に行うことが
できるようにしている。なお基盤1に形成する落下孔1
1は第1図及び第2図例示のように一個所だけ設ける場
合のほか、第6図及び第7図に例示するように開閉底1
3と落下孔11との併用によることも出来る。この場合
には開閉底13はセンサー5及びタイミング調節機構5
2と連動させて不合格品が開閉底13部分に来た時にの
みこれが解放するようし合格選別物P・・Pが通過する
場合にはそのまま閉止の状態を維持するようにすればよ
い。また光センサ−5は選別精度を高めるために複数個
設置することが望ましいが(第4図参照)その他に第5
図例示のように上下両面からセンサー5.5による検知
を行うようにすることもできる。但しセンサー5を回転
盤2の上面側からのみ行うようにする場合には基盤1を
センサー5の選別用バックグラウンドとして利用するこ
とができるが上下両面から光の投射を行う場合には基盤
Iを透明若しくは透明に近い材質で構成し別に選別用の
バンクグラウンド(図示しない)を設レノることが必要
である。この場合のバックグラウンドの取りつけ方等は
公知の技術に従えばよい。図中6は投射光源用のランプ
である。
本発明は上記のように構成したので適宜の供給装置によ
って供給された真珠等の球形状をした被選別物P・・P
は回転盤2上で流入ガイド3によって区画された位置で
透孔21・・21内に収容された後基盤1上を回転しな
がら光センサ−5の位置で所定の選別基準に従って光選
別を行われ該位置で選別基準に達しない選別物P・・P
は増幅機構51.タイミング調節機構52.を介してエ
ジェクター4を作動させ強制的に排除を行うことができ
る。特に本発明によれば被選別物の移送を回転盤2によ
っておこなうので直線的な落下状態にある物品の選別と
異なり多数個所で複数回に渉る選別を行うことが出来る
ようになり選別精度を高めることが可能となる。また従
来の落下方式による選別の場合には一旦落下を開始した
被選別物はその選別対象部位が特定されることとなり総
ての部位の完全な検知を行うことが困難であったが本発
明によれば回転盤2と基盤1とが接触をしているので透
孔21内に収容された被選別物は基盤l上を回転する際
に適宜の回転を行わせることが出来るのでこの回転部位
の変化を予想したうえで適宜の複数位置に予め光センサ
ー5,5を設けることによってサイズの大きい球形物で
もその全周に対して選別判定を行うことができることと
なり正確な選別を行うことができるという特徴を有して
いる。
って供給された真珠等の球形状をした被選別物P・・P
は回転盤2上で流入ガイド3によって区画された位置で
透孔21・・21内に収容された後基盤1上を回転しな
がら光センサ−5の位置で所定の選別基準に従って光選
別を行われ該位置で選別基準に達しない選別物P・・P
は増幅機構51.タイミング調節機構52.を介してエ
ジェクター4を作動させ強制的に排除を行うことができ
る。特に本発明によれば被選別物の移送を回転盤2によ
っておこなうので直線的な落下状態にある物品の選別と
異なり多数個所で複数回に渉る選別を行うことが出来る
ようになり選別精度を高めることが可能となる。また従
来の落下方式による選別の場合には一旦落下を開始した
被選別物はその選別対象部位が特定されることとなり総
ての部位の完全な検知を行うことが困難であったが本発
明によれば回転盤2と基盤1とが接触をしているので透
孔21内に収容された被選別物は基盤l上を回転する際
に適宜の回転を行わせることが出来るのでこの回転部位
の変化を予想したうえで適宜の複数位置に予め光センサ
ー5,5を設けることによってサイズの大きい球形物で
もその全周に対して選別判定を行うことができることと
なり正確な選別を行うことができるという特徴を有して
いる。
図は本発明の実施例を示すものであり第1図は斜視図、
第2図は要部を示す断面図、第3図は球形物の選別落下
部を示す断面図、第4図はセンサーの取りつけ状態を示
す斜視図、第5図はセンサーを上下両面に設けた例を示
す断面図、第6図は基盤の開閉底を開閉させるための作
動回路系を示す平面図、第7図は同上図の例における開
閉底の作動状態を示す断面図であり(イ)は解放時を示
しく口)は閉止時を示している。 A・・選別装置、1・・基盤、11・・落下孔、12・
・分離板、13・・開閉底、2・・回転盤21・・透孔
、22・・周壁、3・・流入ガイド、4・・エジェクタ
ー、5・・光センサ−,51・・増幅機構、52・・タ
イミング調節機構、6・・光源用ランプ、P・・被選別
物。 特許出願人 株式会社 安西製作所 第1図 第2図 第3図
第2図は要部を示す断面図、第3図は球形物の選別落下
部を示す断面図、第4図はセンサーの取りつけ状態を示
す斜視図、第5図はセンサーを上下両面に設けた例を示
す断面図、第6図は基盤の開閉底を開閉させるための作
動回路系を示す平面図、第7図は同上図の例における開
閉底の作動状態を示す断面図であり(イ)は解放時を示
しく口)は閉止時を示している。 A・・選別装置、1・・基盤、11・・落下孔、12・
・分離板、13・・開閉底、2・・回転盤21・・透孔
、22・・周壁、3・・流入ガイド、4・・エジェクタ
ー、5・・光センサ−,51・・増幅機構、52・・タ
イミング調節機構、6・・光源用ランプ、P・・被選別
物。 特許出願人 株式会社 安西製作所 第1図 第2図 第3図
Claims (1)
- 基盤1の上面にこれと当接するようにして、周縁部に所
定間隔をおいて多数の透孔21・・21を穿設した回転
盤2を回転自在に装着し前記回転gi2の透孔21の回
転軌跡と合致する基盤1の適宜位置には選別物の落下孔
11を形成し、また回転盤2の上面若しくは上下両面に
は前記透孔21゜21内の球形物を光学的に選別する光
センサ−5゜5を設は該光センサーは増幅機構、タイミ
ング調節機構等を介してエジェクター4に電気的に接続
してなる球形物の選別機構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24732583A JPS60137477A (ja) | 1983-12-26 | 1983-12-26 | 球形物の選別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24732583A JPS60137477A (ja) | 1983-12-26 | 1983-12-26 | 球形物の選別装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60137477A true JPS60137477A (ja) | 1985-07-22 |
Family
ID=17161715
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24732583A Pending JPS60137477A (ja) | 1983-12-26 | 1983-12-26 | 球形物の選別装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60137477A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63501774A (ja) * | 1985-09-30 | 1988-07-21 | シ−ア−ルエイ サ−ヴイセス リミテツド | 分類装置 |
JP2009119403A (ja) * | 2007-11-16 | 2009-06-04 | Akatake Engineering Kk | 粉粒体の異物検知・除去装置 |
JP2011156514A (ja) * | 2010-02-03 | 2011-08-18 | Daiichi Jitsugyo Viswill Co Ltd | 球体外観検査装置 |
-
1983
- 1983-12-26 JP JP24732583A patent/JPS60137477A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63501774A (ja) * | 1985-09-30 | 1988-07-21 | シ−ア−ルエイ サ−ヴイセス リミテツド | 分類装置 |
JP2009119403A (ja) * | 2007-11-16 | 2009-06-04 | Akatake Engineering Kk | 粉粒体の異物検知・除去装置 |
JP2011156514A (ja) * | 2010-02-03 | 2011-08-18 | Daiichi Jitsugyo Viswill Co Ltd | 球体外観検査装置 |
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