JPS6013117Y2 - magnetic storage device - Google Patents

magnetic storage device

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JPS6013117Y2
JPS6013117Y2 JP15558380U JP15558380U JPS6013117Y2 JP S6013117 Y2 JPS6013117 Y2 JP S6013117Y2 JP 15558380 U JP15558380 U JP 15558380U JP 15558380 U JP15558380 U JP 15558380U JP S6013117 Y2 JPS6013117 Y2 JP S6013117Y2
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JP
Japan
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loop
magnetic
storage
circuit
defective
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JP15558380U
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英男 高橋
純一 棚橋
康雄 数藤
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富士通株式会社
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、オルソフェライト等の磁性薄板に形威される
円筒形磁区(Bubble domain)を用いた磁
気記憶装置、特に円筒形磁区の記憶回路(以下単に蓄積
ループと称する。
[Detailed Description of the Invention] The present invention is directed to a magnetic storage device using a cylindrical magnetic domain (Bubble domain) formed in a magnetic thin plate such as orthoferrite, and in particular to a cylindrical magnetic domain storage circuit (hereinafter simply referred to as a storage loop). .

)として予備の蓄積ループを設けた磁気記憶装置に関す
るものである。
) relates to a magnetic storage device with a spare storage loop.

円筒形磁区を用いた磁気記憶装置は、第1図に示すよう
に、オルソフェライト等の如く、その面に垂直方向に磁
化容易軸を有する磁性薄板1に、一定のバイアス磁界を
その面に垂直に加えることにより、磁性薄板1の大部分
はその方向に磁化するが、一部は逆方向に磁化されたま
ま円筒形磁区2を形成する。
As shown in Fig. 1, a magnetic storage device using cylindrical magnetic domains applies a constant bias magnetic field perpendicular to the surface of a magnetic thin plate 1, such as orthoferrite, which has an axis of easy magnetization perpendicular to its surface. By adding , most of the magnetic thin plate 1 is magnetized in that direction, but a part remains magnetized in the opposite direction to form a cylindrical magnetic domain 2.

この磁区2はバイアス磁界の加わっている状態では、エ
ネルギ的に極めて安定であるが、磁性薄板1の面に平行
に一定以上の磁場勾配の方向に自由に移動することにな
る。
Although this magnetic domain 2 is extremely stable in terms of energy when a bias magnetic field is applied, it freely moves parallel to the surface of the magnetic thin plate 1 in the direction of a magnetic field gradient of a certain level or more.

この磁性薄板1の上面にT、 Iパー・パターン3を
パーマロイ等の高透磁率材料によって形威し、磁性薄板
1の面に平行に回転する回転磁界HRを加えると、T、
Iパー・パターン3は符号十、−で示すように磁化され
て、磁区2は吸引或は反発され、磁区2は回転磁界HR
の回転方向に応じた方向のT、 Iパー・パターン3
に沿って移動する。
When a T, I par pattern 3 is formed on the upper surface of the magnetic thin plate 1 using a high permeability material such as permalloy, and a rotating magnetic field HR rotating parallel to the surface of the magnetic thin plate 1 is applied, T,
The I-par pattern 3 is magnetized as indicated by the symbols 10 and -, and the magnetic domain 2 is attracted or repelled, and the magnetic domain 2 is exposed to the rotating magnetic field HR.
T, I par pattern 3 in the direction according to the rotation direction of
move along.

この磁区2の移動を利用して論理動作や記憶動作を行な
わせるものである。
This movement of the magnetic domains 2 is used to perform logic operations and storage operations.

第2図は従来の円筒形磁区を用いた磁気記憶装置の説明
図であり、磁性薄板1に前述の如きT。
FIG. 2 is an explanatory diagram of a conventional magnetic storage device using cylindrical magnetic domains, in which the magnetic thin plate 1 has T as described above.

■パー・パターンによたって形成した蓄積ループ4を複
数個設ける。
(2) A plurality of storage loops 4 formed by a par pattern are provided.

又伝播母線6も蓄積ループ4と同様にして設け、蓄積ル
ープ4と伝播母線6との間はゲート回路5により結合し
、このゲート回路5の制御により磁区の転入、転出を行
なう。
A propagation bus 6 is also provided in the same manner as the storage loop 4, and the storage loop 4 and the propagation bus 6 are coupled by a gate circuit 5, and the transfer of magnetic domains is carried out under the control of the gate circuit 5.

7は磁区の存在を検出する為のパーマロイ薄膜、ホール
素子等の検出器、8は磁区の書込消去器である。
7 is a detector such as a permalloy thin film or a Hall element for detecting the presence of a magnetic domain, and 8 is a magnetic domain write/erase device.

又WEは書込消去回路、SSはセンス回路、CCは制御
回路、CDはゲート駆動回路、RHDは回転磁界駆動回
路である。
Also, WE is a write/erase circuit, SS is a sense circuit, CC is a control circuit, CD is a gate drive circuit, and RHD is a rotating magnetic field drive circuit.

磁性薄板1は回転磁界駆動回路RHDの出力により常に
一定の回転磁界が加えられ、蓄積ループ4内の磁区即ち
情報はその閉ループ内を循環している。
A constant rotating magnetic field is always applied to the magnetic thin plate 1 by the output of the rotating magnetic field drive circuit RHD, and the magnetic domains, that is, information within the storage loop 4 circulate within the closed loop.

例えば1情報ブロツクをNビットにより構成する場合、
N個の蓄積ループ4に並列的に情報が蓄積され、各情報
ブロックの番地は、回転磁界に従ってその位置が順次移
動することになり、唯その情報ブロンのビット位置は蓄
積ループ4の配置位置に対応して固定されている。
For example, when one information block is composed of N bits,
Information is stored in N storage loops 4 in parallel, and the address of each information block sequentially moves in accordance with the rotating magnetic field. Correspondingly fixed.

成る情報ブロック番地が指定されると、その情報ブロッ
ク番地が各ゲート回路5の直前に到達した時点で、制御
回路CCからゲート駆動回路CDに信号を送り、それに
よってゲート回路5を開き、その情報を伝播母線6に誘
導する。
When an information block address is specified, when the information block address arrives immediately before each gate circuit 5, a signal is sent from the control circuit CC to the gate drive circuit CD, thereby opening the gate circuit 5 and transmitting the information. is guided to the propagation bus 6.

その伝播母線6に誘導された情報即ち磁区は直列的に回
転磁界により矢印方向に移動し、読出しは読出器7に於
いて磁区の接近による磁界変化を用いて検出し、センス
回Hsから出力情報として処理装置等へ送る。
The information, that is, the magnetic domains, induced in the propagation bus 6 moves in series in the direction of the arrow due to the rotating magnetic field, and is read out using the magnetic field change caused by the approach of the magnetic domains in the readout device 7, and the output information is output from the sense circuit Hs. and sent to processing equipment, etc.

又書込みは、例えば公知の磁区消去回路より戒る書込消
去器8に於いて磁区を一旦消去した後、入力情報に応じ
て動作する書込消去回路WE例えば公知の磁区発生回路
より成る回路により磁区を形成し、伝播母線6に沿って
移動して行き、各ビット位置に到達した時点でゲート回
路5を開いて、各蓄積ループ4内に導入し、これが終了
するとゲート回路5を閉じ、以後は書込まれた情報は蓄
積ループ4内を循環する。
Further, writing is performed by a write/erase circuit WE, which operates according to input information, after the magnetic domain is once erased in a write/erase device 8, for example, using a known magnetic domain eraser circuit. It forms a magnetic domain and moves along the propagation bus 6, and when it reaches each bit position, it opens the gate circuit 5 and introduces it into each storage loop 4. When this is completed, the gate circuit 5 is closed, and from then on The written information circulates within the storage loop 4.

前述の如き磁気記憶装置は、複数の蓄積ループ4に対し
て共通の伝播母線6を設けているので、検出器7及び書
込消去器8はそれぞれ1個で良いことになる。
Since the magnetic storage device as described above provides a common propagation bus 6 for a plurality of storage loops 4, only one detector 7 and one write/erase device 8 are required.

しかし、磁性薄板1は、現在数ミクロンから数十ミクロ
ンの厚さが必要であるから、完全で大きな磁性薄板を製
作するのは可成り困難である。
However, since the magnetic thin plate 1 currently requires a thickness of several microns to several tens of microns, it is quite difficult to manufacture a complete and large magnetic thin plate.

−力検出器、書込消去器及び周辺回路は、1枚の磁性薄
板に対して共通にすることができるので、大きな磁性薄
板を製作する程、記憶単位当りの単価を安くすることが
できる。
- Since the force detector, write/erase device, and peripheral circuits can be used in common for one magnetic thin plate, the larger the magnetic thin plate is manufactured, the cheaper the unit price per storage unit can be.

従って、本考案の目的は、大きな磁性薄板を製作し、そ
れによって生ずる欠陥部分が例え存在したとしても、そ
の部分に対する予備部分を予め形成として代替させ、磁
性薄板の歩留りを実質的に向上して、廉価な磁気記憶装
置を提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to fabricate a large magnetic thin plate, and even if there is a defective part caused by this, a spare part for the defective part can be replaced by pre-forming, thereby substantially improving the yield of the magnetic thin plate. The object of the present invention is to provide an inexpensive magnetic storage device.

以下実施例について詳細に説明する。Examples will be described in detail below.

第3図は本考案の実施例の説明図であり、第2図と同一
符号は同一部分を示すものであって、第2図と相違する
円℃はパルス列変換回路、LNMは不良ループ記憶回路
である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of an embodiment of the present invention, in which the same reference numerals as in FIG. 2 indicate the same parts, and circles different from those in FIG. It is.

前述の如く情報ブロックがNビット樹皮の場合、陽、1
〜No、Nの蓄積ループ4を磁性薄板1に形成すると共
に、任意個所別えばNo、Nの蓄積ループ4に隣接して
予備ループ4aを形成する。
As mentioned above, if the information block is N-bit bark, positive, 1
~No and N storage loops 4 are formed on the magnetic thin plate 1, and at arbitrary locations, preliminary loops 4a are formed adjacent to the No and N storage loops 4.

蓄積ループ4が総て完全なものであれば、従来例と同様
にし動作し、予備ループ4aは遊びとする。
If all the storage loops 4 are complete, they operate in the same manner as in the conventional example, and the reserve loop 4a is left idle.

しかし、大きな磁性薄板1を製作することによって一部
に欠陥部分が生じた場合、その欠陥蓄積ループの番号を
不良ループ記憶回路LNMに記憶させて予備ループ4a
に情報を記憶させるものであり、それに伴なって入出力
パルス列を変換させるのである。
However, if a defective part occurs in a part of the large magnetic thin plate 1, the number of the defective accumulation loop is stored in the defective loop memory circuit LNM and the spare loop 4a is stored.
It is used to store information, and to convert input/output pulse trains accordingly.

例えば陽、3の蓄積ループ4の一部に欠陥があり、簡単
化の為書込或は読出情報が総て“1゛′であるとすると
、情報書込みの場合、第4図に示すように、クロックC
Lに同期した入力信号パルス列は第4図aのようになる
For example, if there is a defect in a part of the storage loop 4 of positive 3, and for the sake of simplicity, the written or read information is all "1", then in the case of information writing, as shown in FIG. , clock C
The input signal pulse train synchronized with L is as shown in FIG. 4a.

しかし、第3ビツトを書込むべきNo、3の蓄積ループ
4が不良であるから、第4図すに示すパルス列にならな
ければならない。
However, since the storage loop 4 of No. 3, in which the third bit should be written, is defective, the pulse train must be as shown in FIG. 4.

従ってパルス列変換回路内℃に於いて、不良ループ記憶
回路LNMからの情報に基いて第3ビツト以降は1クロ
ック分遅らせれば良いことになる。
Therefore, in the pulse train conversion circuit, the third and subsequent bits only need to be delayed by one clock based on the information from the defective loop memory circuit LNM.

又読出しの場合は、センス回路SSの出力は第4図すに
示すように動、3の蓄積ループ4からの情報が抜けてい
ることになるから、第1、第2ビツト目を1クロック分
の時間遅らせて、第4図Cに示すようなパルス列にパル
ス列変換回路PTCに於いて変換すれば良いことになる
In addition, in the case of reading, the output of the sense circuit SS changes as shown in Fig. 4. Since the information from the storage loop 4 of 3 is missing, the first and second bits are read for one clock. This means that the pulse train can be converted into a pulse train as shown in FIG.

第5図はパルス列変換回路PTCの一例を示すもので、
FFI、FF2はフリップフロップ、ND1〜ND3は
ナンド回路、NRはノア回路、CLはクロック、csl
、cs2は制御信号である。
Figure 5 shows an example of a pulse train conversion circuit PTC.
FFI, FF2 are flip-flops, ND1 to ND3 are NAND circuits, NR is a NOR circuit, CL is a clock, csl
, cs2 are control signals.

読出しの場合、不良ループ以前のビットに対しては制御
信号C82をナンド回路ND3に加え、フリップフロッ
プFF2の出力を取出すことにより1クロック分遅らせ
、不良ループ以後のビットに対しては制御信号C81を
ナンド回路ND2に加え、フリップフロップFFlの出
力を取出すことにより、第4図Cに示すようなパルス列
が得られる。
In the case of reading, the control signal C82 is applied to the NAND circuit ND3 for the bits before the defective loop and delayed by one clock by taking out the output of the flip-flop FF2, and the control signal C81 is applied to the bits after the defective loop. By taking out the output of the flip-flop FF1 in addition to the NAND circuit ND2, a pulse train as shown in FIG. 4C is obtained.

又書込みの場合、不良ループ以前のビットに対して制御
信号C51をナンド回路ND2に加え、フリップフロッ
プFFlの出力を取出し、不良ループ以後のビットに対
して制御信号C32をナンド回路ND3に加え、フリッ
プフロップFF2の出力を取出すことにより、第4図す
に示すようなパルス列が得られる。
In the case of writing, the control signal C51 is applied to the NAND circuit ND2 for the bit before the defective loop, the output of the flip-flop FFl is taken out, and the control signal C32 is applied to the NAND circuit ND3 for the bit after the defective loop, and the output of the flip-flop FF1 is applied to the bit before the defective loop. By extracting the output of FF2, a pulse train as shown in FIG. 4 is obtained.

第6図は伝播母線により第5図に示すパルス列の変換を
行なわせる実施例を示すものであり、伝播母線6に沿っ
て矢印方向に磁区が移動するものとすると、検出器7側
にゲート回路9と遅延回路10を設け、書込消去器8側
にゲート回路11と高速伝送回路12とを設ける。
FIG. 6 shows an embodiment in which the pulse train shown in FIG. 5 is converted by a propagation bus line. Assuming that the magnetic domain moves in the direction of the arrow along the propagation bus line 6, a gate circuit is installed on the detector 7 side. 9 and a delay circuit 10 are provided, and a gate circuit 11 and a high-speed transmission circuit 12 are provided on the write/erase device 8 side.

前述の場合と同様に動、3の蓄積ループ4が不良である
とすると、読出しの場合、NO,1とNo、2の蓄積ル
ープ4に蓄積されている磁区は、伝播母線6に誘導され
てゲート回路9に到達したとき、ゲート回路9を閉じて
遅延回路10を通るようにして、1クロック分遅らせ、
No、4以降の蓄積ループ4に蓄積されている磁区に対
しては、ゲート回路9を開いて通常のように検出器7へ
誘導する。
Assuming that the storage loop 4 of No. 3 is defective as in the previous case, in the case of reading, the magnetic domains stored in the storage loops 4 of No. 1 and No. 2 are induced by the propagation bus 6. When the gate circuit 9 is reached, the gate circuit 9 is closed and the signal passes through the delay circuit 10 to delay the signal by one clock.
For the magnetic domains accumulated in the accumulation loop 4 after No. 4, the gate circuit 9 is opened and the magnetic domains are guided to the detector 7 as usual.

従って検出器7により読出されたパルス列は第4図Cに
示すものとなる。
Therefore, the pulse train read out by the detector 7 is as shown in FIG. 4C.

又書込みの場合、第1、第2ビツトに対してはゲート回
路11を閉じて高速伝送回路12を誘導し、lクロック
分加速し、第3ビツト以降はゲート回路11を開いて通
常の伝播母線6に沿って誘導する。
In addition, in the case of writing, for the first and second bits, the gate circuit 11 is closed and the high-speed transmission circuit 12 is induced to accelerate by l clocks, and for the third and subsequent bits, the gate circuit 11 is opened and the normal propagation bus is used. 6.

従って第4図すに示すパルス列に変換されたことになり
、不良ループに対する情報は常に440 ttとなる。
Therefore, the pulse train is converted into the pulse train shown in FIG. 4, and the information regarding the defective loop is always 440 tt.

このようなゲート回路9,11の制御は第3図に於ける
ものと同様に不良ループ記憶回路LNM及び制御回路C
Cによって行なうものである。
Such gate circuits 9 and 11 are controlled by the defective loop memory circuit LNM and the control circuit C in the same way as in FIG.
This is done using C.

即ちゲート回路9,11、延焼回路1゜及び高速伝送回
路12によりパルス列変換回路を構成しているものであ
る。
That is, the gate circuits 9 and 11, the flame spread circuit 1°, and the high-speed transmission circuit 12 constitute a pulse train conversion circuit.

もちろん高速伝送回路12と遅延回路10の配置は実施
例に限定されるものではなく、例えば第6図において高
速伝送回路12と遅延回路10を入れ換えることも可能
であり、この場合にはゲート回路9,11の制御をかえ
ればよい。
Of course, the arrangement of the high-speed transmission circuit 12 and the delay circuit 10 is not limited to the embodiment. For example, it is possible to replace the high-speed transmission circuit 12 and the delay circuit 10 in FIG. , 11 may be changed.

すなわち読出しにおいては、不良ループ以前の蓄積ルー
プの情報は通常と同様に伝送し、不良ループ以後の蓄積
ループの情報を高速伝送回路12により1クロツク加速
させ、書込みの場合には不良ループ以前のビットの情報
は通常と同様に伝送し、不良ビット以後のビットの情報
を遅延回路10により1クロツク遅延させるようゲート
回路9.11を不良ループ記憶回路LMNの情報に基づ
いて制御すればよい。
That is, in reading, the information of the accumulation loop before the defective loop is transmitted in the same way as usual, the information of the accumulation loop after the defective loop is accelerated by one clock by the high-speed transmission circuit 12, and in the case of writing, the information of the accumulation loop before the defective loop is transmitted as usual. It is sufficient to transmit the information in the same manner as usual, and control the gate circuits 9 and 11 based on the information in the defective loop memory circuit LMN so that the information of the bits after the defective bit is delayed by one clock by the delay circuit 10.

第7図は前述の遅延回路10の一例を示すもので、T、
■パー・パターンとコイル13とによって構成され、通
常はコイル13に電流が流れていないことにより、磁区
2はa−+b→C→d→e→f→g→h→i→j→にの
径路で回転磁界によって移動するが、磁区2がd点に達
した時点でコイル13に電流を流すと、その磁界により
磁区2はe′点に移動し、その後の回転磁界によりe’
−of’→〆→h′→i′→j′→に′→l′→1−4
j→にの径路で移動し、i点に於いては丁度回転磁界の
1周期分遅れることになる。
FIG. 7 shows an example of the aforementioned delay circuit 10, in which T,
■It is composed of a par pattern and a coil 13, and normally no current flows through the coil 13, so the magnetic domain 2 is a-+b→C→d→e→f→g→h→i→j→ It moves along the path due to the rotating magnetic field, but when a current is applied to the coil 13 when the magnetic domain 2 reaches point d, the magnetic field moves the magnetic domain 2 to point e', and the subsequent rotating magnetic field moves it to e'
-of'→〆→h'→i'→j'→ni'→l'→1-4
It moves along the path j→, and is delayed by exactly one cycle of the rotating magnetic field at point i.

又第8図は前述の高速伝送回路12の一例を示すもので
、通常はコイル14に電流が流れていないことにより、
a4b4C→−m−+ n→O→p →qの径路で磁区
2は移動する。
FIG. 8 shows an example of the above-mentioned high-speed transmission circuit 12. Normally, since no current flows through the coil 14,
Magnetic domain 2 moves along the path a4b4C→-m−+ n→O→p→q.

この磁区2がb点に達したとき、コイル14に電流を流
すと、磁区2はb点からe′点に移動し、その後の回転
磁界によす、C′→d′→e′→f′→〆と移動し、コ
ンプレッサ回路15に達する。
When this magnetic domain 2 reaches point b, when a current is passed through the coil 14, the magnetic domain 2 moves from point b to point e', and then due to the rotating magnetic field, C'→d'→e'→f ' → end, and reaches the compressor circuit 15.

このコンプレッサ回路15は各パー・パターン間に磁区
が存在しており、磁区2が1点に到達することにより、
コンプレッサ回路15内の磁区は右方に押出されること
になって、押出された磁区はh′→i′→j′→Q +
p −+ qの径路で移動することになり、丁度回転
磁界の1周期分加速されたことになる。
This compressor circuit 15 has a magnetic domain between each par pattern, and when the magnetic domain 2 reaches one point,
The magnetic domain in the compressor circuit 15 is pushed out to the right, and the pushed out magnetic domain is h'→i'→j'→Q+
It will move along a path of p − + q, and will be accelerated by exactly one cycle of the rotating magnetic field.

以上説明した実施例に於いては、不良ループが1個の場
合に対してのものであるが、それ以上不良ループが存在
する場合に対しても、本考案を適用し得るものであり、
例えば第5図に示す実施例に於いてはフリップ70ツブ
を更に追加して、ゲート制御を行なうことにより、不良
ループ数に対したクロック数分だけ遅延させて、不良ル
ープに対するビット間隔を制御することができ、又第7
図及び第8図に示す実施例では、それを不良ループ数縦
続接続するようにすれば良いことになる。
Although the embodiments described above are for cases where there is one defective loop, the present invention can also be applied to cases where there are more defective loops.
For example, in the embodiment shown in FIG. 5, 70 flips are further added and gate control is performed to delay the number of clocks for the number of defective loops and control the bit interval for the defective loops. You can also
In the embodiment shown in FIG. 8 and FIG. 8, it is sufficient to connect the number of defective loops in cascade.

従って本考案によれば、大きな磁性薄板を製作すること
により欠陥部分が生じたとしても、予備ループを形威し
ておくことにより、欠陥部分による不良ループの代替が
可能であり、その代替によるパルス列変換も周辺回路或
は伝播母線により行なうことができ、特に後者は僅かの
パターン追加により行なうことができるので、前述の如
く磁性薄板の実質的歩留り向上と共に極めて経済的な構
成となる。
Therefore, according to the present invention, even if a defective part occurs due to manufacturing a large magnetic thin plate, by forming a preliminary loop, it is possible to replace the defective loop with the defective part, and the pulse train can be replaced by the defective part. Conversion can also be performed by peripheral circuitry or a propagation bus, and in particular the latter can be performed by adding a few patterns, resulting in a very economical construction as well as a substantial improvement in the yield of magnetic thin plates as described above.

そして、本考案においては前述の通り不良ループに対す
る情報が常に“0″となるようにして、円筒形磁区が不
良ループに転入されることを防止しているから、不良ル
ープの中で円筒形磁区が好ましからざる動作をひき起す
こともない。
In the present invention, as mentioned above, the information for the defective loop is always set to "0" to prevent the cylindrical magnetic domain from being transferred to the defective loop. does not cause any undesirable behavior.

この点を具体的に言えば、もし不良ループが円筒形磁区
を確実に保持できず循環の中途で蓄積ループから脱線さ
せる欠陥を含んでいる場合が最も顕著であり、この場合
蓄積ループから脱離して磁性薄板内を浮遊する円筒形磁
区が多数発生し、近接の蓄積ループに侵入して、蓄積情
報を変化させるとか、或いは近接の蓄積ループ中の他の
円筒形磁区と反発してその円筒形磁区を脱線させやはり
蓄積情報の変化を招来するのである。
Specifically speaking, this is most noticeable if the defective loop contains a defect that cannot reliably hold the cylindrical magnetic domain and causes it to derail from the storage loop in the middle of the cycle; A large number of cylindrical magnetic domains floating in the magnetic thin plate are generated and invade the nearby storage loop and change the stored information, or they repel other cylindrical magnetic domains in the nearby storage loop and change their cylindrical shape. This derails the magnetic domain and also leads to changes in the stored information.

このような問題は蓄積ループ間に明瞭な分離手段を形威
し得ない円筒形磁区利用装置の個有の背景に起因するも
のであり、本考案においてはかかる問題を極めて巧みに
解決することができる。
This problem is caused by the unique background of the cylindrical magnetic domain utilization device, which cannot provide a clear means of separation between the storage loops, and the present invention is capable of solving this problem very skillfully. can.

すなわち、本考案によれば、不良ループに近隣する蓄積
ループまでもが不良動作を招くことを防止できるので、
磁性薄板の実質的歩留りを一層向上し得るものである。
That is, according to the present invention, it is possible to prevent even the storage loops adjacent to the defective loop from causing defective operation.
This makes it possible to further improve the substantial yield of magnetic thin plates.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は円筒形磁区を用いた磁気記憶装置の原理説明図
、第2図は従来の磁気記憶装置の説明図、第3図は本考
案の一実施例の説明図、第4図はその動作説明図、第5
図はそのパルス列変換回路の一例、第6図は本考案の他
の実施例の説明図、第7図はその遅延回路の構成説明図
、第8図はその高速伝送回路の構成説明図である。 1は磁性薄板、2は円筒形磁区、4は蓄積ループ、4a
は予備ループ、5はゲート回路、6は伝播母線、7は検
出器、8は書込消去器、9,11はゲート回路、10は
遅延回路、12は高速伝送回路、円゛Cはパルス列変換
回路、LNMは不良ループ記憶回路、CCは制御回路で
ある。
Fig. 1 is an explanatory diagram of the principle of a magnetic storage device using cylindrical magnetic domains, Fig. 2 is an explanatory diagram of a conventional magnetic storage device, Fig. 3 is an explanatory diagram of an embodiment of the present invention, and Fig. 4 is an explanatory diagram of the conventional magnetic storage device. Operation explanatory diagram, 5th
The figure shows an example of the pulse train conversion circuit, FIG. 6 is an explanatory diagram of another embodiment of the present invention, FIG. 7 is an explanatory diagram of the configuration of the delay circuit, and FIG. 8 is an explanatory diagram of the configuration of the high-speed transmission circuit. . 1 is a magnetic thin plate, 2 is a cylindrical magnetic domain, 4 is a storage loop, 4a
is a preliminary loop, 5 is a gate circuit, 6 is a propagation bus, 7 is a detector, 8 is a write/erase device, 9 and 11 are gate circuits, 10 is a delay circuit, 12 is a high-speed transmission circuit, and C is a pulse train conversion The circuit, LNM is a defective loop memory circuit, and CC is a control circuit.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 薄板面に垂直な磁化容易軸をもつ磁性薄板と、該磁性薄
板に対して前記磁化容易軸方向のバイアス磁界および薄
板面内で回転する回転磁界を印加する手段とを具え、前
記磁性薄板上に、該バイアス磁界によって生じた円筒形
磁区が該回転磁界によって循環する複数の蓄積ループと
、該複数の蓄積ループに共通に接続され前記回転磁界に
より複数個の円筒形磁区を直列に転送する伝播母線と、
該伝播母線に円筒形磁区を直列に書込む書込手段と、該
伝播母線上の円筒形磁区を検出する検出手段と、前記伝
播母線から各蓄積ループにまたはその逆方向に複数個の
円筒形磁区を一斎に転入・転出させるゲート手段とを配
設してなる磁気記憶装置において、前記ゲート手段を介
して前記伝播母線に前記複数の蓄積ループと共通に接続
された予備ループと、前記蓄積ループおよびおよび予備
ループのうちの不良ループの位置を記憶する不良ループ
記憶回路と、該不良ループ記憶回路と、該不良ループ記
憶回路の内容に基いて書込時には連続書込情報を構成す
る円筒形磁区群のうち不良ループを越えない位置の各蓄
積ループに転入すべき円筒形磁区の伝播母線への書込ま
たは伝播母線上の直列転送を前記回転磁界に同期し所定
時間遅延させると共に、続取時には不良ループ位置に対
応する読取情報を間引いて連続読取情報の配列を詰める
パルス列変換回路とを設け、不良ループには常に円筒形
磁区を転入させないようにしたことを特徴とする磁気記
憶装置。
comprising: a magnetic thin plate having an axis of easy magnetization perpendicular to the thin plate surface; and means for applying a bias magnetic field in the direction of the easy magnetization axis and a rotating magnetic field rotating within the thin plate surface to the magnetic thin plate; , a plurality of storage loops in which cylindrical magnetic domains generated by the bias magnetic field circulate by the rotating magnetic field, and a propagation bus that is commonly connected to the plurality of storage loops and transfers the plurality of cylindrical magnetic domains in series by the rotating magnetic field. and,
writing means for writing cylindrical magnetic domains in series on the propagation bus; detection means for detecting the cylindrical magnetic domains on the propagation bus; and writing means for writing cylindrical magnetic domains in series on the propagation bus; A magnetic storage device comprising a gate means for transferring magnetic domains into and out in a single space, a reserve loop commonly connected to the plurality of storage loops to the propagation bus via the gate means, and the storage loop. and a bad loop storage circuit that stores the position of the bad loop among the spare loops, the bad loop storage circuit, and a cylindrical magnetic domain that constitutes continuous write information during writing based on the contents of the bad loop storage circuit. The writing of the cylindrical magnetic domain to be transferred to each storage loop at a position that does not exceed the defective loop in the group or the serial transfer on the propagation bus is synchronized with the rotating magnetic field and delayed for a predetermined time, and at the time of takeover. A magnetic storage device characterized by comprising a pulse train conversion circuit that thins out read information corresponding to a defective loop position to narrow the array of continuously read information, so that cylindrical magnetic domains are always prevented from transferring to the defective loop.
JP15558380U 1980-10-30 1980-10-30 magnetic storage device Expired JPS6013117Y2 (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9233724B2 (en) 2009-10-14 2016-01-12 Raytheon Company Hull robot drive system
US9254898B2 (en) 2008-11-21 2016-02-09 Raytheon Company Hull robot with rotatable turret
US9440717B2 (en) 2008-11-21 2016-09-13 Raytheon Company Hull robot

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US9254898B2 (en) 2008-11-21 2016-02-09 Raytheon Company Hull robot with rotatable turret
US9440717B2 (en) 2008-11-21 2016-09-13 Raytheon Company Hull robot
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