JPS6012636A - カラ−受像管上に電子銃組立体を整列し中心に位置決めする方法及びその方法を実施する装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、カラー受像管上に電子銃組立体を整列し中心
に位置決めする方法に関する。本発明はまた、本発明の
方法を実施する装置に関する。

従来のカラー受像管は、大きな端部がスクリーンを支持
するガラスシェルまたは包囲体を含む。

この受像管は、スクリーンと反対側にネックを含み、そ
のネックは電子銃組立体を支持している。

この電子銃組立体は、例えば、ライン配置またはデルタ
配置された熱電子カソード及び電極の配列体によって構
成されている。この電子銃組立体は、受像管の中心軸線
に対する位置及び回転方向の両方において最大の精密さ
をもって、そのネックによって受像管上に挿入されて機
械的に一体化しなければならない。本発明は、起こりう
る配置誤差をできるだけ低く電子銃組立体の挿入するこ
とに関する。

受像管に電子銃組立体の密封前に前記誤差を測定する異
なった手段が先行技術において知られている。これらの
内には、いわゆるフィーラー形式の機械装置、像重畳装
置及び透過または反射光ビームの強度変化を用いる装置
が特に知られている。

これらの装置の記載は仏国特許公報第２３４１９３７号
に見出される。

本発明は、自動調整装置によってすぐ用いることができ
る位置データを供給するための、誤差に比較的不感の簡
単な装置を提案することにある。

実際には、光学強度測定を用いる整列方法は、強度の最
大値を評価する困難性及び雑音に起因する不精密さによ
って影響を受ける。

この目的に対して、本発明はカラー受像管上の電子銃組
立体を整列し中心に位置決めする方法を提供する。本発
明の方法において、電子銃組立体の方向に対応する第１
方向と基準の第２方向との間の角度が解消される、すな
わち零にされる。本発明の方法において、すくなくとも
１つの光学分析器上に形成されるのは、電子銃組立体の
一部の鮮明な縁部を持つコントラスト付の像である。光
学分析器上の像の位置の測定は、配置誤差の表しており
、誤差は電子銃組立体を変位することによって解消され
る。

本発明は、また前述の方法を実施する装置を提供する。

本発明の装置は、支持体に取付けられた基準方向に沿っ
た少なくとも１つの光学分析器を含み、該光学分析器は
、テレビジョン受像管のネック上に敗付けられる電子銃
組立体を変位することによって解消される配置誤差を測
定する。

本発明の１つの利点は、異なった形式の電子銃組立体に
容易に適用できることである。特に、本発明は、光学マ
ーキング、反射綱片または電子銃の聖火を持つ電子銃を
取付けることを可能にする。

本発明の他の利点は、中心位置決め及び整列に対する個
々のデータを供給することである。もし電子銃組立体の
軸線が一致しない、すなわち受像管の軸線と中心が合わ
ないならば、像の非対称性及び軸線を中心とする電子銃
組立体の角度ずれを表わす整列欠陥に起因するずれが起
っていることが、２つの光学分析器で検出される。

次に、添付図面を参照して本発明を説明する。

第１図は、本発明の方法を実施する装置の概略図である
。この図で示した画像形成管１は、例えばカラー受像管
である。受像管はガラス包囲体またはシェルを含み、ガ
ラス包囲体の大きな部分の表面にはエレク、トロルミネ
センス（電子発光）スクリーン２が設けられている。こ
のスクリーンの反対側に、受像管１は、電磁偏向装置及
び電子銃組立体６を支持するためのネック５を含む。電
子銃組立体６は、軸線８に沿ってネック５に適応されて
いる。電子銃組立体６は、適当な位置に一旦配置されて
、ネック６に溶接される。電子銃組立体は、本体６及び
３つの電子銃７．８及び９を含み、電子銃の各々は、３
原色テレビジョンの３つの基本的カラーの１つに対応す
る。第１図に示す実施例において、これらの３つの電子
銃は第１図の参照番号４でその輪郭が示される面内に配
置されている。スクリーン２は全体的に凸形状を有する
。螢光面１５は電子銃７ないし９から放射した３つの電
子ビームが当てられる。第１図には、３色の螢光体の構
造が拡大されて示されている。その構造体は、適切に処
理した３つの螢光材料帯状体によって構成されている。

これらの帯状体１７．１８及び１９の各々は、発光が望
まれるカラーに対応する特定の電子銃に対応するもので
ある。これらの帯状体の方向は、電子銃組立体６が通常
通り取付けられ、位置決めされると、３つの電子銃の面
に直角である。もし面４が帯状体１７なしい１９に直角
ならば、この配列は、ネック５上の偏向装置の取付は時
、適当なコンバーゼンスを保証する。

克服しなければならない問題は、帯状体１７ないし１９
の方向に直角である基準位置に、３つの電子銃７ないし
９の面４を置くように正確に位置決めすることである。

この基準位置は、基準方向と呼ぶ軸線１０によって決め
られる。本発明の整列装置は支持体１１に取付けられこ
の軸線１０に整列された２つの光学分析器１２及び１３
を含んでいる。２つの光学分析器は受像管の中心軸線８
ａの両側に対称的に取付けられている。照明器２８は、
電子銃組立体６の基準素子上に光ビーム２９を放射する
。光学分析器１２及び１３はコンピュータに接続されて
おり、コンピュータがサーボ系（第１図には図示せず）
を作動させ、サーボ系が電子銃組立体６を回転させて、
電子銃組立体がネック５において所定の方向に位置決め
される。

第２図は、整列における配置誤差を示す装置のダイヤグ
ラムである。２つの光学分析器１２及び１３は軸線１０
に沿って互いに向い合って配置されている。電子銃組立
体６は、電子銃の対称面が方向１０に対して角度旦を形
成するような配置誤差を表わしている。電子銃の対称面
は第１方向２６に沿って第２図において示されている。

このように第２の基準方向１０に対する第１方向２６の
角度ユを測定する必要がある。各光学分析器は、ハウジ
ング内に、光電面２１または２２上に鮮明な縁を有する
コントラスト画像を形成する対物レンズ２０または２３
を含んでいる。この光電面は、例えば電荷結合デバイス
の如き多素子感光性リニアストリップによって構成され
ることができる。１つの実施例において部品Ｔ　Ｈ７８
０２が用いられる。このリニアストリップは、装置の単
純化及び測定解像度の改良のために、基準方向１０に直
角に互いに対向するように配置されている。

第３図は本発明による電荷結合ス）　ＩＪツブの動作を
示している。ストリップ３０は複数の個々の感光素子を
備えている。ストリップに集積化した電子デバイスは、
励起した光素子の各々の照射強度及び正確な位置を知る
ことができる。この図は、陰影領域３２として、分析器
１３の対物レンズ２０の如き対物レンズによってストリ
ップ３０上に形成した画像を表わす。本発明の実施例に
おいて、特に第１図及び第２図に示される実施例におい
て、光学マーキング像２５ａまたは２５ｂが形成されて
おり、それは第１図において参照番号１４で示されてい
る。

これらのマーキングは、反射性または不透明の細片によ
って、または、電子銃組立体の本体６に設けられた長方
形穴によって構成されることができる。参照数字３１（
第３図）は、電子銃組立体が整列されたとき光学マーキ
ング像がとる位置に対応する。適当な電子装置によって
、像３２中に励起した最初の感光素子及び最後の感光素
子が知られうる。列数の半分を計算することによって、
簡単に、像の中心位置３３が知られる。この値を、整列
に対応するマーキング像の位置の所望の値３４に持たら
す。そのような配置は、効果的に単一の光学分析器に対
して整列を行なう。

第４図は、他の実施例を表わすものであり、その実施例
によると、２つの電荷結合感光性ストリップが用いられ
る。ストリップはリニアであり、基準方向１０及び受像
管の中実軸線に対して直角に配置されている。これらの
ス）　ＩＪツブ３５及び３６は像３７及び３Ｂを受像す
る。電子銃組立体の枢動中心は点３９である。この場合
、マーキング４０で示される角度を解消する。中心４１
及び４２または像３７及び３８の位置並びに電子銃組立
体の枢動中心を含む方向が、リニアス）ＩＪツブの平行
方向に垂直であるとき、整列が実現される。この整列条
件は、各ストリップ３５または３６上の像によって活性
化される最初及び最後の感光性素子の位置の半部によっ
てそれぞれ得られる値４１及び４２を等しくすることに
よって得られる。

第４図において、方向４５は整列及び中心に位置決めに
ふける零誤差の配置に対応する。一旦、電子銃組立体が
方向４４上に整列されると、３つの電子銃の面が第１図
の基準方向ＩＯを含む。しかし、中心位置付けの誤差は
残っている可能性はある。

したがって、それは、方向４４及び４５間のずれによっ
て測定される。基準方向１０に直角な方向に並進するこ
とによって、中心配置誤差が解消される。

他の配置、特に、完全な中心修正を持たらすために受像
管の軸線を中心として互いに１２０６だけ離して３つの
分析器を配置することも可能である。

第５図は、整列取付けの自動モニターを可能にするプロ
セサーを表わす。図面には、電子銃組立体及び受像管の
取扱い及び保守を可能にする機械部品は示していない。

光学分析器は、分−析器回路Ａ及び分析器回路Ｂと呼ば
れる回路５０及び５１に接続されている。それらの照明
出力は、２人カアナロク・デジタルコンバーク５２に接
続されており、このコンバータの出力は、適当なメモリ
手段が設けられたマイクロプロセサ５３に接続したバス
である。マイクロプロセサ５３は、一方では分析器Ａ及
びＢの電荷結合ストリップの動作を可能にするセルの時
間遅延計数信号を、他方ではモータインターフェイス５
４の制御パルスを発生する。制御パルスは、マイクロプ
ロセサのメモリ手段によって予め記憶した値と、各分析
器ストリップ上の像によって励起した最初及び最後の感
光性素子の列数の合計の半分との差によって制御され、
または、もし電子銃組立体６の中心に位置決めが行われ
るならば、電子銃組立体６の両側に対称に配置した２つ
の光学分析器１２及びＩ３の各々についての前述の合計
の半分の値の差によって制御される。このモータインタ
ーフェイスは、例えば電圧をモータ５５に与え、第４図
に表わされる２つの像間の変化をモータ５５の分析器Ａ
及びＢの回転に変換し、所望の整列を得ることを可能に
する。

第６図は、第５図に示す回路の操作アルゴリズムを表わ
す。そのようなアルゴリズムは、分析器回路Ａ及びＢの
信号取得段５７によって構成されるサーボループに入る
前に、初期設定動作５６によって始められる。その後、
所望値の計算に対する有効信号が段階５８中で識別され
る。そのような計算は電子銃組立体上に付けられたマー
キングの各々の像の緑の列数を計数する、すなわち計測
することによって可能である。これらの異なったデータ
が、誤差すなわち第２図の角度旦を計算するために段階
５９中で用いられる。この角度且は、例えばマーキング
中に配置した像の列数の合計の半分を用いることによっ
て、整列を得るために解消する必要がある。もし誤差が
解像度限界値または整列誤差とよばれるある限界値より
小さければ、コンピュータはプログラムの終了６０のル
ーチンに結ばれる。もしそうでなければ、誤差は、誤差
を解消する方向に進めるために、段階６１にふいてモー
フ制御パルスを発生する。そのあと信号取得段階５７に
また戻される。

第７図は、電子銃組立体の特定の形状が整列を実現する
ために用いられるような、本発明の他の実施例を表わす
。

実際には、電子銃組立体は、電荷結合ストリップ上に像
を形成するのに適した光沢金属材料で実現される集束電
極またはグリッドと呼ばれる一連のカップ状体によって
しばしば構成される。ある形状において、特に、グリッ
ドの１つは円筒体形状を有し、円筒体の直角断面は、平
らな部分によって連結した半型円筒体によって構成され
ている。

整列位置において、第７図に表わされた軸線８０に直角
な面上の突出は最小となっている。本発明による方法の
実施例において、電子銃組立体の位置が角度７９のずれ
を呈するとき、像７７が得られる。

像７７は寸法が減少されねばならない。回転によって、
この値が整列位置に対応する値７８に持たらされる。操
作は、前述の如く、特に、２つの光学分析器を用いるこ
とによって、電子銃７３によって放射される中央ビーム
の軸線を中心に位置決めするように画像の中心を計数す
ることを含んでもよい。

本発明の２つの光学分析器のこれら実施例の各々の使用
は簡単な校正を可能にする。測定装置は、実際には、光
学分析器の変形及び不正確な整列があるかも知れない。

このため、整列誤差りを決定することによって２つの分
析器の校正を実施する必要がある。整列誤差りは、基準
方向１０上の感光素子の列数１（最初）に対応する感光
素子の列数によって測定される。その後、この値りは２
つの分析器の１つ上で測定した値の各々に加えられ、正
しい値が得られる。

リニア検出を用いないで、第１図のスクリーン上の南北
（上下）方向と呼ばれる垂直方向の電子銃の整列を同時
に実行するようなマトリック、ス検出を用いる他の変形
例が可能である。また、本発明の分野から離れないで、
電子銃組立体の軸線８及び軸線１０を中心として回転し
て整列を得るように、第１図の測定装置を２倍にするこ
とも可能である。

今まで述べた実施例は、電子銃組立体６が受像管の中実
軸線８ａの長さに沿って起こりうる誤差なしに持たらさ
れる適用に関するものである。本発明は、また、電子銃
組立体の中心に位置決め誤差のサーボ修正を実現するこ
とを可能゛にする。このことは、感光性ストリップが２
５６個または１０２４個の能動素子から成るときでも、
電子銃組立体の大きな解像度に起因して可能である。電
子銃組立体　゛のセクションの単一画像が用いられる実
施例において（第７図）、２つの値が有効である。最初
の像７７が画像の寸法である。正しい整列を得るために
、この寸法を所定の値例えば第３図の場合の最小値に持
たらす必要があることが明らかである。

電子銃組立体の並進によってこの値を所定の値に持たら
す際、適当な中心に位置決めが第５図及び第６図に述べ
たのと同一の手段によって得られる。

このプロセスは光学マーキングを用いて、または光学マ
ーキングを用いないで２つの光学分析器を用いる実施例
にも適している。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の方法を実施する装置の概略図である
。 第２図は、本発明の電子銃組立体の調整装置を示す図で
ある。 第３図は、本発明の光学分析器の操作の詳細を示す図で
ある。 第４図は、本発明の変形例の操作の他の方法を示す図で
ある。 第５図は、本発明に用いられる自動整列回路を示す図で
ある。 第６図は、本発明の操作に用いられるデータ手段の概略
アルゴリズムを示す図である。 第７図は、本発明の他の実施例の概略図である。 〔主な参照番号〕 １　受像管、２　スクリーン、５　ネック、６　電子銃
組立体、　７．８．９　電子銃、１５　螢光素子、１７
．１８．１９　帯状体、１２．１３　分析器、２０．２
３　対物レンズ、３０　ストリップ、３５．３６　スト
リップ。 特許出願人　ビデオカラー　ニス、アー代理人弁理士新
居正彦

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）カラー受像管上に電子銃組立体を整列し中心に位
   置決めする方法にして、第２基準方向に対して電子銃組
   立体の方向に対応する第１方向によって形成した角度を
   、この角度旦を解消するための光学手段によって測定し
   、少なくとも１つの光学分析器上に電子銃組立体のセク
   ションのコントラスト付縁を有する像を形成し、光学分
   析器上の像の測定値が、電子銃組立体を変位することに
   よって解消される配置誤差の測定値であることを特徴と
   する方法。 （２）像の位置に対応する値が分析器上で測定され、角
   度旦の解消が、この値が整列に対応する所定の値にもた
   らせるとき、実現されるこ゛とを特徴とする特許請求の
   範囲第１項に記載の方法。 （３）電子銃組立体の整列が、電子銃組立体の整列が、
   電子銃組立体の２つの異なった像の中央が２つの分析器
   上で一致するように持たらされるように電子銃組立体を
   回転することによって実現されることを特徴とする特許
   請求の範囲第１項に記載の方法。 （４）電子銃組立体の整列及び中心に位置決めは、電子
   銃組立体の両側に対称的に配置した２つの分析器上の所
   定の値に２つの象の中央を一致させるように電子銃組立
   体を変位することによって実現されることを特徴とする
   特許請求の範囲第１項に記載の方法。 （５）電子銃組立体の整列及び中心に位置決めが、２つ
   の像の中央を所定の値に一致させるように電子銃組立体
   を変位することによって及び像の寸法を第２基準値に等
   しくさせることによって、実現されることを特徴とする
   特許請求の範囲第１項に記載の方法。 （６）カラー受像管上に電子銃組立体を整列し中心に位
   置決めするための装置にして、支持体上に基準方面に沿
   って、電子銃組立体の断面または光学マーキングの像を
   測定する少なくとも１つの光学分析器を含むことを特徴
   とする装置。 （７）光学分析器上に鮮明な縁を持つコントラスト付像
   を形成するように電子銃組立体の像が形成されるべき部
   分を強く照明する照明器を含むことを特徴とする特許請
   求の範囲第６項に記載の装置。 （８）各光学分析器が基準方向に直角な方向の長さに沿
   って配列した数個の能動素子から成る感光性電子装置を
   含むことを特徴とする特許請求の範囲第６項に記載の装
   置。 〔９）感光性電子装置は電荷結合感光性ストリップであ
   ることを特徴とする特許請求あ範囲第８項に記載の装置
   。 σＱ　光学マーキングが光反射細片であることを特徴と
   する特許請求の範囲第６項に記載の装置。 （１１）　光学マーキングが集束電極レベルにおける電
   子銃組立体の本体上に配置りた開口であることを特徴と
   する特許請求の範囲第６項に記載の装置。 （１２）　装置は電子銃組立体の整列及び／又は中心に
   位置決めを実現するために、受像管のネック上に電子銃
   組立体を配置する手段に接続したモーフに命令を与える
   制御プロセサを含むことを特徴とする特許請求の範囲第
   ６項ないし第１１項のいずれか１つに記載の装置。 （１３）　光学分析器からプロセサに供給したデータが
   ストリップ上の像によって励起した最初及び最後の感光
   素子の列数の合計の半分によって構成されていることを
   特徴とする特許請求の範囲第９項及び第１３項のいずれ
   か１つに記載の装置。