JPS6011122A - 非分散型赤外分析法における干渉補償方法 - Google Patents

非分散型赤外分析法における干渉補償方法

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JPS6011122A
JPS6011122A JP12002883A JP12002883A JPS6011122A JP S6011122 A JPS6011122 A JP S6011122A JP 12002883 A JP12002883 A JP 12002883A JP 12002883 A JP12002883 A JP 12002883A JP S6011122 A JPS6011122 A JP S6011122A
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JP
Japan
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gas
interference
cell
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component
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JP12002883A
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English (en)
Inventor
Masashi Endo
遠藤 昌司
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Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/37Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using pneumatic detection

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、試料ガス中に存在する測定対象ガスの成分濃
度全測定する非分散型赤外分析法において、比較的単純
な方法で試料ガス中に含まれる測定対象ガス・と共存す
るガスの干渉−成分を除去する干渉補償方法に関するも
のである。
従宋技0I、了 従業工業プロセスなどにおいてガス濃度の測定に用いら
れる非分散型赤外分析法は、赤外線に対し吸収詩1(′
Eを有するガスであれは何でも測定でき、」、た連=a
測定が可能であるから、工業プロセス以外の分野にも広
く用いられている。
しかし、この柚の分析法において、後で詳述するが、試
料ガス中の…11定対象ガスの持つ赤外線吸収スペクト
ルと異なる吸収スペクトルを持つガスが共存する場合に
は、干渉セルや光学フィルタによりその共存ガスによる
干渉を除去することができる。しかし、試料ガス中の測
定対象ガスの赤外線吸収スペクトルと一部又は全部と一
致する吸収スペクトルを持つガスが共存する場合には、
干渉セルによりその共存ガスによる干渉は除去すること
はできない。そこで、測定対象ガスで充填された検出器
と光学的に直列に、共存ガスの充填された検出器を接続
して、共存ガスによる干渉を補償する方法もあるが、こ
れによると測定する1祭の調整が複雑であり、測定の操
作性に劣る欠点があった。
発明の目的 本発明は、試料ガス中に共存する干渉ガス成分濃度に応
答するセンサを測定セルに外付けし、そのセ/すの出力
を試料ガス中の測定対象ガスの成分濃度と共存する共存
ガスの成分濃度との出力から差引くことにより、共存ガ
スによる干渉を補償することのできる非分散型赤外分析
法における干渉補償法を提供することを目的とする。
発明の構成 本発明は、一様な波長を有する2つの赤外線光束の一方
を赤外線を吸収しないガスで充填された比較セルを介し
て測・ポガスで充填された検出器の一方の室に入射させ
、曲刃の赤外線光束を試料ガスの流通する測定セルを介
して前記した測定対象ガスで充填された他方の室に入射
さぜ、前記検出器の出力を増幅器に加え、前記測定セル
に外側けされた試料ガス中に含まれる干渉ガス成分濃度
に対応した出力を発生するセ/、ザか−らの出力を前記
増1商器に加えて、測だ対象ガスと共存するガスの干渉
成分出力を差引き、測足対象ガス成分濃褪のみを出力す
る非分散型赤外分析法における干渉補償法を−F!f徴
とする。
以下における本発明の実施例において、試料ガス中に含
まれる測定対象ガスSO2と干渉ガス成分1420とが
共存する場合の干渉補償法について説明しであるが、こ
れに限定されるものではなく、試料ガス中に存在する共
存ガスの成分濃度に感応する傭類のセンサを用いること
により干渉補償を行なうことができるものであるから、
本発明の実施例において説明した共存ガス以外のものに
も干渉補償をすることができるものであって、特定の実
施態様に限定されるものではない。
以−F1従来の干渉補償法と本発明の干渉補償法の実施
例について説明する。
従来技術す説明(第1図と第2図) 第1図は干渉セルによる干渉補償法を、第2図は共存ガ
スを充填した検出器による干渉法を示す。
第1図において、■は赤外線光源、2は赤外線光源1か
ら放射される光束を測定光束Mと比較光束Sとに分離す
る光束分配器、3はチョッパで、測定光束Mと比較光束
Sとを交互に干渉セル4に入射さ炸る。4の干渉セルは
、共存するガスによる干渉の影響を除去するものである
。6は比較セルで窒素ガスN2なとのような不活性ガス
で充填されでおり、比較セル6に入射された比較光束S
は赤外線吸収が行なわれずに、測定対象ガスで充填され
た検出器7のi7Bに入射される。5は試料ガスが流入
し、流出して行く測定セルで、測定光束Mは測定セル5
を透過し、検出器7の室7Aに入射する。9はダイヤフ
ラム電極で、不図示の固定電極との1Bjで差動コンデ
ンサを形成する。IOは、差動コンデンサの出力を増幅
する増幅器である。
次に、動作全説明すると、赤外線光源1から発生された
赤外線光束は光束分配器2により測定光束Mと比較光束
Sとに分離され、チヨソ・き8により交互に分離されて
干渉セル4に入射される。干渉セル小において共存ガス
による干渉補償が行なわれ、干渉ガスと一致するスペク
ートルの大部分が吸収される。測定光束Mは測定セル5
に、比較光束Sは比較セル6に入射される。測定セル5
において、試料ガス中の測定対象ガスの持つ赤外線吸収
スペクトルの一部か吸収され、検出器7の室7Aに入射
される。検出器7のi7Aと7Bに充填された測定対象
ガスは、測定光束Mと比較光束Sの固有波長域の赤外線
を吸収して膨眼する。測定光束Mは、検出器7の室7A
においては測定対象ガスにより既にその一部分が吸収さ
れているため、比較光束Sの入射する検出器7の室7B
側の、膨張力より弱く、従ってダイヤフラム電+f9の
室7A側に変位し、その差動出力は増幅器10に加えら
れる。
前記した干渉セルによる補償法は、測定対象ガスと共存
する干渉ガスとの赤外線吸収スペクトルが一部又は全部
と重なる場合には、例えばCOとCO2においては赤外
線の吸収特性は4.5μm付近で一部重なり、またSO
2とH2Cにおいては7.5μmで完全に重なっている
場合には、完全な補償をすることができない欠点がある
前記した欠点を除くものとして、第2図において干渉補
償検出器による干渉補償法を示す。
同図において、参照数字1〜7を付された構成部品は第
1図に示されたものと同じであるのでその説明は省略す
る。検出器7と光学的に直列に検出器11が接続されて
おり、検出器7と11の出力は増幅器10と13を介し
て差動増幅器14に加えられる。
ここで、試料ガスはSO2と1−120で、測だ対象ガ
スをS02、共存ガスを1(20とすると、検出器7の
室7Aと7BにはSO□ガスが、検出器11の室11人
とIIBには1120ガスが充填されている。
測定セル5に入射きれた測定光束Mは、試料がスである
S02と1120により一部吸収きれて検出器7の室7
Aに入射されるため、赤外線の吸収による膨張力は弱い
が、比較セル6において赤外線吸収を受けない比較光束
Sが検出器70室7Bに入射されると、赤外線吸収によ
る膨張力は犬となるため、ダイヤフラム電極9は室7A
側に変位し、増幅器10にはその出力としてSO2とH
20成分濃度に対応する電圧が加えられ、る、−方、検
出器11の室11AとIIBには、検出器7の室7Aと
713を透過しだ測定光束IMと比較光束Sが入射され
る。
検出器11の室11AとllBには共存ガスH20が充
填されているため、測定セル5及び・検出器7で吸収さ
れたスペクトル以外の残存スペクトルにょってグイヤフ
ラム電喚12が変位される。この残存 ′スペクトルに
よる変位の大部分子1H20によって生した一部分が検
出器7を透過してきたSO2によりで生じる。このダイ
ヤフラム成極の変位によって生じる出力として11□O
成分、濃変に対応す否電圧が増幅器13に加えられ、差
動増幅器14からは、S02とH20成分棲度を示す電
圧とH20濃度を示す電圧との差゛電圧があるSO2成
分濃度を示す電圧が出力され、干渉補1賞が行なわれる
しかし、この補償法によると、測定の際の調整が複雑で
あり、測定の操作性に劣り、また装置自体が高価となる
欠点がある。
本発明の詳細な説明(第8図と第4図)以下に本発明の
詳細な説明する。
第8図において参照数字1〜7.7A、71J、9を1
寸された構成部品は、第1図に示されたものと同じであ
るので、その説明は省略する。測定セル5には別室15
が連接されており、試料ガスの流通する所にセンサ16
が設けられている。このセンサ16は、この実施例にお
いては感湿センサであり、水晶振動子上に水分を強者す
る性質を持つ尚分子を塗布したもので、試料ガス中に台
筐れる水分ガスト120の吸冶計に依存して水晶振動子
の発振周波数が変化する。第4図には、周波数変化と水
分濃度との関係ケ示すグラフが示されており、水晶振動
子の尚波数変化△fが増加するのに伴なって水分濃度も
増大して行く特1生が示されている。
17は周波数変化へfをアナログ吊−に変換するI)A
変換器で感湿センサ16に接続されており、]8はアナ
ログ出力の;d7.1整用抵抗器で、その出力id摺動
子1.8′より差動増幅器19の二方の入力に接続され
る。
なお、調整用抵抗器18の摺動子18′は、感湿センサ
16の出力を検出器7から出力される共存ガスによる干
渉出力と等しくなるように調整しておくことが昼間であ
る。19は摺動子18′と検出器7とからの出力の加え
られる差φ力曜41咄イ3である。
測だセル5に導入される試料ガスはSO2と1120と
から成り、測定対象ガスはSO2で、共存する干渉ガス
はlI20である。検出器70室7Aと713には、測
定対象ガスであるSO2が充填されている。
い寸、測定セル5を流入した試料カスは、感湿センサ1
6の設けられた別室15を通過して排出される。光束分
配器2からのM1]定光東Mと比較光束Sとはチョッパ
3により父互に断続され、干渉セル4を介して測定セル
5と比較セル6とに入射される。比較セル6においては
赤外線吸収が行なわれることなく、検出器7の室7Bに
比較光束Sが入射される。測定セル5を透過する測定光
束Mは1試料ガスS02とH2Oにより一部分の赤外線
吸収が行なわれた陵に、検出器7の室7Aに入射される
。検出器7の室7Bに入射される比較光束Sは比較セル
6において赤外線吸収が行なわれず減衰していないから
、室7Bにおける膨張力は大となり、ダイヤフラム成極
9を室7A側に変位させ、その容量変化に対応する電圧
を差動増幅器19の一方の端子に入力する。次に、測定
セル5を流出した試料ガヌは別室15に流入し、感湿セ
ンナ16の周辺を流浪するが、感湿センサ16は試料ガ
ス中に共存するH20ガスを吸着し、1−120ガスの
譲度に比例した同波数変化を生じ、その検出信号はDA
変換器17によりアナログ量に変換された仮に、調整用
抵抗器18と摺動子18′を介して差動増幅器19の他
方の端子に入力される。検出器7からの出力は試料ガス
中の測定対象ガスso2と共存ガスト1□Oとの出力の
和であり、DA変換器18からの出力は共存ガスト■2
0の出力であるから、差動増幅器19からの差出力は測
定対象ガスso2のみと彦り、共存ガスによる干渉を補
償することができる。
なお、前記した感湿セッサとして水晶撮動子に水分全吸
着する高分子を塗布したものを用いているが、水分に感
応する誘電体を用いた静電容量型のセンサ、抵抗変化型
又はインピーダンス変化型のセンサを用いても、共存ガ
ス、であるH2oガスによる干渉を補償することができ
る。
丑だ、試料ガス中に測定対象ガス以外に多成分の共存ガ
スが存在する場合には、測定セルの流入口又は流出口等
にそれぞれの共存ガスに感応するそれぞれのセンサを外
付けすることにより、共存ガスによる干渉を補償するこ
とができる。
発明の詳細 な説明したように本発明によると、測定セルに試料ガス
中の測定対象ガスと共存する共存ガス成分巖度に感応す
るセッサを外付けし、このセンサからの共存ガス成分濃
度に対応する出力を、測定対象ガスの充J剪された検出
器からの測定対象ガス成分濃度と共存ガス成分a度とに
対応する出力から差し引くという比較的簡単な方法より
、試料ガス中に測定対象ガスと共存する共存ガスの影響
を何ら受けることなく、測定対象ガス成分濃度に対応す
る出力のみを正確に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
分濃度の関係金示すグラフである。 図中、■は赤外線光源、:ll:l:光束分配器、8は
チョッパ、小は干渉セル、5は測定セル、(5は比較セ
ル、7は検出器、15は別室、16は感湿センサ、■?
!1L)A変換器、18は調整用抵抗器、19は差動増
11届器を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 け)、一様な波長を有する2つの赤外線光束の一方を赤
    外線を吸収しないガスで充填された比較セルを介して測
    定ガスで充填された検出器の一方の室に入射させ、油力
    の赤外線光束を試料ガスの流通する測定セルを介して前
    記した測定ガスで充填された検出器の能力の室に入射さ
    せ、前記演出器の差出力を増幅器に加え、前記測定セル
    に外付けされた試料ガスに含まれる干渉ガスの成分濃度
    に対応した出力を発生ずるセンサからの出力を前記増幅
    器に加えて、測定71象ガスと共存するガスの干渉成分
    出力を差引き、前記測定対象ガス成分濃度のみをト突出
    することを特徴とする非分散型赤外分析法における干渉
    補償力、去。 (2)。前記した干渉ガスが多成分の干渉ガスである」
    局舎に、前記した測7岨セルに外付けされた多成分の干
    渉ガスにそれぞれ感応するセンサからの出力を増幅器に
    加え、多成分の一干渉ガスによる干渉を補償することを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の非分散型赤外分
    析法における干渉補償方法。
JP12002883A 1983-07-01 1983-07-01 非分散型赤外分析法における干渉補償方法 Pending JPS6011122A (ja)

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