JPS60105906A - 超音波厚さ計 - Google Patents
超音波厚さ計Info
- Publication number
- JPS60105906A JPS60105906A JP21313083A JP21313083A JPS60105906A JP S60105906 A JPS60105906 A JP S60105906A JP 21313083 A JP21313083 A JP 21313083A JP 21313083 A JP21313083 A JP 21313083A JP S60105906 A JPS60105906 A JP S60105906A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thickness
- ultrasonic waves
- measured
- ultrasonic
- acoustic impedance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B17/00—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations
- G01B17/02—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations for measuring thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
この発明は超音波厚さ計に関する。
［従来の技術及び欠点］
従来の超音波厚さ計は、被測定物の音響インピーダンス
の値によらず、一定のＳＴＣ増幅を行っていたため、あ
る場合は増幅過多に、ある場合は増幅不足となり、確実
に測定がしにくい、という欠点があった。
の値によらず、一定のＳＴＣ増幅を行っていたため、あ
る場合は増幅過多に、ある場合は増幅不足となり、確実
に測定がしにくい、という欠点があった。
［発明の目的］
それ故、この発明の目的は音響インピーダンスを測定し
、測定された音響インピーダンスに応じて最適なＳＴＣ
増幅をすることにより、確実な測定ができる超音波厚さ
計を提供することにある。
、測定された音響インピーダンスに応じて最適なＳＴＣ
増幅をすることにより、確実な測定ができる超音波厚さ
計を提供することにある。
［発明の構成及び効果］
この発明は超音波のパワーを、用いて音響インビーダン
スと厚さとをめ請求めた音響インピーダンスに応じて最
適なＳＴＣ増幅を行ないＳ Ｔ’ Ｃ増幅された測定値
と上記厚さとに応じて、被測定物体の厚さを測定するの
で、極めて正確に被測定物体の厚さを測定することがで
きる。
スと厚さとをめ請求めた音響インピーダンスに応じて最
適なＳＴＣ増幅を行ないＳ Ｔ’ Ｃ増幅された測定値
と上記厚さとに応じて、被測定物体の厚さを測定するの
で、極めて正確に被測定物体の厚さを測定することがで
きる。
し実施例の説明］
以下この発明の一実施例を図面に基いて説明する。第１
図は本発明の超音波厚さ計のブロックダイヤグラムであ
る。
図は本発明の超音波厚さ計のブロックダイヤグラムであ
る。
１は探触子であり、２は超音波の送信部である。
３はパワー検出部であり、学習モードの時にはここで検
出され／ｊパワーが５のＡ／Ｄ変換器でΔ／Ｄ変換され
、測定モードの時は表面及び底面からのパルスの反射波
を検出し、６のゲートの開閉を制御する。８は測定結果
の表示部であり、９は全体の制御及び計算を行うＣＰＵ
であり、１０はデータを一時記憶し、又制御・演算のプ
ログラムを格納するメモリである。７は測定モードの時
間を測定するだめのクロックパルス発生部であり、１１
はそのパ／？スをカウントするカウンタである。
出され／ｊパワーが５のＡ／Ｄ変換器でΔ／Ｄ変換され
、測定モードの時は表面及び底面からのパルスの反射波
を検出し、６のゲートの開閉を制御する。８は測定結果
の表示部であり、９は全体の制御及び計算を行うＣＰＵ
であり、１０はデータを一時記憶し、又制御・演算のプ
ログラムを格納するメモリである。７は測定モードの時
間を測定するだめのクロックパルス発生部であり、１１
はそのパ／？スをカウントするカウンタである。
図２は本超音波厚さ計の動作フローチャー１〜である。
まず、学習モードについて説明する。いま探触子１が被
測定物に垂直に取付けられている漫のとする。（被測定
物に触れる探触子の音響インピーダンスは予め測定して
わかっているものとする。）超音波発生部４はＣＰＵ９
の命令によって周波数ｆ１の超音波を探触子１より発射
し、パワー検出部３は直ちに表面からの反射波のパワー
を検出する。検出されたパワーはＡ／Ｄ変換器５でＡ／
Ｄ変換され、ＣＰＵ９を介してメモリ１０に一旦記憶さ
れる。次にパワー検出部３は遅れてやってくる底面部の
反射波のパワーを検出する。さらにこのパワーもＡ／Ｄ
変換器５でＡ／Ｄ変換されメモリ１０に記憶される。さ
らに異なる周波数ｆ２の超音波に対しても同様な動作を
行う。この結果法の式（１）％式％ （１） （２） Ｂ、Ｓは理論によってめられる開数であり、α、βは、
学門モードの測定で得られる測定値にり決まる。ＣＰＵ
９はこの連立方程式を解いて、およその厚さｄｌと音響
インピーダンスρＧをめ、メモリ１０に記憶する。 ４
゜次に測定モードについて説明する。測定モードでは前
記のｉ！！インピーダンスρＣに基いて、測定に入るま
えに最適なＳＴＣ増幅のゲインｄＢ一時間Ｔ曲線がＣＰ
Ｕ９に設定されている。
測定物に垂直に取付けられている漫のとする。（被測定
物に触れる探触子の音響インピーダンスは予め測定して
わかっているものとする。）超音波発生部４はＣＰＵ９
の命令によって周波数ｆ１の超音波を探触子１より発射
し、パワー検出部３は直ちに表面からの反射波のパワー
を検出する。検出されたパワーはＡ／Ｄ変換器５でＡ／
Ｄ変換され、ＣＰＵ９を介してメモリ１０に一旦記憶さ
れる。次にパワー検出部３は遅れてやってくる底面部の
反射波のパワーを検出する。さらにこのパワーもＡ／Ｄ
変換器５でＡ／Ｄ変換されメモリ１０に記憶される。さ
らに異なる周波数ｆ２の超音波に対しても同様な動作を
行う。この結果法の式（１）％式％ （１） （２） Ｂ、Ｓは理論によってめられる開数であり、α、βは、
学門モードの測定で得られる測定値にり決まる。ＣＰＵ
９はこの連立方程式を解いて、およその厚さｄｌと音響
インピーダンスρＧをめ、メモリ１０に記憶する。 ４
゜次に測定モードについて説明する。測定モードでは前
記のｉ！！インピーダンスρＣに基いて、測定に入るま
えに最適なＳＴＣ増幅のゲインｄＢ一時間Ｔ曲線がＣＰ
Ｕ９に設定されている。
測定モードに入ると超音波発生部４は、パルス状超音波
を送信部２を通して探触子１より、被測定物に向りて発
！）Ｊ−！ｌる。次にパワー検出部３が表面超音波を捕
えたら、ゲート６を聞き直ちにカウンタ１１はクロック
パルスをカウントし始める。次にパワー検出部３が遅れ
てやって 。
を送信部２を通して探触子１より、被測定物に向りて発
！）Ｊ−！ｌる。次にパワー検出部３が表面超音波を捕
えたら、ゲート６を聞き直ちにカウンタ１１はクロック
パルスをカウントし始める。次にパワー検出部３が遅れ
てやって 。
くる底面反射波を捕えたらゲート６を閉じ、カウンタ１
１はカウントをやめる。次にこのカウント数及び被測定
物中の音速によりＣＰＵ９は厚さｄ２をめる。さらに先
にメモリ１０に記憶されている厚さｄｌ、ｄ２を比較し
、これがしきい値１００以上であればエラーを表示する
か、測定をやり直す。しきい値）θ１以下であれば、Ｃ
ＰＵ９は表示部８を通して厚さｄ２を表示する。
１はカウントをやめる。次にこのカウント数及び被測定
物中の音速によりＣＰＵ９は厚さｄ２をめる。さらに先
にメモリ１０に記憶されている厚さｄｌ、ｄ２を比較し
、これがしきい値１００以上であればエラーを表示する
か、測定をやり直す。しきい値）θ１以下であれば、Ｃ
ＰＵ９は表示部８を通して厚さｄ２を表示する。
図１は本発明の超音波厚さ組のブロックダイヤグラムで
ある。 図２は本発明の超音波厚さ計の動作フローチャートであ
る。 １・・・探触子、３・・・パワー検出部、４・・・超音
波発生部、５・・・Ａ／Ｄ変換器、９・・・ＣＰＵ、１
０・・・メモリ 特許出願人 立石電機株式会社 第 １２ 手 続 補 正 書 （方式） １、事件の表示 昭和５８年特許願第２１３１３０号 ２、発明の名称 超音波厚さ計 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所０６１６京都市右京区花園土堂町１０番地連絡先
東京技術渉外空 ０３ （４３６） ７１８４４、補正
命令の日付 昭和５９年２月２８日５、補正の対象 明細古
ある。 図２は本発明の超音波厚さ計の動作フローチャートであ
る。 １・・・探触子、３・・・パワー検出部、４・・・超音
波発生部、５・・・Ａ／Ｄ変換器、９・・・ＣＰＵ、１
０・・・メモリ 特許出願人 立石電機株式会社 第 １２ 手 続 補 正 書 （方式） １、事件の表示 昭和５８年特許願第２１３１３０号 ２、発明の名称 超音波厚さ計 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所０６１６京都市右京区花園土堂町１０番地連絡先
東京技術渉外空 ０３ （４３６） ７１８４４、補正
命令の日付 昭和５９年２月２８日５、補正の対象 明細古
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 学習モードの時、異なる周波数のビーム状の超音波を発
射し、 かつ被測定物から反射してきた超音波のパワーを検出す
るパワー検出手段と、 この超音波を発射、検出できる装置を被測定物の表面に
対して垂直に保持する手段と、これら検出されたパワー
をＡ／Ｄ変換するＡ１０変換手段と、 Ａ／Ｄ変換された値を一時的に記憶する記憶手段と、 このＡ／Ｄ変換された値にもとづいて音響インピーダン
スと被測定物の厚さとを演算する演算手段と、 この演算手段でめられた音響インピーダンスにもとづい
て被測定物に最適な増幅を行なうこの増幅手段により増
幅された信号と前記厚さとに応じて被測定物体の厚さを
測定する測定手段とを備えた超音波厚さ計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21313083A JPS60105906A (ja) | 1983-11-11 | 1983-11-11 | 超音波厚さ計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21313083A JPS60105906A (ja) | 1983-11-11 | 1983-11-11 | 超音波厚さ計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60105906A true JPS60105906A (ja) | 1985-06-11 |
Family
ID=16634069
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21313083A Pending JPS60105906A (ja) | 1983-11-11 | 1983-11-11 | 超音波厚さ計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60105906A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2593909A1 (fr) * | 1986-02-03 | 1987-08-07 | Mtm Leader Sarl | Mesureur d'epaisseurs de revetements par interferometrie ultrasonore |
| KR20020034571A (ko) * | 2000-11-02 | 2002-05-09 | 박병권 | 이중주파수 초음파 음향센서를 이용한 슬러지 두께측정방법 및 그 장치 |
-
1983
- 1983-11-11 JP JP21313083A patent/JPS60105906A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2593909A1 (fr) * | 1986-02-03 | 1987-08-07 | Mtm Leader Sarl | Mesureur d'epaisseurs de revetements par interferometrie ultrasonore |
| KR20020034571A (ko) * | 2000-11-02 | 2002-05-09 | 박병권 | 이중주파수 초음파 음향센서를 이용한 슬러지 두께측정방법 및 그 장치 |
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