JPS60102517A - Integration type measuring method - Google Patents

Integration type measuring method

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JPS60102517A
JPS60102517A JP58211185A JP21118583A JPS60102517A JP S60102517 A JPS60102517 A JP S60102517A JP 58211185 A JP58211185 A JP 58211185A JP 21118583 A JP21118583 A JP 21118583A JP S60102517 A JPS60102517 A JP S60102517A
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integral
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measurement method
time
light
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Masao Hirano
平野 正夫
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Tateisi Electronics Co
Omron Tateisi Electronics Co
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D1/00Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application
    • G01D1/04Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application giving integrated values

Abstract

PURPOSE:To maintain high accuracy even though level fluctuation due to drift is yielded, by integrating an electric signal to be measured in two different integrating time zones, and performing subtraction between one integrated value and the other integrated value, which is obtained by the multiplication of several times. CONSTITUTION:A specified fluorescent body 2 is attached to the tip of an optical fiber 1, and a temperature probe is constituted. The fluoresence from the fluorescent body 2 emitted by the excited light from a light emitting device 3 and afterglow are received by a light receiving device 5. Its output is stored in an RAM11 through an amplifier 6, a sample and hold circuit 7, an amplifier 8, and an A/D converter 12. A CPU10 performs integration in two different integrating time zones by adding the stored data in the RAM11. The subtraction between one integrated value and the other integrated value, which is obtained by the multiplication of several times, is performed, and the result is outputted as the measured value.

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 この発明は、光、放射線、電子線、電磁波、庄ツバ流量
、加速度、温度、超音波、表面弾性波、その他の物理量
をセンサによって電気信号に変換し、この電気信号を所
定時間帯にゎたって積分することにより上記物3!I!
Φを測定りる積分形測定法に関りる。
[Detailed Description of the Invention] Background of the Invention This invention converts light, radiation, electron beams, electromagnetic waves, Shotsuba flow rate, acceleration, temperature, ultrasonic waves, surface acoustic waves, and other physical quantities into electrical signals using sensors. By integrating this electrical signal over a predetermined time period, the above 3! I!
Concerns the integral type measurement method for measuring Φ.

この積分形測定法では、一般的に言って、物理量→セン
1ノによる電気信号への変換→増幅→偵分という処理が
行なわれる。第1図にある物理量の時間変化の様子とそ
の積分値とが示されている。積分時間帯Tは物理量の立
上りの時点(【a)からほぼ零になる時点(【C)まで
の間に設定され−(いる。積分形測定法はノイズに強い
という特徴をもっている。たとえば物理量またはその電
気変換信号に鎖線Aで承りようなノイズが生じたとして
も、その積分1icI&、L工A で承りように積分途
中で変化するだけぐ、時間帯Tが経過した時点における
最終的な積分値IT集 には変化がない。しかしながら
、セン1)、増幅器等のドリーノドによって物理色信号
のレベルが破線Bでポリように上下にシフ1−すると、
その積分値は 工8 で示Jように変化してしまうとい
う問題があり、このドリフトにJこる誤差は無視し得な
い。
Generally speaking, in this integral type measurement method, the following processing is performed: physical quantity -> conversion into electrical signal by sensor -> amplification -> rectification. FIG. 1 shows how the physical quantities change over time and their integral values. The integration time period T is set from the time when the physical quantity rises ([a) to the time when it becomes almost zero ([C]).The integral type measurement method has the characteristic of being resistant to noise. Even if noise occurs in the electrical conversion signal, as shown by the chain line A, the final integral value at the end of the time period T will change as shown in the integral 1ic I&, L engineering A. There is no change in the IT collection. However, if the level of the physical color signal shifts up and down like a polygon along the broken line B due to the dolly node of the amplifier etc.,
There is a problem that the integral value changes as shown in step 8, and the error caused by this drift cannot be ignored.

発明の概要 この発明は、積分形測定法において、積分されるべき信
号にドリフトによるレベル変動が生じても高い精度を保
つことができるようにすることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to enable high accuracy to be maintained in an integral type measurement method even if level fluctuations due to drift occur in a signal to be integrated.

この目的を達成りるためにこの発明は、被測定電気信号
を2つの異なる積分時間帯で積分し、一方の積分値と所
定数倍された他方の積分値との間で減算を行ない、この
減算結果を測定値とすることを特徴とする。
In order to achieve this object, the present invention integrates the electrical signal to be measured in two different integration time periods, subtracts one integral value from the other integral value multiplied by a predetermined number, and It is characterized by using the subtraction result as the measured value.

第1図の例に即して具体的にいうと次のようになる。、
積分されるべき物理m(被測定電気信号)をV(t)と
すると、上述の積分値ITは次式ひ与えられる。
More specifically, based on the example shown in FIG. 1, it is as follows. ,
When the physical m (electrical signal to be measured) to be integrated is V(t), the above-mentioned integral value IT is given by the following equation.

これに対しζ、この発明の方法によると2つの積分時間
帯r−1(ta−tb) 、−r 2 (tb 〜tc
)が設定される。そして測定11i 1は次式で!jえ
られる。
On the other hand, ζ, according to the method of the present invention, there are two integration time periods r-1 (ta-tb), -r2 (tb ~ tc
) is set. And measurement 11i 1 is the following formula! I can get it.

・・・(2) ・・・(3) 第(3)式は信号V(t)のドリフト用が積分時間帯T
 (ta−tc)で一様であると仮定し−(いる。一様
でないときには第(2)式にJ3いてnに変えでnαを
用いるとよい。ここでαはドリフ1〜のばらつきの程度
を表わし、第1図に示す゛ような波形の場合にはαく1
ぐある。
...(2) ...(3) In equation (3), the drift of the signal V(t) is the integration time period T.
Assume that (ta-tc) is uniform. If it is not uniform, use nα in place of J3 and n in equation (2). Here, α is the degree of variation of drift 1~ In the case of a waveform like ゛ shown in Fig. 1, α
Guaru.

以上のようにして、この発明ではドリフトによる信号の
レベル変動を積分値相互間の減算によって相殺している
から、レベル変動に影響されることなく精度の高い測定
が可能となる。積分法ぐあるから、ノイズに強いのは言
うまでもない。
As described above, in the present invention, since signal level fluctuations due to drift are canceled out by subtraction between integral values, highly accurate measurement is possible without being affected by level fluctuations. Since it uses an integral method, it goes without saying that it is resistant to noise.

積分の方法には多種ある。最も簡単には、信号をアナロ
グ的に直接積分する積分回路を用いればJ:い。ディジ
タル的に処理りる場合には、信号を適当な時間間隔でサ
ンプリングし、AD変換したのちサンプリング・データ
をメモリに記憶しておき、iiL!憶されIS1ノンブ
リング・データを加i−+ればよい。これはたとえば中
央処理装v!i(以下CI) Uと言う)、好ましくは
マイクロブロヒツ1ノによって制御される。さらに積分
手段として、信号をその人さきに応じた周波数のパルス
信号に変換づるV/F変挽回路と、V/1:変換回路の
出ツノパルスを所定時間帯にわたって31数する計数手
段と1.s +う構成されたものを用いることしijl
 III:である。上記亮]数手段としてはカウンタま
たはマイクロプロセッサが使用されJ、う。
There are many different methods of integration. The simplest way is to use an integrating circuit that directly integrates the signal in an analog manner. When processing digitally, the signal is sampled at appropriate time intervals, AD converted, and then the sampled data is stored in memory, iiL! It is sufficient to add i-+ the stored IS1 non-bringing data. This is an example of a central processing unit v! i (hereinafter referred to as CI), preferably controlled by a microbrochure. Further, as an integrating means, there is a V/F converter circuit that converts the signal into a pulse signal with a frequency according to the person's preference, and a counting means that counts the output pulses of the V/1: converter circuit to 31 over a predetermined time period.1. s + ijl
III:. A counter or a microprocessor is used as the counting means.

2つの積分11.1間帯の設定に−しいくつかのやり方
がある。イの1つは、上述のように積分時間ぜi)1’
 1 (ta 〜lb) 、1’ 2 (tb 〜tc
)をあらかじめ設定しIおく方法である。これは、第2
図に示ずように、被測定信号が周期的に現われる場合に
イj効である。積分+1.′1間帯−r 1、−1’ 
2は2種類のタイミング・パルスP11、PI3ににっ
て定めることができ、これらのタイミング・パルスによ
って積分手段を制御することができる。
There are several ways to set the interval between the two integrals. One of them is the integration time, i) 1' as mentioned above.
1 (ta ~ lb), 1' 2 (tb ~ tc
) is set in advance. This is the second
As shown in the figure, this effect occurs when the signal under test appears periodically. Integral +1. '1 zone -r 1, -1'
2 can be determined by two types of timing pulses P11 and PI3, and the integrating means can be controlled by these timing pulses.

タイミング・パルスI)21、P22で;3z ”J’
ように、時間帯1−1とT2とを分離して設けてもよい
のはいうまでもない。
Timing pulse I) at 21, P22; 3z “J”
It goes without saying that the time periods 1-1 and T2 may be provided separately.

被測定信号は上述のように指数関数的に減少する波形に
限らず、第3図に示づような矩形波であっても、サイン
波形であってもよく、この発明は任意の波形の信号に適
用可能である。
The signal to be measured is not limited to the exponentially decreasing waveform as described above, but may also be a rectangular wave as shown in FIG. 3 or a sine waveform. Applicable to

積分時間セ1)を定めるもう1つの方法は、被測定信号
のレベルを利用するしのであり、この方法は非周期的な
信号に好適である。第4図に示されているように、基準
レベル■ r被測定信号V([)をレベル弁別し、 V
(()≧I s o)u、1間帯を−1−I V (1
) < ISの時間帯を−12とづる。各時間帯におけ
る信号4つされる。
Another method for determining the integration time 1) is to use the level of the signal under measurement, and this method is suitable for non-periodic signals. As shown in FIG. 4, the reference level ■ rThe signal under test V([) is level-discriminated, and V
(()≧I s o) u, 1 interval -1-I V (1
) < The time zone of IS is spelled as -12. There are four signals for each time period.

・・・(4) ただし 時間帯TLの総和 時間帯−「1の総和(総時間)は、タイミング・パルス
I) 3 ’lによってグー1〜を制御し、このパルス
1)31が1ルベルにあるときに入力づるり(」ツク・
パルスを4数づることによりめることができる。時間?
t) T 2の総和についても+i’il様である。
...(4) However, the total time period of the time period TL - 1 is the sum (total time) of the time period TL, which is controlled by the timing pulse I) 3 'l, and this pulse 1) 31 becomes 1 level. At some point, input
It can be determined by counting the number of pulses by four. time?
t) The sum of T 2 is also +i'il-like.

第4図に示されているような急峻なピークをもつ信号に
対しては、上述したV/F変換の手法を用い−C積分す
ることが好ましい。
For a signal having a steep peak as shown in FIG. 4, it is preferable to perform -C integration using the V/F conversion method described above.

実施例の説明 この実施例は螢光体を応用した光温度測定法である。第
5図に示すように、螢光体に・−足先用の励起光を照射
づると螢光体からは螢光および残光が発生ずる。励起さ
れている間に発光される光が螢光で、励起が停止した時
点以降に発光され、時間とともに減衰する光が残光であ
る。
DESCRIPTION OF THE EMBODIMENTS This embodiment is an optical temperature measurement method using a fluorescent material. As shown in FIG. 5, when the phosphor is irradiated with excitation light for the toes, fluorescence and afterglow are generated from the phosphor. Fluorescence is the light that is emitted during excitation, and afterglow is the light that is emitted after the excitation stops and decays over time.

螢光体の置かれた雰囲気の温度によって、螢光発光強度
と残光時間が変化づる。第5図の波形(A>においC実
線で示されているものが温度1−m1における波形、破
線で示されているもので温度1’ m21j Jj C
ノる波形である。ココ−C’l’ 1111 < Tm
2の関係にある。一般に、発光輝度は温度が低いはと高
くなり、残光時間も長くなる傾向がある。発光か11度
および/または残光時間を直接に測定づる代わりに、螢
光a3 J:び/または残光信号の積分1+Q (ハツ
チングで示されている部分の面積、(r1分11、Y間
借T−>(積分光量)を測定することができ、この積分
光mもまIc温度の関数となる。第す図(△)は残光時
間の代わりに残光積分光量をめるようにした例であり、
第5図(B)(よ発光1illすと残光時間の測定に代
えて螢)■おJ、び残光の積分光(11をめ−(いる。
The fluorescence intensity and afterglow time vary depending on the temperature of the atmosphere in which the fluorescent material is placed. Waveforms in Figure 5 (A>Odor
It has a waveform of 0. Coco-C'l' 1111 < Tm
There is a relationship between 2. Generally, the lower the temperature, the higher the luminance and the afterglow time tends to be longer. Instead of directly measuring the luminescence intensity and/or afterglow time, the fluorescence a3 It is possible to measure T->(integrated light amount), and this integrated light m is also a function of Ic temperature.The figure (△) shows the afterglow integrated light amount instead of the afterglow time. For example,
Figure 5 (B) (If you emit 1 ill of light, you can measure the afterglow time instead of fireflies).

これらCはいずれも積分時間帯Tがあらかじめ定められ
Cいる。第5図(C)もまた螢光と残光の積分光量をめ
ているが、積分114間−1−L;L基準レベル−によ
って定められている。
In each of these C, the integration time period T is determined in advance. FIG. 5C also shows the integrated light amount of fluorescence and afterglow, which is determined by the integral 114 -1-L; L reference level.

第6図は、螢光J3 J:び/または残光の積分光量の
温度特性を示している。使用される螢光体について、梗
々の温1女に対してその積分光fr1′/J)あらかじ
め測定され、既知関係として第6図に承りような特性が
あらかじめ設定されている。
FIG. 6 shows the temperature characteristics of the integrated amount of fluorescence and/or afterglow. Regarding the phosphor used, its integral light fr1'/J) is measured in advance for a hot spring, and the characteristics shown in FIG. 6 are set in advance as a known relationship.

測定された積分光量がこの温度特性と比較されることに
より温度がめられる。
The temperature is determined by comparing the measured integrated light amount with this temperature characteristic.

第7図は上記のような螢光体応用温i測定にお1ノる2
つの1h分詩間帯の設定方法の一例を示している。励起
光の立上りの時点を10、励起光の立下りの時点をtl
、測定温度範囲内の最も低い温度においC残光がほとん
ど消滅する時点をt2と覆る。
Figure 7 shows the above-mentioned temperature measurements using fluorescent materials.
An example of how to set two 1-hour poetry intervals is shown. The rising time of the excitation light is 10, and the falling time of the excitation light is tl.
, the time point at which the C afterglow almost disappears at the lowest temperature within the measurement temperature range is defined as t2.

(A>の積分時間帯は残光積分光量を測定しようとする
場合であり、時点口と12との丁度中間に時点t4を設
定し、時間帯−ri=ti〜t4、王2−(4〜12と
している。両回間(+) 1 ′1 、1−2の良さは
等しい1.]ノたかつ文、測定値は・・・(6) となる。
(The integration time period of A> is the case where the afterglow integrated light amount is to be measured. Time t4 is set exactly between the time point and 12, and the time period -ri=ti~t4, King 2-(4 ~12.The quality of both times (+) 1'1 and 1-2 is equal to 1.], and the measured value is...(6).

(1,’3 ) t;L 11.1間11−1.2を5
等分し、11=ti〜t6、王2−L6〜【2、l−1
= 4.1−2となるように11、シ点I6を設定した
場合である。測定値は次式ひ表わされにう。
(1,'3) t;L 11.1 between 11-1.2 5
Divide into equal parts, 11=ti~t6, King 2-L6~[2, l-1
This is the case where point I6 is set so that = 4.1-2. The measured value is expressed by the following formula.

・・・(7) (C)は螢光i1jよび残光の積分光量を測定する揚台
の積分11)間借の設定例0ある。時点1.<1〜口間
に時点I3を設定し、王1−し3〜t4、王2−t6〜
t2、T I = 4 T 2とす”ル。81り定bf
j ハ・・・ l) となる。測定値としては絶対値を必ずしも必要としない
から(t)らろlυ第6図に力、り既知関数の測定条件
と同じにすることはいうまでもない)、第(8)式は次
のように変形してもよい。
...(7) (C) is an example of the setting example 11) of a platform for measuring the integral amount of fluorescence i1j and afterglow. Time point 1. <Set time I3 between 1 and mouth, King 1 - 3 - t4, King 2 - t6 -
t2, T I = 4 T 2 and "le. 81 Rise bf
j Ha... l) becomes. Since the absolute value is not necessarily required as the measured value (t), it goes without saying that the force shown in Figure 6 should be the same as the measurement conditions for the known function), and equation (8) is as follows. It may be modified as follows.

(D)は−11= t3〜t4、T’ 2− t5〜(
2,1−1= 21’ 2とした場合である。測定値は
次式で与えられる。
(D) is -11= t3~t4, T' 2- t5~(
This is the case when 2,1-1=21'2. The measured value is given by the following equation.

・・・ (10〉 または ・・・(11) 2 じ(α(1に近い値)イ8にしてもよい。... (10) or ...(11) 2 The same (α (value close to 1)) may be set to 8.

第83図は淘麿測定装置の4I゛4成を、第10図はそ
の動作をイれ゛どれ示し°(゛いる。光ファイバ(1)
の先端に所定の螢光体(2)が取イ」けられ、’tQ 
15L 7 t:+−ブが64成されている。この温度
プ1」−ブ(よ、その先端が温度測定り゛べき雰囲気中
にまたは物体に接触した状態ぐ間質される。
Figure 83 shows the 4I configuration of the Tamaro measurement device, and Figure 10 shows its operation in detail.Optical fiber (1)
A predetermined fluorescent substance (2) is removed at the tip of 'tQ.
15L 7 t: 64 +-b are formed. The tip of this temperature probe is placed in an atmosphere or in contact with an object whose temperature is to be measured.

CPU(10)によって制御されるタイミング発生回路
(4)からは3種類のタイミング・パルス信号))1、
P2、P3が出力♂れる。パルスP1は、発光器(3)
を駆動させるためのものであって、一定周期Taで出力
される(第5図参照)。この周期丁aは、測定範囲内の
すべての温度において、螢光体(2)から発光された残
光が完全に消失するのに充分な時間に設定されている。
Three types of timing pulse signals are generated from the timing generation circuit (4) controlled by the CPU (10))1.
P2 and P3 are output. Pulse P1 is a light emitter (3)
It is used to drive the circuit, and is output at a constant period Ta (see FIG. 5). This period (d) is set to a time sufficient for the afterglow emitted from the phosphor (2) to completely disappear at all temperatures within the measurement range.

パルスP1が入力すると発光器(3)から励起光が出力
され、光ファイバ(1)を通つ゛CfQ光体(2)に照
射される。この励起によって螢光体(2)から発光され
た螢光おにび残光はノア・イバ(1ンを伝搬し、ビーム
・スプリッタ(9)を介して取出され、受光器(5)に
よって受光される。受光器(5)の検知信号は前置増幅
器(6)ぐ増幅されたのち、リンプル・ホールド回路(
7)に入力ηる。受光器(5)は、螢光おJ、び残光の
みを検知し、励起光を検知しないように分光感麿14性
をも゛つしのが使用されるか、または受光器(5)の前
面に励起光を遮断し螢光および残光のみの通過を許Jフ
ィルタが設()られる。
When the pulse P1 is input, excitation light is output from the light emitter (3) and is irradiated onto the CfQ light body (2) passing through the optical fiber (1). The fluorescence and afterglow emitted from the phosphor (2) due to this excitation propagate through the Noah Iba (1), are extracted via the beam splitter (9), and are received by the photoreceiver (5). The detection signal from the photoreceiver (5) is amplified by the preamplifier (6) and then sent to the ripple hold circuit (
7). The photoreceiver (5) is one that has spectral sensitivity so that it detects only fluorescence and afterglow and does not detect excitation light, or the photoreceiver (5) A J filter is installed in front of the filter to block excitation light and allow only fluorescence and afterglow to pass through.

受光器(3)からの励起光は光源モニタ(15)の受光
素子〈図示略)によってL)受光される。
The excitation light from the light receiver (3) is received by a light receiving element (not shown) of the light source monitor (15).

励起光のモニタリングのタイミングはパルスP2にJ、
って定まる。パルス1〕2はパルスP1ど17J l!
;7に立上り、パルス1〕1の立上りよりし前に立1;
る。パルス1〕2の出力時点における励起光強度が検出
され、この検出信阿にしとづいて励起光強瓜が常に一定
になるよう発光器(3)が制御される( III a1
1回路は図示略ン。
The timing of monitoring the excitation light is pulse P2, J,
It is determined. Pulse 1] 2 is pulse P1 17J l!
; Rise at 7, pulse 1] Rise 1 before the rise of 1;
Ru. The excitation light intensity at the time of output of pulse 1]2 is detected, and the light emitter (3) is controlled based on this detection signal so that the excitation light intensity is always constant (III a1
1 circuit is not shown.

タイミング発生回路(4)から出力されるタイミング・
パルス(υ−ンプリング・パルス)P3は、第10図に
示″tJ’ 、J:うに、局間’!1)t3〜電2の間
り11個出力される。各パルス1〕3の出力された時点
をa(1,d I N ” 2 、”’、ai、・・・
、aj、・・・、anと7る。またパルスP3の周期を
△tどづる。
The timing output from the timing generation circuit (4)
Pulses (υ-sampling pulses) P3 are output in 11 pieces between tJ' and J: sea urchin, between stations! 1) t3 and 2 as shown in FIG. a(1, d I N "2,"', ai,...
, aj, ..., an. Also, the period of pulse P3 is multiplied by Δt.

この周期Δ[はアナログ・デジタル(AD)変換器<1
2)の△D変換動作04間より若干長く設定されている
This period Δ[ is an analog-to-digital (AD) converter < 1
It is set to be slightly longer than the ΔD conversion operation 04 in 2).

タイミング・パルスf〕3は、ザンプ″ル・小−ルド回
路(7)およびAD変換器(12)に送られる1、受光
器(5)により−C検知された光信号(Jリンプル・小
−ルド回路(7)でそのレベルがパルスP3ごとにホー
ルドされる。この回路(7)の出力は増幅回路(8)で
増幅されたのもAD変換器(12〉に送られ、時間△t
の1mにデジタルイ3@に変換されて、RAM (11
)にストアされる。
The timing pulse f]3 is sent to the Zump's small loop circuit (7) and the AD converter (12), and the optical signal (J's small loop) detected by the photoreceiver (5) is The level is held in the hold circuit (7) for each pulse P3.The output of this circuit (7) is amplified by the amplifier circuit (8) and sent to the AD converter (12>), and the output of this circuit (7) is amplified by the amplifier circuit (8).
It is converted to digital 3@ in 1m of RAM (11
).

1でΔM<11)には、第9図に示りにうに、AD変換
されたリンプリング・データを5d憶する」すl i’
 J3よびパルスP1の繰返し回数MをliL!憶りる
11月7が設けられている。この実施例においては、螢
光IA(2>の励起がM回#M返され、各時点の1ノン
プリング・データの梢紳平均にもとづいて測定1「1が
められる。す゛ン1リング・データ・土り11には、各
サンプリング時点aO〜anごどに、第1回目の励起か
ら第M回目の励起にお(〕るリーンプリング・データ、
くれらのM回の槓綽1ir+ によび平均値を記憶りる
場所が段りられている。またl’<OM(13)には、
第6図に示り螢光J3よび残光積分光mの温度特性がた
とえばアーブルの形で記憶されている。
1 and ΔM<11), 5 days of AD-converted limp ring data are stored as shown in FIG.
The number of repetitions M of J3 and pulse P1 is liL! November 7th is set aside to remember. In this example, the excitation of the fluorescent IA(2) is repeated M times and a measurement 1 is determined based on the average of the 1-ring data at each time point. The soil 11 contains lean-pulling data from the first excitation to the M-th excitation for each sampling time aO to an.
The place where the average value is memorized is marked by the number of M times. Also, for l'<OM(13),
As shown in FIG. 6, the temperature characteristics of the fluorescent light J3 and the integrated afterglow light m are stored, for example, in the form of a Havre.

第8図に承り温度測定装m#よc p tj (1o>
によって制御される。このCPU(10)の制御ll 
Jjよび温度演粋処理手順が第11図に示されている。
According to Fig. 8, the temperature measuring device m#yoc p tj (1o>
controlled by Control of this CPU (10)
The Jj and temperature extraction procedure is shown in FIG.

まずCP(J(、TO>がらパルス1〕1の出力指令が
タイミング発生回路(4)に出力され、がつCPU(1
0)内のタイマによって周期゛[aの計時がUn始され
る(ステップ(21) )。回路(4)からパルスI)
 1 、l) 2が出力され、がっパルスP2の立下り
の時点がらパル刈−)3が出力される。CPU(10)
では、時n −r aが経過づるまで待つ(ステップ(
22))。
First, the output command of CP(J(,TO>gara pulse 1)1 is output to the timing generation circuit (4),
The timer in 0) starts counting the period ``[a'' (step (21)). Pulse I) from circuit (4)
1, l) 2 are output, and from the time of the fall of the pulse P2, a pulse 3) is output. CPU (10)
Now, wait until time n − r a has elapsed (step (
22)).

この間に上)ホしたJ:うに、螢光体(2)が励起され
、その後螢光体(2)から発光された螢光J5よび残光
がパルスP3ごとにサンプリングされ、かつAD変換さ
れたのち、このデータが各1ノ一ンプリング時点ごとに
RAM(11)内のそのJ!i!返し回数に応じた記憶
場所にス1へアされる。
During this time, the phosphor (2) was excited, and then the fluorescence J5 and afterglow emitted from the phosphor (2) were sampled every pulse P3 and AD converted. Later, this data is stored in the RAM (11) for each one-no-one sampling time. i! The data is stored in the storage location corresponding to the number of times the data is returned.

1− aを1il−11,1iシー(いるタイマがタイ
ム・アップ4ると、IくΔ1νI(11)内の繰返し回
数Mが−1され(ステップ(23) ) 、この結果が
Oになったかどうかが検査される(ステップ(24))
、M=0でなけれ(3工、再びステップ(21)に戻り
、同様に螢光体(2)の励起と発光信号のリンプリング
が繰返される。
1-a is 1il-11, 1i sea (When the timer in 1i times up 4, the number of repetitions M in IkuΔ1νI(11) is decreased by 1 (step (23)), and this result becomes O? It is checked whether (step (24))
, M=0 (step 3), the process returns to step (21), and the excitation of the phosphor (2) and the limp ring of the emission signal are repeated in the same way.

M回の発光の測定が終了りると、RAM(11)内のM
回分のサンプリング・データが、各サンプリングI1.
y17.′iごとに梢樟され(ステップ(2!+) )
、そのM回の平均が算出される(ステップ(26))。
When the measurement of light emission M times is completed, M in RAM (11) is
The sampling data for each sampling I1.
y17. The treetops are removed every 'i' (step (2!+))
, the average of M times is calculated (step (26)).

そしく、第1の積分1.lI間帯゛11に属Jるリベて
のリンブリング時点の平均値が加算されて(?1力11
.)間イi) −l’ 1におG)る積分111′Jが
算出されるk(ステップ(27> )。同じにうに第2
の積分時間帯−12に113りる1ノ一ンシリング哨点
の平均1ifJが加算されc rt、”r間?I) 1
−2にd)+ノる積分値が算出される(ステップ(28
) )。たとえば、第7図に(C)で承されるやり力が
(ス(用された場合には、T″1=L3〜t4のサンプ
リング・データの平均値(す゛ンプリング0.1点ao
〜at)が加算され(II;’j間れる(ステップ(2
7) )。また−1”2=l(i〜E2のサンプリング
・データの平均値(リンブリング時点8j〜a11)が
加算されて時間帯1−2にd月ノる(28) )。その
後、第(8)式または第(9)式にもとづいて測定値I
が算出される(ステップ(29) )。最後に算出され
た測定1111が、螢光J3よび残光積分光最の温度関
数と比較され、渇瓜が算出される(ステップ(30))
So, the first integral 1. The average value at the time of rimbling of the limbs belonging to zone 11 is added (?1 power 11
.. ), the integral 111'J between i) -l' 1 is calculated (step (27>).
The average 1ifJ of 113 1-no-1 shilling sentries is added to the integration time period -12, and the average 1ifJ of 113 1-no.
-2 to d) + an integral value is calculated (step (28
) ). For example, if the spear force accepted by (C) in FIG.
~at) is added (II; 'j) (step (2
7) ). Also, −1”2=l (the average value of the sampling data from i to E2 (limbling time points 8j to a11) is added to time period 1-2 for month d (28)). Then, the (8th ) or the measured value I based on equation (9).
is calculated (step (29)). The last calculated measurement 1111 is compared with the temperature function of fluorescence J3 and afterglow integral light, and the thirst is calculated (step (30)).
.

螢光体として赤外−可視変換螢光体YF3:Yll、E
l’・を、発光器として赤外発光ダイオード(3i :
QaAs 、ピーク波長940 nm)を2でれぞれ用
いて第8図に示づにうな装置で、第7図(△)のやり方
で温度測定を行なった結果、単に積分値をめる方法に比
べて、この発明にj、るb rLにJ、るど誤差は約1
/3以下に減少し、測定のばらつきは±0.1〜0,2
%であった。
Infrared-visible conversion phosphor YF3: Yll, E as a phosphor
l'. is an infrared light emitting diode (3i:
As a result of measuring the temperature in the manner shown in Fig. 7 (△) using a device similar to that shown in Fig. 8 using QaAs (peak wavelength 940 nm) at 2, it was found that the method was simply to calculate the integral value. In comparison, the error in this invention is about 1.
/3 or less, and the measurement variation is ±0.1 to 0.2
%Met.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は積分形測定法を示づための説明図、第2図から
第4図はこの発明におりる積分時間?l)の決定方法を
示り−ための波形図、第5図は励起光と、螢光体から発
光した螢光おにび残光とを承り波形図、第6図は螢光お
よび残光積分光量の温度特性を示タグラフ、第7図は積
分時間帯の例を小り図、第8図はこの弁明の実施例を示
づブ1コック図、第9図はRAMおよびROMの内容を
承り図、第10図は、第8図に示1回路の動イ′1を示
づタイム・ヂト−1−1第11図はCPUの動作を示づ
フロー・チャー1へである。 (1)・・・光ファイバ、(2)・・・螢光体、(3)
・・・発光器、(4)・・・タイミング発生回路、(5
)・・・受光器、(7)・・・サンプル・ホールド回路
、(10)・・・CI)U、(11)・・・I(△M、
(13)・・・lでOM、(12)・・・A D変換器
。 以 上 外4名 第1図 第2図 第3図 第C図 温* (’C) 第7図 to tl t2
Figure 1 is an explanatory diagram to show the integral type measurement method, and Figures 2 to 4 are the integration times according to this invention. Figure 5 is a waveform diagram for the excitation light and the fluorescence and afterglow emitted from the phosphor, and Figure 6 is the waveform diagram for the fluorescence and afterglow. Fig. 7 is a small diagram showing an example of the integral time period, Fig. 8 is a block diagram showing an example of this defense, and Fig. 9 shows the contents of RAM and ROM. The following diagram, FIG. 10, shows the operation of the circuit 1 shown in FIG. (1)...Optical fiber, (2)...Fluorescent material, (3)
... Light emitter, (4) ... Timing generation circuit, (5
)...Receiver, (7)...Sample/hold circuit, (10)...CI)U, (11)...I(△M,
(13)...1 is OM, (12)...A/D converter. Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure C Temperature* ('C) Figure 7 to tl t2

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] (1) 被測定電気信号を2つの異なる積分時間帯で積
分し、一方の積分値と所定数倍された他方の積分値との
間で減算を行ない、この減算結果を測定饋とりる積分形
測定法。
(1) An integral type in which the electrical signal to be measured is integrated over two different integration time periods, one integral value is subtracted from the other integral value multiplied by a predetermined number, and the result of this subtraction is used for measurement. Measurement method.
(2) 被測定電気15号を所定時間間隔でサンプリン
グし、このサンプリング・データをメモリに記憶し−C
おき、記憶された瞥ナンプリング・データを加締りるこ
とにより積分値をめる、特Ω′[請求の範囲第(1)項
記載の積分形測定法。
(2) Sample the electricity to be measured No. 15 at predetermined time intervals and store this sampling data in memory.
[An integral type measurement method according to claim (1)], in which the integral value is calculated by correcting the stored visual numbering data.
(3) 被測定電気信号を積分回路を用いて積分4る、
特許請求の範囲?A(1)項記載の積分形測定法。
(3) Integrate the electrical signal to be measured using an integrating circuit,
Scope of patent claims? Integral type measurement method described in A(1).
(4) 被測定電気信号をその人きざに応じた周波数の
パルス信号にV’/F変換し、V/F変換後のパルスを
計数づることにより積分値をめる、特許請求の範囲第(
1)項記載の積分形測定法。
(4) Claim No. 3, in which the electrical signal to be measured is V'/F-converted into a pulse signal with a frequency corresponding to the human movement, and the integral value is calculated by counting the pulses after V/F-conversion.
Integral type measurement method described in section 1).
(5) 2つの積分時間帯を基準時点から定める、特許
請求の範囲第(1)項記載の積分形測定法。
(5) The integral type measurement method according to claim (1), in which two integral time periods are determined from a reference time.
(6) 被測定電気信号を基準レベルで弁別して2つの
積分時間帯を定める、特許請求の範囲第(1)項記載の
積分形測定法。
(6) The integral type measurement method according to claim (1), wherein two integration time periods are determined by discriminating the electrical signal to be measured based on a reference level.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62223644A (en) * 1986-02-21 1987-10-01 タカン・コーポレーション Method and device for measuring fluorescent decay time of phosphor
JPH02234050A (en) * 1989-03-08 1990-09-17 Hamamatsu Photonics Kk Light wave measuring device
JP2019511728A (en) * 2016-01-19 2019-04-25 サウジ アラビアン オイル カンパニー Judgment of oil deterioration using fluorescence rise time

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JP2019511728A (en) * 2016-01-19 2019-04-25 サウジ アラビアン オイル カンパニー Judgment of oil deterioration using fluorescence rise time

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