JPS59971U - 逆バイアス試験装置 - Google Patents
逆バイアス試験装置Info
- Publication number
- JPS59971U JPS59971U JP9508082U JP9508082U JPS59971U JP S59971 U JPS59971 U JP S59971U JP 9508082 U JP9508082 U JP 9508082U JP 9508082 U JP9508082 U JP 9508082U JP S59971 U JPS59971 U JP S59971U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reverse bias
- test equipment
- bias test
- leads
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
・ 第１図は通電試崎説明のための回路図、第２図は高
温逆バイアス試験説明のための回路図、第３図は本考案
の一実施例による高温逆バイアス試験装置を説明するた
めの回路図である。 １．１′・・・・・・発光ダイオード、２・・曲抵抗、
３・・・・・・電源、４・・・・・・被試験半導体装置
、４′・・・・・・ダイオニド、５・・・・・・ダイオ
ードのリード、６・曲佼゛イオードをはさむ試験装置の
端子。−
温逆バイアス試験説明のための回路図、第３図は本考案
の一実施例による高温逆バイアス試験装置を説明するた
めの回路図である。 １．１′・・・・・・発光ダイオード、２・・曲抵抗、
３・・・・・・電源、４・・・・・・被試験半導体装置
、４′・・・・・・ダイオニド、５・・・・・・ダイオ
ードのリード、６・曲佼゛イオードをはさむ試験装置の
端子。−
Claims (1)
- 半導体装置の高温逆バイアス試験装置において、個々の
半導体装置のリードとそれをはさむ試験装置の同一極性
の端子と抵抗、発光ダイオードおよび電源とが直列に接
続されていることを特徴とする逆バイアス試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9508082U JPS59971U (ja) | 1982-06-24 | 1982-06-24 | 逆バイアス試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9508082U JPS59971U (ja) | 1982-06-24 | 1982-06-24 | 逆バイアス試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59971U true JPS59971U (ja) | 1984-01-06 |
Family
ID=30227237
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9508082U Pending JPS59971U (ja) | 1982-06-24 | 1982-06-24 | 逆バイアス試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59971U (ja) |
-
1982
- 1982-06-24 JP JP9508082U patent/JPS59971U/ja active Pending
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