JPS5995478A - 電子部品の特性値測定方法 - Google Patents

電子部品の特性値測定方法

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Publication number
JPS5995478A
JPS5995478A JP57206804A JP20680482A JPS5995478A JP S5995478 A JPS5995478 A JP S5995478A JP 57206804 A JP57206804 A JP 57206804A JP 20680482 A JP20680482 A JP 20680482A JP S5995478 A JPS5995478 A JP S5995478A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
temp
microcomputer
measurement
measured
Prior art date
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Pending
Application number
JP57206804A
Other languages
English (en)
Inventor
Tatsuo Tezuka
手塚 立男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication of JPS5995478A publication Critical patent/JPS5995478A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、所定の温度における特性値を容易に得ること
のできる電子部品の特性値測定方法に関する。
湿度特性を有づるコンデンサや抵抗、サーミスを与える
。つまり周囲温度の変動によって測定値も変動するので
ある。特に常温付近に大きな温度勾配を有する電子部品
にあっては、この測定値の変動が大きく、正確な値を得
ることが困難であった。
一般的に電子部品の公称値は、ある定められた周囲温度
条件(主として25℃二以下基準温度という)のちとに
表わされる。従って特性値の測定は、その基準温度のも
とで行なうことが望ましいが、実際にはその温度設定が
困難である。
そこで従来では、次のような計算によって、基準温度に
おける値Cを求めている。次式はコンデンサの容量を求
める場合の例である。
C=αC1(T1−72 > この場合、T1は実際に測定したときの周囲温度、C1
はその測定した容量値、T2は基準温度であり、αは温
度係数であって、二pLによって求め丁、−丁2 られる。
ところが、このように基準温度での特性値を計算によっ
ていちいち求めることは、測定工程が著しく煩雑となり
、−人の作業者に100%完壁な計算を求めることも事
実上困難で、二重チェックが必要となったりするという
欠点があつIC0本発明はこのような欠点にかんがみて
なされたもので、実際の測定値を基準温度での値に換算
するための計算を、マイクロコンピュータによって行な
わせるようにしたことを主な要旨とする、電子部品の特
性値測定方法を提供せんとするものである。
第1図に本発明測定方法の工程例を示す。
図において1はマイクロコンピュータであって、あらか
じめ対象となる電子部品の基本的な温度特性値が記憶さ
れている。2は電子部品5の特性値(L、C,R等)を
実際に測定するための測定器、3は測定時の周囲温度を
検出する温度計であり、これらはいずれもデジタル表示
できるものを用いることが好ましい。
まず測定の対象どなる電子部品5を測定器2によって測
定して、値、たとえば容量値を求める。
同時に温度計3によって、測定時の周囲温度を求める。
次に、求められた測定値および周囲温度を、マイクロコ
ンピュータ 1に与える。マイクロコンピュータ 1に
は、あらかじめ電子部品5の温度持回温度と記憶されて
いる温度特性とで基準温度における値が計算され、アウ
トプットされる。このアウトプットされる値は、別の表
示器4によって表示するようにすればよい。
なお、本発明では、測定器2や温度剖 3、表示器4を
、マイクロコンピュータ1に直結しておけば、測定とほ
ぼ同時に必要とする値を求めることができる。また各計
器2.3は、作業者が確認できるような表示機能をもっ
たものでもよい。
以上のように本発明測定方法によれば、測定時の温度条
件に何ら拘束されず、基準値の特性値を容易かつ1lj
tRに求めることができ、作業性を大幅に向上させるこ
とができる。またマイクロコンピュータによって換亦を
行なわぜるものであるため、計算が正確で、二重チェッ
クの必要もない等、実用性の高い発明である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明測定方法の工程例を概略的に示した図で
ある。 1−マイクロコンピュータ   2−測定器3一温度計
    4−表示器 5−電子部品 特  許  出  願  人 株式会社村田製作所 第7図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 電子部品の測定値と、測定時の温度とを、電子部品の温
    度特性をあらかじめ記憶させたマイクロコンピュータに
    与え、所定の基準温度における測定値を、マイクロコン
    ピュータによって換算させて求めるようにし1=ことを
    特徴とする電子部品の特性値測定方法。
JP57206804A 1982-11-24 1982-11-24 電子部品の特性値測定方法 Pending JPS5995478A (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57157113A (en) * 1981-03-25 1982-09-28 Teraoka Seiko Co Ltd Temperature compensating device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57157113A (en) * 1981-03-25 1982-09-28 Teraoka Seiko Co Ltd Temperature compensating device

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