JPS598900B2 - 磁気コアメモリ - Google Patents
磁気コアメモリInfo
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- JPS598900B2 JPS598900B2 JP50020818A JP2081875A JPS598900B2 JP S598900 B2 JPS598900 B2 JP S598900B2 JP 50020818 A JP50020818 A JP 50020818A JP 2081875 A JP2081875 A JP 2081875A JP S598900 B2 JPS598900 B2 JP S598900B2
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- cores
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/02—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
- G11C11/06—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using single-aperture storage elements, e.g. ring core; using multi-aperture plates in which each individual aperture forms a storage element
- G11C11/06007—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using single-aperture storage elements, e.g. ring core; using multi-aperture plates in which each individual aperture forms a storage element using a single aperture or single magnetic closed circuit
- G11C11/06014—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using single-aperture storage elements, e.g. ring core; using multi-aperture plates in which each individual aperture forms a storage element using a single aperture or single magnetic closed circuit using one such element per bit
- G11C11/06021—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using single-aperture storage elements, e.g. ring core; using multi-aperture plates in which each individual aperture forms a storage element using a single aperture or single magnetic closed circuit using one such element per bit with destructive read-out
- G11C11/06028—Matrixes
- G11C11/06035—Bit core selection for writing or reading, by at least two coincident partial currents, e.g. "bit"- organised, 2L/2D, or 3D
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は交互に大電流および小さな差切換信号を流す平
衡導体対により誘導結合されたコアを有するコアメモリ
に関し、更に詳細には、1つのビット位置のコア群の中
間の導体対に接続されて差電圧を制限しかつ感知禁止回
復時間を改善するように選択的に操作可能の不連続部を
与える回路素子を有するコアメモリに関する。
衡導体対により誘導結合されたコアを有するコアメモリ
に関し、更に詳細には、1つのビット位置のコア群の中
間の導体対に接続されて差電圧を制限しかつ感知禁止回
復時間を改善するように選択的に操作可能の不連続部を
与える回路素子を有するコアメモリに関する。
ここで従来技術の経緯を説明すれば、下記のようなもの
である。
である。
従来の3次元型3線式コアメモリは磁気コアからなる複
数の長方形アレイを含み、各アレイが1つのビット位置
を表わすようになつている。複数の直交するXおよびY
駆動線がこれらのアレイのコアに誘導結合され、各X線
駆動導体は各アレイからの1つの対応する行に誘導結合
し、各Y駆動導体は各アレイからの1つの対応する列に
誘導結合する。部分選択電流が1つのY駆動線および1
つのX駆動線を通して流されたとき各ビット位置の1つ
のコアにおいて2つの部分選択電流の一致が存在し、そ
の、駆動力はX駆動電流およびY駆動電流の一致点にお
ける選択されたコアだけを切換えるのに充分な値の全選
択電流となる。1対の感知禁止導体が各ビット位置に対
して設けられそれのコアと平衡状態で誘導結合し、各感
知禁止導体はY駆動線導体に平行なアレイを通過してそ
のビット位置のコアの半分を誘導結合する。
数の長方形アレイを含み、各アレイが1つのビット位置
を表わすようになつている。複数の直交するXおよびY
駆動線がこれらのアレイのコアに誘導結合され、各X線
駆動導体は各アレイからの1つの対応する行に誘導結合
し、各Y駆動導体は各アレイからの1つの対応する列に
誘導結合する。部分選択電流が1つのY駆動線および1
つのX駆動線を通して流されたとき各ビット位置の1つ
のコアにおいて2つの部分選択電流の一致が存在し、そ
の、駆動力はX駆動電流およびY駆動電流の一致点にお
ける選択されたコアだけを切換えるのに充分な値の全選
択電流となる。1対の感知禁止導体が各ビット位置に対
して設けられそれのコアと平衡状態で誘導結合し、各感
知禁止導体はY駆動線導体に平行なアレイを通過してそ
のビット位置のコアの半分を誘導結合する。
所与のビット位置にある選ばれたコアに「1」を書込み
たくないときは、部分選択禁止電流がY駆動電流に逆ら
うようにその所与のビット位置にある2本の感知禁止導
体を通し並列に流されて、その選ばれたコアにおける電
流の代数和を切換えに必要なものよりも小さくする。禁
止電流は代表的には数百ミリアンペアの程度であり、感
知禁止線対により相当大きな量の電気エネルギーが貯え
られるようにする。
たくないときは、部分選択禁止電流がY駆動電流に逆ら
うようにその所与のビット位置にある2本の感知禁止導
体を通し並列に流されて、その選ばれたコアにおける電
流の代数和を切換えに必要なものよりも小さくする。禁
止電流は代表的には数百ミリアンペアの程度であり、感
知禁止線対により相当大きな量の電気エネルギーが貯え
られるようにする。
禁止電流の終了後このエネルギーが消散するのに必要な
時間はコアの200−400ナノ秒(lo秒)の切換時
間よりもはるかに大きく、感知禁止線が少くとも800
0のコアと誘導結合するような応用分野では特にそうで
ある。以後の読出サイクル中に、書込駆動電流と極性が
逆に選択されたXおよびY読出駆動電流は各ビツト位置
にある選択された1つのコアを「0」へ戻すように逆方
向すなわち読出方向へと切換えるような態様で駆動する
。所与のコアが一致読出電流により駆動される前に既に
「0」を記憶しているときは、そのコア内での磁束の切
換えは非常に小さく、誘導結合された感知禁止線には単
に小さなノイズ電圧が誘起されるだけである。しかしな
がら、或る所与の1つの選択されたコアが「1」の磁化
状態にあるときは、相当大きな量の磁束が[0」状態に
切換えられ、13−40ミリボルトの程度の代表的なピ
ーク電圧を有する出力切換パルス(U1)が感知禁止線
対上に差として発生される。このU1差信号は、禁止電
流の終了に続いて消散されねばならない保有エネルギー
の結果として感知禁止線に現われる電圧と比較して比較
的小さい。回復時間を最小ならしめるため、各対の感知
禁止線は一端で接続され合わされ、並列に駆動されて実
質上等しい禁止電流を与える。選択された対称性のため
、1つの対の線間の差電圧成分は禁止電流の終了後にこ
れら2本の線間に留まる信号の共通モードの電圧成分よ
りも小さくかつそれよりも迅速に消散する。このように
して切換信号は共通モードの電気信号の全消散を待つこ
となしに一対の感知禁止線の接続されていない端部間で
の差として感知することができる。読出しは、代表的に
は、上記差信号がU1切換信号に干渉しない約5ミリボ
ルトの電圧レベルまで消散するまで遅延される。感知禁
止線対は、実質上同じ電流で並列に駆動され、平衡状態
でアレイを通して貫通されるが、長さおよび直径が実質
上等しいので、1対の感知禁止導体間に現われる差電圧
は極めて小さいということになる。
時間はコアの200−400ナノ秒(lo秒)の切換時
間よりもはるかに大きく、感知禁止線が少くとも800
0のコアと誘導結合するような応用分野では特にそうで
ある。以後の読出サイクル中に、書込駆動電流と極性が
逆に選択されたXおよびY読出駆動電流は各ビツト位置
にある選択された1つのコアを「0」へ戻すように逆方
向すなわち読出方向へと切換えるような態様で駆動する
。所与のコアが一致読出電流により駆動される前に既に
「0」を記憶しているときは、そのコア内での磁束の切
換えは非常に小さく、誘導結合された感知禁止線には単
に小さなノイズ電圧が誘起されるだけである。しかしな
がら、或る所与の1つの選択されたコアが「1」の磁化
状態にあるときは、相当大きな量の磁束が[0」状態に
切換えられ、13−40ミリボルトの程度の代表的なピ
ーク電圧を有する出力切換パルス(U1)が感知禁止線
対上に差として発生される。このU1差信号は、禁止電
流の終了に続いて消散されねばならない保有エネルギー
の結果として感知禁止線に現われる電圧と比較して比較
的小さい。回復時間を最小ならしめるため、各対の感知
禁止線は一端で接続され合わされ、並列に駆動されて実
質上等しい禁止電流を与える。選択された対称性のため
、1つの対の線間の差電圧成分は禁止電流の終了後にこ
れら2本の線間に留まる信号の共通モードの電圧成分よ
りも小さくかつそれよりも迅速に消散する。このように
して切換信号は共通モードの電気信号の全消散を待つこ
となしに一対の感知禁止線の接続されていない端部間で
の差として感知することができる。読出しは、代表的に
は、上記差信号がU1切換信号に干渉しない約5ミリボ
ルトの電圧レベルまで消散するまで遅延される。感知禁
止線対は、実質上同じ電流で並列に駆動され、平衡状態
でアレイを通して貫通されるが、長さおよび直径が実質
上等しいので、1対の感知禁止導体間に現われる差電圧
は極めて小さいということになる。
しかしながら、電線の物理的特性における普通の許容誤
差の偏差、メモリのコアへの電流の通し方の普通の許容
誤差偏差、駆動電流の大きさの小さな偏差、および誘導
結合されたコアの異なる磁気記憶状態により生ぜしめら
れる偏差のため、U1切換信号に比してかなり大きい差
電圧が禁止駆動電流の結果として、感知禁止線対に生じ
てしまう。コアメモリの動作に伴う高周波数域におぃて
は感知禁止線は、それに誘導される差電圧信号の波長に
比して比較的長く、それ故伝送線路として見なされる。
その結果として、電圧パルスが感知端子から共通端子ま
で進みそこからもとの位置まで戻るのに必要な伝搬時間
を等しくするような傾向をもつ周期をもつて、周期的電
圧パルスが感知端子に現われる。これらの反射は感知禁
止線端末部に伝送線抵抗終端を与えることによつて幾分
低減し得るが、不完全なインピーダンス整合のためそれ
を除去してしまうことはできないO典型向8K,メモリ
では、この反射差電圧パルスを5ミリボルトピーク対ピ
ークのレベルに低減するのに少なくとも340ナノ秒を
必要とする。
差の偏差、メモリのコアへの電流の通し方の普通の許容
誤差偏差、駆動電流の大きさの小さな偏差、および誘導
結合されたコアの異なる磁気記憶状態により生ぜしめら
れる偏差のため、U1切換信号に比してかなり大きい差
電圧が禁止駆動電流の結果として、感知禁止線対に生じ
てしまう。コアメモリの動作に伴う高周波数域におぃて
は感知禁止線は、それに誘導される差電圧信号の波長に
比して比較的長く、それ故伝送線路として見なされる。
その結果として、電圧パルスが感知端子から共通端子ま
で進みそこからもとの位置まで戻るのに必要な伝搬時間
を等しくするような傾向をもつ周期をもつて、周期的電
圧パルスが感知端子に現われる。これらの反射は感知禁
止線端末部に伝送線抵抗終端を与えることによつて幾分
低減し得るが、不完全なインピーダンス整合のためそれ
を除去してしまうことはできないO典型向8K,メモリ
では、この反射差電圧パルスを5ミリボルトピーク対ピ
ークのレベルに低減するのに少なくとも340ナノ秒を
必要とする。
この時間間隔中メモリは遊び状態になければならず、さ
もないと利用可能なメモリ動作時間が失われてしまう。
この遅延はコア切換時間に対してよりもコアメモリ動作
速度に対して大きな制限を課する傾向がある。ワード数
が増すにつれ、この回復時間はワード数の比例的増加よ
りも迅やかに増す。結果として、各モジユールあたりの
ワード数の多いメモリを製造することから生ずる製造上
の経済性はこの感知禁止回復時間により指令される比較
的に遅い記憶動作により相殺されてしまうだけではなく
て、む1しろ不利益の方を大きくし・てしまう傾向があ
る。ここで本発明の要約を述べれば下記の通りである。
もないと利用可能なメモリ動作時間が失われてしまう。
この遅延はコア切換時間に対してよりもコアメモリ動作
速度に対して大きな制限を課する傾向がある。ワード数
が増すにつれ、この回復時間はワード数の比例的増加よ
りも迅やかに増す。結果として、各モジユールあたりの
ワード数の多いメモリを製造することから生ずる製造上
の経済性はこの感知禁止回復時間により指令される比較
的に遅い記憶動作により相殺されてしまうだけではなく
て、む1しろ不利益の方を大きくし・てしまう傾向があ
る。ここで本発明の要約を述べれば下記の通りである。
本発明によるコアメモリスタツクは複数のトロイダル磁
気記憶コアを含む少くとも1つのアレイと、各アレイの
選択された1つのコアを切換えるように誘導結合された
1駆動回路と、所与のアレイのコアの半分に選択された
コアにおける書込駆動信号と逆らうような平衡並列禁止
電流を誘導結合するための各アレイに対する1対の平衡
感知禁止線と、回路接続位置の各側において感知禁止線
に誘導的に結合された磁気コアを有するコアアレイの中
間の感知禁止線に物理的に接続された電子回路とを含む
。
気記憶コアを含む少くとも1つのアレイと、各アレイの
選択された1つのコアを切換えるように誘導結合された
1駆動回路と、所与のアレイのコアの半分に選択された
コアにおける書込駆動信号と逆らうような平衡並列禁止
電流を誘導結合するための各アレイに対する1対の平衡
感知禁止線と、回路接続位置の各側において感知禁止線
に誘導的に結合された磁気コアを有するコアアレイの中
間の感知禁止線に物理的に接続された電子回路とを含む
。
この回路はアレイ内の2つの平衡感知禁止線を相互接続
する1対の逆平行低容量シヨツトキーダイ,オートを含
む。シヨツトキーダイオードの比較的低い順方向バイア
ス電圧はコアが読出されるとき出力切換信号の検出に必
要とされるものよりも大きなしきい値を与えるので、こ
の回路は読出し動作中は無視し得る効果しか有さない。
しかしながら、書込み動作中この感知禁止線の対を通し
て並列の禁止電流が流されるので、これらのダイオード
は差電圧を接続位置のダイオードの順方向バイアス電圧
にまで制限する必要に応じ導通する。並列の禁止電流が
終了すると、ダイオードは順方向バイアス電圧を越す差
電圧に対する短絡回路の形で伝送線路不連続部として作
用し、禁止電流の終了後に感知禁止線に留まる差電圧パ
ルスを、高調波が生ずる通常の電圧パルスの高調波にし
ようとする傾向を有する。これらの高調波は誘導結合さ
れた磁気コアによつてより迅速に吸収され、これらの差
電圧パルスが読出し動作により発生される出力切換信号
と比較して小さい値まで消散するのに必要な回復時間は
相当に短縮される。これらの差電圧パルスに対する周波
数および回復時間は、不連続部が不連続部形成のためコ
アアレイの中間に意識的に配置された感知禁止線終端部
または回路により生ぜしめられるものであろうとなかろ
うと、それに現われる不連続部間の感知禁止線の長さに
よつて左右される傾向を有する。従つて、単一のコアア
レイの中間に複数の回路素子を配置すれば第1に禁止電
流により発生される差電圧を制限し、第2に禁止電流終
了後に残る差電圧成分のリンギング周波数を増す上で有
利となる。平衡感知禁止線対をそれに沿う実質上等しい
距離において相互接続する逆平列シヨツトキーダイオー
ドは感知禁止回復時間を改善するための特に有利な回路
素子を与える。シヨツトキーダイオードは小さな振幅の
出力切換電圧を干渉することなしに感知禁止線の差信号
を比較的小さい振幅に制限する比較的低い順方向バイア
スおよび小さな容量を有する。シヨツトキーダイオード
は200ミリボルトの範囲の順方向バイアス電圧をもつ
ものとして現在入手でき、将来においては更に低い順方
向バイアス電圧を有するシヨツトキーダイオードが得ら
れると考えられる。順方向バイアス電圧はコアが読出さ
れるとき発生される出力切換電流の誤りなしでの検出を
可能ならしめる最小振幅のしきい値を与えることが望ま
しい。シヨツトキーダイオードは1ピコフアラツドの程
度の非常に小さい接合容量および100ピコ秒の程度の
非常に短い少数キヤリア寿命時間を有するという別の利
点を有する。更に、接合容量はバイポーラダイオードの
場合のように順方向バイアス電圧と共に増加しない。結
果として、シヨツトキーダイオードは感知禁止線に現わ
れる高周波差パルスに対し非ノ線形伝送線路不連続部と
してみなされる。
する1対の逆平行低容量シヨツトキーダイ,オートを含
む。シヨツトキーダイオードの比較的低い順方向バイア
ス電圧はコアが読出されるとき出力切換信号の検出に必
要とされるものよりも大きなしきい値を与えるので、こ
の回路は読出し動作中は無視し得る効果しか有さない。
しかしながら、書込み動作中この感知禁止線の対を通し
て並列の禁止電流が流されるので、これらのダイオード
は差電圧を接続位置のダイオードの順方向バイアス電圧
にまで制限する必要に応じ導通する。並列の禁止電流が
終了すると、ダイオードは順方向バイアス電圧を越す差
電圧に対する短絡回路の形で伝送線路不連続部として作
用し、禁止電流の終了後に感知禁止線に留まる差電圧パ
ルスを、高調波が生ずる通常の電圧パルスの高調波にし
ようとする傾向を有する。これらの高調波は誘導結合さ
れた磁気コアによつてより迅速に吸収され、これらの差
電圧パルスが読出し動作により発生される出力切換信号
と比較して小さい値まで消散するのに必要な回復時間は
相当に短縮される。これらの差電圧パルスに対する周波
数および回復時間は、不連続部が不連続部形成のためコ
アアレイの中間に意識的に配置された感知禁止線終端部
または回路により生ぜしめられるものであろうとなかろ
うと、それに現われる不連続部間の感知禁止線の長さに
よつて左右される傾向を有する。従つて、単一のコアア
レイの中間に複数の回路素子を配置すれば第1に禁止電
流により発生される差電圧を制限し、第2に禁止電流終
了後に残る差電圧成分のリンギング周波数を増す上で有
利となる。平衡感知禁止線対をそれに沿う実質上等しい
距離において相互接続する逆平列シヨツトキーダイオー
ドは感知禁止回復時間を改善するための特に有利な回路
素子を与える。シヨツトキーダイオードは小さな振幅の
出力切換電圧を干渉することなしに感知禁止線の差信号
を比較的小さい振幅に制限する比較的低い順方向バイア
スおよび小さな容量を有する。シヨツトキーダイオード
は200ミリボルトの範囲の順方向バイアス電圧をもつ
ものとして現在入手でき、将来においては更に低い順方
向バイアス電圧を有するシヨツトキーダイオードが得ら
れると考えられる。順方向バイアス電圧はコアが読出さ
れるとき発生される出力切換電流の誤りなしでの検出を
可能ならしめる最小振幅のしきい値を与えることが望ま
しい。シヨツトキーダイオードは1ピコフアラツドの程
度の非常に小さい接合容量および100ピコ秒の程度の
非常に短い少数キヤリア寿命時間を有するという別の利
点を有する。更に、接合容量はバイポーラダイオードの
場合のように順方向バイアス電圧と共に増加しない。結
果として、シヨツトキーダイオードは感知禁止線に現わ
れる高周波差パルスに対し非ノ線形伝送線路不連続部と
してみなされる。
これは、格段に高い順方向バイアス電圧および格段に大
きな接合容量を有しそしてこれらが順方向バイアス電圧
と共に増しかつダイオードを高周波差電圧信号に対して
伝送線路不連続部としてではなくて純粋の容量に近いも
のとして作用されるようになつたバイボーラダイオード
と対比される。以下図面を参照しながら本発明を説明す
る。
きな接合容量を有しそしてこれらが順方向バイアス電圧
と共に増しかつダイオードを高周波差電圧信号に対して
伝送線路不連続部としてではなくて純粋の容量に近いも
のとして作用されるようになつたバイボーラダイオード
と対比される。以下図面を参照しながら本発明を説明す
る。
第1、2および3図に示されるように、本発明による高
密度3線式3次元型コアメモリ10は前面側14および
後面側16を有するプリント回路板12とこのプリント
回路板12の前面側14に取付けられたコア20の形の
磁気記憶素子からなる3線式平板状アレイ18および周
辺回路22を有する。該周辺回路22はプリント回路板
12の前面側14においてスタツク18を取囲んで図示
されているが、一般的には従来の方法で裏面側16また
は別個のプリント回路板上に取付けることもできる。周
辺回路22は駆動装置、デコーダ、感知増幅器および3
線式メモリを正しく動作させるのに必要な相互接続論理
回路網などの従来の回路を含む。周辺回路の回路素子は
回路板12上のプリント導体により互に、およびX駆動
線XOおよびX63により代表的に示されているように
駆動装置および感知禁止回路に相互接続されると共に、
プリント導体26により代表的に示されているように他
の回路への外部接続を与える縁部コネクタ24(その一
部のみ図示)に相互接続されている。周辺回路22およ
び相互接続用プリント導体からなるこの特定の構成の詳
細は性質上よく知られたものであり、図面を明瞭ならし
めるため特に示されてぃなぃ。当該メモリは約16K(
16×1000)ワード(各ワードあたり20ビツト)
を含む。
密度3線式3次元型コアメモリ10は前面側14および
後面側16を有するプリント回路板12とこのプリント
回路板12の前面側14に取付けられたコア20の形の
磁気記憶素子からなる3線式平板状アレイ18および周
辺回路22を有する。該周辺回路22はプリント回路板
12の前面側14においてスタツク18を取囲んで図示
されているが、一般的には従来の方法で裏面側16また
は別個のプリント回路板上に取付けることもできる。周
辺回路22は駆動装置、デコーダ、感知増幅器および3
線式メモリを正しく動作させるのに必要な相互接続論理
回路網などの従来の回路を含む。周辺回路の回路素子は
回路板12上のプリント導体により互に、およびX駆動
線XOおよびX63により代表的に示されているように
駆動装置および感知禁止回路に相互接続されると共に、
プリント導体26により代表的に示されているように他
の回路への外部接続を与える縁部コネクタ24(その一
部のみ図示)に相互接続されている。周辺回路22およ
び相互接続用プリント導体からなるこの特定の構成の詳
細は性質上よく知られたものであり、図面を明瞭ならし
めるため特に示されてぃなぃ。当該メモリは約16K(
16×1000)ワード(各ワードあたり20ビツト)
を含む。
各ビツト位置は128行および128列での磁気記憶コ
アのアレイを含む。アレイ30は5行4列を有するマト
リクスの形に配列されており、0ないし19と番号をつ
けられている。アレイ30の各々は性質が実質上同じで
あり下側右手隅のビツト位置番号2により示されたよう
に高密度二重矢はず模様に配列された128行128列
の磁気コア20を含む。この二重矢はず模様においてコ
ア20は垂直のY軸方向すなわち列方向に沿つて極めて
小距離だけ離れており、2つの隣り合う列のコアは同様
に列の対を形成するように向けられており、隣接する列
の対のコアは逆方向に向けられている。コアの向きの逆
転は各列に沿つて一回生じ、行0−63のコアは第1の
方向に向けられ、対応する列のコアは行64−127で
は逆方向に向けられている。Y駆動導体はスタツク18
の20のビツト位置の各々からのコアの対応する列を誘
導結合するように通されている。
アのアレイを含む。アレイ30は5行4列を有するマト
リクスの形に配列されており、0ないし19と番号をつ
けられている。アレイ30の各々は性質が実質上同じで
あり下側右手隅のビツト位置番号2により示されたよう
に高密度二重矢はず模様に配列された128行128列
の磁気コア20を含む。この二重矢はず模様においてコ
ア20は垂直のY軸方向すなわち列方向に沿つて極めて
小距離だけ離れており、2つの隣り合う列のコアは同様
に列の対を形成するように向けられており、隣接する列
の対のコアは逆方向に向けられている。コアの向きの逆
転は各列に沿つて一回生じ、行0−63のコアは第1の
方向に向けられ、対応する列のコアは行64−127で
は逆方向に向けられている。Y駆動導体はスタツク18
の20のビツト位置の各々からのコアの対応する列を誘
導結合するように通されている。
例えば、YO列導体はスタツク18の下側右手隅のビツ
ト位置2にある終端で始まり、垂直上方に延びてビツト
位置2,11,1,10,0の各々からの1つの127
コア列を誘導結合し、1800の回転を完了して垂直下
方に延びながら連続したビツト位置12,3,13,4
,14の各々からの同様の列を結合し、第2の1804
の回転を行つた後に上方に延びて連続したビツト位置5
,15,6,16,7の各々のコアの列を誘導結合し、
次いで最後の180々の回転を行つて下方に延び連続し
たビツト位置19,9,18,8および17の各々のコ
アの列を結合した後にビツト位置17に隣接する到達端
部YOで終了する。他のY駆動導体はビツト位置のマト
リツクスを通過して、導体YOに隣接する導体Y1で始
まり連続する列を進んでY導体Yl27に達する各ビツ
ト位置のコアの1列を誘導結合する。隣接する列の対に
対するコアの向きが周期的に逆転されるので、Y駆動導
体の隣接する行の対に対する終端の極性も逆転される。
例えば、Y導体YOYl,Y4Y5,Y8Y9,・・・
・・・に対する駆動端部はビツト位置2に隣接して位置
し、それらの反対側の到達端部はビツト位置17に隣接
して位置し、これに対し、Y導体Y2Y3,Y6Y7,
YlOYll,・・・・・・の駆動端はビツト位置17
に隣接して位置する駆動端端子およびビツト位置2に隣
接して位置する到達端端子を有する。X駆動導体XO−
Xl27の各々は20のビツト位置の各々からの対応す
る行を誘導結合する。
ト位置2にある終端で始まり、垂直上方に延びてビツト
位置2,11,1,10,0の各々からの1つの127
コア列を誘導結合し、1800の回転を完了して垂直下
方に延びながら連続したビツト位置12,3,13,4
,14の各々からの同様の列を結合し、第2の1804
の回転を行つた後に上方に延びて連続したビツト位置5
,15,6,16,7の各々のコアの列を誘導結合し、
次いで最後の180々の回転を行つて下方に延び連続し
たビツト位置19,9,18,8および17の各々のコ
アの列を結合した後にビツト位置17に隣接する到達端
部YOで終了する。他のY駆動導体はビツト位置のマト
リツクスを通過して、導体YOに隣接する導体Y1で始
まり連続する列を進んでY導体Yl27に達する各ビツ
ト位置のコアの1列を誘導結合する。隣接する列の対に
対するコアの向きが周期的に逆転されるので、Y駆動導
体の隣接する行の対に対する終端の極性も逆転される。
例えば、Y導体YOYl,Y4Y5,Y8Y9,・・・
・・・に対する駆動端部はビツト位置2に隣接して位置
し、それらの反対側の到達端部はビツト位置17に隣接
して位置し、これに対し、Y導体Y2Y3,Y6Y7,
YlOYll,・・・・・・の駆動端はビツト位置17
に隣接して位置する駆動端端子およびビツト位置2に隣
接して位置する到達端端子を有する。X駆動導体XO−
Xl27の各々は20のビツト位置の各々からの対応す
る行を誘導結合する。
行導体XO−X63はスタツク18の上側右手隅のピツ
ト位置「O」に隣接する駆動端端子を有しそして連続し
たビツト位置を通過してビツト位置17に隣接する到達
端部でスタツク18から出る。行位置64−127のコ
アは行位置0−63のコアと反対方向を向き反対方向に
駆動され、ここでX線導体X64−Xl27の駆動端端
子はビツト位置19で始まりそしてスタツク18を次々
に通過し、ビツト位置2に隣接する到達端部から出る。
各ビツト位置から単一のコアが1つのY駆動線および1
つのX駆動線を通し部分的選択電流を流すことによつて
切換のために選択される。選択されたXおよびY駆動線
の交点に存在する各ビツト位置の単一のコアはそのコア
を駆動された方向に切換えるに充分な起磁力を誘起する
一致電流を受け、これに対し,、この選択されたコアの
行および列の他の全てのコアは代表的にはこの全選択電
流の半分であつてコアを切換えるのには不充分である部
分選択電流だけを受ける。書込みは到達端部から駆動端
部までXおよびY駆動電流を与えることによつて行われ
る。結線およびコアの向きのパターンは任意の書込極性
Y駆動電流を、各ビツト位置においてそれに共通のコア
における任意の選択された書込極性X駆動電流と一致さ
せるように注意深く選択される。これらの書込駆動電流
は選択された共通のコアを「1」の磁化状態に切換えよ
うとする。同様に、反対極性の読出駆動電流は各ビツト
位置の選択された共通のコアにおいて一致し、そして選
択されたコアを反対の「読出し」または[0」の磁化状
態に駆動しようとする。読出動作の過程中選択されたコ
アの全ては「O」の磁化状態に向けて駆動され、前に「
1」の状態にあつたコアが「O]の状態に切換つたとき
にはいつでも13−14ミリボルトの程度のピーク振幅
を有する出力切換パルスU1が発生される。しかしなが
ら、所与のビツト位置の選択されたコアの書込動作中に
おける「1」状態への切換えは記憶されつつあるデータ
の情報内容に従つて行われたり行われなかつたりする。
3線式3次元型メモリでは、各ビツト位置に対し別個に
制御可能の感知禁止線がそのコアに誘導結合されていて
Y駆動電流と実質上等しく極性がそれと逆の禁止電流を
通過させる。
ト位置「O」に隣接する駆動端端子を有しそして連続し
たビツト位置を通過してビツト位置17に隣接する到達
端部でスタツク18から出る。行位置64−127のコ
アは行位置0−63のコアと反対方向を向き反対方向に
駆動され、ここでX線導体X64−Xl27の駆動端端
子はビツト位置19で始まりそしてスタツク18を次々
に通過し、ビツト位置2に隣接する到達端部から出る。
各ビツト位置から単一のコアが1つのY駆動線および1
つのX駆動線を通し部分的選択電流を流すことによつて
切換のために選択される。選択されたXおよびY駆動線
の交点に存在する各ビツト位置の単一のコアはそのコア
を駆動された方向に切換えるに充分な起磁力を誘起する
一致電流を受け、これに対し,、この選択されたコアの
行および列の他の全てのコアは代表的にはこの全選択電
流の半分であつてコアを切換えるのには不充分である部
分選択電流だけを受ける。書込みは到達端部から駆動端
部までXおよびY駆動電流を与えることによつて行われ
る。結線およびコアの向きのパターンは任意の書込極性
Y駆動電流を、各ビツト位置においてそれに共通のコア
における任意の選択された書込極性X駆動電流と一致さ
せるように注意深く選択される。これらの書込駆動電流
は選択された共通のコアを「1」の磁化状態に切換えよ
うとする。同様に、反対極性の読出駆動電流は各ビツト
位置の選択された共通のコアにおいて一致し、そして選
択されたコアを反対の「読出し」または[0」の磁化状
態に駆動しようとする。読出動作の過程中選択されたコ
アの全ては「O」の磁化状態に向けて駆動され、前に「
1」の状態にあつたコアが「O]の状態に切換つたとき
にはいつでも13−14ミリボルトの程度のピーク振幅
を有する出力切換パルスU1が発生される。しかしなが
ら、所与のビツト位置の選択されたコアの書込動作中に
おける「1」状態への切換えは記憶されつつあるデータ
の情報内容に従つて行われたり行われなかつたりする。
3線式3次元型メモリでは、各ビツト位置に対し別個に
制御可能の感知禁止線がそのコアに誘導結合されていて
Y駆動電流と実質上等しく極性がそれと逆の禁止電流を
通過させる。
従つて、禁止電流を受ける所与のビツト位置の選択され
たコアにおける電流の代数和は部分選択X駆動電流に等
しくなり、コアを切換えるのに不充分である。従つてこ
のようなコアは書込動作の終りに「O」の状態に留まる
。このようにして誘導結合されたXおよびY駆動線およ
び感知禁止導体はビツト位置アレイのコアの選択的切換
えおよび選択的に切換えられたコアにより発生される出
力電圧信号の感知を可能ならしめる。XおよびY駆動線
は3次元型「16KX20」構成にあるスタツク18に
接続されるが、各ビツト位置は半分に分割され、感知禁
止線は「8KX40」の形態として接続される。列線Y
OないしY63を受ける各ビツト位置のコアは一組の感
知禁止導体を受け第1図において「部分A」と記号をつ
けられており、Y駆動線Y64ないしYl27により誘
導結合されているコアは第2の対の感知禁止線を受け第
1図において[部分B」と記号をつけられている。同じ
物理的ビツト位置にある必要のない感知禁止線の1つの
Aおよび1つのBの組の感知された出力は、メモリ10
を外部回路に対し「16K×20」メモリとして形態づ
けるような方法で周辺回路22により論理和せしめられ
る。感知禁止線対は、Y駆動線に平行に、その共通の端
子から差感知端子SおよびSに向け通過する禁止電流を
各ビツト位置の全てのコアのY駆動電流と逆られせるよ
うな仕方で、ビツト位置を通させられなければならない
。ビツト位置11,4,15,8,2,14,5,17
に対しては、感知禁止線対はそれぞれのビツト位置の上
側右手隅のそれぞれの部分に入り、行63および64間
を交差して平行な隣接対の列を通して下方に進み、続い
てそれぞれのビツト位置対の底部を通過する。次いでこ
の感知禁止線対は1800回転さ砺られかつ同様に交差
した後にそのビツト位置の2つの隣接する列の下側の行
64を通して上方に伸びる。これら2つの線は再び行6
3および64間を交差して通り、続いてこれら列の対の
残りを通つて再び180、回転し、同様交差した後次の
対の列を通つて下方に伸びる。感知禁止線はそれぞれの
ビツト位置部分の8K(8X1000)のコアの全てを
誘導結合するまでこのような方法で前後に通過させられ
る。ビツト位置2に対してはS2A感知禁止線は列YO
および行XOの交点のビツト位置に入り、これに対し、
S2A感知禁止線は列Y1行XOのビツト位置に入る。
感知禁止線S2Aは列Y62にあるビツト位置から出、
これに対し、感知禁止線S2Aは列Y63にあるビツト
位置から出る。禁止線端部は列Y62およびY63にお
いてスタツク18から出るとき一緒になるようにはんだ
付けされ、そして周辺回路22内の禁止電流駆動装置に
接続される。ビツト位置2のB部分のコアは感知禁止線
S2AおよびS2AによるAIU部分の結合と実質上同
じ方法で感知禁止線S2BおよびS2Bにより誘導結合
される。
たコアにおける電流の代数和は部分選択X駆動電流に等
しくなり、コアを切換えるのに不充分である。従つてこ
のようなコアは書込動作の終りに「O」の状態に留まる
。このようにして誘導結合されたXおよびY駆動線およ
び感知禁止導体はビツト位置アレイのコアの選択的切換
えおよび選択的に切換えられたコアにより発生される出
力電圧信号の感知を可能ならしめる。XおよびY駆動線
は3次元型「16KX20」構成にあるスタツク18に
接続されるが、各ビツト位置は半分に分割され、感知禁
止線は「8KX40」の形態として接続される。列線Y
OないしY63を受ける各ビツト位置のコアは一組の感
知禁止導体を受け第1図において「部分A」と記号をつ
けられており、Y駆動線Y64ないしYl27により誘
導結合されているコアは第2の対の感知禁止線を受け第
1図において[部分B」と記号をつけられている。同じ
物理的ビツト位置にある必要のない感知禁止線の1つの
Aおよび1つのBの組の感知された出力は、メモリ10
を外部回路に対し「16K×20」メモリとして形態づ
けるような方法で周辺回路22により論理和せしめられ
る。感知禁止線対は、Y駆動線に平行に、その共通の端
子から差感知端子SおよびSに向け通過する禁止電流を
各ビツト位置の全てのコアのY駆動電流と逆られせるよ
うな仕方で、ビツト位置を通させられなければならない
。ビツト位置11,4,15,8,2,14,5,17
に対しては、感知禁止線対はそれぞれのビツト位置の上
側右手隅のそれぞれの部分に入り、行63および64間
を交差して平行な隣接対の列を通して下方に進み、続い
てそれぞれのビツト位置対の底部を通過する。次いでこ
の感知禁止線対は1800回転さ砺られかつ同様に交差
した後にそのビツト位置の2つの隣接する列の下側の行
64を通して上方に伸びる。これら2つの線は再び行6
3および64間を交差して通り、続いてこれら列の対の
残りを通つて再び180、回転し、同様交差した後次の
対の列を通つて下方に伸びる。感知禁止線はそれぞれの
ビツト位置部分の8K(8X1000)のコアの全てを
誘導結合するまでこのような方法で前後に通過させられ
る。ビツト位置2に対してはS2A感知禁止線は列YO
および行XOの交点のビツト位置に入り、これに対し、
S2A感知禁止線は列Y1行XOのビツト位置に入る。
感知禁止線S2Aは列Y62にあるビツト位置から出、
これに対し、感知禁止線S2Aは列Y63にあるビツト
位置から出る。禁止線端部は列Y62およびY63にお
いてスタツク18から出るとき一緒になるようにはんだ
付けされ、そして周辺回路22内の禁止電流駆動装置に
接続される。ビツト位置2のB部分のコアは感知禁止線
S2AおよびS2AによるAIU部分の結合と実質上同
じ方法で感知禁止線S2BおよびS2Bにより誘導結合
される。
感知禁止線S2A,S2AおよびS2B,S2Bはそれ
ぞれ列Y64およびY65にあるビツト位置に入り、そ
れぞれ列位置Yl26およびYl27にある禁止線端部
から出る。ビツト位置0,12,7,19,10,3,
16,9,1,13,6,18に対しては、感知禁止線
は180回転させられ、これらの線が上側の行ではなく
て下側の行においてビツト位置部分に入りそれから出る
ようになつている。各ビツト位置に対し5つの開口32
が設けられている。これらの開口はプリント回路板12
を貫通し前面側14と後面側16との間での信号伝達を
与え、少くとも1.225wr1n(0.050インチ
)の直径を有する。ビツト位置2に対し32A−32E
と記号をつけられているこれらの開口は第2図に拡大し
て詳細に示されている感知禁止線導体のループを受ける
。各感知禁止線が1つのビツト位置部分を通されるとき
、約7.62cm(3インチ)の長さのループが、感知
禁止線が入り最終的に出ていくビツト位置の側に周期的
に形成される。この電線のループは回路板12の後面側
16の回路と接続されるべく開口32A−32Eの1つ
を通過させられる。第2図に示された構成において、5
つのループが各感知禁止線に形成され、これらは開口3
2の1つを通過させられる。第1のループは列YOにあ
るビツト位置に入る前に感知端で感知禁止線S2Aに形
成される。このループは開口32Eを通過させられる。
第2のループは列Yl4およびYl6間に形成されて開
口32Eを通過させられ、第3のループは列Y3Oおよ
びY32間に形成されて開口32Dを通過させられ、第
4のループは列Y46およびY48間に形成されて開口
32Dを通過させられ、第5のループは列Y62および
I2A禁止接続線間に形成されて開口32Cを通過させ
られる。5つのループが同様に感知禁止線S2Aに対し
て形成され、ここで第1のループは感知終端部と列Y1
との間に形成され、第2のループは列Yl5およびYl
7間に形成され、第3のループは列Y3lおよびY33
間に形成され、第4のループは列Y47およびY49間
に形成され、第5のループは列Y63とI2A禁止線端
子との間に形成され、このI2A禁止線端子ではS2A
およびS2A感知禁止線が接続され合わされている。
ぞれ列Y64およびY65にあるビツト位置に入り、そ
れぞれ列位置Yl26およびYl27にある禁止線端部
から出る。ビツト位置0,12,7,19,10,3,
16,9,1,13,6,18に対しては、感知禁止線
は180回転させられ、これらの線が上側の行ではなく
て下側の行においてビツト位置部分に入りそれから出る
ようになつている。各ビツト位置に対し5つの開口32
が設けられている。これらの開口はプリント回路板12
を貫通し前面側14と後面側16との間での信号伝達を
与え、少くとも1.225wr1n(0.050インチ
)の直径を有する。ビツト位置2に対し32A−32E
と記号をつけられているこれらの開口は第2図に拡大し
て詳細に示されている感知禁止線導体のループを受ける
。各感知禁止線が1つのビツト位置部分を通されるとき
、約7.62cm(3インチ)の長さのループが、感知
禁止線が入り最終的に出ていくビツト位置の側に周期的
に形成される。この電線のループは回路板12の後面側
16の回路と接続されるべく開口32A−32Eの1つ
を通過させられる。第2図に示された構成において、5
つのループが各感知禁止線に形成され、これらは開口3
2の1つを通過させられる。第1のループは列YOにあ
るビツト位置に入る前に感知端で感知禁止線S2Aに形
成される。このループは開口32Eを通過させられる。
第2のループは列Yl4およびYl6間に形成されて開
口32Eを通過させられ、第3のループは列Y3Oおよ
びY32間に形成されて開口32Dを通過させられ、第
4のループは列Y46およびY48間に形成されて開口
32Dを通過させられ、第5のループは列Y62および
I2A禁止接続線間に形成されて開口32Cを通過させ
られる。5つのループが同様に感知禁止線S2Aに対し
て形成され、ここで第1のループは感知終端部と列Y1
との間に形成され、第2のループは列Yl5およびYl
7間に形成され、第3のループは列Y3lおよびY33
間に形成され、第4のループは列Y47およびY49間
に形成され、第5のループは列Y63とI2A禁止線端
子との間に形成され、このI2A禁止線端子ではS2A
およびS2A感知禁止線が接続され合わされている。
感知禁止線S2Aの第1および第2のループは開口32
Eを通過させられ、第3および第4のループは開口32
Dを通過させられ、第5のループは開口32Cを通過さ
せられる。同様の方法で、5つのループがビツト位置2
のB部分に対し感知禁止線S2Bの各々に形成される。
第1のループは開口32Cを通過し、第2および第3の
ループは開口32Bを通過し、第4および第5のループ
は開口32Aを通過する。第3図に示されたように2対
のはんだパツト34,36および38,40が開口32
Eに対して代表的に示されているように各開口32に隣
接してプリント回路板12の後面側16に設けられてい
る。
Eを通過させられ、第3および第4のループは開口32
Dを通過させられ、第5のループは開口32Cを通過さ
せられる。同様の方法で、5つのループがビツト位置2
のB部分に対し感知禁止線S2Bの各々に形成される。
第1のループは開口32Cを通過し、第2および第3の
ループは開口32Bを通過し、第4および第5のループ
は開口32Aを通過する。第3図に示されたように2対
のはんだパツト34,36および38,40が開口32
Eに対して代表的に示されているように各開口32に隣
接してプリント回路板12の後面側16に設けられてい
る。
はんだパツト34は感知禁止線S2Aの第1のループを
受け、その両部分ははんだパツド34に接合される。同
様に感知禁止線S2Aの第1のループはパツド36に接
合され、導体S2Aの第2のループはパツド38に接合
され、S2Aの第2のループはパツド40に接合される
。各場合においてループの過剰な電線は切り取られる。
種々のループのこれらの回路接続は感知禁止線を少なく
とも1つのルーブの両側において磁気コアに誘導結合す
る状態にて感知禁止線を1つのビツト位置の中間の非コ
ア回路に接続する手段を与える。S2AおよびS2A感
知禁止線の対応する第1ないし第5のループはそのビツ
ト位置内の対応する物理的位置で生ずるので、ループの
対応する隣接対間の電気的線長は実質上等しい。すなわ
ち、電線S2Aの第1および第2のループ間の電気的距
離は電線S2Aの第1および第2のループ間の電気的距
離は実質上等しい。加うるに、この構成において、ルー
プは、第1および第2のループ間の電気的距離が各感知
禁止線の第2および第3のループ間の電気的距離に実質
上等しくなるように各感知禁止線に沿い実質上等しく離
れている。第3図に示されているように、各はんだパツ
ド34,36および38,40はビームリードバツド4
2および2つの独立した装置端子を受けるように適当に
整形された独立の装置パツド44の両方に電気的に接続
されている。
受け、その両部分ははんだパツド34に接合される。同
様に感知禁止線S2Aの第1のループはパツド36に接
合され、導体S2Aの第2のループはパツド38に接合
され、S2Aの第2のループはパツド40に接合される
。各場合においてループの過剰な電線は切り取られる。
種々のループのこれらの回路接続は感知禁止線を少なく
とも1つのルーブの両側において磁気コアに誘導結合す
る状態にて感知禁止線を1つのビツト位置の中間の非コ
ア回路に接続する手段を与える。S2AおよびS2A感
知禁止線の対応する第1ないし第5のループはそのビツ
ト位置内の対応する物理的位置で生ずるので、ループの
対応する隣接対間の電気的線長は実質上等しい。すなわ
ち、電線S2Aの第1および第2のループ間の電気的距
離は電線S2Aの第1および第2のループ間の電気的距
離は実質上等しい。加うるに、この構成において、ルー
プは、第1および第2のループ間の電気的距離が各感知
禁止線の第2および第3のループ間の電気的距離に実質
上等しくなるように各感知禁止線に沿い実質上等しく離
れている。第3図に示されているように、各はんだパツ
ド34,36および38,40はビームリードバツド4
2および2つの独立した装置端子を受けるように適当に
整形された独立の装置パツド44の両方に電気的に接続
されている。
好ましい回路構成では半導体チツプ48のビームリード
46ははんだパツド34のビームリードパツド42に接
続され、チツプ48の第2のビームリード50ははんだ
パツド36のビームリードパツド42に接続されている
。チツプ48はビームリード46および50間に電気的
に結合された1対の逆平列低容量シヨツトキーダイオー
ドを含む集積回路チツプである。1対のダイオードは各
々の陽極に他の陰極が接続されて逆平列形状に接続され
る。
46ははんだパツド34のビームリードパツド42に接
続され、チツプ48の第2のビームリード50ははんだ
パツド36のビームリードパツド42に接続されている
。チツプ48はビームリード46および50間に電気的
に結合された1対の逆平列低容量シヨツトキーダイオー
ドを含む集積回路チツプである。1対のダイオードは各
々の陽極に他の陰極が接続されて逆平列形状に接続され
る。
シヨツトキ・−ダイオードビームリードチツプはヒユー
レツトパツカード社から購入することができ、これは接
合部容量が2ピコフアラツドよりも低くて1ピコ〕7ア
ラツドという程度に低いものであり、しきい値順方向バ
イアス電圧が1ミリアンペアの電流で:200ミリボル
トという程度に低いものであり、かつ少数キヤリヤ寿命
時間が100ピコ秒とぃう程度に短ぃものである。
レツトパツカード社から購入することができ、これは接
合部容量が2ピコフアラツドよりも低くて1ピコ〕7ア
ラツドという程度に低いものであり、しきい値順方向バ
イアス電圧が1ミリアンペアの電流で:200ミリボル
トという程度に低いものであり、かつ少数キヤリヤ寿命
時間が100ピコ秒とぃう程度に短ぃものである。
このシヨツトキーダイオードはそれに印加される200
ミリボルトの順方向導電しきい値を越す電圧を有する信
号の成分を導通させる。更に、このダイオードの低い接
合容量のためこれは差ノイズ信号の支配的周波数成分に
対しリアクタンスとして作用するよりも抵抗として作用
する分の方が大きいインピーダンスを与える。このよう
にしてシヨツトキーダイオードはそれに印加される差信
号の支配的周波数成分に非常に小さな電流一電圧位相シ
フトしか誘起しない。シヨツトキーダイオードを主にリ
アクタンスと1−て作用させるに充分なだけ高い差信号
の周波数成分は極めて迅やかに減衰させられ、感知禁止
回復時間に実質上影響を及ぼさない。別の回路構成とし
て個別的シヨツトキーダイオードの対をはんだパツド3
8および40に対し図示してあるように個別的要素パツ
ド44の対の間に逆平列関係に接続することができる。
第1のシヨツトキーダ・イオード52は電流をはんだパ
ツド38からはんだパツド40に流すように接続され、
第2の個別的シヨツトキーダイオードは電流をはんだパ
ツド40からはんだパツド38へ流すように接続される
。.ビームリードおよび個別的回路パッケージの両方を
共に使用する必要はないということ、単に1対のダイオ
ードを各対のパツド34,36または38,40間に接
続すれば充分であること、および個別的パツド44また
はビームリードパツド42のいずれかを省くことができ
るということを理解されたい。別の取付け技術として、
ビームリードチツプ48のような逆平列シヨツトキーダ
イオード対をプリント回路板12の前面側14で隣接す
るビツト位置間に取付けることができる。
ミリボルトの順方向導電しきい値を越す電圧を有する信
号の成分を導通させる。更に、このダイオードの低い接
合容量のためこれは差ノイズ信号の支配的周波数成分に
対しリアクタンスとして作用するよりも抵抗として作用
する分の方が大きいインピーダンスを与える。このよう
にしてシヨツトキーダイオードはそれに印加される差信
号の支配的周波数成分に非常に小さな電流一電圧位相シ
フトしか誘起しない。シヨツトキーダイオードを主にリ
アクタンスと1−て作用させるに充分なだけ高い差信号
の周波数成分は極めて迅やかに減衰させられ、感知禁止
回復時間に実質上影響を及ぼさない。別の回路構成とし
て個別的シヨツトキーダイオードの対をはんだパツド3
8および40に対し図示してあるように個別的要素パツ
ド44の対の間に逆平列関係に接続することができる。
第1のシヨツトキーダ・イオード52は電流をはんだパ
ツド38からはんだパツド40に流すように接続され、
第2の個別的シヨツトキーダイオードは電流をはんだパ
ツド40からはんだパツド38へ流すように接続される
。.ビームリードおよび個別的回路パッケージの両方を
共に使用する必要はないということ、単に1対のダイオ
ードを各対のパツド34,36または38,40間に接
続すれば充分であること、および個別的パツド44また
はビームリードパツド42のいずれかを省くことができ
るということを理解されたい。別の取付け技術として、
ビームリードチツプ48のような逆平列シヨツトキーダ
イオード対をプリント回路板12の前面側14で隣接す
るビツト位置間に取付けることができる。
一構成では、これらのダイオード対は小さなアルミナ基
板55(第4図参照)上に取付けられ、該基板55はプ
リント回路板の前面側14であつて仮にこれらのダイオ
ードが上述したように後面側16に取付けられるとした
ときには開口32が配置されるであろう位置にほぼ一致
する位置に取付けられる。このときにはY駆動線は基板
55の上部およびそれに取付けられたダイオードの上を
通過するようにされるであろう。第4図に示された幾分
異なつている構成においては、基板55は穴あけ可能の
ブリツジ56上に取付けられ、該ブリツジ56はプリン
ト回路板12の前面側14に取付けられる。
板55(第4図参照)上に取付けられ、該基板55はプ
リント回路板の前面側14であつて仮にこれらのダイオ
ードが上述したように後面側16に取付けられるとした
ときには開口32が配置されるであろう位置にほぼ一致
する位置に取付けられる。このときにはY駆動線は基板
55の上部およびそれに取付けられたダイオードの上を
通過するようにされるであろう。第4図に示された幾分
異なつている構成においては、基板55は穴あけ可能の
ブリツジ56上に取付けられ、該ブリツジ56はプリン
ト回路板12の前面側14に取付けられる。
Y駆動線58はブリツジ56を通して直角に通過し、感
知禁止線62はブリツジ56の上部で基板55に接合さ
れる。ビツト位置2の感知禁止線に対する簡略化回路図
が第5図に示されている。感知禁止線対S2AおよびS
2Aは感知端においで差動増幅器70の両入力端子に接
続され、その各半分はそれぞれ1000のコアからなる
4つの群を通過した後に接続され合わされて禁止端子を
形成し、該禁止端子は絶縁ダイオード72の陰極に接続
される。ダイオード72の陽極は抵抗器74に接続され
ると共に禁止電流駆動源(図示せず)に接続される。同
様に、感知禁止線S2BおよびS2Bは差動増幅器76
の両人力端子に接続され、各々はそれぞれ1000のコ
アからなる4つの群を通過した後接続され合わされて禁
止端子を形成し、該禁止端子はダイオード78の陰極に
接続される。ダイオード78の陽極は禁止電流駆動装置
に接続されると共に抵抗器74およびダイオード72の
陰極に接続される。ダイオード72,78と反対側にあ
る抵抗器74の端子は接地されている。実質上同じ終端
回路網80,82がそれぞれ感知増幅器70,76への
入力に隣接して設けられている。
知禁止線62はブリツジ56の上部で基板55に接合さ
れる。ビツト位置2の感知禁止線に対する簡略化回路図
が第5図に示されている。感知禁止線対S2AおよびS
2Aは感知端においで差動増幅器70の両入力端子に接
続され、その各半分はそれぞれ1000のコアからなる
4つの群を通過した後に接続され合わされて禁止端子を
形成し、該禁止端子は絶縁ダイオード72の陰極に接続
される。ダイオード72の陽極は抵抗器74に接続され
ると共に禁止電流駆動源(図示せず)に接続される。同
様に、感知禁止線S2BおよびS2Bは差動増幅器76
の両人力端子に接続され、各々はそれぞれ1000のコ
アからなる4つの群を通過した後接続され合わされて禁
止端子を形成し、該禁止端子はダイオード78の陰極に
接続される。ダイオード78の陽極は禁止電流駆動装置
に接続されると共に抵抗器74およびダイオード72の
陰極に接続される。ダイオード72,78と反対側にあ
る抵抗器74の端子は接地されている。実質上同じ終端
回路網80,82がそれぞれ感知増幅器70,76への
入力に隣接して設けられている。
終端回路網80はダイオード83および84ならびに抵
抗器86,88および89を含む。ダイオード83およ
び84はそれぞれS2AおよびS2Aに接続された陽極
および接地された陰極を有する。抵抗器86および88
がそれぞれダイオード83および84と並列に接続され
ている。ダイオード83および84は比較的大きい禁止
電流に対し大地への低インピーダンス路を与え、共通モ
ード電圧をダイオード83,84の順方向バイアス電圧
に制限することにより増幅器70を保護する。抵抗器8
6,88および89は感知禁止線S2AおよびS2Aの
伝送線路特性と整合させられ、できる限り整合状態に近
い終端を与えて共通モード電気信号に対しては大地への
抵抗路を与えると共に差動モード電気信号に対しては感
知禁止線間の抵抗路を与える。第1の対の逆平列シヨツ
トキーダイオード90,92は終端回路網80と感知禁
止線S2AおよびS2Aのビツト位置2のコア中への入
口との間に配置され、物理的には磁気コアに極めて密接
して配置される。これらのダイオードは2本の感知禁止
線の第1のループを相互接続する。第1のダイオード対
90,92を越えた位置で感知禁止線S2AおよびS2
Aの各各はそれぞれ1024のコアを含む磁気コア94
,96の群を通して導かれる。第2の対の逆平列シヨツ
トキーダイオード98,100は、それぞれ磁気コア9
4,96の第1の群と1024の磁気コア102,10
4の第2の群との間に配置されるその第2のループ間の
感知禁止線S2A,S2Aを相互接続する。シヨツトキ
ーダイオード98,100は物理的にはビツト位置2の
磁気コアに極めて密接して配置されて第2のループの物
理的長さおよび感知禁止線S2AおよびS2Aの合計長
を制限する。感知禁止線S2AおよびS2Aが第2の対
の逆平列ダイオード98,100が感知禁止線に結合さ
れる第2のループ位置のいずれかの側において第2のビ
ツト位置の磁気コアに誘導結合される限り、シヨツトキ
ーダイオード98,100は感知禁止線S2AおよびS
2Aの対に沿い同じまたは対称な点において第2のビツ
ト位置のコアアレイの中間または内部に電気的に結合さ
れる。前述したように、1つのビツト位置の中間の逆平
列ダイオード対は物理的にそのビツト位置に極めて密接
して配置されねばならず、そして物理的には回路板の反
対側でそれらのダイオードが関係するビツト位置の近く
に配置される。第3の対の逆平列シヨツトキーダイオー
ド106,108はそれぞれ1024の磁気コア110
,112の第3の群と第2の群102,104との間で
その中に形成された第3のループの位置でそれに沿う同
じまたは対称な点において感知禁止線S2A,S2Aを
相互接続する。第4の対の逆平列シヨツトキ一ダイオー
ド114,116はそれぞれ1024の磁気コア118
,120の第4の群と第3の群110,112との間に
位置するその第4のループにおいて感知禁止線S2A,
S2Aを相互接続する。第5の対の逆平列シヨツトキー
ダイオード122,124はコア118,120と極め
て近接するビツト位置2に隣接して物理的に位置するそ
の第5のループにおいて感知禁止線S2A,S2Aを相
互接続する。第1ないし第5の対の逆平列ダイオードは
物理的にビツト位置全体にわたり実質上一様な間隔で配
置されるが、当業者には他の位置的配列が可能なことが
理解されよう。
抗器86,88および89を含む。ダイオード83およ
び84はそれぞれS2AおよびS2Aに接続された陽極
および接地された陰極を有する。抵抗器86および88
がそれぞれダイオード83および84と並列に接続され
ている。ダイオード83および84は比較的大きい禁止
電流に対し大地への低インピーダンス路を与え、共通モ
ード電圧をダイオード83,84の順方向バイアス電圧
に制限することにより増幅器70を保護する。抵抗器8
6,88および89は感知禁止線S2AおよびS2Aの
伝送線路特性と整合させられ、できる限り整合状態に近
い終端を与えて共通モード電気信号に対しては大地への
抵抗路を与えると共に差動モード電気信号に対しては感
知禁止線間の抵抗路を与える。第1の対の逆平列シヨツ
トキーダイオード90,92は終端回路網80と感知禁
止線S2AおよびS2Aのビツト位置2のコア中への入
口との間に配置され、物理的には磁気コアに極めて密接
して配置される。これらのダイオードは2本の感知禁止
線の第1のループを相互接続する。第1のダイオード対
90,92を越えた位置で感知禁止線S2AおよびS2
Aの各各はそれぞれ1024のコアを含む磁気コア94
,96の群を通して導かれる。第2の対の逆平列シヨツ
トキーダイオード98,100は、それぞれ磁気コア9
4,96の第1の群と1024の磁気コア102,10
4の第2の群との間に配置されるその第2のループ間の
感知禁止線S2A,S2Aを相互接続する。シヨツトキ
ーダイオード98,100は物理的にはビツト位置2の
磁気コアに極めて密接して配置されて第2のループの物
理的長さおよび感知禁止線S2AおよびS2Aの合計長
を制限する。感知禁止線S2AおよびS2Aが第2の対
の逆平列ダイオード98,100が感知禁止線に結合さ
れる第2のループ位置のいずれかの側において第2のビ
ツト位置の磁気コアに誘導結合される限り、シヨツトキ
ーダイオード98,100は感知禁止線S2AおよびS
2Aの対に沿い同じまたは対称な点において第2のビツ
ト位置のコアアレイの中間または内部に電気的に結合さ
れる。前述したように、1つのビツト位置の中間の逆平
列ダイオード対は物理的にそのビツト位置に極めて密接
して配置されねばならず、そして物理的には回路板の反
対側でそれらのダイオードが関係するビツト位置の近く
に配置される。第3の対の逆平列シヨツトキーダイオー
ド106,108はそれぞれ1024の磁気コア110
,112の第3の群と第2の群102,104との間で
その中に形成された第3のループの位置でそれに沿う同
じまたは対称な点において感知禁止線S2A,S2Aを
相互接続する。第4の対の逆平列シヨツトキ一ダイオー
ド114,116はそれぞれ1024の磁気コア118
,120の第4の群と第3の群110,112との間に
位置するその第4のループにおいて感知禁止線S2A,
S2Aを相互接続する。第5の対の逆平列シヨツトキー
ダイオード122,124はコア118,120と極め
て近接するビツト位置2に隣接して物理的に位置するそ
の第5のループにおいて感知禁止線S2A,S2Aを相
互接続する。第1ないし第5の対の逆平列ダイオードは
物理的にビツト位置全体にわたり実質上一様な間隔で配
置されるが、当業者には他の位置的配列が可能なことが
理解されよう。
例えば、2対の逆平列ダイオード間のコアの群における
コアの数は別の2対の逆平列ダイオード間のコアの数と
異なるようにすることができる。加うるに、1対の感知
禁止線に沿い更に多い、または更に少ない数の逆平列ダ
イオード対を配置することができる。例として、第2お
よび第4の対のシヨツトキーダイオードを取り除くこと
ができる。その場合、第5の対のシヨツトキーダイオー
ドは2つの感知禁止線半部分S2A,S2AおよびS2
B,S2Bが接続され合わされる禁止端子点が物理的に
マツト(Mat)位置に近接しているならば何ら認めら
れる作用を及ぼさないであろう。実験によつて、コアの
数および隣接するシヨツトキーダイオード対間の感知禁
止線の長さが減るにつれ付加的ダイオード対の使用から
生ずる感知禁止回復時間の付加的減少の重要性は小さく
なるということが判つtら書込サイクル中、禁止駆動装
置は、「O」が書込まれるべき各ビツト位置の感知禁止
線に必要な禁止電流の4倍を供給する。
コアの数は別の2対の逆平列ダイオード間のコアの数と
異なるようにすることができる。加うるに、1対の感知
禁止線に沿い更に多い、または更に少ない数の逆平列ダ
イオード対を配置することができる。例として、第2お
よび第4の対のシヨツトキーダイオードを取り除くこと
ができる。その場合、第5の対のシヨツトキーダイオー
ドは2つの感知禁止線半部分S2A,S2AおよびS2
B,S2Bが接続され合わされる禁止端子点が物理的に
マツト(Mat)位置に近接しているならば何ら認めら
れる作用を及ぼさないであろう。実験によつて、コアの
数および隣接するシヨツトキーダイオード対間の感知禁
止線の長さが減るにつれ付加的ダイオード対の使用から
生ずる感知禁止回復時間の付加的減少の重要性は小さく
なるということが判つtら書込サイクル中、禁止駆動装
置は、「O」が書込まれるべき各ビツト位置の感知禁止
線に必要な禁止電流の4倍を供給する。
この電流は絶縁ダイオード72および78の各々を通過
する必要な禁止電流の2倍の値の電流に分割され、更に
感知禁止線S2A,S2AsS2BおよびS2Bの各々
を通過する禁止電流に分割される。充分な記憶動作を達
成するため読出一書込サイクルの終了時に禁止電流が与
えられねばならない速い下降時間のため、その下降時間
は感知禁止線に沿う伝搬時間に比して長くなく、電圧パ
ルスがこれらの線の各々に誘起され、これは感知端の方
に伝搬する。これらの電圧パルスはほぼ等しくなろうと
するが、電線およびコアの情報記憶状態の物理的および
電気的特性の差が感知禁止線対間に実質上U1差切換信
号と比較される差電圧パルスを生じさせる。これらのパ
ルスが感知禁止線に達したとき終端回路網80,82は
それらを吸収しようとするが、それぞれ終端回路網80
,82と感知禁止線S2A,S2AおよびS2B,S2
Bとの間に完全なインピーダンス整合を得るのは不可能
であるという理由で、差電圧(ならびに任意の共通モー
ドパルス)の一部は感知禁止線の方へと反射し戻されて
禁止駆動装置端の方に向う。2本の感知禁止線が接続さ
れ合わされている禁止駆動装置端に達すると、この差モ
ードパルスは短絡回路に出会つて非常に小さい減衰を伴
いながら感知端の方に向けて反射され、この感知端でこ
れらのパルスは終端回路網により減衰された後に再び反
射される。
する必要な禁止電流の2倍の値の電流に分割され、更に
感知禁止線S2A,S2AsS2BおよびS2Bの各々
を通過する禁止電流に分割される。充分な記憶動作を達
成するため読出一書込サイクルの終了時に禁止電流が与
えられねばならない速い下降時間のため、その下降時間
は感知禁止線に沿う伝搬時間に比して長くなく、電圧パ
ルスがこれらの線の各々に誘起され、これは感知端の方
に伝搬する。これらの電圧パルスはほぼ等しくなろうと
するが、電線およびコアの情報記憶状態の物理的および
電気的特性の差が感知禁止線対間に実質上U1差切換信
号と比較される差電圧パルスを生じさせる。これらのパ
ルスが感知禁止線に達したとき終端回路網80,82は
それらを吸収しようとするが、それぞれ終端回路網80
,82と感知禁止線S2A,S2AおよびS2B,S2
Bとの間に完全なインピーダンス整合を得るのは不可能
であるという理由で、差電圧(ならびに任意の共通モー
ドパルス)の一部は感知禁止線の方へと反射し戻されて
禁止駆動装置端の方に向う。2本の感知禁止線が接続さ
れ合わされている禁止駆動装置端に達すると、この差モ
ードパルスは短絡回路に出会つて非常に小さい減衰を伴
いながら感知端の方に向けて反射され、この感知端でこ
れらのパルスは終端回路網により減衰された後に再び反
射される。
しかしながら、これらの差モードパルスが感知禁止線を
下つて伝搬するとき逆平列シヨツトキーダイオードの対
がこれらのダイオードの順方向バイアス電圧を越す差電
圧に対して短絡回路として現われる。結果として、これ
らの過剰電圧パルスは感知禁止線の終りに達する前に1
対のダイオードに出会つたときは反射される。この早期
の反射は電圧パルスをより高い周波数をもつてその感知
禁止線に現われさせ、この高い周波数においてこれらは
そのエネルギーが磁気コアそのものにより吸収されると
き更に容易に減衰される。当業者には16K(16X1
000)ビツト位置はそれらがあたかも2つの8Kビツ
ト位置であるかの如くに感知禁止線により結線される必
要はないということが理解されよう。
下つて伝搬するとき逆平列シヨツトキーダイオードの対
がこれらのダイオードの順方向バイアス電圧を越す差電
圧に対して短絡回路として現われる。結果として、これ
らの過剰電圧パルスは感知禁止線の終りに達する前に1
対のダイオードに出会つたときは反射される。この早期
の反射は電圧パルスをより高い周波数をもつてその感知
禁止線に現われさせ、この高い周波数においてこれらは
そのエネルギーが磁気コアそのものにより吸収されると
き更に容易に減衰される。当業者には16K(16X1
000)ビツト位置はそれらがあたかも2つの8Kビツ
ト位置であるかの如くに感知禁止線により結線される必
要はないということが理解されよう。
特に第2図に示されたように感知禁止線S2BおよびS
2Bの感知端は感知禁止線S2AおよびS2Aの禁止端
に近接してビツト位置2から出る。このようにして、単
にS2Bの感知端をS2Aの禁止端に接続しかつS2B
の感知端をS2Aの禁止端に接続することにより、この
二重8K感知禁止巻線構成を1つの16K感知禁止線構
成に変形することができる。このような構成の下では終
端回路網82および増幅器76を省くことができる。加
うるに、このときには禁止駆動装置はそれが感知禁止線
に入るとき1度だけ分割されるので単に禁止電流の2倍
だけを供給すればよい。回路を1つのビツト位置の中間
の感知禁止線に接続することにより得られる感知禁止回
復時間の効果的な減少が第6図および第7図に図解され
ている。
2Bの感知端は感知禁止線S2AおよびS2Aの禁止端
に近接してビツト位置2から出る。このようにして、単
にS2Bの感知端をS2Aの禁止端に接続しかつS2B
の感知端をS2Aの禁止端に接続することにより、この
二重8K感知禁止巻線構成を1つの16K感知禁止線構
成に変形することができる。このような構成の下では終
端回路網82および増幅器76を省くことができる。加
うるに、このときには禁止駆動装置はそれが感知禁止線
に入るとき1度だけ分割されるので単に禁止電流の2倍
だけを供給すればよい。回路を1つのビツト位置の中間
の感知禁止線に接続することにより得られる感知禁止回
復時間の効果的な減少が第6図および第7図に図解され
ている。
好ましい例としてこれらの図面に示されている電気信号
は従来の方法で駆動される16Kの3線式3次元型メモ
リに関係する。第6図は内部的補償を有さない関連信号
を表わし、第7図は感知禁止線対が約200ミリボルト
の順方向バイアス電圧を有する3対の逆平列シヨツトキ
ーダイオードにより相互接続されるとき現われる関連信
号を表わし、ここで1つの対は磁気コアの近くの感知禁
止線の各端部に配置され、第3のものは他の2つのもの
のほぼ中間に配置され、そのビツト位置のコアの半分は
その各側において感知禁止線に誘導結合されている。特
に第6図を参照すれば感知禁止線は静止状態に近い条件
を得るのに充分な長さの時間の間曲線150により表わ
される240ミリアンペアの禁止電流で駆動される。
は従来の方法で駆動される16Kの3線式3次元型メモ
リに関係する。第6図は内部的補償を有さない関連信号
を表わし、第7図は感知禁止線対が約200ミリボルト
の順方向バイアス電圧を有する3対の逆平列シヨツトキ
ーダイオードにより相互接続されるとき現われる関連信
号を表わし、ここで1つの対は磁気コアの近くの感知禁
止線の各端部に配置され、第3のものは他の2つのもの
のほぼ中間に配置され、そのビツト位置のコアの半分は
その各側において感知禁止線に誘導結合されている。特
に第6図を参照すれば感知禁止線は静止状態に近い条件
を得るのに充分な長さの時間の間曲線150により表わ
される240ミリアンペアの禁止電流で駆動される。
−100ナノ秒の時点で禁止電流は終了しそして100
ナノ秒の下降時間の間ナノ秒あたり2.4ミリアンペア
の割合で減少する。このようにして禁止電流は時刻0に
おいて実質上0に減少する。禁止電流の極大値はその下
降時間のほぼ中央の位置152において生ずることに注
意されたい。この極大値は、感知禁止線の感知端に達し
そして禁止端の方に反射し戻されて禁止駆動装置を通る
電流に影響を及ぼす高エネルギーの共通モード電気パル
スの結果である。感知禁止線にかかりその感知端に現わ
れる差電圧が2つの異なる拡大目盛に対し2つの異なる
水平軸において示されている。曲線154は各区間あた
り200ミリボルトの拡大率をもつて差モード信号を表
わし、曲線156は各区間あたり5ミリボルトの拡大率
をもつて差モード信号を表わす。曲線154を観察する
ことにより禁止電流が降下し始めるとき大きな振幅の高
周波電圧差パルスが感知禁止線の両端間に現われること
が判る。以後の読出サイクル中に1つのコアを「月の状
態から「o」の状態に切換えるための出力切換信号は単
に40ミリボルトのピーク振幅を有するので、以後の読
出サイクルは感知禁止線の差電圧パルスが5ミリボルト
以下のピーク対ピーク振幅に減衰されるまで生じること
ができない。曲線156から、禁止電流終了電圧パルス
がこのレベルに減衰させられるのに約340ナノ秒が必
要とされることが知られる。また、この差電圧パルスに
2つの相続くピークが生ずるのに100ナノ秒よりも僅
かに少ない時間が必要とされることも知られる。このよ
うにしてこれらのパルスは20MHzを僅かに越す周波
数を有する。ここで特に第7図を参照すれば、逆平列ダ
イオード対の存在は感知禁止線の感知端に現われる差モ
ードパルスに相当大きな影響を及ぼす。
ナノ秒の下降時間の間ナノ秒あたり2.4ミリアンペア
の割合で減少する。このようにして禁止電流は時刻0に
おいて実質上0に減少する。禁止電流の極大値はその下
降時間のほぼ中央の位置152において生ずることに注
意されたい。この極大値は、感知禁止線の感知端に達し
そして禁止端の方に反射し戻されて禁止駆動装置を通る
電流に影響を及ぼす高エネルギーの共通モード電気パル
スの結果である。感知禁止線にかかりその感知端に現わ
れる差電圧が2つの異なる拡大目盛に対し2つの異なる
水平軸において示されている。曲線154は各区間あた
り200ミリボルトの拡大率をもつて差モード信号を表
わし、曲線156は各区間あたり5ミリボルトの拡大率
をもつて差モード信号を表わす。曲線154を観察する
ことにより禁止電流が降下し始めるとき大きな振幅の高
周波電圧差パルスが感知禁止線の両端間に現われること
が判る。以後の読出サイクル中に1つのコアを「月の状
態から「o」の状態に切換えるための出力切換信号は単
に40ミリボルトのピーク振幅を有するので、以後の読
出サイクルは感知禁止線の差電圧パルスが5ミリボルト
以下のピーク対ピーク振幅に減衰されるまで生じること
ができない。曲線156から、禁止電流終了電圧パルス
がこのレベルに減衰させられるのに約340ナノ秒が必
要とされることが知られる。また、この差電圧パルスに
2つの相続くピークが生ずるのに100ナノ秒よりも僅
かに少ない時間が必要とされることも知られる。このよ
うにしてこれらのパルスは20MHzを僅かに越す周波
数を有する。ここで特に第7図を参照すれば、逆平列ダ
イオード対の存在は感知禁止線の感知端に現われる差モ
ードパルスに相当大きな影響を及ぼす。
各区間あたり200ミリボルトの目盛をもつて差電圧を
表わす曲線160は高周波発振が大きく減衰されてしま
つていることを示す。大きな振幅の負電圧パルスが禁止
電流がオフ状態に切換えられたときに発生されるが、こ
の電圧パルスの振幅は迅やかに減衰させられる。曲線1
62は各区間あたり5ミリボルトの拡大した目盛におい
て差電圧を表わし、逆平列シヨツトキーダイオード対が
感知禁止線に接続されたときこの差電圧信号が5ミリボ
ルトのピーク対ピーク振幅より低い値に減衰させられる
のに単に約190ナノ秒だけが必要とされることを示す
。これはシヨツトキーダイオードが用いられないとき適
当な減衰を行うのに必要とされる340ナノ秒よりも1
50ナノ秒だけ小さい。加うるに、曲線162を観察す
ることにより電圧パルス発振周波数は約40MHzにほ
ぼ2倍にされることが知られる。これは感知禁止線対に
おける意味ある不連続部間の伝送線距離の約半分と一致
する。不連続部の存在は更に高い周波数の高調波を発生
させ、これは磁気コアにより更に迅やかに吸収されて感
知された差信号に相当大きく影響するに充分な振幅を達
成しないということが考えられる。本発明による改良さ
れた感知禁止回復時間を有するコアメモリの特定の構成
を上記に説明したが、本発明はそれに限定されるもので
はなく、本発明の範囲内で種々の変更、変形が可能であ
ることが理解されよう。
表わす曲線160は高周波発振が大きく減衰されてしま
つていることを示す。大きな振幅の負電圧パルスが禁止
電流がオフ状態に切換えられたときに発生されるが、こ
の電圧パルスの振幅は迅やかに減衰させられる。曲線1
62は各区間あたり5ミリボルトの拡大した目盛におい
て差電圧を表わし、逆平列シヨツトキーダイオード対が
感知禁止線に接続されたときこの差電圧信号が5ミリボ
ルトのピーク対ピーク振幅より低い値に減衰させられる
のに単に約190ナノ秒だけが必要とされることを示す
。これはシヨツトキーダイオードが用いられないとき適
当な減衰を行うのに必要とされる340ナノ秒よりも1
50ナノ秒だけ小さい。加うるに、曲線162を観察す
ることにより電圧パルス発振周波数は約40MHzにほ
ぼ2倍にされることが知られる。これは感知禁止線対に
おける意味ある不連続部間の伝送線距離の約半分と一致
する。不連続部の存在は更に高い周波数の高調波を発生
させ、これは磁気コアにより更に迅やかに吸収されて感
知された差信号に相当大きく影響するに充分な振幅を達
成しないということが考えられる。本発明による改良さ
れた感知禁止回復時間を有するコアメモリの特定の構成
を上記に説明したが、本発明はそれに限定されるもので
はなく、本発明の範囲内で種々の変更、変形が可能であ
ることが理解されよう。
第1図は本発明による平板状コアメモリスタツクを一部
プロツク図で示す概略回路図、第2図は感知禁止線導体
対が1つのビツト位置のコアを通過する方法を示す概略
結線図、第3図は電気回路をコアアレイの中間の感知禁
止線対に接続する方法を示す概略図、第4図は1つのビ
ツト位置の中間の回路素子をプリント回路板のそのビツ
ト位置のコアと同じ側に取付ける構成を大きく拡大して
示す断片斜視図、第5図は与えられた1つのビツ卜位置
に対する感知禁止回路網を示す概略回路図、第6図はビ
ツト位置の中間に配置された回路網を有さない16K感
知禁止線対に対する電気信号波形のグラフ、第7図は回
路素子が本発明に従いビツト位置の中間の感知禁止線対
に結合されたとき第6図に示される波形を発生するのに
用いられるものと類似するメモリ形状の16K感知禁止
線に現われる波形のグラフである。 10:コアメモリ、12:プリント回路板、18:記憶
素子スタツク、20:コア、22:周辺回路、24:縁
部コネクタ、26:導体、32:開口、34,36,3
8,40:はんだパツド、42:ビームリードパツド、
44:個別的装置パツド、46,50:ビームリード、
48:半導体チツプ、52,54:シヨツトキーダイオ
ード、55:基板、56:ブリツジ、58:Y駆動線、
60:感知禁止導体、70,78:差動増幅器、98,
100:シヨツトキーダイオード。
プロツク図で示す概略回路図、第2図は感知禁止線導体
対が1つのビツト位置のコアを通過する方法を示す概略
結線図、第3図は電気回路をコアアレイの中間の感知禁
止線対に接続する方法を示す概略図、第4図は1つのビ
ツト位置の中間の回路素子をプリント回路板のそのビツ
ト位置のコアと同じ側に取付ける構成を大きく拡大して
示す断片斜視図、第5図は与えられた1つのビツ卜位置
に対する感知禁止回路網を示す概略回路図、第6図はビ
ツト位置の中間に配置された回路網を有さない16K感
知禁止線対に対する電気信号波形のグラフ、第7図は回
路素子が本発明に従いビツト位置の中間の感知禁止線対
に結合されたとき第6図に示される波形を発生するのに
用いられるものと類似するメモリ形状の16K感知禁止
線に現われる波形のグラフである。 10:コアメモリ、12:プリント回路板、18:記憶
素子スタツク、20:コア、22:周辺回路、24:縁
部コネクタ、26:導体、32:開口、34,36,3
8,40:はんだパツド、42:ビームリードパツド、
44:個別的装置パツド、46,50:ビームリード、
48:半導体チツプ、52,54:シヨツトキーダイオ
ード、55:基板、56:ブリツジ、58:Y駆動線、
60:感知禁止導体、70,78:差動増幅器、98,
100:シヨツトキーダイオード。
Claims (1)
- 1 磁気記憶コアのアレイと、該アレイの選択されたコ
アを切換えるために誘導的に結合された駆動導体と、該
アレイのコアの切換えを選択的に禁止しかつ該アレイの
コアの切換えを感知するように誘導的に結合された一対
の感知禁止導体とを具備した磁気コアメモリに於いて、
上記感知禁止導線間で上記アレイの中間の位置に電気的
に接続した少なくとも1つの電気回路を設け、該電気回
路は、伝送線不連続部として、ノイズ信号の各感知禁止
導体に沿つた通路と干渉するが、次に感知されるコア切
換信号の上記感知禁止導体に沿う通路とは干渉しないよ
うな特性を有するようにしたことを特徴とする磁気コア
メモリ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/443,712 US3982233A (en) | 1974-02-19 | 1974-02-19 | Core memory with improved sense-inhibit recovery time |
US443712 | 1982-11-22 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS50120223A JPS50120223A (ja) | 1975-09-20 |
JPS598900B2 true JPS598900B2 (ja) | 1984-02-28 |
Family
ID=23761893
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP50020818A Expired JPS598900B2 (ja) | 1974-02-19 | 1975-02-19 | 磁気コアメモリ |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3982233A (ja) |
JP (1) | JPS598900B2 (ja) |
BE (1) | BE825486A (ja) |
CA (1) | CA1060991A (ja) |
FR (1) | FR2261593B1 (ja) |
GB (1) | GB1475653A (ja) |
IT (1) | IT1029756B (ja) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4300214A (en) * | 1979-08-20 | 1981-11-10 | Quadri Corporation | Circuitry for reducing parasitic coupling in core memory |
US4457175A (en) * | 1982-05-17 | 1984-07-03 | Siemens Ag | Insonification apparatus for an ultrasound transmission system |
US4852051A (en) * | 1986-07-18 | 1989-07-25 | The Toro Company | Flexible irrigation controller |
DE19853447A1 (de) | 1998-11-19 | 2000-05-25 | Siemens Ag | Magnetischer Speicher |
US7447307B2 (en) * | 2000-11-29 | 2008-11-04 | Cisco Technology, Inc. | Unpowered twisted pair loopback circuit for differential mode signaling |
US6937071B1 (en) | 2004-03-16 | 2005-08-30 | Micrel, Incorporated | High frequency differential power amplifier |
US7974119B2 (en) | 2008-07-10 | 2011-07-05 | Seagate Technology Llc | Transmission gate-based spin-transfer torque memory unit |
US9030867B2 (en) | 2008-10-20 | 2015-05-12 | Seagate Technology Llc | Bipolar CMOS select device for resistive sense memory |
US7936580B2 (en) | 2008-10-20 | 2011-05-03 | Seagate Technology Llc | MRAM diode array and access method |
US7936583B2 (en) | 2008-10-30 | 2011-05-03 | Seagate Technology Llc | Variable resistive memory punchthrough access method |
US7825478B2 (en) | 2008-11-07 | 2010-11-02 | Seagate Technology Llc | Polarity dependent switch for resistive sense memory |
US8178864B2 (en) | 2008-11-18 | 2012-05-15 | Seagate Technology Llc | Asymmetric barrier diode |
US8203869B2 (en) | 2008-12-02 | 2012-06-19 | Seagate Technology Llc | Bit line charge accumulation sensing for resistive changing memory |
US8159856B2 (en) | 2009-07-07 | 2012-04-17 | Seagate Technology Llc | Bipolar select device for resistive sense memory |
US8158964B2 (en) | 2009-07-13 | 2012-04-17 | Seagate Technology Llc | Schottky diode switch and memory units containing the same |
US7911833B2 (en) * | 2009-07-13 | 2011-03-22 | Seagate Technology Llc | Anti-parallel diode structure and method of fabrication |
US8648426B2 (en) | 2010-12-17 | 2014-02-11 | Seagate Technology Llc | Tunneling transistors |
JPWO2012114392A1 (ja) * | 2011-02-25 | 2014-07-07 | パナソニック株式会社 | 入力保護回路 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1130205A (en) * | 1964-10-31 | 1968-10-09 | Nippon Telegraph & Telephone | Coincident current magnetic core storage matrix |
US3548391A (en) * | 1968-01-15 | 1970-12-15 | Ibm | Sense-inhibit winding for magnetic memory |
US3774181A (en) * | 1971-03-25 | 1973-11-20 | Techno Marketing Inc | Current driver system for a core memory |
NL7116619A (ja) * | 1971-12-03 | 1973-06-05 |
-
1974
- 1974-02-19 US US05/443,712 patent/US3982233A/en not_active Expired - Lifetime
-
1975
- 1975-01-29 CA CA218,949A patent/CA1060991A/en not_active Expired
- 1975-02-05 GB GB488375A patent/GB1475653A/en not_active Expired
- 1975-02-13 BE BE153320A patent/BE825486A/xx unknown
- 1975-02-17 IT IT48204/75A patent/IT1029756B/it active
- 1975-02-18 FR FR7504945A patent/FR2261593B1/fr not_active Expired
- 1975-02-19 JP JP50020818A patent/JPS598900B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2507077B2 (de) | 1977-02-10 |
DE2507077A1 (de) | 1975-09-04 |
FR2261593B1 (ja) | 1977-04-15 |
FR2261593A1 (ja) | 1975-09-12 |
BE825486A (fr) | 1975-05-29 |
GB1475653A (en) | 1977-06-01 |
CA1060991A (en) | 1979-08-21 |
JPS50120223A (ja) | 1975-09-20 |
USB443712I5 (ja) | 1976-01-27 |
US3982233A (en) | 1976-09-21 |
IT1029756B (it) | 1979-03-20 |
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