JPS5985549A - Check code generating and error correcting integrated circuit - Google Patents

Check code generating and error correcting integrated circuit

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JPS5985549A
JPS5985549A JP57195492A JP19549282A JPS5985549A JP S5985549 A JPS5985549 A JP S5985549A JP 57195492 A JP57195492 A JP 57195492A JP 19549282 A JP19549282 A JP 19549282A JP S5985549 A JPS5985549 A JP S5985549A
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JP
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check code
circuit
write
information code
receiver
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Hidehiko Kobayashi
秀彦 小林
Kunio Ono
大野 邦夫
Hiroaki Shoda
正田 裕明
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NEC Corp
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NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
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Abstract

PURPOSE:To decrease the number of input and output terminals and to attain a large-scale integration for a check code generating and error correcting IC, by using the input terminals of the 1st and 2nd receivers and the output terminals of the 1st and 2nd drivers as the 1st and 2nd common terminals. CONSTITUTION:An IC is provided with the 1st and 2nd receivers 10 and 12, the 1st and 2nd drivers 11 and 13, a check code generating circuit 14, a syndrome generating circuit 15, a decoding circuit 16, a correcting circuit 17, selecting circuits 18 and 19, a writing register, a reading register, etc. The input terminal of the receiver 10 and the output terminal of a driver 11 are connected to a system bus S as common terminals; and at the same time the input terminal of the receiver 12 and the output terminal of the driver 13 are connected to a memory bus M as common terminals. Thus the number of input and output terminals is decreased for a check code generating and error correcting IC, and a large-scale integration is facilitated with said IC.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は記憶装置をはじめ広く情報処理装置に使用され
る検査符号発生および誤り訂正集積回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a check code generation and error correction integrated circuit widely used in information processing devices including storage devices.

第1の装置と第2の装置との間でデータの授受を行なう
場合に、周知のように、検査符号発生回路と誤り訂正回
路とを使用してデータのうちの悄報符号のイg頼性を向
上させるようにすることが知られている。
When transmitting and receiving data between a first device and a second device, as is well known, a check code generation circuit and an error correction circuit are used to control the error code of the data. It is known to improve sexual performance.

検査符号発生回路は、第1の装置から読み出した情報符
号を書込み情報符号として第2の装置に書き込む(全書
込み)場合、または第1の装置から読み出した情報符号
の一部と、第2の装置から読み出した情報符号の一部と
を書込み情報符号として第2の装置に書き込む(部分書
込み)場合には、それぞれの書込み情報符号に基づいて
検査符号を発生させる。この発生させた検査符号と当該
書込み情報符号とが第2の装置に送出されて書き込まれ
る。
When writing an information code read from a first device into a second device as a write information code (full write), or a part of the information code read from the first device and a second When writing a part of the information code read from the device into the second device as a write information code (partial write), a check code is generated based on each write information code. The generated check code and the write information code are sent to the second device and written therein.

誤り訂正回路は、読出し動作時に第2の装置から読み出
された情報符号と検査符号とに基づいてこの読出し情報
符号の誤り検査を行なう。この結果、誤り全検出すると
、誤りビノトヲ訂正し、この訂正づれた読出し情報符号
が第1の装置に送出される。なお、誤り訂正回路を前記
書込み動作時においても機能させ、書込み情報符号につ
いても読出し情報符号についてと同様に、誤り横用と誤
り訂正とを行ない、よりいっそう信頼性を向上させるよ
うしたものも知られている。
The error correction circuit performs an error check on the read information code based on the information code and check code read from the second device during the read operation. As a result, when all errors are detected, the error bits are corrected and the corrected read information code is sent to the first device. It should be noted that some devices are known in which the error correction circuit functions even during the write operation, and the write information code is used for error diversion and error correction in the same manner as the read information code, thereby further improving reliability. It is being

検査符号発生回路と誤り訂正回路とは、いずれもデータ
系の回路でありかつ相互間でのデータの授受を伴う場合
もあるため、一つの集積回路に収納することが望−まし
い。
Since both the check code generation circuit and the error correction circuit are data-based circuits and may involve the exchange of data between them, it is desirable that they be housed in one integrated circuit.

従来のこの種の検査符号発生および娯り訂正回路は、書
込み動作時に少なくとも第1の装置からの情報符号に基
づき検査符号を発生する検査符号発生回路と、少なくと
も読出し動作時に第2の装置からの情報符号と検査符号
とに基づきこの情報符号の誤り検査と誤り訂正とを行な
う誤り訂正回路とを含んでいる。
A conventional check code generation and correction circuit of this type includes a check code generation circuit that generates a check code based on an information code from at least a first device during a write operation, and a check code generation circuit that generates a check code based on an information code from a second device at least during a read operation. It includes an error correction circuit that performs error checking and error correction of the information code based on the information code and the check code.

このような従来構成においては、検査符号発生回路と誤
り訂正回路とのそれぞれが個別に第1の装置および第2
の装置との間に入力端子および出力端子を備える必要が
あるため、集積回路の外部端子のみならず内部端子(チ
ップ端子)も多くなり、したがってチンプサイズも犬き
くなるという欠点が占った。
In such a conventional configuration, each of the check code generation circuit and the error correction circuit is separately connected to the first device and the second device.
Since it is necessary to provide input terminals and output terminals between the integrated circuit and the device, the number of internal terminals (chip terminals) as well as the external terminals of the integrated circuit increases, resulting in a disadvantage that the chimp size becomes large.

本発明の目的は入出力端子数が少なく大規模集積回路化
に適した検査符号発生および誤り訂正集積回路を提供す
ることにある。
An object of the present invention is to provide a check code generation and error correction integrated circuit that has a small number of input/output terminals and is suitable for large-scale integration.

本発明の集積回路は、書込み動作時に第1バス上の情報
符号を受信する第ルシーバと、前記書込み動作時に少ガ
くとも前記第ルシーバの出力からなる書込み情報符号に
基づき検査符号を発生する検査符号発生回路と、前記書
込み動作時に前記書込み情報符号および前記検査符号を
第2バス上に送信する第2ドライバと、少々くとも読出
し動作時に前記第2バス上の情報符号および検査符号を
受信しかつ入力の端子が前記第2ドライバの出力の端子
と同一である第2レシーバと、少なくとも前記読出し動
作時に前記第2レシーバの出力に基づき前記第2バス上
の情報符号の誤り検査および誤り訂正を行なう誤り訂正
回路と、前記読出し動作時に前記誤り訂正回路において
訂正された情報符号を前記第1バス上に送信しかつ出力
の端子カ前記第ルシーバの入力の端子と同一である第1
ドライバ と全同一基板に収容したことを特徴とする。
The integrated circuit of the present invention includes a first luciver that receives an information code on a first bus during a write operation, and a check code that generates a check code based on a write information code that includes at least the output of the first luciver during the write operation. a code generation circuit; a second driver that transmits the write information code and the check code on the second bus during the write operation; and a second driver that receives the information code and the check code on the second bus during the read operation at least. and a second receiver whose input terminal is the same as the output terminal of the second driver, and at least during the read operation, performs error checking and error correction of the information code on the second bus based on the output of the second receiver. a first error correction circuit that transmits the information code corrected in the error correction circuit during the read operation onto the first bus, and whose output terminal is the same as the input terminal of the first luciver;
It is characterized by being housed on the same board as the driver.

次に本発明について図面全参照して詳細に説明する。Next, the present invention will be explained in detail with reference to all the drawings.

本発明の第1の実施例をブロック図にて示す第1図にお
いて、本実施例は、第2レシーバ1oと、第1ドライバ
11と、第2レシーバ12.!:、42ドライバ13と
、検査符号発生回路14と、シンドローム発生回路15
と、解読回路16と、訂正回路17と、2つの選択回路
18および19と、読出しレジスタIAと、読出し出力
レジスタIBと、2つの書込みレジスタ1cおよびID
と、書込み出力レジスタIEとから構成される。
In FIG. 1 showing a block diagram of a first embodiment of the present invention, the present embodiment includes a second receiver 1o, a first driver 11, a second receiver 12 . ! :, 42 driver 13, check code generation circuit 14, syndrome generation circuit 15
, a decoding circuit 16, a correction circuit 17, two selection circuits 18 and 19, a read register IA, a read output register IB, and two write registers 1c and ID.
and a write output register IE.

第2レシーバ100入力の端子と第1ドライバ11の出
力の端子とは共用であり、システムバスSに接続されて
いる。また、第2レシーバ12の入力の端子と第2ドラ
イバ13の出力の端子とは共用であり、メモリパスMに
接続されている。
The input terminal of the second receiver 100 and the output terminal of the first driver 11 are shared and connected to the system bus S. Further, the input terminal of the second receiver 12 and the output terminal of the second driver 13 are shared and connected to the memory path M.

第2図は第1図に示した第1の実施例(第2図における
検査符号発生および誤り訂正回路20)の−使用例を示
すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing an example of the use of the first embodiment shown in FIG. 1 (check code generation and error correction circuit 20 in FIG. 2).

メモ!J fell a m 23はプロセッサ24か
らの信号(アドレス信号、動作指定信号および起動信号
等)に基づいて、メモリバンク21捷たけメモリバンク
22とプロセッサ24との間で、レシーバ25゜28と
、ドライバ26.27と、検査符号発生および誤り訂正
集積回路20と、メモリバスMと、システムバスSとを
介してデータの授受を行なう。
Memo! The J fell a m 23 operates between the memory bank 21 and the memory bank 22 and the processor 24 based on signals from the processor 24 (address signal, operation designation signal, activation signal, etc.) 26 and 27, the check code generation and error correction integrated circuit 20, the memory bus M, and the system bus S.

レシーバ25.28と、ドライバ26.27とはメモリ
バスMとシステムバスSとにおける信号の減衰を補償す
るためのものでおる。
The receiver 25.28 and the driver 26.27 are used to compensate for signal attenuation on the memory bus M and system bus S.

先ず、書込み動作のうちの全書込み動作時においては、
プロセッサ24からのアドレス信号によりメモリ制御部
23がメモリバンク21とメモリバンク22とのうちの
1つを選択し、この選択されたメモリバンクに対してゾ
ロセッサ24からの書込11符号が、レシーバ28.シ
ステムノ(スS、検査符号発生および誤り訂正集積回路
20゜メモリバスMおよびドライバ26を経由して書き
込捷れる。このとき、検査符号発生および誤り訂正集積
回路20において、プロセッサ24からの書込み情報符
号に基づいて検査符号を発生し、この発生した検査符号
と上述のプロセッサ24からの書込み情報符号とが同じ
メモリバンクのアドレスに書き込まれる。
First, during all write operations among write operations,
The memory controller 23 selects one of the memory bank 21 and the memory bank 22 according to the address signal from the processor 24, and the write 11 code from the processor 24 is sent to the receiver 28 for the selected memory bank. .. The system node S, check code generation and error correction integrated circuit 20, writes via the memory bus M and driver 26. At this time, the check code generation and error correction integrated circuit 20 receives the write from the processor 24 A check code is generated based on the information code, and the generated check code and the above-mentioned write information code from the processor 24 are written to the same memory bank address.

第1図において、システムバスSから入力するプロセッ
サ24からの書込み情報符号はタイミングT1に応答し
て第ルシーバ10に受は入れられる。選択回路18に供
給されているバイト選択信号PSはこの場合には全ビッ
トが′1”にガっており、第ルシーバ10が保持してい
るプロセッサ24からの書込み情報符号の全バイトが、
タイミングT3とタイミングT4に応答してそれぞれ書
込みレジスタICと畳込みレジスタIDとに移送される
。書込みレジスタICと11)はそれぞれメモリバンク
21とメモリバンク22からの各曹込み情報符号を、そ
れぞれタイミングT3とタイミングT4で受は入れるよ
うにガっている。
In FIG. 1, the write information code from the processor 24 inputted from the system bus S is received by the receiver 10 in response to timing T1. In this case, all bits of the byte selection signal PS supplied to the selection circuit 18 are set to '1', and all bytes of the write information code from the processor 24 held by the receiver 10 are
They are transferred to the write register IC and the convolution register ID in response to timing T3 and timing T4, respectively. The write registers IC and 11) are configured to receive each write-in information code from the memory bank 21 and the memory bank 22 at timing T3 and timing T4, respectively.

選択回路19はバンク選択信号BSに応答して、書込み
レジスタICと曹込みl/レジスタbとのうちの1つを
選択出力する。選択回路19から選択出力されたプロセ
ッサ24からの書込み情報符号は、検査符号発生回路1
4において該書込み情報符号に基づいて発生した検査符
号とともに、タイミングT5で誉込み出力レジスタIE
に入力される。
The selection circuit 19 selects and outputs one of the write register IC and the write register I/register b in response to the bank selection signal BS. The write information code from the processor 24 that is selectively output from the selection circuit 19 is sent to the check code generation circuit 1.
4, along with the check code generated based on the write information code, the honor write output register IE is output at timing T5.
is input.

書込み出力レジスタIEの保持内容(プロセッサ24か
らの書込み情報符号と検査符号)は、タイミングT2に
応答して第2ドライバ13からメモリバスMに送出され
る。同時に、第2ドライバ13の出力は第2レシーバ1
2にも入力され、タイミングT7に応答して読出しレジ
スタIAに入力され、シンドローム発生回路15におい
て、誤り検査が行なわれる。この誤り検査はゾロセッサ
24からの噛込み情報符号から検査符号を発生し。
The contents held in the write output register IE (the write information code and check code from the processor 24) are sent from the second driver 13 to the memory bus M in response to timing T2. At the same time, the output of the second driver 13 is transmitted to the second receiver 1.
2, is input to the read register IA in response to timing T7, and is subjected to an error check in the syndrome generation circuit 15. This error check generates a check code from the bite information code from the processor 24.

この検査符号と読1tl LレジスタIAから入力され
ている検査符号との一致性’11べることにより行なわ
れる。
This is performed by checking the consistency between this check code and the check code input from the reading 1tlL register IA.

シンドローム発生回路15における誤り検査の結果によ
り、ゾロセッサ24からの書込み情報符号に誤りが無け
ればシステムの動作は続行され、引き続きメモリアクセ
スを行なうことも可能である。もし、プロセッサ24か
らの書込み情報符号に誤りがあることがわかると、シン
ドローム発生回路15は誤り信号Eをメモリ制御部23
に出力して、システムの動作を停止する。
As a result of the error check in the syndrome generation circuit 15, if there is no error in the write information code from the processor 24, the system operation continues, and it is possible to continue accessing the memory. If it is found that there is an error in the write information code from the processor 24, the syndrome generation circuit 15 sends the error signal E to the memory control unit 23.
output to stop the system operation.

以上の説明はバイト選択信号PSがオール″1nである
全書込み動作につめて行なったが、バイト選択信号PS
の少なくとも1ピツトが0′″にガっている部分書込み
動作の場合は、選択回路18にはバイト選択信号PSの
“0”のビットに対応するバイトについてはメモリバン
クからの読出し情報符号が入力する。このメモリバンク
はバンク指定信号B S If(より指定され、そこか
ら読み出された読出し情報符号が、第2レシーバ12.
読出しレジスタIA、シンドローム発生回路15.解読
回路16および訂正回路17を経由して選択回路18に
入力する。
The above explanation was focused on all write operations in which the byte selection signal PS is all "1n," but the byte selection signal PS
In the case of a partial write operation in which at least one pit of the byte selection signal PS is 0'', the selection circuit 18 receives the read information code from the memory bank for the byte corresponding to the "0" bit of the byte selection signal PS. This memory bank is designated by the bank designation signal B S If (and the read information code read therefrom is transmitted to the second receiver 12 .
Read register IA, syndrome generation circuit 15. The signal is input to the selection circuit 18 via the decoding circuit 16 and the correction circuit 17.

このとき、シンドローム発生回路15には胱出し情報符
号とともに検査符号もメモリバンクから入力され、胱出
し情報符号に対して誤り検査を行なう。誤り検査の結果
により、誤りが横用されかつその誤りが訂正可能な誤り
である場合には、解読回路16が誤り検査の結果を解読
して誤り個所全訂正回路17に指摘し、訂正回路17に
おいてこの指摘に基づき訂正した読出し情報符号が選択
回路18に入力される。
At this time, a test code is inputted from the memory bank together with the bladder evacuation information code to the syndrome generation circuit 15, and an error check is performed on the bladder ejection information code. According to the result of the error check, if the error is misused and the error is a correctable error, the decoding circuit 16 decodes the result of the error check and points it out to the error correction circuit 17. Then, the read information code corrected based on this indication is input to the selection circuit 18.

選択回路18に訂正回路17から入力した読出し情報符
号の一部と、第2レシーバ12から入力したプロセッサ
24からの書込み情報符号の一部とは書込み情報符号と
なって、上述の全書込み動作について説明したのと同様
な扱いがされる。
A part of the read information code input from the correction circuit 17 to the selection circuit 18 and a part of the write information code from the processor 24 input from the second receiver 12 become the write information code, and the above-mentioned entire write operation is performed. It will be treated in the same way as described.

次に、読出し動作時においては、プロセッサ24からの
アドレス信号によりメモリ制御部23がメモリバンク2
1とメモリバンク22のうちの−っを選択し、この選択
されたメモリバンクから情報符号力、レシーバ25.メ
モリバスM、 検査符号発生および誤り訂正集積回路2
0.システムバスSおよびドライバ27を経由してプロ
セッサ24に読与出さ゛れる。このとき、情報符号が読
み出されたのと同一のメモリバンクのアドレスから検査
符号が、情報符号とともにレシーバ25およびメモリバ
スMを経て検査符号発生および誤り訂正集積回路20に
読み比されて、この情報符号の誤り検査のために使用さ
れ、もし訂正可能な誤りがあればそれを訂正したうぇで
プロセッサ24へ送出する。
Next, during a read operation, the memory control unit 23 controls the memory bank 2 by an address signal from the processor 24.
1 and the memory bank 22, and the information encoding power from the selected memory bank is transmitted to the receiver 25. Memory bus M, check code generation and error correction integrated circuit 2
0. The data is read out to the processor 24 via the system bus S and the driver 27. At this time, the check code is read from the address of the same memory bank from which the information code was read out, together with the information code, through the receiver 25 and the memory bus M to the check code generation and error correction integrated circuit 20. It is used for error checking of the information code, and if there is a correctable error, it is corrected and sent to the processor 24.

査符号とは、タイミングT2に応答して第2レシーバ1
2に受は入れられ、続−てタイミングT7に応答して読
出しレジスタIAに移送され保持される。
The second receiver 1
The data is accepted at timing T7, and then transferred to and held in the read register IA in response to timing T7.

読出しレジスタIAに保持されている読出し情報符号と
読出し検査符号とはシンドローム発生回路15に、そし
て続出し情報符号は訂正回路17込み動作時についての
説明と同様にして、誤り個所を訂正する。
The read information code and the read check code held in the read register IA are sent to the syndrome generation circuit 15, and the subsequent information code is corrected in the same manner as described for the correction circuit 17 during operation.

訂正烙れた読出し情報符号はタイミングT6に応答して
訂正回路17から読出し出力レジスタIBに移送され、
さらに、タイミングT1に応答して第1ドライバ11に
よりシステムバスSに送出される。
The corrected read information code is transferred from the correction circuit 17 to the read output register IB in response to timing T6,
Further, the signal is sent to the system bus S by the first driver 11 in response to timing T1.

第1の実施例の効果は、書込み動作時においても第2レ
シーバ12.読出しレジ721人およびシンドローム発
生回路15を動作させることにより、特別な回路を付加
することなく、書込み情報符号と該書込み情報符号に基
づいて発生した検査符号との誤シ検葺を行なうことがで
きることである。
The effect of the first embodiment is that even during a write operation, the second receiver 12. By operating the read register 721 and the syndrome generating circuit 15, it is possible to check for errors between the written information code and the check code generated based on the written information code without adding any special circuit. It is.

第3図は本発明の第2の実施例を示し、第2レシーバ1
2と、第1ドライバ31と、第2レシーバ32と、第2
ドライバ33と、検査符号発生回路34と、シンドロー
ム発生回路35と、解読回路36と、訂正回路37と、
2つの選択回路38および39と、読出しレジスタ3A
と、2つの書込みレジスタ3Cおよび3Dとから構成さ
れる。
FIG. 3 shows a second embodiment of the invention, in which the second receiver 1
2, the first driver 31, the second receiver 32, and the second
A driver 33, a check code generation circuit 34, a syndrome generation circuit 35, a decoding circuit 36, a correction circuit 37,
Two selection circuits 38 and 39 and read register 3A
and two write registers 3C and 3D.

点線で囲まれた枠の外にある、書込み出力レジスタ3E
と、読出し出力レジスタ3Bと、第3レシーバ3Gと、
第4レシーバ3Fとは本実施例の検査符号発生および誤
り訂正集積回路と、システムバスSおよびメモリバスM
との間に外付けされる。書込み出力レジスタ3Eと読出
し出力レジスタ3Bは、それぞれ第1図に示した第1の
実施例における書込み出力レジスタIEと読出し出力レ
ジスタIBに対応し、第3レシーバ3Gと第4レシーバ
3Fはそれぞれ読出し出力レジスタ3Bと書込み出力レ
ジスタ3Eの外付けに伴い、それぞれシステムバスSと
メモリハスMからの入力ハスを形成するために付加され
たものである。
Write output register 3E outside the frame surrounded by dotted lines
, a read output register 3B, a third receiver 3G,
The fourth receiver 3F includes the check code generation and error correction integrated circuit of this embodiment, the system bus S, and the memory bus M.
It is externally attached between the The write output register 3E and the read output register 3B correspond to the write output register IE and the read output register IB in the first embodiment shown in FIG. 1, respectively, and the third receiver 3G and the fourth receiver 3F respectively correspond to the read output register These are added to form input busses from the system bus S and memory bus M, respectively, in conjunction with the external attachment of the register 3B and the write output register 3E.

回路の動作は第1図に示した第1の実施例とはソ同じで
あるので、説明を省略する。
Since the operation of the circuit is the same as that of the first embodiment shown in FIG. 1, the explanation will be omitted.

第2の本実施例の第1の効果は、読出し出力レジスタ3
Bと書込み出力レジスタ3Eとヲ県積回路に内蔵する場
合よりもこれらレジスタ出力の偏差の影w’e軽減化で
きるようになるため、これらレジスタ出力を使用する相
手回路側のタイミング設定幅を大きくできるようになり
、動作マージンが改善できることである。
The first effect of the second embodiment is that the read output register 3
B, write output register 3E, and W This means that the operating margin can be improved.

椰2の実施例の第2の効果は第1の実施例の効果と同様
である。
The second effect of the second embodiment is similar to the effect of the first embodiment.

第4図は本発明の第3の実施例を示すブロック図である
。本実施例は第2レシーバ40と、第1ドライバ41と
、第3レシーバ42と、第2ドライバ43と、検査符号
発生回路44と、シンドローム発生回路45と、解読回
路46と、訂正回路47と、選択回路48と、出力レジ
スタ49と、読出しレジスタ4Aと、書込みレジスタ4
Bとから構成される。
FIG. 4 is a block diagram showing a third embodiment of the present invention. This embodiment includes a second receiver 40, a first driver 41, a third receiver 42, a second driver 43, a check code generation circuit 44, a syndrome generation circuit 45, a decoding circuit 46, and a correction circuit 47. , selection circuit 48, output register 49, read register 4A, and write register 4
It consists of B.

第3の実施例は、第2図に示したように2つのメモリバ
ンクに対して使用できるようにはなっていない、、選択
回路48はレジスタ・バイト選択信号RPに応答して、
書込み動作時には書込みレジスタ4Bの少なくとも一部
と読出しレジスタ4Aの一部を、そして読出し動作時に
は読出しレジスタ4A’にそれぞれ受は入れるように動
作する。
The third embodiment is not adapted for use with two memory banks as shown in FIG. 2. In response to register byte selection signal RP, selection circuit 48
It operates to input at least part of the write register 4B and part of the read register 4A during a write operation, and to input the data to the read register 4A' during a read operation.

解読回路46はバイト制御部を号BCにより指定される
バイトについてのみ誤りの指定と誤り信号Eのメモリ制
御部への報告金するように構成されている。
The decoding circuit 46 is configured to cause the byte controller to designate an error only for the byte designated by the code BC and report the error signal E to the memory controller.

また、出力レジスタ49は第1図に示した第1の実施例
における読出し出力レジスタIBと書込み出力レジスタ
IEの両方の役目を担っており、タイミングT8に応答
して動作する。
Further, the output register 49 serves as both the read output register IB and the write output register IE in the first embodiment shown in FIG. 1, and operates in response to timing T8.

第3の実施例の第1の効果は、部分書込み動作時におい
て、メモリバンクからの読出し情報符号に対する誤り検
査および誤υ訂正動作と、プロセッサからの書込み情報
符号とメモリバンクからの読出し情報符号との混在情報
符号に対する検査符号の発生動作とが並行して行われる
ため、部分書込み動作の速度が向上することである。
The first effect of the third embodiment is that during a partial write operation, error checking and error correction operations are performed on the read information code from the memory bank, and on the write information code from the processor and the read information code from the memory bank. Since the check code generation operation for the mixed information code is performed in parallel, the speed of the partial write operation is improved.

第3の実施例の第2の効果は、出力レジスタを生滅でき
ることである。
A second effect of the third embodiment is that the output register can be activated or deactivated.

第3の実施例の第3の効果は第1の実施例の効果と同様
である。
The third effect of the third embodiment is similar to the effect of the first embodiment.

第5図は本発明の第4の実施例を示すブロック図である
。本実施例は第2レシーバ50と、第1ドライバ51と
、第2レシーバ52と、第2ドライバ53と、検査符号
自シンドローム発生回路54と、解読回路56と、訂正
回路57と、選択回路58と、出力レジスタ59と、読
出しレジスタ5Aと、書込みレジスタ5Bとから構成さ
れる。
FIG. 5 is a block diagram showing a fourth embodiment of the present invention. This embodiment includes a second receiver 50, a first driver 51, a second receiver 52, a second driver 53, a check code self-syndrome generation circuit 54, a decoding circuit 56, a correction circuit 57, and a selection circuit 58. , an output register 59, a read register 5A, and a write register 5B.

第4の実施例は第4図に示した第3の実施例において、
回路構成のうえで共通部分の多い検査符号発生回路44
とシンドローム発生回路45とを横置符号−シンドロー
ム発生回路54として一体化し、読み書き制御信号RW
に応答して、使い分けている点が異たっている。すなわ
ち、書込み動作時は検査符号発生回路として機能し、発
生した検査符号を出力レジスタ59に出力する。また、
読出し動作時にはシンドローム発生回路として機能し、
発生したンンドロームを解読回路56に出力する。
The fourth embodiment is the third embodiment shown in FIG.
Check code generation circuit 44 with many common parts in circuit configuration
and the syndrome generation circuit 45 are integrated as a horizontal code-syndrome generation circuit 54, and the read/write control signal RW
The difference is that they are used differently depending on the situation. That is, during a write operation, it functions as a check code generation circuit and outputs the generated check code to the output register 59. Also,
During read operation, it functions as a syndrome generation circuit,
The generated undromes are output to the decoding circuit 56.

第4の実施例の効果は、回路素子数全減少させたことで
ある。
The effect of the fourth embodiment is that the total number of circuit elements is reduced.

本発明によれば、以上のような構成の採用により、端子
の使用効率が高くなるため、集積回路内部および外部の
端子数が少なく大規模集積回路イしに適しかつ実装設計
上好都合な検査符号発生および誤り訂正集積回路を提供
することができる。
According to the present invention, by employing the above-described configuration, the efficiency of terminal use is increased, so that the number of terminals inside and outside the integrated circuit is small, making it suitable for large-scale integrated circuits and providing a test code that is convenient for mounting design. A generation and error correction integrated circuit can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図、第3図、第4図および第5図はそれぞれ本発明
の第1.第a第3および第4の実施例を示し、第2図は
第1および第2の実施例に対する一使用例を示す。 10.30,40.50・・・・・・第2レシーバ、1
1,31゜41.51・・・・・・第1ドライバ、12
,32,42.52・・・・・第2レシーバ、13,3
3,43.53・・・・・・第2ドライバ、3G ・・
・・第3レシーバ、3F・・・・・・m4vシーバ、1
4,34.44・・・・・・検査符号発生回路、15゜
35.45・・・・・・シンドローム発生回路、54・
・・・・・検査符号争シンドローム発生回路、16,3
6,46゜56・・・・・・解読回路、17.37,4
7.57・・・・・・訂正回路、18,19,38,3
9,48.58・・・・・・選択回路、IA、3A、4
A、5A・・・・・・読出しレジスタ、IB、3B・・
・・・・胱出し出力レジスタ、IC,ID、3C,3D
、4B。 5B・・・・・・曹込みレジスタ、IE、3E・・・・
・・書込みv1カレジスタ、49.59・・・・・・出
力レジスタ、20・・・・・・検査符号発生および誤り
訂正集積回路、21.22・・・・・・メモリバンク、
23・・・・・・メモリ制御L24・・・・・・プロセ
ッサ、25.28・・・・・・レシーバ、26.27・
・・・・・ドライバ、S・・・・・・システムバス、M
・・・・・・メモリバス、Tl、T2.T3.T4.T
5.T6.T7.T8 ・・・・・・タイミング、Ps
・・・・・・バイト指定(g号、BS・・・・・・バン
ク指定信号、E・・・・・・誤り信号、RP・・・・・
・レジスタ・バイト選択信号、BC・・・・・・バイト
制御信号、RW・・・・・・読み書き制御信号。
FIGS. 1, 3, 4 and 5 respectively represent the first embodiment of the present invention. FIG. 2 shows an example of use of the first and second embodiments. 10.30, 40.50...Second receiver, 1
1,31°41.51...First driver, 12
, 32, 42. 52...Second receiver, 13, 3
3,43.53...Second driver, 3G...
...Third receiver, 3F... m4v receiver, 1
4, 34.44...Check code generation circuit, 15°35.45...Syndrome generation circuit, 54.
...Check code conflict syndrome generation circuit, 16,3
6,46゜56・・・Decoding circuit, 17.37,4
7.57... Correction circuit, 18, 19, 38, 3
9,48.58...Selection circuit, IA, 3A, 4
A, 5A...Read register, IB, 3B...
...Vesical output register, IC, ID, 3C, 3D
, 4B. 5B...Shoromi register, IE, 3E...
...Write v1 register, 49.59...Output register, 20...Check code generation and error correction integrated circuit, 21.22...Memory bank,
23...Memory control L24...Processor, 25.28...Receiver, 26.27.
...Driver, S...System bus, M
...Memory bus, Tl, T2. T3. T4. T
5. T6. T7. T8 ・・・・・・Timing, Ps
...Byte designation (g number, BS...bank designation signal, E...error signal, RP...
・Register/byte selection signal, BC: byte control signal, RW: read/write control signal.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)書込み動作時に第1バス上の情報符号を受信する
第ルシーバと、前記書込み動作時に少なくとも前記第ル
シーバから出力される書込み情報符号に基づき検査符号
を発生する検査符号発生回路と、前記書込み動作時に前
記書込み情報符号および前記検査符号を第2バス上に送
信する第2ドライバと、少なくとも読出し動作時に前記
第2バス上の情報符号および検査符号を受信しかつ入力
の端子が前記第2ドライバの出力の端子と共用である第
2レシーバと、少なくとも前記読出し動作時に前記第2
レシーバの出力に基づき前記第2バス上の情報符号の誤
り検査および誤り訂正を行なう誤り訂正回路と、前記読
出し動作時に前記誤り訂正回路において訂正された情報
符号を前記第1バス上に送信しかつ出力の端子が前記第
ルシーバの入力の端子と共用である第1ドライバ と金量−基板に収容したことを特徴とする検査符号発生
および誤り訂正集積回路。
(1) a first luciver that receives an information code on a first bus during a write operation; a check code generation circuit that generates a check code based on at least the write information code output from the first luciver during the write operation; a second driver that transmits the write information code and the check code on a second bus during an operation; and a second driver that receives the information code and the check code on the second bus during at least a read operation and has an input terminal. a second receiver shared with the output terminal of the second receiver;
an error correction circuit that performs error checking and error correction of the information code on the second bus based on the output of the receiver; and an error correction circuit that transmits the information code corrected in the error correction circuit during the read operation onto the first bus; A check code generation and error correction integrated circuit characterized in that a first driver whose output terminal is shared with the input terminal of the first luciver is housed in a metal substrate.
(2)前記第2レシーバおよび前記誤り訂正回路を前記
読出し動作時および前記書込み動作時に機能させること
により書込み情報符号および該書込み情報符号に基づい
て生成された検査符号の検査をも行なうようにしたこと
e%徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の検査符号
発生および誤り訂正集積回路。
(2) By causing the second receiver and the error correction circuit to function during the read operation and the write operation, the write information code and the check code generated based on the write information code are also checked. A check code generation and error correction integrated circuit as claimed in claim (1), wherein the check code generation and error correction integrated circuit is characterized in that it is an e% characteristic.
JP57195492A 1982-11-08 1982-11-08 Check code generating and error correcting integrated circuit Granted JPS5985549A (en)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5528130A (en) * 1978-08-16 1980-02-28 Fujitsu Ltd Error correcting unit

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5528130A (en) * 1978-08-16 1980-02-28 Fujitsu Ltd Error correcting unit

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