JPS5979491A - Semiconductor integrated circuit device - Google Patents

Semiconductor integrated circuit device

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Publication number
JPS5979491A
JPS5979491A JP57189100A JP18910082A JPS5979491A JP S5979491 A JPS5979491 A JP S5979491A JP 57189100 A JP57189100 A JP 57189100A JP 18910082 A JP18910082 A JP 18910082A JP S5979491 A JPS5979491 A JP S5979491A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
timing
array
read
timing signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57189100A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Keisuke Miyamoto
佳介 宮本
Kenzo Masuda
増田 健三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Microcomputer Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Microcomputer Engineering Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP57189100A priority Critical patent/JPS5979491A/en
Publication of JPS5979491A publication Critical patent/JPS5979491A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards

Abstract

PURPOSE:To attain a high degree of integration and a high-speed operation for a semiconductor IC device by providing the 1st vertical ROM array which is precharged and discharged in the 1st and 2nd timing cycles respectively and the 2nd vertical ROM array which is discharged and precharged in said 1st and 2nd timing cycles respectively. CONSTITUTION:When a timing signal phip is set at an ''L'', a memory array ROM 1 is precharged. Then a timing signal phipd of a decoder DCR1 is set at the ''L'' in the first half cycle of the ''L'' of the signal phip to perform a precharging. A circuit FF1 fetches an address signal AD by the signal phipd. When the signal phip is set at an ''H'', the ROM1 is discharged to read out the storage information of the FF1. This read-out signal is sampled by a timing signal phis. So is with a memory array ROM2. Therefore the read-out signals are successively obtained synchronously with sampling timing signals phis and phis' in terms of an output OUT. Then the reading is apparently performed for each half cycle of the timing signal.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明11、左((型ROM (リード・オンリー・
ノηす)を含む゛1′−導体集偵回路装置に関ずろ。
[Detailed description of the invention] This invention 11, left ((type ROM (read only)
Concerning the ``1''-conductor collector circuit device including the following.

従来より、記1.キ素子としてのM OS F F、 
T(lf3縁ゲート型電界効果1−ランジスタ)を直列
(キ1(型)に接続してメでリアレイをJr(成するK
t# Q2 ROklが公知である。1−記憶4a索子
としてのM OS FrEゴは、製造マスクでの設定に
よりディゾレノシーlン型又はエンハンスメント型に形
成されるごとにより記憶情報の書込2)が行われる。
Conventionally, 1. MOSFF as a key element,
T (lf3 edge gate type field effect 1-transistor) is connected in series (K1 (type)) to form a rear array Jr (K
t# Q2 ROkl is known. 1-Memory information is written 2) in the MOS FrE as the memory 4a each time it is formed into a disolete type or an enhancement type depending on the settings in the manufacturing mask.

縦型ROMの読み出し動イ「(よ、その出カッ−Iを含
む直列M OS I” fE Tの各1ヰ続点のノー1
゛にプリチャージを行い、次いで」−記直列M OS 
F E ′rを通して出力ノードがラー′イス−1−1
・−ジされるか否かのタイナミノク動作により行わね、
る。
Vertical ROM read operation ``(Yo, the serial MOS I'' including that output I)
Precharge is performed on ゛, and then ゛ is serially connected to the MOS.
The output node is R'I-1-1 through F E 'r.
・It is done by the movement of Tainaminok whether or not it will be attacked.
Ru.

したがって、記t(M容計の増大とともP′r列形態の
Ni OS F Fi ’r”の数が増大ずろため、1
−記ヅリチャージ及びディスグー、I・−ジに要する時
1■がlt、 < i、にるので、読み出し動作が遅く
なっ−(しま)、。
Therefore, as the M capacity increases, the number of Ni OS F Fi 'r'' in the P'r column form increases,
- Since the time required for recharging, discharging, and I.-- is lt, < i, the read operation becomes slow.

そこで、メモリアレイを分割することにより、直列形態
のM OS F E Tの数も分割して、上記プリチャ
ージ及びディスヂャージ時間を短くすることか考えられ
る。しかし、この場合には、その分割とともにノそリア
レイ間に無駄な空白部分が生じるとともCご、その周辺
回路が増加するため、半導体−f−’yブザイズを大型
化さゼるという問題が生じる。
Therefore, by dividing the memory array, it may be possible to divide the number of serial MOS FETs to shorten the precharge and discharge times. However, in this case, along with the division, a wasteful blank space is created between the nozzle arrays, and the number of peripheral circuits increases, resulting in the problem of increasing the size of the semiconductor. arise.

この発明0月1的は、高集積化及び乃速動作を実現ずろ
ごとのできるItffi型ROM型金0M導体集積1川
1を各装置をjjl イJuする、二とにある。
The first object of this invention is to integrate each device with Itffi type ROM type metal 0M conductor integration, which can realize high integration and high speed operation.

この発明の111の目的は、以下の説明及び図面から明
らかになるであろう。
111 objects of the invention will become clear from the following description and drawings.

以下、この発明を実施例とともにR′P 2111に説
明する。
This invention will be explained below with reference to R'P 2111 along with examples.

第1図には、この発明が適用さi9だ縦型ROMの一実
施例のブロック図が示されている。
FIG. 1 shows a block diagram of an embodiment of an i9 vertical ROM to which the present invention is applied.

この実り3例の縦型ROMは、特に制限されないが、公
知のI) LA(−プログラマブル・ロジック・アレイ
)を(h成するために用いられる。
These three examples of vertical ROMs are used, but are not particularly limited, to construct a known LA (programmable logic array).

同図において、ROMアレイは、ROMI及びROM 
2のように2分割される。これらのメモリアレイI’?
OM1.ROM2は、特に制限されないが、pチートン
ネルMo5FETによりプリチャージ用M OS F 
E Tが構成され、nチャンネル間O5F E Tによ
り記憶用M OS F E T及びディスヂセージ用M
 OS F E 1’が構成され、これらのMOS F
 E Tが直列形態(縦型)に1と続されて、1つのカ
ラムが形成されるもの−Cある。、二のような縦型RO
Mの具体的回路構成は、公知であるのでその、l′!綱
な回路説明を省略する。ごれらのノーでリアレイROM
1.1マOM2にそれぞれそのデコーダ回路DCR1,
l’)CR2が設けられる。ぞして、そのグイナミノク
動作に対応してアドレス信号ΔDを供給するために、ア
ドレス信号ΔDを取り込むフリノブソ1′+ノブ回路F
F 1.  l” F 2が設けられている。
In the same figure, the ROM array includes ROMI and ROM
It is divided into two parts like 2. These memory arrays I'?
OM1. Although not particularly limited, ROM2 is configured to be a precharge MOSFET using a p-chi tunnel Mo5FET.
ET is configured, and the O5FET between n channels serves as a storage MOSFET and a dissipation MOS
OS F E 1' is configured and these MOS F
There is a case in which ET is connected to 1 in series (vertical type) to form one column. , vertical RO like two
Since the specific circuit configuration of M is publicly known, l'! A detailed circuit explanation will be omitted. Real array ROM in Gorera no No
1. The decoder circuit DCR1,
l') CR2 is provided. Then, in order to supply the address signal ΔD in response to the Guinaminok operation, a knob circuit 1'+knob circuit F that takes in the address signal ΔD is provided.
F1. l”F2 is provided.

また、」二記メモリーytzイROM ] 、  RO
M 2 カらの読め出し出力信−弓は、サンプリング信
号φS。
Also, ``Second Memory Ytz IROM'', RO
The readout output signal from M2 is the sampling signal φS.

φS” により動作する増幅回路Δ1.△2によってザ
ンブリング増幅されるとともに 共)1ηの出力0 [
J ’rに供給される。
The output of φS” is zumbling amplified by the amplifier circuit Δ1.Δ2 and the output of 1η is 0 [
Supplied to J'r.

この実施例では、その読7.出(〜動1′1zをpH率
よく言い換えれば、プリチャージ動作とケイスーy°ト
−ジ動−IjSとをりJイー1よく行うために、メモリ
アレイROM IとROM 2とを相補的なダーfナミ
ノク動作を行わ−Uるつずなわち、上記プリチャージ及
びディス−J〜1・−ン動作を制御するタイミング信号
φ工)を一方のメモリアレイROM 1に41を給し、
他方のノeす′/レイROM 2には、インパークIV
により反転さ・lノζタイミング信号φpを供給する。
In this example, the reading 7. In other words, in order to perform the precharge operation and the case operation IjS well, the memory arrays ROM I and ROM 2 are complementary to each other. A timing signal 41 is supplied to one memory array ROM 1 to control the precharge and discharge operations.
The other Noes'/Ray ROM 2 has Impark IV.
A timing signal φp which is inverted by ζ is supplied.

このようt1タイミング信号φp5 φpに対応さ一ヒ
て(の−)゛1゛レノ、ダニ1−ド信号を411給する
ため、デコーダIJ CRlには、そのグイナミノク動
作のための夕・rミンク信冴ψρdが供給され、デ:J
−ダI) C[?2には、タイミンク信号φpd’ が
供給される。
In this way, in order to supply 411 input signals corresponding to the t1 timing signals φp5 and φp, the decoder IJCRl is provided with the input and r mink signals for the t1 timing signal φp5 to φp. Saeψρd is supplied, and de:J
-Da I) C[? 2 is supplied with a timing signal φpd'.

ごJI、らのタイミンク信号φpd、φDd” は、」
二記フリノグフl:+ 7一ブ間路FF1.FF2の動
作タイミング信かとL7゛ζ))用いられる。
The timing signals φpd and φDd” are
2nd Furinogufu l:+7-1bu path FF1. L7゛ζ)) is used as the operation timing signal of FF2.

・ この’;’j: hiF例回路の動作を第2図のタ
イミング図にjノ’f−) ’CI!!3明づ゛る。
・This ';'j: The operation of the hiF example circuit is shown in the timing diagram of Figure 2. ! 3 It becomes clear.

;t 4ミングφpが11つし・ベルのとき、メモリー
r1・(ROMlにプリチャージが行われる。従って、
シーのj’ l’ l/スデニ!−ド信冒を形成するデ
コーダ1)CRIの夕・イミング信号φpdl;I、上
記タイミングφpのロウレベルのirI半の半周期に1
7ウレベルとなって、ブリヂャージ動作力雪iわれる。
;t 4 When φp is 11 bells, the memory r1 (ROM1 is precharged. Therefore,
Sea's j'l' l/Sudeni! - Decoder that forms a decoder 1) CRI evening/timing signal φpdl;
7 levels and the bridge's operating force was reduced.

この夕・イミング信号φpdにより、フリノブソ!lノ
ブ回+ts +rF1は、アドレス信号ΔIつを取り込
んでいる。そして、夕・イミンク信−シ〜φ丁)がハイ
l/・−ル(,1な−、ゾ、−とき、メモリアレイRO
M Iのデ(スーf−や−ジが開始され、上記フリノブ
ソI−1ノグ回1?A F T’ Iで取り込んがアド
レス信号に(♂Cった記何情刺(の読の出しが行われる
。この読み出し信号番、1.1−記り′イ゛、ング伯写
・φpのハイレベルの餞11′の所定のり・・1ミング
に発生ずるタイミンク信号φ5.により一リンブリング
されて出力される。
With this evening/timing signal φpd, Furinobuso! l knob times +ts +rF1 takes in one address signal ΔI. Then, when the evening signal (shi~φd) is high l/・-le (,1 na-, zo, -), the memory array RO
MI's de(suf-ya-ji) was started, and the above-mentioned Furinobuso I-1 Nog times 1? A F T' I was taken in, but the address signal (♂C) was read out. This read signal number, 1.1-recorded, is linked by the timing signal φ5, which is generated at a predetermined interval of the high-level signal 11' of φp. Output.

一方、上記タイミンク信号φp&)l只転イJ1署φl
’Jによりグイナミソク動作号るノ′1′:すj’ 1
.・1′)ン0N12は、上記メモリアレ・イ1ぐOF
/+ +と(,11逆のタイミノグ周刈により動作する
。−4′、fわら、十記タfミング信りφpによりノー
′l:υ″/しく RすMlをプリチ・ヤーンさ−u′
Cいるとき、タイミンク信号−φ■)がハイレベルとな
って、ノー8リアL・・i’R(ン[\1シゝの)′イ
スヂ1−ジを行わゼ、タイミング信号φpに、1、リメ
1:す)′I/イ1ンOMIをディスヂ千−ジさセてい
るとき、夕・fミング信号φpが11ウレベルとノX 
、、 71.、! i) IJ −2’ L、 イRO
M 20) 7’リヂヤージをfiわ−l′Cいビ、。
On the other hand, the above timing signal φp&)l just turns A J1 station φl
'J makes a big move '1': Suj' 1
..・1') N0N12 is the memory array I1G OF mentioned above.
/+ + and (, 11 It operates by reverse timing log cutting. -4', f straw, Juki timing f timing belief φp makes no'l:υ''/. ′
When C is present, the timing signal -φ■) becomes high level, and the No. 8 rear L... , Rime 1: Su)' When the I/I 1-in OMI is being set up, the evening/f timing signal φp is at the 11 level and the
,, 71. ,! i) IJ-2'L, IRO
M 20) 7' Lidjiage fiwa-l'C Ibi.

ごのようなグイナミノク動作に(メt、′(、そのデ:
1−ダl) CR2のタイミング信号φ11cI’ 及
びリンブリングタイミング信はφS′ が1−記同(r
lのよ1なi!Jl連をもって設定されている。
Guinaminoku movement like this (met, ′(, its de:
1-da l) The timing signal φ11cI' of CR2 and the rimbling timing signal are φS' as 1-da l)
l no yo 1 i! It is set with the JL series.

しブーか、“c′:  出力Ot、J Tからみた場合
、ザンブリング3’ f Sング(+’+ 乞φS、φ
S′ に同期して次〕、にafl r?j出し信すが1
ηられ、見かけ」−タイミング(r’j ”’3φpi
−p)の半周期毎の読み出しを行)こ・しができろ。
Shibuka, "c': Output Ot, J When viewed from T, Zumbling 3' f Sng (+'+ BegφS, φ
In synchronization with S′, afl r? j out believe 1
η, apparent ”-timing (r'j ”'3φpi
-p) can be read every half cycle of line).

この’−t’: h;叫5りに17(lえば、大記1.
き容量化においても、メモリ’j” L/イを最小の2
分割に抑えることができろため、高集■青回路を実現す
るとともに、上記のイc1jの花゛l:み出し動作に、
」、り凸速化も図ることかできる。
This '-t': h; shout 5 ri ni 17 (l, Taiki 1.
Even when increasing the capacity, the memory 'j' L/I is reduced to the minimum 2
Since it can be suppressed to division, it is possible to realize a high-density blue circuit, and also to achieve
”, it is also possible to increase the speed of the convexity.

ゴ、た、−!記のようにメモリ“アレイをCM OS回
]?、3により<r>成した場合には、メモリアレイで
の直流電流を消費しないから低消費電力化を図る−1−
ご有利なものとなる。
G-ta-! If the memory array is configured using CMOS times]?, 3 as shown in the figure below, the memory array will not consume DC current, resulting in lower power consumption.-1-
It will be beneficial.

この発明は、n;1記実施例に限定されない。This invention is not limited to the n;1 embodiment.

上記2分割のメモリアレイをノt(木にして、9[冒′
1タイミングを例えば1774周、!IQ−Jつ′→ら
・υてψNiする2糾のメモリアレイを用いろことGに
より、さらにその高速化を図るごとがCき乙。
If the memory array divided into two is made into a tree, 9 [blank]
For example, 1 timing is 1774 laps! It is possible to further increase the speed by using two memory arrays, IQ-J'→ra・υ and ψNi.

また、そのための周辺回路のタイλング制(;[1目ニ
ド、種々の実施形態をI、fることが−Cきるもの−C
ある。
In addition, for this purpose, the tying system for peripheral circuits (;
be.

この発明は、上記P 1.八をl?Y′)tQ−JるΔ
N DアL・イ、○Rアレイの他、各種デコーJ+回1
1X+等広く利用することかできるものである。
This invention is based on the above P1. L for eight? Y′)tQ−JruΔ
N D, L, I, ○R array, various decoding J + times 1
It can be widely used such as 1X+.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、この発明が適用された縦型RすN1の一実施
例をしめずプ177りIC4、 第2図は、その動作を6:λ明するための夕・fζング
図である。
FIG. 1 shows an embodiment of the vertical type RSN1 to which the present invention is applied, and FIG. .

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、fr;+のタイミング周期にプリチャージが行わわ
、(i+17のクイミング周j111にディスチャージ
が行わわろ第1の1((型ROMアし・イと、−に記憶
1のり・(ミング周期にディスチャージが行われ、上記
第2の夕・イミング周期にプリチャージが行われる第2
のXIy型ROMアレ・fとを含むことを特徴とする」
′−717体11−J♂([房1?&装置。 2、」1記1?OMアレイ及びその周辺回路は、0M0
8回118により溝底されるものであることをQ!?徴
とり611.1目’1lli?求の範囲第1項記載の半
導体梨イ?1回1修シ・装置。 3、L記憶 OMアレイは、P T−Aを構成するもの
であることを特徴とする特許請求の範囲第1又はWS 
21口記載の半導体集積回路装置。
[Claims] Precharging is performed in the timing period of 1, fr; A second battery in which discharge is performed during the Nori/timing cycle and precharge is performed during the second evening/timing cycle.
It is characterized by containing an XIy type ROM array f.
'-717 body 11-J♂ ([cell 1? & device. 2,"1 note 1? OM array and its peripheral circuit are 0M0
Q! Is it the bottom of the groove by 8 times 118? ? Sign 611.1 '1lli? Is the semiconductor described in item 1 the scope of the request? One repair/device at a time. 3. Claim 1 or WS characterized in that the L storage OM array constitutes a PTA.
21. Semiconductor integrated circuit device as described in item 21.
JP57189100A 1982-10-29 1982-10-29 Semiconductor integrated circuit device Pending JPS5979491A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06215595A (en) * 1993-01-19 1994-08-05 Toshiba Corp Semiconductor storage
US6385126B2 (en) * 2000-01-22 2002-05-07 Samsung Electronics Co., Ltd. Clock synchronization circuit and semiconductor device having the same
US6449213B1 (en) * 2000-09-18 2002-09-10 Intel Corporation Memory interface having source-synchronous command/address signaling

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