JPS5975494A - Semiconductor storage device - Google Patents

Semiconductor storage device

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Publication number
JPS5975494A
JPS5975494A JP57186023A JP18602382A JPS5975494A JP S5975494 A JPS5975494 A JP S5975494A JP 57186023 A JP57186023 A JP 57186023A JP 18602382 A JP18602382 A JP 18602382A JP S5975494 A JPS5975494 A JP S5975494A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mode
mode selection
signal
circuit
shift register
Prior art date
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Pending
Application number
JP57186023A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsuo Matsumoto
哲郎 松本
Masamichi Ishihara
政道 石原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS5975494A publication Critical patent/JPS5975494A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

PURPOSE:To reduce the manufacturing cost and to improve the memory function, by providing a mode execution circuit and setting selectively the mode to form the memory having plural read/write modes with the same mask pattern. CONSTITUTION:A cell array 1 where plural memory cells are arranged in matrix is provided, a desired data is read out sequentially from the array 1 based on an address signal applied externally so as to write data in the array 1. In this case, mode executing circuits 8-11 execute plural different read/write systems. A mode selecting set circuit 8 transmits a signal selecting and executing one of the read/write systems.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明に、半導体記憶装置に関し、待に胱出し畳込み
方式の異なる複数個のモード?備え、かっこ扛らのモー
ドのうち仕慧のモードτ迅択、設定でさるようにδnだ
半導体配憶装置Jiに関テる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor memory device, and the present invention provides a plurality of different modes of convolution method. In preparation, among the various modes, the operating mode τ is quickly selected, and as shown in the setting δn, it is related to the semiconductor storage device Ji.

近年、64にピントダイナミックRAM(ランタム・ア
クセス・メモリ)のような大容量メモリにおりてに、必
要なビン数ケ削減するためにアドレスマルチプレクス方
式が採用芒れている。このアドレスマルチプレクス方式
勿採用した場合、アドレス信号が2回に分けて供給子れ
るため、アクセス時間がその分長くなる。そこで、こf
’1M消して高速読出し1.f!#込みt可能にする方
式として、ベージモードやニブルモード、バイトモード
等の各種の胱出し書込みモードが提案aれている、こn
らのモードに共通している点に、最初の行アドレス信号
とクリアドレス信号か取り込1れた佐に−1列アドレス
侶号のみの供給あるいは列アドレス・ストローブ信号の
トグルたけで、連続して復叔ピントのデータの読出し、
嚇込みが付なわnる工うVCされている点である。こn
によって、少なくとも行アドレス信号の供給に必蕾な時
間が不安となって、全体としてのアクセス時間が短縮さ
れる。
In recent years, address multiplexing methods have been adopted in large capacity memories such as 64-pin dynamic RAM (random access memory) in order to reduce the number of required bins. Of course, if this address multiplex method is adopted, the address signal is supplied twice, and the access time becomes correspondingly longer. Therefore, here
'1M erase and high speed read 1. f! Various types of writing modes, such as page mode, nibble mode, and byte mode, have been proposed as methods to enable # writing.
What these modes have in common is that when the first row address signal and clear address signal are taken in, the -1 column address signal alone is supplied or the column address strobe signal is toggled, resulting in continuous operation. Read the data of the fushu focus,
The point is that VC is being used with a lot of intimidation. Kon
As a result, at least the time required to supply the row address signal becomes less secure, and the overall access time is shortened.

度近、256にビットや1メカヒントのような大容量メ
モリでに、このような各種の読、出し書込みモード全適
用することが一般的にされつつめる。
In recent years, it has become common to apply all of these various read/write modes to large-capacity memories such as 256 bits or 1 mechanical hint.

ところが、従来提案さnている方式では、各モード別に
製品化されるようにさnていた。
However, in the conventionally proposed methods, each mode was commercialized separately.

そこで、この発明は、第1に、同一のマスクパターンで
ノーマルランダムアクセスモードやベージモード、ニブ
ルモード、バイトモード等の種々の胱出し書込みモード
ヶ備えた牛4体記憶装置’に構成できるようにすること
を目的とするっ本発明の池の目的に、外部から供給さ1
2るモード迦択用制御侶号に基づいて上記各種モートの
うち一つ紫選択して、選択さnたモードに従って読出し
、書込み動作を行なうようにδf″1.た牛轡俸把憶装
置勿提供することにある。
Therefore, firstly, the present invention makes it possible to configure a 4-cow storage device with various bladder write modes such as normal random access mode, page mode, nibble mode, and byte mode using the same mask pattern. The purpose of the pond of the present invention is to
2. Based on the mode selection controller number, one of the above various modes is selected and the read and write operations are performed according to the selected mode. It is about providing.

更に本発明の池の目的に、時分割方式でアドレスビンか
らモード選択用制動信号を取り込み、任意のモード勿辿
択できる工うにδれた半導体配憶装置忙提供することに
ある。
A further object of the present invention is to provide a semiconductor memory device which is capable of taking in mode selection braking signals from address bins in a time-division manner and selecting any mode.

本発明の更に油の目的は、以下の実1Mクリの説明の中
において明らかにちれるでろろう。
The purpose of the further oil of the present invention will become clearer in the following description of real 1M chestnut.

以下図面を用いてこの発明ケ説明する。This invention will be explained below using the drawings.

第1図は、181としてアドレスビンからモード選択用
の制−信号を織り込んでモードヲ泗択する工うにδnた
ダイナミックRAMの概略構成?示す。同図において、
1点鎖線で囲1れた各ブロックに、周知の半導体集積回
路技術によって、1つの半導体基板、例えばシリコン基
数に形成さ1Lる。
FIG. 1 shows a schematic configuration of a dynamic RAM in which δn is used to select a mode by incorporating a control signal for mode selection from an address bin as 181. show. In the same figure,
Each block surrounded by a one-dot chain line 1 is formed on one semiconductor substrate, for example, a silicon substrate, using well-known semiconductor integrated circuit technology.

第1図におりて、1i64にピントのメモリセルが、列
えば256X256ビントのLつなマトリックス状に配
tされてなるメモリセルアレイである。脣に匍]限δn
ないが、不実施クリにおいては、センスアンプがこのメ
モリセルアレイシこ言1nでいる。
In FIG. 1, it is a memory cell array in which memory cells with a focus of 1i64 are arranged in an L matrix of 256×256 bits.脣に匍】limit δn
However, in the non-implemented case, the sense amplifier is in this memory cell array.

2a、2bHアドレスパンファ回路で、このアドレスバ
ッファ回路2 a 、 2 bicH1図示しないマイ
クロプロセンサ(以下CPUと称する)等から2回に分
けて供給されるX糸のアドレス1d号AX0〜AX7 
とY糸のアドレス1西号A y o〜A y ?がそれ
ぞn入力される。
2a, 2bH Address buffer circuits 2a, 2bicH1 Addresses of X thread 1d AX0 to AX7 supplied in two parts from a micro processor sensor (hereinafter referred to as CPU), etc. not shown.
and Y thread address 1 west issue A y o ~ A y? are inputted n times.

3 a 、 a bU上Mdアドレスバッファ回路2a
3 a, a bU upper Md address buffer circuit 2a
.

2bの出力信号ax1+ azl(L”0〜? )とa
yt’司(1=0〜7)會受けて、上記メモリセルアレ
イ1の中からアドレス信号Axt ” Ayt(i=Q
〜7)に対応する−のメモリセル勿辿択するためのXデ
コーダおよびXデコーダである。
2b output signal ax1+ azl (L”0~?) and a
yt' (1=0 to 7), the address signal Axt''Ayt(i=Q
These are an X decoder and an X decoder for selecting - memory cells corresponding to 7).

なお、aX□とa x 1及びay□と扇脈七nぞn互
いに相補的な信号である。
Note that aX□, a x 1, ay□, and fan pulse 7nzon are mutually complementary signals.

4はタイミング発生回路で、このタイミング兄生回路4
は、C!PU等から供給される何アドレスストローブ信
号(以下RAS信号と称する)およヒ列アドレスストロ
ーブ信号(以下OA 81M号と称する)に基づいて、
上記アビ22フフフフ回路2a、2bとX、Xデコーダ
3a、3bi動作aぜる制御信号φ工8.φ81.φ7
+ ’φア3.φdi ’以下に述べるモード選択回路
の動作勿制真する1ざ号φd2及び読み出し書き込み制
(至)回路への制御1g号φ。1等2発生する。
4 is a timing generation circuit, and this timing generation circuit 4
Ha, C! Based on the address strobe signal (hereinafter referred to as RAS signal) and column address strobe signal (hereinafter referred to as OA 81M) supplied from the PU, etc.
The control signal φ which combines the operation of the above-mentioned Abi 22 fufufu circuits 2a, 2b and X, X decoders 3a, 3bi 8. φ81. φ7
+ 'φa3. φdi ' 1st signal φd2 which disables the operation of the mode selection circuit described below, and 1g signal φ which controls the read/write control circuit. 1st and 2nd class will occur.

5にメインアンプでアリ、メモリセルアレイから出力さ
れたデータを壇暢して、ラッチする。
5, the main amplifier transmits and latches the data output from the memory cell array.

また、特に制限されないが、メインアンプ5には、Xデ
コーダ3bの出力信号ヌに、後で述べるシフトレジスタ
の出力信号に裏って制御されるスイッチ回路が含1れて
いる。Yテコーダ又にシフトレジスタ[よって選択δn
たスイッチ回路ケ弁して、Pyruのメインアンプにラ
ンチさnでいたデータが、入出力バッファに送出芒れた
り、あるいは、入出力バッファからのデータが、既望の
メモリセルに暑き込1れるようにさnている。
Further, although not particularly limited, the main amplifier 5 includes a switch circuit 1 that is controlled by the output signal of the X decoder 3b and the output signal of a shift register, which will be described later. Y-tecoder and shift register [therefore selection δn
The switch circuit is configured so that the data that was launched into Pyru's main amplifier is sent to the input/output buffer, or the data from the input/output buffer is transferred to the desired memory cell. I'm here.

上述したメモリセルアレイ1及び上記メインアンプ5に
ついては、後で第5図(A)及び第5図(B) ’c用
すて畦しく説明するっ 6に、入出力バッファであシ、読出し書込みill@1
回路7からのコントロールイぎ号φ。、に基ついて、)
 イア 77 フ5 カら込らnて米たデータ?出力序
子I)outに出力するが、めるI/′1は、入力端子
Dlnからの毎号tメインアンプtブi゛L、で、メモ
リセルアレイ内の選択δnたメモリセルVこ伝えるかの
動作勿行なう。
The above-mentioned memory cell array 1 and main amplifier 5 will be explained in detail later in FIGS. 5(A) and 5(B). ill@1
Control key signal φ from circuit 7. , based on)
Ia 77 Fu 5 Is the data included? The output order I) is output to the output terminal I/'1, which is transmitted from the input terminal Dln to the selected memory cell V in the memory cell array at each main amplifier tbIL. Do not move.

続出し畳込み制御回路7は、nnrsr2タイミング元
午回路4から供給される内S制御16号φ。1と、CP
U等から供給芒れるライトイネーブル信号WEとに基づ
いて、入出カバソファ6に対して、過当なコントロール
信号φ。、音出力する工うにさnている。
The successive convolution control circuit 7 receives the inner S control No. 16 φ supplied from the nnrsr2 timing Geno circuit 4. 1 and CP
Based on the write enable signal WE supplied from U etc., an excessive control signal φ is sent to the input/output cover sofa 6. , there is a sea urchin that outputs sound.

この実施列においては、上記構成の他に、以下に述べる
ような各回路が新らたに設けら几ている。
In this embodiment, in addition to the above configuration, various circuits as described below are newly provided.

8に、モード選択回路であって、爵に制限もれないが、
過当な論理ゲート2組み合せて構成ちれたデコーダによ
って構成されている。
8. It is a mode selection circuit, and although there are no limitations to this,
It is constituted by a decoder constructed by combining two appropriate logic gates.

9に、Y−DEC(Xデコーダ)#51I坤回路でろっ
て、モード選択回路8からの出カイぎ号φア、φ、ケ受
けて、Xデコーダにその状態ケ決めるための制@j回路
φア。τ出力する。
9, the Y-DEC (X decoder) #51I circuit receives the output signals φA, φ, and from the mode selection circuit 8, and controls the X decoder to determine its state. φa. Output τ.

10に、上記モード選択回路8からの出力信号φ8.φ
p’l−受けて、シフトレジスタ11の状態を制御する
ための制■信号を出力するS、R(シフトレジスタ)制
御回路である。
10, an output signal φ8. from the mode selection circuit 8. φ
This is an S, R (shift register) control circuit which receives a signal p'l and outputs a control signal for controlling the state of the shift register 11.

シフトレジスタllに、後で第3図及び第5図(Ajを
用いて詳しく説明するか、例えは複数のフリンプフロン
ブによって構成δn、yc川変シフ用レジスタである。
The shift register 11, which will be explained in detail later using FIGS. 3 and 5 (Aj), is, for example, a shift register composed of a plurality of flimps δn, yc.

年517.1 CA) ij 、上記メモリセルアレイ
1.Xデコーダ3b、Xデコーダ3a、メインアンプ5
.シフトレジスタ11及び入出力バッファ6の詳細なフ
ロンク図である。
Year 517.1 CA) ij, the above memory cell array 1. X decoder 3b, X decoder 3a, main amplifier 5
.. 3 is a detailed front diagram of the shift register 11 and the input/output buffer 6. FIG.

この実1#11+IIにおいてに、翁に制限ちれないが
、いわ(至)る2父点方式でメモリセルが配置δれてい
る、丁なわち、メモリセルは、第5区1込ンにおいて0
印で示尽nている裏うにXデコーダの出力ノードに結合
δnたワード41JWLt)(n ””0〜255)と
データNDn又UDn (n=Q 〜255 )との交
点に設けらnでいる。
In this fact 1#11+II, although it is not limited to the old man, the memory cells are arranged in the so-called two-point system. 0
As shown in the figure, a word 41JWLt) (n "" 0 to 255) coupled to the output node of the X decoder is connected to the output node of the .

メモリセルとしては、爵に制限さ扛ないが、第5図中)
vC示逼れているように、1個の情報記憶用キャパシタ
CMと、アドレス供択用MO8FET(絶縁ケート型蒐
界刈果トランジスタ)QMとに1つてm成さt′L7?
1)ランジスタ型メモリセルが使われている。
As a memory cell, there is no limit to the number of cells (in Figure 5).
As shown in vC, one information storage capacitor CM and one address supply MO8FET (insulated gate type field effect transistor) QM are formed t'L7?
1) A transistor type memory cell is used.

1iのデータ線Dn  、Dn間ICU 、センスアン
プSAnとメインアンプMA、lとかxlkタリQCm
台されてAる。また1対のデータ線Dn 、Doに、そ
れぞれ、Yデコーダ3bからのデコード出力信号7 n
 又n 、この出力信号ynに対応したシフトレジスタ
11内のフリツプフロツプFF、からの出力信号によっ
てスイフチ1ti11@Iδnるスイッチ回路SWn 
h弁して、1対のコモンデータ線CD 、 CDに結合
さnている。
1i data line Dn, ICU between Dn, sense amplifier SAn and main amplifier MA, l or xlk Taly QCm
A is placed on the table. Further, a decode output signal 7n from the Y decoder 3b is applied to the pair of data lines Dn and Do, respectively.
In addition, the switch circuit SWn is switched to the switch 1ti11@Iδn by the output signal from the flip-flop FF in the shift register 11 corresponding to this output signal yn.
It is coupled to a pair of common data lines CD and CD.

上記シフトレジスタ11に、候で第3図を用いて詳しく
説明するが、シフトレジスタ11勿栴成する各フリツプ
フロツプU、Yデコーダ3bのそnぞれ対応するデコー
ド出力信号に工って状伸か設定芒扛る工うにさnている
As will be explained in detail with reference to FIG. 3, the shift register 11 is modified by modifying the decoded output signals corresponding to each of the flip-flops U and Y decoder 3b formed in the shift register 11. The settings are detailed.

上す己1対のコモンデータ豊OD、CDi’ff、そn
ぞn入出カバソファ6に結合さ扛ている。
A pair of common data Yutaka OD, CDi'ff, son
The input and output are connected to the cover sofa 6.

なお、第5図(4)においてに、図面r部平にするため
に、ダミーセルに省略さnている。
In addition, in FIG. 5(4), dummy cells are omitted in order to make the r part of the drawing flat.

次に、この実施的の動作を説明する。Next, this practical operation will be explained.

1ず、ノーマルランダムアクセスモード[j、−i’j
る1ピント率位の読み出し、畳き込み動作?第1図、第
5図及び第2図音用いて説明する。
1. Normal random access mode [j, -i'j
Readout of 1 focus rate, convolution operation? This will be explained using FIG. 1, FIG. 5, and the second figure sound.

外部から供給されるRAS信号が、第2図に示す工つに
、ハイレベルからロウレベルに立ち下がると、タイミン
グ発生回路4からアドレスバッファ回路2aK対してハ
イレベルの開側1百号φ□が出力さnる。すると、アド
レスバッファ回路2aは、そのときアドレスビンに供給
8扛ているアドレス1百号Axo−Ax、r取り込んで
内部にランチする。続いて、タイミング発ケ回路4から
Xデコーダ3aに対して、ハイレベルの制飢1g号φ工
、が出力さnる5すると、Xデコーダ3aにアドレスビ
ンフア回1E62aからの出力信号a   、a   
にXi     Xl 基ついて、アドレス1g号AXo〜Ax、に対応する一
本のワード線紮辿釈レベルにする。そして、選択δf′
L、たワード純に接続芒れている丁べてのメモリセルの
データ丁なわち1行分のデータが内部のセンスアンプS
Anによす増1@されて、メインアンプMAnK込らn
て、増幅、ランチ芒rLるっタイミング発生回路4に、
外部から供給δれるOA8信号が、第2図の工うにRA
8佃号信号続いてハイレベルからロウレベルKf化−a
nると、アドレスバッファ回路2bに対してハイレベル
の制御信号φyよ出力する。すると、アドレスバッファ
回路2bは、そのときアドレスビンに供給aれているア
ドレス信号A y o〜A y y  勿取り込んでラ
ンチする。絖いて、タイミング発生回路4からハイレベ
ルの制御16号φy2が出力芒nてYデコーダ3bが動
作ちれる。Yデコーダ3bにアドレスバッファ回路2b
の出力a y t・a y tに基ついて、アドレス信
号Ayo〜A y y  に対応する1つのデコード出
力信号7nkハイレベルにし、残9のチーコード出力信
号tロウレベルにする。こnにより、路SWnに結合δ
nている1対のデータ線DΩ、Dnn5、”f:t”L
ソf’Lコモンデータ巌OD、CDに電気的に結合され
る。丁なわち、2561固のメインアンプMAにランチ
されていたデータのうち、−M択さnたデータ線上のメ
モリセルのデータか人出カバソファ6に込ら扛る。入出
カバソファ6は、6元出し省込A制−回路7からのコン
トロール信号φ。2に基ついて、メインアンプ5から送
らnて米たチータン出力端子Doutに出力する。
When the RAS signal supplied from the outside falls from a high level to a low level as shown in FIG. 2, the open side No. 100 φ□ at a high level is output from the timing generation circuit 4 to the address buffer circuit 2aK. Sanru. Then, the address buffer circuit 2a takes in the address number 100 Axo-Ax,r that is being supplied to the address bin at that time and launches it internally. Subsequently, the timing generator circuit 4 outputs a high-level signal 1g to the X decoder 3a, and then output signals a and a from the address buffer circuit 1E62a to the X decoder 3a.
Based on Xi Then, the selection δf′
L, the data of all the memory cells connected to the word net, that is, the data for one row, is sent to the internal sense amplifier S.
Added 1@ to An, including main amplifier MAnK.
Then, amplify and launch the timing generator circuit 4.
The OA8 signal supplied from the outside is connected to the RA in Figure 2.
No. 8 signal then changes from high level to low level Kf-a
When n, a high level control signal φy is output to the address buffer circuit 2b. Then, the address buffer circuit 2b takes in the address signals A y o to A y y that are being supplied to the address bin at that time and launches. As a result, the control signal 16 φy2 at a high level is output from the timing generation circuit 4, and the Y decoder 3b is activated. Address buffer circuit 2b to Y decoder 3b
Based on the outputs ayt and ayt, one decode output signal 7nk corresponding to address signals Ayo to Ayy is set to high level, and the remaining nine Qi code output signals t are set to low level. Due to this, the coupling δ to the path SWn
A pair of data lines DΩ, Dnn5, “f:t”L
It is electrically coupled to the SOF'L common data OD and CD. In other words, among the data launched in the main amplifier MA of the 2561, the data of the memory cells on the -M selected data lines are stolen into the cover sofa 6. The input/output cover sofa 6 receives a control signal φ from the 6-source output saving A system-circuit 7. 2 is sent from the main amplifier 5 and output to the output terminal Dout.

暑キ込み動作においては、人出力・くツファ6か、コン
トロールイ百号φ。、に基すいて、入力端子Dinから
のチータン叡り込み、コモンデータ4ycD。
In heat-intensive operations, the human output is 6 or the control is 100 φ. , based on the input terminal Din, common data 4ycD.

CDの電位ケ、この取p込んだデータに従つ1ζ埴にす
る、子連した読み出し動作のとさと同じようにアドレス
信号に裏って選択も九だメモリセルに、コモンデータ線
CD又はCDの電圧に応じた電圧が印加δn1取り込ん
たデータが違択さnたメモリセルに嚢き込1nる。
The potential of the CD is set to 1ζ in accordance with this captured data.Similar to the continuous read operation, the selection is also made in accordance with the address signal.The common data line CD or CD is connected to the memory cell. A voltage corresponding to the voltage of .delta.n1 is applied, and the captured data is transferred to the selected memory cell.

次に、ベージモードのときの動作について、第1区1.
第2図及び第5図(N紫用いて説明する。
Next, regarding the operation in page mode, Section 1.1.
Figures 2 and 5 (explained using N purple).

が豆ち下がってメインアンプ5 VCよ#)増幅された
データが入出力バッファ6から出力さnた佼、第2図に
示す工うにOA El 信号か立ち上がると、タイミン
グ発生回路4から−・イレベルの1111両信号φdl
が出力さnる。すると、アドレスノくンファ回路2bが
このとさアドレスビンに惧帽δnている信号音をジ込ん
でランチする。次に、タイミング発生回路4からハイレ
ベルの制御信号φ1.が出力される。これにエリアドレ
スバッファ回路2bの出力4g号a   、a−がモー
ド選択回路8に取りyi’    71 込1nてデコードも旧モードi4択信号が形成される。
When the main amplifier 5 (VC) goes down, the amplified data is output from the input/output buffer 6, as shown in Figure 2. When the OA El signal rises, the timing generation circuit 4 outputs an error level. 1111 both signals φdl
is output. Then, the address signal input circuit 2b inserts the signal tone δn into the address bin and launches it. Next, a high level control signal φ1. is output. In addition, the outputs 4g (a) and (a-) of the area address buffer circuit 2b are taken to the mode selection circuit 8 and decoded to form the old mode i4 selection signal.

CAS旧号の最初の立ち上がりに同期してアト。Ato synchronized with the first rise of the old CAS issue.

レスピンには、選択ちnるべき各モードに対比、して、
予め向えば表1のように設足δitている8ピントから
なるモード選択用7ttl+御1ぎ号が惧鞄芒nるよう
[aれてbる。従って、CAS信号の豆も上がりに同期
してアドレスビンに供給さ′nたモード遇択用制#信号
が、丁べて1XL”レベルにδ扛ていると、モード選択
回路8においてこルがデコードδれて、ベージモード盆
実竹さぜる工うなモード退部信号φFが出力芒nる(第
2図参照)。
For Respin, you should choose between each mode, and
If you face it in advance, as shown in Table 1, the mode selection 7ttl + 1st gear consisting of 8 pins with the 8 pins installed will be placed in the bag. Therefore, if the mode selection system # signal supplied to the address bin in synchronization with the rise of the CAS signal rises to 1XL'' level, this occurs in the mode selection circuit 8. After decoding δ, the beige mode exit signal φF is output (see FIG. 2).

以下ボ白 表   1 すると、Yテコーダ制机回路9がこのモード選択信号φ
 忙受けて、Yブコユダ3bオアクセス川HQに芒ぜる
。そのため、次に丹ひCAB信号が立ち下がりたときに
アドレスバンファl!2I略2bK取り込’Efiたア
ドレス信号Aア。〜Aア、に対応するデータ緑が退部a
 tt 、6.こ11によって、メインアンズ5にラッ
チ6れてい1ζテータのうち、選択δf′したデータ鞠
上のデータが入出力バッファ6に供紹葛れて出力名nる
。このようにして、その佐aABイM号の立ち下がジの
度にこnに同期して列アト1116号A y tのみが
仄々と惨ジ込ynで、対応するデータが読み出され、ペ
ージモードが実行される。
The following is a white table: 1 Then, the Y-tecoder control circuit 9 receives this mode selection signal φ.
Due to my busy schedule, I planted Ybukoyuda 3b Oaccess River HQ. Therefore, the next time the Tanhi CAB signal falls, the address buffer l! 2I approximately 2bK taken in 'Efi address signal Aa. ~A, the data corresponding to green is withdrawal a
tt, 6. As a result of this step 11, the data on the selected data δf' out of the data 1ζ held in the latch 6 in the main amplifier 5 is provided to the input/output buffer 6 and becomes the output name n. In this way, every time the SA AB I M falls, in synchronization with this, only the row A 1116 A y t is faintly mixed, and the corresponding data is read out. Page mode is executed.

次に、アドレス信号を変化させないで、複数のデータr
シリーズに入出力させるモードヶ夷行する場合の動作r
2第1図、第2図、第3図及び第5図(4h用Aて説明
する。その1りとして、ニブルモードでの動作音説明す
るっ 上述し7j O、A S信号の1回目の立ち上が9に回
期してアドレスパンファ回路2b[取り込1れだモード
選択信号が、表1の(2)の↓うに、アドレスA、、A
、のみがゝゝH”レベル[iれていると、モード選択回
路8においてこnがテコ−ドロれて、ニブルモードr実
行させるようなモード選択信号φ、が出力葛nる。する
と、このモード選択信号φNk受けてシフトレジスタ制
御回路10が、aJ変シフトレジスタ1tv4iのシフ
トレジスタとして動作させる。このとき、Yデコーダ制
両回鮎9にモード選択信号φNt受けて、Yデコーダ3
btアクセス名ゼないようにする。
Next, without changing the address signal, multiple data r
Operation when inputting/outputting the series
2 Figures 1, 2, 3, and 5 (A for 4h will be explained. As one of them, the operation sound in nibble mode will be explained. At the rising edge of 9, the address expander circuit 2b [fetch 1 mode selection signal is set to address A, , A, as shown in (2) of Table 1.
, is at the "H" level [i, the mode selection circuit 8 is powered down, and the mode selection signal φ, which executes the nibble mode r, is output. In response to the mode selection signal φNk, the shift register control circuit 10 operates as a shift register of the aJ variable shift register 1tv4i.
Make sure there is no bt access name.

上記相変シフトレジスタ11は、間えは第3凶に示すよ
うに構成されることによシ、シフトレジスタ制御回路1
0からの制御信号によって任意の段数のシフトレジスタ
として動作できるように芒れている。図示のとと<1i
iiのフリツプフロツプF、F、0〜F、F、nからな
る可変シフトレジスタ11に、ニブルモードに実行さぜ
るモード選択信号φ、がモード選択回路8から出力ひn
ると、シフトレジスタ制御回路10によって、ゲートG
4が開か扛て池のゲートGs・・・・・・Gnが全て閉
じら71、る。すると、開かれたゲー)G4  Lり石
側のフリツプフロツプF、F、Q〜F 、 7 、3の
間でシフトが繰り返えさ1する工うになり、4段のシフ
トレジスタとして動作される。この4段のシフトレジス
タ11は、特に制限されないか、CjAB信号の変化に
伴なってシフトレジスタ制釣回1slOから発生aれる
クロックパルスφ。、に工って、1+1jえはハイレベ
ルが一つずつシフトされる。丁なわち、4級のシフトレ
ジスタ110出力化号が、クロックパルスφ。pが印加
atLる毎[軸仄)・イレベルにδtLる。向えば、畑
めに7リン7°フロンノ゛)i’、F、2の出力信号が
ハイレベルにさn、他の3つのフリップフロップの出力
信号がロウレベルにδれていた場合、OAS信号が変化
してζクロックパルスφ。、がシフトレジスタ11に印
加す扛ると、フリップフロップF、’F、’Lの出力信
号がハイレベルになシ、他の3つの7リツプフロンプの
出力1バ号がロウレベルになる。このようにシフトレジ
スタ11に、CA31ご号が変化する毎に、ハイレベル
が次々と移っていくようになる。
The phase-change shift register 11 is configured as shown in FIG.
It is arranged so that it can operate as a shift register with any number of stages depending on the control signal from 0. In the illustration <1i
A mode selection signal φ is outputted from the mode selection circuit 8 to the variable shift register 11 consisting of flip-flops F, F, 0 to F, F, n.
Then, the shift register control circuit 10 controls the gate G.
When 4 is opened, the pond gate Gs...Gn is all closed.71. Then, shifts are repeated between the flip-flops F, F, Q to F, 7, and 3 on the open game G4L side, operating as a four-stage shift register. This four-stage shift register 11 is not particularly limited, or a clock pulse φ is generated from the shift register control cycle 1slO in accordance with a change in the CjAB signal. , the high level is shifted one by one for 1+1j. That is, the output signal of the fourth class shift register 110 is the clock pulse φ. Every time p is applied atL, the level increases by δtL. If you look at the field, if the output signals of I', F, and 2 are at high level, and the output signals of the other three flip-flops are at low level, the OAS signal will be Change ζ clock pulse φ. , is applied to the shift register 11, the output signals of the flip-flops F, 'F, and 'L become high level, and the output signals of the other three 7-lip flops become low level. In this way, each time the CA31 number changes in the shift register 11, the high level is shifted one after another.

始めに出力信号がハイレベルにさnるフリップフロップ
に、CAS信号が最初に立ち下がったときにアドレスバ
ッファ2bK取り込1れたアドレス信号A y tに工
って決する。丁なわち、Yデコーダ3bの各デコード出
力信号が、それぞれ対応するフリップフロップに供給さ
れるようにδnでおり、しかも、フリップフロップに゛
、供給芒れるデコード信号によって、その状態が設定石
nる裏うに芒0ている。このため、上記取り込1れたア
ドレス信号A y tに対応して、Yテコータ3bから
出力δnfcハイレベルのデコード信号’(受’/f 
7こフリップフロップの出力信号が、即めに・・イレベ
ルになる。こ′nVc対して、残りのフリップフロップ
の出力信号は、対応するデコード信号がロウレベルの1
でめ、全てロウレベルになる、 1り11えば、アドレス信号hy、VC+:つで、フリ
ップフロップF、F、2の出力信号が−・イレベルにさ
れ7を場合、このフリップフロンプF、F、2tC対応
したスインチ回路sW2が、オン状態となる。その結果
、丁でに、メインアンプMA番にランチされていたメモ
リセルのデータか、スインチ回M S W 2ケ弁じて
人出力バノファ6に供袷されて、出力端子Doutに出
力系nる。上述したように、CA31g号が変化する毎
に、sw、、swo、 SW、、のIlhに出力信号が
)−イレベルとなるため、出力端子I)putかラニ、
メインアンプMALのデータ、MAQのデータ、MA3
のデータの++*に出力系れることになる。丁なわち、
4ピントのデータがシリアルに読み出される。
The address signal A y t taken in by the address buffer 2bK when the CAS signal first falls is applied to the flip-flop whose output signal is set to high level at the beginning. In other words, each decoded output signal of the Y decoder 3b is set at δn so that it is supplied to the corresponding flip-flop, and its state is set according to the decoded signal supplied to the flip-flop. The back of the sea urchin has 0 awns. Therefore, in response to the address signal A y t taken in, the decode signal '(reception'/f
The output signal of the 7th flip-flop immediately goes to level... In contrast to this 'nVc, the output signals of the remaining flip-flops are 1 when the corresponding decode signal is low level.
For example, address signals hy, VC+: and the output signals of flip-flops F, F, 2 are set to low level. The 2tC compatible switch circuit sW2 is turned on. As a result, the data of the memory cell that had just been launched into the main amplifier number MA is provided to the human output vanofer 6 after two switch times, and is sent to the output terminal Dout of the output system n. As mentioned above, each time CA31g changes, the output signal at Ilh of sw, swo, SW, becomes -E level, so the output terminal I)put or Rani,
Main amplifier MAL data, MAQ data, MA3
The output system will be sent to ++* of the data. Ding, that is,
The data of 4 pins is read out serially.

上記説明は、ニブルモートについてであつ′fcが、列
えは、OAS侶号信号@目の哀め上がりに同期してアド
レスビンから取り込1れたモード選択用制御信号が、表
1の(3)のように、アドレスA。。
The above explanation is about the nibble mode. ), address A. .

AI  、AIのみがゝゝH#レベルにされていると、
バイトモード?実行芒せるモードtill飢信号φ、が
モード選択回路8において形hX、される。すると、シ
フトレジスタ制両回路1′0から出力さnる制御信号た
工って、可変シフトレジスタ11のゲートG8のみが屍
かれて池のゲートが丁べて閉じられる。
AI, if only AI is set to H# level,
Part-time job mode? A mode till signal φ, which can be executed, is generated as hX in the mode selection circuit 8. Then, in response to the control signal outputted from the shift register control circuit 1'0, only the gate G8 of the variable shift register 11 is closed, and the gates of the gate are closed.

これによって、可変シフトレジスタ1li−f’84f
のシフトレジスタとして動作δぜられる。その結果、c
As1g号のトグルvcよって8ピントのデータがメイ
ンアンプ5からシリアルに読み出ちれる。
As a result, variable shift register 1li-f'84f
It operates as a shift register. As a result, c
The data of 8 pins is serially read out from the main amplifier 5 by the toggle VC of As1g.

このようにして、可変シフトレジスタllkm成する各
段のフリップフロップF、F、0 、 F、F。
In this way, each stage of flip-flops F, F, 0, F, F forms a variable shift register.

1、・・・・・・F、F、nどとに、最終段のパルスを
帰還3ぜるだめのゲートに設けておけは、シフトレジス
タの段数n(実IM列でに最大256段゛)の帷囲内で
1.任意のヒント数のデータrシリアルVC読み出せる
ようになる。
1,...F, F, n, etc., if the final stage pulse is provided at the gate of the feedback 3 logic, the number of stages of the shift register is n (up to 256 stages in the actual IM column). Within the range of 1. An arbitrary number of hints of data r can be read from the serial VC.

しかも、実施列の回路では8ピントのモード遇釈制@信
号によって選択モードr決定するようにされているので
、この場合には最大256棹類のモードが虜が可能とさ
れる。その結果、■えは表1(n)に示すようなリップ
ルモード、丁なわち1行分のデータケタてシリアルに読
み出丁ようなモードもRAMに予め持たせておいて、こ
f’Lk透択、実行さぜることかできる。
Moreover, in the circuit of the implementation column, the selected mode r is determined by the 8-pin mode allowance @ signal, so in this case, a maximum of 256 modes can be selected. As a result, the RAM is preset with a ripple mode as shown in Table 1(n), in which one line of data digits is serially read out, and this f'Lk transparent You can choose and execute it.

なお、上記し九ニブルモード、リップルモードのように
シフトレジスタll’f使うときには、モード選択回路
8から、Yテコーダ制餠1回路9に制御信号φ、が供鞄
芒れ、Yデコーダ制■回TM9がYテコータ3br動作
芒ゼないようにしている。
When using the shift register ll'f as in the nine-nibble mode and ripple mode described above, a control signal φ is supplied from the mode selection circuit 8 to the Y-decoder control circuit 9, and the Y-decoder control circuit 1 is supplied with the control signal φ. TM9 is designed to prevent Ytekota 3br from operating.

特I/ciltII限an、な層が、コノとき、Yデコ
ーダ3bの各出力ノードに、フローティング状態にさf
l、6゜このため、シフトレジスタの動作171’−1
して、Yデコード信号が悪影41−与えることはな−。
When a special I/ciltII layer is set, f is placed in a floating state at each output node of the Y decoder 3b.
l, 6° Therefore, the operation of the shift register 171'-1
Therefore, the Y decoded signal does not give any negative effects.

x7t、5ttaしたノーマルモード及びベージモード
のとさに−げ、モード選択回路8からシフトレジスタ匍
1蜘回路1oVC制御侶号φ、が惧和され、このシフト
レジスタ制御回路10によって、シフトレジスタ11が
動作しないように芒れてbる。
The shift register control circuit 10 selects the shift register 11 from the mode selection circuit 8, and the shift register control circuit 10 selects the shift register 11. It's awned so it doesn't work.

聞えは、ページモードで使う場合、アドレス18号Ay
1によって決IるYデコーダ3bのデコード信号にエフ
、り1]えはフリップフロップF、F、2の出力信号が
ハイレベルにされ、次のアドレス18号A y IVc
よってフリップフロップIP、?、255のめ力信号が
ハイレベルにさnることがある。この場合、フリップフ
ロップF、F、255の出力信号がハイレベルニさnる
ときには、フリンノフロ77’F、 F、 3 if、
Y テコ−タ3 bの一ロウレベルノテコード出力信号
によって、その出力信号がロウレベルになる。Cのこと
は、ノーマルモードにおいても同じである。従って、ペ
ージモードあるいi/−マルモードのときに、シフトレ
ジスタ11が動作に悪形書を与えることはない。
When using in page mode, address No. 18 Ay
When the decoded signal of Y decoder 3b determined by I is set to high level, the output signals of flip-flops F, F, 2 are set to high level, and the next address No. 18 A y IVc
Therefore, flip-flop IP? , 255 may be at a high level. In this case, when the output signal of the flip-flop F, F, 255 is at a high level, the Flinoff 77'F, F, 3 if,
One low level note code output signal of the Y lever 3b causes its output signal to become low level. The same applies to C in normal mode. Therefore, when in page mode or i/-mal mode, shift register 11 does not give any malfunction to the operation.

また、上記回路においてに、ライトイネーブル信号WF
iがロウレベルに6れるデータ書込み時には上狭したノ
ーマルモードのとさと同僚に、膀出し畳込み制御回路7
がらの制卸1g号φ。tよって、入力端子D1nから供
給δ71.たデータが、Yデコーダ3bもしくハ、シフ
トレジスタ11によってオン状態に芒れたスイッチ回路
【弁してXデコーダ3aによって選択さnたメモリセル
に4@込1t1゜るように憾れる。従って、ページモー
ドあるいはニブルモード、バイトモード等においても、
データの4き込みが可能である。
Furthermore, in the above circuit, the write enable signal WF
When writing data when i goes low level 6, the bladder convolution control circuit 7
Garano control wholesaler 1g φ. t, therefore, the supply δ71. from the input terminal D1n. The data is transferred to the memory cell selected by the X decoder 3a through the switch circuit turned on by the Y decoder 3b or the shift register 11. Therefore, even in page mode, nibble mode, byte mode, etc.
It is possible to input 4 data.

なお、前記可変シフトレジスタlli構成丁ルゲー)G
4 、G、、・・・・・・Gnとしてに、列えはM O
S ’)ランスファゲートr用いることができる。
In addition, the variable shift register lli configuration (G)
4、G、・・・・・・Gn, the arrangement is M O
S') transfer gate r can be used.

また、上記実施列においてに、タイミングIE回路4か
らの開側イH号転、に工ってモード選択回路8としての
デコーダケ動作芒ぜる工うに一4nているが、モード選
択用制(ホ)信号(Ao 〜A、)の曲にRAE3信号
とCAB信号釦直襞人カ信号としてモード選択1百号ヶ
形成する工うなゲート回路を組むことに1ってモード選
択回路8ケ構成することも可能である。
In addition, in the above embodiment, the open side I/H rotation from the timing IE circuit 4 is modified to operate the decoder as the mode selection circuit 8. ) Signal (Ao ~ A,) To create the RAE3 signal and the CAB signal button direct fold human signal for the song, one thing is to assemble a gate circuit to form a mode selection circuit of 8 mode selection circuits. is also possible.

また、上記実施しりにおいては、スイッチ回路と、シフ
トレジスタとに同じYテコータ3bがらのデコード信号
が供#葛れる工5にさnでいたが、ヤnぞn別のデコー
ダからのデコード信号が供給されるようにしても工い。
In addition, in the above implementation, the switch circuit and the shift register were supplied with decoded signals from the same Y-tecoder 3b, but decoded signals from different decoders were supplied to the switch circuit and the shift register. Even if it is supplied, it will be difficult.

萱た、シフトレジスタ11[id、Yデコーダ3bから
のデコード信号が供給芒れないようにしておき、ニブル
モード、バイトモード等のシフトレジスタ11全使うモ
ードのときには、常Vこ乃「定のフリップフロップの出
力信号がハイレベルになるようにしてもよい。し0えは
、第3図において、フリップフロップF、?、0の出力
信号が、始めハイレベルになるようにしてもjい。
In addition, the decode signal from the shift register 11 [id, Y decoder 3b] should not be supplied, and when the shift register 11 is in a mode such as nibble mode or byte mode, the constant flip-flop Alternatively, in FIG. 3, the output signals of the flip-flops F, ?, 0 may initially be at a high level.

lだ、第1凶及び第5図において、メインアンプを取り
除さ、センスアンプにランチ機能7持たせるようにして
、コモンデータ線にメインアンプkm合させるようにし
てもよい。このようVこ丁nば、メインアンプの数がへ
るため、チップ面槓ケ/トさくすることかでき、安価に
することができる。
In the first embodiment and in FIG. 5, the main amplifier may be removed, the sense amplifier may be provided with a launch function 7, and the main amplifier km may be matched to the common data line. In this case, since the number of main amplifiers is reduced, the chip surface can be reduced and the cost can be reduced.

l!に、上bC実り列でに、可変シフトレジスタ11に
よってメインアンプ5にラッチδれていたデータr順仄
読み山王ようにδnているが、センスアンプからのデー
タケラッチする憔hp=mするシフトレジスタを設け、
これ?シフトレジスタ制御回路10によって選択モード
に応じてシフト’g+tて、うに構成してもよい。
l! Then, in the upper bC real column, the data latched by the variable shift register 11 to the main amplifier 5 is read in the order of r and δn, but the data from the sense amplifier is latched and shifted to hp=m. Set up a register,
this? The shift register control circuit 10 may shift 'g+t' according to the selection mode.

前記実施クリでに、CABABO3回目の立上がりに同
勘して、そのときアドレスビンに供乾もnたモード選択
用制御信号荀取り込むように葛れている。つlす、ここ
では、モード込択用割倒情号がアドレスビンt1更って
、時++絢方′式て叡ジ込1れるようVこされている。
In the above-mentioned implementation, the third rising edge of CABABO was taken into account, and at that time, the control signal for mode selection was taken into the address bin. Here, the interrupt information for selecting the mode is set after the address bin t1 so that it is entered in the time + + ' mode.

従来からRASi、;号とCAB情号の立丁がり時には
、アドレスビンにアドレス信号が供給されるが、CAS
伯号信号上かり時にアドレスビンが仕息のレベル乞とる
ことかでさる不定期間であった。七のycめ、実施1+
lJのように、アドレスビンytO1l!つて、モード
選択用制両僅号を供給させるようにしても、こtLによ
ってアクセス時間か長くされることにない。
Conventionally, an address signal is supplied to the address bin when the RASi ;; and CAB information are in line, but CAS
It was an irregular period of time, as the address bin was begging for the level of work when the Hakugo signal went up. Seven yc, implementation 1+
Like lJ, address bin ytO1l! Therefore, even if a mode selection signal is supplied, the access time will not be lengthened by this tL.

同僚の理由からアドレスビンか遊んでいる曲の期間、ク
リえはCABABO3回目以叶の立上がり時にアドレス
ビンからモード選択用制−信号?取り込むようにするこ
とも可能である。”!”rcXmdダ投入時のCAB端
子の立上がり時にアドレスビンに供給ちれている信号に
よ#)選択モード勿判別することもできる。
Due to my colleague's reasons, during the period of the address bin or the song being played, the clear signal is to select the mode from the address bin at the start of CABABO for the third time or later. It is also possible to import the information. ``!'' It is also possible to determine the selected mode by the signal supplied to the address bin when the CAB terminal rises when the rcXmd is turned on.

史に、モード選択用制御信号?供給するビンとして、ア
ドレスビンr用いずに、池のビンクリえはデータ入力ビ
ンDin等kl史う工うにしてもよい。
Historically, a control signal for mode selection? Instead of using the address bin R as the supply bin, the data input bin Din, etc. may be used instead of the address bin R.

64にビットダイナミックRAMTi、内部にリフレッ
シュ回路會設け、RAS侶号信号下が°り前のcAse
g号の立下がりケ検知して目動的に内部リフレッシュが
行なわれるようにちれているものかめる。16ビンパツ
ケージの(34kRAMでに、このような内部リフレッ
シュ憬龍rMする揚台、従来リフレッシュ信号入力用と
して使用anていた1査ピンが柴〈ことになる。そこで
、この空いた1番ビンを前記モードS択用側飾信号の専
用入力ピンとして1史用することができる。
64 bit dynamic RAM Ti, internal refresh circuit installed, cAse before the RAS signal goes down.
When the falling edge of the g signal is detected, the internal refresh is performed visually. In a 16-bin package (34kRAM), the 1st pin, which was conventionally used for inputting the refresh signal, will be used for internal refresh. It can be used as a dedicated input pin for the mode S selection side signal.

四球の理由から、18ピンパンケージの1メガピントダ
イナ・ミンクRAMでも、やハシビンが一つ余るので、
これをモード選択用制御信号の入力ピンとして使用する
ことができる。このように丁れば、複雑な時分割方式に
よる信号の供給が不用となるので、RAMが使す易くな
るという利点がある。
For the reason of four balls, even with a 1 mega pin Dyna Mink RAM with an 18 pin pan cage, there is one extra yashibin, so
This can be used as an input pin for mode selection control signals. If arranged in this way, there is no need to supply signals using a complicated time-division system, so there is an advantage that the RAM becomes easier to use.

以上、外部端子(ビン)r使ってモード選択信号を供給
する工うにした実施列について説明して来た。この方式
は、提供されたRAM1ユーサーが必要に応じて−ずn
のモードとしても使用することができるというメリント
紮有するものである。
So far, an implementation has been described in which the external terminal (bin) r is used to supply a mode selection signal. In this method, the user can use the provided RAM1 as needed.
It has a Melint ligature that can also be used as a mode.

tだし、一方において、唯一のモードl+uえはニブル
モードとしてのみRAM1使用した場合にも、モード選
択用制f81信号7倶給しなければならないという多少
のデメリット2Mしてhる。
On the other hand, the only mode L+U has a slight disadvantage of 2M in that even if the RAM 1 is used only as the nibble mode, the mode selection control f81 signal 7 must be supplied.

次に、外部端子?使わないモード通択r町症にする方式
について説明する。この方式tユ、ユーザの安朧に応じ
て、メーカにおいてモードkA択、設定してユーザに供
紹しようとするものである。
Next, external terminal? We will explain how to select a mode that is not used. In this method, the manufacturer selects and sets modes according to the user's anxiety and introduces them to the user.

クリえは、前記実施列(第1図)の回路において、モー
ド選択回路(テコーダ)8の入力端子にバンド7設け、
これ全ワイヤボンディングによって、′電源電圧(Vo
。)−!たにグランド(OV)に伎続芒nてbるバンド
に選択的[徽続芒ゼる。あるいに、電源電圧(Vo。)
およびグランドと、モード選択回路8の丁べての入力端
子との間にヒユーズ素子ケ設け、いずれか一方のヒユー
ズ菓子を切Wrする。コ′n1CJ1つて、盾頃のモー
ドに削応するモード退択用制(ホ)信号(表1)が常に
モード選択回路8に入力されるx51:、各入力端子の
レベルを設定してやることができる。ぞの粕床、モード
選択回路8からは、p5T望のモードを実行させるモー
ド28択侶号が出力さnるようになる。
In the circuit of the embodiment row (FIG. 1), the band 7 is provided at the input terminal of the mode selection circuit (tecoder) 8,
By all wire bonding, 'power supply voltage (Vo
. )-! It is selective for the band that continues to play on the ground (OV). In addition, the power supply voltage (Vo.)
A fuse element is provided between the ground and all input terminals of the mode selection circuit 8, and one of the fuses is cut off. 1CJ1: The mode selection control (E) signal (Table 1) corresponding to the shield mode is always input to the mode selection circuit 8x51:, the level of each input terminal can be set. . The mode selection circuit 8 outputs a mode 28 option number for executing the desired mode.

モード退部月割[相]信号の入力に専用の外部端子r用
すた場合のように、モードがモード遇択用制師・箔号の
ハイレベルまたはロウレベルによって設定芒nる場合に
に、専用の外部端子に接続されるバンドr、外部端予め
代わシに、′亀踪′電圧(Vo。)またはグランドに厳
伏さnたパッドにワイヤホンディングし、あるいはヒユ
ーズ素子r使ってレベルを固定させることによって、P
ar望のモードに設定芒せることができる。
When the mode is set according to the high level or low level of the mode selector, as in the case where a dedicated external terminal R is used to input the mode exit monthly discount [phase] signal, If the band is connected to a dedicated external terminal, the external terminal may be replaced by wire bonding to a pad connected to the voltage (Vo.) or ground, or the level may be set using a fuse element. By fixing P
You can set the awn to the desired mode.

ii [、モード選択回路8?設ける代わりに、各読出
し曹込みモードケ実行するための回路を、メモリセルア
レイ1の周辺にそれぞれ別個に形成して各モードケ実行
する回路には外部端子と接続可能ナハンドを設ける。こ
れによって、ユーザ(2)−5&求VC比、じてこれら
の回路の中2Sl)ら〜つ才選択してその(ロ)路のバ
ンドと外部端子と全ワイヤボンディングで接続して、H
[望のモードを実行するメモ:)装置″c伺成するよう
にしてもよい。
ii [,mode selection circuit 8? Instead, circuits for executing each read write-up mode are separately formed around the memory cell array 1, and the circuits for executing each mode are provided with circuits connectable to external terminals. As a result, the user (2) -5 & desired VC ratio selects the 2S1) circuit from among these circuits and connects the band of that (B) route to the external terminal using all wire bonding, and connects the H
[Notes on how to execute the desired mode:) You may also create a device "c".

なお、この発明に、第4図(A) 、 (B)に示すよ
うに、メモリセルアレイが、41固あるいl”j 81
1M+のような適当な敵に分割子nkメモリマントによ
り構成芒7するとともに、Xテコータ、Yテコーダによ
って各マントから一ピントずつ同時に読、み出さtt友
デデーtセンスアンプにラッチネぜ、これrシフトレジ
スタによってllln番に出力させて、4ピントめるい
は8ピントのような慴叡ビットのデータτシリアルに読
み山王工うにδn、たメモリ装置にもコ趨用することが
できる。
In addition, in this invention, as shown in FIGS. 4(A) and 4(B), the memory cell array is 41 or
Configure a suitable enemy such as 1M+ with the divider nk memory cloak, read one pin from each cloak at the same time using the X-tecoder and Y-tecoder, latch it to the sense amplifier, and shift it to R. It can also be used in memory devices such as 4-pin or 8-pin data τ that can be outputted to number llln by a register and read serially.

また、この発明はRAMのみでな(、ROM(リード・
オンリ・メモリ)にも容易に適用できるものである。
Also, this invention is not limited to RAM (RAM), ROM (read/read memory).
It can also be easily applied to (only memory).

以上説明したように、この発明に工1.げ、選択的にモ
ードを設定することができるので、ベージモードやニブ
ルモード、バイトモード等の俵斂の読出し畳込みモード
を有するメモ92同一のマスクパターン[エフ形成する
ことができる。そのため、各モードを有するメモIJ 
’に個別に設計、製造する場合に比べて有利とな9、こ
れによって製造コスト?著しく下げることができる。
As explained above, this invention has the following advantages: 1. Since the mode can be selectively set, it is possible to form the same mask pattern on the memo 92 having multiple reading convolution modes such as page mode, nibble mode, and byte mode. Therefore, Memo IJ with each mode
'Is this an advantage compared to designing and manufacturing them individually, and does this result in lower manufacturing costs? can be significantly lowered.

また、各モード2外部から供?!8δれる制御信号によ
って選択できるようにされた場合には、必女に応じて各
棟モードヶ実行することができるため、メモリの8&能
が同上δれるという効果がある。
Also, each mode 2 is provided externally? ! If selection is made possible by a control signal generated by 8δ, each mode can be executed depending on the necessity, which has the effect that the memory capacity can be reduced by 8&delta.

しかも、時分割方式でモード選択用の制(至)信号を散
り込むようにした場合には、例らビン紮増加δぜること
なくメモリの機能を同士させることができる。
Furthermore, if the control signals for mode selection are interspersed in a time-division manner, the functions of the memories can be made to be the same without increasing the number of bins δ.

また、アドレスビンを用いて時分割方式でモード選択用
の制御信号を取り込むようにした場合には、非常に多ぐ
のモード〒一つのメモリ内に盛り込むことが可能になる
Furthermore, if control signals for mode selection are taken in in a time-division manner using address bins, it becomes possible to store a large number of modes in one memory.

史に、この発明紫応用して、各tTi読出し畳込みモー
ドの1112に、汐りえは第2図のデータ出力I)ou
t?破線のように変更する工うな回路tチップ内に設け
、外部からの制御信号によりこの回路?動作させるモー
ドを選択できるようにすることもできる。これによって
、切にメモリの機能が同上されるようになる。
In addition, by applying this invention to the 1112 of each tTi read convolution mode, the data output I)ou in FIG.
T? A circuit that needs to be changed as shown by the broken line is installed inside the chip, and this circuit is controlled by an external control signal. It may also be possible to select the operating mode. This allows the functionality of the memory to be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図に本発明に係る牛導体記憶装置の一実流しlJk
示すブロック構成図、 絹2図にその回路の各部の信号のタイミングチャート、 第3図にfil変シフトレジスタの構成の一列オ示メモ
リセルアレーf楕成図、 毎5図(A)i−t、メモリセルアレイ、Yデコーダ。 Xデコーダ、メインアンプ及びシフトレジスタのブロッ
ク図、 第5図(B) U 、メモリセルの回路図である。 1・・・メモリセルアレイ、8・・・モード)i!!I
択回路、11・・・シフトレジスタ。 代理人 弁理士 薄 1)利 辛  ゛1. ノ i 、、、、、+:、、:、、1 第 r、!  l”’y1 4> 3図 第 7J  l−4
FIG. 1 shows an actual flow of the conductor storage device according to the present invention.
Figure 2 is a timing chart of the signals of each part of the circuit, Figure 3 is an elliptical diagram of the memory cell array showing one row of the configuration of the fil variable shift register, and Figure 5 (A) i-t. , memory cell array, Y decoder. FIG. 5B is a block diagram of an X decoder, a main amplifier, and a shift register, and a circuit diagram of a memory cell. 1...Memory cell array, 8...Mode) i! ! I
Selection circuit, 11...shift register. Agent Patent Attorney Bo 1) Li Xin ゛1. Noi,,,,,+:,,:,,1st r,! l"'y1 4> Figure 3 No. 7J l-4

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、 ″a数個のメモリセルがマトリックス状に配股芒
れでなるメモリセルアレイ紫有し、外部から供給される
アドレス侶号に基づいて、上記メモリセルアレイ内から
所望のテークが1111次読み出芒n5Itメモリセル
アレイ内にデータAll!込むことができるようにδn
ている半導体記憶装置に2いて、複数棟の異なる胱出し
書込み方式r実行するモード実行回路と、こnらの抗出
し畳込み方式のうち一つに選択して実行芒せるためのモ
ード培択設W+段と?伽えてなることに%似とする半導
体記憶装置。 2、上記モード培択設定手段か、伏叔神の抗出し畳込み
方式?実行する上記モード実行回路に設けらnたIJ2
数個の端子の各レベル?設定するレベル瞑篇+段からな
り、このレベル設定手段に1って゛所定のレベルに設定
され72.端子に対応したいすnか−のモードが実行さ
れるLうにδnてなること孕特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の半導体6己憶装置。 3、複数棟の読出し書込み方式才実行する上記モード実
行回路か各モード別に形成芒12.こnらの回路のうち
一つが選択的にJar定の外部端子に接続されることに
ニジ、所望のモードが実行δnるようにδれてなること
ケ特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体記憶装
置。 4、上記モード選択設定手段が、専用の外部端子から供
給芒几るモード選択用制蜘信号勿受けて対応するモード
を選択して上記モード実行回路r動作させるモード選択
回路であること2%徴とする%許請求の範囲第1項記載
の半導体記憶装置。 5、上日己モード選択設定手段が、外部端子から時分割
方式で供ll@aれるモード:I8択用制仇徊号r愛け
て対応するモードtS択して上d己モード実行回路ケ動
作葛せるモード選択回路てめることt爵鍼とする待lf
+梢求の範囲第1狽hU2載の半嚇捧sd憶装w、。 6、 上記モード選択設定手段が、アドレスビンから供
給子nるモード選択用制御信号紮デコードして対応する
モードを選択し実行芒ぜるデコーダからなること全特徴
とする特許請求の範囲第5項記載の半導体記憶装置。 7、 上記モード選択設定手段が、列アドレスストロー
ブ(g号の立上が9に同期してモード選択用制御信号ケ
取り込み、対応するモード勿泗択するようにさnてなる
ことr%徴とする%許請求の範囲第5墳または第6項記
載の半導体記憶装置。 8、 上記モード実行回路がシフトレジスタr含み、こ
のシフトレジスタが所定の段数だけシフトちれることに
よl望のピント斂のデータがシリアルに入邑力される工
うにδれてなることを特徴とする特許請求の範Ifll
!第2項、第4項、第5槍、第6埴また框崇7項記載の
半導体記憶装置。
[Scope of Claims] 1. A memory cell array consisting of several memory cells arranged in a matrix; δn so that all data can be stored in the 1111st read awn n5It memory cell array.
A mode execution circuit for executing a plurality of different write-out writing methods in a semiconductor memory device, and a mode selection circuit for selecting and executing one of these write-out convolution methods. Set W + stage? A semiconductor memory device that is similar to that of the original. 2. Is it the above mode selection setting method or the Fushushin's resistance convolution method? IJ2 provided in the above mode execution circuit to execute
Each level of several terminals? The level to be set consists of meditation + step, and the level setting means is set to a predetermined level of 1 and 72. 2. The semiconductor self-storage device according to claim 1, wherein n or - modes corresponding to the terminals are executed. 3. Multiple read/write methods are used to execute the above mode execution circuit or each mode is formed separately.12. Claim 1, characterized in that one of these circuits is selectively connected to an external terminal of the Jar, so that a desired mode is executed. The semiconductor storage device described above. 4. The mode selection setting means is a mode selection circuit that receives a mode selection control signal supplied from a dedicated external terminal, selects a corresponding mode, and operates the mode execution circuit. The semiconductor memory device according to claim 1. 5. The upper mode selection setting means is provided in a time-sharing manner from an external terminal.Mode: I8 selection control number r, selects the corresponding mode tS, and selects the upper d own mode execution circuit. The mode selection circuit that allows you to move
+ Kozue Mosquito's range 1st hU2 semi-offensive sd memory w,. 6. Claim 5, characterized in that the mode selection setting means comprises a decoder which decodes the mode selection control signal supplied from the address bin to select and execute the corresponding mode. The semiconductor storage device described above. 7. The mode selection setting means receives the mode selection control signal in synchronization with the rise of the column address strobe (g) and selects the corresponding mode. 8. The semiconductor memory device according to claim 5 or claim 6. 8. The mode execution circuit includes a shift register r, and the shift register is shifted down by a predetermined number of stages to achieve the desired focus. Claims Ifll is characterized in that the data of
! The semiconductor memory device according to item 2, item 4, item 5, yari, 6, Hana, or Katsutsugu, 7.
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