JPS5970359A - Beam position detector of laser beam scanning system - Google Patents

Beam position detector of laser beam scanning system

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JPS5970359A
JPS5970359A JP57179979A JP17997982A JPS5970359A JP S5970359 A JPS5970359 A JP S5970359A JP 57179979 A JP57179979 A JP 57179979A JP 17997982 A JP17997982 A JP 17997982A JP S5970359 A JPS5970359 A JP S5970359A
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scanning
photoelectric conversion
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laser beam
beam spot
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Jinichi Hongo
本郷 仁一
Shoichi Ito
伊東 正一
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Hitachi Ltd
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    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N1/00Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
    • H04N1/04Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa

Abstract

PURPOSE:To detect surely the position shift in orthogonal direction to the scanning direction, by providing a photoelectric converting means having a photo detecting means where the width in the laser beam scanning direction is changed sequentially in response to the position orthogonal to the scanning direction, in a deflecting scanning optical path of a laser beam. CONSTITUTION:The photoelectric converting element 5 has photo detecting plane (Fig. a) having a start end prolonged in a direction orthogonal to the scanning direction of a beam spot and an end tilted to this start end, and the output signals Vsa-Vse are applied to an operational amplifier 6. Taking the center of the beam spot as a center 15c, and when adjusting the range between 15b and 15d, a range set power supply (-Ve1) of the operational amplifier 9 is made equal to an integration output signal obtained at the repetition of the spot 15b so as to set a range set power supply (-Ve2) of an operational amplifier 10 to the integrating output signal obtained with the repetitive scanning of the spot 15d. Thus, when the position of the beam spot 15 is within the said range, light emitting diodes 11, 12 are put out at all times.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はレーザビーム走査系のビーム位置検出装置に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Application of the Invention] The present invention relates to a beam position detection device for a laser beam scanning system.

レーザビームプリンタや読み取り装置等では、飴、針面
や読み取り面等の被走査面にビームスポットを形成する
レーザビームを偏向制御し、前記ビームスポットで被走
査面を走査している。そしてプリンタにおいては1録情
報でレーザビームを変調するタイミングとビームスポッ
ト位置を整合するため、また読み取り装置においてはビ
ームスポット位置と光電変換手段の動作タイミングを整
合するため等の関係で、ビームスポットの走査開始検出
が行なわれろ。この走査開始検出は、被走査面の有効領
域以外のレーザビーム偏向走査光路中に光電変換形の受
光素子を配置し、レーザビームスポットがこの受光素子
な走査したときに得られる出力信号をビームスポットの
走査開始検出基準信号としている。
In laser beam printers, reading devices, and the like, a laser beam that forms a beam spot on a surface to be scanned, such as a candy, a needle surface, or a reading surface, is deflected and controlled, and the surface to be scanned is scanned with the beam spot. In the printer, the beam spot is adjusted to match the timing of modulating the laser beam and the beam spot position using the first record information, and in the reader, to match the beam spot position and the operation timing of the photoelectric conversion means. Scan start detection should be performed. This scan start detection is performed by placing a photoelectric conversion type light receiving element in the laser beam deflection scanning optical path outside the effective area of the scanned surface, and detecting the output signal obtained when the laser beam spot scans this light receiving element. This is used as the scanning start detection reference signal.

しかしレーザビーム走査係の機械的寸法に狂いが発生し
てレーザビームがこの受光素子に正しく照射されなくな
ると検出誤差が発生し、遂には走査開始検出が不能にな
る問題がある。fi′πレーザビーム走査の該走査方向
に対する直角方向の位置ずれ量が大きくなるとこの問題
点が現われる。この現象を第1図を参照して説明する。
However, if a deviation occurs in the mechanical dimensions of the laser beam scanning unit and the laser beam is no longer correctly irradiated onto the light receiving element, a detection error will occur, eventually making it impossible to detect the start of scanning. This problem appears when the amount of positional deviation in the direction perpendicular to the scanning direction of the fi'π laser beam becomes large. This phenomenon will be explained with reference to FIG.

第1図(a)のような長方形の受光面lac&もつフォ
トダイオード等の光電変換素子に対してビームスポット
2aが走査された場合の光電変換素子1の検出出力信号
は第1図(b)の特性Aとなる。これに対しビームスボ
ッ)2bが走査された場合の光電変換素子1の検出出力
信号は特性Bとなる。これらの出力信号A、  BをV
th なる閾値で有無判断すると、ビームスボッ)2b
の走査開始(特性B)は検出できないことになる。また
これより小さいvthlなる閾値で有無判断をすれば、
ビームスボッ)2bの走査開始も検出できるがビームス
ポット2aの走査開始検出に対してΔtなる検出誤差が
発生する。しかも閾値を小さくすることでノイズの影響
従ってこのような光電変換素子の受光面とビームスポッ
トの前記直角方向の位置ずれによる問題ななくするため
に、組み立てや保守時にシンクロスコープを用いて光電
変換素子の出力信号な観察し、相対位置調整作業を実施
していた。しかし測定機器を必要とする面倒さがあると
共に装置が稼動状態にあるときVCは位置ずれ状態を検
出することかでとない欠点がある。
When the beam spot 2a is scanned over a photoelectric conversion element such as a photodiode having a rectangular light-receiving surface lac& as shown in Fig. 1(a), the detection output signal of the photoelectric conversion element 1 is as shown in Fig. 1(b). Characteristic A is obtained. On the other hand, the detection output signal of the photoelectric conversion element 1 has characteristic B when the beam spot 2b is scanned. These output signals A and B are
If the presence/absence is judged using the threshold value
The start of scanning (characteristic B) cannot be detected. Also, if the presence/absence is determined using a threshold value vthl that is smaller than this,
Although the start of scanning of the beam spot 2b can also be detected, a detection error of Δt occurs with respect to the detection of the start of scanning of the beam spot 2a. Moreover, by reducing the threshold value, in order to eliminate the influence of noise and problems caused by misalignment of the light-receiving surface of the photoelectric conversion element and the beam spot in the perpendicular direction, a synchroscope is used during assembly and maintenance to detect the photoelectric conversion element. The output signal was observed and relative position adjustment work was carried out. However, there is the hassle of requiring measuring equipment, and the VC has the considerable drawback of detecting misalignment conditions when the device is in operation.

測定機器を用いずしかも装置が稼動中でも位置ずれ状態
を検出するために、第2図のよ5w、受光面3a、3b
をもつ走査位置ずれ検出用の光電変換素子を設け、この
光電変換素子から得られる出力信号の大きさを比較し、
その差の大きさからずれ量を検出するようにすることが
考えられる。
In order to detect the positional deviation state without using a measuring device and even when the device is in operation, the light receiving surfaces 3a, 3b, 5w, as shown in FIG.
A photoelectric conversion element for detecting scanning position deviation is provided, and the magnitude of the output signal obtained from this photoelectric conversion element is compared.
It is conceivable to detect the amount of deviation based on the magnitude of the difference.

この場合は、ビームスポット4の中心が2つの光電変換
素子の受光面3a、3bの中間位置を走査していれば、
両光電変換素子の検出信号の太詮さは等しい。そしてビ
ームスポット走査位置が直角方向の倒れかにずれれば検
出信号の犬絆さに差が生ずるから、ビームスポット4が
光電変換素子1の中心位置す走査しいろ状態で2つの光
電変換素子の検出信号の大きさが等しくなるようにこれ
らを配し、稼動中に大きさとその極性を観察すればビー
ムスポットの走査位置ずれ量とずれ方向を検出できる。
In this case, if the center of the beam spot 4 scans the intermediate position between the light receiving surfaces 3a and 3b of the two photoelectric conversion elements,
The detection signals of both photoelectric conversion elements have the same amplitude. If the beam spot scanning position deviates from tilting in the perpendicular direction, a difference in the strength of the detection signal will occur. By arranging these so that the magnitudes of the detection signals are equal and observing the magnitude and polarity during operation, the amount and direction of deviation in the scanning position of the beam spot can be detected.

しかしこの場合でも、レーザビーム光量が片寄ったり2
つの光電変換素子間に光電変換特性の差があったりする
と、位置ずれ検出誤差が発生し、前述した問題点の発生
な防止することが困難rなろ。
However, even in this case, the laser beam light intensity may be biased or
If there is a difference in photoelectric conversion characteristics between two photoelectric conversion elements, a positional deviation detection error will occur, making it difficult to prevent the above-mentioned problems from occurring.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

従って本発明の目的は、レーザビーム走査系において、
レーザビーム走査方向と直角方向の走査位置ずれを走査
系の稼動中に確実に検出できろビーム位置検出装Rk提
供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to provide a laser beam scanning system that
An object of the present invention is to provide a beam position detection device Rk capable of reliably detecting a scanning position shift in a direction perpendicular to a laser beam scanning direction during operation of a scanning system.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

この目的を達成するため、本発明は、レーザビーム走査
方向の11肩がこの走査方向と直角方向の位f?π応じ
て順次変化する受光面を有しこの受光面をレーザビーム
の偏向走査光路中に配置した光電変換手段Wよってレー
ザビーム走査の前配直角方向位vK応じた時間幅の検出
出力信号を得、この出力信号を基準値と比較回路手段で
比較して基準位置からのずれ量を検出するようにしたこ
とな特徴とし、検出出力信号の時間幅を位置検出要素と
することにより光電変換手段の光電変換特性やビームス
ポット光量のばらり?kによる検出誤差を少なくするも
のである。
In order to achieve this object, the present invention provides that the eleventh point in the laser beam scanning direction is at a position f? in a direction perpendicular to this scanning direction. A detection output signal having a time width corresponding to the front perpendicular direction position vK of laser beam scanning is obtained by a photoelectric conversion means W having a light receiving surface that sequentially changes according to π and disposing this light receiving surface in the deflection scanning optical path of the laser beam. This output signal is compared with a reference value by a comparison circuit means to detect the amount of deviation from the reference position, and by using the time width of the detection output signal as a position detection element, the photoelectric conversion means can be used. Variations in photoelectric conversion characteristics and beam spot light intensity? This is to reduce the detection error due to k.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

第3図〜第5図は本発明の一実施例を示すもので、第3
図は電気回路図、第4図は光電変換素子の受光面と検出
信号波形図、第5図は走査位置ずれ検出特性図である。
Figures 3 to 5 show one embodiment of the present invention.
The figure is an electric circuit diagram, FIG. 4 is a light-receiving surface of a photoelectric conversion element and a detection signal waveform diagram, and FIG. 5 is a scanning position deviation detection characteristic diagram.

第3図において光電変換素子5はオペアンプ6のH入力
端子と角型源(−■)の間に接続され、オペアンプ6の
(+l入力端子は接地されろ。コンパレータ7の(+入
力端子はオペアンプ6の出力端子に接続され、(→入力
端子は閾値電源(十V、、)π接続されろ。積分回路8
はオペアンプ8aと抵抗8bとコンデンサ8cで構成さ
れる。オペアンプ8aの(→入力端子はコンパレータ7
の出力端子に接続され、(イ)入力端子は接地される。
In FIG. 3, the photoelectric conversion element 5 is connected between the H input terminal of the operational amplifier 6 and the square source (-■), and the (+l input terminal of the operational amplifier 6 is grounded. The (+ input terminal of the comparator 7 is 6, and the (→input terminal is connected to the threshold power supply (10 V, ) π.Integrator circuit 8
is composed of an operational amplifier 8a, a resistor 8b, and a capacitor 8c. Operational amplifier 8a (→input terminal is comparator 7
(a) The input terminal is grounded.

コンパレータ9,10は前配光電変換素子5の受光面を
走査するビームスポットの走査位置が受光面の所定の範
囲内にあるか否かを判断するもので、コンパレータ9の
H入力端子とコンパレータ10の(1)入力端子が前記
積分回路8の出力端子に接続され、またコンパレータ9
の(−)1入力端子には範囲設定電源(−V。1 )、
コンパレータ10の(→入力端子には範囲設定電源(V
、2)がそれぞれ接続される。11.12は発光ダイオ
ードで、コンパレータ9,10の各出力端子と正電源(
+V)の間にそれぞれ接続される。ウィンド型コンパレ
ータ13は光電変換素子5の受光面を走査するビームス
ポットの位置ずれ量の限界を判断するもので、コンパレ
ータ13a、13bと抵抗13c、13dとダイオード
13eで構成され、コンパレータ13a、13bの各(
→入力端子は前記積分回路8の出力端子に接続され、コ
ンパレータ13aの(4)入力端子は限界設定電源” 
r s t 1 ) p コシパレータ13bの(イ)
入力端子には限界設定電源(−■rsfz)が接続され
る。そしてコンパレータ13bの出力端子と正電源(+
■)の間には発光ダイオード14が接続されろ。そして
、コンパレータ7の出力端子からはビームスポットが光
電変換素子5の受光面を走査したことを示す走査開始検
出基準信号V、を得るようにする。
The comparators 9 and 10 are for determining whether the scanning position of the beam spot scanning the light receiving surface of the front light distribution electric conversion element 5 is within a predetermined range of the light receiving surface. (1) input terminal is connected to the output terminal of the integrating circuit 8, and the comparator 9
The range setting power supply (-V.1) is connected to the (-)1 input terminal of the
The range setting power supply (V
, 2) are connected to each other. 11 and 12 are light emitting diodes, which are connected to each output terminal of comparators 9 and 10 and the positive power supply (
+V) respectively. The window type comparator 13 determines the limit of the positional shift amount of the beam spot scanning the light receiving surface of the photoelectric conversion element 5, and is composed of comparators 13a, 13b, resistors 13c, 13d, and diode 13e. each(
→The input terminal is connected to the output terminal of the integrating circuit 8, and the (4) input terminal of the comparator 13a is the limit setting power supply.
r s t 1 ) p Cossiparator 13b (a)
A limit setting power supply (-rsfz) is connected to the input terminal. Then, the output terminal of the comparator 13b and the positive power supply (+
(2) A light emitting diode 14 should be connected between the two. A scanning start detection reference signal V indicating that the beam spot has scanned the light receiving surface of the photoelectric conversion element 5 is obtained from the output terminal of the comparator 7.

このような電気回路において、光電変換素子5が第4図
(a) VC示すようにビームスポット15の走査方向
と直角方向に伸びる始端縁とこの始端縁に対して傾斜し
た終端縁を有し走査方向の幅が走査位置fよって順次具
なる受光面5aを有するものであると、コンパレータ7
の出力信号■、は第4図(b) Vr示すように、ビー
ムスポット15aの走査位置の(り返し操作でV6.、
ビームスポット15bの走査位置のくり返し走査でV、
b・旧・・となろ。この出力信号V、を積分回路8で積
分すると積分出力信号V。は第′5図(a) vc示す
ように走査位#に応じて変化する。ビームスポット15
cの走査位置が中心であってビームスボッ)15b。
In such an electric circuit, the photoelectric conversion element 5 has a starting edge that extends perpendicularly to the scanning direction of the beam spot 15 and a terminal edge that is inclined with respect to this starting edge, as shown in FIG. 4(a) VC. The comparator 7 has a light receiving surface 5a whose width in the direction is sequentially determined by the scanning position f.
As shown in FIG. 4(b), the output signal ■, of the scanning position of the beam spot 15a (V6.
By repeatedly scanning the scanning position of the beam spot 15b, V,
b. Old... Tonaro. When this output signal V is integrated by the integrating circuit 8, an integrated output signal V is obtained. varies depending on the scanning position #, as shown in FIG. 5(a) vc. beam spot 15
The scanning position of c is the center and the beam position is 15b.

15dの走査位置間に調整しようとする場合には、ビー
ムスポット15bのくり返し走査によって得られろ積分
出力信号−vo、に等しい電圧に範囲設定電源(’、i
)を設定し、ビームスポット15dの(り返し走査によ
って得られる積分出力信号−vI)dVC等しい電圧に
範囲設定電源(−V、z)%7設定する。これにより、
第5図(b)のようπ、ビームスポット15がビームス
ポット15b、15a間をくり返し走査し℃いれば2つ
のコンパレータ9.lOの出力はハイレベルで発光ダイ
オード11.12は共に消灯している。そしてビームス
ポット15の走査位置がこの範囲よりビームスボッ) 
l s a 側ff−fれれげコンパレータ9の出力が
ロウレベルとなって発光ダイオード11が点灯し、逆に
ビームスボッ)15e側にずれればコンパレータ10の
出力がロウレベルとなって発光ダイオード12が点灯す
る。従ってビームスポット15の走査位1を調整作業は
両発光ダイオ−)”11.12が消灯するようにすれば
よい。
15d, the range setting power supply (', i
) and set the range setting power source (-V, z)%7 to a voltage equal to (integrated output signal -vI obtained by repeated scanning) dVC of the beam spot 15d. This results in
As shown in FIG. 5(b), when the beam spot 15 repeatedly scans between the beam spots 15b and 15a at π, the two comparators 9. The output of lO is at a high level, and the light emitting diodes 11 and 12 are both turned off. Then, the scanning position of beam spot 15 is further from this range)
The output of the ff-f comparator 9 on the lsa side becomes a low level and the light emitting diode 11 lights up, and conversely, if it shifts to the beam sub-15e side, the output of the comparator 10 becomes a low level and the light emitting diode 12 lights up. . Therefore, the scanning position 1 of the beam spot 15 can be adjusted by turning off both light emitting diodes (11 and 12).

また光電変換素子5がビームスポット15の走査を検知
し得る走査位置の限界が、ビームスボッ)15a、15
eの走査位置であるとすると、ビームスポット15aの
くり返し走査によって得られる積分出力信号−■。、に
等しい電圧に限界設定電源(−■、。fl)を設定し、
ビームスポット15eのくり返し走査によって得られる
積分出方信号−■。、に等しい電圧に限界設定電源(−
Vreft)を設定すれば、ビームスポット15の走査
位置がビームスポット15a、15eの範囲内であって
その走査な光電変換素子5が検知している状態ではコン
パレータ13の出力がロウレベルとなって発光ダイオー
ド14が点灯し、この状態を報知する。
Furthermore, the limit of the scanning position at which the photoelectric conversion element 5 can detect the scanning of the beam spot 15 is the beam spot (15a, 15).
Assuming that the scanning position is e, the integrated output signal -■ obtained by repeatedly scanning the beam spot 15a. , set the limit setting power supply (-■, .fl) to a voltage equal to ,
Integral output signal -■ obtained by repeatedly scanning the beam spot 15e. , set the limit power supply to a voltage equal to (−
Vreft), when the scanning position of the beam spot 15 is within the range of the beam spots 15a and 15e and the photoelectric conversion element 5 detects the scanning, the output of the comparator 13 becomes a low level and the light emitting diode 14 lights up to notify this state.

なおビームスポット15の走査開始検出は、コンパレー
タ7の出力信号Vga ・・自・・の立ち上がすな基準
にして行なう。
Note that detection of the start of scanning of the beam spot 15 is performed on the basis of the rise of the output signal Vga of the comparator 7.

以上の構成によれば次の効果が得られろ。According to the above configuration, the following effects can be obtained.

(イ)光電変換素子の受光面とビームスポットの走査位
置ずれ状態な測定機器を用いずに観測し、調整作業を実
施できる。
(a) It is possible to observe and carry out adjustment work without using a measuring device in which the scanning position of the light-receiving surface of the photoelectric conversion element and the beam spot is misaligned.

(ロ)走査位置ずれ量は光電変換素子の検知出方の時間
幅に応じて検出されるので、レーザビームスポットの光
量や光電変換素子の感度の変化の影響を受けにくい。
(b) Since the amount of scanning position shift is detected according to the time width of the detection direction of the photoelectric conversion element, it is not easily affected by changes in the light intensity of the laser beam spot or the sensitivity of the photoelectric conversion element.

(ハ) 1つの光電変換素子の検知出力な電気回路の処
理で、走査位置検出と走査開始検出に第11用するので
光電変換手段の構成が簡便である。
(c) Since the detection output of one photoelectric conversion element is processed by an electric circuit and used for scanning position detection and scanning start detection, the configuration of the photoelectric conversion means is simple.

この実施例は光電変換素子5の受光面5aに対するビー
ムスポット15の走査方向が逆の関係であってもよい。
In this embodiment, the scanning direction of the beam spot 15 with respect to the light receiving surface 5a of the photoelectric conversion element 5 may be reversed.

但しその場合には走査開始検出をコンパレータ7の出力
信号V s a ・・・・・・の立ち下がりを基準にす
る必要がある。
However, in that case, it is necessary to detect the start of scanning based on the falling edge of the output signal V sa of the comparator 7.

第6図に示す第2の実施例は、第3図で説明した第1の
実施例に第2の光電変換素子16を付加し、この第20
光電変換素子16の検出出力信号なオペアンプ17で増
幅し、更にコンパレータ18で波形整形してコンパレー
タ7の出力信号と逆極性の出力信号を得、両コンパレー
タ7.18の出力信号を積分回路8で積分するようにし
たものである。
The second embodiment shown in FIG. 6 adds a second photoelectric conversion element 16 to the first embodiment explained in FIG.
The detected output signal of the photoelectric conversion element 16 is amplified by the operational amplifier 17, further waveform-shaped by the comparator 18 to obtain an output signal with the opposite polarity to the output signal of the comparator 7, and the output signals of both comparators 7 and 18 are amplified by the integrating circuit 8. It is designed to be integrated.

この第2の実施例において、第7図(a)に示すよ5に
、第2の光電変換素子16の受光面16aが第1の光電
変換素子5の受光面5aの終端縁と平行となるように傾
斜した始端縁をもち且つ終端縁が走査方向に直角であり
、更に中心走査位置での両受光面5a、16aの幅が等
しくなるようにすると、ビームスポット15のくり返し
走査位置によってコンパレータ7.18の出力信号子v
1゜−v、it第7図(b)(7)+V、 、 〜−V
、 、  ノx 5 Kなる。この両出力信号十V、、
−V、を積分回路8で積分すると積分出力信号V。は第
8図(a)に示すように走査位置に応じて変化する。ビ
ームスポット15cによるくり返し走査位置においてコ
ンパレータ7の出力信号+Vmc  とコンパレータ1
8の出力信号−Vse の時間幅が等しいので積分出力
信号V。はゼロとなり、ビームスポット15a、15b
のくり返し走査では積分出力信号v0が正、ビームスポ
ット15d、15eのくり返し走査では積分出力信号V
。は負となる。そこで範囲設定電源(+V、1 )、(
V−2)をそれぞれ積分出力信号子vOb e  ’0
4 に等しい電圧に設定し、限界設定電源”■r*tt
L  (−vr s f 2 )をそれぞれ積分出力信
号+VOae−V。。に等しい電圧に設定すれば、前記
と同様な結果が得られる。しかもこの第2の実施例では
、ビームスポット15が受光面5a、16aの走査時間
幅の差に基づいて走査位置を検出しているので、両受光
面5a、16aの幅の相対関係を正確に設定しておけば
その絶対値の変化や走査速度の変化の影響が少ない。ま
たビームスポット15の走査位置の変化に応じてコンパ
レータ7.18の出力時間幅は反対特性に変化するので
積分出力信号v0の変化が大きくなり、検出精度が高(
なる。
In this second embodiment, as shown in FIG. 7(a), the light receiving surface 16a of the second photoelectric conversion element 16 is parallel to the terminal edge of the light receiving surface 5a of the first photoelectric conversion element 5. If the starting edge is inclined as shown in FIG. .18 output signal child v
1°-v, it Fig. 7(b) (7) +V, , ~-V
, , Nox 5K. Both output signals are 10 V.
-V, is integrated by the integrating circuit 8 to obtain an integrated output signal V. changes depending on the scanning position as shown in FIG. 8(a). At the repeated scanning position by the beam spot 15c, the output signal +Vmc of the comparator 7 and the comparator 1
Since the time width of the output signal -Vse of 8 is equal, the integral output signal V. becomes zero, and beam spots 15a, 15b
In the repeated scanning of beam spots 15d and 15e, the integral output signal v0 is positive, and in the repeated scanning of beam spots 15d and 15e, the integral output signal V0 is positive.
. becomes negative. Therefore, the range setting power supply (+V, 1), (
V-2) respectively, and the integral output signal vOb e '0
Set the voltage equal to 4 and set the limit power supply "■r*tt
L (-vr s f 2 ) respectively as an integral output signal +VOae-V. . If the voltage is set equal to , the same result as above can be obtained. Furthermore, in this second embodiment, since the beam spot 15 detects the scanning position based on the difference in scanning time width between the light receiving surfaces 5a and 16a, the relative relationship between the widths of both the light receiving surfaces 5a and 16a can be accurately determined. Once set, changes in the absolute value and scanning speed will have little effect. In addition, the output time width of the comparator 7.18 changes in the opposite characteristic according to the change in the scanning position of the beam spot 15, so the change in the integral output signal v0 becomes large, and the detection accuracy becomes high (
Become.

またこの第2の実施例はコンパレータ18の出力信号−
voの立ち下がりを走査開始検出の基準信号とすること
もできる。
Further, in this second embodiment, the output signal of the comparator 18 -
The falling edge of vo can also be used as a reference signal for scanning start detection.

更に光電変換素子5,16の受光面5a、16aはそれ
ぞれ始端縁と終端縁を逆にしても同様の効果が得られる
。これらの場合には、走査開始検出は走査方向に直角な
端縁での出力信号の変化を基準とするように選択する。
Furthermore, the same effect can be obtained even if the light-receiving surfaces 5a and 16a of the photoelectric conversion elements 5 and 16 have their starting edges and ending edges reversed, respectively. In these cases, scan start detection is chosen to be based on a change in the output signal at an edge perpendicular to the scan direction.

第9図と第10図に示す第3の実施例は第3図〜第5図
に示したように1つの光電変換素子5によるものでその
信号処理をディジタル化した例である。光電変換素子5
はオペアンプ6の(イ)入力端子と正電源(+V)の間
に接続され、オペアンプ6の(→入力端子は接地される
。コンパレータ7の(+入力端子はオペアンプ6の出力
端子に接続され、−入力端子は閾値電源(+V*h)に
接続される。
The third embodiment shown in FIGS. 9 and 10 is an example in which one photoelectric conversion element 5 is used as shown in FIGS. 3 to 5, and the signal processing thereof is digitized. Photoelectric conversion element 5
is connected between the (A) input terminal of the operational amplifier 6 and the positive power supply (+V), and the (→ input terminal of the operational amplifier 6 is grounded. The (+ input terminal of the comparator 7 is connected to the output terminal of the operational amplifier 6, -The input terminal is connected to the threshold power supply (+V*h).

ディジタルカウンタ19のイネーブル入力端子Bnab
jeはコンパレータ7の出力端子に接続され、クロック
入力端子ckにはクロック信号CLOCKが与えられ、
クリア入力端子C1ea rには遅延回路20から出力
されるクリア信号CLEARが与えられる。カウンタ1
9から出力されるカウント出力信号は遅延回路20から
のトリガ信号TRIGERでトリガされるラッチ回路2
1でラッチされ、ラッチした値はディジタルコンパレー
タ22に比較値り、n として印加される。
Enable input terminal Bnab of digital counter 19
je is connected to the output terminal of the comparator 7, a clock signal CLOCK is applied to the clock input terminal ck,
A clear signal CLEAR output from the delay circuit 20 is applied to the clear input terminal C1ear. counter 1
The count output signal output from the latch circuit 2 is triggered by the trigger signal TRIGER from the delay circuit 20.
The latched value is latched at 1, and the latched value is applied to the digital comparator 22 as a comparison value n.

コンパレータ7の出力信号V、は前記カウンタ19をイ
ネーブルにすると共に走査開始検出基準信号として使用
され、更に前記遅延回路20に入力されて1走査毎にカ
ウンタ19の出力をラッチする前記トリガ信号TRIG
BRを発生しその後にカウンタ19をクリアする前記ク
リア信号CLEARを発生するための基準となる。コン
パレータ22はラッチ回路21の出力信号DI!l  
と基準値Dr、i を比較し、その比較出力信号がイン
バータ23,24.25を介して発光ダイオード26,
27.28に与えられる。
The output signal V of the comparator 7 enables the counter 19 and is used as a scan start detection reference signal, and is further input to the delay circuit 20 to latch the output of the counter 19 every scan.
This serves as a reference for generating the clear signal CLEAR that generates BR and then clears the counter 19. The comparator 22 receives the output signal DI! of the latch circuit 21! l
and the reference value Dr,i, and the comparison output signal is sent to the light emitting diodes 26, 24, and 25 via inverters 23, 24, and
Given on 27.28.

以上の回路構成において、前記光電変換素子5が第10
図(a)に示す受光面5aであるとき、この受光面5a
の中心走査位置をビームスポット15c カ走査すると
、同図(b)に示すようにコンパレータ7から出力信号
V、が発生してカウンタ19がイネーブルになり、その
間のクロック信号CLOCKの数Neがカウントされる
。出力信号V、が消失すると遅延回路20はtdlの時
間遅れでトリガ信号TRIGERI−発生しその立ち上
がりでカウンタ19のカウント出力信号なラッチ回路2
1にラッチする。その後更にtd2時間遅れでクリア信
号CLEARが発生してカウンタ19がクリアされる。
In the above circuit configuration, the photoelectric conversion element 5 is
When the light receiving surface 5a is shown in FIG.
When the center scanning position of the beam spot 15c is scanned, an output signal V is generated from the comparator 7 as shown in FIG. Ru. When the output signal V disappears, the delay circuit 20 generates the trigger signal TRIGERI- with a time delay of tdl, and at its rising edge, the latch circuit 2 generates the count output signal of the counter 19.
Latch to 1. Thereafter, a clear signal CLEAR is generated with a further delay of td2, and the counter 19 is cleared.

このときのカウント出力信号すなわちコンパレータ22
に与えられる比較値Dl ts  をDineとすると
き、基準値り1.、をDr、、=Di、。とすれば、発
光ダイオード27を点灯することができる。そしてビー
ムスポット15bが受光面5aな走査するときは比較値
DIn がDl s b  となりDImb<Drsf
  となるので発光ダイオード26が点灯し、ビームス
ボッ)15dが受光面5a+Ir走査するときは比較値
DI、がDI !l d  となりDI+ad>Drs
f  となるので発光ダイオード28が点灯する。
The count output signal at this time, that is, the comparator 22
When the comparison value Dlts given to is Dine, the reference value is 1. , as Dr, ,=Di,. If so, the light emitting diode 27 can be turned on. When the beam spot 15b scans the light receiving surface 5a, the comparison value DIn becomes Dl s b and DImb<Drsf
Therefore, when the light emitting diode 26 lights up and the beam switch 15d scans the light receiving surface 5a+Ir, the comparison value DI becomes DI! l d becomes DI+ad>Drs
f, so the light emitting diode 28 lights up.

第11図と第12図に示す第4の実施例は第6図〜第8
図に示した第2の実施例のようVC,2つの光電変換素
子5.16VCよるものでその信号処理をディジタル化
した例である。光電変換素子5゜16はそれぞれオペア
ンプ6.17の(1)入力端子と正電源(+■)の間に
接続され、各オペアンプ6.17の(→入力端子は接地
される。コンパレータ7.18の各(1)入力端子はそ
れぞれ前記オペアンプ6.17の出力端子に接続され、
各(へ)、入力端子はそれぞれ閾値電源(+Vth)に
接続される。
The fourth embodiment shown in FIGS. 11 and 12 is shown in FIGS.
This is an example in which the signal processing is digitized using a VC and two photoelectric conversion elements of 5.16 VC as in the second embodiment shown in the figure. The photoelectric conversion elements 5゜16 are each connected between the (1) input terminal of the operational amplifier 6.17 and the positive power supply (+■), and the (→input terminal of each operational amplifier 6.17 is grounded. Each (1) input terminal of is connected to the output terminal of the operational amplifier 6.17, respectively,
Each input terminal is connected to a threshold power supply (+Vth).

コンパレータ7の出力信号V、□は走査開始検出基準信
号として利用されると共にNANDゲート29の一方の
入力端子に入力される。コンパレータ18の出力信号■
1□は遅延回路20に入力されると共[NANDゲート
30の入力端子に入力される。各NANDゲー)29,
30の他方の入力端子にはクロック信号CLOCKが入
力される。
The output signal V, □ of the comparator 7 is used as a scanning start detection reference signal and is input to one input terminal of the NAND gate 29. Output signal of comparator 18■
1□ is input to the delay circuit 20 and also to the input terminal of the NAND gate 30. Each NAND game) 29,
A clock signal CLOCK is input to the other input terminal of 30.

ディジタルアップダウンカウンタ31は、アップカウン
ト入力端子UpがNANDゲート29の出力端子に接続
され、ダウンカウント入力端子DownがNANDゲー
ト30の出力端子に接続され、データ入力端子Data
VCは初期値DATAが印加され、この初期値DATA
は遅延回路20からロード入力端子Loadに与えられ
るロード信号LOADによってカウンタ31内に取り込
まれる。カウンタ31の出力端子Qから出力されるカウ
ント出力信号は遅延回路20からのトリガ信号T RI
 G E Rでトリガされるラッチ回路21でラッチさ
れ、ラッチした値はディジタルコンパレータ22に比較
値り、わ として印加される。コンパレータ22はラッ
チ回路21の出力信号DI nを基準値D r * f
  と比較し、その比較出力信号がインバータ23,2
4.25を介して発光ダイオード26,27.28に与
えられる。
The digital up/down counter 31 has an up count input terminal Up connected to the output terminal of the NAND gate 29, a down count input terminal Down connected to the output terminal of the NAND gate 30, and a data input terminal Data.
The initial value DATA is applied to VC, and this initial value DATA
is taken into the counter 31 by the load signal LOAD applied from the delay circuit 20 to the load input terminal Load. The count output signal output from the output terminal Q of the counter 31 is the trigger signal TRI from the delay circuit 20.
It is latched by a latch circuit 21 triggered by GER, and the latched value is applied to a digital comparator 22 as a comparison value. The comparator 22 converts the output signal DI n of the latch circuit 21 into a reference value D r * f
The comparison output signal is output from inverters 23 and 2.
4.25 to the light emitting diodes 26, 27.28.

以上の回路構成において、前記光電変換素子5゜16が
第12図(a)に示す受光面5a、16aであるとき、
この受光面5a、16aの中心走査位置をビームスポッ
ト15cが走査すると、先ず受光面5aが走査されてコ
ンパレータ7の出力信号v、1 が発生するためクロッ
ク信号CLOCKがNANDゲート29を介してアップ
ダウンカウンタ31のアップカウント入力端子Upに与
えられ、出力信号■、1 が発生している間のクロック
信号CL OCKの数Jl だげアップカウントする。
In the above circuit configuration, when the photoelectric conversion element 5.16 is the light receiving surface 5a, 16a shown in FIG. 12(a),
When the beam spot 15c scans the center scanning position of the light receiving surfaces 5a and 16a, the light receiving surface 5a is first scanned and the output signal v,1 of the comparator 7 is generated, so that the clock signal CLOCK is increased and decreased via the NAND gate 29. It is applied to the up-count input terminal Up of the counter 31, and counts up by the number Jl of the clock signal CLOCK while the output signals 1 and 1 are being generated.

次に受光面16aが走査されてコンパレータ18の出力
信号vs2 が発生するためクロック信号CLOCKが
NANDゲー)30を介してアップダウンカウンタ31
のダウンカウント入力端子・D o w nに与えられ
、出力信号■8□が発生している間のクロック信号CL
OCKの数Nc2だけダウンカウントする。コンパレー
タ18の出力信号V、□ が消失すると、遅延回路20
はtd工の時間遅れでトリガ信号TRIGBRな発生し
その立ち上がりでカウンタ31のカウント出力信号をラ
ッチ回路21にラッチする。その後更にtd2時間遅れ
でロード信号LOADが発生してカウンタ31には初期
値DATAが取り込まれる。これによりラッチ回路21
の出力信号すなわちコンパレータ22に入力される比較
値Di!lは、中心走査位置の走査ではN、、=Nc2
であるので、D、!l=  DATAとなっている。従
ってコンパレータ22の基準値り7.、なり、、、==
 DATAとしておけば、発光ダイオード27を点灯す
ることができる。そしてビームスポット15bが受光面
5a、16aを走査するときは比較値D1m がDI 
m b  となってDIn、〈Dr、f となるので発
光ダイオード26が点灯し、ビームスポット15dが受
光面5a、16gを走査するときは比較値DIn はり
61.となってDt tr a>Dr e t  とな
るので発光ダイオード28が点灯する。
Next, the light receiving surface 16a is scanned and the output signal vs2 of the comparator 18 is generated, so that the clock signal CLOCK is sent to the up/down counter 31 via the NAND gate
The clock signal CL is applied to the down count input terminal of
Count down by the number of OCKs Nc2. When the output signal V, □ of the comparator 18 disappears, the delay circuit 20
The trigger signal TRIGBR is generated due to the time delay of the td process, and the count output signal of the counter 31 is latched into the latch circuit 21 at the rising edge of the trigger signal TRIGBR. Thereafter, a load signal LOAD is generated with a further delay of td2, and the initial value DATA is taken into the counter 31. As a result, the latch circuit 21
output signal, that is, the comparison value Di! input to the comparator 22. l is N for scanning at the center scanning position, ,=Nc2
Therefore, D! l=DATA. Therefore, the reference value of the comparator 22 is 7. , becomes,,,==
If it is set as DATA, the light emitting diode 27 can be turned on. When the beam spot 15b scans the light receiving surfaces 5a and 16a, the comparison value D1m is DI
Since m b becomes DIn, <Dr, f, the light emitting diode 26 lights up, and when the beam spot 15d scans the light receiving surfaces 5a and 16g, the comparison value DIn becomes the beam 61. Since Dt tra > Dr e t , the light emitting diode 28 lights up.

以上に述べた第3.第4の実施例も第1.第2の実施例
と同様に変形して実施でき、また同等の効果を得ること
ができる。
The third point mentioned above. The fourth embodiment is also the same as the first embodiment. It can be modified and implemented in the same manner as the second embodiment, and the same effects can be obtained.

なお上記4つの実施例は何れも光電変換素子5゜16を
走査開始検出に利用しているが、これらの光電変換素子
と同一走査位置に走査開始検出専用の光電変換素子を設
けてもよい。
In each of the above four embodiments, the photoelectric conversion element 5.16 is used to detect the start of scanning, but a photoelectric conversion element dedicated to detecting the start of scanning may be provided at the same scanning position as these photoelectric conversion elements.

また光電変換素子の受光面の走査方向の幅の変化は連続
的である必要はなく階段状でもよい。
Further, the width of the light-receiving surface of the photoelectric conversion element in the scanning direction does not need to change continuously, and may be stepped.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように本発明によれば、レーザビーム走査方向の
幅がこの走査方向と直角方向の位置に応じて順次変化す
る受光面を有する光電変換手段によってビームスポット
の走査を検出し、その走査時間幅に基づいて基準位置に
対する走査位置ずれ量を検出するようにしたので、光電
変換手段の光電変換特性やビームスポット光量のばらつ
きによる検出誤差を少なくできる効果がある。
As described above, according to the present invention, scanning of a beam spot is detected by a photoelectric conversion means having a light receiving surface whose width in a laser beam scanning direction changes sequentially according to a position perpendicular to the scanning direction, and the scanning time is Since the scanning position shift amount with respect to the reference position is detected based on the width, there is an effect that detection errors due to variations in the photoelectric conversion characteristics of the photoelectric conversion means and the beam spot light amount can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図(a) 、 (b) &i光電変換手段の受光面
に対するビームスポット走査と出力特性図、第2図は改
良された光電変換手段の受光面とビームスポット走査図
、第3図〜第12図は本発明の実施例を示し、第3図は
第1の実施例の電気回路図、第4図(a)。 (blはその光電変換手段の受光面に対するビームスポ
ット走査と出力特性図、第5図(a)〜(c) k”L
その位置検出特性図、第6図は第2の実施例の電気回路
図、第7図(a)、 (b)はその光電変換手段の受光
面に対するビームスポット走査と出力特性図、第8図f
a)〜(C)はその位置検出特性図、第9図は第3の実
施例の電気回路図、第10図(a)、 (b)はその位
置検5・・・・・・光電変換素子、5a・・・・・・受
光面、8・・・・・・積分回路、9,10,13・・・
・・・コンパレータ。 第1図 第2図 n D 第7図 特開昭59−70359 (9) 第8図 +r’−b走査値! ム
Figure 1 (a), (b) &i: Beam spot scanning and output characteristic diagrams for the light receiving surface of the photoelectric conversion means; Figure 2 is a light receiving surface and beam spot scanning diagram of the improved photoelectric conversion means; Figures 3 to 3; FIG. 12 shows an embodiment of the present invention, FIG. 3 is an electric circuit diagram of the first embodiment, and FIG. 4(a). (bl is the beam spot scanning and output characteristic diagram for the light receiving surface of the photoelectric conversion means, Fig. 5 (a) to (c) k"L
6 is an electric circuit diagram of the second embodiment, FIGS. 7(a) and 7(b) are beam spot scanning and output characteristics diagrams for the light receiving surface of the photoelectric conversion means, and FIG. 8 is a diagram of its position detection characteristics. f
a) to (C) are position detection characteristic diagrams, FIG. 9 is an electric circuit diagram of the third embodiment, and FIGS. 10 (a) and (b) are position detection 5...photoelectric conversion. Element, 5a... Light receiving surface, 8... Integrating circuit, 9, 10, 13...
···comparator. Figure 1 Figure 2 n D Figure 7 JP-A-59-70359 (9) Figure 8 +r'-b scanning value! Mu

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、被走査面にビームスポットを形成するレーザビーム
を偏向制御してビームスポットを走査するレーザビーム
走査系において、レーザビーム走査方向の幅が前記走査
方向と直角方向の位置に応じて順次変化する受光面を有
しこの受光面を前記レーザビームの偏向走査光路中に配
置した光電変換手段と、この光電変換手段から得られる
光電変換出力信号と基準信号を比較して受光面を走査す
るビームスポットの時間幅と基準時間幅との関係を検出
する比較回路手段とを設け、この比較回路手段の出力信
号によって前記受光面を走査する前記ビームスポットの
前記直角方向の走査位置ずれを検出することを特徴とす
るレーザビーム走査系のビーム位置検出装置。 2、特許請求の範囲第1項において、前記比較回路手段
は、前記光電変換手段の出力信号ケ積分する積分回路と
、この積分回路の出力信号と基準信号の大きさの関係を
判別する判別回路を備えたことを特徴とするレーザビー
ム走査系のビーム位置検出装置。 3、特許請求の範囲第1項において、前配光電変換手段
は、前記走査方向に並べて配列され前記直角方向の基準
位置における走査方向幅が等しく且つ前記直角方向位置
に応する幅変化特性が逆の受光面をもつ2つの光電変換
素子を備え、前記比較回路手段は、前記2つの光電変換
素子から得られる出力信号を波形整形し且つ2つの出力
信号が反対極性となるようにする波形整形回路と、この
反対極性の2つの出力信号を積分してその差分な出力す
る積分回路と、この積分回路の出力信号の大きさと基準
信号の大きさの関係を判別する判別回路を備えたことを
特徴とするレーザビーム走査系のビーム位置検出装置。 4、特許請求の範囲第1項において、前記比較回路手段
は、前記光電変換出力信号が存在する間にクロックパル
スを計数するカウンタと、このカウンタの計数値と基準
値との関係を判別する判別回路を備えたことを特徴とす
るレーザビーム走査系のビーム位置検出装置。 5、特許請求の範囲第1項において、前記光電変換手段
は、前記走査方向に並べて配列され前記直角方向の基準
位置におけろ走査方向幅が等しく且つ前記直角方向位置
に応する幅変化特性が逆の受光面をもつ2つの光電変換
素子を備え、前記比較回路手段は、一方の光電変換素子
の出力信号が存在する間fクロックパルスをアップカウ
ントし且つ他方の光電変換素子の出力信号が存在する間
にクロックパルスをダウンカウントするアップダウンカ
ウンタと、このアップダウンカウンタの計数値と基準値
との関係を判別する判別回路を備えたことを特徴とする
レーザビーム走査系のビーム位置検出装置。
[Claims] 1. In a laser beam scanning system that scans a beam spot by controlling the deflection of a laser beam that forms a beam spot on a surface to be scanned, a position where the width of the laser beam in the scanning direction is perpendicular to the scanning direction. A photoelectric conversion means has a light-receiving surface that changes sequentially according to the laser beam, and the light-receiving surface is placed in the deflection scanning optical path of the laser beam, and a photoelectric conversion output signal obtained from this photoelectric conversion means is compared with a reference signal to receive light. Comparison circuit means for detecting the relationship between the time width of the beam spot scanning the surface and the reference time width is provided, and the scanning position in the perpendicular direction of the beam spot scanning the light receiving surface is provided based on the output signal of the comparison circuit means. A beam position detection device for a laser beam scanning system characterized by detecting deviation. 2. In claim 1, the comparison circuit means includes an integration circuit that integrates the output signal of the photoelectric conversion means, and a discrimination circuit that determines the relationship between the output signal of the integration circuit and the reference signal. A beam position detection device for a laser beam scanning system, comprising: 3. In claim 1, the front light distribution electric conversion means are arranged side by side in the scanning direction, have the same width in the scanning direction at the reference position in the orthogonal direction, and have opposite width change characteristics depending on the position in the orthogonal direction. The comparison circuit means is a waveform shaping circuit that shapes the output signals obtained from the two photoelectric conversion elements so that the two output signals have opposite polarities. , an integrating circuit that integrates these two output signals of opposite polarity and outputs the difference thereof, and a discrimination circuit that discriminates the relationship between the magnitude of the output signal of the integrating circuit and the magnitude of the reference signal. A beam position detection device for a laser beam scanning system. 4. In claim 1, the comparison circuit means includes a counter that counts clock pulses while the photoelectric conversion output signal is present, and a determination that determines the relationship between the counted value of this counter and a reference value. A laser beam scanning system beam position detection device characterized by being equipped with a circuit. 5. In claim 1, the photoelectric conversion means are arranged side by side in the scanning direction, have equal widths in the scanning direction at the reference positions in the orthogonal direction, and have width change characteristics corresponding to the positions in the orthogonal direction. Two photoelectric conversion elements having opposite light-receiving surfaces are provided, and the comparison circuit means counts up the f clock pulse while the output signal of one photoelectric conversion element is present, and the output signal of the other photoelectric conversion element is present. 1. A beam position detecting device for a laser beam scanning system, comprising: an up/down counter that counts down clock pulses during a period of time; and a determination circuit that determines the relationship between the counted value of the up/down counter and a reference value.
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