JPS5960337A - 光フアイバ・ロケ−タ - Google Patents
光フアイバ・ロケ−タInfo
- Publication number
- JPS5960337A JPS5960337A JP17198782A JP17198782A JPS5960337A JP S5960337 A JPS5960337 A JP S5960337A JP 17198782 A JP17198782 A JP 17198782A JP 17198782 A JP17198782 A JP 17198782A JP S5960337 A JPS5960337 A JP S5960337A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- period
- length
- pulse
- fracture point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ） 発明の技術分野
本発明は光ファイバ・ロケータに係るもので、光ファイ
バの破断点を検出し、確認する方式に関するものである
。
バの破断点を検出し、確認する方式に関するものである
。
（ｂ） 従来技術と問題点
第１図は従来の技術を説明するための図で、図において
、横ｌＮ１１け時間、縦軸は反射光のパワーを示す。従
来し、１光フアイバの破断点の検出のため、成る周期を
持ったパルスを光ファイバに送出すると、第１図（ｒＩ
）のようにフレネル反射光ピークが現れる。然し光ファ
イバに対して送出する光パルスの周期により定″まる測
定１’Ｊ＋界長よりも長い光ファイバの末ψ；１課に近
い所に破断点がある場合を測定すると第１図（１））の
ように、次のパルス周期の中に反射パルスが現れで、画
面」二に＆；Ｌｆ４ｒ１図（ｃ）のように観測され、破
断点でない場所にフレネル反射光ピークが現れる。この
ために破［す「していない箇所を？ｉ’Ｕ断点と誤認す
ると云う欠点がある。
、横ｌＮ１１け時間、縦軸は反射光のパワーを示す。従
来し、１光フアイバの破断点の検出のため、成る周期を
持ったパルスを光ファイバに送出すると、第１図（ｒＩ
）のようにフレネル反射光ピークが現れる。然し光ファ
イバに対して送出する光パルスの周期により定″まる測
定１’Ｊ＋界長よりも長い光ファイバの末ψ；１課に近
い所に破断点がある場合を測定すると第１図（１））の
ように、次のパルス周期の中に反射パルスが現れで、画
面」二に＆；Ｌｆ４ｒ１図（ｃ）のように観測され、破
断点でない場所にフレネル反射光ピークが現れる。この
ために破［す「していない箇所を？ｉ’Ｕ断点と誤認す
ると云う欠点がある。
（ｃ） 発明の目的
本発明の目的は上記の欠点を除去し、高件能の光ファイ
バ・ロク゛−タを提供することである。
バ・ロク゛−タを提供することである。
（ｄ） 発明の構成
本発明によれば上記の目的ｔよ、光ファイバの破断点を
検出する光ファイバ・ロケータにおいて、被測定光ファ
イバに対して送出する光パルスの周期を自動的に拡大す
る機能を持つことにより、該被測定光ファイバの破断点
からのフレネル反射光のピークの位β″が前記ノ＾１期
の拡大によって変化するか否かを検出し、真実の破断点
か否かを確認出来ることをｑ＆ｆ；”（とする光ファイ
バ・ロケータを提供することによシ達成される。
検出する光ファイバ・ロケータにおいて、被測定光ファ
イバに対して送出する光パルスの周期を自動的に拡大す
る機能を持つことにより、該被測定光ファイバの破断点
からのフレネル反射光のピークの位β″が前記ノ＾１期
の拡大によって変化するか否かを検出し、真実の破断点
か否かを確認出来ることをｑ＆ｆ；”（とする光ファイ
バ・ロケータを提供することによシ達成される。
（ｅ） 発明の実施例
以下本発明の実施例を図面によって８１一連する。
第２図の（ａ）＋ （ｂ）ｔ （ｃ）は本発明の原理を
説り］するだめの図である。第３図は本発明にょる一実
施例の構成図で、図中１はクロック部、２は周期ユ′！
り波器＋ ３ｉ１：レーザ・ダイオード、４カプシ、
５は光フーｒイバ・ケーブル、６はアバランシェ・フォ
ト・ダイオードＴ ’ｙｌｔよアンプ、８はＡ／Ｄψ
、ｌ啓’？５＋ ９は加（′ｉ器、１０は処理部、１
１は表示部である。
説り］するだめの図である。第３図は本発明にょる一実
施例の構成図で、図中１はクロック部、２は周期ユ′！
り波器＋ ３ｉ１：レーザ・ダイオード、４カプシ、
５は光フーｒイバ・ケーブル、６はアバランシェ・フォ
ト・ダイオードＴ ’ｙｌｔよアンプ、８はＡ／Ｄψ
、ｌ啓’？５＋ ９は加（′ｉ器、１０は処理部、１
１は表示部である。
クロック部１の出力パルスは周期選択器２を経由して、
レーザ・ダイオード３を駆動し、レーザ・ダイオード３
からの光パルスをカプラ４を経て光ファイバ５に送出す
る。光ファイバ・り゛−プル５より反射して来る光はア
バランシェ・）１ト・マ咽 ダイオード６で光電変換をし、アンプ７で所定の大きさ
に増幅され、Ａ／Ｄ変換器８でコード化され、加’ｒＴ
ｉ！神９で測定値の平均をとって神「イを除去２車 り処理部１０で処理されて、表示部１１に第２図のよう
な受信波形が得られる。
レーザ・ダイオード３を駆動し、レーザ・ダイオード３
からの光パルスをカプラ４を経て光ファイバ５に送出す
る。光ファイバ・り゛−プル５より反射して来る光はア
バランシェ・）１ト・マ咽 ダイオード６で光電変換をし、アンプ７で所定の大きさ
に増幅され、Ａ／Ｄ変換器８でコード化され、加’ｒＴ
ｉ！神９で測定値の平均をとって神「イを除去２車 り処理部１０で処理されて、表示部１１に第２図のよう
な受信波形が得られる。
第２図（ａ）において、光ファ・１パの長さＬはパルス
の周期Ｔによって定゛まる限界長の距１１ｉ１１より長
いために、次の周期の領域に反射パルスが現れるため、
この“ままでは＋Ｅｔ、い破１（１１点測定が出来ない
。
の周期Ｔによって定゛まる限界長の距１１ｉ１１より長
いために、次の周期の領域に反射パルスが現れるため、
この“ままでは＋Ｅｔ、い破１（１１点測定が出来ない
。
今仮に光ファイバ・ケーブルの長さ１０ｋｍで、その末
端に近い所に破断点があるとする。これに対し幅８０ｎ
ｓのパルスを周期８０μｓで送出するとする。周期Ｂｏ
ｌｔｓによって定寸る限界長は約８１（ｍであるので、
（ａ）図の如く反射パルスは次の周期の領１或２ｋｍの
処に現れる０、即ち２ｋｍの処に破断点があると誤判１
１７？することになる。この欠点を除去するため第３図
の周期選択器２により、Ｐ＝ ２１；ｉ：１（ｂ）のよ
うにパルスの周期を２倍に拡大して１６０μｓで測定す
ると拡大前とは異なる場所に破断点のフレネル反射ピー
クが現れる。一方（ｃ）のように光ファイバの長さＬが
パルス周期ＴにＪ：って定まる限界長の距離より短いり
）合には、周ＪυＪの拡大操作をしてもフレネル反射光
ピークの位置は変らない。このように周期を自動的に拡
大することによって破断点を３）′ｉ認すること在＜、
まだパルス周期ｌ／（よろ測定長の制御奴を受りること
ガ＜ 、ｋ、＋＋ｆ（点を１硫に測シトすることが出来
Ｚ）。
端に近い所に破断点があるとする。これに対し幅８０ｎ
ｓのパルスを周期８０μｓで送出するとする。周期Ｂｏ
ｌｔｓによって定寸る限界長は約８１（ｍであるので、
（ａ）図の如く反射パルスは次の周期の領１或２ｋｍの
処に現れる０、即ち２ｋｍの処に破断点があると誤判１
１７？することになる。この欠点を除去するため第３図
の周期選択器２により、Ｐ＝ ２１；ｉ：１（ｂ）のよ
うにパルスの周期を２倍に拡大して１６０μｓで測定す
ると拡大前とは異なる場所に破断点のフレネル反射ピー
クが現れる。一方（ｃ）のように光ファイバの長さＬが
パルス周期ＴにＪ：って定まる限界長の距離より短いり
）合には、周ＪυＪの拡大操作をしてもフレネル反射光
ピークの位置は変らない。このように周期を自動的に拡
大することによって破断点を３）′ｉ認すること在＜、
まだパルス周期ｌ／（よろ測定長の制御奴を受りること
ガ＜ 、ｋ、＋＋ｆ（点を１硫に測シトすることが出来
Ｚ）。
（ｆ） 発明の効果
本発明によれば、被測５′Ｊｉ光フアイバの長いに関係
なく、破断点であることを確ｉＪすることが出来ると云
う効果がある。
なく、破断点であることを確ｉＪすることが出来ると云
う効果がある。
汀、１図（３）＋ （ｂ）ｔ （ｃ）に従オの技術を説
１叫するためノ］・］で第２図（ａ）＋ （ｂ）＋ （
ｃ）ｔよ本孔りｊ］の原理ｋ Ｆｉ之１ ’、！’Ｊす
るだめの図である。第３図υ：木発明にょろ−・実施例
のＲｐ構成図、し゛団コ１はクロック部、２は周期選択
器、３けレーザ・ダイオード、４′ＪＪプシ、５は光フ
ァイバ・ケーフ゛ル、６はアバシニ／シ′工・フメト・
ダイオード、７はアンプ、８はＡ／１〕変換器。 ９は力１１共−ｒ＝、ｔｏは処理音ト、ｉｉは表示部で
ある〇／ｆ） 第ＺＳ Ｔ プニフンイへ（ビＬ 第３ｍ
１叫するためノ］・］で第２図（ａ）＋ （ｂ）＋ （
ｃ）ｔよ本孔りｊ］の原理ｋ Ｆｉ之１ ’、！’Ｊす
るだめの図である。第３図υ：木発明にょろ−・実施例
のＲｐ構成図、し゛団コ１はクロック部、２は周期選択
器、３けレーザ・ダイオード、４′ＪＪプシ、５は光フ
ァイバ・ケーフ゛ル、６はアバシニ／シ′工・フメト・
ダイオード、７はアンプ、８はＡ／１〕変換器。 ９は力１１共−ｒ＝、ｔｏは処理音ト、ｉｉは表示部で
ある〇／ｆ） 第ＺＳ Ｔ プニフンイへ（ビＬ 第３ｍ
Claims (1)
- 光ファイバの破断点を検出する光フ１イノく・ロケータ
において、被測定光ファイバに対して送出する光パルス
の周期を自動的に拡大する！ｉ肩＋ヒを持つことにより
、該ネ）シ測定光ファイノくの破１１フ１点からのフレ
ネル反射光のピークの位置が前記周期の拡大によって変
化するか否かを検出し、真実の破断点か否かを確認出来
ることを特徴とする光ファイバ・ロケータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17198782A JPS5960337A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 光フアイバ・ロケ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17198782A JPS5960337A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 光フアイバ・ロケ−タ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5960337A true JPS5960337A (ja) | 1984-04-06 |
Family
ID=15933429
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17198782A Pending JPS5960337A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 光フアイバ・ロケ−タ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5960337A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5000568A (en) * | 1986-11-26 | 1991-03-19 | Hewlett-Packard Company | Spread spectrum optical time domain reflectometer |
| US5069544A (en) * | 1990-04-12 | 1991-12-03 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Adaptive pulse width optical fault finder |
| US5155439A (en) * | 1989-12-12 | 1992-10-13 | Tektronix, Inc. | Method of detecting and characterizing anomalies in a propagative medium |
-
1982
- 1982-09-30 JP JP17198782A patent/JPS5960337A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5000568A (en) * | 1986-11-26 | 1991-03-19 | Hewlett-Packard Company | Spread spectrum optical time domain reflectometer |
| US5155439A (en) * | 1989-12-12 | 1992-10-13 | Tektronix, Inc. | Method of detecting and characterizing anomalies in a propagative medium |
| US5069544A (en) * | 1990-04-12 | 1991-12-03 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Adaptive pulse width optical fault finder |
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