JPS5960256A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
- Publication number
- JPS5960256A JPS5960256A JP57169597A JP16959782A JPS5960256A JP S5960256 A JPS5960256 A JP S5960256A JP 57169597 A JP57169597 A JP 57169597A JP 16959782 A JP16959782 A JP 16959782A JP S5960256 A JPS5960256 A JP S5960256A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- probes
- inspected
- flaw
- vertical
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
- G01N29/0618—Display arrangements, e.g. colour displays synchronised with scanning, e.g. in real-time
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明&:1−1傷の深さ位置を測定することができ
る超音波探傷装置に関するものである。。
る超音波探傷装置に関するものである。。
超に1波探傷装jWとして、斜角探触子および垂直探触
子が知られている。これらの探触子によって被探傷物中
の傷を検出することができる。
子が知られている。これらの探触子によって被探傷物中
の傷を検出することができる。
しかしながら、これらの探触子は、傷に関して被探傷物
表面からの深さ位置を測定することができない。
表面からの深さ位置を測定することができない。
そこで、この発明は、以」二のような問題を解消すべく
なされたもので、 斜角探触子と、垂直探触子と、 前記両枠触子間の間隔が所定間隔になるように前記両枠
触子を支持するだめの支持手段と、前記両枠触子間の間
隔および前記斜角探触子から発信された超音波が被探傷
物中の傷に当って前記垂直探触子に到達するまでの時間
に基づいて、前記傷の深さ位置を演算するプζめの演鏝
一手段とを備えだ超音波探傷装置としたことに特徴を有
する。
なされたもので、 斜角探触子と、垂直探触子と、 前記両枠触子間の間隔が所定間隔になるように前記両枠
触子を支持するだめの支持手段と、前記両枠触子間の間
隔および前記斜角探触子から発信された超音波が被探傷
物中の傷に当って前記垂直探触子に到達するまでの時間
に基づいて、前記傷の深さ位置を演算するプζめの演鏝
一手段とを備えだ超音波探傷装置としたことに特徴を有
する。
以下この発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
第1図はこの発明にかかる超音波探傷装置の要部の一態
様を示す概略断面図である。
様を示す概略断面図である。
図において、1は垂直探触子、2は斜角探触子、:4U
しIIす探触子−1,2間の間隔が所定間隔になるよう
に四l [”、1−IQ・l! −1’ l 、 2を
支1寺するためのホルダである・・ ボルダ:への下部に(は、2つの凹部30. 、3bが
形成されており、四部3a 131)の各々に、測探触
子]、2の各々か収容さノする1、ホルダ3は適当な走
査機構(回生ぜず)に支持され、この走査機構によって
、被探傷物4の表面上を移動する。
しIIす探触子−1,2間の間隔が所定間隔になるよう
に四l [”、1−IQ・l! −1’ l 、 2を
支1寺するためのホルダである・・ ボルダ:への下部に(は、2つの凹部30. 、3bが
形成されており、四部3a 131)の各々に、測探触
子]、2の各々か収容さノする1、ホルダ3は適当な走
査機構(回生ぜず)に支持され、この走査機構によって
、被探傷物4の表面上を移動する。
ホルダ:−ウには、その上端から、凹部3a 、 3b
に貫通ずるように孔3CI 36が各々一対ずつ形成さ
れて、1.・す、凹部:3a 、 3b内には、押板5
,6が配され、孔3C・+ 1.、’l(]中を貫通し
た支持棒7,8の一端が押板、’、i 、 6に固定さ
れ、同じく孔3c、3d中に配されたバネ9 、1.0
の一端が押板5,6に当接している1、バネ9 、10
の他端は、ホルダ3の上端に固定されたバネ押え11.
12に当接し、支持棒7 、8の他端Q」1、バネ押え
11 、12を貫通し月つそこに止めピン1;へ、14
が挿込1れている。かくして、バネ9,10の弾力によ
って、押板5,6は、凹部3a 、 3b内の探触子1
,2を下方に押圧する。
に貫通ずるように孔3CI 36が各々一対ずつ形成さ
れて、1.・す、凹部:3a 、 3b内には、押板5
,6が配され、孔3C・+ 1.、’l(]中を貫通し
た支持棒7,8の一端が押板、’、i 、 6に固定さ
れ、同じく孔3c、3d中に配されたバネ9 、1.0
の一端が押板5,6に当接している1、バネ9 、10
の他端は、ホルダ3の上端に固定されたバネ押え11.
12に当接し、支持棒7 、8の他端Q」1、バネ押え
11 、12を貫通し月つそこに止めピン1;へ、14
が挿込1れている。かくして、バネ9,10の弾力によ
って、押板5,6は、凹部3a 、 3b内の探触子1
,2を下方に押圧する。
ホルダz3の下端の周辺部には、四部3a、3b内に収
容されだ探触子1,2を安定に支持するだめの複数個の
走行ボール]5.が、被探傷物4の表面に接触するよう
に設けられている。従って、走行ボール]5によって、
ホルダ3は被探傷物4の表面に安定に接地し、バネ9.
10の弾力によって、ホルダ3の四部3a、3b内に収
容されだ探触子1.2は被探傷物4の表面に押付けられ
、そして、走査機構(図示せず)によって、探触子1,
2は、被探傷物5の表面上を安定に移動する。
容されだ探触子1,2を安定に支持するだめの複数個の
走行ボール]5.が、被探傷物4の表面に接触するよう
に設けられている。従って、走行ボール]5によって、
ホルダ3は被探傷物4の表面に安定に接地し、バネ9.
10の弾力によって、ホルダ3の四部3a、3b内に収
容されだ探触子1.2は被探傷物4の表面に押付けられ
、そして、走査機構(図示せず)によって、探触子1,
2は、被探傷物5の表面上を安定に移動する。
測探触子1.2は、適当な制御演算回路(図示せず)に
電気的に接続され、この制御演算回路において、次のよ
うにして被探傷物4中の傷4aの深さく位置)!、、l
は測定される。即ち、W:測探触子1.2間の間隔 1’被深傷物4中における、余1角探触子2から発信さ
れた超音波の横波の波長 CL:被探傷物4中における、斜角探触子2から発信さ
れて傷4aに当って反射した超音波の縦波の波長 T : 21角探触子2から発信された超音波が傷4a
に当って垂直探触子コ−に到達する〕1:での時間 とすると、 1) /C1,+W /C8= T という関係がイ(Iられ、これに基づいて、制御演算回
路内において、Dが演算される。
電気的に接続され、この制御演算回路において、次のよ
うにして被探傷物4中の傷4aの深さく位置)!、、l
は測定される。即ち、W:測探触子1.2間の間隔 1’被深傷物4中における、余1角探触子2から発信さ
れた超音波の横波の波長 CL:被探傷物4中における、斜角探触子2から発信さ
れて傷4aに当って反射した超音波の縦波の波長 T : 21角探触子2から発信された超音波が傷4a
に当って垂直探触子コ−に到達する〕1:での時間 とすると、 1) /C1,+W /C8= T という関係がイ(Iられ、これに基づいて、制御演算回
路内において、Dが演算される。
以」二説明しだ」:うに、この発明においては、被探傷
物中の傷の深さを測定することができる1゜
物中の傷の深さを測定することができる1゜
第1図はこの発明にかかる超音波探傷装置の要部の1態
様を示す概略断面図である。図面において、 1・・垂直探触子 2・・・斜角探触子、′う・ホ
ルダ 出廓【入 日本鋼管株式会社
様を示す概略断面図である。図面において、 1・・垂直探触子 2・・・斜角探触子、′う・ホ
ルダ 出廓【入 日本鋼管株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 斜角探触子と、垂直探触子と、 前記両枠触子間の間隔が所定間隔になるように前記両枠
触子を支持するだめの支持手段と、前記両枠触子間の間
隔および前記斜角探触子から発信された超音波が被探傷
物中の傷に当って前記垂直探触子に到達する寸での時間
に基づいて、前記傷の深さ位置を演算するための演算手
段とを備えだことを特徴とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57169597A JPS5960256A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57169597A JPS5960256A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5960256A true JPS5960256A (ja) | 1984-04-06 |
Family
ID=15889435
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57169597A Pending JPS5960256A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5960256A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01121473A (ja) * | 1987-03-30 | 1989-05-15 | Katsura:Kk | キ−等の保管装置 |
JPH01145565A (ja) * | 1987-12-02 | 1989-06-07 | Toshiba Corp | 超音波探傷装置 |
GB2561272A (en) * | 2016-10-20 | 2018-10-10 | Takasago Elec Inc | Perfusion culture apparatus and perfusion culture method |
-
1982
- 1982-09-30 JP JP57169597A patent/JPS5960256A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01121473A (ja) * | 1987-03-30 | 1989-05-15 | Katsura:Kk | キ−等の保管装置 |
JPH0625499B2 (ja) * | 1987-03-30 | 1994-04-06 | 株式会社桂 | キ−等の保管装置 |
JPH01145565A (ja) * | 1987-12-02 | 1989-06-07 | Toshiba Corp | 超音波探傷装置 |
GB2561272A (en) * | 2016-10-20 | 2018-10-10 | Takasago Elec Inc | Perfusion culture apparatus and perfusion culture method |
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