JPS5949976U - 半導体試験用基板 - Google Patents

半導体試験用基板

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Publication number
JPS5949976U
JPS5949976U JP14554782U JP14554782U JPS5949976U JP S5949976 U JPS5949976 U JP S5949976U JP 14554782 U JP14554782 U JP 14554782U JP 14554782 U JP14554782 U JP 14554782U JP S5949976 U JPS5949976 U JP S5949976U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test board
semiconductor test
terminal
wiring board
printed wiring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14554782U
Other languages
English (en)
Inventor
守谷　忠司
Original Assignee
利昌工業株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 利昌工業株式会社 filed Critical 利昌工業株式会社
Priority to JP14554782U priority Critical patent/JPS5949976U/ja
Priority to GB08322587A priority patent/GB2130383B/en
Publication of JPS5949976U publication Critical patent/JPS5949976U/ja
Priority to US06/875,517 priority patent/US4766371A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は従来多く用いられているソケットの構造を示す
ための斜視図、第２図は第１図に示すソケットのコネク
ター機構を模式的に表わすための分解断面図、第３図〜
第６図はこの考案の実施例の二三を模式的に示す断面図
、第７図は端子部が個々の上下運動を容易になし得るた
めの構造を示すための一部切欠の拡大斜視図である。 １．１′・・・蓋機構、２・・・電気回路、２′・・・
端子、３・・・ソケット、３′・・・コネクターｉ構、
４．４′・・・半導体パッケージ、５・・・基板、６・
・・絶縁シート、７・・・弾性体、８・・・裏蓋、９・
・・突起、１０・・・蓋板、１１・・・固定枠、１２・
・・リード部、１３・・・切れ目。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. プリント配線基板上の端子の裏側に弾性体を設けて、フ
    ラットパッケージ型半導体のリードピンモジ＜はセラミ
    ックチップキャリヤー型半導体のリード部と前記プリン
    ト配線基板上の端子とを直接密着させるようにしたこと
    を特徴とする半導体試験用基板。
JP14554782U 1982-07-24 1982-09-24 半導体試験用基板 Pending JPS5949976U (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14554782U JPS5949976U (ja) 1982-09-24 1982-09-24 半導体試験用基板
GB08322587A GB2130383B (en) 1982-09-14 1983-08-23 Test board for semiconductor packages
US06/875,517 US4766371A (en) 1982-07-24 1986-06-19 Test board for semiconductor packages

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14554782U JPS5949976U (ja) 1982-09-24 1982-09-24 半導体試験用基板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5949976U true JPS5949976U (ja) 1984-04-03

Family

ID=30324241

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14554782U Pending JPS5949976U (ja) 1982-07-24 1982-09-24 半導体試験用基板

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5949976U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS642333A (en) * 1987-06-24 1989-01-06 Tokyo Electron Ltd Element containing tray

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5714877B2 (ja) * 1977-03-09 1982-03-26

Patent Citations (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5714877B2 (ja) * 1977-03-09 1982-03-26

Cited By (1)

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