JPS5948630A - リ−クデテクタ - Google Patents

リ−クデテクタ

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Publication number
JPS5948630A
JPS5948630A JP16044682A JP16044682A JPS5948630A JP S5948630 A JPS5948630 A JP S5948630A JP 16044682 A JP16044682 A JP 16044682A JP 16044682 A JP16044682 A JP 16044682A JP S5948630 A JPS5948630 A JP S5948630A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pump
helium
helium gas
atmosphere
leak detector
Prior art date
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Pending
Application number
JP16044682A
Other languages
English (en)
Inventor
Setsuo Kodera
小寺 節夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp, Shimazu Seisakusho KK filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP16044682A priority Critical patent/JPS5948630A/ja
Publication of JPS5948630A publication Critical patent/JPS5948630A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M3/00Investigating fluid-tightness of structures
    • G01M3/02Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
    • G01M3/04Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
    • G01M3/20Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
    • G01M3/202Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はリークデテクタに係り、特に大気非開放式の
排気系を具備した高感度のリークデテクタに関する。
まづ第1図によって従来のリークデテクタの構成を説明
する。1は質量分析計管であって、油回転ポンプ3を補
助ポンプとするターボ分子ポンプ(1) 2によって、その内部は圧力1O−5Pa以下の高真空
に排気されている。7は被試験体でリークデテクタ外部
接続口8に接続されるとともに粗引バルブ5を介して粗
引排気用真空ポンプ6に接続されている。
以上の構成においてリーク試験の一例について説明する
まづ粗引バルブ5を開いて被試験体7を粗引排気真空ポ
ンプ6によって大気圧から圧力1O−IPaまで排気し
たあと、スロットバルブ4を開いて被試験体7をリーク
デテクタの高真空排気系に接続し、こののち粗引バルブ
5を閉じる。ついで被試験体7のリーク個所にヘリウム
ガスを吹付けると被試験体7の内外圧力差によって前記
ヘリウムガスが被試験体7の内部に流入するが、このヘ
リウムガスはスロットバルブ4を経て質量分析管1に流
入すると同時にターボ分子ポンプ2、油回転ポンプ3に
よって大気中に排出される。
一方、質量分析計管に流入したヘリウムガスは他の気体
分子とともに質量分析計管のイオン源内(2) で熱電子の衝撃を受けることにより、陽イオン化され周
知の磁場偏向形質量分析計の原理に従ってイオンのm/
e(mは気体の原子質量、eはイオンの荷電量)ごとに
分離される。一般的にはヘリウムリークデクタの質量分
析計管は1ve= 4のヘリウムイオンのみがイオンコ
レクタに到達するように設計されているので、ヘリウム
イオンはこ\で自由電子の供給を受けてもとの中性分子
にもどもしたがってイオンコレクタではヘリウムイオン
電流が得られ、このイオン電流を測定することによって
ヘリウムガスのリーク量を知ることができる。
一般にリークデテクタの感度は前記イオン電流の大小に
依存するもので、前記ターボ分子ポンプの排気速度によ
って大きく支配される。
すなわち、質量分析計管のイオン源における熱電子放射
量たる電子電流を一定とした場合、生成ヘリウムイオン
の量はイオン源に入射するヘリウムガス分子の量すなわ
ちヘリウムガスの圧力に比例している。したがって質量
分析計管の個有感度Rはヘリウムガスの分圧を7’ (
Pa)とし、イオン電(3) 流をll(A)とすると なる式で表わされる。
一方前記ターボ分子ポンプの排気速度をS(−々ec)
とし、ヘリウムガスのリーク量をQ (pa m3Ae
 c )とすると前述したヘリウムガスの分圧tは戸=
Q/S (Pa)        <2+なる式で表わ
される。したかって、(1)(21式から明らかなよう
にヘリウムガスのリーク量Qを一定とすると、排気速度
Sが小さくなるほど質量分析計管でのヘリウムガスの分
圧Tが上昇しイオン電流1iが上昇するので、結果的に
リークデテクタとしての感度が向上する。すなわち、リ
ークデテクタの感度はターボ分子ポンプの排気速度Sに
支配されることになる。
しかしながらこの排気速度Sをあまり小さくしすぎると
高真空空間を構成している部材の壁面からの放出ガスが
排気しきれなくなり、質量分析針管の全圧が上昇してし
まうので、排気速度Sを無(4) 制限に小さくして感度を向上させるわけにはいかず、質
量分析計管の全圧が高真空領域を維持できる程度に排気
速度Sを設定する必要がある。
イオン電流Iiを実質的に大きくする手段としてイオン
コレクタに2次電子増倍管を用いる方法も提案実施され
ている。例えば活性化ベリリウム銅を用いた2次電子増
倍管を用いれば106程度の感度向上が可能である。し
かしこのようにして感度を上昇させた場合、バックグラ
ウンド(雑音成分搬も共に上昇するから、信号成分(ヘ
リウムイオンによる信号分S)との比S/N比が大きく
ならなければ実効的には感度は上昇しない。
すなわち、リークデテクタの感度上昇を阻害する要因は
バックグラウンドであり、このバックグラウンドを低下
させない限り超微小リーク検知を目的とする高感度リー
クデテクタの実現は不可能である。
こ\でいうバックグラウンドの大部分は大気中に含まれ
ている微量のヘリウムガス(約5PPm)が原因して発
生するものであって、第1は真空空(5) 間を構成する部品を接続するフランジ等に用いられてい
るゴムガスケットを透過するヘリウムガスであり、第2
は大気中に排気口を有する油回転ポンプの排気口からの
ヘリウムガスの逆流である。
しかしてこのバックグラウンドを低減する手段として第
1のゴムガスケットからのヘリウムガス透過を防止する
のにゴムガスケットの代りに金属ガスケットが採用され
ている。
しかし第2の原因たる油回転ポンプの大気中微量ヘリウ
ムガス逆流防止にはまだ有効な手段がない。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、大気中に存
在する微量のヘリウムガスが高真空系へ逆流することの
ないリークデテクタを提供することを目的としている。
そのため本発明は例えばソープションポンプの如き大気
非開放式の排気系をターボ分子ポンプまたは油拡散ポン
プの補助ポンプとして用い、さらに前記ターボ分子ポン
プまたは油拡散ポンプの低真空側に圧縮したヘリウムガ
スを貯蔵するための(6) 空間容積を具備せしめることを主たる特徴としている。
以下、本発明に係るリークデテクタの実施例について図
面に従って説明する。第2図は本発明の実施例の構成を
示す説明図である。両図において同一符号は同一部分を
あられしている。被試験体7からターボ分子ポンプ2ま
での接続は第1図と同様である。ターボ分子ポンプ2の
低真空側にはターボ分子ポンプから排出されたヘリウム
を貯めこむ空間容積としてのヘリウムリザーバタンク1
2が接続され、さらにヘリウムリザーバタンク12には
ソープションポンプ9及びバルブ10を介して油回転ポ
ンプ11がそれぞれ接続されている。
まづ被試験体7からリークデテクタに流入したヘリウム
ガス以外の気体はターボ分子ポンプ2によって圧縮され
、ヘリウムリザーバタンク12を経てソープションポン
プ9に流入し、こ\で液体窒素によって超低温に冷却さ
れたモレキュラシーブス等の吸着剤に吸着される。これ
によってソープションポンプの全圧か10−5 paに
到達したとすると、(7) ターボ分子ポンプは窒素ガスおよび水蒸気等に対して1
08程度の圧縮比を有しているので、質量分析針管1は
1o9Paオーダの超高真空領域に到達している。
こ\で被試験体7のリーク個所にヘリウムガスを吹付け
るとリーク個所を通過したヘリウムガスは質量分析計管
1に流入するとともにターボ分子ポンプ2によって圧縮
されヘリウムリザーバタンク12に貯めこまれる。一方
質量分析計管1に流入したヘリウムガスはイオン化され
イオン電流Iiとしてリーク量が検出される。
なおヘリウムリザーバタンク12のヘリウムガス貯め込
み量が多くなった場合にはバルブ10を開いてリザーバ
タンク内のヘリウムガスを排気することにより、当該ヘ
リウムガスターボ分子ポンプを逆流してバックグラウン
ドか上昇するのを防止することができる。
本発明に係るリークデテクタは以上のように構成しであ
るので、従来のり一りデテクタに見られた大気中の微量
ヘリウムガスの質量分析針管への(8) 逆流を防止でき、バックグラウンドレベルを極めて低く
しうるので、S/N比の高い信号が得られることになる
従って質量分析計管に高感度なものを用いることによっ
て、これまで不可能であった例えば10”3m3/ec
オーダの超微小リークの検知が可能となる。
なお第2図に示したターボ分子ポンプは油拡散ポンプで
あってもよく、またソープションポンプはこれに限定さ
れず、大気非開放形の他のポンプ例えばイオンポンプで
あってもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のリークデテクタの構成、第2図は本発明
の実施例の構成をしめず説明図である。 1・・・質量分析針管、2・・・ターボ分子ポンプ、7
・・・被試験体、9・・・ソープションポンプ、12・
・・ヘリウムリザーバタンク。 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人弁理士大西孝治 (9) 第1図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)質量分析計管に連結されたターボ分子ポンプまた
    は油拡散ポンプから排出されたヘリウムガスを貯蔵する
    空間容積を有するとともに、前記空間容積には大気非開
    放型ポンプとバルブを介して連結された大気開放型ポン
    プを具備せしめたことを特徴とするリークデテクタ。
  2. (2)前記大気非開放型ポンプはソープションポンプで
    あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のリー
    クデテクタ。
JP16044682A 1982-09-13 1982-09-13 リ−クデテクタ Pending JPS5948630A (ja)

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