JPS5946081A - Buried type semiconductor laser having periodic structure - Google Patents

Buried type semiconductor laser having periodic structure

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JPS5946081A
JPS5946081A JP15735382A JP15735382A JPS5946081A JP S5946081 A JPS5946081 A JP S5946081A JP 15735382 A JP15735382 A JP 15735382A JP 15735382 A JP15735382 A JP 15735382A JP S5946081 A JPS5946081 A JP S5946081A
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JP
Japan
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layer
laminate
semiconductor
periodic structure
striped
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JP15735382A
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Japanese (ja)
Inventor
Takashi Matsuoka
隆志 松岡
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To enable to obtain a high intense laser oscillation with favorable efficiency for a long period by a method wherein the sides of a stripe type laminate on a semiconductor substrate are formed as to construct uneven faces repeating the recess and the protrusion with the prearranged period in the extended direction thereof. CONSTITUTION:The stripe type laminate 2 constructed by laminating an active layer 3 and a clad layer 4 is formed on the semiconductor substrate 1. Moreover burying layers 7 are formed on the substrate 1 adjoining to the sides of the laminate 2. At construction like this, the sides of the laminate 2 are formed of the uneven faces 21 repeating the recess and the protrusion with the prearranged period (lambda) in the extended direction of the laminate 2 thereof. According to this construction, because the uneven faces 21 are formed on the sides of the laminate, transformed formation of the uneven faces 21 thereof is not generated. Accordingly, at the case of the semiconductor laser thereof, the expected characteristic is exhibited extending over the long period, and the high intense laser oscillation can be obtained with favorable efficiency.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、押込形半導体レーザにおいて、内部に周期(
111漬を有1J、シめている、周期構造を右(1ろ埋
込形)1′導体レー11の製法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides a push-in type semiconductor laser with internal periodicity (
This invention relates to a method for manufacturing a 1' conductor relay 11 having a periodic structure (1 filter embedded type) with 111 dielectrics and 1J.

押込形半導体レーザ゛は、半導体基板上に、少くどb活
(II Iiヘ−iを含む複数の半導体層が積層されで
いる、ストライブ状積層体が形成され、且つ埋込用層が
ストライブ状積層体の側面に連接しτ形成されている、
という構成を右−りる。
In the recessed type semiconductor laser, a striped laminate is formed on a semiconductor substrate, in which a plurality of semiconductor layers including at least b active (II, Ii, and i) are laminated, and a buried layer is stacked on the semiconductor substrate. τ is formed by connecting to the side surface of the live laminate,
The configuration is as follows.

このような構成を右する埋込形半導体レーザ゛は、スト
ライブ状積層体に(bける活I11層の幅が狭いので、
レーザ発振を甲−横モードC1゛7ることがでさる、と
いう特徴を右1−る。
A buried semiconductor laser having such a structure has a striped stacked structure (because the width of the active I11 layer in b is narrow,
The feature on the right is that laser oscillation can be performed in the A-transverse mode C1-7.

また、上述した埋込形」′導体レーリ゛にJ5いて、内
部に周期構造を有せしめ(゛いる、周期414漬を有す
る埋込形半導体レーザ゛は、内部に周期I7/、 1i
jiを右するので、高)虫の変調動作11rにおいてb
、上述したレーリ゛発振を、内部に周期1.t、1造を
ri′シない押込形半導体レーザ”に比し、安定<7甲
−縦モードと、安定な単−横モードとで、1qるごとが
できる、という特徴を右づる3゜ ところで、従来の、上述したようイ1、周囲J:4造を
有づる埋込形半導体レーIfは、ぞのストライブ状積層
体を構成している、予定の周期(凹凸を繰返り、ている
凹凸面を右する半導体層1−(J、他の半導体層が形成
されていることで、内部に周期構造を有する、という(
111成であるのがN<、通Cある。
Furthermore, the above-mentioned buried type semiconductor laser having a periodic structure of 414 times has an internal period of I7/1i.
ji, so in the insect's modulation motion 11r, b
, the above-mentioned Rayleigh oscillation is internally set at a period of 1. Compared to a "push-in type semiconductor laser" which does not have 1 structure and 1 structure, it has the characteristic that it can perform 1q movement in stable <7A-longitudinal mode and stable single-transverse mode at 3 degrees to the right. , the conventional embedded semiconductor relay If having the above-mentioned structure A1, circumference J:4 has a predetermined period (repeating unevenness, Semiconductor layer 1-(J) having an internal periodic structure due to the formation of other semiconductor layers (
There are 111 formations for N<, through C.

このため、このような、周期構造を有する埋込形゛16
導体レーリ゛は、半導体基板上に、第1の゛1′橡体層
を形成する第1の工程と、その第1の1′)停体層にり
・1するJ−ツヂング処理によって、その第1の半’4
1+層から、予定の周期で凹凸を繰返しく゛いる凹凸面
を右する第2の半導体層を形成りる第2の]「程と、次
に、その凹凸面を有する第2の゛11導1ホ層トに、曲
の第3の半導体層を液相エピター1シヤル成艮法によっ
て形成する第3の[稈とを含んで、第1の積層体を形成
し、次に、での第1の積層体に対づ−るTツチング処叩
にJ−リ、十’r6:(シたストライブ状積層体を形成
ηる第4の工程と、次に半導体基板上に、埋込用層を、
ストライブ状fr!j G体の側面に連接して形成覆る
第5の工程を含む、という製法で製)告されるを余1;
うイ)゛りされCいる。
For this reason, such an embedded type 16 having a periodic structure
The conductor relay is formed by a first step of forming a first ``1'' layer on a semiconductor substrate, and a J-tzing process in which the first ``1'' layer is formed. 1st half'4
From the 1+ layer, a second semiconductor layer having an uneven surface that repeats unevenness at a predetermined period is formed, and then a second semiconductor layer having the uneven surface is formed. A third semiconductor layer is formed on the photolayer by a liquid phase epitaxial deposition method to form a first laminate, and then a first laminate is formed on the photolayer. The fourth step is to form a striped laminate, and then a embedding layer is formed on the semiconductor substrate. of,
Strive-like fr! j) manufactured using a manufacturing method that includes a fifth step of forming and covering the side surface of the G body;
U) It has been removed.

然し41がら、このような製θ、の腸合、埋込用1ii
j 4形成する]稈の外、半導体層を形成する工()”
どして、第1及び第3の半導体層を形成するだめの2回
の工程を要し、51k、第2の半導14、層及びストラ
イブ状積層(・)、を形成するlJめの2回のエツヂン
グ処理をどるL(l稈をv2シ、?、7って多くの]−
程を要づ−るという欠III!を有Jる。
However, in contrast to 41, such a structure θ is suitable for implantation 1ii
j 4. Forming a semiconductor layer outside the culm ()”
Therefore, two steps are required to form the first and third semiconductor layers, and the second semiconductor layer 51k, the second semiconductor layer 14, and the striped stacked layer (.) are required. L that undergoes two etching processes (1 culm v2, ?, 7 is a lot) -
It takes time! I have.

従って上)ホした、従来の周期(1,j造を右りる埋込
形半導体レーザ゛の場合、−どの周期(1”+1造をイ
11−る埋込形半導体レーザ゛のを、容易にNA)告づ
ることが困難である、という欠点をr(i’ L、 t
いた。
Therefore, in the case of a buried type semiconductor laser with a conventional period (1,j structure) as shown above, it is easy to change which period (1''+1 structure) of a buried type semiconductor laser with a 11- r(i' L, t)
there was.

また、」−述した製法の場合、第2の゛1′榎体にlj
を形成する第2の工程1資、第3の]程て′第3の゛]
≦埒体層を形成ザるどきに、イのどさの熱にJ。
In addition, in the case of the manufacturing method described above, lj
The second step of forming the
≦J for cold fever when the body layer is formed.

−)で、第2の半導体層に有刃る凹凸面が、変形する。-), the edged uneven surface of the second semiconductor layer is deformed.

また、第2の半導(4V層の表面部が、第3の半導体層
を形成Jる融;1夕に、メルトバックすることによって
、第2の崖導イ木層の凹凸面が変形する。
In addition, when the surface of the second semiconductor (4V layer forms the third semiconductor layer), the uneven surface of the second semiconductor layer is deformed by melting back in one day. .

従って、l−述した、従来の周+!I+ (1η造をも
−づる埋込形半導体レーリーの揚台、その周期(b1造
をf]する埋込形:F 3#体レーリ゛を、所期のfi
 f!lを十分発揮覆るものどじで、製造づ−るのが困
ff111である、どい)欠81.1をイラしていた。
Therefore, l-the conventional circumference +! I + (1η structure based on the platform of the embedded type semiconductor relay, its period (b1 structure is f)) The embedded type: F 3# body Ray
f! I was annoyed by the lack of 81.1, which was difficult to manufacture due to the lack of FF111.

よって、本発明は、上述した欠1iaのない、新)Jy
) /I:、周期Gl’l 造を右する押込形半導体レ
ーIJ”を1♀案せんどするものである。
Therefore, the present invention provides a new method that does not lack the above-mentioned defects.
) /I: , a push-in type semiconductor relay IJ'' having a period Gl'l structure is proposed.

イ)1図A〜Cは、本発明による周期構造を右Jる埋込
形半導体レーザの一例を示し、例えばN Z(!lの、
例えばlnpでなるクラッド層としてし作用仕る半導体
基板1を右づる。
b) Figures 1A to 1C show an example of a buried semiconductor laser having a periodic structure according to the present invention.
A semiconductor substrate 1, which serves as a cladding layer made of, for example, lnp, is placed on the right side.

然して、での半導体基板1上に、少くども6111層を
含む複数の21′導体層が積層されているストン−rブ
状(?i層鉢体2形成されている。
Thus, on the semiconductor substrate 1, a stone-r-shaped (?i-layer pot 2) is formed in which a plurality of 21' conductor layers including at least 6111 layers are laminated.

この場“含、ストライブ状積層休2の一例は、図示のよ
′うに、例えばGarnAsP系でなる活111層3ど
、P型の例えばTnPでなるクラッド層1どが、てれ等
の順にfiIJ層されてなる構成を右すろ。J、た、相
対向する端面5及びG中の一ブjの・)=(面5は、粘
性層3及びクラッドF:4 /Iの1−面と重両27面
と<Tされているが、他方の端面6は、ファブリペ[1
−の反射面が形成され/7いJ、うIS1傾斜している
面とイアされている1、ざらに、クラッド層4の上面に
ストライブ状の浅い)萬13が形成されている。
As shown in the figure, an example of the striped laminated layer 2 includes an active 111 layer 3 made of, for example, GarnAsP, a cladding layer 1 made of P-type, for example, TnP, and the like. The structure formed by the fiIJ layer is shown on the right. Although the two sides are <T, the other end face 6 is Fabrype [1
- A reflective surface is formed on the upper surface of the cladding layer 4, and shallow stripes 13 are formed on the upper surface of the cladding layer 4.

また、半導体基板1上に、押込用層7が、ストライプ状
f+!1層体2の側面に)11!接して形成さししてい
る。
Further, on the semiconductor substrate 1, the pushing layer 7 is formed in a stripe shape f+! (on the side of the 1-layer body 2) 11! They are formed in contact with each other.

この場合、押込用層7の一例は、[)型の例λばI n
 P t’イfる胴部8ど、N型の例λばInPでなる
胴部9どが、イねらの順に積層されてイ3゛る構成を右
し、−匠して、胴部8と、胴部9どの間の界面がクラッ
ド層4の厚さ内(ご(IるJ、うに、また、」−面がク
ラッド層4の上面と略同−の而になるにうに形成されて
いる1゜ ざ1)に、”l’ 79体基板1のストライブ状積層1
ホ2側とは反対側の面にに、電極10がA−ミックに目
され、J:た、ストライブ状(♂1層原2及び埋込用層
7十に、それら間に連続し−(延長している電極11が
A−ミックにf=I cSれている。
In this case, an example of the pressing layer 7 is an example of [) type λ, I n
The body part 8 made of Pt' and the body part 9 made of InP, for example, of N type, are laminated in the order of the layers, and then the body part 8 is made. The interface between the cladding layer 4 and the body 9 is formed so that its surface is approximately the same as the top surface of the cladding layer 4. At 1° 1), there is a striped stack 1 of 79 "l" substrates 1.
On the surface opposite to the E 2 side, an electrode 10 is arranged in a striped pattern (on the 1-layer original 2 and the embedding layer 70, continuous between them). (The extended electrode 11 is at A-mic f=IcS.

」二連の474成ににる場合、その(111成は、従来
の、周期構造を有しない、押込形半導体レーリーにみら
れる構成ど同様Cある。
In the case of a double series 474 structure, the 111 structure is C, similar to the structure found in a conventional push-in type semiconductor relay without a periodic structure.

tY−rで、汀線説明は省略りるが、苛来の、周期構l
idを(jじイfい、埋込正半シ9(ホレーリ゛と同様
の、周期偽造を有しない、埋込形半導体レー1fとして
の機能がiqられる。
At tY-r, the shoreline explanation is omitted, but the periodic structure l
If the id is (j), the function as an embedded semiconductor relay 1f, which does not have period forgery, similar to the embedded regular half 9 (Holley), is assumed.

然しくiがら、本発明による、周期構造を右する埋込形
半導体レー」j゛の一例4%’+成においては、1)ホ
した構成において、イのストライプ状積層体2の側面が
、そのストライプ状積層体2の延長方向にt定の周期λ
で凹凸を繰返している凹凸面21でなる。
However, in the embodiment of the embedded semiconductor layer having a periodic structure according to the present invention, 1) In the configuration shown in (e), the side surface of the striped laminate 2 in (i) is as follows. A constant period λ of t in the extending direction of the striped laminate 2
It consists of an uneven surface 21 that repeats unevenness.

1ズ1が、本発明]こよる、周期174)告を右Jる埋
込形’l′j9 Kレーリ゛の一例構成である。
1 is an example configuration of an embedded type 'l'j9K Rayleigh with periodicity 174) according to the present invention.

次に、I述したにう<r l’l’l成を右す−る、周
期構j貴を右づる埋込形≧1′導体レーリ゛の製法の一
例を、第2図・・・第10図を伴イーr =)で述べよ
う。
Next, an example of the manufacturing method of an embedded type ≧1' conductor relay with a periodic structure of <r l'l'l configuration as described above is shown in Fig. 2... Let us describe Figure 10 in terms of the equation r=).

第2・〜?J 10図にd5いて、第1図どの対応部分
には、同−符シ〕をイ(1して承り、。
Second...? d5 in Figure 10, and the corresponding part in Figure 1 is marked with the same symbol.

第2図△〜口に示すように、N3+1のInPで<rる
1′力(4,1−L 4反1を用ハJる。
As shown in FIG.

然して、その半i9 f4V塁板1上に、第3図Δ〜・
B ニ示’Jように、Ga A31つ系て/する活1’
l E”: :’+ど、P型のI n P−(’イする
りうラド1閃11どを−1でれ自体は公知の液相−[ピ
/71−シトル1〜民法に、J、って形成し、J、って
話哲層3どクシッjざ居4とがそれらの順に積層され(
いるlet層f、ト31を形成リ−る。
However, on the half i9 f4V baseboard 1, there is a
B Ni shows 'J, Ga A31 system/doing active 1'
l E": :'+do, P-type I n P-('Isuriurado1sen11dowo-1dere itself is a well-known liquid phase-[P/71-Sitol 1~ Civil Code, J , J, layer 3 and layer 4 are stacked in that order (
Let layer f and layer 31 be formed.

次に、第4図Aへ・C(3−示′?f 、、l、う(5
−1(I51i′/i体31を構成しているクラッド層
4の1面に、ストライブ状の浅い溝13ろ形成11る1
゜次に、第5図へ〜Cに]1、ンJJ、うに、jM 1
3に形成しているクラッド層4のに面1−に、爾後、ス
トライブ状マスク層35とイ、−る、例λば閣fiQ化
珪素C′なる層32を、イれ自体は公’J、llの、例
えばスパッタリング法にJ、っ(形成1)る。
Next, go to Figure 4A・C(3-show'?f,,l,u(5
-1 (Stripe-like shallow grooves 13 are formed on one surface of the cladding layer 4 constituting the I51i'/i body 31.
゜Next, go to Figure 5~C] 1, NJJ, Uni, jM 1
After that, a striped mask layer 35 and a layer 32, for example, a layer 32 of silicon oxide C', is applied to the surface 1- of the cladding layer 4 formed on the surface 3. For example, the sputtering method (formation 1) is used.

次に、第6図A ”□ C(J/IX!I=I:うに、
+;< 32−1に、例えば)/11・レジス1〜ζ゛
イ」−るストライブイノクンスク層33を、ぞれ自体(
,1公%11の)41〜リソグラフr法にJ、って形成
りる、1 この場合、ストライブ状マスクhイ1333の側面が、
−ぞのストライブ状マスク層33の延長方向にIZ定の
周期で凹凸を繰返している凹凸面34に形成りる。
Next, Figure 6 A “□ C (J/IX!I=I: Sea urchin,
+; < 32-1, for example)/11.
.
- It is formed on the uneven surface 34 which repeats unevenness at a constant IZ period in the extending direction of each striped mask layer 33.

次に、ス1〜ライブ状マスク層33をンスクど1jる、
層32に対する、それ自体は公知のエラ・fング処理に
」、って、第7図A−Cに示Jように、層32か1)、
ストう−rブ状マスク層35を形成り−ろ。
Next, step 1 to step 1 to remove the live mask layer 33.
1), as shown in FIGS.
Form a strip-shaped mask layer 35.

次に、ス1〜ライブ状マスク層33を、ス]〜ラーrブ
状マスク層35上から除去して後、ス1ヘライノ1人1
ノスク層35をマスクとする、積層イ本31に夕・1?
J−る、イれ自体は公知の」−ツブング々((理によ−
)(、第F3図Δ〜Cに示すように、積層体;)1から
、ス1−・ライブ状積層体2を形成する。
Next, after removing the live mask layer 33 from the surface of the mask layer 35,
1 on the laminated book 31 using the Nosk layer 35 as a mask
J-Ru, Ire itself is publicly known.
) (As shown in FIG.

この場合、ストライプ状積層体2の側面が、そのスI−
′:lイグ状(6層体2の延長方向に予定の周!!II
 C凹凸を繰返している凹凸面21′cなる・bの、1
−1)く形成さrしる。
In this case, the side surface of the striped laminate 2 is
′: lig shape (planned circumference in the extension direction of the 6-layer body 2!! II
C uneven surface 21'c/b with repeated unevenness, 1
-1) Formation.

次(J、!17 i、(’体1.t(反1トに、第9図
に示η、J、う(二、p 1.IIのlnpて・なる底
部8と、N IIl、lの1【1p (なる1、・1部
9とが、それらの順に積層されてなる構成の埋込用層7
を、ストライブ状+i’+ Ii”j体2の凹凸面21
でへ′る側面に連接して形成づる。
Next (J, !17 i, (' body 1.t (on the opposite side, η, J, u (2, p 1. The embedding layer 7 has a structure in which 1 [1p (Naru 1, 1 part 9) are laminated in that order.
, the uneven surface 21 of the striped +i'+Ii''j body 2
It is formed by being connected to the side surface of the opening.

この場合、埋込用層7を、−での層8118と、)、’
i’i部9どの間の界面が、クラッド層11の厚さ内に
在るJ、うに、また、上面がストライブ状(i’i I
ff体2の一1而と略)7同一の面になるように形成づ
る。
In this case, the embedding layer 7 is replaced with the layer 8118 at -,),'
The interface between the i'i part 9 is J, which is within the thickness of the cladding layer 11, and the upper surface is striped (i'i I
ff field 2 and (abbreviated) 7 are formed to have the same surface.

次に、ストライプ状ンス9層3!うを、ストライプ状積
層体2十か15除ムしC後、第10図△〜Cに承り”よ
うに、’li導体基板1のストライl状積層休2側と【
、12反対側の而−1:: +;二、電極層1゜を、そ
れ自体は公知の方法(パ形成l)、ま1.:、ストライ
プ状積層体2及び埋込用);り7上に延長しでいる電極
層11を、それ自体(J公知の方法にJ、−)で形成し
、然る1殺、電極層11をンス′7どする]、ツチング
ψ目(11により、1へライブ(^FFJ ’(4I2
の相対向りる※i(而5及び(5中の一万の端面64−
、ファブリペロ−の反134而どく「らイfいにうに、
l+n斜している面に形成する。
Next, 9 layers of striped 3 layers! After removing 20 or 15 stripes of the striped laminate, as shown in FIG.
, 12 on the opposite side - 1:: +; 2. The electrode layer 1° is formed by a method known per se (formation method), or 1. :, for striped laminate 2 and embedding); The electrode layer 11 extending over the ridge 7 is formed by itself (J, - in a known method); 11, live to 1 (^FFJ '(4I2
The relative facing of *i (and 5 and (10,000 end faces 64-
, Fabry-Perrot's anti-134-doku "Rainy Uni,"
Formed on the l+n inclined surface.

以−1のようにして、第1図△へ・C(1−述した、周
期構造を右Jろ埋込形)1′導1ホレーリ゛の一例を寄
る。
As described below, an example of a 1' conductor 1 Holley is shown in FIG.

以I。て、本発明にj、る二周期構造を右Jる埋込形’
I′−IQ lホー−1rの一例構成が明らかとなった
I. Therefore, according to the present invention, the two-periodic structure can be made into an embedded type.
An example configuration of I'-IQ lho-1r has been clarified.

+ 3Ji した、本発明による、周期構造を右する押
込形半導体レーザ゛の構成によれば、ストライブ状積層
体2の側面に形成されている凹凸面21が、ストライブ
状積層体を構成している、予定の周期で凹凸を繰返して
いる凹凸面を右JるTirJi体層十に、曲の半導体層
が形成されでいること−(゛、内部に周期構造を有り−
る、という(74成の、従来の、周期17.li造を有
する埋込形半導体レーザ゛にお(]ろ、内部に構成して
いる周期構)告にス・11え、していイ)、周期構造を
構成している。
+ 3Ji According to the structure of the indented semiconductor laser having a periodic structure according to the present invention, the uneven surface 21 formed on the side surface of the striped laminate 2 constitutes the striped laminate. A curved semiconductor layer is formed on the Tirji body layer 10, which lies on an uneven surface that repeats unevenness at a predetermined period.
(The periodic structure constituted internally in the conventional embedded semiconductor laser with the periodicity 17.li of the 74-structure structure) , forming a periodic structure.

i、Y、−>て、iK来の、−1述した、周期構造を有
する押込形半導体レーザは、従来の周期構造を右りる埋
込形゛1′導体レー11と同様の、周期41+1造をイ
J1jる埋込形半埒1ホレー量アとしての(幾能が得ら
れることは、明らかである。
i, Y, -> iK, -1 The recessed type semiconductor laser having a periodic structure described above has a period of 41+1, similar to the recessed type 1' conductor laser 11 having a conventional periodic structure. It is clear that the geometry can be obtained as the embedded half-hole quantity A when the structure is IJ1j.

よl、で、ト)ルした、本発明による、周期節1造を石
づる埋込形半導体レー1Fの場合、その周期椙)告を右
する埋込形半導1ホレーリ゛4−1第2図・〜、第10
図で・−ト述しlこ装ン去にJ、って−製j告・するこ
1!ができる。
In the case of the embedded semiconductor relay 1F according to the present invention, which has a periodic node 1 structure, which has been tested in the Figure 2..., No. 10
In the figure, it is described that J is produced and the first thing to be done! I can do it.

ところで、このようなIJA法の場合、(1′1層イ4
)31を形成する工程と、それハ日ら、ストライプ状積
層体2を形成りるための1回の−[ツブング9!(理を
とる工程ど、埋込用に’+ 74・形成りる1−稈とを
要り−るだけで、」述した、木ざで明にJ、る、周期構
造を(Tiする埋込形半橡1本1]−リ゛をl!J造す
ることがでいる。
By the way, in the case of such IJA method, (1'1 layer i4
) 31 and one time to form the striped laminate 2. (In the process of taking the principle, we only need a culm for the embedding.) It is possible to make 1!

イjrっで、上]ホした、本発明にJ、る、周期1?1
j :l青を有する埋込形半導体レーザ゛の場合、ぞの
周期構造を右りる埋込形半導体レーザ゛を、従来の、周
期構造をイ1づる叩込彫工)9体1ノーザの場合に比し
、容易に製造゛することがC′さる、という1!r徴を
右゛する5、 また、本発明にJ、る、周期411/1 込を右りる埋
込形半導体1ノー+)−の場合、ぞの周期17.i造が
、ストライブ状(重層体の側面に形J!父さ]′また凹
凸面で構成されているので、冒頭で1−述した、11η
来の、周期構造を有する埋込形半導体しノー1アの製法
の場合に比し、周期構造を構成している凹凸面が変形し
ない1、 従って、1述した、本発明による、周期構造を有する埋
込形21′導体レーザの場合、その周期+1°11造を
右7I’ろ埋込形半導体レーザ゛を、所期の特111を
十分発揮り−るものとして、容易に製造することがC゛
ぎるという、人4「る特徴を有する。
I'm excited about this invention, cycle 1?1
In the case of a buried type semiconductor laser with a blue color, a buried type semiconductor laser with a periodic structure is converted into a conventional 9-piece laser with a periodic structure. In comparison, C' is easier to manufacture than 1! In addition, in the case of an embedded semiconductor 1 with a period 411/1 included in the present invention, the period 17. The structure is striped (J-shaped on the side of the layered body) and has an uneven surface, so the 11η
Compared to the conventional manufacturing method of an embedded semiconductor having a periodic structure, the uneven surface constituting the periodic structure is not deformed. In the case of a buried type 21' conductor laser having a period of +1°11, a buried type semiconductor laser with a period of +1°11 can be easily manufactured as a device that fully exhibits the desired characteristics 111. A person has the characteristic of being too cute.

なお、上)ホにおいては、半導体基板1がクラッド層ど
じで作用し、また、活+4層を含む複数の゛1′導1木
Fjが(白層されているスト・ライブ状積層体2が、活
Ill Eη3どクラッド層4どから構成されている場
合につき述べたが、第1のクラッド層まI、」:j第1
のがイド層と、活性層と、第2のクラッド層また11第
2のがイド層とが、それ等の順に積層されている構成を
有する、埋込形半導171V1ノーリ゛にIJ、本発明
を適用ザることがでεYるしのCある。
Note that in (above) E, the semiconductor substrate 1 acts on both the cladding layers, and a plurality of ゛1' conductive trees Fj including the active +4 layers (the striped laminate 2 with the white layer) , IllEη3 and cladding layer 4 have been described, but the first cladding layer or I,':j first
An embedded semiconductor 171V1 node has an IJ and a main layer, which has a structure in which an active layer, a second cladding layer, or a second active layer are laminated in that order. The invention can be applied to εY sign C.

勿論、−1−述した構成において、P型をN型、N型合
p J(1,1ど誠み代えた構成とすることもでさるも
のである。
Of course, in the configuration described above, the P type may be replaced with the N type, and the N type combined pJ (1,1) may be replaced.

その他、本発明の精神を脱1すること4gシに、種々の
変型変更を’、’CL/ tワるてあろう。
In addition, various modifications and changes may be made without departing from the spirit of the present invention.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図A、B及びCは、ぞ[しそrし本発明にJ−る周
期構造を右づる埋込形”l’ 79体レしリ゛の一例を
示寸、路線的平面図、1311線十の断面図及びC−C
線上の断面図で・ある。 第2図、第3図、第11図、第5図、第6図、第7図、
第8図、第9図及び第10図は、本発明にJ、る周期構
造を右す−る叩込正半)係体し−リ゛の製法の一例を示
づ、順次の工程にお(Jる路線図で、図中、八は平面図
、[1t、1.子のD−111!+i lの断面図、C
はC−C線上の断面図である。 1・・・・・・・・・・・・・・・半導体基板2・・・
・・・・・・・・・・・・ストライブ状(1−囲体3 
・・・・・・ ・・・・・・・・・ )古性層4・・・
・・・・・・・・・・・・クラッド層5.6・・・・・
・・・・端而 7・・・・・・・・・・・・・・埋込用層21・・・・
・・・・・・・・・・・凹凸面10.11 ・・・・・
・電極層 31・・・・・・・・・・・・・・・積層体33、35
・・・・・・ストライブ状マスク層34・・・・・・・
・・・・・・・・凹凸面出M1人  日木電信電話公社 戸「続ネIf−iTI書 昭和57年12月30日 特R′E庁長官 名 杉 和 夫 殿 1、事(1の表示  昭和57年特許願第15’735
3号2、発明の名称  周期構造を有する埋込形半導体
レーザ 3、補正をJる者 事flとの関係 特許出願人 住 所 〒100  東京都千代田区内幸町1丁目1番
6号 名 称 (/122)日本電信電話公?、]代表者 真
  藤   ↑0 4、代理人 住 所 〒102東京都千代11区麹町5丁目7番地 
秀和紀尾井町TBR820号 5、補11−命令のロイ・」 自発補正6、補正ににり
増加した発明のvl/、I゛シフ補正の対象   明細
用及び図面の仝文8、補正の内容   別紙のとおり 明    細    書 1、発明の名称  周期構造を有する埋込形半導体レー
ザ 2、’lFjγ「請求の範囲 ?l’導イホ基板十に、少くども活性層を含む複数の半
導体層が積層されているス1ヘライブ状積層体が形成さ
れ、■つ押込用層が上記ストライプ状積層体の側面に連
接して形成されでいる埋込形半導体レーザ゛において、 上記ストライプ状積層体の側面が、上記ス1ヘライブ状
積層体の延長方向に予定の周期で凹凸を繰返している凹
凸面でなることを特徴とする周期構造を右する埋込形半
導体レーザ。 3、発明の詳細な説明 本発明は、埋込形半導体レーザにおいて、内部に周期構
造を有せしめている、周期構造を有Mる埋込形半導体レ
ーザ“に関する。 埋込形半導体レーザは、半導体基板上に、少くとも活性
層を含む複数の半導体層が積層されでいるストライプ状
積層体が形成され、且つそのストライプ状積層体の側面
に埋込用層が迎接[)て形成されている、という構成を
右ηる。。 このような構成を有する埋込形半導体レーザは、ストラ
イプ状積層体にお()る活11層の幅が狭いので、レー
ザ発振を巾−横モードで冑ることができる、という特徴
を有Jる。 また、上述した埋込形半導体レーザにおいて、内部に周
期構造を有せしめている、周期構造を有する埋込形半導
体レーザは、内部に周期構j告を有するので、高速の変
調動作時においても、上述したレーザ発振を、内部に周
期構造を右1ノない埋込形半導体レーク゛に比し、安定
な甲−縦モードと安定な甲−横モードとで、得ることが
できる、という特徴を右づる。 ところで、従来の、上)ホしたような、周期構造を有す
る埋込形半導体レーク゛は、 (イ)上面がその面方向に一方面に予定の周期で凹凸を
繰り返している凹凸面でなる21′導体基板上に、スト
ライプ状積層体が形成されている (口)半導体基板上に、上面がその面方向に一方向に予
定の周期で凹凸を繰り返している凹凸而を有する半導体
層」−に、伯の半導体層が形成されて、それら半導体層
によるストライプ状積層体が形成されている ということで、内部に周期構造を有する、という構成で
あるのが普通である。 しかしながら、上述した(イ)ということで、内部に周
期IM 造を有する場合、ストライプ状積層体を、その
?r導導体板板側も、歪を有しない4、)のどし℃形成
するのが困難であるため、ストライプ状積層体が、その
半導体基板側に歪を有し、このため、埋込形半導体レー
ザが、所期の特性を介挿しイrいとともに早期に劣化す
るという欠点を有する。 例え(−r′、ス1ヘライブ状積層体を構成している半
導体基板側の半導体層が、活性層である場合、その活性
層が歪を有しているので、活+!1層に多数の非発光中
心を有し、このため、強度の高いレーザー発振が得られ
ない。 また、これを避(プるために、活+/1層の厚さを厚く
したり、半導体基板ど活11層どの間にカ′イド層どし
ての半導体層を介挿したりηれば、発振閾値電流が高く
なるとどしに、そのために埋込形手導体レーザが早期に
劣化し、また、周期構造の位置から活性層の位置までの
平均距離が長くなるので、周期構造を右することにJ、
る上述した効果が低下する。 また、」一連した(口)ということで、内部に周期構造
を有し、そして凹凸而を右りる半導体層が活性層である
揚台、凸凹面を右づる活1ノ1層及びその上に形成され
た他の半導体層が、凸凹面を有する活III層を形成し
、次にその半導体層上に他の半導体層を形成ηることに
J:って得られるが、その間において、凸凹面をイ〕づ
る半導体層の、その凸凹層が外気に触れるため、凹凸を
右する活+lI層とその上に形成された半導体層との間
の界面にトラップをし、J:たこのためにその界面に発
光を伴う。このため、ブト光効率が低く、弾痕の高いレ
ーザー発振がjmられイ1−いなとの欠点を有する。 さらに、上述した(口)ということで、内部に周期構造
を有し、そして凸凹面を有する半導体層が活性層以外の
半導体層であって、その半導体層の活性層とは反対側の
而が凸凹面を有している場合、周期構造の位置から活性
面の位置までの距離が大であるので、周期構造を有する
ことによる上述した効果が低いという欠点を有する。 また、上述した(イ)ということで、内部に周期構造を
有する埋込形半導体レーザ゛は、第1の半59体基板に
対するエツチング処理にJ:って、その第1の半導体基
板から、予定の周期で凹凸を繰返している凹凸面を有す
る第2の半導体基板を形成する第1の工程と、次に、そ
の凹凸面を右する第2の半う9体基板上に、第1及び第
2の半導体層を液相エピタキシ1フル成長法によって順
次形成する第2及び第3の■稈とを含んで、第1の積層
体を形成し、次に、その第1の積層体に対重る−[ツヂ
ング処理により、十i!K したストライプ状積層体を
形成刃る第1の4−稈と、次に第2の半導体基板上に、
埋込用層を、ス1〜ライブ状積層体の側面に連接して形
成りる第5の工程を含む、という製法で製造されるの含
を余儀なくされている。 また、上述した(口)ということで、内部(ご周期構造
を有する埋込形゛1′導体レーリ“は、半)9体基板上
に、第1の半導体層を形成づる第1の工程と、その第1
の半導体層に対重るエツチング処理によって、その第1
の半導体層から、予定の周期で凹凸を繰返している凹凸
面を有り−る第2の半導体層を形成する第2の]−程と
、次に、その凹凸面を右する第2の半)9体層十に、他
の第3の半導体層を液相エピタキシャル成長法にJこつ
て形成する第3のT稈とを含んで、第1の積層体を形成
し、次に、その第1の積層体に対するエツチング処理に
J、す、上述したス1〜ライブ状積層体を形成する第4
の丁稈と、次に半導体基板上に、埋込用層を、ス1〜ラ
イブ状積層体の側面に連接して形成づる第5の工程を含
む。 という製法で製造されるのを余(線なくされている。 然し/lがら、上述した(イ)ということで、内部に周
期構造を有する埋込形半導体レーザを製造でる場合、第
2の半導体基板を形成するための1回のエツチング処理
と、ストライプ状積層体を形成するための1回のエツチ
ング処理とを要し、また、上述した(口)ということで
、内部に周期構造を有する埋込形半導体レーザを製造す
る場合、第2の半導体層を形成するための1回のエツチ
ング処理と、ストライプ状積層体を形成するため1回の
エツチング処理とを要し、従って何れにしても2回のエ
ツチング処理をどる工程を要し、従って多くの工程を要
するという欠点を有づる。 従って]二連した、従来の周期構造を有する埋込形半導
体レーザ゛の場合、その周期構造を有する埋込形半導体
レーザのを、容易に製造することが国債]である、とい
う欠点を有していた。 また、上述(イ)ということで、周期内部に構造を有す
る埋込形半導体レーザをIIl!1造する場合、第2の
半導体基板を形成する第1の工程後、第2の工程で第1
の半導体層を形成りるときに、そのときの熱にJ:って
、第2の半導体基板に右する凹凸面が、変形する。また
、第2の半導体基板の表面部が、第1の半導体層を形成
刃る融液に、ヌル1〜バツクすることにJ−って、第2
の半59体層の凹凸面が変形する。 また、上述(ロ)ということで、周期内部に構造を有す
る埋込形半導体レーザ“を製造でする場合、第2の半導
体層を形成づる第2の]程後、第3の工程で第3の半導
体層を形成ザるどきに、そのどぎの熱によって、第2の
半導体層に有づる凹凸面が、変形する。また、第2の半
導体層の表面部が、第3の半導体層を形成する融液に、
メルトバック覆ることにJ、って、第2の半>9体層の
凹凸面が変形する。 従って、−に二連した、従来の周期構造を有する埋込形
半導体レーザの場合、その周期構造を有する埋込形半導
体レー1Fを、所期の特性を十分発揮するt)のとして
、!I+!!造するのが困難である、という欠点を有し
ていた。 J、って、本発明は、上述した欠点のない、新規な、周
期構造を有する埋込形半導体レーザを提案Uんと−Cノ
るものである。 第1図Δ〜Cは、本発明ににる周期構造を有づる埋込形
半導体レーザの一例を示し、例えばN型の、例えばIn
Pでなるクラッド層どしてb作用力る半導体基板1を有
する。 然して、その半導体基板1上に、少くとも活iII層を
含む複数の半導体層が積層されているストライブ状積層
体2が形成されている。 この場合、ストライブ状積層体2の一例は、図示のよう
に、例えばGa1nAsP系でなる話1’l li′J
3 ト、p 7(Q (7)例えハI n P テ’J
 ル’) ラッド層1どが、ぞれ等の順に積層されてな
る構成を右りる。)1、た、相対向する端面5及び6中
の一方の端面5は、活性層3及びクラッド層4の上面と
垂直な面と41されているが、他方の端面O(,1、)
7ブリペローの反射面が形成されないに、クラッド層4
の上面にストライブ状の浅い溝13が形成されている。 また、半導体基板1十に、埋込用層7が、ス1〜ライブ
状fE!i囲体2の側面に連接して形成されている。 この場合、埋込用層7の一例は、P型の例えばInPで
なる盾部8ど、N型の例えばInPでなる盾部9どが、
それらの順に(^層されている構成を有し、ぞ1)で、
盾部8ど、盾部9どの間の界面がクラッド層1の側面土
に看るように、また、」−面がクラッド層4の−1−而
と略同−の而になるにうに形成されている。 さらに、半導体基板1のス1へライブ状積層体2側とは
反対側の面子に、電1!i 10がA−ミックに何され
、また、ストライブ状積層体2及び埋込用層7上に、そ
れら間に連続して延長している電極11がA−ミックに
(=Jされている。 上述の構成にJ:る場合、ぞの(14成は、従来の、周
期構造を有しない、埋込形半導体レーザにみられる構成
と同様である。 従って、詳細説明は省略するが、従来の、周期構造を有
しイfい、埋込形半導体レーザと同様の、周期構造を有
しない、埋込形半導体レーザどしての機能が得られる。 黙しながら、本発明による、周期構造を有づる埋込形半
導体レーザの一例構成においては、上述した(111成
において、そのストライブ状積層体2の側面が、そのス
(〜ライブ状積層体2の延長り向に予定の周期λで凹凸
を繰返している凹凸面21でなる。 1ス−1が、本発明による、周期474造をFJする埋
込形半導体1ノーザの一例構成である。 次に、」−)ボしたJ:うな構成を右づる、周期構造を
イj゛づ−る埋込形半導体レーザの製法の一例を、第2
図へ・第10図を伴なって述べJ−う。 第2〜第10図において、第1図どの対応部分には、同
一符号を付して示す。 第2図A−Cに示すように、N型のInPで4する半導
体基板1を用意する。 然して、その半導体基板1十に、第3図へ〜Cに示すよ
うに、Qa AS P系でなる活f/I層3と、P型の
1+)Pでなるクラッド層4どを、それ自体は公知の液
相■ビタキシャル成長法ににって形成し、よって活性層
3とクラッド層4とがそれらの順に積層されでいる積層
体31を形成する。 次に、第4図Aへ・Cに示′?lにうに、積層体31を
構成しているクラッド層4の1−面に、ストライブ状の
浅い渦13を形成J−る。 次に、第5図A〜Cに示すJ:うに、!!+’i 13
を形成しているクラット層4の上面」−に、爾後、スト
ライプ状マスク層35どなる、例えば二酸化珪素でなる
層32を、それ自体は公知の、例えばスパッタリング法
によって形成する。 次に、第6図A−Cに示?IJ、うに、層32−Lに、
例えばフォトレジス1〜でなるストライブ状マスク層3
3を、それ自体は公知の7711〜リソグラフイ法によ
って形成覆る。 この場合、ストライブ状マスク層33の側面が、そのス
1〜ライブ状マスク層33の延長方向に予定の周期で凹
凸を繰返している凹凸面34に形成りる。 次に、ストライプ状マスク層33をマスクとする、層3
2に対する、それ自体は公知のエツチング処理によって
、第7図A−Cに示すように、層32から、ストライプ
状マスク層35を形成刃る。 次に、ス1〜ライブ状マスク層33を、ス1〜ライブ状
マスク層35上から除去して後、ス1〜ライブ状マスク
層35をマスクとする、積層体31に対する、イれ自体
は公知のエツチング処理によって、第8図A−Cに示す
ように、積層体31から、ストライプ状積層体2を形成
する。 この場合、ストライプ状積層体2の側面が、そのストラ
イプ状積層体2の延長方向に予定の周期で凹凸を繰返し
ている凹凸面21でなるものとして形成される。 次に、半導体基板1上に、第9図Δ〜Cに示づ−ように
、P型のInPでなる回部8と、N型のInPでなる回
部9どが、それらの順に積層されてなる構成の埋込用層
7を、ス1〜う、イゾ状積層体2の凹凸面21でなる側
面に連接して形成する。 この場合、埋込用層7を、イの回部8ど、回部9との間
の界面が、クララ1一層4の側面Lに在るように、また
、上面がス[・ライブ状積層体2の上面と略々同一の面
になるように形成する。 次に、ス1〜ライブ状ζノスク層35を、ストライプ状
積層体2上/)臼)除去して後、第10図Δ〜・Cに示
すように、半W (A j;! ll1l?1のストラ
イプ状積層体2側どは反ス・j側の面上に、電極層10
を、それ自体は公知の方法で形成し、コ、た、ストライ
プ状積層体2及び埋込用層7十に延長している電極層1
1を、それ自体は公知の方法にJ:って形成し、然る後
、電極層11をマスクどするエツチング処理により、ス
トライプ状積層体2の4(1対向する端面5及び6中の
一方の似1:而6を、ファブリペロ−のIQ I:J・
1面と41′らないように、傾斜している面に形成づ−
る。 以上のようにして、第1図A〜Cで上述した、周期構造
を有する埋込形半導体レーザの一例を1ワる。 以−1−で、本発明による、周期構造を有する埋込形半
導体レーザの一例構成が明らかとなった。 −1−述した、本発明による、周期+M造を右づる埋込
形半導体レーザの構成によれば、ストライプ状積層体2
の側面に形成されている凹凸面21が、ストライプ状積
層体を構成している、予定の周期で凹凸を繰返している
凹凸面を有する半導体層上に、他の半導体層が形成され
ていることで、内部に周期構造を有する、という構成の
、従来の、周期構造を有する埋込形半導体レーザにおり
る、内部に構成している周期構造に対応している、周期
構造を構成している。 従って、本発明にJ:る上述した、周期構造を右する埋
込形半導体レーザは、従来の周期構造を右りる埋込形半
導体レーザと同様の、周期構造を有する埋込形半導体レ
ーザとしての機能が得られることは、明らかである。 また、上述した本発明にJ、る周期構造を右する埋込形
半導体レーザ“の場合、それが上述しIこJ:うに製造
されるため、ストライプ状積層体2が、冒頭で上述した
従来の周期構造をイ1iI−る埋込形半導体レーザの場
合の」、うに、歪を右Mるものどじて形成されたり、ま
た活性層3とクラッド層4とがそれらの界面に冒0nで
十)ホした?、Y来の周期構造を有する埋込形半導体レ
ーザの場合のにうに、トラップを有する−6のとして形
成されていたり、周期構)告の位置から活性層の位置ま
での距離が人Cあったり、周期構造を構成している凹凸
面が変形されたものとして形成されていたり、していな
い。 このため、本発明による周期構造を有する埋込形半導体
レーザ“の場合、長期にわたって、所期の特性を発揮し
て、効率良く、強度の高いレーザ発振が得られる、とい
う1h徴を右−りる。 また、上述した、本発明ににる周期構造を右する埋込形
半導体レー音アの場合、その周!III lf43告を
有する埋込形半導体レーザを、第2図へ・第1O図C゛
上述した製法によって製造ザることができる、。 ところで、このような製法の場合、■ツヂング処理とし
て、積層体31から、ストライプ状偵層(ホ2を形成づ
るための1回のエツヂング処理をどる工程を要するたり
て、上述した、本発明による周期構造を有する埋込形半
導体レーク゛を製造づ−ることができる。 従って、上述した、本発明による周l!II構造を有す
る埋込形半導体レーザの場合、その周期構造を右する埋
込形半導体レーザ゛を、従来の周期構造を右づる埋込形
半導体レーザの場合に比し、容易に製造づることができ
る、という特徴を有する。 5した、本発明による周期構造を右する押込形半導体レ
ーザの場合、その周期構造を構成している凹凸面が、ス
トライブ状積層体の側面に形成されているので、その凹
凸面が面冒頭で上述した、従来の周期4,1.j造を右
する埋込形半導体レーザの製法のように変形して形成さ
れない。 従って、上述した、本発明による周lll1構造を有す
る埋込形半導体レーク“の場合、ぞの周期構造を有する
埋込形半導体レーク゛を、所期の’411’1を十分発
揮するものとして、容易に装)貴づ−ることができると
いう、大なる特徴を右イJる。 なお、上述においては、半導体!、を仮1がクラッド層
として作用し、また、話す11層を含む〜教の半導体層
が積層されCいるストライブ状積層体2が、活性層3と
クラッド層4どから構成されている場合につぎ述べたが
、第1のクラッド層」、たは第1の刀イド層と、活性層
と、負〕2のクラッド層または第2のカイト層とが、く
れ等の順に積層されている構成を有する、埋込形半導体
1ノーザにも、本発明を適用リ−ることかでさるもので
ある。 勿論、上述した構成に(!メい−(、p !%すをN^
す、N型をP型と読み代えた構成どりることもてさるも
のである。 その他、本発明の精神を111(すること<’CL/に
、種々の変型変更をなし1qるであろう。 4、図面の簡単な説明 第1図△、B及びCは、それぞれ本発明による周期構造
を有する埋込形半導体レーザの一例を示す、路線的平面
図、そのB−B線上の断面図及びC−C線にの断面図で
ある。 第2図、第3図、第4図、第5図、第6図、第7図、第
8図、第9図及び第10図は、本発明による周期構造を
右する埋込形半導体レーザの製法の一例を示す、順次の
工程におlプる路線図を示し、イれら図中、Aは平面図
、Bはその1T3−B線上の断面図、CはC−cfJ!
上の断面図である。 1・・・・・・・・・・・・・・・半導体基板2・・・
・・・・・・・・・・・・ストライブ状積層体3・・・
・・・・・・・・・・・・活性層4・・・・・・・・・
・・・・・・クラッド層5)、6・・・・・・・・・端
面 7・・・・・・・・・・・・・・・埋込用層21・・・
・・・・・・・・・・・・凹凸面10.11・・・・・
・電極層 31・・・・・・・・・・・・・・・積層体33.35
・・・・・・ストライプ状マスク層34・・・・・・・
・・・・・・・・凹凸面出願人  日本電信電話公判 rcD ■ l−の く 已] 二         −コ 」二続ネ1目1正書 4j’i KT庁長官  若  杉  和  夫  殿
1、事件の表示  特願昭57−157353号2、発
明の名称  周期構造を有する埋込形半導体レーザ 3、補正をする者 事1′1どの関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区内幸町1丁目1番6号名 称 
(422)日本電信電話公ネ]代表壱 真  @   
 3U3 4、代理人 Fi 、 ?+1i n命令の1」付 自発補正6 、
 kli +]’により増加する発明の数  なし8、
補IFの内容 (1)明細書中、第12頁2行[GaAs[)系1とあ
るのをr I n Qa AS P系1ど訂1l−16
゜(2)仝、第12頁11行へ・第13頁3行1次に、
第5図A〜C・・・・・・・・・形成づる。Iどあるの
を下記のとおり訂正ηる1、 1 次に、第5図Δ〜Cに承り−ように、:Fi 13
を形成しているクラッド図4の上面子に、m(fi、ス
1へライブ状マスク層3′Iε〕とイ’rる、例えば二
hii化珪素でなる層32を、それ自体は公知の、例え
ばスパッタリング法にJ、−)で、各部均一の1+7さ
に形成する。 次に、第6図△−Cに示すように、層32−1に、例え
ばフA1〜レジメ1〜でなるストライプ状マスク層33
を形成する。 この場合、ストライプ状マスク層33の側af1を、そ
のストライプ状マスク層i33の延長方向に予定の周期
で凹凸を繰返している凹凸面34に形成する。 このにうな、側面を凹凸面3/′Iに形成しているスト
ライプ状マスク層33は、フ711・リソグラフィ法に
よって、次のJ:うにして形成することができる。 すイfわち、層32−トにフA1〜レジメ(へ匝を塗布
によって形成する。この場合、)′A−lヘレジス1〜
Fi1よ、層32 h’ ?f413の形成されたクラ
ッドIr?i /1十に各部均一な厚さに形成されてい
るので渦13の底に対向している領域において、嵩13
の側面〈傾斜している)に対向している領域及び満13
に対向していない領域に比し厚い厚さを有し、また、:
m 13の側面に対向している領域において、)苗13
の底に対向している領域側から満13に対向していない
領l或側に向って徐々に薄<4jる厚ざを右し、さらに
、)1°?113にス・1面していlI:い領域におい
て、)菌13の側面に月面している領j或の)1“−1
13に対向していない領域のR1;’い厚さを有してい
る、bのとして形成される。 次に、フォトレジスト層に対し、三光束干渉法によって
、凹凸面34の凹凸の繰返し18明を有する干渉縞を露
光さげ、次に現像処理を行う。 この場合、干渉縞の露光条イ′1及び現像処理の条件を
適当に選べれば、フォトレジスト層が」−述した厚さ分
布を有しているので、そのフA1〜1ノジスト層から、
tM 13の側面に9・1面している位置を側面とし、
その側面に凹凸面3/lを形成しているストライプ状マ
スク層33が形成される。 以トのにうにしで、側面を凹凸面3/Iに形成している
ストライ状マスク層33を形成する。」(3)仝、第1
4頁16−17行[電極層11をマスクどするエツヂン
グ処理により]とあるのを[それ自体は公知のフォ1〜
リソグラフィ法(こよって]ど訂正引る。。 以  十
FIGS. 1A, B, and C show an example of a recessed type "l" 79 body model having a periodic structure according to the present invention. Cross-sectional view of line 1 and C-C
This is a cross-sectional view along the line. Figure 2, Figure 3, Figure 11, Figure 5, Figure 6, Figure 7,
Figures 8, 9, and 10 show an example of the manufacturing method of the hammered regular half and rib which have a periodic structure according to the present invention, and show the sequential steps ( In the figure, 8 is a plan view, [1t, 1. Child's D-111!+i l cross-sectional view, C
is a sectional view taken along line CC. 1... Semiconductor substrate 2...
・・・・・・・・・・・・Stripe-like (1-surrounding body 3
・・・・・・ ・・・・・・・・・ ) Archaic layer 4...
・・・・・・・・・・・・Clad layer 5.6・・・・・・
・・・・Summary 7・・・・・・・・・・・・Embedding layer 21・・・・
・・・・・・・・・・・・ Uneven surface 10.11 ・・・・・・
・Electrode layer 31......Laminated bodies 33, 35
...Stripe mask layer 34...
・・・・・・・・・Concave and convex surface M1 person, Japan Telegraph and Telephone Public Corporation, “Continued If-iTI document, December 30, 1980, Director General of the Special R'E Agency Name: Kazuo Sugi, Tono 1, Matters (1) Display Patent Application No. 15'735 of 1982
3 No. 2, Title of the invention Implantable semiconductor laser 3 having a periodic structure, relationship with the amendment company fl Patent applicant address 1-1-6 Uchisaiwai-cho, Chiyoda-ku, Tokyo 100 Name (/ 122) Nippon Telegraph and Telephone Public Corporation? , ]Representative: Makoto Fuji ↑0 4, Agent address: 5-7 Kojimachi, Chiyo 11-ku, Tokyo 102
Hidekazu Kioicho TBR No. 5, Supplement 11 - Roy of the Order "Voluntary amendment 6, vl/ of the invention increased due to the amendment, I゛Subject of the Schiff amendment Text for the description and drawings 8, Contents of the amendment Attachment Description 1, Title of the Invention Buried semiconductor laser with periodic structure 2, 'lFjγ'Claims?l' A plurality of semiconductor layers, including at least an active layer, are laminated on a dielectric substrate. A buried semiconductor laser in which a striped stacked body is formed, and a pushing layer is formed in connection with a side surface of the striped stacked body, wherein the side surface of the striped stacked body is connected to the side surface of the striped stacked body. 1. A buried semiconductor laser having a periodic structure characterized by an uneven surface that repeats unevenness at a predetermined period in the extending direction of a helicoidal laminate. 3. Detailed description of the invention The present invention relates to a buried semiconductor laser having a periodic structure, which has a periodic structure inside. In a buried semiconductor laser, a striped laminate in which a plurality of semiconductor layers including at least an active layer are stacked is formed on a semiconductor substrate, and a embedding layer is placed on the side surface of the striped laminate. The structure is that it is formed by [). . The buried semiconductor laser having such a configuration has the characteristic that the width of the 11 active layers in the striped stack is narrow, so laser oscillation can be achieved in the width-transverse mode. Ru. Further, in the above-mentioned buried semiconductor laser, the buried semiconductor laser having a periodic structure has a periodic structure inside, so that even during high-speed modulation operation, The above-mentioned laser oscillation can be obtained in a stable A-longitudinal mode and a stable A-transverse mode, compared to a buried semiconductor rake that does not have a periodic structure inside. . By the way, the conventional buried semiconductor lake having a periodic structure as shown in (a) above has (a) an uneven surface in which the upper surface is repeatedly uneven at a predetermined period on one side in the direction of the surface. A semiconductor layer on which a striped laminate is formed on a conductor substrate, the upper surface of which has an uneven structure in which the upper surface repeats unevenness in one direction at a predetermined period. Usually, a stripe-like stacked body is formed by forming semiconductor layers, and thus has a periodic structure inside. However, due to (a) mentioned above, if the interior has a periodic IM structure, the striped laminate is r The conductor plate side also has no strain 4) Because it is difficult to form a striped laminate, the semiconductor substrate side has strain, and for this reason, the embedded semiconductor Lasers have the disadvantage of being difficult to achieve the desired characteristics and of premature deterioration. For example, if the semiconductor layer on the semiconductor substrate side constituting the helical stack is an active layer, the active layer has strain, so there are many active layers in one layer. For this reason, high-intensity laser oscillation cannot be obtained.In order to avoid this, the thickness of the active layer must be made thicker, and the thickness of the semiconductor substrate may be increased. If a semiconductor layer such as a guide layer is inserted between the layers, the oscillation threshold current will increase, which will cause the buried hand conductor laser to deteriorate early, and also cause the periodic structure to deteriorate. Since the average distance from the position of J to the position of the active layer becomes longer, J,
The above-mentioned effects are reduced. In addition, by "continuous" (mouth), it has a periodic structure inside, and the semiconductor layer on the uneven surface is the active layer, the active layer on the right side on the uneven surface, and the top layer. J: is obtained by forming an active III layer having an uneven surface, and then forming another semiconductor layer on that semiconductor layer. Since the uneven layer of the semiconductor layer that forms the surface is exposed to the outside air, traps are created at the interface between the active +lI layer that forms the uneven surface and the semiconductor layer formed on it. The interface emits light. For this reason, it has the drawbacks of low light efficiency and poor laser oscillation with high bullet holes. Furthermore, as mentioned above, the semiconductor layer having an internal periodic structure and an uneven surface is a semiconductor layer other than the active layer, and the semiconductor layer on the opposite side of the active layer is a semiconductor layer other than the active layer. When the surface has an uneven surface, the distance from the position of the periodic structure to the position of the active surface is long, so the above-mentioned effects of having the periodic structure are low. In addition, because of (a) mentioned above, a buried semiconductor laser having an internal periodic structure can be etched from the first semiconductor substrate by etching the first half-substrate. A first step of forming a second semiconductor substrate having an uneven surface that repeats unevenness at a period of 2 semiconductor layers are sequentially formed by a liquid phase epitaxy 1 full growth method to form a first stacked body, and then a counterweight is applied to the first stacked body. Ru-[Through the tzing process, 10 i! forming a striped laminate with K on the first 4-culm and then on the second semiconductor substrate;
It is inevitable that the embedding layer be manufactured by a manufacturing method including a fifth step of forming the embedding layer in connection with the sides of the laminate. In addition, as mentioned above, the first step of forming the first semiconductor layer on the internal (internal) 1' conductor relay having a periodic structure is the 9-piece substrate. , the first
The first layer is etched by etching the first semiconductor layer.
A second semiconductor layer having an uneven surface that repeats unevenness at a predetermined period is formed from the semiconductor layer, and then a second half that covers the uneven surface. A first laminate is formed, including a third T-culm in which another third semiconductor layer is formed using a liquid phase epitaxial growth method, and then the first In the etching process for the laminate, the steps 1 to 4 described above are performed to form a live laminate.
The method includes a fifth step of forming an embedding layer on the semiconductor substrate so as to be connected to the side surface of the strip-shaped stack. However, due to (a) mentioned above, when manufacturing a buried semiconductor laser having a periodic structure inside, the second semiconductor laser It requires one etching process to form the substrate and one etching process to form the striped laminate. When manufacturing a semiconductor laser with a semiconductor chip, one etching process is required to form the second semiconductor layer and one etching process is required to form the striped stack, so in any case, two etching processes are required. It has the disadvantage that it requires repeating the etching process several times, and thus requires many steps.Therefore, in the case of a double-connected buried type semiconductor laser having a conventional periodic structure, It has the disadvantage that it is difficult to easily manufacture embedded semiconductor lasers.In addition, as mentioned in (a) above, an embedded semiconductor laser having a structure inside the period has the disadvantage of being easily manufactured. When manufacturing one semiconductor substrate, after the first step of forming the second semiconductor substrate, the first semiconductor substrate is formed in the second step.
When forming a semiconductor layer, the uneven surface on the second semiconductor substrate is deformed by the heat generated at that time. In addition, J- means that the surface portion of the second semiconductor substrate backs up to the melt forming the first semiconductor layer.
The uneven surface of the half-59 body layer is deformed. In addition, according to the above (b), when manufacturing a "buried type semiconductor laser" having a structure inside the period, after the second process of forming the second semiconductor layer, the third process is performed in the third process. During the process of forming the second semiconductor layer, the uneven surface of the second semiconductor layer is deformed by the heat generated during the process.Also, the surface portion of the second semiconductor layer forms the third semiconductor layer. To the melt that
As a result of the meltback, the uneven surface of the second half is deformed. Therefore, in the case of a conventional buried semiconductor laser having a periodic structure connected to -, the buried semiconductor laser 1F having the periodic structure is assumed to fully exhibit the desired characteristics. I+! ! The disadvantage was that it was difficult to manufacture. J. The present invention proposes a novel buried semiconductor laser having a periodic structure that does not have the above-mentioned drawbacks. 1A to 1C show an example of a buried semiconductor laser having a periodic structure according to the present invention.
It has a semiconductor substrate 1 which has a cladding layer made of P and which has a b effect. Thus, a striped laminate 2 is formed on the semiconductor substrate 1, in which a plurality of semiconductor layers including at least an active III layer are stacked. In this case, an example of the striped laminate 2 is made of, for example, Ga1nAsP, as shown in the figure.
3 g, p 7 (Q (7) example H I n P te'J
1) A structure in which the rad layers 1 and the like are laminated in this order. )1, one end face 5 of the opposing end faces 5 and 6 is perpendicular to the upper surfaces of the active layer 3 and cladding layer 4, while the other end face O(,1,)
7 The cladding layer 4 is not formed on the reflective surface of the
A striped shallow groove 13 is formed on the upper surface of the holder. Further, the embedding layer 7 is formed on the semiconductor substrate 10 in the form of strips 1 to fE! It is formed so as to be connected to the side surface of the i enclosure 2. In this case, an example of the embedding layer 7 is a P-type shield part 8 made of, for example, InP, an N-type shield part 9 made of, for example, InP,
In that order (has a layered configuration, zo 1),
The interface between the shield part 8 and the shield part 9 is formed so that the surface is approximately the same as that of the cladding layer 4, as seen on the side surface of the cladding layer 1. has been done. Furthermore, an electric current 1! is applied to the surface of the semiconductor substrate 1 on the side opposite to the live-like laminate 2 side. i 10 is A-mic, and the electrode 11 extending continuously between them on the striped laminate 2 and the embedding layer 7 is A-mic (=J). In the case of the above-mentioned structure, the 14-layer structure is similar to the structure found in conventional buried semiconductor lasers that do not have a periodic structure. The function of a buried semiconductor laser having a periodic structure similar to that of a buried semiconductor laser without a periodic structure can be obtained. In the configuration of an example of the embedded semiconductor laser described above, the side surface of the striped laminate 2 has a predetermined period λ in the extending direction of the striped laminate 2. It consists of an uneven surface 21 that repeats unevenness. 1S-1 is an example configuration of an embedded semiconductor 1 noser that FJs a periodic 474 structure according to the present invention. An example of a manufacturing method for a buried semiconductor laser with a periodic structure based on the configuration is shown in the second section.
Refer to Figure 10. In FIGS. 2 to 10, parts corresponding to those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. As shown in FIGS. 2A to 2C, a semiconductor substrate 1 made of N-type InP is prepared. As shown in FIGS. 3 to 3C, the semiconductor substrate 10 is coated with an active f/I layer 3 made of Qa AS P system, a cladding layer 4 made of P-type 1+)P, etc. is formed by a known liquid phase bitaxial growth method, thereby forming a laminate 31 in which the active layer 3 and the cladding layer 4 are laminated in that order. Next, go to Figure 4A and C as shown in '? In addition, a shallow striped vortex 13 is formed on the first surface of the cladding layer 4 constituting the laminate 31. Next, J: Sea urchin,! shown in FIGS. 5A to C. ! +'i 13
A layer 32 made of, for example, silicon dioxide, such as a striped mask layer 35, is then formed on the upper surface of the crat layer 4, which is formed by a method known per se, for example, by sputtering. Next, as shown in Fig. 6A-C? IJ, sea urchin, layer 32-L,
For example, a striped mask layer 3 made of photoresist 1 to
3 is formed by a 7711-lithographic method known per se. In this case, the side surface of the striped mask layer 33 is formed into an uneven surface 34 that repeats unevenness at a predetermined period in the extending direction of the striped mask layer 33. Next, the layer 3 using the striped mask layer 33 as a mask is
2, a striped masking layer 35 is formed from the layer 32 by an etching process known per se, as shown in FIGS. 7A-7C. Next, after removing the strips 1 to 33 of the live mask layers 33 from the tops of the strips 1 to the live mask layers 35, the damage to the laminate 31 using the strips 1 to the live mask layers 35 as masks is confirmed. A striped laminate 2 is formed from the laminate 31 by a known etching process, as shown in FIGS. 8A to 8C. In this case, the side surface of the striped laminate 2 is formed with an uneven surface 21 that repeats unevenness at a predetermined period in the extending direction of the striped laminate 2. Next, on the semiconductor substrate 1, as shown in FIG. 9 Δ to C, a circuit part 8 made of P-type InP, a circuit part 9 made of N-type InP, etc. are laminated in that order. An embedding layer 7 having a structure is formed so as to be connected to the side surface formed by the uneven surface 21 of the grooved laminate 2. In this case, the embedding layer 7 is arranged so that the interface between the circular parts 8 and 9 of A is on the side surface L of the Clara 1 and 4, and the upper surface is a sliver layer. It is formed to have a surface that is substantially the same as the upper surface of the body 2. Next, after removing the striped laminate 2 from the live ζnosk layer 35, as shown in FIG. The side of the striped laminate 2 of No. 1 has an electrode layer 10 on the opposite surface of the striped laminate 2.
is formed by a method known per se, and includes an electrode layer 1 extending to the striped laminate 2 and the buried layer 70.
1 by a method known per se, and then by etching using the electrode layer 11 as a mask, 4 (one of the opposing end faces 5 and 6) of the striped laminate 2 is formed. Similar to 1:6, Fabry-Perot's IQ I:J.
It is formed on an inclined surface so that it is not 41' above the 1st surface.
Ru. As described above, one example of the buried semiconductor laser having the periodic structure described above with reference to FIGS. 1A to 1C is constructed. In the above-1-, an example configuration of a buried semiconductor laser having a periodic structure according to the present invention has been clarified. -1- According to the structure of the buried semiconductor laser according to the present invention in which the period +M structure is right-handed, the striped laminate 2
The uneven surface 21 formed on the side surface constitutes a striped laminate, and another semiconductor layer is formed on the semiconductor layer having an uneven surface that repeats unevenness at a predetermined period. It has a periodic structure that corresponds to the periodic structure that is formed inside the conventional buried semiconductor laser that has a periodic structure. . Therefore, the above-described buried semiconductor laser having a periodic structure according to the present invention can be used as a buried semiconductor laser having a periodic structure similar to the conventional buried semiconductor laser having a periodic structure. It is clear that this function can be obtained. In addition, in the case of the buried semiconductor laser having a periodic structure according to the present invention described above, since it is manufactured as described above, the striped laminate 2 is different from the conventional one as described at the beginning. In the case of a buried semiconductor laser with a periodic structure of ) Did you do it? , as in the case of a buried semiconductor laser with a periodic structure as in , the concavo-convex surfaces constituting the periodic structure may or may not be deformed. Therefore, in the case of the "embedded semiconductor laser" having a periodic structure according to the present invention, it is possible to exhibit the desired characteristics over a long period of time, and to obtain efficient and high-intensity laser oscillation. In addition, in the case of the above-mentioned embedded semiconductor laser having a periodic structure according to the present invention, the embedded semiconductor laser having the periodic structure !III lf43 is shown in FIG. C゛It can be manufactured by the above-mentioned manufacturing method.In the case of such a manufacturing method, (1) one etching treatment for forming a striped layer (2) from the laminate 31 as the etching treatment. The buried type semiconductor lake having the periodic structure according to the present invention as described above can be manufactured by repeating the above-mentioned steps. In the case of a semiconductor laser, a buried type semiconductor laser having a periodic structure can be manufactured more easily than a conventional buried type semiconductor laser having a periodic structure. In the case of the indented semiconductor laser having a periodic structure according to the present invention, the uneven surface constituting the periodic structure is formed on the side surface of the striped laminate. The buried semiconductor laser having the periodicity 4,1.j structure described above is not deformed and formed as described above. In the case of ``, the great feature is that the embedded semiconductor lake having the periodic structure can be easily equipped to sufficiently exhibit the desired '411'1. Jru. In addition, in the above, semiconductor! , when the striped laminate 2 is composed of an active layer 3, a cladding layer 4, etc., in which the temporary layer 1 acts as a cladding layer and semiconductor layers including 11 layers are laminated. As described below, the first cladding layer or the first oxide layer, the active layer, and the negative 2 cladding layer or the second kite layer are laminated in this order. The present invention can also be applied to a buried type semiconductor device having the following structure. Of course, the above configuration (!
It is also possible to change the configuration by replacing N type with P type. In addition, various modifications and changes may be made in accordance with the spirit of the present invention. FIG. 2 is a schematic plan view, a cross-sectional view taken along line B-B, and a cross-sectional view taken along line C-C, showing an example of a buried semiconductor laser having a periodic structure. , FIG. 5, FIG. 6, FIG. 7, FIG. 8, FIG. 9, and FIG. 10 show an example of a manufacturing method of a buried semiconductor laser having a periodic structure according to the present invention, and show the sequential steps. In the diagram, A is a plan view, B is a sectional view on the 1T3-B line, and C is a C-cfJ!
It is a sectional view of the upper part. 1... Semiconductor substrate 2...
・・・・・・・・・Stripe-shaped laminate 3...
・・・・・・・・・Active layer 4・・・・・・・・・
...... Cladding layer 5), 6... End face 7 ...... Burying layer 21...
・・・・・・・・・Concave and convex surface 10.11・・・・・・
・Electrode layer 31・・・・・・・・・・・・Laminated body 33.35
......Striped mask layer 34...
・・・・・・・・・Applicant of uneven surface Nippon Telegraph and Telephone trial rcD ■ l-noku 已] 2-ko' 2 continuation 1 1st book 4j'i KT Agency Director Kazuo Wakasugi Tono 1, case Indication of Japanese Patent Application No. 57-157353 2 Title of the invention Buried semiconductor laser having a periodic structure 3 Person making the correction 1'1 Relationship Patent applicant address 1-1-6 Uchisaiwai-cho, Chiyoda-ku, Tokyo Title name
(422) Nippon Telegraph and Telephone Public Net] Representative Ichi Makoto @
3U3 4, Agent Fi, ? +1i n instruction 1” spontaneous correction 6,
The number of inventions increases by kli +]' None 8,
Contents of supplementary IF (1) In the specification, page 12, line 2 [GaAs [) system 1] is replaced by r I n Qa AS P system 1 revision 1l-16
゜(2) Go to page 12, line 11, page 13, line 3,
Fig. 5 A to C... Formation. I am corrected as follows: 1, 1 Next, according to Fig.
A layer 32 made of, for example, silicon dihide, called m(fi, s1 rib-like mask layer 3'Iε), is added to the upper surface of the cladding forming the cladding in FIG. For example, each part is formed in a uniform 1+7 pattern using a sputtering method (J, -). Next, as shown in FIG. 6 Δ-C, a striped mask layer 33 consisting of, for example, frames A1 to REGIME 1 is added to the layer 32-1.
form. In this case, the side af1 of the striped mask layer 33 is formed into an uneven surface 34 that repeats unevenness at a predetermined period in the extending direction of the striped mask layer i33. In addition, the striped mask layer 33 having the uneven side surface 3/'I can be formed by the following lithography method. In other words, the layer 32 is formed with a photoresist A1~regis by coating.
Fi1, layer 32 h'? The formed cladding Ir of f413? Since each portion is formed to have a uniform thickness of i/10, the volume 13 is reduced in the area facing the bottom of the vortex 13.
The area facing the side surface (sloped) and the area facing 13
It has a thicker thickness than the area not facing, and also:
In the area facing the side of m 13) seedlings 13
The thickness gradually decreases from the side of the area facing the bottom of the area to the side of the area not facing the bottom of the area, and further, 1°? In the area facing 113, the area facing the moon on the side of the bacterium 13 is 1"-1
The region R1 not facing 13 has a thicker thickness, and is formed as b. Next, the photoresist layer is exposed to interference fringes having 18 repetitions of unevenness on the uneven surface 34 by three-beam interference method, and then developed. In this case, if the exposure stripe '1 of the interference fringes and the conditions of the development process are appropriately selected, the photoresist layer has the thickness distribution described above.
The position facing 9/1 to the side of tM 13 is the side,
A striped mask layer 33 forming an uneven surface 3/l is formed on the side surface thereof. Thereafter, a striped mask layer 33 whose side surfaces are formed into an uneven surface 3/I is formed. ” (3) First
Page 4, lines 16-17 [by etching treatment to mask the electrode layer 11]
Due to the lithography method, some corrections are required.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 ゛1′導体基板上に、少くとも活性層を含む複数の゛1
′導体層が4173層されているス1へライブ状梢層(
イ\が形成さ41.1つ埋込用層が上記ストライプ状f
t’i ff1体の側面に連接して形成されている埋込
形゛1′力体1ノーザにおいて、 上記ストライプ状積E (、+の側面が、上記スト−′
)1′ブ状積層体の延長方向に予定の周期で凹凸を繰j
区しζいる凹凸面でなることを特徴どする周期47/、
 造を右り−る埋込形半導体レーザ“。
[Claims] A plurality of ``1'' including at least an active layer on a ``1'' conductor substrate.
'S1 rib-like top layer with 4173 conductor layers (
A\ is formed 41. One embedding layer is in the stripe shape f
In the embedded type "1" force body 1 noser which is formed in connection with the side surface of the t'i ff1 body, the striped product E (, the + side surface is
) 1' Repeat unevenness at a scheduled period in the extension direction of the tube-shaped laminate.
A period 47/, which is characterized by being composed of an uneven surface separated by ζ,
``Embedded semiconductor laser that improves construction.''
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JPS5946081A true JPS5946081A (en) 1984-03-15

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JP15735382A Pending JPS5946081A (en) 1982-09-09 1982-09-09 Buried type semiconductor laser having periodic structure

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JP (1) JPS5946081A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4837775A (en) * 1985-10-21 1989-06-06 General Electric Company Electro-optic device having a laterally varying region
EP0390995A2 (en) * 1989-04-06 1990-10-10 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor laser device and method of making same
JPH0461187A (en) * 1990-06-22 1992-02-27 Agency Of Ind Science & Technol Semiconductor laser and manufacture thereof

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