JPS594485U - 半導体検出器 - Google Patents
半導体検出器Info
- Publication number
- JPS594485U JPS594485U JP10051782U JP10051782U JPS594485U JP S594485 U JPS594485 U JP S594485U JP 10051782 U JP10051782 U JP 10051782U JP 10051782 U JP10051782 U JP 10051782U JP S594485 U JPS594485 U JP S594485U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor detector
- detector
- scattered
- band
- detecting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図は従来の半導体検出器の正面図と断面図、第2図
は第1図の検出器によるイオンエネルギ計測系構成図と
検出のイオンエネルギスペクトル図、及び第3図は本考
案の実施例を示す半導体検出器正面図である。 図中、11は表面電極、12は半導体基体、13は空乏
層、14は背面電極、19は半導体検出器及び22は本
考案の表面電極である。
は第1図の検出器によるイオンエネルギ計測系構成図と
検出のイオンエネルギスペクトル図、及び第3図は本考
案の実施例を示す半導体検出器正面図である。 図中、11は表面電極、12は半導体基体、13は空乏
層、14は背面電極、19は半導体検出器及び22は本
考案の表面電極である。
Claims (1)
- 被検出固体表面に照射され散乱したビームを検出する検
出部の形状が帯状とされてなることを特徴とする半導体
検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10051782U JPS594485U (ja) | 1982-07-01 | 1982-07-01 | 半導体検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10051782U JPS594485U (ja) | 1982-07-01 | 1982-07-01 | 半導体検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS594485U true JPS594485U (ja) | 1984-01-12 |
Family
ID=30237753
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10051782U Pending JPS594485U (ja) | 1982-07-01 | 1982-07-01 | 半導体検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS594485U (ja) |
-
1982
- 1982-07-01 JP JP10051782U patent/JPS594485U/ja active Pending
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