JPS5944744B2 - 磁気偏向コイル - Google Patents

磁気偏向コイル

Info

Publication number
JPS5944744B2
JPS5944744B2 JP55081503A JP8150380A JPS5944744B2 JP S5944744 B2 JPS5944744 B2 JP S5944744B2 JP 55081503 A JP55081503 A JP 55081503A JP 8150380 A JP8150380 A JP 8150380A JP S5944744 B2 JPS5944744 B2 JP S5944744B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
deflection
coil
eddy currents
electron beam
windings
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP55081503A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5624747A (en
Inventor
ハンス・クリスチヤン・フアイフア−
マリス・アンドリス・スチユ−ランズ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of JPS5624747A publication Critical patent/JPS5624747A/ja
Publication of JPS5944744B2 publication Critical patent/JPS5944744B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/09Diaphragms; Shields associated with electron or ion-optical arrangements; Compensation of disturbing fields
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/147Arrangements for directing or deflecting the discharge along a desired path
    • H01J37/1472Deflecting along given lines
    • H01J37/1474Scanning means
    • H01J37/1475Scanning means magnetic

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Particle Accelerators (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、偏向コイルへの偏向電流入力により該コイル
の巻線中に通常生じる渦電流が補償される電子ビーム・
リングラフィ装置用磁気偏向コイルに係り、更に具体的
に云えば、コイルの外側周辺に銅のシートの如き受動的
な導電性の補償手段を加えることによって補償が行なわ
れるトロイダル磁気偏向コイルに係る。
本発明の目的は、電子ビーム・リングラフィ装置の磁気
偏向コイルの巻線中に生じる渦電流を補償することであ
る。
本発明の他の目的は、電子ビーム・リソグラフィ装置の
磁気偏向コイルに於て、駆動回路のずれ及びコイルの巻
線内の容量結合又は誘導結合の如き偏向誤差効果を補償
することである。
本発明の他の目的は、偏向コイルの外側周辺に受動的な
導電性材料を加えることによりその様な補償を達成する
ことである。
本発明の更に他の目的は、成る所与の偏向コイルの時定
数に応じてその様なコイルに望ましい補償をマックスウ
ェルの式から論理的に予測することである。
本発明の上記及び他の目的は、コイル内の渦電流及び駆
動回路の電流安定化効果が補償される様に注意深く計算
された厚さ、高さ、及び幅を有している銅の補償シート
が該コイルの外側周辺に配置されているトロイダル磁気
偏向コイルによって達成される。
補償シートの材料の時定数がマックスウェルの式から算
出され、すべての過渡的効果に最適な補償が行なわれる
様に上記シートの寸法が選択される。
上記シートに於ける支配的な渦電流により生じた磁界は
ビーム径路に隣接する内側コイルに生じた渦電流を相殺
して、偏向コイルに於ける渦電流効果を補償する。
電子ビーム装置に於ける成る種の磁界効果が時間的及び
空間的にビーム動作に悪影響を与えることは良く知られ
ている。
例えば、偏向磁界は動的性質を有し、即ち各々の所定の
電子ビーム動作又は偏向のために偏向コイル駆動入力信
号を変化させる必要がある。
これらの電流により生じた偏向磁界は又、ビームを包囲
する導体材料に渦電流を生じる。
渦電流は、主としてビームにずれを生じることにより時
間的及び空間的にビーム動作に悪影響を与える望ましく
ない磁界を生じる。
効果的な電子ビーム・リングラフィに於けるビーム動作
条件はビームが所定のターゲット位置に正確及び迅速に
磁気偏向されることを要するので、満足な電子ビーム制
御の達成に於て渦電流は大きな問題を生じる。
米国特許第3984687号明細書は磁気偏向コイルに
於ける渦電流を減少させる技術について開示している。
この技術はフェライト及びセラミック材料の磁極片及び
内部レンズ構造体を形成することによってその様な渦電
流を減少させるために用いられている。
非導電性の部品の導電率は極めて僅かであるので、それ
らの構成部品に於ける渦電流が減少される。
更に、比較的大きなレンズ組立体の中心に偏向ヨークを
配置することにより該ヨークの磁界は磁極片を越えて著
しく浸透しない。
従って、実際に於てレンズの外側には何ら渦電流は生じ
ない。
しかしながら、大きな導体から成る比較的大きな偏向コ
イルを必要とする大きな偏向磁界を有する電子ビーム装
置を用いた場合には、巻線構造体自体に於ける渦電流は
無視され得ないことが解った。
その様な渦電流の理想的な解決方法は本質的な渦電流そ
れ自体を抑えることであるが、その様な解決方法は容易
には得られないことが解った。
従って、電子ビーム装置のための磁気偏向コイルの巻線
中に生じた本質的な渦電流の効果を抑えるための手段が
従来必要とされている。
次に、図面を参照して、本発明について詳細に説明する
第1図及び第2図に於て、磁気偏向コイルの1組の巻線
が示されている。
これらの巻線は、典型的には、例えばX又はY方向に於
ける電子ビームの偏向を幾何学的に反対に制御する。
他方のアクセス方向に於けるビームの偏向を制御するだ
めにもう1組の巻線が図に示されている巻線に対して直
角に配向されることが理解されたい。
右側の巻線12に於て、偏向電流Iiは矢印により示さ
れている方向に巻線の内側アームを流れる。
この電流は矢印により示されている方向を有する磁界を
生じる。
同様に、巻線の外側アームを流れる電流I。
は内側アームの磁界と逆向きの磁界を生じる。
これは第2図により明確に示されている。
電流■ 及びIiは等しくそして逆向きの磁界を生じる
ので、それらの磁界は相殺し合う様にも思われ得る。
しかしながら、IiO方が電子ビームに相当近いので、
ビームに与えるその効果の方が強い。
偏向電流は端子Aと端子Bとの間に加えられそして周知
の如く相互接続体13を経て流れる。
コイル内の電流の大きさの変化により導体材料中に渦電
流が生じること、即ち渦電流が時間に関する電流の変化
に比例することは周知である。
磁気偏向信号は電子ビームの偏向が必要とされる度に加
えられるランプ又はステップ関数信号であるので、渦電
流は磁気コイルの巻線内に反復的に生じる。
電流Iiにより生じた渦電流はビーム動作に逆らって該
ビームにずれを生せしめ、電流■。
により生じた渦電流はビームの偏向を助ける。
巻線材料に於て電流Ii及びI。
により生じた全体の渦電流の強さは等しいと考えられ得
るが、ビームが電流I・に近接していることによって、
電流Iiによる渦電流の効果の方が相当に強(なる。
その結果、ビームの偏向に於ける電子ビームへの正味の
影響にずれが生じる。
従って、内側アームの電流Iiによるずれの効果を相殺
する様に外側アームの電流■。
による渦電流の効果を増すことが必要である。
これは、本発明に従って、■oの近傍により多量の導電
性材料を導入することによって達成され得る。
次に、第3図及び第4図に関連して、補償がどのように
達成されるかについて更に詳細に述べる。
第3図に於て、補償された磁気偏向コイルが概略的に示
されている。
そのコイルは一方の軸の方向に於けるビームの偏向を制
御する巻線21及び22、並びに直角の軸の方向に於け
るビームの偏向を制御する直角に配置された巻線25及
び26を有する。
偏向電流は第1図に示されている如く端子(図示せず)
に加えられる。
各組の巻線は非導電性のコア(図示せず)の周囲に配置
されている。
第3図には、X及びY偏向方向の各々に一対の巻線しか
示されていない。
実際の構造体に於ては、磁気コイルは第4図に示されて
いるX方向のための5対の巻線及びY方向のための同様
な5対の巻線から成る。
好実施例に於ては、巻線は多数巻の銅線、即ち各巻線が
巻数25の高純度の銅線から形成されている。
コイルは、略5crrLの高さ、12cIrLQ外径、
及び約3crrLの内径を有し、米国特許第39846
87号明細書に記載されている如く投影レンズ内のビー
ム径路を包囲する様に電子ビーム・コラム内に配向され
ている。
補償手段即ち補償シート41及び42が巻線21及び2
2の外側に設けられ、補償手段即ち補償シート45及び
46が巻線25及び26の外側に設けられている。
第4図に於て、補償シート45及び46は、成る所与の
巻線のだめの補償シートが偏向軸Xに直角の軸Y上に中
心を有する曲面に配向される様に示されており、即ち補
償シート45及び46は巻線21及び22により生じた
渦電流を補償する様に意図されている。
従って、これらの補償シートは巻線21及び22の内側
アームよりも外側アームに近く配置されている。
又、補償シートに於ける渦電流の強さは入射磁界の方向
が90°に近づくに従って増加し、従って巻線の外側ア
ームがより強い効果を有していることに留意されたい。
その結果、巻線の外側アームから補償シート中に生じた
渦電流は巻線の内側アームから該シート中に生じた渦電
流よりも強い。
従って、補償シート中に流れる渦電流により生じた逆向
き磁界(ビーム偏向を助ける)はより強いので、内側ア
ームが電子ビーム径路に近いことに関して先に述べた効
果を相殺する様に働く。
更に、第4図に於ける電子ビーム径路(帯電粒子ビーム
)は、巻線21及び22の内側アームにより限定された
円筒状空間内に於て、偏光軸X及びYに略垂直である。
導電性シートの寸法を調節することにより、成る所与の
時定数を有するコイルに適切な補償が達成され得る。
マックスウェルの式の解に従って、導電性シートの渦電
流時定数は、 に等しい。
上記式に於て、W−幅 り−高さ d−厚さ σ一導電率 μ0−透磁率 ω=周波数 に=定数−1350(経験的に得られた値)π一定数 である。
第5図は、好実施例の磁気偏向コイルに相当する高さを
有する銅シートの理論的及び経験的時定数を示す1組の
曲線を示している。
−好実施例に於ては、補償シートの高さは4.96cI
rLであり、該シートの種々の幅及び厚さが5組の曲線
により示されている。
従って、第5図の曲線は、コイルの一時定数(μ秒)が
測定された後、該コイルが有すべき高さ4.96(17
71の補償シートの理想的な厚さ及び幅を決定するため
に用いられ得る。
従って、200μ秒の時定数を有するコイルは例えば約
500μmの厚さ及び5CrIL以上の幅を有するシー
トによって補償され得ることが明らかである。
幅を更に厚くしても渦電流の振幅が変化するだけで、そ
れらの時定数は変化しない。
同様に、約100μ秒の時定数を有するコイルは203
μmの厚さ及び5cIrL以上の幅を有するシートによ
って補償され得ることが明らかである。
好実施例に於ては、35μ秒の時定数に於て、76μm
の厚さ及び5鑵以上の幅を有するシートで補償が達成さ
れた。
第5図に示されている理論的結果と実験結果との間の相
違は、計算は平坦な形状の銅シートに基づいて行なわれ
たが、実験は実際的な理由により小さな直径のテスト・
コイルの周囲に巻かれたシートを用いて行なわれたこと
による。
主として漸近的な時定数(w>h)に興味があるので、
この角度依存性は近似から排除された。
渦電流の他にビームにずれを生せしめる第2の効果は、
コイル・インダクタンスの関数である駆動回路の電流安
定化時間によって導入される。
ビームの全安定化時間が測定されると(渦電流+駆動回
路+誘導結合又は容量結合)、完全な補償を達成するた
めのシートの特定の形状寸法が決定され得る。
°第6図は電子ビームの安定化時間を測定するために用
いられた実験方法及び本発明による補償技術の効果を示
している。
理想的な状況に於ては、磁気偏向51は静電界による軌
跡53に垂直な線に沿って生じそして同時にターゲット
点52にぶつかる様に生じる。
実際のビームの軌跡が第7図に種々の補償状態に於て示
されている。
参考のため、磁気偏向を零に設定することにより得られ
た理想的な軌跡が各々の場合に於て示されている。
第7A図は補償されていない偏向コイルにより導入され
たビームのずれを示している。
第7図Bに示されている如く、コイルの周囲に多すぎる
補償材料を配置した場合には、反対の効果が達成され、
ビームは偏向されて線53を越えそして後に徐々に線5
3に近い定常状態に戻る。
第7C図に示されている如(、適切に補償された状態に
於ては、ビームは点52の直ぐ近くに偏向されそして極
めて短時間で軌跡53(理想的な場合)及び51(実際
の場合)が合流する。
以上に於て述べた本発明による技術は、これ迄補償され
なかった渦電流効果を除くために相当に近い精度でコイ
ルの周辺に配向された銅の補償シートを磁気偏向コイル
に設けることを可能にする。
磁気偏向コイルがより大きな銅線を用いることによりそ
の設計寸法が増々大きくなるに従って、その様な渦電流
は電子ビーム偏向に増々有害な効果を生じている。
それと同時に、電子ビーム装置を用いた半導体の製造に
於て増々難しいリングラフィ条件が必要とされ、これは
より高精度の偏向を必要としている。
従って、本発明は電子ビーム装置がマイクロ・リソグラ
フィによる製造条件を充たし得る能力を著しく増加させ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は電子ビーム装置のトロイダル偏向コイルの一対
の巻線を示す概略図であり、第2図は点線で示された磁
界を有する第1図に示されたコイルの上面図であり、第
3図は外側周辺に形成された補償シートを含む本発明に
よる磁気偏向コイルの斜視図であり、第4図はX方向の
みのための完全な一組の巻線並びにその結果生じる磁界
(点線)及び銅の補償シートの配置を示している上面図
であり、第5図はマックスウェルの式から算出された成
る所与の寸法のための一群の時定数の解を示すグラフで
あり、第6図は電子ビームに与える渦電流の効果を測定
するための実験方法を示°す図であり、第7A図乃至第
7C図は各々電子ビーム装置に於て何ら補償が行なわれ
ていない場合、過度の補償が行なわれた場合、及び適切
な補償が行なわれた場合の効果を示しているビームの軌
跡を示す図である。 11.12,21,22,25,26・・・・・・巻線
、13・・・・・・相互接続体、4L42,45,46
・・・・・・補償ノート。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 内側のアームと外側のアームとをもち、該内側のア
    ームにより円筒状の空間を規定するように配置した複数
    の環状の導電性巻線と、 前記円筒状の空間の軸方向に沿ってほぼ平行に電子ビー
    ムを送出するための手段とを有し、前記導電性巻線に供
    給する電流の変化によって前記電子ビームの偏向方向の
    制御を行う磁気偏向コイルにおいて、 前記導電性巻線の外側のアームの外方に近接して、前記
    外側のアームに生じる渦電流を内側のアームに生じる渦
    電流よりも強化するように導電性シートを配置したこと
    を特徴とする磁気偏向コイル。
JP55081503A 1979-07-30 1980-06-18 磁気偏向コイル Expired JPS5944744B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/061,726 US4251728A (en) 1979-07-30 1979-07-30 Compensated magnetic deflection coil for electron beam lithography system
US61726 1987-06-15

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5624747A JPS5624747A (en) 1981-03-09
JPS5944744B2 true JPS5944744B2 (ja) 1984-10-31

Family

ID=22037719

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP55081503A Expired JPS5944744B2 (ja) 1979-07-30 1980-06-18 磁気偏向コイル

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4251728A (ja)
EP (1) EP0023261B1 (ja)
JP (1) JPS5944744B2 (ja)
DE (1) DE3065272D1 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4544846A (en) * 1983-06-28 1985-10-01 International Business Machines Corporation Variable axis immersion lens electron beam projection system
JPS6010723A (ja) * 1983-06-30 1985-01-19 Fujitsu Ltd 電子ビ−ム露光方式
GB8512252D0 (en) * 1985-05-15 1985-06-19 Vg Instr Group Magnetic sector mass spectrometer
JPH0628232B2 (ja) * 1987-09-16 1994-04-13 富士通株式会社 荷電ビーム露光装置
US5631615A (en) * 1995-06-02 1997-05-20 International Business Machines Corporation Free wound electromagnetic deflection yoke
JPH09223475A (ja) * 1996-02-19 1997-08-26 Nikon Corp 電磁偏向器、及び該偏向器を用いた荷電粒子線転写装置
US6153885A (en) * 1999-06-03 2000-11-28 Nikon Corporation Toroidal charged particle deflector with high mechanical stability and accuracy
JP4987554B2 (ja) * 2007-04-26 2012-07-25 株式会社ニューフレアテクノロジー 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法
DE102008035297B4 (de) * 2007-07-31 2017-08-17 Hitachi High-Technologies Corporation Aberrationskorrektureinrichtung für Ladungsteilchenstrahlen in einem optischen System einer Ladungsteilchenstrahlvorrichtung und Ladungsteilchenstrahlvorrichtung mit der Aberrationskorrektureinrichtung
WO2015045468A1 (ja) * 2013-09-30 2015-04-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子ビーム装置
WO2016138083A1 (en) * 2015-02-24 2016-09-01 Massachusetts Institute Of Technology Toroidal bending magnets for hadron therapy gantries
WO2018122953A1 (ja) 2016-12-27 2018-07-05 株式会社日立ハイテクノロジーズ 収差補正器および電子顕微鏡
US11004650B2 (en) * 2017-08-28 2021-05-11 Hitachi High-Tech Corporation Multipole lens, aberration corrector using the same, and charged particle beam apparatus

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE427739A (ja) * 1937-04-26
US2793311A (en) * 1951-04-18 1957-05-21 Du Mont Allen B Lab Inc Deflection yoke
US3173116A (en) * 1962-12-31 1965-03-09 Westinghouse Electric Corp Electrical apparatus having magnetic and non-magnetic shielding
US3911321A (en) * 1971-11-26 1975-10-07 Ibm Error compensating deflection coils in a conducting magnetic tube
US3792305A (en) * 1971-12-23 1974-02-12 Gen Electric Deflection yoke with bridge-connected windings
US3922626A (en) * 1974-11-07 1975-11-25 Gte Sylvania Inc Wide angle deflection yoke quadrupole windings
US3984687A (en) * 1975-03-17 1976-10-05 International Business Machines Corporation Shielded magnetic lens and deflection yoke structure for electron beam column
US4023129A (en) * 1975-04-14 1977-05-10 Rca Corporation Deflection yoke with non-radial conductors
US4125772A (en) * 1977-10-13 1978-11-14 American Optical Corporation Scanning electron microscope with eddy-current compensation

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5624747A (en) 1981-03-09
EP0023261B1 (de) 1983-10-12
US4251728A (en) 1981-02-17
EP0023261A1 (de) 1981-02-04
DE3065272D1 (en) 1983-11-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5944744B2 (ja) 磁気偏向コイル
US5132544A (en) System for irradiating a surface with atomic and molecular ions using two dimensional magnetic scanning
JP4842562B2 (ja) ロゴスキ型巻線を備え完全回路を形成する部分回路の結合体を含む電流変成器
US3984687A (en) Shielded magnetic lens and deflection yoke structure for electron beam column
US6441605B1 (en) Current sensor for an electrical device
US4713589A (en) Apparatus for linearity correction on horizontal deflection
US2994803A (en) Focusing field correction apparatus
US3743983A (en) Focussing and deflecting system comprising a ferromagnetic wire-coil
US2463778A (en) Magnetic shielding
US4395691A (en) Beam deflection system
JPH02230647A (ja) 多極素子及びその製造方法
US10726986B2 (en) Apparatus and method for magnetic field compression using a toroid coil structure
JP2002175971A (ja) 磁気レンズ、磁気シールド体の製造方法、荷電粒子線露光装置及び半導体デバイスの製造方法
US4107582A (en) Character selector for a shaped beam cathode ray tube
US11837428B2 (en) Systems and methods for electron beam focusing in electron beam additive manufacturing
US4538127A (en) Magnetic quadripole
JP3324748B2 (ja) 磁場可変マグネット
US11320504B2 (en) Open-type magnetic resonance imaging apparatus
JPH03266350A (ja) E×b型エネルギーフィルタ
JPS5854462B2 (ja) 電子線偏向器
US2926272A (en) Combined shielding and centering means for cathode ray tubes
JPS5971243A (ja) 均一磁界発生装置
KR20240100270A (ko) 영구자석 및 전자기 컴포넌트를 갖는 조정 가능한 자기 렌즈
Pfeiffer et al. Eddy current compensation in toroidal deflection yokes
JP2020126840A (ja) スピンマニピュレータ