JPS5943339A - 示差走査熱量計に於けるベ−スライン補正方法 - Google Patents

示差走査熱量計に於けるベ−スライン補正方法

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Publication number
JPS5943339A
JPS5943339A JP15377782A JP15377782A JPS5943339A JP S5943339 A JPS5943339 A JP S5943339A JP 15377782 A JP15377782 A JP 15377782A JP 15377782 A JP15377782 A JP 15377782A JP S5943339 A JPS5943339 A JP S5943339A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
base line
baseline
corrected
temperature sensor
curve
Prior art date
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Pending
Application number
JP15377782A
Other languages
English (en)
Inventor
Haruo Takeda
武田 晴男
Yoshihiko Teramoto
寺本 芳彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
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Publication of JPS5943339A publication Critical patent/JPS5943339A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/20Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity
    • G01N25/48Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity on solution, sorption, or a chemical reaction not involving combustion or catalytic oxidation
    • G01N25/4806Details not adapted to a particular type of sample
    • G01N25/4813Details not adapted to a particular type of sample concerning the measuring means

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
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  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、示差走査熱bj’、 pi F (i”1
ベースライン補正方法に閂(−1!侍にベースラインの
IIJ′i斜と彎曲とを補正するICめの新規な改良に
関するものである。
従来、用いら:t17jこの種の示差走査熱量計削のベ
ースライン補正方法は、第1図にみらJするように、図
示しない加熱炉に対し幾何学的に対称な位置にある試料
の温度センサー1、fことえは熱電対と、リファレンス
の温夏センサー2、たとえば熱′電対との1バ号の差を
、温度センサー1,2と)頃めて近い位置に設けた温度
センサー5の出力全基準柩号として4個の抵抗素(−R
1,R2,R3と1(4からなるブリッジ回路4を調節
することにより、ベースラインの傾斜を補正するもので
あった。このため、第2図にみられる様に温度センサー
1と2との差の傾斜部は補正できるが、j・i11目3
Bは補正できなかった、 この発明は、以上の様な欠点’t−tみやかに除去する
ため、4.yで効果的な方法を提供すること全目的とし
、ベースラインの#11重部と(1゛曲i1j、とを補
正する方法に関する。
以下、図面とともにこの発明によるベースライン補正方
法の実施例を詳細1に説明する。
第6図は、この発明によるベースライン浦止方法の構成
ブロック図である。図示さf]ないυ0熱炉に対し、幾
何学的に対称yz位置に設けた、例えば熱IIS、対か
らなる5人・γ二11詰1i 、、l!ンリ−−5とり
ノーrシンス温度センサー6とを設ける。「111記温
度セン′I7−−5と6は、図示しない篩”t 1if
ll tj+]貌1霞It’ 4四グログラノ・条件に
庫つ1、そ、1 r h +a 1’)’f fii 
−”j v S、 v Rk小出力う。ところで、1呂
度七ンJ−の7品1W1Δ荏1牛は式■で表現Cきる。
V 二a −1−bT+ CT 2+ (113−t−
eT −F ”’  −−一−−−氏■vf+’iAi
現ヒンリ−一出力 ′r:(晶 度 リニーγリテイーが高い憂介lセ/−リ゛−−CId、
b > C?>;> dンe>>−−−−−−が成りs
fつので、式■の2次項以降1cf(’r)  とl!
r、き換え式(のとする。
V = a + bT + cf (T)    −−
−一−−−−−一式(≧)従って、・)λ31ヌ1の(
晶j几センナ−5,6(り出力悟% V s 、 V 
Rυまそ〕′1ゼアtL式Q)、式■のように表現出来
る。
V:: = +i、+1 4− bsTs −+−c 
sf (−T日)   −−−−−一式($)1、rl
L=a、1(−)−buTR+cRf(’I’[’)−
−一−−−一式■示差走査熱量話の補正をしないベース
ラインはvgとVRとの差であるから 7日−Vn  = aq−aR+bIIT+3−bnT
n+cnf(T++ )−cnf(TR)= a 5−
aR+t)[](’rq−TR)+(l−18−bR)
TR−トcs(f(Tn)−−f(TR))+(cs−
cR)f(TR)−氏(■温度センリ゛−5.6V′i
、炉にり〜1し幾71’l学的に対称位置に設けている
ので、T O−TR((’1’ Rが成り立つので、 が成シ立ち、式■を式■に代入し、式■に変形する。
+(bs−’bR)TR+(co−OR)f(TR)−
−一式(7,)従って、式のが第3図の・4曲補正部/
の人力債号となる。式■の中でベースライン彎曲に影響
する主要因は、1%次項係数O8,CRの乗しら11で
いる(as−cR)f(TR)項である。従ってこび)
項を式■から消去すねげ、ベースラインの匈゛曲は(愼
めて小さくなる。すなわち、式■のVRを彎曲補正[七
−c−固一足選びだ(〜、氏■を式(幻に1向き換ぐ−
もとO −−−−Vu=ap+bRTR+cRf(TR)   
  −−’−一式(8)となり、式■から式(8)をひ
いて、if、I記した弐〇」。
((i) 、(7)の演灼をす第1ば vs−’v、=a、[1−al、−+(bs+にs隼胆
)(’l’s−’I’、)CRtlTt1 +(bll−b)l−)’rR−−一式■式■が導びか
」する。式ψ)には、式■に存在し斤べ一スラ・インの
・)!!を曲に1響す4I(t: s c it ) 
f (T R)  噴が消λ−fcのて、滑面の王”蛯
囚はとりの−t゛かれkことにな/−1(+(−こで彎
曲補正i、7i(7でQコ゛y g−V n ’6) 
Rs +117  と”r!!F !Ill ′fi0
1ピ比を1耳変−J−r5 R6か”>l^1戊さtl
ているので、A寸曲曲玉i迅7を連′J尚したV・)−
ynは、となる。ここでXばR6の抵l)L分割比であ
る。
式■全導びきだすために導入した彎曲補IF比上B と弐〇との関係から となる。式仲で、彎曲補正比を導びかれるので、彎曲補
市比を情゛曲補正部6のR,、R6,R7で決定して、
麹・曲を袖旧することができる。
匈゛曲を補正され1ζベースラインは :4S4図の様
になる。博・曲全補市さノまたベースラインは、公知の
従来からの煩斜袖止部8でベースラインの傾斜を補正す
る。傾胴袖王部8は、温度センサー5゜6と極めて近い
位1有に設けr面線性に倹に1.六二温度センサー9の
出力を基準1呂−号として8のR8,R9゜R10,R
117)if:)7.;”ルア゛lJ ツジ回両1を4
周)Vi−J−ることで、ベースラインの傾斜を桶氾す
る。
同、本′実権例−c :r、r、hq5=iouΩ、f
+7−+ooΩで、R6=12にΩでR6の分割比x 
= u、 085に設定して、第51シ1に示すように
彎曲が、10μc a ’3−7w カら111 ca
、1./宴 に田縮率’/+oという実験結宋が得らi
また。
本発明によノ′1ば、上述の如く、示差走11:熱…i
1のベースライン補正を、飴胴と1寸曲の沢カケ啄めて
小さくできる利点がある。
寸た、本実姉例では、ベースラインの傾斜の補正を、直
線性に曖J1.た温度センサー9と煩多1補IE(池8
のブリッジ回#&’7)i動きQtより行なっているが
、傾斜補iE部8の働きをマイクロプロセッサ−に負わ
せることも可^[二であるのは、もちろんのことである
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は、υ゛lしに装訪の回路図および
・ゼrβ:図、第3 にKIcr本発明による;嗅ii
!:itの回路し1、第4図および小5図G・よ!庁性
し1−Cある。 5・・・・・・試料(、λ朋センザー 6・・・・・・リファランスTiX Itセンサー7・
・・・・14曲補正部 8・・・・・・px+斜補正部 R5,R7,R8,10,R10・・・・・抵 抗R6
,,R11・・・・・・可変抵抗 V[+・・・試料温度センサー出力悄すVR・・・リフ
ァレンス温度センザー出力1言ケTS ・・・試料温度
センサーの所の温度TR・・・リファランス  〃 Jす上 出願人 株式会社 第二留工舎 代理人 弁理士 率 ±  19゜ 第1図 第2 図 忌慶(6C) IIB図 を 熟ン尻ゴ、刀

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 加熱炉に対し幾何学的に対称となる位1六に配設された
    一対の温、[Wセンサーを有する忰曲補正部と、この〜
    ・)δ曲補正部からの出力慴号を人力−jる基準温度セ
    ンサーを有する1頃卵補E部とを有し、前記彎曲補正f
    iBでベースラインの+2曲を除去し5グこのち、その
    直bl頃斜伏のベースラインな傾斜補正191人で曲玉
    して、U腺水才状のベースライン全州ろようにした示差
    走査熱j社計に於けるベースライン補正方法。
JP15377782A 1982-09-03 1982-09-03 示差走査熱量計に於けるベ−スライン補正方法 Pending JPS5943339A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6140550A (ja) * 1984-05-14 1986-02-26 ザ・パ−キン−エルマ−・コ−ポレイシヨン 差動スキヤンニングカロリメ−タ−のベ−スライン制御装置
JPH0235057U (ja) * 1988-08-29 1990-03-06
CN107091857A (zh) * 2017-06-08 2017-08-25 青岛大学 一种基于惠斯登电桥的自组型量热装置

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JPH0235057U (ja) * 1988-08-29 1990-03-06
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