JPS5937443A - 機器の寿命診断方法および装置 - Google Patents
機器の寿命診断方法および装置Info
- Publication number
- JPS5937443A JPS5937443A JP14734182A JP14734182A JPS5937443A JP S5937443 A JPS5937443 A JP S5937443A JP 14734182 A JP14734182 A JP 14734182A JP 14734182 A JP14734182 A JP 14734182A JP S5937443 A JPS5937443 A JP S5937443A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stress
- equipment
- ratio
- value
- discrimination
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/32—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying repeated or pulsating forces
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、機械装置又は電子機器等の機器の寿命全診断
する方法および装置に関する。
する方法および装置に関する。
模械装置又は電子機器等の機器には、それ「〕の動作中
に種々の負荷が作用し、それらが累積し、でゆくと破損
につながる。近年、装置にを類の大規模化−複雑化Ｖこ
ともない、単体の機器の故障が、それのみならず広範囲
のプラント全体全停止させることにもつながり、各構成
機器の寿命予測の手段が望まれていたが、従来は適洛な
方法が開発されていなかった。
に種々の負荷が作用し、それらが累積し、でゆくと破損
につながる。近年、装置にを類の大規模化−複雑化Ｖこ
ともない、単体の機器の故障が、それのみならず広範囲
のプラント全体全停止させることにもつながり、各構成
機器の寿命予測の手段が望まれていたが、従来は適洛な
方法が開発されていなかった。
本発明は、前記従来の欠点を解消するべくなされたもの
で１機器の残存寿命を適確に予想することができる機器
の寿命診断方法を提供することを第１の目的とする。
で１機器の残存寿命を適確に予想することができる機器
の寿命診断方法を提供することを第１の目的とする。
本発明は、又、多種多様の対象機器に広く適用可能な機
器の寿命診断装置を提供することを第２の目的とする。
器の寿命診断装置を提供することを第２の目的とする。
本発明は１機器の寿命診断方法において、機器の定格負
荷に対する作用負荷の比率から機器に作用するストレス
分布め一該ストレスの作用時毎のピーク値の大きさ全弁
別し７て２各弁別階層毎のストレスの作用回数を一定期
間毎に計数し１機器の疲労特性から求められる各弁別階
層毎のストレスの許容最大繰返し回数と前記ストレスの
作用回数との比率を求め、該比率を加算した値の推移か
ら。
荷に対する作用負荷の比率から機器に作用するストレス
分布め一該ストレスの作用時毎のピーク値の大きさ全弁
別し７て２各弁別階層毎のストレスの作用回数を一定期
間毎に計数し１機器の疲労特性から求められる各弁別階
層毎のストレスの許容最大繰返し回数と前記ストレスの
作用回数との比率を求め、該比率を加算した値の推移か
ら。
機器の残存寿命會求めるようＶＣして、前記第１の目的
を達成したものである。
を達成したものである。
父、前記ストレスの作用時毎のピーク値の大きさを、ス
トレスが機器の劣化に影響を及ぼすしきい値以上になっ
てから、再び前記しきい個未満になる迄の間の最大値と
して１機器の残存寿命の予測精度を高めたものである。
トレスが機器の劣化に影響を及ぼすしきい値以上になっ
てから、再び前記しきい個未満になる迄の間の最大値と
して１機器の残存寿命の予測精度を高めたものである。
本発明は、又、機器の寿命診断装置を、機器の作用負荷
の測定信号のレベルを調整するための信号ｔ／ベベル整
手段と、機器の定格負荷を設定するための定格負荷設定
手刷と、機器の定格負荷に対する作用負荷の比率から機
器に作用するストレスを求めるための第１の割算手段と
、前記ストレスの作用時毎のピーク値の大きさを求める
ピーク値演算手段と、前記ピーク値の大きさを弁別して
、各弁別階層毎に振り分ける弁別手段と、各弁別階層毎
のストレスの作用回数を一定周期毎に計数するカウンタ
と、機器の疲労特性から求められる各弁別階層毎のスト
レスの許容最大繰返し回数を設定するための疲労特性設
定手段と、各弁別階層毎に、前記許容最大繰返し回数と
前記ストレスの作用回数との比率を求める第２の割算手
段と、該第２の割算手段で求められた比率を加算する加
算手段と、ストレスの作用回数の変動以外の他の変動要
因のうち、将来予定されている条件を予め設定するため
の条件設定手段と、＃記加算手段の加算値から求められ
る機器の残存寿命を、更に、前記条件設定手段で設定さ
れた他の変動要因に応じて補正することによって、機器
の残存寿命を推定する推定手段とを用いて構成すること
により、前記第２の目的を達成したものである。
の測定信号のレベルを調整するための信号ｔ／ベベル整
手段と、機器の定格負荷を設定するための定格負荷設定
手刷と、機器の定格負荷に対する作用負荷の比率から機
器に作用するストレスを求めるための第１の割算手段と
、前記ストレスの作用時毎のピーク値の大きさを求める
ピーク値演算手段と、前記ピーク値の大きさを弁別して
、各弁別階層毎に振り分ける弁別手段と、各弁別階層毎
のストレスの作用回数を一定周期毎に計数するカウンタ
と、機器の疲労特性から求められる各弁別階層毎のスト
レスの許容最大繰返し回数を設定するための疲労特性設
定手段と、各弁別階層毎に、前記許容最大繰返し回数と
前記ストレスの作用回数との比率を求める第２の割算手
段と、該第２の割算手段で求められた比率を加算する加
算手段と、ストレスの作用回数の変動以外の他の変動要
因のうち、将来予定されている条件を予め設定するため
の条件設定手段と、＃記加算手段の加算値から求められ
る機器の残存寿命を、更に、前記条件設定手段で設定さ
れた他の変動要因に応じて補正することによって、機器
の残存寿命を推定する推定手段とを用いて構成すること
により、前記第２の目的を達成したものである。
以下本発明の詳細な説明する。
繰返し作用するストレスの大きさＳｌ と疲労破壊する
までの許容繰返し回数Ｎ＋との関係は、第１図に示す如
くとなる（これｋｓ−Ｎ特性、或いは、疲労特性と称す
る）、第１図に示した疲労特性は、同一の大きさのスト
レスＳミラ繰返し作用させた時の許容繰返し回数Ｎｉと
して求められるものであるが、実際の使用状態で作用す
るストレスＳｌの作用頻度分布ｍａｔは、第２図に示す
如く、ある範囲に分布する。このようにランダムに作用
するストレス８１ヲ受ける機器の寿命は、それぞれのス
トレスＳｔの作用回数ｎｉの和と次のような関係がある
（Ｐａｌｍｇｒｅｎ−Ｍｉｎｅｒの線形損傷側）。
までの許容繰返し回数Ｎ＋との関係は、第１図に示す如
くとなる（これｋｓ−Ｎ特性、或いは、疲労特性と称す
る）、第１図に示した疲労特性は、同一の大きさのスト
レスＳミラ繰返し作用させた時の許容繰返し回数Ｎｉと
して求められるものであるが、実際の使用状態で作用す
るストレスＳｌの作用頻度分布ｍａｔは、第２図に示す
如く、ある範囲に分布する。このようにランダムに作用
するストレス８１ヲ受ける機器の寿命は、それぞれのス
トレスＳｔの作用回数ｎｉの和と次のような関係がある
（Ｐａｌｍｇｒｅｎ−Ｍｉｎｅｒの線形損傷側）。
ここで、ｋは、ストレス分布の分割数である。
一方、統計的決定理論の中のＢａｙｅ ｓの定理による
と、確、率状態ｘ１、Ｘ２・・・・・・、ｘｋが、先験
的確率Ｐ（ｘｉ）−（１＝１−２、・・・・・・、ｋ）
ｋ持つ場合、事象Ｅを観測した時のＸｒの事後確率Ｐ
（”ｘｒｌ Ｅ）は、次式で与えられる。
と、確、率状態ｘ１、Ｘ２・・・・・・、ｘｋが、先験
的確率Ｐ（ｘｉ）−（１＝１−２、・・・・・・、ｋ）
ｋ持つ場合、事象Ｅを観測した時のＸｒの事後確率Ｐ
（”ｘｒｌ Ｅ）は、次式で与えられる。
Ｐ （ｘｒｌ Ｅ ）ｏｅＰ （ｘｒ）・ｐ （Ｅ ｌ
ｘｒ） ＝−（２）即ち、事後確率ｐ（ｘｒＩＥ）
は、先験的確率Ｐ（ｘｉ） （事前確率とも称する）と
その時の条件付確率（観測結果の尤度）の積に比例する
といりことが明らかになっている。
ｘｒ） ＝−（２）即ち、事後確率ｐ（ｘｒＩＥ）
は、先験的確率Ｐ（ｘｉ） （事前確率とも称する）と
その時の条件付確率（観測結果の尤度）の積に比例する
といりことが明らかになっている。
この定理を機器の寿命診断に適用すると次のようになる
。即ち１次式に示す如く、対象機器にストレスＳｉが作
用する確率Ｐ（８１）＝ｎＢｉと、ストレスＳｉがｎａ
ｔ回作用した時に破壊する条件付確率ｐ（ＬＩＳｉ）
との積として求められる。
。即ち１次式に示す如く、対象機器にストレスＳｉが作
用する確率Ｐ（８１）＝ｎＢｉと、ストレスＳｉがｎａ
ｔ回作用した時に破壊する条件付確率ｐ（ＬＩＳｉ）
との積として求められる。
Ａ＝Ｐ（Ｓｔ ＩＥ）ｏｃＰ（８１）−Ｐ（ＥＩＳｉ）
そして、Ｐａｌｍｇｒｅｎ−Ｍｉｎｅｒ の線形損傷
則により、加算値Ａ＝ｌＫなる時に破壊することになる
。
そして、Ｐａｌｍｇｒｅｎ−Ｍｉｎｅｒ の線形損傷
則により、加算値Ａ＝ｌＫなる時に破壊することになる
。
破壊するまでの期間（即ち残存寿命）Ｔは、次式％式％
（４）
ここで１機器にストレスＳｔが作用する確率Ｐ（Ｓｌ）
が一定である時は、単純な四則演算で残存寿命Ｔｆｔ求
めることができる。一方１機器にストレスＳｔが作用す
る確率Ｐ（Ｓｌ）が変動する場合には、成る期間の確率
Ｐ（Ｓｉ）の変化の状況を基にカルマンフィルタやＧＭ
ＤＨ等の推定の手法を用いて残存寿命Ｔｅ求めることが
できる。
が一定である時は、単純な四則演算で残存寿命Ｔｆｔ求
めることができる。一方１機器にストレスＳｔが作用す
る確率Ｐ（Ｓｌ）が変動する場合には、成る期間の確率
Ｐ（Ｓｉ）の変化の状況を基にカルマンフィルタやＧＭ
ＤＨ等の推定の手法を用いて残存寿命Ｔｅ求めることが
できる。
本発明は、上記のような知見に基づいてなされたもので
ある。
ある。
これに対して従来は１機器の設計時に得られる疲労特性
と使用中に得られるストレス作用頻度分布があっても、
劣化の予測が全く不可能であったものである。
と使用中に得られるストレス作用頻度分布があっても、
劣化の予測が全く不可能であったものである。
以下、図面を参照し、て１本発明に係る機器の寿命診断
装置の実施例を詳細に説明する。
装置の実施例を詳細に説明する。
本実施例は２第３図に示す如く、対象機器８の作用負荷
りの測定信号のレベルを調整するためのシグナルコンデ
ショナｌＯと１機器の定格負荷Ｒを設定するための定格
負荷設定器１２と、対象機器８の定格負荷ＲＶｃ対する
作用負荷りの比率上、即ち、対象機器８に作用するスト
レスＳを求めるための第１の割算器１４と、ストレスＳ
が対象機器８の劣化に影響を及ぼ１−シきい値Ｓｚ以上
になってから、再び前記しきい値ＳＺ未溝になる迄の間
の最大値として、前記ストレスＳの作用時毎のピーク値
の大きさＳｐ ｆ求めるピーク値演算器１６と、該ピー
ク値の大きさＳｐ Ｔｈ弁別して、各設定値Ｓｉに対応
させて各弁別階層１（ｉ＝１〜ｋ）毎に振り分ける弁別
器１８と、各弁別階層ｌ毎の単位期間当りの作用回数ｎ
ａｉｌ’計数するカウンタ２０と、対象機器８の疲労特
性（Ｓ−Ｎ特性）から求められる各弁別階層ｉ毎のスト
レスの許容最大繰返し回数Ｎｉｋ設定するための疲労特
性設定器２２と、各弁別階層ｉ毎に、前記許容最大繰返
し回数Ｎｉと前記ストレスの作用回数ｎａｉの比率αｌ
を求める第２の割算器２４と、各比率ｆｆｉを加算して
、前出（３）式により加算値Ａｔ求める加算器２６と、
ストレスの作用回数ｎａｉの変動以外の他の変動要因の
うち、将来予定されている条件を予め設定するための条
件設定器２８と、前記加算器２６出力の加算値Ａから前
出（４）式を用いて作用回数ｎａｉの変化状況に応じた
残存寿命Ｔヶ求め、これを前記条件設定器２８で予め設
定された他の変動要因に応じて補正することによって、
機器の残存寿命Ｔを推定する推定器３０と、残存寿命の
演算課程や演算結果ｆ、直ちに表示、伝達しｆｃｖ−記
憶する。ＣＲＴ表示器３２−フロッピーデスク３４．タ
イグライタ３６等からなる周辺装置とから構成されてい
る。
りの測定信号のレベルを調整するためのシグナルコンデ
ショナｌＯと１機器の定格負荷Ｒを設定するための定格
負荷設定器１２と、対象機器８の定格負荷ＲＶｃ対する
作用負荷りの比率上、即ち、対象機器８に作用するスト
レスＳを求めるための第１の割算器１４と、ストレスＳ
が対象機器８の劣化に影響を及ぼ１−シきい値Ｓｚ以上
になってから、再び前記しきい値ＳＺ未溝になる迄の間
の最大値として、前記ストレスＳの作用時毎のピーク値
の大きさＳｐ ｆ求めるピーク値演算器１６と、該ピー
ク値の大きさＳｐ Ｔｈ弁別して、各設定値Ｓｉに対応
させて各弁別階層１（ｉ＝１〜ｋ）毎に振り分ける弁別
器１８と、各弁別階層ｌ毎の単位期間当りの作用回数ｎ
ａｉｌ’計数するカウンタ２０と、対象機器８の疲労特
性（Ｓ−Ｎ特性）から求められる各弁別階層ｉ毎のスト
レスの許容最大繰返し回数Ｎｉｋ設定するための疲労特
性設定器２２と、各弁別階層ｉ毎に、前記許容最大繰返
し回数Ｎｉと前記ストレスの作用回数ｎａｉの比率αｌ
を求める第２の割算器２４と、各比率ｆｆｉを加算して
、前出（３）式により加算値Ａｔ求める加算器２６と、
ストレスの作用回数ｎａｉの変動以外の他の変動要因の
うち、将来予定されている条件を予め設定するための条
件設定器２８と、前記加算器２６出力の加算値Ａから前
出（４）式を用いて作用回数ｎａｉの変化状況に応じた
残存寿命Ｔヶ求め、これを前記条件設定器２８で予め設
定された他の変動要因に応じて補正することによって、
機器の残存寿命Ｔを推定する推定器３０と、残存寿命の
演算課程や演算結果ｆ、直ちに表示、伝達しｆｃｖ−記
憶する。ＣＲＴ表示器３２−フロッピーデスク３４．タ
イグライタ３６等からなる周辺装置とから構成されてい
る。
以下作用を説明する。
シグナルコンデショナ１０は、各種の対象機器８０作用
負荷信号りのレベルを１本装置に取Ｖ込むために調整す
る。定格負荷設定器１２には、対象機器８を設計する時
点で定められた定格値に相当する定格負荷Ｒを設定する
。第１の割算器１４では５作用負荷Ｌｌ定格負荷Ｒで割
ることによって、ストレスＳｔ求める。ピーク値演算器
１６は。
負荷信号りのレベルを１本装置に取Ｖ込むために調整す
る。定格負荷設定器１２には、対象機器８を設計する時
点で定められた定格値に相当する定格負荷Ｒを設定する
。第１の割算器１４では５作用負荷Ｌｌ定格負荷Ｒで割
ることによって、ストレスＳｔ求める。ピーク値演算器
１６は。
ストレスＳが対象機器８の劣化に影響を及ぼすしきい値
Ｓｚ以上になってから、再びしきい値８２未満になるま
での間の最大値として、ピーク値の大きさＳｐヲ求める
。これは、ピーク値を求める範囲を適切に設定すること
によって、残存寿命Ｔの予測精度を高めるためである。
Ｓｚ以上になってから、再びしきい値８２未満になるま
での間の最大値として、ピーク値の大きさＳｐヲ求める
。これは、ピーク値を求める範囲を適切に設定すること
によって、残存寿命Ｔの予測精度を高めるためである。
弁別器１８では、ピークストレスＳｐかに段階に分けら
れた各弁別階層ｉに入った時に信号を発生する。カラン
’７２０は、各弁別器１８からの信号を一定期間毎に計
数し、ピークストレスＳｐがそれぞれの弁別階層に入っ
た回数ｎＢｉ （ｉ＝ｌ、 ２−・・・・・、 ｋ ）
Ｋ対応する計数信号を発生する。疲労特性設定器２２
には、対象機器８の疲労特性（Ｓ−Ｎ特性）を設定する
。ここで、疲労特性は、当該機器８の設酊時卓、または
使用時点で得られた。
れた各弁別階層ｉに入った時に信号を発生する。カラン
’７２０は、各弁別器１８からの信号を一定期間毎に計
数し、ピークストレスＳｐがそれぞれの弁別階層に入っ
た回数ｎＢｉ （ｉ＝ｌ、 ２−・・・・・、 ｋ ）
Ｋ対応する計数信号を発生する。疲労特性設定器２２
には、対象機器８の疲労特性（Ｓ−Ｎ特性）を設定する
。ここで、疲労特性は、当該機器８の設酊時卓、または
使用時点で得られた。
ストレスＳｉと許容最大繰返し回数Ｎｉとの関係として
求められる。第２の割算器２４では、各弁別器ｉｔのス
トレス作用回数ｎａｉと許容最大繰返し回数Ｎｉ との
比率αｉを求める。加算器２６では、前出（３）式によ
り、各階層の比率αｉを加算して、加算値Ａを求める。
求められる。第２の割算器２４では、各弁別器ｉｔのス
トレス作用回数ｎａｉと許容最大繰返し回数Ｎｉ との
比率αｉを求める。加算器２６では、前出（３）式によ
り、各階層の比率αｉを加算して、加算値Ａを求める。
ここで、比率αｉ及び確率を表わしており５単位期間と
しては、確率Ｐｌｓｊ＞で考慮した単位期間と同じ単位
とする。
しては、確率Ｐｌｓｊ＞で考慮した単位期間と同じ単位
とする。
条件設定器２８では、将来予定されている各種の条件を
予め設定する、これにより、ストレスの作用回数ｎａｉ
の変動以外の他の変動要因による将来の寿命変動も補正
することが可能である。
予め設定する、これにより、ストレスの作用回数ｎａｉ
の変動以外の他の変動要因による将来の寿命変動も補正
することが可能である。
推定器３０においては、過去から現時点までの加算値Ａ
の推移、Ｒｐち確率Ｐ （Ｓｉ）の推移を基に、前出（
４）式により、対象機器８へのストレス作用回数ｎａｉ
に基づく機器の残存寿命Ｔを推定し、更に、前記条件設
定器２８で設定された他の変動要因に応じて、残存寿命
Ｔｉ補正することによって、最終的な機器の残存寿命Ｔ
ｋ推定する。推定の方法としては、加算値Ａが期間的に
一定であれば。
の推移、Ｒｐち確率Ｐ （Ｓｉ）の推移を基に、前出（
４）式により、対象機器８へのストレス作用回数ｎａｉ
に基づく機器の残存寿命Ｔを推定し、更に、前記条件設
定器２８で設定された他の変動要因に応じて、残存寿命
Ｔｉ補正することによって、最終的な機器の残存寿命Ｔ
ｋ推定する。推定の方法としては、加算値Ａが期間的に
一定であれば。
その−足の加算値Ａにより前出（４）式を計算すれはよ
い。又、加算値Ａが期間的に変動する場合は、カルマン
フィルターやＣＭＤＨ等公知の予測推定手法によって残
存寿命Ｔｋ推定する。
い。又、加算値Ａが期間的に変動する場合は、カルマン
フィルターやＣＭＤＨ等公知の予測推定手法によって残
存寿命Ｔｋ推定する。
第４図に、本実施例における残存寿命Ｔの求め方の一例
を示す、 なお前記説明においては、ストレスの作用回数ｎａｉと
許容最大繰返し回数Ｎ１との関係として説明してきた２
μ、光電子増倍管のように、入射光の強変とその持続時
間の積によって残存寿命が決まる機器に対しては、ｎａ
ｉ−Ｎｉをそれぞれ持続時間、許容最大延べ持続時間と
解釈することによって、光電子増倍管のような機器にも
同様に適用可能である。
を示す、 なお前記説明においては、ストレスの作用回数ｎａｉと
許容最大繰返し回数Ｎ１との関係として説明してきた２
μ、光電子増倍管のように、入射光の強変とその持続時
間の積によって残存寿命が決まる機器に対しては、ｎａ
ｉ−Ｎｉをそれぞれ持続時間、許容最大延べ持続時間と
解釈することによって、光電子増倍管のような機器にも
同様に適用可能である。
以上説明した通り１本発明によれば、対象機器の残存寿
命を適確に予測することが可能となる。
命を適確に予測することが可能となる。
具体的には、航空機、船舶、車両等の輸送機械やクレー
ン等の荷投機械、各種反応槽等の化学機械、圧延機等の
産業機械等における応力的ストレスや、各種電気回路、
電子回路における送気的ストレス等に関する残存寿命の
診断が可能となる。又１本発明に係る機器の寿命診断装
置によれば、信号レベル調整手段や各設定手段により、
多種多様の対象機器に広く適用可能である等の優れた効
果を有する。
ン等の荷投機械、各種反応槽等の化学機械、圧延機等の
産業機械等における応力的ストレスや、各種電気回路、
電子回路における送気的ストレス等に関する残存寿命の
診断が可能となる。又１本発明に係る機器の寿命診断装
置によれば、信号レベル調整手段や各設定手段により、
多種多様の対象機器に広く適用可能である等の優れた効
果を有する。
第１図は，本発明の原理を説明するための，疲労破壊に
おける疲労特性（ストレスーストレス作用回仮特性）の
一例分示す線図、第２図は、同じく，ストレスの頻度分
布の一例會示す線図、第３図は，本発明に係る機器の寿
命診断装置の実施例の構成を示すブロック線図、第４図
は，前記実施例における機器の残存寿命の求め方の例を
示す線図である。 ８・・・機器，１０・・・定格負荷設定器。 １４−２４・・・割算器−１６・・・ピーク値演算器、
ｌ８・・・弁別器−２０・・・カウンタ、２２・・・疲
労特性設定器、２６・・・加算器，２８・・・条件設定
器。 ３０・・・推定器。 代理人 高 矢 論 （ほか１名） 第 ｌ ＠ 早２ 図 第４ 図 期間ノ 第３ ＠
おける疲労特性（ストレスーストレス作用回仮特性）の
一例分示す線図、第２図は、同じく，ストレスの頻度分
布の一例會示す線図、第３図は，本発明に係る機器の寿
命診断装置の実施例の構成を示すブロック線図、第４図
は，前記実施例における機器の残存寿命の求め方の例を
示す線図である。 ８・・・機器，１０・・・定格負荷設定器。 １４−２４・・・割算器−１６・・・ピーク値演算器、
ｌ８・・・弁別器−２０・・・カウンタ、２２・・・疲
労特性設定器、２６・・・加算器，２８・・・条件設定
器。 ３０・・・推定器。 代理人 高 矢 論 （ほか１名） 第 ｌ ＠ 早２ 図 第４ 図 期間ノ 第３ ＠
Claims (3)
- （１） 機器の定格負荷に対する作用負荷の比率から
機器に作用するストレスを求め、該ストレスの作用時毎
のピーク値の大きさを弁別して、各弁別階層毎のストレ
スの作用回数を一定期間毎に計数し、機器の疲労特性か
ら求められる各弁別階層毎のストレスの許容最大繰返し
回数と前記ストレスの作用回数との比率を求め、＃比率
を加算した値の推移から１機器の残存寿命を求めるよう
にしたことを特徴とする機器の寿命診断方法。 - （２） 前記ストレスの作用時毎のピーク値の大きさ
を、ストレスが機器の劣化に影響を及ぼすしきい値以上
になってから、再び曲記しきい値未満になる迄の間の最
大値とした特許請求の範囲第１項に記載の機器の寿命診
断方法。 - （３）機器の作用負荷の測定信号のレベルを調整するた
めの信号レベル調整手段と、機器の定格負荷を設定する
ための定格負荷設定手段と、機器の定格負荷に対する作
用負荷の比率から機器に作用するストレスを求めるため
の第１の割算手段と、前記ストレスの作用時毎のピーク
値の大きさを求めるピーク値演算手段と、前記ピーク値
の大きさを弁別して、各弁別階層毎に振り分ける弁別手
段と、各弁別階層毎のストレスの作用回数を一定周期毎
に計数するカウンタと２機器の疲労特性から求められる
各弁別階層毎のストレスの許容最大繰返し回数を設定す
るための疲労特性設定手段と、各弁別階層毎に、前記許
容最大繰返し回数と前記ストレスの作用回数との比率を
求める第２の割算手段と、該第２の割算手段で求められ
た比率を加算する加算手段と、ストレスの作用回数の変
動以外の他の変動要因のうち、将来予足されている条件
を予め設定するための条件設定手段と、＃記加算手段の
加算値から求められる機器の残存寿命を。 更に、前記条件設定手段で設定された他の変動要因に応
じて補正することによって、機器の残存寿命を推定する
推定手段と、を備えたことを特徴とする機器の寿命診断
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14734182A JPS5937443A (ja) | 1982-08-25 | 1982-08-25 | 機器の寿命診断方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14734182A JPS5937443A (ja) | 1982-08-25 | 1982-08-25 | 機器の寿命診断方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5937443A true JPS5937443A (ja) | 1984-02-29 |
| JPS6218854B2 JPS6218854B2 (ja) | 1987-04-24 |
Family
ID=15427986
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14734182A Granted JPS5937443A (ja) | 1982-08-25 | 1982-08-25 | 機器の寿命診断方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5937443A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6248135A (ja) * | 1985-08-27 | 1987-03-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 無線電話装置の制御方法 |
| JPH01312236A (ja) * | 1987-05-06 | 1989-12-18 | Fumiaki Hasegawa | ドラムブレーキ |
| JP2008524678A (ja) * | 2004-12-16 | 2008-07-10 | ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 複数のコンポーネントを有する製品の平均余命の予報方法および装置 |
| JP2016176912A (ja) * | 2015-03-23 | 2016-10-06 | 新日鐵住金株式会社 | 加工形状決定方法及び補修方法 |
-
1982
- 1982-08-25 JP JP14734182A patent/JPS5937443A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6248135A (ja) * | 1985-08-27 | 1987-03-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 無線電話装置の制御方法 |
| JPH01312236A (ja) * | 1987-05-06 | 1989-12-18 | Fumiaki Hasegawa | ドラムブレーキ |
| JPH0325659B2 (ja) * | 1987-05-06 | 1991-04-08 | Fumiaki Hasegawa | |
| JP2008524678A (ja) * | 2004-12-16 | 2008-07-10 | ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 複数のコンポーネントを有する製品の平均余命の予報方法および装置 |
| JP2016176912A (ja) * | 2015-03-23 | 2016-10-06 | 新日鐵住金株式会社 | 加工形状決定方法及び補修方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6218854B2 (ja) | 1987-04-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9465387B2 (en) | Anomaly diagnosis system and anomaly diagnosis method | |
| Lawless et al. | Some simple robust methods for the analysis of recurrent events | |
| KR101466623B1 (ko) | 초저주파 탄델타의 측정 데이터를 이용한 전력 케이블의 상태 진단 및 잔존 수명 측정 장치 및 그 방법 | |
| Singh et al. | Time-dependent reliability of random dynamic systems using time-series modeling and importance sampling | |
| US7485548B2 (en) | Die loss estimation using universal in-line metric (UILM) | |
| Rayner et al. | Smooth tests of goodness of fit: an overview | |
| JP2009080612A (ja) | 分布の評価方法、製品の製造方法、分布の評価プログラム及び分布の評価システム | |
| US20210374634A1 (en) | Work efficiency evaluation method, work efficiency evaluation apparatus, and program | |
| CN111103851B (zh) | 基于联合历史和时间序列分析的异常表征的系统和方法 | |
| US11055382B2 (en) | Methods and systems that estimate a degree of abnormality of a complex system | |
| McKean et al. | The use and interpretation of residuals based on robust estimation | |
| KR20180116322A (ko) | 제조 설비의 이상 진단 장치 | |
| DE102019005710A1 (de) | Abnormitätserfassungsvorrichtung, abnormitätserfassungverfahren und programm | |
| JPS5937443A (ja) | 機器の寿命診断方法および装置 | |
| US20100106357A1 (en) | Combined evidence vehicle health monitoring | |
| Zhuang et al. | Considering modified criticality factor and functional dependency for reliability allocation purposes | |
| KR101991296B1 (ko) | 원자력 발전설비의 기계학습식 예측진단장치 | |
| Orchard et al. | A novel RSPF approach to prediction of high-risk, low-probability failure events | |
| CN113434823B (zh) | 数据采集任务异常预警方法、装置、计算机设备和介质 | |
| CN113551764A (zh) | 振动分析设备及其方法 | |
| KR20210127223A (ko) | 고로의 이상 판정 장치, 고로의 이상 판정 방법, 및 고로의 조업 방법 | |
| JP3712857B2 (ja) | デジタル計数率計 | |
| CN113177676B (zh) | 一种基于自然对数函数的运维健康评估系统和评估方法 | |
| DE102018129443A1 (de) | Fähigkeitsbeurteilungssystem | |
| Woon | Design of the side sensitive group runs chart with estimated parameters based on expected average run length |