JPS5935159A - 遅延時間一致検出方法 - Google Patents
遅延時間一致検出方法Info
- Publication number
- JPS5935159A JPS5935159A JP57145724A JP14572482A JPS5935159A JP S5935159 A JPS5935159 A JP S5935159A JP 57145724 A JP57145724 A JP 57145724A JP 14572482 A JP14572482 A JP 14572482A JP S5935159 A JPS5935159 A JP S5935159A
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- JP
- Japan
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- signal
- delay time
- pulse
- pulse signal
- circuit
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は遅延時間一致検出方法に係り、特に複 1 −
数の伝送系の遅延時間が一致しているか否かを検出する
のに好適な遅延時間一致検出方法に関するものである。
のに好適な遅延時間一致検出方法に関するものである。
データ伝送方式としては、並列データ(例えば)・々イ
トのデータ)を直列化して伝送する方式と並列データを
その一!捷複数の伝送路を用いて並列に伝送する方式と
がある。前者は伝送距離が長い場合、もしくは比較的低
速データの伝送に適しており、一方、後者は伝送路の数
が増えることから、比較的短距離、もしくは直列化する
ことが技術的に困難な高速データの伝送に適している。
トのデータ)を直列化して伝送する方式と並列データを
その一!捷複数の伝送路を用いて並列に伝送する方式と
がある。前者は伝送距離が長い場合、もしくは比較的低
速データの伝送に適しており、一方、後者は伝送路の数
が増えることから、比較的短距離、もしくは直列化する
ことが技術的に困難な高速データの伝送に適している。
ところで、後者の並列データ伝送を実現するにあたって
の大きな問題点は、各伝送系間の遅延時間の差をいかに
して小さくするかであり、データの伝送速度を高速化す
るにつれて伝送系間の遅延時間を一致させることが重量
な課題となってくる。
の大きな問題点は、各伝送系間の遅延時間の差をいかに
して小さくするかであり、データの伝送速度を高速化す
るにつれて伝送系間の遅延時間を一致させることが重量
な課題となってくる。
これに対して、従来の遅延時間を一致させる方法は、第
1図に示すように、信号発生器10でノξルス信号Pr
oを発生させ、それを伝送系11aのデータ信号送信部
IL+、伝送路13a、データ信号受 2− 信部]4aを通過させたときの・ξルス信月PII +
+ のパルス信号PIOよりの遅延時間LHaと、・ξ
ルス信号Proを伝送系111〕のデータ信号送信部1
2+1.伝送路13b、データ信号受信部14bを通過
させたときの・パルス信号pHl1)の・ξルス信号P
IOよりの遅延時間IBaとを同時にオシロスコープ1
5により観測して、遅延時間IBa 、 +1111を
測定し、1lla 、 +1111が等しくなるように
、伝送路13a、13bの長さを調節するようにしてい
た。
1図に示すように、信号発生器10でノξルス信号Pr
oを発生させ、それを伝送系11aのデータ信号送信部
IL+、伝送路13a、データ信号受 2− 信部]4aを通過させたときの・ξルス信月PII +
+ のパルス信号PIOよりの遅延時間LHaと、・ξ
ルス信号Proを伝送系111〕のデータ信号送信部1
2+1.伝送路13b、データ信号受信部14bを通過
させたときの・パルス信号pHl1)の・ξルス信号P
IOよりの遅延時間IBaとを同時にオシロスコープ1
5により観測して、遅延時間IBa 、 +1111を
測定し、1lla 、 +1111が等しくなるように
、伝送路13a、13bの長さを調節するようにしてい
た。
しかし、」−記した方法には、遅延時間IHa、 II
+ 1)が一致しているかどうかを調べるために、オシ
ロスコープ15などの波形観測用器具が必要になり、波
形観測用器具があるところでは遅延時間の測定が可能で
あるが、その器具がない現地では、そのだめの器具を搬
入しなければならず、まだ、各伝送系の遅延時間を一度
に測定できないので、手間がかかり非能率的であるとい
う欠点があった。
+ 1)が一致しているかどうかを調べるために、オシ
ロスコープ15などの波形観測用器具が必要になり、波
形観測用器具があるところでは遅延時間の測定が可能で
あるが、その器具がない現地では、そのだめの器具を搬
入しなければならず、まだ、各伝送系の遅延時間を一度
に測定できないので、手間がかかり非能率的であるとい
う欠点があった。
本発明は」二記に鑑みてなされたもので、その目的とす
るところは、複数の伝送系の遅延時間が一致しているか
どうかを容易に検出することができる遅延時間−数構出
方法を提供することにある。
るところは、複数の伝送系の遅延時間が一致しているか
どうかを容易に検出することができる遅延時間−数構出
方法を提供することにある。
本発明の特徴は、複数の伝送系に信号発生器から同一の
・パルス信号を入力させ、上記伝送系のうち1つの伝送
系からの出力・パルス信号の・ξルス幅をパルス幅拡張
回路を用いて広げて広幅・パルス信号とし、これと他の
伝送系からの出力パルス信号とを遅延時間−数構出回路
で比較し、上記出力・パルス信号のパルス幅が上記広幅
パルス信号のパルス幅内に含丼れるときは発光素子を発
光させず、含捷れないときは一ヒ記遅延時間一致検出回
路の出力で上記発光素子を発光させるようにし、上記発
光素子の発光の有無から上記各伝送系間の遅延時間の差
の有無を検出するようにした点にある。
・パルス信号を入力させ、上記伝送系のうち1つの伝送
系からの出力・パルス信号の・ξルス幅をパルス幅拡張
回路を用いて広げて広幅・パルス信号とし、これと他の
伝送系からの出力パルス信号とを遅延時間−数構出回路
で比較し、上記出力・パルス信号のパルス幅が上記広幅
パルス信号のパルス幅内に含丼れるときは発光素子を発
光させず、含捷れないときは一ヒ記遅延時間一致検出回
路の出力で上記発光素子を発光させるようにし、上記発
光素子の発光の有無から上記各伝送系間の遅延時間の差
の有無を検出するようにした点にある。
以下本発明の方法の一実施例を第2図〜第5図を用いて
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第2図は本発明の遅延時間−数構出方法の一実施例を説
明するだめの装置の一例を示すブロック図である。第2
図において、IOは信号発生器で、信号発生器10から
の・ξルス信号P+oは、第1図と同一構成の伝送系1
1a 、llbに入力させである。
明するだめの装置の一例を示すブロック図である。第2
図において、IOは信号発生器で、信号発生器10から
の・ξルス信号P+oは、第1図と同一構成の伝送系1
1a 、llbに入力させである。
伝送系11aを通過した・ξルス信号pHaはパルス幅
拡張回路20に入力させ、・ξルス幅を広げた・ξルス
信号P2oaに変換して遅延時間−数構出回路21の一
方の端子に入力させる。一方、伝送系11bを通過した
信号pH1)はそのまま遅延時間−数構出回路21の他
方の端子に入力させる。遅延時間−数構出回路21は、
信号P20aとpHbとを比較し、信号pH+)のノξ
ルスが信号P2(Iaのパルス内に含まれるときは・L
OW・・レベルの出力を送出し、含まれないときはI−
T i g b”レベルの出力を送出し、このとき、そ
の出力によって発光素子22を発光させるようにしであ
る。
拡張回路20に入力させ、・ξルス幅を広げた・ξルス
信号P2oaに変換して遅延時間−数構出回路21の一
方の端子に入力させる。一方、伝送系11bを通過した
信号pH1)はそのまま遅延時間−数構出回路21の他
方の端子に入力させる。遅延時間−数構出回路21は、
信号P20aとpHbとを比較し、信号pH+)のノξ
ルスが信号P2(Iaのパルス内に含まれるときは・L
OW・・レベルの出力を送出し、含まれないときはI−
T i g b”レベルの出力を送出し、このとき、そ
の出力によって発光素子22を発光させるようにしであ
る。
第3図は第2図の動作を説明するだめの波形図で、(a
)はパルス信号PIO、(”)は伝送系11aを通過し
た・ぐルス信号Poa 、 (c)は・ξルス幅を広げ
た広幅・ξルス信号P2oa、(d)は伝送系11bを
通過した・ξルス信号pHbの波形図である。いま、信
号pHaの遅れ1■aよりも信号pHl)の遅れ111
bの方がかなり大きく、信号P2oaがl(igb”に
なる時間内に信号PHbがHigh”になる時間が含ま
れないときは、遅延= 5 = 時間−数構出回路21の出力は、同図(e)に示すよう
に、クロック・ξルスP2+ トなす、クロックツξル
スP21の周期は信号P20 Hの周期の2倍となる。
)はパルス信号PIO、(”)は伝送系11aを通過し
た・ぐルス信号Poa 、 (c)は・ξルス幅を広げ
た広幅・ξルス信号P2oa、(d)は伝送系11bを
通過した・ξルス信号pHbの波形図である。いま、信
号pHaの遅れ1■aよりも信号pHl)の遅れ111
bの方がかなり大きく、信号P2oaがl(igb”に
なる時間内に信号PHbがHigh”になる時間が含ま
れないときは、遅延= 5 = 時間−数構出回路21の出力は、同図(e)に示すよう
に、クロック・ξルスP2+ トなす、クロックツξル
スP21の周期は信号P20 Hの周期の2倍となる。
このときは1発光素子22が発光するので、遅延時間が
大きく異なることがわかる。
大きく異なることがわかる。
次に、伝送路13b(第1図参照)の長さを調節するこ
とによって、(d)に示す信号pHbの波形が、同図(
f)に示す波形の信号P、’Ibとなったとすると、信
号P2(Iaが”Hi g h”になる時間内に信号p
l、 b’が”l(igh’“になる時間が含捷れるよ
うになり、このときの遅延時間−数構出回路21の出力
は、同図(g)に示すように、“TJOW”し4ルの信
号P′21となり、発光素子22は発光を停止する。
とによって、(d)に示す信号pHbの波形が、同図(
f)に示す波形の信号P、’Ibとなったとすると、信
号P2(Iaが”Hi g h”になる時間内に信号p
l、 b’が”l(igh’“になる時間が含捷れるよ
うになり、このときの遅延時間−数構出回路21の出力
は、同図(g)に示すように、“TJOW”し4ルの信
号P′21となり、発光素子22は発光を停止する。
なお、発光素子22が発光したり、非発光となる遅延時
間の差は、・ξルス幅拡張回路20における信号PHa
のパルス幅を広げる度合によって決まる。しだがって、
・ξルス幅を広げる度合を変えて遅延時間の差の測定精
度を変えることができる。
間の差は、・ξルス幅拡張回路20における信号PHa
のパルス幅を広げる度合によって決まる。しだがって、
・ξルス幅を広げる度合を変えて遅延時間の差の測定精
度を変えることができる。
第4図は、第2図の・ξルス幅拡張回路20の一実施8
例を示す回路図で、20aはインノ々−タ、20b 6
− はNAND回路で、これらが図示のように接続しである
。
例を示す回路図で、20aはインノ々−タ、20b 6
− はNAND回路で、これらが図示のように接続しである
。
第5図は、第2図の遅延時間−数構出回路21の一実施
例を示す回路図で、21aはイン・ぐ−タ、221)は
ANT)回路、22cはフロップ・フロップ回路(Dタ
イプ)で、これらが図示のように接続しである。
例を示す回路図で、21aはイン・ぐ−タ、221)は
ANT)回路、22cはフロップ・フロップ回路(Dタ
イプ)で、これらが図示のように接続しである。
上記した本発明の実施例によれば、発光素子22が発光
したか発光しないかによって各伝送系間に遅延時間に所
定値以上の差があるかどうかを知ることができるので、
遅延時間の調整を短時間で容易に行うことができる。し
かも、オシロスコープなどの特殊器具を必要としないか
ら、いかなる現場でも容易に遅延時間の調整を行うこと
ができる。
したか発光しないかによって各伝送系間に遅延時間に所
定値以上の差があるかどうかを知ることができるので、
遅延時間の調整を短時間で容易に行うことができる。し
かも、オシロスコープなどの特殊器具を必要としないか
ら、いかなる現場でも容易に遅延時間の調整を行うこと
ができる。
また、用途に応じて遅延時間の測定精度を変えることが
できる。
できる。
以上説明したように、本発明によれば、複数の伝送系の
遅延時間が一致しているかどうかを容易に検出すること
ができ、遅延時間の調整を短時間で行うことができると
いう効果がある。
遅延時間が一致しているかどうかを容易に検出すること
ができ、遅延時間の調整を短時間で行うことができると
いう効果がある。
第1図は従来の遅延時間測定方法を説明するだめのブロ
ック図、第2図は本発明の遅延時間−数構出方法の一実
施例を説明する/ζめの装置のブロック図、第3図は第
2図の動作を説明するだめの各信号の波形図、第4図は
第2図の・?ルス幅拡張回路の一実施例を示す回路図、
第5図は第2図の遅延時間−数構出回路の一実施例を示
す回路図である。 10 信号発生器、10a 、 111) 伝送系、
12a。 12b データ信号送信部、13a、 t3b 伝
送路、1.4a 、 141) データ信号受信部、
20・・・ノξルス幅拡張回路、21・遅延時間−数構
出回路、22発光素子。 第 1 日 第3閃 z+b z+c
ック図、第2図は本発明の遅延時間−数構出方法の一実
施例を説明する/ζめの装置のブロック図、第3図は第
2図の動作を説明するだめの各信号の波形図、第4図は
第2図の・?ルス幅拡張回路の一実施例を示す回路図、
第5図は第2図の遅延時間−数構出回路の一実施例を示
す回路図である。 10 信号発生器、10a 、 111) 伝送系、
12a。 12b データ信号送信部、13a、 t3b 伝
送路、1.4a 、 141) データ信号受信部、
20・・・ノξルス幅拡張回路、21・遅延時間−数構
出回路、22発光素子。 第 1 日 第3閃 z+b z+c
Claims (1)
- (1) 遅延時間が異なる複数の伝送系に信号発生器
からの同一のパルス信号を入力させ、前記伝送系のうち
1つの伝送系からの出力・ξルス信号の・ξルス幅を・
ξルス幅拡張回路を用いて広げて広幅・ξルス信号とし
、該広幅・ξルス信号と他の伝送系からの出力・ξルス
信号とを遅延時間−数構出回路で比較し、前記出力・ξ
ルス信号の・ぐルス幅が前記広幅・ξルス信号の・ξル
ス幅内に含捷れるときは発光素子を発光させず、含まれ
ないときは前記遅延時間−数構出回路の出力で前記発光
素子を発光させるようにし、前記発光素子の有無から前
記各伝送系間の遅延時間の差の有無を検出することを特
徴とする遅延時間一致検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57145724A JPS5935159A (ja) | 1982-08-23 | 1982-08-23 | 遅延時間一致検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57145724A JPS5935159A (ja) | 1982-08-23 | 1982-08-23 | 遅延時間一致検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5935159A true JPS5935159A (ja) | 1984-02-25 |
Family
ID=15391660
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57145724A Pending JPS5935159A (ja) | 1982-08-23 | 1982-08-23 | 遅延時間一致検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5935159A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0202003A2 (en) * | 1985-04-12 | 1986-11-20 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for measuring delay and/or gain difference |
-
1982
- 1982-08-23 JP JP57145724A patent/JPS5935159A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0202003A2 (en) * | 1985-04-12 | 1986-11-20 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for measuring delay and/or gain difference |
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