JPS5927204A - 熱応力測定装置 - Google Patents
熱応力測定装置Info
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- JPS5927204A JPS5927204A JP13707882A JP13707882A JPS5927204A JP S5927204 A JPS5927204 A JP S5927204A JP 13707882 A JP13707882 A JP 13707882A JP 13707882 A JP13707882 A JP 13707882A JP S5927204 A JPS5927204 A JP S5927204A
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- Japan
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- resistance
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は熱応力測定装置に係り、特に高温ひすみゲージ
のゲージリード線の加熱長さの影響に起因するみかけひ
ずみの補正およびゲージファクタの温度補正を高精度で
行い得るようにした熱応力測定装置に関する。
のゲージリード線の加熱長さの影響に起因するみかけひ
ずみの補正およびゲージファクタの温度補正を高精度で
行い得るようにした熱応力測定装置に関する。
［発明の技術的背傾とその問題点コ
近年、火力発電プラント等は苛酷な温度条件下で使用さ
れるようになっＣきており、熱応力、特に起動・停止時
に生ずる非定常熱応力の解明がプラントの強度信頼性向
上にとって不可欠な要素となつＣきている。
れるようになっＣきており、熱応力、特に起動・停止時
に生ずる非定常熱応力の解明がプラントの強度信頼性向
上にとって不可欠な要素となつＣきている。
熱応力を測定するには、従来から被測定体上に固定され
たハーフブリッジを構成する溶接型の抵抗線ひずみゲー
ジとこれに対応するハーフブリッジを構成するスイッチ
ボックスとの間をゲージリード線により接続し−で１抵
抗線ひずみゲージの抵抗変化から被測定体のひずみを求
める方法が広く用いられている。
たハーフブリッジを構成する溶接型の抵抗線ひずみゲー
ジとこれに対応するハーフブリッジを構成するスイッチ
ボックスとの間をゲージリード線により接続し−で１抵
抗線ひずみゲージの抵抗変化から被測定体のひずみを求
める方法が広く用いられている。
この種の溶接型の高温ひずみゲージＳＧは、第１図に示
されるように、ひずみにより抵抗の変化するＰｔ−Ｗア
クティブ素線１と温度変化による零点移動の低減をはか
るためのｐｔ −ｗダミー素線２とをスデンレス製のカ
ブヒル３内に間隔をおいて収容し、これらの間隙にＭｇ
Ｏからなる無機質絶縁粉末４を充填しＣ構成され（いる
。
されるように、ひずみにより抵抗の変化するＰｔ−Ｗア
クティブ素線１と温度変化による零点移動の低減をはか
るためのｐｔ −ｗダミー素線２とをスデンレス製のカ
ブヒル３内に間隔をおいて収容し、これらの間隙にＭｇ
Ｏからなる無機質絶縁粉末４を充填しＣ構成され（いる
。
上記カプセル３はその下面から張り出されたフランジ５
を第２図に示すように被測定体Ｍ上にスポット溶接する
ことにより固定される。図中符号Ｗはスポット溶接個所
を示している。また、高温ひずみゲージＳＧから導出さ
れるゲージリード線６は、高温ひずみゲージＳＧに接続
され被Ｈ１ｌ＋定体Ｍの上に固定される耐熱性のインテ
グラルソー１〜線６ａとこのインテグラルリードｌ！Ｊ
！６ ａと後述するひずみゲージ用スイッチボックスと
を接続りるビニールリード線６ｂどがら成っＣいる。符
号７は、高温ひずみゲージのターミナル５ＧｖＪ：ｊ、
Ｊ、びインテグラルリード線６ａを被測定体上に固定す
るステンレス箔から成る止めパンＦＣある。
を第２図に示すように被測定体Ｍ上にスポット溶接する
ことにより固定される。図中符号Ｗはスポット溶接個所
を示している。また、高温ひずみゲージＳＧから導出さ
れるゲージリード線６は、高温ひずみゲージＳＧに接続
され被Ｈ１ｌ＋定体Ｍの上に固定される耐熱性のインテ
グラルソー１〜線６ａとこのインテグラルリードｌ！Ｊ
！６ ａと後述するひずみゲージ用スイッチボックスと
を接続りるビニールリード線６ｂどがら成っＣいる。符
号７は、高温ひずみゲージのターミナル５ＧｖＪ：ｊ、
Ｊ、びインテグラルリード線６ａを被測定体上に固定す
るステンレス箔から成る止めパンＦＣある。
高温ひずみゲージＳＧの電気回路は第３図に示ずように
、アクティブ素線１による抵抗Ｒ△とダミー素線による
ダミー抵抗Ｒｏとを含むハーフブリッジ型とされており
、アクティブ索線１と被測定体Ｍとの間の線膨張係数の
差による温度補償を行なうために、アクディプ抵抗Ｒ△
と直列に温度補償抵抗Ｒｖｃｘが挿入され”Ｃいる。こ
の温度補償抵抗ＲＴＣＩＩ＋の抵抗値は温痘？１１ｉ償
範囲と被測定体Ｍの材料の線膨張係数を指定することに
より、ゲージフリーでの温度特性から決定される。
、アクティブ素線１による抵抗Ｒ△とダミー素線による
ダミー抵抗Ｒｏとを含むハーフブリッジ型とされており
、アクティブ索線１と被測定体Ｍとの間の線膨張係数の
差による温度補償を行なうために、アクディプ抵抗Ｒ△
と直列に温度補償抵抗Ｒｖｃｘが挿入され”Ｃいる。こ
の温度補償抵抗ＲＴＣＩＩ＋の抵抗値は温痘？１１ｉ償
範囲と被測定体Ｍの材料の線膨張係数を指定することに
より、ゲージフリーでの温度特性から決定される。
符号ＳＢは、高温ひずみゲージＳＧのゲージ用スイッチ
ボックスであって、ブリッジ抵抗Ｒθ、ＲｃＪ３よび調
整抵抗ＲＢＡＬにより高温ひずみゲージＳＧに対応する
ハーフブリッジを構成している。なお、図中ＲＬはゲー
ジリード線６による抵抗、Ｅ ＩＮは測定電源、ＥＯＬ
ＩＴは出力端子Ｃある。
ボックスであって、ブリッジ抵抗Ｒθ、ＲｃＪ３よび調
整抵抗ＲＢＡＬにより高温ひずみゲージＳＧに対応する
ハーフブリッジを構成している。なお、図中ＲＬはゲー
ジリード線６による抵抗、Ｅ ＩＮは測定電源、ＥＯＬ
ＩＴは出力端子Ｃある。
しかしながら温１度補償抵抗ＲＴＣＨにより温度補償を
行なったとし“Ｃも、アクティブ索線１の線膨張係数は
温度とともに非線形に変化するから広い範囲にわたって
完全にみかけひずみを零にすることはできない。すなわ
ちこの種の高温ひずみゲージＳＧでは、第４図に示すよ
うに温度Ｔの上昇とともに負のみかりひずみεえが発生
ずるがその変化が非線形ぐあるため温度補償抵抗Ｒ丁Ｃ
ｓ ”Ｃ″完全温度補償を行なうことはできず、通常温
度補償範囲のほぼ中間値でみかけひずみεαの絶対（ｌ
αが最大となり、最高使用温度にれが零となるように調
節され−Ｃいる。
行なったとし“Ｃも、アクティブ索線１の線膨張係数は
温度とともに非線形に変化するから広い範囲にわたって
完全にみかけひずみを零にすることはできない。すなわ
ちこの種の高温ひずみゲージＳＧでは、第４図に示すよ
うに温度Ｔの上昇とともに負のみかりひずみεえが発生
ずるがその変化が非線形ぐあるため温度補償抵抗Ｒ丁Ｃ
ｓ ”Ｃ″完全温度補償を行なうことはできず、通常温
度補償範囲のほぼ中間値でみかけひずみεαの絶対（ｌ
αが最大となり、最高使用温度にれが零となるように調
節され−Ｃいる。
したがっＣ溶接型高温ひずみゲージＳＧにおいでは、温
度変化に起因したみか（］ひずみε山にＪ、る誤差補正
が問題となるが、これにさらに前述したＪ、うに、高温
ひずみゲージフリーＵら導出されるインテグラルリード
線６ａが高温の被測定（ホＭの表面に長い孔側にわたっ
“Ｃ添設される結果両者の線膨張係数の差により生じる
出力の影響が加わることになる。このインテグラルリー
ド線６ａの加熱によるひずみεＬによる影響は、第５図
に示すように加熱長さに比例し、かつ温＋に上４に１′
４′なつＣ人ぎいらのとなる。
度変化に起因したみか（］ひずみε山にＪ、る誤差補正
が問題となるが、これにさらに前述したＪ、うに、高温
ひずみゲージフリーＵら導出されるインテグラルリード
線６ａが高温の被測定（ホＭの表面に長い孔側にわたっ
“Ｃ添設される結果両者の線膨張係数の差により生じる
出力の影響が加わることになる。このインテグラルリー
ド線６ａの加熱によるひずみεＬによる影響は、第５図
に示すように加熱長さに比例し、かつ温＋に上４に１′
４′なつＣ人ぎいらのとなる。
一方、高温ひずみゲージＳＧのゲージファクタＧＦＣは
通常次式で与えられる。− ＧＦＣ＝ＧＦＮＸＦ （Ｔ）ＸＲΔ／ （Ｒ八 ト ＲＴ ＣＭ →−ＲＬ） ・・・
・・・ （１）ここで Ｇ［Ｎ：ベーシックゲージの１ｉ温でのゲージファクタ Ｆ（Ｔ）：ゲージファクタ温度係数 Ｒ八ニアクチイブゲージ抵抗 ＲＴＣＭ：温度補償抵抗 ＲＬ：ゲージリード線抵抗 をそれぞれ示している。
通常次式で与えられる。− ＧＦＣ＝ＧＦＮＸＦ （Ｔ）ＸＲΔ／ （Ｒ八 ト ＲＴ ＣＭ →−ＲＬ） ・・・
・・・ （１）ここで Ｇ［Ｎ：ベーシックゲージの１ｉ温でのゲージファクタ Ｆ（Ｔ）：ゲージファクタ温度係数 Ｒ八ニアクチイブゲージ抵抗 ＲＴＣＭ：温度補償抵抗 ＲＬ：ゲージリード線抵抗 をそれぞれ示している。
これらの高温ひずみゲージＳＧのみかりひずみの補正、
ゲージリード線の加熱長さの影響によるみかりひずみの
補正およびゲージファクタの温度補正を行なうために、
従来から第６図に示された熱応力４算システムが用いら
れている。
ゲージリード線の加熱長さの影響によるみかりひずみの
補正およびゲージファクタの温度補正を行なうために、
従来から第６図に示された熱応力４算システムが用いら
れている。
この第６図に示すシステムでは高温ひずみゲージ１１ａ
、１１１＋、１１Ｃからの検出信号がゲージリード線１
２ａ 、１２ｂ 、１２ｃおよびひずみゲージ用スイッ
チボックス１４を介してデジタル静ひずみ・温度計１６
に供給される。
、１１１＋、１１Ｃからの検出信号がゲージリード線１
２ａ 、１２ｂ 、１２ｃおよびひずみゲージ用スイッ
チボックス１４を介してデジタル静ひずみ・温度計１６
に供給される。
一方、高ｆＡヒスミケーシ１１ａ 、 １ ｌｂ 、
１１Ｃと同じ場所に設置された熱電対１７ａ 、１７ｂ
、１７ｃからの温度信号はリード線１８ａ、１８ｂ、１
８ｃおＪ：び熱電対用スイッチボックス１９を介して同
じ（デジタル静ひずみ・温度６１１６に供給される。通
常これらの各測点にａ３（〕る温度およびひずみの計測
は、自動タイマ１−を便っＣ適当なインターバル時間Ｉ
Ｄに行なわれる。これ竹のデータは紙テープさん孔器Ｐ
Ｍにより紙テープ１−）［にさ／ｖ孔記録される。イし
にの紙ゲージＰ「を電子剖紳機ＣＰ Ｕに供給づること
により、高温ひずみゲージのみか（〕ひずみの補正、高
温ひずみゲージのゲージリード線の加熱長さの影響によ
るみがけひずみの変化の抽圧およびゲージファクタの温
度補正を行なっＣいる。
１１Ｃと同じ場所に設置された熱電対１７ａ 、１７ｂ
、１７ｃからの温度信号はリード線１８ａ、１８ｂ、１
８ｃおＪ：び熱電対用スイッチボックス１９を介して同
じ（デジタル静ひずみ・温度６１１６に供給される。通
常これらの各測点にａ３（〕る温度およびひずみの計測
は、自動タイマ１−を便っＣ適当なインターバル時間Ｉ
Ｄに行なわれる。これ竹のデータは紙テープさん孔器Ｐ
Ｍにより紙テープ１−）［にさ／ｖ孔記録される。イし
にの紙ゲージＰ「を電子剖紳機ＣＰ Ｕに供給づること
により、高温ひずみゲージのみか（〕ひずみの補正、高
温ひずみゲージのゲージリード線の加熱長さの影響によ
るみがけひずみの変化の抽圧およびゲージファクタの温
度補正を行なっＣいる。
このような従来の装置による高温ひずみの測定にＬ１２
いＣは、インテグラルリード線ｔこよる抵抗変化の補正
は、インテグラルリード線の加熱長さを計測し、ゲージ
リード線１２ａ 、 １２ｂ 、１２ｃが熱電対１７ａ
、 １７ｂ 、’ｌ ７ｃによっＣ検出された高温ひ
ずみゲージ１１ａ、１１ｂ、１１ｃの数句は位置にｄ３
ける温度に均一にさらされ−Ｃいるものと仮定し−Ｕ
第５図に示したゲージリード線の加熱長さ、加熱温度と
ひずみとの関係を用い０行つでいるが、実際には被測定
体の温度分イｂが非常に変化し′Ｃいる場合があり、し
かも第５図に示したように温度によりひ覆−みは大きく
変化Ｊるため補正の精度が低くなるという難点があった
。
いＣは、インテグラルリード線ｔこよる抵抗変化の補正
は、インテグラルリード線の加熱長さを計測し、ゲージ
リード線１２ａ 、 １２ｂ 、１２ｃが熱電対１７ａ
、 １７ｂ 、’ｌ ７ｃによっＣ検出された高温ひ
ずみゲージ１１ａ、１１ｂ、１１ｃの数句は位置にｄ３
ける温度に均一にさらされ−Ｃいるものと仮定し−Ｕ
第５図に示したゲージリード線の加熱長さ、加熱温度と
ひずみとの関係を用い０行つでいるが、実際には被測定
体の温度分イｂが非常に変化し′Ｃいる場合があり、し
かも第５図に示したように温度によりひ覆−みは大きく
変化Ｊるため補正の精度が低くなるという難点があった
。
さらにゲージファクタの温度補正に用いられる（１）式
にはゲージリード線抵抗値ＲＬが含まれる。火ツノプラ
ントのタービン部材等の熱応力計測Ｃ゛は、ゲージリー
ド線の加熱長さも長く広い領域にわたって温度変化の影
響を受けるため、計測毎にゲージリード線の抵抗値Ｒし
を測定する必要が生じる。
にはゲージリード線抵抗値ＲＬが含まれる。火ツノプラ
ントのタービン部材等の熱応力計測Ｃ゛は、ゲージリー
ド線の加熱長さも長く広い領域にわたって温度変化の影
響を受けるため、計測毎にゲージリード線の抵抗値Ｒし
を測定する必要が生じる。
しかるに従来の熱応力測定装置では、測定中にゲージリ
ード線の抵抗値ＲＬを計測することは不可能で゛あり、
ひずみの測定前および測定後に抵抗値ＲＬを計測し、こ
の値を用いてゲージファクタの補正を行なっＣいるため
手数がかかるという難点もあった。
ード線の抵抗値ＲＬを計測することは不可能で゛あり、
ひずみの測定前および測定後に抵抗値ＲＬを計測し、こ
の値を用いてゲージファクタの補正を行なっＣいるため
手数がかかるという難点もあった。
［発明の目的コ
本発明の目的は、ゲージリード線の加熱長さの影響によ
る抵抗変化に起因するみかりひり−みの補正ｌ１１５よ
びゲージファクタの温度補正を高粘度ひ行ない得るよう
にした熱応力測定装置を提供りることにある。
る抵抗変化に起因するみかりひり−みの補正ｌ１１５よ
びゲージファクタの温度補正を高粘度ひ行ない得るよう
にした熱応力測定装置を提供りることにある。
［弁明の概要］
本発明の熱応力測定装置は、被？１ｉ１１定体上に貼着
される高温ひずみゲージと、この高２ＫＲＯ’ずみゲー
ジのひずみ計測回路とを、被測定体上に添設されるゲー
ジリード線にＪ、り接続しＣなる熱応力測定装置におい
て、前記グーシリ−１〜線の抵抗を６１測する抵抗計測
回路と、前記ゲージリード線をひずみ計測回路から切離
し前記抵抗計測回路に接続する切換え手段とを設りたこ
とを特徴としＣいる。
される高温ひずみゲージと、この高２ＫＲＯ’ずみゲー
ジのひずみ計測回路とを、被測定体上に添設されるゲー
ジリード線にＪ、り接続しＣなる熱応力測定装置におい
て、前記グーシリ−１〜線の抵抗を６１測する抵抗計測
回路と、前記ゲージリード線をひずみ計測回路から切離
し前記抵抗計測回路に接続する切換え手段とを設りたこ
とを特徴としＣいる。
実施例
以下本発明による熱電ツノ測定装置の一実施例を第７図
を参照し゛Ｃ説明覆る。なお、第７図にＪｊいて第６図
と共通する部分は同一符号で示しである。
を参照し゛Ｃ説明覆る。なお、第７図にＪｊいて第６図
と共通する部分は同一符号で示しである。
第７図において、高温ひずみゲージｉｌａ、１１ｂ、１
１ｃは、高温の被測定体の表面に貼着されている。
１ｃは、高温の被測定体の表面に貼着されている。
これらの高温ひずみゲージ１１ａ、１１ｂ、１１Ｃから
ゲージリード線１２ａ 、１２ｂ 、１２ｃが導出され
、途中切換装置１３を介しでひずみゲージ用スイッチボ
ックス１／ｌに接続され、ざらにひずみゲージ用スイッ
チボックス１４１まリード線１５を介してデジタル静ひ
ずみ・濡Ｕ＃ｔ１６に接続されている。
ゲージリード線１２ａ 、１２ｂ 、１２ｃが導出され
、途中切換装置１３を介しでひずみゲージ用スイッチボ
ックス１／ｌに接続され、ざらにひずみゲージ用スイッ
チボックス１４１まリード線１５を介してデジタル静ひ
ずみ・濡Ｕ＃ｔ１６に接続されている。
一万、高温ひずみゲージと同じ場所に設置された熱電対
１７ａ、１７ｂ、１７ｃは、’） −ト線１８ａ 、１
８ｂ 、１８ｃを介して熱電対用スイッチボックス１９
に接続され、熱電対用スイッチボックス１９はリード線
２０を介してデジタル静ひずみ・温度計１６に接続され
Ｃいる。
１７ａ、１７ｂ、１７ｃは、’） −ト線１８ａ 、１
８ｂ 、１８ｃを介して熱電対用スイッチボックス１９
に接続され、熱電対用スイッチボックス１９はリード線
２０を介してデジタル静ひずみ・温度計１６に接続され
Ｃいる。
さらに上記ゲージリード線１２ａ、１２ｂ、１２Ｃの抵
抗を計測するためにこれらのゲージリード線の高温ひず
みゲージ側に検出線２１ａ、’２１ｂ、２１ｃが接続さ
れ、抵抗計用スイッチボックス２２を介して検出線から
の信号をデジタル抵抗計２３に供給するようになってい
る。
抗を計測するためにこれらのゲージリード線の高温ひず
みゲージ側に検出線２１ａ、’２１ｂ、２１ｃが接続さ
れ、抵抗計用スイッチボックス２２を介して検出線から
の信号をデジタル抵抗計２３に供給するようになってい
る。
自動タイマ丁からの出力線２４ａ 、２４ｂ 、２４Ｃ
はデジタル静ひずみ・温度６１１６、切換装置１３Δ３
よびデジタル抵抗占（２３にそれぞれ接続されてｄ３す
、適当な時間インターバルＣ切換装置１３を連動させＣ
ひずみゲージ用スイッチボックス１４のひずみ計測回路
と抵抗肘用スイッチボックス２２の抵抗計測回路とを切
換え−にれらの出力信号をインタフェース２５を経Ｃ］
ンピュータＣＰＵに入力させる。この切換え装置は、高
温ひずみゲージ、ゲージリート線ｄ５よびひり゛みゲー
ジ用スイッチボックスＣ′構成される小イストーンブリ
ッジからひずみゲージ用スイッチボックスを切角１１し
、これを抵抗計用スイッチボックスと接続して抵抗測定
用のホイストーンブリッジを構成する作用をする。
はデジタル静ひずみ・温度６１１６、切換装置１３Δ３
よびデジタル抵抗占（２３にそれぞれ接続されてｄ３す
、適当な時間インターバルＣ切換装置１３を連動させＣ
ひずみゲージ用スイッチボックス１４のひずみ計測回路
と抵抗肘用スイッチボックス２２の抵抗計測回路とを切
換え−にれらの出力信号をインタフェース２５を経Ｃ］
ンピュータＣＰＵに入力させる。この切換え装置は、高
温ひずみゲージ、ゲージリート線ｄ５よびひり゛みゲー
ジ用スイッチボックスＣ′構成される小イストーンブリ
ッジからひずみゲージ用スイッチボックスを切角１１し
、これを抵抗計用スイッチボックスと接続して抵抗測定
用のホイストーンブリッジを構成する作用をする。
次にゲージリード線抵抗ＲＬの求め方について説明覆る
。
。
上記高温ひずみゲージ５Ｇｔ）、第８図に示されるよう
に、ハーフブリッジ型で４１４成されＣおり、アクティ
ブ県線側の接続点Ｍと端子［１の間にはアクティブ抵抗
Ｒ＾とＲＬが直列接続される一方。
に、ハーフブリッジ型で４１４成されＣおり、アクティ
ブ県線側の接続点Ｍと端子［１の間にはアクティブ抵抗
Ｒ＾とＲＬが直列接続される一方。
ダミー側の接続点Ｍと端子Ｔ２どの間にはダミー抵抗Ｒ
ｏとＲＬが直列接続され、また接続点Ｍと出力端子Ｔ３
との間にも抵抗ＲＬが接続されている。
ｏとＲＬが直列接続され、また接続点Ｍと出力端子Ｔ３
との間にも抵抗ＲＬが接続されている。
第８図の回路においては、ゲージリード線抵抗ＲＬと端
子Ｔ＋ −Ｔ２ 、Ｔ２−Ｔ３ 、 Ｔ−３−Ｔ＋間の
各抵抗（ＩＩ ＲＩ 、Ｒ２、Ｒ３の間には次式で示す
関係が成立する。
子Ｔ＋ −Ｔ２ 、Ｔ２−Ｔ３ 、 Ｔ−３−Ｔ＋間の
各抵抗（ＩＩ ＲＩ 、Ｒ２、Ｒ３の間には次式で示す
関係が成立する。
Ｒ＋＝ＲＡ＋２ＲＬ
Ｒ２＝Ｒｏ ＋２ＲＬ
Ｒ３＝ＲＡ ＋Ｒｏ ＋２ＲＬ −−−−（２＞したが
っＣ各端子間の抵抗値Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３を計測した後コ
ンピュータ１０で上記（２）式の連立方程式を解けばゲ
ージリード線の抵抗ＲＬを求めることがＣきる。
っＣ各端子間の抵抗値Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３を計測した後コ
ンピュータ１０で上記（２）式の連立方程式を解けばゲ
ージリード線の抵抗ＲＬを求めることがＣきる。
なお第８図ひは全体の回路の図示を省略したが、第８図
に示したハーフブリッジ回路は、切換装置により抵抗測
定回路に切換えられた状態では第３図に示した回路と同
様に、抵抗計用スイッチボックス２２内に組込まれた固
定値をもつブリッジ抵抗Ｒｅ、Ｒｃ、調整抵抗ＲＢＡＬ
および温度補償抵抗ＲＴＣＭとともにホビートス１〜ン
ゾリツジを構成する。
に示したハーフブリッジ回路は、切換装置により抵抗測
定回路に切換えられた状態では第３図に示した回路と同
様に、抵抗計用スイッチボックス２２内に組込まれた固
定値をもつブリッジ抵抗Ｒｅ、Ｒｃ、調整抵抗ＲＢＡＬ
および温度補償抵抗ＲＴＣＭとともにホビートス１〜ン
ゾリツジを構成する。
以上のように構成された本発明の熱応力測定装置にＪ３
いては、第９図に示すようにゲージリード線の抵抗値２
ＲＬとみかけひずみεＬの変化が直線関係にあるから、
ゲージリード線６の加熱長さによる影響をゲージリート
線の抵抗ＲＬの変化として捉えることによりグーシリ−
１−線の加熱長さの影響によるみかりひずみεＬを高精
度で補正覆ることかできる。
いては、第９図に示すようにゲージリード線の抵抗値２
ＲＬとみかけひずみεＬの変化が直線関係にあるから、
ゲージリード線６の加熱長さによる影響をゲージリート
線の抵抗ＲＬの変化として捉えることによりグーシリ−
１−線の加熱長さの影響によるみかりひずみεＬを高精
度で補正覆ることかできる。
また、ゲージファクタの温度油止も上記（１）式中のゲ
ージリード線の抵抗ＲＬを熱応力の測定中に求めること
ができるので、容易におこなうことができる。
ージリード線の抵抗ＲＬを熱応力の測定中に求めること
ができるので、容易におこなうことができる。
［発明の効果］
以上述べたように本発明によれば、ゲージリード線が温
度勾配をもつ被測定体Ｍにはわせる場合であっても正確
にみかけひずみの補正を行なうことができる。またゲー
ジファクタの温痘補正も容易に、かつ精度よく行なうこ
とがで′きる。
度勾配をもつ被測定体Ｍにはわせる場合であっても正確
にみかけひずみの補正を行なうことができる。またゲー
ジファクタの温痘補正も容易に、かつ精度よく行なうこ
とがで′きる。
第１図は高温ひずみゲージの構造を示した縦断面図、第
２図は高温ひずみゲージとそのリード線を被測定体上に
貼付した状態を示した図、第３図は高温ひずみゲージの
回路図、第４図は温度Ｔ（°Ｆ）とみかけひずみεＬの
関係を示した線図、第５図はリード線加熱長さとひずみ
εＬどの関係を示した線図、第６図は従来の熱応力測定
装置を示したブロック図、第７図は本発明による熱応力
測定装置を示したブロック図、第８図は高温ひずみゲー
ジの回路図、第９図はゲージリード線の抵抗２ＲＬとび
ずみεＬどの関係を示した線図である。 １１ａ、１１ｂ、１１ｃ・・・・・・高温ひずみゲージ １２ａ、１２ｂ、１２ｃ・・・・・・ゲージリード線１
３・・・・・・・・・・・・切換装置１４・・・・・・
・・・・・・ひずみゲージ用スイツチボツク１６・・・
・・・・・・・・・デジタル静ひずみ温度計１７ａ 、
１７ｂ 、１７ｃ −−−−−−熱電対２３・・・・
・・・・・・・・デジタル抵抗占１代理人弁理士
須 山 仏 − 第１図 第２図 第３図 第４図 温度Ｔ（”Ｆ） 第７図 第８図 第０図 リード線の折抗 ２Ｆ？Ｌ（−Ｑ、）
２図は高温ひずみゲージとそのリード線を被測定体上に
貼付した状態を示した図、第３図は高温ひずみゲージの
回路図、第４図は温度Ｔ（°Ｆ）とみかけひずみεＬの
関係を示した線図、第５図はリード線加熱長さとひずみ
εＬどの関係を示した線図、第６図は従来の熱応力測定
装置を示したブロック図、第７図は本発明による熱応力
測定装置を示したブロック図、第８図は高温ひずみゲー
ジの回路図、第９図はゲージリード線の抵抗２ＲＬとび
ずみεＬどの関係を示した線図である。 １１ａ、１１ｂ、１１ｃ・・・・・・高温ひずみゲージ １２ａ、１２ｂ、１２ｃ・・・・・・ゲージリード線１
３・・・・・・・・・・・・切換装置１４・・・・・・
・・・・・・ひずみゲージ用スイツチボツク１６・・・
・・・・・・・・・デジタル静ひずみ温度計１７ａ 、
１７ｂ 、１７ｃ −−−−−−熱電対２３・・・・
・・・・・・・・デジタル抵抗占１代理人弁理士
須 山 仏 − 第１図 第２図 第３図 第４図 温度Ｔ（”Ｆ） 第７図 第８図 第０図 リード線の折抗 ２Ｆ？Ｌ（−Ｑ、）
Claims (2)
- （１）被測定体上に貼着される高温ひずみゲージとこの
高温ひずみゲージのびずみｈ１測回路とを、被測定体上
に添設されるゲージリード線により接続しＣなる熱応力
測定装置にＪ３いＣ１前記ゲージリード線の抵抗を計測
する抵抗へ１測回路と、前記ゲージリード線をひずみＣ
１測回路から切離し前記抵抗泪測回路に接続する切換え
手段とを設【プたことを特徴とする熱応力測定装置。 - （２）ひずみへ１測回路のｈ１測値と抵抗削測回路の計
測値とを入力して、ゲージリード線の加熱長さの影響に
よるみかけひずみの補正を行なう手段を備え（いること
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の熱応力測定装
置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13707882A JPS5927204A (ja) | 1982-08-06 | 1982-08-06 | 熱応力測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13707882A JPS5927204A (ja) | 1982-08-06 | 1982-08-06 | 熱応力測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5927204A true JPS5927204A (ja) | 1984-02-13 |
Family
ID=15190378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13707882A Pending JPS5927204A (ja) | 1982-08-06 | 1982-08-06 | 熱応力測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5927204A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08240696A (ja) * | 1995-01-25 | 1996-09-17 | Korea Advanced Inst Of Sci Technol | ホウ酸分離用陰イオン交換膜抽出器 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5674605A (en) * | 1979-11-22 | 1981-06-20 | Kyowa Dengiyou:Kk | Strain measuring device |
-
1982
- 1982-08-06 JP JP13707882A patent/JPS5927204A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5674605A (en) * | 1979-11-22 | 1981-06-20 | Kyowa Dengiyou:Kk | Strain measuring device |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08240696A (ja) * | 1995-01-25 | 1996-09-17 | Korea Advanced Inst Of Sci Technol | ホウ酸分離用陰イオン交換膜抽出器 |
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