JPS59230147A - 核磁気共鳴装置 - Google Patents
核磁気共鳴装置Info
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- JPS59230147A JPS59230147A JP58105386A JP10538683A JPS59230147A JP S59230147 A JPS59230147 A JP S59230147A JP 58105386 A JP58105386 A JP 58105386A JP 10538683 A JP10538683 A JP 10538683A JP S59230147 A JPS59230147 A JP S59230147A
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- JP
- Japan
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- sample
- tube
- sample tube
- signal
- irradiation
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
- G01R33/30—Sample handling arrangements, e.g. sample cells, spinning mechanisms
- G01R33/307—Sample handling arrangements, e.g. sample cells, spinning mechanisms specially adapted for moving the sample relative to the MR system, e.g. spinning mechanisms, flow cells or means for positioning the sample inside a spectrometer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
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- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
１ ＋’ｒコ１上の利用分野・１
本発明は条へ磁気共鳴装置（ＮＭＲ装置）に１３１し、
特に試料管の回転軸ずれ等に起因するスピニングサイド
バンドを除去りることのできるＮ ＩＶＩ Ｒ装置に関
す°る。
特に試料管の回転軸ずれ等に起因するスピニングサイド
バンドを除去りることのできるＮ ＩＶＩ Ｒ装置に関
す°る。
［従来技術］
高分解能Ｎ Ｍ Ｒ装置においては、静１ｉｉｌ場中で
試料（試料管）を回転させ、静磁場の不均一の平均化を
図っ（いる。しかしながら、以下に述べるような場合、
ＮＭＲ信号に変調が加わるため、ＮＭＲスペクトル上の
各ピークから試料の回転周波数の整数倍離れた位置にス
ピニングサイドバンドと呼ばれるピークが生じ、スペク
トル解析上極めて不都合である。
試料（試料管）を回転させ、静磁場の不均一の平均化を
図っ（いる。しかしながら、以下に述べるような場合、
ＮＭＲ信号に変調が加わるため、ＮＭＲスペクトル上の
各ピークから試料の回転周波数の整数倍離れた位置にス
ピニングサイドバンドと呼ばれるピークが生じ、スペク
トル解析上極めて不都合である。
ａ、試料の回転軸に対して非対称な静磁場の不均一成分
が過大に残留している時 す、測定の際に照射される高周波磁場（パルス）の強度
が空間的に不均一である時 Ｃ０試利筐のｒｉＬｉ度不良等により試料管の回転軸が
試料の中心と一致しない詩 この内、ａ及びｂに起因り−るスピニングサイドバンド
は装置の利用段階にお【プる調整により除去することが
Ｃさるが、Ｃに起因りるものは電磁的イ１： １１７１
１’＋” （は除、）、小ｉｊｌ能であり、装置１″？
製作１１）にＪハノる１′ｌ′Ｉ葭向１ｐＯ” ｔＵＧ
用りる試ｆｉｌ ？”：、の梢１ｑ向上等によ・ン（、
λ・１処（〕る他イｒがっｌご。
が過大に残留している時 す、測定の際に照射される高周波磁場（パルス）の強度
が空間的に不均一である時 Ｃ０試利筐のｒｉＬｉ度不良等により試料管の回転軸が
試料の中心と一致しない詩 この内、ａ及びｂに起因り−るスピニングサイドバンド
は装置の利用段階にお【プる調整により除去することが
Ｃさるが、Ｃに起因りるものは電磁的イ１： １１７１
１’＋” （は除、）、小ｉｊｌ能であり、装置１″？
製作１１）にＪハノる１′ｌ′Ｉ葭向１ｐＯ” ｔＵＧ
用りる試ｆｉｌ ？”：、の梢１ｑ向上等によ・ン（、
λ・１処（〕る他イｒがっｌご。
１光明の１−１的１
・１−発明はこの点に鑑み（なされたムの′Ｃあり、１
’、 ｉ’ｉＬ！ Ｃに起因りくしスピニングサイドバ
ントをイ）効に除ノ、りることのできる杉磁気共鳴装置
を提供りることを目的どしでいる。
’、 ｉ’ｉＬ！ Ｃに起因りくしスピニングサイドバ
ントをイ）効に除ノ、りることのできる杉磁気共鳴装置
を提供りることを目的どしでいる。
１発明の（１へ成］
本発明は自流磁場中で試料を収容しＩｃ試１′１１菅を
同り１／、させた状態Ｃ−該試料′に高周波パルスを照
則し、（ｉｊｊ ＱＪ ｉ！２試；ｉ：＋ｌからの白山
誘尋減宸信号を検出づる」、−酉ご（−ｋ（へ陽気共鳴
装置にＪｊいＣ１試籾管の回転鎧；ｄを・検出づる：ｆ
８ｉど、自山誘導減真信号を偵緯・ｊる手段−！ａ設（
ノ、前記検出１段からの検出１５号に１７ｊ ′Ｊさ、
試ｔ’ｌ↑スの特定部位が特定位阿啄こあるタイミング
と、該特定部位がそれから半回転した位置（こ（ｂるタ
イミングの、２種のタイミングで前記８周波パルス黒用
４？−ｊい、該２種のタイミングの高周波パルス照射に
よって得られた２種の自由誘導減哀信月を前記積ｑ手段
でｆ）！ｉ算するようにしたことを特徴としている。以
下、図面を用いＣ本発明を詳説する。
同り１／、させた状態Ｃ−該試料′に高周波パルスを照
則し、（ｉｊｊ ＱＪ ｉ！２試；ｉ：＋ｌからの白山
誘尋減宸信号を検出づる」、−酉ご（−ｋ（へ陽気共鳴
装置にＪｊいＣ１試籾管の回転鎧；ｄを・検出づる：ｆ
８ｉど、自山誘導減真信号を偵緯・ｊる手段−！ａ設（
ノ、前記検出１段からの検出１５号に１７ｊ ′Ｊさ、
試ｔ’ｌ↑スの特定部位が特定位阿啄こあるタイミング
と、該特定部位がそれから半回転した位置（こ（ｂるタ
イミングの、２種のタイミングで前記８周波パルス黒用
４？−ｊい、該２種のタイミングの高周波パルス照射に
よって得られた２種の自由誘導減哀信月を前記積ｑ手段
でｆ）！ｉ算するようにしたことを特徴としている。以
下、図面を用いＣ本発明を詳説する。
し発明の原理説明１
先ず、第１図を用いて本発明の基本的な考え方を説明づ
る。図において１は試料２を収容りる試料管、３はサド
ル型の検出コイルである。試料管１の回転中心Ｏが試料
の中心Ｏ′とずれていると、試４゛８Ｉ管が半回転後に
破線で示り一位置に来ることから分るように試ｘ′」と
コイルとの距離が変化することになり、検出コイル３が
′Ｊ１．料２から受信りるＮＭ Ｒ（５号は回転に同期
した振幅変調を受（プる。更にこのような場合、試料の
誘電率が人き（プれば、コイル３内（゛の試料の移動は
］イル３の浮遊容量の変化に結びつく。コイル３ｔま受
信用の高周波同調回路の一部を構成しＣいるから、試料
の回転に同期してその同調周波数の偏移がおき、検出コ
イルから取出されるＮ ｆｖｌ ｒ＜信号は、前述した
振幅変調に加え回転に同期した位相変調も受りる結果と
・くｆる＋１ ’、−のようにし−（受りだ開講により
スピニングサイドバンドが光どトするの（゛ある。
る。図において１は試料２を収容りる試料管、３はサド
ル型の検出コイルである。試料管１の回転中心Ｏが試料
の中心Ｏ′とずれていると、試４゛８Ｉ管が半回転後に
破線で示り一位置に来ることから分るように試ｘ′」と
コイルとの距離が変化することになり、検出コイル３が
′Ｊ１．料２から受信りるＮＭ Ｒ（５号は回転に同期
した振幅変調を受（プる。更にこのような場合、試料の
誘電率が人き（プれば、コイル３内（゛の試料の移動は
］イル３の浮遊容量の変化に結びつく。コイル３ｔま受
信用の高周波同調回路の一部を構成しＣいるから、試料
の回転に同期してその同調周波数の偏移がおき、検出コ
イルから取出されるＮ ｆｖｌ ｒ＜信号は、前述した
振幅変調に加え回転に同期した位相変調も受りる結果と
・くｆる＋１ ’、−のようにし−（受りだ開講により
スピニングサイドバンドが光どトするの（゛ある。
ここ’−１Ｊ利管の回転を第２図（ｔ］）に示りように
試料室の特定部位Δの回φム角■良に対応する正弦波Ｓ
１（表わし、理解を容易にづるため、振幅変調が第２
唇１ （ｂ ）に示り゛よう（こそれに同期した１１弦
波形３２′ｃ行われるものとりる。今、第３図【こ示り
Ｊ、うな高周波パルスＰ１の照射と、その後の自由ツ〉
）導減哀（１” Ｉ Ｄ ＞信号のリンブリングから成
る１秒前後の観測シータンスを２回行うことどし、第２
図（Ｃ）に承りように、最初の観測は１１１’７刻１０
即ら試！３１ ＠の回転角瓜がＯｏのタイミンクＮ＋ｉ
Ｉ図に、１ノいＣ実線（示されるタイミング）で高周波
パルス（〕１を照射して行い、次の観測（よ１１°Ｉシ
リ（１即ら試ｔ＋口へ・の回転角度が１８ｏ°のタイミ
ング〈第１図にｄ〕いＣ破線（・・示されるタイミング
＞（”４°：ｊ １７：ｌ波パルスＰ１を照則しく行−
）だ詩、夫々Ｑ）７１児：則にＪＵいＣ’ ｌｊ７られ
るＦＩＤ（Ｍ号にういて考える。
試料室の特定部位Δの回φム角■良に対応する正弦波Ｓ
１（表わし、理解を容易にづるため、振幅変調が第２
唇１ （ｂ ）に示り゛よう（こそれに同期した１１弦
波形３２′ｃ行われるものとりる。今、第３図【こ示り
Ｊ、うな高周波パルスＰ１の照射と、その後の自由ツ〉
）導減哀（１” Ｉ Ｄ ＞信号のリンブリングから成
る１秒前後の観測シータンスを２回行うことどし、第２
図（Ｃ）に承りように、最初の観測は１１１’７刻１０
即ら試！３１ ＠の回転角瓜がＯｏのタイミンクＮ＋ｉ
Ｉ図に、１ノいＣ実線（示されるタイミング）で高周波
パルス（〕１を照射して行い、次の観測（よ１１°Ｉシ
リ（１即ら試ｔ＋口へ・の回転角度が１８ｏ°のタイミ
ング〈第１図にｄ〕いＣ破線（・・示されるタイミング
＞（”４°：ｊ １７：ｌ波パルスＰ１を照則しく行−
）だ詩、夫々Ｑ）７１児：則にＪＵいＣ’ ｌｊ７られ
るＦＩＤ（Ｍ号にういて考える。
１．１８幅な−、１．１を受りイｆい「しいＩ”１ｌｌ
Ｒ号が第４図（Ｆ、ｌ ）の形であるどすれば、時刻−
「Ｏから始まる第１回の観測で得られるＦＩＤ信号は第
２図（ｂ）の正弦波形にＪ、る振幅変調を受け、例えば
第４図（ｂ）のように得られる。
Ｒ号が第４図（Ｆ、ｌ ）の形であるどすれば、時刻−
「Ｏから始まる第１回の観測で得られるＦＩＤ信号は第
２図（ｂ）の正弦波形にＪ、る振幅変調を受け、例えば
第４図（ｂ）のように得られる。
時刻Ｔ１から始まる第２回の観ｉ１＋１１ ’ｒ得られ
るＦＩＤ信号は、例えば第４図（Ｃ）のように得られる
。
るＦＩＤ信号は、例えば第４図（Ｃ）のように得られる
。
ここで、この２つのＦ Ｉ Ｄ信号を比較りるど、双方
の観測開始のタイミングが試料管の回転角１哀０°、１
８０６と逆相の関係にあるため、２つのＦＩＤ信号が受
（）た振幅変調も逆相の関係にある。
の観測開始のタイミングが試料管の回転角１哀０°、１
８０６と逆相の関係にあるため、２つのＦＩＤ信号が受
（）た振幅変調も逆相の関係にある。
従ってこの２つの信号を加ｎ１れば、互いの変調が４］
消し合い、その結果第４図（ａ）に示づ変調を受けない
状態のＦ Ｔ Ｄ信号を得ることが出来る。
消し合い、その結果第４図（ａ）に示づ変調を受けない
状態のＦ Ｔ Ｄ信号を得ることが出来る。
尚、このＪ：うに試料管の回転角度０°、１８０６のタ
イミングで観測を行って加紳ツると１次のスピニングサ
イドバンドを除去できるが、それに更に９０°、２７０
°のタイミングを加え、４種のＦＩＤ信号を加障りれば
、２次のスピニングサイドバンドを除去することがでさ
る。又、３０°お♂の夕、イミンタ（： １ｔｉ２測を
行−）で得られＩこ「ＩＤ１５シ″Ｊを加持りれば、史
に高次のスピニングサイドパン１−４除ノ＼（さること
は菖う３１．でもない。上記は理解を容易にりるため振
幅変調のみについで検討しに））・、（☆相疫調し全く
同（コシに同吋に除去Ｃ・きることは１ｊう、−１：（
心ない。
イミングで観測を行って加紳ツると１次のスピニングサ
イドバンドを除去できるが、それに更に９０°、２７０
°のタイミングを加え、４種のＦＩＤ信号を加障りれば
、２次のスピニングサイドバンドを除去することがでさ
る。又、３０°お♂の夕、イミンタ（： １ｔｉ２測を
行−）で得られＩこ「ＩＤ１５シ″Ｊを加持りれば、史
に高次のスピニングサイドパン１−４除ノ＼（さること
は菖う３１．でもない。上記は理解を容易にりるため振
幅変調のみについで検討しに））・、（☆相疫調し全く
同（コシに同吋に除去Ｃ・きることは１ｊう、−１：（
心ない。
Ｉ実施例」
第５）しｌ ｉ、Ｌ ｌ ；、ｌ； ｌ、 ／、： ｉ
、４木思想に基づく本発明の一実ｆ＋ｉ！！例の構成を
示づノロツク図である。図におい（／ｌ ｉ、ｌ）＋１
Ａ阻揚・をｇ’（：’、ｌ ｔｌるＩｌｆ五石で、該）
１部表（’Ｅｉ ４内にｔ、１． Ｎ Ｍ Ｒｆ ＋１
−Ｊ ５が配置されＣいる。該ＮＭＲ）Ｉｆ−７’ り
の１部（、−は１ン／レツリ６からの加圧空気を吹付け
て試料管７を回転させる試料管回転ｊ：’ｔ １１４
ｊ’ｒ ｋυ・該回’ｌ’／＋ ｉ、、′ｊ椙の中（３
，組込、１れＩこ回Ｑ７、角１哀＋ｉｉ ＋ｌｊ Ｉｌ
ｌ： ｉ・７ｉｌＩ・１ト（（・１１１１”、れ（いイ
）。９は高周波発振器で、１′と５Ｕ ＩＩ＋＜ ：：
：ｔ ／）口）几／１シＩ、二ｆＪＪ ；Ｉ！ｉ核のｊ
（鳴周波らシを１゛ｆ）ｌ′、！１周（１，ビ（１、観
測１ｉ制御回路１０にＪ、つく制１２１１ 、ふれるゲ
ー１〜１１をｒ＋シ（、ｉ：Ｐ周波パルスとしく Ｎ
Ｍｌく］゛１１−ノｌ＼ｊλられ、照（１・Ｉ ：Ｌｌ
イルを介しく試オ）１にｉｌ、ｊｉ川用：： ’ｌ’Ｌ
ル。該、゛１°ｊ１°ハ／Ｌ／ ７． ｌ’７．ｔ
Ｇ照射させる。該高周波パルス照射に伴って試料から発
生ＪるＦＩＤ（：号は、ＮＭＲプローブ内の検出コイル
によって検出され、前記観測制御回路１０によって制御
される復調回路１２及びＡ−１つ変換器１３を介してデ
ータ処理装置１４へ送られる。１５はデータ処理装置に
よる一ノーリエ変換処理によって寄られたＮＭＲスペク
トルを記録づ−るためのレコーダである。
、４木思想に基づく本発明の一実ｆ＋ｉ！！例の構成を
示づノロツク図である。図におい（／ｌ ｉ、ｌ）＋１
Ａ阻揚・をｇ’（：’、ｌ ｔｌるＩｌｆ五石で、該）
１部表（’Ｅｉ ４内にｔ、１． Ｎ Ｍ Ｒｆ ＋１
−Ｊ ５が配置されＣいる。該ＮＭＲ）Ｉｆ−７’ り
の１部（、−は１ン／レツリ６からの加圧空気を吹付け
て試料管７を回転させる試料管回転ｊ：’ｔ １１４
ｊ’ｒ ｋυ・該回’ｌ’／＋ ｉ、、′ｊ椙の中（３
，組込、１れＩこ回Ｑ７、角１哀＋ｉｉ ＋ｌｊ Ｉｌ
ｌ： ｉ・７ｉｌＩ・１ト（（・１１１１”、れ（いイ
）。９は高周波発振器で、１′と５Ｕ ＩＩ＋＜ ：：
：ｔ ／）口）几／１シＩ、二ｆＪＪ ；Ｉ！ｉ核のｊ
（鳴周波らシを１゛ｆ）ｌ′、！１周（１，ビ（１、観
測１ｉ制御回路１０にＪ、つく制１２１１ 、ふれるゲ
ー１〜１１をｒ＋シ（、ｉ：Ｐ周波パルスとしく Ｎ
Ｍｌく］゛１１−ノｌ＼ｊλられ、照（１・Ｉ ：Ｌｌ
イルを介しく試オ）１にｉｌ、ｊｉ川用：： ’ｌ’Ｌ
ル。該、゛１°ｊ１°ハ／Ｌ／ ７． ｌ’７．ｔ
Ｇ照射させる。該高周波パルス照射に伴って試料から発
生ＪるＦＩＤ（：号は、ＮＭＲプローブ内の検出コイル
によって検出され、前記観測制御回路１０によって制御
される復調回路１２及びＡ−１つ変換器１３を介してデ
ータ処理装置１４へ送られる。１５はデータ処理装置に
よる一ノーリエ変換処理によって寄られたＮＭＲスペク
トルを記録づ−るためのレコーダである。
第６図は、試料管回転機構８に組込まれた回転角度検出
は構の構造を説明Ｊるための図である。
は構の構造を説明Ｊるための図である。
図において１６は試料管７の上部に取付けられたＵ−夕
で、ぞの外周部には光反剣体又は光吸収体からなるマー
カ１７が例えば３０°間隔で１２個取ｆＪ ｆＪられて
いる。１８は該７−カ１７に投射りる光スボツ１〜を発
生づる発光素子、１９は該光スポラ１−位置をマーカが
通過する時に生じる光量変化を検出りるための光検出器
である。該光検出器１９からｙ７られた検出伯月は波形
整形回路２０を介し′Ｃ前記観測制御回路１０へ送られ
る。
で、ぞの外周部には光反剣体又は光吸収体からなるマー
カ１７が例えば３０°間隔で１２個取ｆＪ ｆＪられて
いる。１８は該７−カ１７に投射りる光スボツ１〜を発
生づる発光素子、１９は該光スポラ１−位置をマーカが
通過する時に生じる光量変化を検出りるための光検出器
である。該光検出器１９からｙ７られた検出伯月は波形
整形回路２０を介し′Ｃ前記観測制御回路１０へ送られ
る。
上述の如き構成におい−Ｃ１光検出器１９に入ｑ４りる
光量は、光スボツ１〜部分をマーカ１７か通過する１５
二びにイタ化りるため、波形整形回Ｗ８２０からは第７
図（ａ ） ｌ：二、１、（」、ｊ、−）（・二試１′
１０ぐ；、７がご３０゜回ΦＩ、りるｌ：びに１１因の
りＬ」ツクパルスが１５１られ、試１″’ｌ ｊ’Ｊ：
７ Ｌｊ）同り’！＋角度を３）Ｏ°甲１ずｌｃ検出
Ｊることがζ゛さる１゜ 観；Ｉｊｌｌ制御４１１回路１０は、第１回目の観測を
り白ツ勺バ几、４Ｈ１が発生したタイミング、即ち回転
角Ｉ＋’； Ｏ”のターｒミンク（゛、第７図（１））
に承りように一′６周波パルスＰ１を黒用りることによ
り開始りる。１この観測にｊ；す１ｑられたＦＩＤ侶号
信号（０°）（，１、−ｔ”−／）処ｊＩＰ装Ｐ７１４
内のメ七り１４ Ｍに格納される１３ 次に、ｉ：Ｑ側副ｊ１１１回路１０は、第２回「］のｉ
！ １ｌｔ１１をり１１ツクパルスｃ］）２が発生した
タイミング、即ら回転角１α３３（じのタイミングＣ１
第７図（ｌ］）に示すＪ、うに高周波パルスＰ１を照０
（りることにより間Ｗｒ リル、、 コ’７） ｉ！ｌ
１ｌｌｌ ニＪ、’） ４’＝ｊ ラｈ タｌ” Ｉ
Ｄ （Ｕ ｆ’ｉ１− （３０’ ＞ １．ｌＬ、前
記メ七り１４Ｍへ１回目の観、（１す（１′ノ１゛）れ
た１−（０°）ｌこ加えられる。
光量は、光スボツ１〜部分をマーカ１７か通過する１５
二びにイタ化りるため、波形整形回Ｗ８２０からは第７
図（ａ ） ｌ：二、１、（」、ｊ、−）（・二試１′
１０ぐ；、７がご３０゜回ΦＩ、りるｌ：びに１１因の
りＬ」ツクパルスが１５１られ、試１″’ｌ ｊ’Ｊ：
７ Ｌｊ）同り’！＋角度を３）Ｏ°甲１ずｌｃ検出
Ｊることがζ゛さる１゜ 観；Ｉｊｌｌ制御４１１回路１０は、第１回目の観測を
り白ツ勺バ几、４Ｈ１が発生したタイミング、即ち回転
角Ｉ＋’； Ｏ”のターｒミンク（゛、第７図（１））
に承りように一′６周波パルスＰ１を黒用りることによ
り開始りる。１この観測にｊ；す１ｑられたＦＩＤ侶号
信号（０°）（，１、−ｔ”−／）処ｊＩＰ装Ｐ７１４
内のメ七り１４ Ｍに格納される１３ 次に、ｉ：Ｑ側副ｊ１１１回路１０は、第２回「］のｉ
！ １ｌｔ１１をり１１ツクパルスｃ］）２が発生した
タイミング、即ら回転角１α３３（じのタイミングＣ１
第７図（ｌ］）に示すＪ、うに高周波パルスＰ１を照０
（りることにより間Ｗｒ リル、、 コ’７） ｉ！ｌ
１ｌｌｌ ニＪ、’） ４’＝ｊ ラｈ タｌ” Ｉ
Ｄ （Ｕ ｆ’ｉ１− （３０’ ＞ １．ｌＬ、前
記メ七り１４Ｍへ１回目の観、（１す（１′ノ１゛）れ
た１−（０°）ｌこ加えられる。
第３回１１の観測は、全く同様に回転角度６０゜のタイ
ミングで、第４回目の観測は９０°のタイミングで、第
５回目の観測は１２０′の夕、イミングＣ１・・・、第
１２回目の観測は３３０°のタイミングＣ夫々開始され
、夫々の観測ＣＪｒ、ｊられた［ＩＤ（、ｌｉ号Ｆ（６
０°）、Ｆ（９０°）、Ｆ（１２０° ）、 ・・・
、Ｆ（３３０° ）はメモリ１４Ｍ内に積算される。そ
の結果、１２回の観測が終了した時点でメモリ１４Ｍに
格納されている合成［ＩＤ信号はＦ （０°）＋Ｆ （
３０°）→−Ｆ（６０°）＋Ｆ（９０°）＋・・・十Ｆ
＜３００°）＋ｌ” （３３０°）となる。前述し１
（−説明の通り、「（０°）とＦ （１８０’ ）、ｌ
” （３０°）と［（２１０°）、Ｆ（６０°）とＦ
（２４０°）、ｒ１９０°）と１（２７０°）、Ｆ（１
２０°）とＦ 、（３００°）、Ｆ（１５０°）とＦ
（３３０°）の夫々の加粋により、夫々逆相関係にある
好ましくない変調が除去されるため、得られた合成［Ｉ
Ｄ信号は好ましくない変調が高次にまＣ除去され、且つ
積算によりＳＮ比が向上したものとなり、それをフーリ
エ変換して得られたＮ Ｍ Ｒスペりトル（よスビニン
グリイドバンドが高次にで除去され、口つＳＮ比の向上
したものとなる。
ミングで、第４回目の観測は９０°のタイミングで、第
５回目の観測は１２０′の夕、イミングＣ１・・・、第
１２回目の観測は３３０°のタイミングＣ夫々開始され
、夫々の観測ＣＪｒ、ｊられた［ＩＤ（、ｌｉ号Ｆ（６
０°）、Ｆ（９０°）、Ｆ（１２０° ）、 ・・・
、Ｆ（３３０° ）はメモリ１４Ｍ内に積算される。そ
の結果、１２回の観測が終了した時点でメモリ１４Ｍに
格納されている合成［ＩＤ信号はＦ （０°）＋Ｆ （
３０°）→−Ｆ（６０°）＋Ｆ（９０°）＋・・・十Ｆ
＜３００°）＋ｌ” （３３０°）となる。前述し１
（−説明の通り、「（０°）とＦ （１８０’ ）、ｌ
” （３０°）と［（２１０°）、Ｆ（６０°）とＦ
（２４０°）、ｒ１９０°）と１（２７０°）、Ｆ（１
２０°）とＦ 、（３００°）、Ｆ（１５０°）とＦ
（３３０°）の夫々の加粋により、夫々逆相関係にある
好ましくない変調が除去されるため、得られた合成［Ｉ
Ｄ信号は好ましくない変調が高次にまＣ除去され、且つ
積算によりＳＮ比が向上したものとなり、それをフーリ
エ変換して得られたＮ Ｍ Ｒスペりトル（よスビニン
グリイドバンドが高次にで除去され、口つＳＮ比の向上
したものとなる。
尚、１−述した実施例Ｃは、１２回の測定を行ったが、
１次のサイドバンドを除去するだけならば、２回の測定
だ１）ひ良いことは占うまでもない。
１次のサイドバンドを除去するだけならば、２回の測定
だ１）ひ良いことは占うまでもない。
父、上述した実施例（゛はＯ°→３０°→６０’〉・・
・ど順次タイ′ミングをずらしくいったが、どん４ｊ順
序Ｃ↑１ｐ測をおこなっても結果に変化はない、１
・ど順次タイ′ミングをずらしくいったが、どん４ｊ順
序Ｃ↑１ｐ測をおこなっても結果に変化はない、１
第１図は試わ１包の回転ずれを示１図、第２図及び第４
図（、五本発明の詳細な説明りるための波形図、第３３
図は観測シー／７ンスをｄ）明Ｊるための図、−１５図
は本発明の 実施例の構成を示リブＬ」ツク図、第６図
（，１，回転角瓜検出機構の描込を説明りるＩ′−めの
図、ε（’＋７図は−での動作を説明づるための図（ｄ
リ る 。 ／ｌ ： ｌ鍾ｒ’ｉ、！ｉ ： Ｎ Ｍ Ｉ’（−ｆ
ＩＪ −ｌ、７ ： 試料管。 Ｆｌ：試、ｌ’ｉｆ Ｔ＊回転１幾（１１ろ、９：高周
波発振器、１０：観測制御回路、１１：ゲート、 １３：Ａ−１）変換器、１４：データ処理装置、１６−
〇−夕、１７；マーカ、１８：発光素子、１９：光検出
器、２０：波形整形回路。 特許出願人 日本電子株式会社 代表者 伊帥 −夫 減 区
図（、五本発明の詳細な説明りるための波形図、第３３
図は観測シー／７ンスをｄ）明Ｊるための図、−１５図
は本発明の 実施例の構成を示リブＬ」ツク図、第６図
（，１，回転角瓜検出機構の描込を説明りるＩ′−めの
図、ε（’＋７図は−での動作を説明づるための図（ｄ
リ る 。 ／ｌ ： ｌ鍾ｒ’ｉ、！ｉ ： Ｎ Ｍ Ｉ’（−ｆ
ＩＪ −ｌ、７ ： 試料管。 Ｆｌ：試、ｌ’ｉｆ Ｔ＊回転１幾（１１ろ、９：高周
波発振器、１０：観測制御回路、１１：ゲート、 １３：Ａ−１）変換器、１４：データ処理装置、１６−
〇−夕、１７；マーカ、１８：発光素子、１９：光検出
器、２０：波形整形回路。 特許出願人 日本電子株式会社 代表者 伊帥 −夫 減 区
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ｉＩ″ｌ流磁場中で試料を収容した試料管を回転させた
状態ひ該試料に高周波パルスを照射し、照射後試ｔ’ｌ
からの自由誘導減衰信号を検出するようにした核磁気共
鳴装置においＣ１試料管の回転位置を検出４６手段ど、
自由誘導減衰信号を積粋する手段を設り、１）す記検出
手段からの検出信号に基づき、試１′！ｉ管の特定部位
が特定位置にあるタイミングと、該特定部位がぞれから
半回転した位置にあるタイミングの２秤のタイミングで
前記高周波パルス照ａｉｌを行い、該２種のタイミング
の高周波パルス照〔１・ｊに５１．・、 Ｈ１ｒ＋られ
た２ｆ・トの自由誘導減衰（に号を前記（Ｉ′ＩＦｌ一
手段Ｕ′ｌ＋Ｉｉ幹りるようにし！こことを１ｊ徴とり
る４ｈ限気共鳴装買。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58105386A JPS59230147A (ja) | 1983-06-13 | 1983-06-13 | 核磁気共鳴装置 |
| US06/619,005 US4628263A (en) | 1983-06-13 | 1984-06-11 | Nuclear magnetic resonance spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58105386A JPS59230147A (ja) | 1983-06-13 | 1983-06-13 | 核磁気共鳴装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59230147A true JPS59230147A (ja) | 1984-12-24 |
| JPH034113B2 JPH034113B2 (ja) | 1991-01-22 |
Family
ID=14406217
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58105386A Granted JPS59230147A (ja) | 1983-06-13 | 1983-06-13 | 核磁気共鳴装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59230147A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6413444A (en) * | 1987-07-08 | 1989-01-18 | Hitachi Ltd | Nuclear magnetic resonance apparatus |
| JPH04231886A (ja) * | 1990-05-10 | 1992-08-20 | Spectrospin Ag | 核磁気共鳴スペクトルで望ましくない側波帯を補償する方法とその装置 |
-
1983
- 1983-06-13 JP JP58105386A patent/JPS59230147A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6413444A (en) * | 1987-07-08 | 1989-01-18 | Hitachi Ltd | Nuclear magnetic resonance apparatus |
| JPH04231886A (ja) * | 1990-05-10 | 1992-08-20 | Spectrospin Ag | 核磁気共鳴スペクトルで望ましくない側波帯を補償する方法とその装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH034113B2 (ja) | 1991-01-22 |
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