JPS59224513A - 光学式リニアエンコ−ダ - Google Patents

光学式リニアエンコ−ダ

Info

Publication number
JPS59224513A
JPS59224513A JP9896083A JP9896083A JPS59224513A JP S59224513 A JPS59224513 A JP S59224513A JP 9896083 A JP9896083 A JP 9896083A JP 9896083 A JP9896083 A JP 9896083A JP S59224513 A JPS59224513 A JP S59224513A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
scale
spot
linear encoder
optical linear
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9896083A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Nishi
西 和郎
Koichi Yamada
康一 山田
Seio Watanabe
渡辺 勢夫
Mutsuo Hirai
平井 睦雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP9896083A priority Critical patent/JPS59224513A/ja
Publication of JPS59224513A publication Critical patent/JPS59224513A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/347Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales
    • G01D5/34707Scales; Discs, e.g. fixation, fabrication, compensation
    • G01D5/34715Scale reading or illumination devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、移動台等の移動変位量を光学的に検出する
リニアエンコーグに関するものである。
従来この種の光学式リニアエンコーダとしては、第1図
に示すものがあった。第1図は従来の光学式リニアエン
コーダの構成を示す斜視図である。
図において、lは発光ダイオード、う/グ等の光源、2
は光源1から放射した光をほぼ平行にするだめのレンズ
、3は移動台(図示しない)に取付けられ、図の矢印方
向に移動する・ぞルススケール、4はノクルススケール
3に等ピッチで刻まれた明暗格子縞、5はノヤルススケ
ール3と同様な明暗格子縞が刻まれた固定インデックス
スケール、6は受光素子である。
次に、上記第1図の動作について説明する。光源1から
放射した光は、レンズ2によりほぼ平行光に変換され、
zfルススケール3に入射する。Aルススケール3を透
過した光は、このパルススケール3の明暗格子縞4に対
応した明暗の光強度分布を持チ、固定インデックススケ
ール5に入射する。固定インデックススケール5を透過
した光の強度は、・ぐルススケール3の透過光の明部が
固定インデックススケール5の明部と重つだ時に最大と
なり、その明部と重った時に最小となる。この様にして
変調された固定インデックススケール5の透過光は、受
光素子6に入射し、電気信号に変換される。移動台の移
動によシ、・母ルススケール3が図の矢印方向に移動す
ると、その透過光の明暗分布も平行移動し、その結果、
第2図(、)に示す様な正弦波状の波形を有する出力電
圧信号が得られる。この出力電圧信号の周期は、パルス
スケール3の明暗格子縞4の周期と一致しており、舖2
図(b)に示す様に波形整形したり、また、第2図(C
)に示す様にパルス化したりした後、この・?ルス数を
計数することにより、移動台の移動変位量を検出するこ
とができる。
一般に、光学式リニアエンコーダからの出力は、単一の
出力で用いられることは少ない。固定インデックススケ
ール5に2群又は3群の明暗格子縞を設け、90°位相
の異なる2相のメイン信号又は3相信号(2相のメイン
信号とゼロ信号)を出力する。この様に構成すると、各
メイン信号相互の位相関係を検出することにより、移動
方向の判別が可能となる。さらに、第2図(c)に示す
様に出力電圧信号をパルス化した後、その立上り及び立
下り部分を計数することによシ、検出分解能を4倍程度
まで高くすることができる。
従来の光学式リニアエンコーダは以」二の様に構成され
ているので、発生する・臂ルス数を増加する場合、ノタ
ルススケール3及び固定インデックススケール5の各明
暗格子縞4のピッチが小さくなり、光の回折現象の影響
により、スケール間隔を上記ピッチに対応して小さくす
る必要がある。例えば、ピッチを10μmにした時、ス
ケール間隔は約0.1瓢程度にしなければならず、かつ
配置精度は10μm以下に抑える必要がある。したがっ
て、その組立、調整が非常に困難になるという欠点があ
った。
この発明は上記の様な従来のものの欠点を除去するため
になされたもので、直線変位量を検出する光学式リニア
エンコーダにおいて、ノクルススケールと、半導体レー
ザと、この半導体レーザからのレーデ光を所定のスポッ
ト光の径に集光し、前記パルススケールの面上に照射す
る第1の光学系と、このパルススケールからの透過光又
は反射光を受光する第2の光学系と、受光素子とを備え
て成る構成を有し、簡単に組立、調整ができ、高い分解
能を有する光学式リニアエンコーダを提供することを目
的としている。
以下、この発明の実施例を図について説明する。
第3図はこの発明の一実施例である光学式リニアエンコ
ーダの構成を示す斜視図で、第1図と同一部分には同一
符号を用いて表示してあり、その詳細な説明な省略する
。7は光源である半導体レーザ、8は半導体レーデ7か
ら放射したレーザ光を平行にするコリメータレンズ、9
はコリメータレンズ8によりへ平行にされたレーザ光を
集光する集光レンズ、10は集光レンズ9により集光さ
れた円形のスポット光である。スポット光10は、その
直径を・母ルススケール3の明暗格子縞4のピッチのμ
以下に選び、かつ)4ルススケ一ル30面上にある様に
構成する。
次に、上記第3図の動作について説明する。半導体レー
ザ7から放射されたレーデ光は、コリメータレンズ8に
よって平行光に変換される。この平行光は集光レンズ9
により集光され、ノクルススケール3の面上に所定の大
きさの円形のスポット光10を作る。ノ4ルススケール
3が図の矢印方向に移動した時、パルススケール3の透
過光強度は、スポット光10がノやルススケール3の明
暗格子縞4の明部に入射した時に最大となり、その暗部
に入射した時に最小となる。この様な変調を受けた/’
?ルススケール3の透過光は、受光素子6に入射し、電
気信号に変換され、第2図(11)に示したものと同様
な出力電圧信号が得られる。以下、上記した従来の場合
と同様にして、移動台の移動変位量を検出することがで
きる。
上記第3図に示す実施例では、パルススケール3の透過
光を検出する場合について説明したが、ノ4ルススケー
ル3の反射光を検出しても良い。第4図にその概略構成
図を示す。図に示す様に、スポット光10として、パル
ススケール3に入射したレーザ光は、このパルススケー
ル30面上で反射され、・fルススケール3の明暗格子
縞4の明暗によって反射強度が変化する。この反射光の
一部を、ハーフミラ−11vCよって光路を変え、レン
ズ12により受光素子6に集光し、検出する様にしたも
のである。なお、図中、半導体レーザ7゜コリメータレ
ンズ8及び集光レンズ9は、上記第3図に示すものと同
一である。
また、上記第4図に示す実施例では、ノー−7ミラー1
1を用いた場合について説明したが、半導体レーザ7か
らのレーデ光の偏光特性、すなわち直線偏光を利用して
、偏光ビームスプリッタと4分の1波長板を用いても良
い。第5図にその概略構成図を示す。図に示す様に、第
4図に示すノー−7ミラー11の代りに、偏光ビームス
グリツタ14することによシ、レーデ光の入射光と反射
光との偏光方向を直交させることができるため、偏光ビ
ームスグリツタ14によって光強度の損失をはとんど受
けることなく、反射光の光路を変えることができる。そ
の他の構成部品罠ついては、第4図に示すものと同様で
ある。
また、上記各実施例では、いずれもコリメータレンズ8
及び集光レンズ9を用いてスポット光10を作る場合に
ついて説明したが、半導体レーザ7の発光点とノ!ルス
スケール30面とが結像関係を満足する様にすれば、他
の構成であっても良い。
また、上記各実施例では、集光したスポット光10の形
状は、円形の場合について説明したが、第6図に示す様
にだ円形にしても良い。第6図に示すだ円形のスポット
光15では、その長径が/4’ルススケール3の明暗格
子縞4の長手方向に向く様にすると、明暗格子縞4にキ
ズ16があった場合に、円形のスポット光10に比べて
、だ円形のスポット光150面積に占めるキズ16の面
積比が小さくなるため、だ円形のスポット光15による
と、再生信号に与えるキン16の影響を小さくできる。
しかして、ノソルススケール3の明暗格子縞4に生じる
キズ16を少なくするために、ノ母ルススケール3の表
面に、合成樹脂(PMMA、、I?リカーゼネート等)
の保護層を設けると良い。
さらに、上記各実施例で、エンコーダとして、ロータリ
エンコーダが用いられる場合には、゛このロータリエン
コーダは高温で使用される可能性があるので、温度に弱
い半導体レーデ7を熱源から離れたところに置き、・や
ルススケール3かもの信号を検知する光学系とを光ファ
イtZで接続しても良い。
以上の様に、この発明の光学式リニアエンコーダによれ
ば固定インデックススケールを用いることなく、半導体
レーデからのレーデ光を所定のスポット光の径に集光し
、このスポット光の径を用いて・ぐルススケールから信
号を読み出す様に構成したので、極めて簡単に組立、調
整ができると共に、非常に高い分解能を有する光学式リ
ニアエンコーダが得られるという優れた効果を奏するも
のである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の光学式リニアエンコーダの構成を示す斜
視図、第2図(→ないしくC)は、第1図の光学式リニ
アエンコーダの動作態様を説明するだめの信号波形図、
第3図はこの発明の一実施例である光学式リニアエンコ
ーダの構成を示す斜視図、第4図及び第5図は、この発
明の他の実施例である光学式リニアエンコーダを示す各
概略構成図、第6図はこの発明の光学式リニアエンコー
ダに適用されるスポット光の動作態様を示す説明図であ
る。 図において、1・・・光源、2.12・・・レンズ、3
−−− ノクルススケール、4・・・明暗格子縞、5・
・・固定インデックススケール、6・・・受光素子、7
・・・半導体レーザ、8・−・コリメータレンズ、9・
・・集光レンズ、10.15・・・スポット光、tt・
・・ノー−7ミラー、13・・・4分の1波長板、14
・・・偏光ビームスプリッタ、16・・・キズである。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大君 増雄 第1図 第2図 一ヤ吟藺 第3図 第4図 第6図 蚤 5

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)直線変位量を検出する光学式リニアエンコーダに
    おいて、パルススケールと、半導体レーザと、該半導体
    レーザからのレーザ光を所定のスポット光の径に集光し
    、前記パルススケールの面上に照射する第1の光学系と
    、該パルススケールからの透過光又は反射先金受光する
    第2の光学系と、受光素子とを備えて成ることを特徴と
    する光学式リニアエンコーダ。
  2. (2)前記レーザ光を集光したスポット光の径は、円形
    であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光
    学式リニアエンコーダ。
  3. (3)前記レーザ光を集光したスポット光の径は、だ円
    形であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    光学式リニアエンコーダ。
  4. (4)前記パルススケールの表面には、合成樹脂からな
    る保護層を有することを特徴とする特許請求の範囲第1
    項ないし第3項記載の光学式リニアエンコーダ。
JP9896083A 1983-06-03 1983-06-03 光学式リニアエンコ−ダ Pending JPS59224513A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9896083A JPS59224513A (ja) 1983-06-03 1983-06-03 光学式リニアエンコ−ダ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9896083A JPS59224513A (ja) 1983-06-03 1983-06-03 光学式リニアエンコ−ダ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59224513A true JPS59224513A (ja) 1984-12-17

Family

ID=14233640

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9896083A Pending JPS59224513A (ja) 1983-06-03 1983-06-03 光学式リニアエンコ−ダ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59224513A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2565589A4 (en) * 2010-04-30 2017-05-31 Olympus Corporation Optical potentiometer and operating device
CN107462168A (zh) * 2017-08-31 2017-12-12 广东工业大学 一种新型阵列光电传感器光栅位移检测系统及方法
CN109931965A (zh) * 2017-12-19 2019-06-25 财团法人工业技术研究院 光学编码器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2565589A4 (en) * 2010-04-30 2017-05-31 Olympus Corporation Optical potentiometer and operating device
CN107462168A (zh) * 2017-08-31 2017-12-12 广东工业大学 一种新型阵列光电传感器光栅位移检测系统及方法
CN109931965A (zh) * 2017-12-19 2019-06-25 财团法人工业技术研究院 光学编码器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4970388A (en) Encoder with diffraction grating and multiply diffracted light
US4677293A (en) Photoelectric measuring system
SU1450761A3 (ru) Устройство дл измерени относительных перемещений двух объектов
US5059791A (en) Reference position detecting device utilizing a plurality of photo-detectors and an encoder using the device
US5483059A (en) Signal processing method using comparator level adjustment in a displacement measuring device
JPH0697171B2 (ja) 変位測定装置
CA1163094A (en) Interferometer
KR950001277A (ko) 변이의 측정방법 및 측정장치
JPS6287815A (ja) 光学トランスジユ−サ素子及び該素子を具える変位測定装置
US5424833A (en) Interferential linear and angular displacement apparatus having scanning and scale grating respectively greater than and less than the source wavelength
JPH063167A (ja) エンコーダー
JPH0623662B2 (ja) 位置測定装置
JPS63231217A (ja) 移動量測定装置
US5506681A (en) Method for detecting a reference position and displacement detector using the same
US5017777A (en) Diffracted beam encoder
JPS59224513A (ja) 光学式リニアエンコ−ダ
JPS6155047B2 (ja)
JPS62200225A (ja) ロ−タリ−エンコ−ダ−
JPH06174424A (ja) 測長または測角装置
JP2715623B2 (ja) エンコーダ
JP2718439B2 (ja) 測長または測角装置
JP3392898B2 (ja) 格子干渉型変位測定装置
JPS62204126A (ja) エンコ−ダ−
JPH0411807B2 (ja)
SU1661571A1 (ru) Устройство дл измерени профил отражающей поверхности