JPS5922169B2 - Device that automatically determines the concentration of unknown substances - Google Patents

Device that automatically determines the concentration of unknown substances

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JPS5922169B2
JPS5922169B2 JP55012117A JP1211780A JPS5922169B2 JP S5922169 B2 JPS5922169 B2 JP S5922169B2 JP 55012117 A JP55012117 A JP 55012117A JP 1211780 A JP1211780 A JP 1211780A JP S5922169 B2 JPS5922169 B2 JP S5922169B2
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filter
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test
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マツクス・デビス・リストン
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は試験試料中の未知物質の濃度の自動測定装置に
関するものであり、特に2波長−2元フイルタリングと
それを達成させるための回転デイスク型フイルタ組立体
に特徴を有する上記装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an automatic measuring device for the concentration of an unknown substance in a test sample, and is particularly characterized by two-wavelength-dual filtering and a rotating disk type filter assembly for achieving the same. The present invention relates to the above-mentioned device having the following features.

本発明の装置は下記(4)〜(3)の構成要素から成り
、特に(有)の構成要素を主要な特徴とするものである
The apparatus of the present invention consists of the following components (4) to (3), and particularly has the following component as a main feature.

(4)対応するフイルタの済過によつてそれぞれ第1お
よび第2の波長の光を与える単一光源(該第1の波長の
光は未知物質によつて吸収されるものである)、(B)
第1および第2の波長の光を検出してその光の強度に比
例した電気信号を生ぜしめる検出装置、(C)第1およ
び第2の波長の光に対して透明な試験試料ホルダー、(
自)中心軸のまわりを回転することができ内部の同心円
環状部分にそつて等間隔に4個のスロツトをもつ回転デ
イスク:およびこの回転デイスクのスロツトのそれぞれ
に嵌合していて、円弧で互に1800だけ置き換えられ
ている1対のフイルタ部材L,,L1と該1対のフイル
タ部材のそれぞれに対してそれぞれ900だけ間隔をお
いて配置され且つ円弧で互に180°だけ置き換えられ
ている別の2対のフイルタ部材(L2,L2とL3,L
3:各組のL2とL3は同一スロツト中にありL2とL
3は同種または異種でありうる)からなり:試験位置に
おいて該1対のフイルタ部材L1,L,のうちの1つの
フイルタ部材が光源からの第1の波長の光を回転デイス
クの下方から上方へ通過させて試験試料ホルダーへ指向
させ、且つ該1対のフイルタ部材L,,L1のうちの他
方のフイルタ部材が試験試料ホルダーを通過した第1の
波長の光を回転デイスクの上方から下方へ通過させて検
出装置へ指向させ、そして上記の位置から90°だけ回
転デイスクを回転させた基準位置において上記の別の2
対のフイルタ部材のうちの1つのフイルタ部材L2,L
3の少なくとも1要素(L2またはL,)が光源からの
第2の波長の光を回転デイスクの下方から上方へ通過さ
せて試験ホルダーへ指向させ、且つ上記の別の1対のフ
イルタ部材のうちの他方のフイルタ部材の少なくとも1
要素(L2またはL3)が試験試料ホルダーを通過した
第2の波長の光を回転デイスクの上方から下方へ通過さ
せて検出装置へ指向させるように配置して成るフイルタ
組立体、(E)光源からの光を試験試料に指向させる装
置および光を試験試料から検出装置に指向させる装置、
(Dフイルタ組立体を上記の試験位置と基準位置との間
を移動させるための回転デイスクに取付けた回転装置、
および(9上記の検出装置からの電気信号をデジタル信
号に変えるアナログ・デジタル変換装置、からなること
を特徴とする装l 2波長吸光分析に関する従来技術においては、光源から
の光が試験試料に入る前にのみフイルタが配置され、フ
イルタを通過した後の光が試験試料に入つた後に更にフ
イルタが配置されることはなかつた。
(4) a single light source that provides light of a first and second wavelength, respectively, through the passage of corresponding filters, the first wavelength of light being absorbed by the unknown substance; B)
(C) a test sample holder transparent to the first and second wavelengths of light;
Auto) A rotating disk that can rotate around a central axis and has four slots equally spaced along an internal concentric ring portion: and a rotating disk that fits into each of the slots of this rotating disk and that rotates around an arc. A pair of filter members L, , L1 are replaced by 1800 degrees, and another pair of filter members L, L1 is spaced apart from each other by 900 degrees, and is replaced by 180 degrees with respect to each other in an arc. Two pairs of filter members (L2, L2 and L3, L
3: L2 and L3 of each pair are in the same slot, and L2 and L3 are in the same slot.
3 may be of the same type or different types): in the test position, one filter member of the pair of filter members L1, L, directs light of a first wavelength from the light source from below to above the rotating disk. and the other filter member of the pair of filter members L, L1 passes the light of the first wavelength that has passed through the test sample holder from above to below the rotating disk. and point it at the detection device, and at the reference position where the rotary disk is rotated by 90° from the above position, the other two
One filter member L2, L of the pair of filter members
at least one element (L2 or L,) of said another pair of filter members for directing light of a second wavelength from the light source from below to above the rotating disk and onto the test holder; at least one of the other filter members of
(E) a filter assembly comprising an element (L2 or L3) arranged to direct light of a second wavelength that has passed through the test sample holder from above the rotating disk to below the rotating disk; (E) from the light source; a device for directing light from the test sample to a detection device;
(a rotating device mounted on a rotating disk for moving the D filter assembly between the test position and the reference position;
and (9) an analog-to-digital converter that converts the electric signal from the above-mentioned detection device into a digital signal. A filter was placed only before, and no further filters were placed after the light after passing through the filter entered the test sample.

そのためこの種の従来技術では吸光分析の妨げとなる2
種の光すなわち(1)光源から散乱した光および(2)
分析機器とは別の環境たとえば昼間室内光、が分析系に
まぎれこむ割合が多かつた。他方、単一波長吸光分析に
おいて試験試料の前後にフイルタを配置すること(すな
わち単一波長一2元フイルタリング)が行なわれること
はあつたが、このような方法を2波長吸光分析に利用し
ようとすれば試験位置から基準位置への移行またはその
逆の移行には1対のフイルタを除いて別の1対のフイル
タを新たに挿入するという煩雑な作業が必要となる。本
発明の目的は従来の2波長吸光分析(1元フイルタリン
グ)に伴なう上記の欠点をなくすと共に、自動的にフイ
ルタの切換えを行なうようになした2波長−2元フイル
タリング機構の分析装置を提供することにある。
Therefore, with this type of conventional technology, absorption analysis is hindered.
Seed light: (1) light scattered from the light source and (2)
In many cases, environments other than the analytical equipment, such as daytime indoor light, were mixed into the analytical system. On the other hand, in the case of single-wavelength absorption analysis, filters were sometimes placed before and after the test sample (i.e., single-wavelength, binary filtering); If this is the case, moving from the test position to the reference position or vice versa requires the complicated work of removing one pair of filters and inserting another pair of filters. The purpose of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks associated with conventional two-wavelength absorption analysis (one-factor filtering), and to analyze a two-wavelength/two-factor filtering mechanism that automatically switches filters. The goal is to provide equipment.

本発明の装置によれば、吸光分析の妨げとなる上記の光
が分析系特に検出装置に到達する割合がその強度の自乗
で減衰する(たとえば上記のまぎれこんだ光のO.1%
が第1フイルタを通過しても第2フイルタの存在のため
にO.1%XO.1%=0.0001(fl)の光が検
出装置に到達するにすぎない。
According to the apparatus of the present invention, the proportion of the above-mentioned light that interferes with absorption analysis reaching the analysis system, particularly the detection device, is attenuated by the square of its intensity (for example, 0.1% of the above-mentioned mixed light
Even if it passes through the first filter, O. 1%XO. Only 1%=0.0001 (fl) of light reaches the detection device.

その結果として、本発明によれば分析機器を密閉した暗
室環境で操作する必要が全くなくなり、試験試料ホルダ
ーは室内光の下でも操作しうる。また、本発明によれば
2元フイルタリングは回転デイスクの回転によつて切換
が可能(1対のフイルタを除いて別の1対のフイルタを
新たに挿入するという操作を必要としない)ため、自動
測定を行なうことができる。なお、本発明の主要な特徴
部分であるフイルタ組立体は1対のフイルタ部材Ll,
Llと別の2対のフイルタ部材(L2,L2とL3,L
3)として示してあるが、後者は各組のL2とL3とが
同一スロツトにあり、L2とL3とは同種または異種で
ありうる。
As a result, the invention eliminates any need to operate the analytical instrument in a closed dark room environment, and the test sample holder can also be operated under room light. Furthermore, according to the present invention, the binary filtering can be switched by rotating the rotary disk (there is no need to remove one pair of filters and insert another pair of filters). Automatic measurements can be taken. The filter assembly, which is the main feature of the present invention, includes a pair of filter members Ll,
Ll and two other pairs of filter members (L2, L2 and L3, L
3), but in the latter case, L2 and L3 of each set are in the same slot, and L2 and L3 can be of the same type or of different types.

同種の場合はL2とL3とが1つのフイルタを構成する
こともできる。いずれの場合も2波長一2元フイルタリ
ングの機構と作用効果は以上のように説明することがで
きる。次に図面を参照して本発明を更に具体的に説明す
る。
In the case of the same type, L2 and L3 can also constitute one filter. In either case, the mechanism and effects of two-wavelength one-dual filtering can be explained as above. Next, the present invention will be explained in more detail with reference to the drawings.

以下にはつぼ(キユベツト:試験試料ホルダーの好まし
い具体例)、力ローセル(回転体)、デイスペンサ、デ
イスペンサの操作、分析装置、および処理回路の項目を
つけてそれぞれ説明してあるが、本発明の主要な特徴は
分析装置なる項目の下で第5図および第20図〜第22
図を参照しての説明から最も良く理解されるであろう。
然し本発明の装置の全体を完全に理解するためには以下
の全記載が参照されることが好ましい。つぼ: 第1図から第4図を参照すると、つぼ30は32の区画
室を備えており、これら区画室の中で32の個別の化学
試験体が分析されるため混合され保持される。
Below, the following items are explained with reference to a cuvette (preferred specific example of a test sample holder), a force row cell (rotating body), a dispenser, an operation of the dispenser, an analytical device, and a processing circuit. The main features are shown in Figures 5 and 20 to 22 under the heading Analyzer.
It will be best understood from the description with reference to the figures.
However, for a complete understanding of the apparatus of the present invention, reference is preferably made to the entire description below. Vase: Referring to FIGS. 1-4, the vase 30 includes 32 compartments in which 32 individual chemical test specimens are mixed and held for analysis.

このつぼはローム・アンド・ハウス・プレキシグラス(
ROhmandHaasPlexiglas)V(81
1)−100UVTのごとき紫外線を伝達するアクリル
系プラスチツク材料により一体的に形成されている。こ
の材料には多数の利点を有していることが分つた。これ
は比較的安価であり、従つて、つぼは使用後処分するこ
とができる。加えて、前記のアクリル系プラスチツクは
紫外線を伝達するための優れた光学的性質を有している
。この性質は他のアクリル系プラスチツクにはみられな
いものである。第2図から第4図を参照すると、つぼ3
0は内面34と外面36とを備えた傾斜した内壁32を
有している。
This vase is made of Roam and House Plexiglas (
ROhmandHaasPlexiglas)V(81
1) It is integrally formed of an acrylic plastic material that transmits ultraviolet light such as -100 UVT. This material has been found to have a number of advantages. This is relatively inexpensive and the vase can therefore be disposed of after use. In addition, the acrylic plastics have excellent optical properties for transmitting ultraviolet light. This property is not found in other acrylic plastics. Referring to Figures 2 to 4, pot 3
0 has a sloped inner wall 32 with an inner surface 34 and an outer surface 36.

つぼ30はまた内面42と外面44とを備えた傾斜外壁
40を有している。側壁32と40はそれぞれ垂直面か
ら15度の角度で傾斜している。この角度は試験流体が
つぼ内に排出される時に試験流体がつぼからはねでるの
を防ぐため最少限度、必要なものであることがわかつた
。つぼ30の他の部分は円筒状カラー50から成り、こ
れは上方縁部52、下方縁部54、および中心軸56を
備えている。カラー50は、空気を通過させる通風開口
55を区画する。さらに、つぼ30は図示のように、外
方側壁40に取り付けられた位置決め唇部92を有して
いる。
The vase 30 also has an angled outer wall 40 with an inner surface 42 and an outer surface 44. Side walls 32 and 40 are each angled at an angle of 15 degrees from the vertical. This angle was found to be the minimum necessary to prevent the test fluid from splashing out of the reservoir as it was discharged into the reservoir. The other part of the vase 30 consists of a cylindrical collar 50 having an upper edge 52, a lower edge 54, and a central axis 56. Collar 50 defines ventilation openings 55 through which air passes. Additionally, the vase 30 has a locating lip 92 attached to the outer side wall 40 as shown.

唇部92は、夫々の間で等分に間隔を置いて区画室の半
径方向中心線に沿つて位置された切欠きたとえば94,
96を有している。スペーサ58は側壁と一体となつて
耐水性に形成され32個の区画室60−91を形成して
いる。
The lips 92 include notches, e.g. 94, located along the radial centerline of the compartment, equally spaced therebetween.
It has 96. The spacer 58 is integrally formed with the side wall to be waterproof and forms 32 compartments 60-91.

これら区画室は円をなす線に沿つて配置されている。夫
々のスペーサの下方部分は2つの部分57,59に分け
られて区画室の夫々を空気空間53により分けている。
このような特徴により数個のつぼを互に上部に置くこと
が可能となり、これによつて、貯蔵のために必要な空間
を減少できる。加えて、この空気空間により加熱装置の
流体が夫々の区画室の周りを別々に通れるようにし、そ
れによつて試験体の温度を高めるに必要な時間を減少す
る。この特徴は後で詳細に記載する。区画室の夫々は被
分析試験体を保持するようになつている。夫々の区画室
の下方部分は、耐水的方法で隣接のスペーサ及び側壁と
一体的に形成されている底壁と嵌合している。好例の底
壁48は彎曲している上方面49を有し、これは流体を
区画室内へ噴入させた時に旋回運動を起させて混合を容
易にする。区画室60−91の夫々は同一であり、これ
は第3図に示す67と83の好例から理解できる。区画
室83は前記の側壁と底壁とを備えている。加えて、区
画室83は平坦な平面部分98と100を有しこれによ
り窓部38を形成している。同様に、区画室67は前記
の側壁と底壁とを備えている。加えて、区画室67は平
坦な平面部102と104を有しこれにより窓部46を
形成する。部分98,100は互に平行な対向平面部材
であることに注意すべきである。同様に、部分102,
104も、互にかつ部分98,100に平行な対向平面
部材である。第2図から第4図にみられるように、窓部
を形成している平坦な平面部分は共通平面内にあつて底
壁および側壁と一体的に形成されている。側壁32およ
び40はそれぞれ厚さが0.040インチで、平面部分
98と100との間および平面部分102と104との
間の距離は共に丁度1センチメートルである。後で詳し
く述べるように、この窓部分の配置により他の装置に用
いられている試験管つぼにはみられないような輻射エネ
ルギ分析ビームに対する正確な通路長さが与えられる。
さらに、つぼ全体は比較的安価なプラスチツクで作られ
ているので、一度使用したら処分でき、従つて前回の使
用によるまたは不適当な洗浄によるその汚染が防止され
る。つぼを処分できることはきわめて重要である。何故
なら、前のサンプルを貫流型つぼから洗浄するために大
量の試薬を用いる必要がなくなるからである。ここに記
載されたつぼを用いることにより、同じ区画室を反応室
および輻射エネルギ分析室として用い、これによつて作
業の経済化を図り、装置をよりコンパクトにすることが
できる。力ローセル(回転体):第1図および第5図か
ら第7図を参照すると、力ローセル110はプラツトフ
オーム台114,115を支持する円筒状基礎部材11
2を備える。
These compartments are arranged along lines forming a circle. The lower part of each spacer is divided into two parts 57, 59 separating each of the compartments by an air space 53.
Such a feature allows several pots to be placed on top of each other, thereby reducing the space required for storage. In addition, this air space allows the fluid of the heating device to pass around each compartment separately, thereby reducing the time required to raise the temperature of the specimen. This feature will be described in detail later. Each of the compartments is adapted to hold a specimen to be analyzed. The lower portion of each compartment fits in a waterproof manner with a bottom wall that is integrally formed with the adjacent spacer and side walls. The exemplary bottom wall 48 has a curved upper surface 49 that creates a swirling motion to facilitate mixing as fluid is injected into the compartment. Each of the compartments 60-91 are identical, as can be seen from the exemplary embodiments 67 and 83 shown in FIG. Compartment 83 includes the aforementioned side walls and a bottom wall. In addition, the compartment 83 has flat planar portions 98 and 100 thereby forming the window 38. Similarly, the compartment 67 has the aforementioned side walls and a bottom wall. In addition, compartment 67 has flat planar portions 102 and 104 thereby forming window portion 46 . It should be noted that portions 98, 100 are opposed planar members that are parallel to each other. Similarly, portion 102,
104 are also opposed planar members parallel to each other and to portions 98, 100. As seen in FIGS. 2 to 4, the flat planar portion forming the window is in a common plane and integrally formed with the bottom wall and the side walls. Sidewalls 32 and 40 are each 0.040 inch thick, and the distances between planar portions 98 and 100 and between planar portions 102 and 104 are both exactly one centimeter. As will be discussed in more detail below, this window arrangement provides a precise path length for the radiant energy analysis beam not found in test tube urns used in other devices.
Furthermore, since the entire vase is made of relatively inexpensive plastic, it can be disposed of after a single use, thus preventing its contamination from previous use or from improper cleaning. Being able to dispose of the pot is extremely important. This is because there is no need to use large amounts of reagents to wash previous samples from the flow-through flask. By using the crucible described here, the same compartment can be used as a reaction chamber and a radiant energy analysis chamber, thereby making the work more economical and making the apparatus more compact. Force Row Cell (Rotating Body): Referring to FIGS. 1 and 5 to 7, the force row cell 110 is a cylindrical base member 11 that supports platform bases 114, 115.
2.

プラツトフオーム114は円筒状支持柱116を支え、
この柱116の中を通つてフアン118により冷却用の
空気を循環させる。円筒状外側柱120は柱116の上
部により担持されている。加熱装置122は一般的にト
ロイド状浴室124を備え、この室は円筒状内壁126
および円筒状外壁128とから成る中空受け部125に
より形成されている。
Platform 114 supports cylindrical support columns 116;
Cooling air is circulated through the column 116 by a fan 118. A cylindrical outer post 120 is carried by the top of post 116. The heating device 122 generally includes a toroidal bath 124, which chamber has a cylindrical inner wall 126.
and a cylindrical outer wall 128.

壁部126は柱120と一体的に形成されている。壁部
126および128はアルミニウムまたは銅のごとき良
熱伝導材料により作られている。以下に記載される分析
装置に適合するように輻射エネルギを容易に通す窓は壁
126と128に位置される。浴室124は第5図に示
すようにレベルAまで水が満されている。水はヒータ要
素129により既定の温度まで加熱されており、このヒ
ータ要素はサーミスタ131および手動調節可能な制御
スイツチ(図示してない)により制御される。第5図に
示すように、試験体をつぼの区画室内で既定の温度に保
持するために加熱器が用いられている。前記のように、
つぼ区画室は分離されていて加熱装置122の水が夫々
の試験体に近接して自由に流れるようになつている。こ
のように配置することにより、試験体の温度をより早く
高め、かつ試験体を従来可能とされていたよりもより均
一な温度に保持することができる。さらに第1図および
第5図を参照すると、力ローセル110は可動の位置決
めプラツトフオーム130を備えており、このプラツト
フオームは円筒状スカート部132および環状試験管係
止具134を備えている。
The wall portion 126 is integrally formed with the column 120. Walls 126 and 128 are made of a good thermally conductive material such as aluminum or copper. Windows are located in walls 126 and 128 that readily transmit radiant energy to accommodate the analytical equipment described below. Bathroom 124 is filled with water to level A as shown in FIG. The water is heated to a predetermined temperature by heater element 129, which is controlled by a thermistor 131 and a manually adjustable control switch (not shown). As shown in FIG. 5, a heater is used to maintain the specimen at a predetermined temperature within the chamber of the vase. As mentioned above,
The crucible compartments are separated to allow water in the heating device 122 to flow freely in close proximity to each test specimen. This arrangement allows the temperature of the specimen to be raised more quickly and to maintain the specimen at a more uniform temperature than previously possible. Still referring to FIGS. 1 and 5, the force row cell 110 includes a movable positioning platform 130 that includes a cylindrical skirt 132 and an annular test tube stop 134. .

この係止具は水平リング部材136から成り、このリン
グ部材には一般的に符号138で指示されている32の
試験管を受け入れる穴が設けられている。ここには好例
として試験管140,141が示されている。試験管の
各々はそれぞれ対応するつば区画室に共通な半径に沿つ
て配置されている。係止具はまた垂直な環状係止具14
2を備えている。本発明の好個の実施例によれば、試験
管は、化学サンプルが分析用試験体を形成するため適当
な試薬と混合される前に、化学サンプルを保持するため
に用いられる。これらの試験管は、たとえばクリツプ1
43,144のごとき弾性スプリングクリツプによつて
係止具142に対して押圧されている。これらクリツプ
はスカート部132に取り付けられている。位置決めプ
ラツトフオーム130はまた突出環状部分146を備え
、この環状部分146はその下側に戻り止めを有する円
形位置決め部材148を担持している。前記部材148
は各試験管および対応するつぼ区画室に対向して一つの
戻り止めを備えており、これにより各々の試験体は分析
工程中に、既定の分析位置に正確に位置することができ
る。位置決めプラツトフオーム全体は図示せざる方法で
回動自在にプラツトフオーム115に取り付けられてい
る。つぼ30の唇部92の切欠きと共働する案内149
,150をプラツトフオーム130の内縁に取り付ける
。これらの案内を使用することにより、つぼはプラツト
フオーム上に正確に位置し、このプラツトフオームと一
諸に回動できるようになる。円筒状スカート部132は
32組の5つのコード孔を備えており、これらの孔は各
つぼ区画室から延長する半径方向の線に近接して穿設さ
れている。
The fixture consists of a horizontal ring member 136 that is provided with holes, generally designated 138, for receiving thirty-two test tubes. Test tubes 140, 141 are shown here as a good example. Each of the test tubes is disposed along a common radius with its respective collar compartment. The locking device is also a vertical annular locking device 14.
2. According to a preferred embodiment of the invention, the test tube is used to hold a chemical sample before it is mixed with suitable reagents to form a specimen for analysis. These test tubes are, for example, clip 1
It is urged against the catch 142 by resilient spring clips such as 43 and 144. These clips are attached to skirt portion 132. The positioning platform 130 also includes a projecting annular portion 146 carrying a circular positioning member 148 with a detent on its underside. The member 148
The test tube is provided with one detent opposite each test tube and corresponding crucible compartment, so that each test specimen can be accurately positioned in a predetermined analysis position during the analysis process. The entire positioning platform is rotatably attached to platform 115 in a manner not shown. A guide 149 cooperating with a notch in the lip 92 of the pot 30
, 150 are attached to the inner edge of the platform 130. By using these guides, the pot can be accurately positioned on the platform and rotated in unison with the platform. The cylindrical skirt 132 includes 32 sets of five cord holes drilled proximate a radial line extending from each vase compartment.

このようなコード孔の例示的組152が第6図に示され
ている。再び第5図を参照すると、光は光管156によ
つて、コード孔を通つて複数個の固定フオト(光電)ト
ランジスタ154へ伝達される。後に詳述するように、
コード孔は、分析位置に動かされる各試験管および対応
するつぼ区画室を識別する二進識別コードを発生させる
ために用いられる。すなわち、試験管および対応するつ
ぼ区画室の各々は或る機械的作用を行うために識別され
用いることができる異なる配列のコード孔により同定さ
れる。この孔からなる二進コードを認めるためセルない
しフオトトランジスタ154を配置する方法は当業者に
周知されている。第5図に示すごとく、試験管検出装置
158はキヤビネツト160内に保持されており、この
キャビネツトは分析位置の前方の1つの位置にある。こ
の検出装置はロツド164の周りで回動される振り子1
62を有する。この振り子は一般に試験管138の通路
へ揺動する。この位置で水銀スイツチ166を閉じる。
試験管が装置158と対向して位置すると、振り子16
2は第5図に図示の位置まで移動させられてスイツチ1
66を開く。装置158は後述の方法で作動するので、
試験管がリング部材136の特定位置にないと、本装置
の通常の作動は妨害される。力ローセル100はまた第
7図に示す循環装置168を備える。
An exemplary set 152 of such cord holes is shown in FIG. Referring again to FIG. 5, light is transmitted by a light tube 156 through a cord hole to a plurality of fixed phototransistors 154. As detailed later,
The code hole is used to generate a binary identification code that identifies each test tube and corresponding pot compartment that is moved to the analysis position. That is, each test tube and corresponding pot compartment is identified by a different arrangement of coded holes that can be identified and used to perform a certain mechanical action. It is well known to those skilled in the art how to arrange the cell or phototransistor 154 to recognize the binary code formed by this hole. As shown in FIG. 5, the test tube detection device 158 is held in a cabinet 160, which is located in a position forward of the analysis position. This detection device consists of a pendulum 1 rotated around a rod 164.
It has 62. This pendulum generally swings into the passage of test tube 138. At this position, the mercury switch 166 is closed.
When the test tube is positioned opposite the device 158, the pendulum 16
2 is moved to the position shown in FIG.
Open 66. Device 158 operates in the manner described below, so that
If the test tube is not in a particular position on ring member 136, normal operation of the device will be disrupted. The force row cell 100 also includes a circulation system 168 shown in FIG.

この装置168は作動腕172を作用させるソレノイド
170を備えており、この腕は軸受174のまわりで回
動する上方腕171と下方腕173とから成る。装置1
68はまた、通常油を入れてある金属性ベローズ176
を備えている。可撓帽子部177はベローズの上方に位
置しており、油の移動を制御するフラツパ.バルブ17
8によつてベローズと接続されている。作動腕172に
取り付けたスプリング180はローラ腕182を(第7
図に示す)上方向に偏倚する。ローラ184はローラ腕
182の外方端に回動自在に取り付けられ、位置決め部
材148の戻り止、たとえば185,186と接触する
ように押圧されている。前述のごとく、位置決め部材1
48は、つぼ30を担持する位置決めプラツトフオーム
130に剛性に取り付けられている。スプリング180
の押圧作用により、常に位置決めプラツトフオームの正
確な位置決めを確保する。循環装置は次の如く作動する
。ソレノイド170が動作すると、上方腕171を右へ
押しやり(第7図に示す)、かつ下方腕173を上方へ
押しやり、それによつてベローズ176を上方方向に押
圧する。
This device 168 comprises a solenoid 170 for actuating an actuating arm 172, which arm consists of an upper arm 171 and a lower arm 173 pivoting about a bearing 174. Device 1
68 also includes a metal bellows 176, usually filled with oil.
It is equipped with A flexible cap portion 177 is located above the bellows and is a flapper that controls the movement of oil. Valve 17
8 to the bellows. A spring 180 attached to the actuating arm 172 moves the roller arm 182 (seventh
(as shown in the figure). Roller 184 is rotatably mounted on the outer end of roller arm 182 and is urged into contact with detents, e.g. 185, 186, on positioning member 148. As mentioned above, the positioning member 1
48 is rigidly attached to a positioning platform 130 that carries the acupoint 30. spring 180
The pressing action ensures accurate positioning of the positioning platform at all times. The circulation system operates as follows. When solenoid 170 operates, it forces upper arm 171 to the right (as shown in FIG. 7) and lower arm 173 upwardly, thereby forcing bellows 176 in an upward direction.

この力は油入りベローズにより抵抗をうけている。油圧
を解放するため、フラツパバルブ178が開き、これに
よつて、油をベローズから可撓性帽子部177内へ自由
に流す。上方腕171が右方へ移動すると、ローラ18
4は戻り止185から外れ、戻り止186に位置換えす
る。作動腕の前記運動はきわめて迅速であるので、力ロ
ーセルの位置決めプラツトフオーム130は一時的に固
定位置に留まる。ソレノイドのストロークが完了すると
、作動腕は第7図の仮想図で示す位置に達する。このと
き、ソレノイドは付勢を解かれ、金属性ベローズの弾性
により作動腕を元の位置へ押圧する。作動腕の元の位置
への復帰はフラツパバルブを閉じることにより弱められ
る。フラツパバルブには穴が設けてあるので、油が既定
の割合で金属性ベローズ内へ洩れて入り、よつて、作動
腕は円滑かつ堅実な復帰運動ができるようになる。その
結果、作動腕がその最初の位置へ戻ると、戻り止186
は前に戻り止185により占められていた位置へ移動さ
れる。それで位置決めプラツトフオーム130は1位置
だけ前進する。位置決めプラツトフオームが前進すると
、つぼ区画室もまた1位置だけ前進する。作動腕の正常
位置を調整するため、ねじ調整用のねじ189を有する
止めレバー188が用いられており、位置決めプラツト
フオームは各ソレノイドストローク毎につぼを正確な既
定位置に支持する。
This force is resisted by the oil-filled bellows. To release the oil pressure, flapper valve 178 opens, thereby allowing oil to flow freely from the bellows into flexible cap 177. When the upper arm 171 moves to the right, the roller 18
4 is removed from the detent 185 and replaced with the detent 186. Said movement of the actuating arm is so rapid that the force row cell positioning platform 130 temporarily remains in a fixed position. Upon completion of the solenoid stroke, the actuating arm reaches the position shown in the phantom diagram of FIG. At this time, the solenoid is deenergized and the elasticity of the metal bellows pushes the operating arm back to its original position. Return of the actuating arm to its original position is weakened by closing the flapper valve. The flapper valve is provided with a hole so that oil can leak into the metal bellows at a predetermined rate, thus allowing a smooth and steady return movement of the actuating arm. As a result, when the actuating arm returns to its initial position, the detent 186
is moved to the position previously occupied by detent 185. The positioning platform 130 then advances one position. As the positioning platform advances, the acupoint compartment also advances one position. To adjust the normal position of the actuating arm, a stop lever 188 with a threaded adjustment screw 189 is used, and the positioning platform supports the acupoint in a precise predetermined position for each solenoid stroke.

後に詳述するように、循環装置を用いて、つぼ区画室を
分析ビームの通路へ順々に前進させる。デイスペンサ:
第8図および第9図を参照すると、デイスペンサ200
は、ベース部材203並びに取り付け板206,207
および208を含むフレーム202を備えている。
A circulation system is used to advance the acupoint compartments one after the other into the path of the analysis beam, as will be described in more detail below. Dispenser:
Referring to FIGS. 8 and 9, the dispenser 200
The base member 203 and the mounting plates 206, 207
and 208.

デイスペンサはまた垂直支持部材214と216を含む
探り(プローブ)保持体212を備える。
The dispenser also includes a probe holder 212 that includes vertical support members 214 and 216.

垂直支持部材は、ピン220,221によつて回動自在
に取り付けられた上方腕218によつて位置決めされて
いる。同様に、垂直支持部材は、ピン224,225に
よつて回動自在に取り付けられた下方腕222によつて
位置決めされている。管226を用いて支持部材216
に取り付けられている探り体260へ流体を伝導する。
デイスペンサ200はまた、アツプダウン(上下用)ソ
レノイド232を含む垂直位置決め装置230を備えて
おり、前記ソレノイドはその縦軸に沿つて上方端部23
4を有する押し棒233を作動する。押し棒233は、
シリンダ236内で作動するピストン235に強固に接
続されている。ピストンの下方で、シリンダ内に保持さ
れている螺旋状偏倚スプリング237によつて、ピスト
ンは、通常、上方向に押圧されている。その結果、探り
保持体は通常第8図の実線で示す位置(図の8アツプ7
位置)に位置決めされている。シリンダ236は下部ベ
アリング238を介して板206に回動自在に取り付け
られており、また上方ベアリング239を介して板20
7に回動自在に取り付けられている。探り体がそれぞれ
試験管とつぼの上方に位置するときに、探り体の最下端
位置を定めるため、調節可能な停止部材240と241
が探り保持体に取り付けられたバ一242と協力作用す
るようになつている。デイスペンサ200はまた渦巻き
スプリング246を含む水平位置決め装置244を備え
ており、前記スプリンーグはその1端を板207に接続
され、他端をシリンダ236に接続されている。
The vertical support member is positioned by upper arm 218 which is pivotally mounted by pins 220,221. Similarly, the vertical support member is positioned by a lower arm 222 which is pivotally mounted by pins 224,225. Support member 216 using tube 226
The fluid is conducted to a probe body 260 attached to the probe body 260 .
The dispenser 200 also includes a vertical positioner 230 that includes an up-down solenoid 232 that extends along its longitudinal axis at the upper end 23.
Activate the push rod 233 with 4. The push rod 233 is
It is rigidly connected to a piston 235 that operates within a cylinder 236. The piston is normally urged upwardly by a helical biasing spring 237 held within the cylinder below the piston. As a result, the probe holder is usually located at the position shown by the solid line in Figure 8 (from 8 up to 7 in the figure).
position). The cylinder 236 is rotatably attached to the plate 206 via a lower bearing 238 and is rotatably attached to the plate 206 via an upper bearing 239.
It is rotatably attached to 7. Adjustable stop members 240 and 241 are provided to determine the lowest position of the probe when the probe is positioned above the test tube and pot, respectively.
is adapted to cooperate with a bar 242 attached to the feeler holder. Dispenser 200 also includes a horizontal positioning device 244 that includes a spiral spring 246 connected at one end to plate 207 and at the other end to cylinder 236.

このスプリングは通常、第9図の仮想図で示す位置(″
試験管1位置)に探り保持体を押圧する。探り保持体が
それぞれ試験管およびつぼの上方に位置したとき、探り
保持体の位置を制御するため調整可能な停止部材248
と249が用いられる。さらに、装置244は、押し棒
252の縦軸に沿い押し棒252を作動する回転ソレノ
イド250を備えている。押し棒252はピン255,
256および腕257によつて取付具254に接続さへ
ー方、この取付具はシリンダ236の1方の側に強固に
取り付けられている。第10図および第11図を参照す
ると、デイスペンサはまた探り体260を備えている。
This spring is normally located at the position shown in the phantom diagram in FIG.
Press the probe holder onto the test tube (position 1). Adjustable stop member 248 to control the position of the probe holder when the probe holder is positioned over the test tube and pot, respectively.
and 249 are used. Additionally, device 244 includes a rotary solenoid 250 that actuates push rod 252 along its longitudinal axis. The push rod 252 has a pin 255,
256 and arm 257 to fixture 254, which is rigidly attached to one side of cylinder 236. Referring to FIGS. 10 and 11, the dispenser also includes a probe body 260. Referring to FIGS.

この探り体はステンレス鋼ノズル262を備えており、
このノズルは前部胴部263、後部胴部264、および
端先部261を含んでいる。前部胴部は内径が0.01
5インチで外径力旬.020インチである。後部胴部は
内径が0.015インチで外径が0.032インチであ
る。ノズルの全長は0.39インチである。第10図に
示すごとく、ノズルは管266に嵌入されているので後
部胴部は管266によつて完全に囲まれている。管26
6を支持腕つまり支持部材216の対応切欠き内に正確
に位置させるため、棒267を図示の位置で管266の
土方へ配置してある。管266は、第8図に示す方法で
管226と整合する傾斜部分268で終つている。出願
人は、有機液体、たとえば血清を能率的かつ正確に分配
するためには、ノズルの寸法が重要であることを知つた
The probe is equipped with a stainless steel nozzle 262,
The nozzle includes a front body 263, a rear body 264, and a tip 261. The inner diameter of the front body is 0.01
The outer diameter is 5 inches. 020 inches. The rear torso has an inside diameter of 0.015 inches and an outside diameter of 0.032 inches. The total length of the nozzle is 0.39 inches. As shown in FIG. 10, the nozzle is fitted into tube 266 so that the rear body is completely surrounded by tube 266. tube 26
6 is placed exactly in the corresponding recess of the support arm or member 216, a rod 267 is placed on the side of the tube 266 in the position shown. Tube 266 terminates in a beveled portion 268 that aligns with tube 226 in the manner shown in FIG. Applicants have discovered that the size of the nozzle is important for efficient and accurate dispensing of organic liquids, such as serum.

さらに詳しく言えば、出願人は、ノズルの内径は0.0
10インチと0.020インチとの間でなければならな
いことを知つた。もし、ノズルの直径が実質的に0.0
10インチより小さいと、ノズルは系内に存在する異分
子のため詰りやすくなる。もしノズルの内径が実質的に
0.020インチより大きいと、次の2つの問題が起る
。(1)試薬流体および血清の適正な攪拌と混合をうる
のに吐出速度が十分でない。
More specifically, the applicant claims that the inner diameter of the nozzle is 0.0
I learned that it had to be between 10 inches and 0.020 inches. If the nozzle diameter is substantially 0.0
If it is smaller than 10 inches, the nozzle will easily become clogged due to foreign molecules present in the system. If the inside diameter of the nozzle is substantially greater than 0.020 inches, two problems occur. (1) Dispensing speed is not sufficient to provide proper agitation and mixing of reagent fluid and serum.

(2)ノズルの端先部における流体のメニスカスが制御
しにくくなる。
(2) The meniscus of the fluid at the tip of the nozzle becomes difficult to control.

たとえば、流体のメニスカスの下方部分が破れ、そのた
め転送される流体量の正確度が減少する。
For example, the lower portion of the fluid meniscus may rupture, thereby reducing the accuracy of the amount of fluid transferred.

ノズルの外径は適切な構造強度と一致させてできるかぎ
り小さくし、それによつて、血清によりぬらされるノズ
ルの面積を減少させて最少に保持する。
The outer diameter of the nozzle is made as small as possible consistent with adequate structural strength, thereby reducing and keeping the area of the nozzle wetted by serum to a minimum.

デイスペンサはまた混合装置270を備える。The dispenser also includes a mixing device 270.

第8図および第12図から第15図までを参照すると、
混合装置270は試薬流体を保持する試薬溜め272を
備えており、この試薬流体は、種々のつぼ区画室のため
の試験体を調整するため試験管138に保持されるサン
プルと混合される。この試薬溜め272は浸液管273
、カバー274、および浸液管と接続している移送管2
75を備える。第12図から第14図までを参照すると
、混合装置270はまた50マイクロリツトルの容積を
有するマイクロ(小型)注射器280を備える。
Referring to Figures 8 and 12 to 15,
Mixing device 270 includes a reagent reservoir 272 that holds a reagent fluid that is mixed with the sample held in test tube 138 to prepare specimens for the various acupoint compartments. This reagent reservoir 272 is connected to the immersion pipe 273.
, cover 274, and transfer pipe 2 connected to the immersion pipe.
75. Referring to FIGS. 12-14, the mixing device 270 also includes a microsyringe 280 having a volume of 50 microliters.

このマイクロ注射器はガラス胴部281および外側シリ
ンダ283を区画するステンレス鋼チツプ(先端部)2
82を有している。内側シリンダ285を区画する中空
プランジヤ284は外側シリンダ283内を摺動するよ
うに配置されている。シリンダ283および285は共
に空胴部286を区画し、この空胴部はチツプ282の
端部に位置する入ロオリフイス287とプランジヤ28
4の端部に位置する出口オリフイス288を備えている
。チツプ282は管226に接続されており、探り体2
60と共に探りノズルチツプ261への通路を区画する
。第14図を参照すると、混合装置270はまた250
0マイクロリツトルの容積を有するマクロ(大型)注射
器290を備える。
This microsyringe has a stainless steel tip 2 that defines a glass body 281 and an outer cylinder 283.
82. A hollow plunger 284 defining an inner cylinder 285 is arranged to slide within the outer cylinder 283. Cylinders 283 and 285 together define a cavity 286 that includes an entry orifice 287 located at the end of tip 282 and plunger 28.
An exit orifice 288 located at the end of the 4 is provided. The tip 282 is connected to the tube 226 and the probe 282 is connected to the tube 226.
60 and defines a passage to the probe nozzle tip 261. Referring to FIG. 14, mixing device 270 also includes 250
A macro (large) syringe 290 with a volume of 0 microliters is provided.

このマクロ注射器はシリンダ293を区画するガラス胴
部291に嵌合されるステンレス鋼チツプ292を備え
ている。中実のガラスプランジヤ294はシリンダ29
3内を摺動するようになつている。シリンダ293は、
管298に接続されるチツプ292の端部に入ロオリフ
イス296を備えた空胴部295を区画している。第1
4図および第15図を参照するv、マイク口注射器およ
びマクロ注射器は三方弁300に接続されており、この
三方弁はケース301および弁要素302を備えている
The macrosyringe includes a stainless steel tip 292 fitted into a glass body 291 defining a cylinder 293. The solid glass plunger 294 is connected to the cylinder 29
3. It is designed to slide inside. The cylinder 293 is
The end of tip 292 connected to tube 298 defines a cavity 295 with an entry orifice 296 . 1st
4 and 15, the microphone-mouth syringe and the macro-syringe are connected to a three-way valve 300, which comprises a case 301 and a valve element 302.

この弁要素302は溝303,304を区画しており、
前記溝は各入口305,306および307と相互に接
続することができる。プランジヤ284は、弁300の
入口306に強固に接続された出口オリフイス288を
有している。第14図に示すように、弁が「吐出」位置
にあると、管298と共に通路を形成し、この通路はマ
イクロ注射器280の出口オリフイス288からマクロ
注射器290の入口オリフイス296へ延長している。
第15図に示すように、弁が「装入」位置にあると、管
275は弁及び管298と共に試薬溜め272から入口
オリフイス296へ延長する通路を形成する。第8,1
6,16a,16bおよび17図を参照すると、デイス
ペンサ200はまた作動装置310を備えている。作動
装置310は、注射器280及び290の胴部281及
び291を夫々フレームに強固に接続する水平支持棒3
14を備える。もう1つの水平支持棒315により溜め
272をフレームに接続する。作動装置310はまた、
弁300に及び取付具326を介してマグ口注射器29
0のプランジヤ294に接続されている取外し可能な板
311を含んでいる。板311はねじ(図示してない)
によりギアリン312に接続されている。これらのねじ
を単にはずしさえすれば、第16a図に示すように板全
体をはずすことができる。このことは重要な特徴である
。それは、異なる測定を行なうため、マイクロ注射器、
マクロ注射器および溜めの交換を容易にするからである
。板一式をはずして他のものと交換すると、本装置を数
秒にて異なる測定ができるように交換することかできる
。板311は停止部材313を担持し、ごの停止部材は
これを板311の種々の多数の穴313aに対して装着
して調節することができる。部材313は、ブラケツト
319を介してフレームに取り付けたマイクロスイツチ
363aを作用させることにより、板311の下方位置
を制御する。板311はまたもう1つの停止部材321
を担持し、この部材はもう1つのマイクロスイツチ36
3bと作用し、板311の土方位置を制御する。ギアリ
ン312は、ベース部材ないし基板203と水平板31
7との間に接続されている垂直軸316に沿つて移動す
るようになつている。ギアリン312はベアリング31
8,320を介して軸316に結合されており、前記ベ
アリングは軸に沿つて垂直に摺動するようになつている
。このギアリンは以下に記載するピニオンギヤと共働す
るラツク322によつて駆動される。第16図および第
17図を参照すると、作動装置310はさらに、クラツ
チ装置327を備えており、この装置327は、モータ
328を含み、そのロータは軸(図示してない)を介し
てクラツチ板330に接続されている。このクラツチ板
は、低係数クラツチ面部材336を介して、停止面33
3,334を有する弁駆動板332を作動する。駆動板
332は、穴342により、スロツト339を有する軸
338へピン留めされている。停止面333,334は
フレームに接続した停止部材と共働し、軸338が90
度以上の弧にわたつて回動することを防止する。第14
および15図に示すように、吐出位置と装入位置との間
で弁要素を移動するため、スロツト339は弁要素30
2のリブ340と共働している。クラツチ板はまた、高
係数クラツチ面部材346を介して、スロツト345を
有するピニオン駆動板344を作動する。穴350から
スロツト345に嵌入されるピン(図示してない)を介
して、ピニオンギヤ348が駆動板344に接続されて
いる。この配置では、ピニオンギヤが動く前に、クラツ
チ板が90度の弧にわたつて移動されうるようになつて
いる。クラツチ装置全体は、留め板352、ねじ353
、スプリング354およびナツト355によつて一体と
なつている。第18図を参照すると、作動装置310は
また、デイスペンサ制御回路360を備えている。
This valve element 302 defines grooves 303, 304,
The grooves can be interconnected with each inlet 305, 306 and 307. Plunger 284 has an outlet orifice 288 rigidly connected to inlet 306 of valve 300 . As shown in FIG. 14, when the valve is in the "discharge" position, it forms a passageway with tube 298 extending from outlet orifice 288 of microsyringe 280 to inlet orifice 296 of macrosyringe 290.
As shown in FIG. 15, when the valve is in the "load" position, the tube 275, together with the valve and tube 298, forms a passageway extending from the reagent reservoir 272 to the inlet orifice 296. 8th, 1
6, 16a, 16b and 17, the dispenser 200 also includes an actuator 310. Referring to FIGS. The actuator 310 includes a horizontal support bar 3 that rigidly connects the barrels 281 and 291 of the syringes 280 and 290, respectively, to the frame.
14. Another horizontal support rod 315 connects the reservoir 272 to the frame. Actuator 310 also includes:
Mug mouth syringe 29 to valve 300 and via fitting 326
includes a removable plate 311 connected to plunger 294 of 0. Plate 311 is a screw (not shown)
It is connected to the gear ring 312 by. By simply removing these screws, the entire plate can be removed as shown in Figure 16a. This is an important feature. It is a micro syringe, for making different measurements.
This is because it facilitates the exchange of macrosyringes and reservoirs. By removing a set of plates and replacing them with others, the device can be swapped out for different measurements in a matter of seconds. Plate 311 carries a stop member 313 which can be fitted and adjusted in a number of different holes 313a in plate 311. The member 313 controls the lower position of the plate 311 by actuating a microswitch 363a attached to the frame via a bracket 319. The plate 311 is also another stop member 321
This member carries another micro switch 36
3b to control the horizontal position of the plate 311. The gear ring 312 includes a base member or substrate 203 and a horizontal plate 31.
7 along a vertical axis 316 connected thereto. Gear ring 312 is bearing 31
8,320 to the shaft 316, the bearing being adapted to slide vertically along the shaft. This gear link is driven by a rack 322 which cooperates with a pinion gear described below. Referring to FIGS. 16 and 17, the actuating device 310 further includes a clutch device 327 that includes a motor 328 whose rotor is coupled to the clutch plate via a shaft (not shown). 330. The clutch plate is connected to the stop surface 33 through a low modulus clutch surface member 336.
Activate valve drive plate 332 having 3,334. Drive plate 332 is pinned by hole 342 to shaft 338 having slot 339. The stop surfaces 333, 334 cooperate with stop members connected to the frame such that the shaft 338
Prevents rotation over an arc of more than 2 degrees. 14th
and 15, slot 339 connects valve element 30 to move the valve element between discharge and charge positions.
It cooperates with the rib 340 of No. 2. The clutch plate also operates a pinion drive plate 344 having a slot 345 through a high modulus clutch face member 346. A pinion gear 348 is connected to drive plate 344 via a pin (not shown) that fits into slot 345 from hole 350 . This arrangement allows the clutch plate to be moved through a 90 degree arc before the pinion gear moves. The entire clutch device includes a retaining plate 352 and a screw 353.
, a spring 354 and a nut 355. Referring to FIG. 18, actuator 310 also includes dispenser control circuitry 360. Referring to FIG.

この制御回路は、ギアリンに近接しているフレーム上に
取り付けられたマイクロスイツチ363aおよび363
bを有するモータ制御回路362を備えている。デイス
ペンサめ作動中、ギアリン上の停止部材313と321
はマイクロスイツチと作用する。モータ制御回路は、モ
ータ328の1部を形成する巻線364および366を
制御するために用いられる。モータ制御回路は、信号を
導体367,368および369へ送ることにより巻線
を制御する。デイスペンサ制御回路360はまたアツプ
ダウンソレノイド制御回路370を備え、この回路37
0は、アツプダウンソレノイド232の巻線372を導
体373,374によつて制御するために用いられる。
This control circuit consists of microswitches 363a and 363 mounted on the frame close to the gear ring.
The motor control circuit 362 includes a motor control circuit 362 having a motor control circuit 362. When the dispenser is in operation, the stop members 313 and 321 on the gear ring
works with a micro switch. A motor control circuit is used to control windings 364 and 366 that form part of motor 328. The motor control circuit controls the windings by sending signals to conductors 367, 368 and 369. Dispenser control circuit 360 also includes an up-down solenoid control circuit 370, which
0 is used to control winding 372 of up-down solenoid 232 by conductors 373 and 374.

さらに、デイスペンサ制御回路は回転ソレノイド回路3
76を備え、この回路376は、回転ソレノイド250
の巻線378を導体379,380により制御するため
に用いられる。デイスペンサの動作: 試験管140およびその対応つぼ区画室83が第8図お
よび第9図に示す位置へ移動されるものとして、デイス
ペンサの動作を以下に記載する。
Furthermore, the dispenser control circuit is a rotary solenoid circuit 3.
76, this circuit 376 includes a rotary solenoid 250
is used to control the winding 378 of the circuit by means of conductors 379 and 380. Operation of the Dispenser: The operation of the dispenser is described below as the test tube 140 and its corresponding pot compartment 83 are moved to the positions shown in FIGS. 8 and 9.

さらに、試験管140は血液等の水溶液を保持し、空気
が混合装置から除去されているものとする。前述のごと
く、スプリング237および246は通常、試験管上の
上方位置に探り保持体を偏倚させている(すなわち、第
8図の実線及び第9図の仮定線で示す位置)。第18図
および19図を参照すると、デイスペンサの作動は分配
線713を通つて負のパルスをモータ制御回路362へ
伝達することにより開始される。この信号に応答して、
第19図で示す方法で、モータ制御回路はモータ328
の巻線364を横断して信号D1を出す。信号D1に応
答して、モータ328は90出の弧にわたつてクラツチ
板330、弁駆動板332、軸338、および弁要素3
02のリブ340を回転する。これによつて、弁要素は
第15図に示す位置へ移動する。第19図に示すごとく
、弁要素302の回転には約1.16秒を要する。弁要
素302が回転している間、アツプダウンソレノイドF
bI卿回路370は、信号D3(第19図)をアツプダ
ウンソレノイド232の巻線372へ出す。
Further, it is assumed that the test tube 140 holds an aqueous solution such as blood, and that air has been removed from the mixing device. As previously mentioned, springs 237 and 246 normally bias the feeler holder to an upper position above the test tube (ie, the position shown by the solid line in FIG. 8 and the hypothetical line in FIG. 9). Referring to FIGS. 18 and 19, operation of the dispenser is initiated by transmitting a negative pulse through distribution line 713 to motor control circuit 362. Referring to FIGS. In response to this signal,
In the manner shown in FIG.
across the winding 364 of the signal D1. In response to signal D1, motor 328 drives clutch plate 330, valve drive plate 332, shaft 338, and valve element 3 over 90 arcs.
Rotate the rib 340 of 02. This moves the valve element to the position shown in FIG. As shown in FIG. 19, rotation of valve element 302 takes approximately 1.16 seconds. While the valve element 302 is rotating, the up-down solenoid F
bI circuit 370 issues signal D3 (FIG. 19) to winding 372 of up-down solenoid 232.

第8図を参照すると、信号D3に応答して、ソレノイド
232は押し棒233を急激に下げ、それによつて、探
り体260の端先部261を、試験管140内に保持さ
れている液面の下方のレベルFまで下げる。言い換えれ
ば、探り保持体212は第8図の仮定線で示す位置まで
下げられる(すなわち、「装入」位置)。゛停止部材2
40を適誼調節すると、端先部261が液面の下方2ミ
リ以上とはならない所に位置される。これは重要な特徴
であることが分つた。何故ならば、液体と接触する探り
ノズルの表面積が減少するからである。探り体がその装
入位置になつてからまた弁要素302が第15図に示す
位置まで回転した後、ピニオンギヤ348(第17図)
の穴350内に挿入されたピンがスロツト345の端部
と係合するのでピニオンギヤが回転する。
Referring to FIG. 8, in response to signal D3, solenoid 232 rapidly lowers push rod 233, thereby pushing tip 261 of probe 260 toward the liquid level held within test tube 140. lower to level F below. In other words, the feeler holder 212 is lowered to the position shown by the hypothetical line in FIG. 8 (ie, the "load" position).゛Stopping member 2
40 is adjusted appropriately, the tip 261 is positioned no more than 2 mm below the liquid level. This turned out to be an important feature. This is because the surface area of the probe nozzle in contact with the liquid is reduced. After the probe is in its loading position and after the valve element 302 has rotated to the position shown in FIG. 15, the pinion gear 348 (FIG. 17)
A pin inserted into hole 350 engages the end of slot 345, causing the pinion gear to rotate.

ピニオンギヤが回転すると、ラツク322とギアリン3
12が下方向(第16図)に1駆動される。ギアリン3
12はプランジヤ294と弁300に取り付けられてい
るので、注射器のプランジヤは注射器の胴部から引き離
される。それによつて注射器によつて区画されていた空
胴部が拡大する。この作動型式により、少量の流体が探
り体の端先部261を介して試験管140からノズル2
62へ引き入れられる。通常は、この流体量は10マイ
クロリツトルである。同時に、試薬流体は管275、弁
要素302、および管298を介して溜め272から注
射器290内へ引き入れられる。上記の結果を達成すす
るため、ギアリン312は約1.46秒で約百インチ下
方へ移動する。
When the pinion gear rotates, the rack 322 and gear ring 3
12 is driven downward (FIG. 16) by 1. gearin 3
12 is attached to plunger 294 and valve 300 so that the syringe plunger is pulled away from the syringe barrel. The cavity delimited by the syringe is thereby enlarged. This mode of operation allows a small amount of fluid to flow from the test tube 140 through the tip 261 of the probe into the nozzle 2.
62. Typically, this fluid volume is 10 microliters. At the same time, reagent fluid is drawn from reservoir 272 into syringe 290 via tube 275, valve element 302, and tube 298. To achieve the above results, the gear ring 312 moves down about 100 inches in about 1.46 seconds.

ギアリン312がマイクロスイツチ363a(第18図
)と作用するほどはるか下方へ移動すると、信号D1は
終り、ギアリンは停止する。もし大量の流体が探り体内
へ引き込まれなければならないとすると、ギアリン31
2は、停止部材313の位置を変えて、下方へさらに僅
か移動できる。ギアリン312がその下方位置で停止し
た後、つまりプランジヤ284,294の動きが止まつ
た後、作動装置310はノズル262を少なくとも0.
1秒間、流体内に留めるようにする。0.1秒がすぎて
から、第19図で示すように、信号D3はアツプダウン
ソレノイド232の巻線372から除去される。
When the gear ring 312 moves far enough down to interact with the microswitch 363a (FIG. 18), signal D1 ends and the gear ring stops. If a large amount of fluid has to be probed and drawn into the body, Gearin 31
2 can change the position of the stop member 313 and move it slightly further downward. After the gear link 312 has stopped in its lower position, that is, after the plungers 284, 294 have stopped moving, the actuator 310 moves the nozzle 262 at least 0.
Allow it to remain in the fluid for 1 second. After 0.1 seconds have passed, signal D3 is removed from winding 372 of up-down solenoid 232, as shown in FIG.

このとき、スプリング237が急速に働き探りノズルを
試験管140内の液体から上方向に離す。これは重要な
特徴である。何故ならば、1滴の液体もノズル自身に留
めないで、迅速な上昇運動によつて探りノズルが試1験
管140内の液体から離れ去るからである。この探り体
は、第8図の実線位置に達するまで上向き運動を続ける
。装入された探り体がその上方位置に達した後、回転ソ
レノイド回路376は信号D4(第19図)が回転ソレ
ノイド250(第18図)の巻線378に現われるよう
にする。
At this time, the spring 237 works rapidly to separate the probe nozzle upward from the liquid in the test tube 140. This is an important feature. This is because the rapid upward movement causes the probe nozzle to move away from the liquid in the test tube 140 without any drop of liquid remaining on the nozzle itself. The probe continues its upward movement until it reaches the position shown in solid line in FIG. After the loaded probe reaches its upper position, rotary solenoid circuit 376 causes signal D4 (FIG. 19) to appear on winding 378 of rotary solenoid 250 (FIG. 18).

この信号に応答して、ソレノイド250は押し棒252
をソレノイド自身(第19図)の方へ駆動し、これによ
つて探り保持体を第9図の仮想図で示す位置から実線で
示す位置まで移動する。探り保持体がつほの方へ回転し
ている時に、モータ制御回路362により信号D2(第
19図)をモータ328(第18図)の巻線366を介
して出す。この信号に応答して、クラツチ板330の方
向が逆転するので弁要素302は第14図に示す元の位
置へ復帰する。この作動は約1.16秒かかる。弁要素
302が第14図に示す位置まで回転している間に、ア
ツプダウンソレノィド制御回路370は再び信号D3を
アツプダウンソレノィド232(第18図)の巻線37
2に出す。
In response to this signal, solenoid 250 activates push rod 252.
is driven towards the solenoid itself (FIG. 19), thereby moving the feeler holder from the position shown in the phantom diagram of FIG. 9 to the position shown in solid lines. When the feeler holder is rotating toward the center, motor control circuit 362 issues signal D2 (FIG. 19) through winding 366 of motor 328 (FIG. 18). In response to this signal, the orientation of clutch plate 330 is reversed so that valve element 302 returns to its original position as shown in FIG. This operation takes approximately 1.16 seconds. While valve element 302 is rotating to the position shown in FIG. 14, up-down solenoid control circuit 370 again applies signal D3 to winding 37 of up-down solenoid 232 (FIG. 18).
Put it out on 2nd.

この信号に応答して、探り体の端先部261はつぼの区
画室83に入りレベルG(第5図)まで下る。レベルG
は液体の表面レベルの下方2ミリを超えないように計算
されており、この表面レベルは、探り体が放出せしめら
れた後に区画室83内に形成されるレベルである。表面
レベルは第5図でレベルHで示されている。前に述べた
ように、ノズルの端先部261は停止部材241を調節
して正確にレベルGまで下げられる。このことは重要な
特徴である。その理由は、経験によれば、もしノズルの
端先部261が液体表面レベルの下方に僅かでも延長し
ていれば、液体のあわが探りノズルに留まるからである
。もしノズル端先部がこのレベルの上方に留まつていれ
ば、液体のあわはノズル上に留り、それによつて次に調
整される試験体を汚染しやすくなる。同様に、ノズル端
先部が表面レベルHの下方に延びすぎていれば、ノズル
はその過大な部分にわたりぬれるから、試験流体の過大
量が次の区画室へ廻ることになる。弁要素302が第1
4図に示す位置まで回転してから、ピニオンギヤ348
の穴350にあるピンはスロツト345の反対側に係合
し、それによつて、ラツク322およびギアリン312
を第16図で示す上方向へ駆動する。
In response to this signal, the probe tip 261 enters the vase compartment 83 and descends to level G (FIG. 5). Level G
is calculated to be no more than 2 mm below the surface level of the liquid, which is the level that will form in the compartment 83 after the probe has been released. The surface level is indicated by level H in FIG. As previously mentioned, the nozzle tip 261 is lowered precisely to level G by adjusting the stop member 241. This is an important feature. This is because experience has shown that if the tip 261 of the nozzle extends even slightly below the level of the liquid surface, a bubble of liquid will remain in the probe nozzle. If the nozzle tip remains above this level, liquid froth will remain on the nozzle and thereby tend to contaminate the next prepared specimen. Similarly, if the nozzle tip extends too far below surface level H, the nozzle will wet over too much of the nozzle and an excessive amount of test fluid will be diverted to the next compartment. Valve element 302 is the first
After rotating to the position shown in Figure 4, pinion gear 348
The pin in hole 350 engages the opposite side of slot 345, thereby locking rack 322 and gear link 312.
is driven upward as shown in FIG.

その結果ブランジヤ284および294は夫々注射器2
80及び290の胴部281及び291内へ移動される
。この運動により注射器280と290により区画され
ている空胴部の大きさを減少させるので探り体260内
に存在するサンプル流体はつぼ区画室83の中へ追いや
られ、シリンダ295内の試薬流体は管298、弁30
0、プランジヤ284、マイクロ注射器280のシリン
ダ283、管226、および探り体260を介してつほ
区画室83内へ追いやられる。ギアリンはマィクロスィ
ツチ363bが停止部材321により作動されるまで上
昇し続けるので、信号D2がやんで、ギアリンは停止す
る。前述の吐出方法は重要な特徴である。その理由は、
試験管からの流体サンプルがつぼ区画室内へ追いやられ
た後、試薬流体が注射器280、管226および探り体
を通るからである。この動作により、サンプル流体のこ
れらの成分を追い出し、これによつて装置はもう1つの
サンプルを追加の試薬流体と混合するために準備される
。適当な清浄をするには、探り体を介して叶出される試
薬流体の量は吐出されるサンブルの流体量の少なくとも
10倍なければならない。サンプル流体に対する試薬の
適当な比はマイクロ注射器およびマイクロ注射器の相対
的な大きさを調節して求められる。前述のごとく、つぼ
の底を彎曲させ側壁に角度を持たせてあるので探り体に
よつて吐出される流体が夫々のつぼ区画室内での旋回作
用によつて混合させられる。サンプルおよび試薬流体が
完全に吐出されると、区画室83内の試1験体はレベル
H(第5図)まで上昇した。このレベルHは探りノズル
の端先部261のレベルの上方1ないし2ミリである。
ギアリン312がその上方位置で停止した後、作動装置
310によりノズルの端先部261を少なくとも0.1
秒間レベルH以下に留らせる。この時間が経過した後、
アツプダウンソレノィド制御回路370により信号D3
をアツプダウンソレノィド232の巻線372から除去
する。この信号の除去に応答してスプリング237が急
速に働き探り体を上方へ移動し区画室83内の試験流体
から離す。その後、信号D4は回転ソレノイド250の
巻線378から除去される。この信号の除去に応答して
、スプリング246の作動により探り保持体を移動させ
、つぼから試験管の上方の第9図で仮想図で示す位置ま
で離す。この地点で、デイスペンサは、他の試験管およ
びつぼ区画室が循環装置により分配位置に移動されると
すぐに次の循環動作の準備がなされる。分析装置: 第5図および第20図から第22図まで参照すると、分
析装置400は可視及び紫外線スペクトルによる光を発
生するフイラメント404を備えた光源402を含む発
生装置を備えている。
As a result, plungers 284 and 294 each
80 and 290 into the bodies 281 and 291. This movement reduces the size of the cavity bounded by syringes 280 and 290 so that the sample fluid present in probe body 260 is forced into the acupoint compartment 83 and the reagent fluid in cylinder 295 is forced into the tube. 298, valve 30
0, is driven into the tube compartment 83 via the plunger 284, the cylinder 283 of the microsyringe 280, the tube 226, and the probe 260. The gear ring continues to rise until the microswitch 363b is actuated by the stop member 321, so that the signal D2 ceases and the gear ring stops. The aforementioned dispensing method is an important feature. The reason is,
After the fluid sample from the test tube is driven into the acupoint compartment, reagent fluid passes through syringe 280, tube 226, and probe. This action displaces these components of the sample fluid, thereby preparing the device for mixing another sample with additional reagent fluid. For adequate cleaning, the volume of reagent fluid delivered through the probe must be at least ten times the volume of sample fluid dispensed. The appropriate ratio of reagent to sample fluid is determined by adjusting the microsyringe and the relative sizes of the microsyringe. As mentioned above, the curved bottom of the pot and the angled side walls allow the fluid discharged by the probe to be mixed by swirling action within the respective pot compartments. Once the sample and reagent fluids were completely expelled, the test specimen within compartment 83 rose to level H (FIG. 5). This level H is 1 to 2 mm above the level of the tip 261 of the probe nozzle.
After the gear ring 312 has stopped in its upper position, the actuator 310 moves the nozzle tip 261 by at least 0.1
Stay below level H for seconds. After this time has passed,
The signal D3 is output by the up-down solenoid control circuit 370.
is removed from winding 372 of up-down solenoid 232. In response to removal of this signal, spring 237 acts rapidly to move the probe upwardly and away from the test fluid in compartment 83. Signal D4 is then removed from winding 378 of rotary solenoid 250. In response to removal of this signal, actuation of spring 246 moves the probe holder away from the acupoint to the position shown in phantom in FIG. 9 above the test tube. At this point, the dispenser is ready for the next cycling operation as soon as the other test tube and pot compartments are moved to the dispensing position by the circulator. Analyzer: Referring to FIGS. 5 and 20-22, an analyzer 400 includes a generator that includes a light source 402 with a filament 404 that generates light in the visible and ultraviolet spectra.

光源はスプリング403および割出し板405によつて
ソケツト401内に保持されている。光源は光管156
へ及びミラー408を介してディスク(円板)410上
に位置している環状フィルタ412に光を集中するレン
ズ406,407へならびにデイスク410の整流リン
グへ供給する。デ4スク410はその中心に位置する軸
411の周りを回転する。.第20図によく示されてい
るように、フイルタ412は、円弧で互に180るだけ
置き換えられている1対のフィルタセグメント414,
416を備えている。
The light source is held within socket 401 by spring 403 and index plate 405. The light source is light tube 156
and to lenses 406 , 407 which concentrate the light via a mirror 408 onto an annular filter 412 located on a disk 410 and to a rectifier ring of the disk 410 . The disk 410 rotates around an axis 411 located at its center. .. As best shown in FIG. 20, the filter 412 consists of a pair of filter segments 414, which are displaced from each other by 180 degrees in an arc of a circle.
416.

セグメント414,416は同一のものであり、特定の
波長L1の区域においてのみ輻射エネルギを伝達する。
フィルタ412はまた、円弧で互に180すだけ置き換
えられている1対のフイルタセグメント418,420
を備えている。これらのフィルタセグメントもまた同一
であり他の波長L2の区域においてのみ輻射エネルギを
伝達する。さらにフィルタ412は円弧で互に180す
だけ置き換えられている1対のフィルタセグメント42
2,424を備えている。セグメント422,424は
同一であり第3の波長L3の区域においてのみ輻射エネ
ルギを伝達する。上述のフ4ルタセグメントは通常、波
長がL1一L3の区域の狭い周波数帯域において輻射エ
ネルギを伝達するようになつていることは当業者であれ
ば理解できよう。しかし、明確化を期するため、本明細
書では、これらのフィルタセグメントは、正確な波長L
1〜L3においてのみ輻射エネルギを伝達するものとし
て記載される。1つの対をなすフィルタセグメントによ
り通される輻射エネルギの波長は他の対をなすフイルタ
セグメントによつては通されることのないように、フィ
ルタ412は設計されている。
Segments 414, 416 are identical and transmit radiant energy only in a specific wavelength L1 area.
Filter 412 also includes a pair of filter segments 418, 420 that are displaced from each other by 180 degrees in a circular arc.
It is equipped with These filter segments are also identical and transmit radiation energy only in the area of other wavelengths L2. Additionally, the filter 412 includes a pair of filter segments 42 that are displaced from each other by 180 degrees in a circular arc.
It is equipped with 2,424. Segments 422, 424 are identical and transmit radiant energy only in the area of the third wavelength L3. Those skilled in the art will appreciate that the filter segments described above are typically adapted to transmit radiant energy in a narrow frequency band in the region of wavelengths L1-L3. However, for the sake of clarity, these filter segments are referred to herein as having a precise wavelength L.
It is described as transmitting radiant energy only in L1 to L3. Filter 412 is designed such that wavelengths of radiant energy that are passed by one pair of filter segments are not passed by another pair of filter segments.

フイルタ412はまた光の伝達を防止し零輻射基準レベ
ルを設定する不透明セグメント426−429を備えて
いる。フイルタ412を適切に用いるため、波長L1−
L3を選択するときは、分析される特定物質の輻射エネ
ルギ吸収特性によらなければならない。これらのフイル
タの波長を選択する方法は第21図に概略的に記載され
ているが、ここで曲線Aは分析される物質の吸収特性を
示し、曲線BおよびCは一般に試験体の中に物質Aと共
に存在する他の物質の吸収特性を示す。出願人の発見に
よれば、物質BおよびCの吸収性に原因する、物質Aの
分析に当り通常遭遇する困難は物質Aの吸収帯域のほマ
中央に配置されるように波長L1を選択することによつ
て物質的に除去される。
Filter 412 also includes opaque segments 426-429 that prevent light transmission and establish a zero radiation reference level. In order to use the filter 412 appropriately, the wavelength L1-
The selection of L3 must depend on the radiant energy absorption characteristics of the particular material being analyzed. The method of selecting the wavelengths of these filters is schematically described in Figure 21, where curve A shows the absorption characteristics of the material being analyzed and curves B and C generally represent the absorption characteristics of the material in the specimen. The absorption properties of other substances present with A are shown. Applicants have discovered that the difficulties normally encountered in the analysis of substance A, due to the absorptive properties of substances B and C, result in the selection of wavelength L1 so as to be located more or less in the middle of the absorption band of substance A. materially removed.

波長L2を選択するときはL1より小さくし実質的に物
質Aの吸収帯域の外に配するようにする。波長L3を選
択するときはI,lより大きくしまた実質的に物質Aの
吸収帯域外に配するようにする。この分野の技術者であ
れば、物質Aの吸収帯域は実質的には第21図の区域D
にあることが理解できる。通常分析されるほとんどの物
質に対する吸収曲線は周知であり、化学文献から入手す
ることができる。
When selecting the wavelength L2, it should be smaller than L1 and placed substantially outside the absorption band of the substance A. When selecting the wavelength L3, it should be larger than I, l, and should be located substantially outside the absorption band of the substance A. Those skilled in the art will understand that the absorption band of substance A is substantially the area D in FIG.
I can understand what is there. Absorption curves for most commonly analyzed substances are well known and available from the chemical literature.

化学技術の精通者は通常、分析されるべき物質の吸収曲
線を見つけ出すことができ、従つて適切な波長L1−L
3を困難なく決めることができる。たとえば、化学者が
血液見本から全体のたんばく質を測定したいとき、L1
は通常、545ナノメータの領域にあり、L2は凡そ5
00ナノメータの領域にあり、L3は凡そ600ナノメ
ータの領域にある。また出願人が知見したところによれ
ば、多波長の輻射エネルギを用いると、試験体の乱れ効
果、試験体に生ずる気泡、およびつぼの光学的欠点が減
少する。
A person skilled in chemical technology will usually be able to find out the absorption curve of the substance to be analyzed and therefore determine the appropriate wavelength L1-L.
3 can be determined without difficulty. For example, when a chemist wants to measure total protein from a blood sample, L1
is typically in the region of 545 nanometers, and L2 is approximately 5
00 nanometers, and L3 is approximately 600 nanometers. Applicants have also discovered that the use of multiple wavelengths of radiant energy reduces test specimen turbulence effects, test specimen air bubbles, and pot optical defects.

二色装置においては、物質AおよびBの吸収係数が実質
的に異なるような波長にL1を選択し、また物質Aおよ
びBの吸収係数が実質的に同じであるような波長にL2
を選択することが有利なこともある。
In a dichroic device, L1 is selected at a wavelength such that the absorption coefficients of substances A and B are substantially different, and L2 is selected at a wavelength such that the absorption coefficients of substances A and B are substantially the same.
Sometimes it is advantageous to choose.

第20図に戻るが、ディスク410はまた、フィルタ4
12の領域外のデイスク410に設けてある整流リング
430を備えている。
Returning to FIG. 20, disk 410 also includes filter 4
A rectifying ring 430 is provided on the disk 410 outside the area of 12.

整流リングは1対のスリツト432,434を備えてお
り、これらのスリツトは夫々フィルタセグメント414
,416に対向しており、これは共に軸線411と同心
の共通円上にある。整流リング430はまた、フィルタ
セグメント418,420と対向して位置している1対
のスリツト436,438を備えており、これは共に軸
線411と同心をなす共通円上にある。整流リング43
0はさらに、夫々フ4ルタセグメント422,424と
対向して位置している1対のスリツト440,442を
備えており、これは共に軸線411と同心をなす共通円
上にある。第20図に示すように、対をなすスリツトを
備えた円の各々は異なる半径を有しているので、対をな
すスリツトは互に半径方向に変位されている。光源40
2からの光は対をなすスリツトを介して上方に輝き、種
々の対をなすスリツトを設けた円と並置されている3つ
のフオトトランジスタに入る。
The rectifying ring includes a pair of slits 432 and 434, each of which is connected to a filter segment 414.
, 416, both of which lie on a common circle concentric with the axis 411. The rectifier ring 430 also includes a pair of slits 436, 438 located opposite the filter segments 418, 420, both on a common circle concentric with the axis 411. Rectifier ring 43
0 further includes a pair of slits 440, 442 located opposite filter segments 422, 424, respectively, both on a common circle concentric with axis 411. As shown in FIG. 20, each of the circles with pairs of slits has a different radius so that the pairs of slits are radially displaced from each other. light source 40
Light from 2 shines upwardly through pairs of slits and enters three phototransistors that are juxtaposed with a circle provided with various pairs of slits.

すなわち、フオトトランジスタの各々は各対のスリツト
から光を受けるが、隣接のスリツトからは光を受けない
。さらに詳しくいえば、第25図に示すように、フオト
トランジスタ443aはスリツト432,434から照
明が受けられるように位置しており、フオトトランジス
タ443bはスリツト436,438から照明が受けら
れるように位置しており、そしてフオトトランジスタ4
43cはスリツト440,442から照明が受けられる
ように位置している。ディスク410はモータギヤユニ
ツト444(第5図)によつて矢E(第20図)の方向
に回転され、前記ユニツトは磁気カツプリング448お
よびベアリング450,452を介して1111144
6を回転させる。
That is, each phototransistor receives light from each pair of slits, but not from an adjacent slit. More specifically, as shown in FIG. 25, phototransistor 443a is positioned so that it can receive illumination from slits 432 and 434, and phototransistor 443b is positioned so that it can receive illumination from slits 436 and 438. and phototransistor 4
43c is located so that it can receive illumination from slits 440 and 442. The disk 410 is rotated in the direction of arrow E (FIG. 20) by a motor gear unit 444 (FIG. 5), which unit is rotated via a magnetic coupling 448 and bearings 450, 452 at 1111144.
Rotate 6.

ユニツト444はディスク410を約1800rpmで
回転させるようなギヤを有している。フィルタ412か
回転すると、光源402からの光がフイルタを通り単一
通路454に沿つて光線を発生する。
Unit 444 has gears to rotate disk 410 at approximately 1800 rpm. As filter 412 rotates, light from light source 402 passes through the filter to generate a beam of light along a single path 454.

この光線は単一色の光の循環パルスから成つている。完
全な1循環パルスが、第22図にパルスPl,P2およ
びP3として示されている。フィルタのセグメント42
6または428により形成されるインターバル11によ
つて、パルスP1がパルスP2から分離されている。同
様に、フィルタのセグメント427あるいは429によ
り形成されるインターバル12(こよつて、パルスP3
は各サイクルのパルスP1から分離されている。光源4
02及びフイルタにより発生される単一通路の単一色光
パルスは分析される各試験体を通過する。
This beam consists of circular pulses of light of a single color. A complete one-cycle pulse is shown in FIG. 22 as pulses P1, P2 and P3. Filter segment 42
An interval 11 formed by 6 or 428 separates pulse P1 from pulse P2. Similarly, interval 12 formed by filter segment 427 or 429 (and thus pulse P3
is separated from pulse P1 of each cycle. light source 4
A single pass, single color pulse of light generated by the 02 and filter passes through each specimen being analyzed.

たとえば、つほ30の区画室83か第5図に示す分析位
置に置かれているとすれば、パルスはレンズ456を通
り、ミラー457から反射され、加熱浴室124を通つ
て伝達される。その後パルスは、つぼ30の平面部分9
8、区画室83内の試験体、平面部分100、浴室12
4、ミラー458および他のレンズ460を通過するが
、このレンズ460は、伝達されるパルスを、パルスを
発生したフ4ルタ部分から180度変位したフィルタ4
12の部分へ集中させるものである。対応するフィルタ
の同一セグメントは円弧で180度置き換えられている
ので、各パルスは、それが試,験体に入る前及び試験体
を去つた後で、同一のフ4ルタによつて済波される。こ
の配列は試験体を通つて伝達される輻射を補正する手段
を与える。たとえば、セグメント414を通過する光子
はまた対応するセグメント416をも通過する。その結
果、パルスか試験体を通過する間に生ずる光の異常波長
が除去され、それによつて試験体の分析に際して起りそ
うな誤りを回避することができる。出願人の米国特許第
3,512,889号に記載のごとく、光のビームをそ
れが試験体を通過する前後で済波することにより、装置
を周囲の光条件で用いることが可能となる。試験体から
伝達されたパルスはフイルタ412を通過した後、光電
倍率器トランスジユーサ管462内へ伝達され、ここで
波長,1−1,3の各各で試験体を通つて伝達された光
の強さに比例する値を有する電気パルス信号を順々に発
生する。
For example, if compartment 83 of tube 30 is placed in the analysis position shown in FIG. 5, the pulse passes through lens 456, is reflected from mirror 457, and is transmitted through heated bath 124. The pulse is then applied to the planar portion 9 of the acupoint 30.
8. Test specimen in compartment 83, flat part 100, bathroom 12
4, a mirror 458 and another lens 460 which directs the transmitted pulses to a filter 4 displaced 180 degrees from the filter section that generated the pulses.
It concentrates on 12 parts. The same segment of the corresponding filter is replaced by a circular arc by 180 degrees, so that each pulse is filtered by the same filter before it enters the test specimen and after it leaves the test specimen. Ru. This arrangement provides a means of compensating for radiation transmitted through the specimen. For example, a photon passing through segment 414 also passes through corresponding segment 416. As a result, abnormal wavelengths of light that occur during the passage of the pulse through the specimen are eliminated, thereby avoiding possible errors in the analysis of the specimen. As described in Applicant's US Pat. No. 3,512,889, dispersing the beam of light before and after it passes through the specimen allows the device to be used in ambient light conditions. After passing through a filter 412, the pulses transmitted from the specimen are transmitted into a photomultiplier transducer tube 462, where the pulses transmitted through the specimen at wavelengths 1-1 and 3 are detected. sequentially generate electrical pulse signals having values proportional to the intensity of the pulses.

すなわち、前記管462はその出力導体470に、各サ
イクルでパルスP1−P3に相当する電圧波形を有する
電気パルス信号を発生する。光電倍率器462により生
じた電気パルス信号を分析する電子装置が、全装置ない
し系の作動を制御する処理回路と共に、概略的に第23
図に示されている。
That is, the tube 462 generates on its output conductor 470 an electrical pulse signal having a voltage waveform corresponding to pulses P1-P3 in each cycle. Electronic equipment for analyzing the electrical pulse signals produced by the photomultiplier 462 is generally located in the twenty-third section, along with processing circuitry that controls the operation of the entire device or system.
As shown in the figure.

さらに詳しく述べれば、導体470に発生したパルス信
号は、バイアス増幅器482で制御される信号増幅器4
80によつて増幅される。また、この信号増幅器480
の出力はサーボ増幅器484の1方の入カへ接続されて
おり、サーー゛増幅器の他方の入力は基準電圧供給装置
486゛つ与えられる。光電倍率器462へ接続されサ
ーボ高電圧供給装置488の出力を制御5、サーボ増幅
器484は増幅器480とへ E供給装置とからの信
号を比較する。
More specifically, the pulse signal generated on conductor 470 is transmitted to signal amplifier 4 which is controlled by bias amplifier 482.
80. Moreover, this signal amplifier 480
The output of the servo amplifier 484 is connected to one input of the servo amplifier 484, and the other input of the servo amplifier is provided with a reference voltage supply 486. A servo amplifier 484 is connected to a photomultiplier 462 to control the output of a servo high voltage supply 488, and a servo amplifier 484 compares the signal from the amplifier 480 to the E supply.

もし、増幅 専80の出力に生ずる信号か十分に弱けれ
ば、高電圧供給装置488は光電倍率器462が導体4
70に現われる信号の大さを増大するように変えられる
。増幅器480の出力はまた低域フィルタ490−49
2から成る比戟回路へ導通している。
If the signal produced at the output of amplifier 80 is sufficiently weak, high voltage supply 488 will cause photomultiplier 462 to
70 to increase the magnitude of the signal appearing at 70. The output of amplifier 480 is also passed through low pass filters 490-49.
It is electrically connected to the ratio circuit consisting of 2.

これらのフィルタの入力は検出回路493を介してフオ
トトランジスタ443a−443cへ接続されている。
検出回路はトランジスタ443a−443cからの情報
信号を受け、フィルタ490−492が光パルスP1−
P3の1つのみに対応する電気パルス信号を通すことが
できるようにする。さらに詳しく述べれば、検出回路4
93によつて光パルスP1の存在中のみ、フィルタ49
0がパルス信号を導体494に送ることかできるように
してある。同様に、パルスP2およびP3の存在中のみ
、フイルタ491および492はそれぞれパルス信号を
導体495および496に送ることかできる。その結果
、夫々光パルスP1−P3の強さに比例する大きさを有
する直流信号を導体494−496に生ずる。導体49
5と496に生じた直流信号は加算回路498に伝達さ
れる。この回路498はコンソール502(第1図)に
取り付けたノブ500によつて制御される調節可能な電
位差計499を備えている。回路498はまた、バイア
ス抵抗器503を備え、この抵抗器を通つて、導体49
5,496に生じた信号の既定の割合による加算値が導
体504へ伝達される。導体494および504は調整
回路506を介して、夫々、導体508,509に接続
されている。導体508および509に現われる直流電
圧はログ・レシオ・(対数比)メータに導通される。こ
のログ・レシオ・メータは比較器510と512から成
つている。抵抗容量タイミング回路514からの電圧も
またこれらの比較器へ供給される。タイミング回路51
4は固定抵抗516,518および固定コンデンサ52
0から成つている。この回路はまた、コンソール502
(第1図)に取り付けたノブ522により制御される、
調節可能な電位差計521を備えている。後述の装置5
23は、コンデンサ520を既定の負電圧に充電するた
め、導体524に沿いダイオード525を介して充電パ
ルスをコンデンサ520へ供給するためのものである。
負電圧は十分大きいので、充電パルスの存在中、導体5
08および509は大地電位以下にバイアスされる。充
電パルスが終ると、導体の電圧は単調に変化する。さら
に詳しく云えば、指数的に大地電位に向つて降下する。
一般に、導体509は導体508より前に大地電位に達
する。導体509が大地電位に達するとすぐ、比較器5
12は、フリツプフロツプ回路527をその「1]状態
に切換えるパルスを発生する。それによつて排他的な0
Rゲート528に分析信号を起させる。分析信号は、コ
ンバータ回路529によつて自動的にディジタル形に変
換されるが、このコンバータ回路529は、フリツプフ
ロツプ回路530、パルスを200KCの割合で発生す
る水晶制御パルス発生器532、およびアツプダウンゲ
ート534から成つている。分析信号が発生すると、フ
リツブフロツプ530をその「1」状態に切り換るので
、発生器532からのパルスはアツプダウンゲート53
4を介して伝達され、カウンタ536により計数される
。導体508が大地電位に達すると、比較器510がパ
ルスを発生し、フリツプフロツプ回路526をその「1
]状態に切り換えるので、ゲート528は元の状態に復
帰し、それによつて分析信号か終る。これによつて、付
加的パルスがカウンタ536に入ることを防止する。分
析信号の持続期間が分析される試験体内の物質Aの濃度
に比例することか理解できよう。
The inputs of these filters are connected via detection circuit 493 to phototransistors 443a-443c.
The detection circuit receives information signals from transistors 443a-443c, and filters 490-492 receive optical pulses P1-
It is possible to pass an electric pulse signal corresponding to only one of P3. More specifically, the detection circuit 4
93, the filter 49 only during the presence of the light pulse P1.
0 can send a pulse signal to conductor 494. Similarly, only during the presence of pulses P2 and P3, filters 491 and 492 can send pulse signals to conductors 495 and 496, respectively. The result is a DC signal on conductors 494-496 having a magnitude proportional to the intensity of light pulses P1-P3, respectively. Conductor 49
The DC signals generated at 5 and 496 are transmitted to adder circuit 498. This circuit 498 includes an adjustable potentiometer 499 controlled by a knob 500 mounted on a console 502 (FIG. 1). Circuit 498 also includes a bias resistor 503 through which conductor 49
A sum of a predetermined percentage of the signals generated at 5,496 is transmitted to conductor 504. Conductors 494 and 504 are connected to conductors 508 and 509, respectively, via adjustment circuit 506. The DC voltage appearing on conductors 508 and 509 is conducted to a log ratio meter. The log ratio meter consists of comparators 510 and 512. Voltage from resistive capacitive timing circuit 514 is also provided to these comparators. timing circuit 51
4 is fixed resistance 516, 518 and fixed capacitor 52
It consists of 0. This circuit also connects console 502
(FIG. 1) controlled by a knob 522 attached to the
An adjustable potentiometer 521 is provided. Device 5 described below
23 is for supplying a charging pulse to capacitor 520 along conductor 524 through diode 525 in order to charge capacitor 520 to a predetermined negative voltage.
The negative voltage is large enough that during the presence of the charging pulse, conductor 5
08 and 509 are biased below ground potential. At the end of the charging pulse, the voltage on the conductor changes monotonically. More specifically, it drops exponentially towards ground potential.
Generally, conductor 509 reaches ground potential before conductor 508. As soon as conductor 509 reaches ground potential, comparator 5
12 generates a pulse that switches the flip-flop circuit 527 to its "1" state, thereby causing the exclusive 0
R gate 528 is caused to generate an analysis signal. The analysis signal is automatically converted to digital form by converter circuit 529, which includes a flip-flop circuit 530, a crystal-controlled pulse generator 532 that generates pulses at a rate of 200 KC, and an up-down gate. It consists of 534. When the analysis signal is generated, it switches the flip-flop 530 to its "1" state so that the pulse from the generator 532 is applied to the up-down gate 53.
4 and counted by counter 536. When conductor 508 reaches ground potential, comparator 510 generates a pulse that causes flip-flop circuit 526 to
] state, gate 528 returns to its original state, thereby terminating the analysis signal. This prevents additional pulses from entering counter 536. It can be seen that the duration of the analytical signal is proportional to the concentration of substance A in the specimen being analyzed.

さらに、前述の回路を使用することによつて、カウンタ
536によつて計数されるパルス数は数式10gJP2
+KP3に等しくなる。ここで、Pl,IjPP2、お
よびP3は夫々パルスPl,P2およびP3の大きさを
表わす。
Furthermore, by using the circuit described above, the number of pulses counted by counter 536 can be calculated using the formula 10gJP2
+KP3. Here, Pl, IjPP2, and P3 represent the magnitudes of pulses Pl, P2, and P3, respectively.

定数J,KlおよびLを適当に選択すれば、出力を所望
の単位、たとえば、国際単位の即/lによつて直接読み
取ることができる。前記回路を用いることによつて、妨
害物質BおよびCは、これらを物理的に物質Aから分離
しないで、自動的に補償しうる。さらに、試験体は既座
に分析されるので、物質Aが反応している間に補償を達
成することができる。処理回路 なお、第23図を参照すると、全装置の論理を制御する
処理回路540は、調整のために用いられているアツプ
デート(Updating)モードまたはオペレーテイ
ングモードのいずれかにより作動することかできる。
By choosing the constants J, Kl and L appropriately, the output can be read directly in the desired units, for example in international units of /l. By using said circuit, interfering substances B and C can be compensated automatically without physically separating them from substance A. Furthermore, since the specimen is analyzed in situ, compensation can be achieved while substance A is reacting. Processing Circuit Still referring to FIG. 23, processing circuit 540, which controls the logic of the entire system, can operate in either an Updating mode or an Operating mode, which is used for coordination.

これらのモードはアツプデート選択回路544及びオペ
レーテング選択回路548により制御される。このアツ
プデート選択回路544は、瞬時アツプデートスィツチ
546を介して作動され、オペレーテング選択回路54
8は瞬時スタートスイツチ550および瞬時ストツプス
ィツチ552を介して作動される。これらの回路は、双
方を同時に用いることができないように電気的にインタ
ロツクされている。アツプデートモードでは、分析装置
は読取りを行い、これを毎秒、通常のニクシ一(Nix
ie)表示装置に表示する。第1図に示すように、この
表示装置は、分析位置のつぼ区画室の識別コードを表示
する部分581と、試験体の値、たとえば濃度を゛Mg
/l゛または国際単位で表示する部分582と、力ロー
セルの作動回転数を表示する部分582aとから成つて
いる。識別コードはデコーダ574を介して表示される
。このデコーダは、力ローセルの円筒状スカート部13
2に設けたコート:孔の組の背後に位置している5つの
フオトトランジスタ154から信号を受ける。普通のオ
ペレーティングモードでは、マスタークロツク542が
スタートパルスを一定間隔、たとえば、9.375秒毎
、15秒毎、18.75秒毎、30秒毎、または37,
5秒毎に送る。
These modes are controlled by update selection circuit 544 and operating selection circuit 548. This update selection circuit 544 is actuated via an instantaneous update switch 546, and the operating selection circuit 54
8 is actuated via instantaneous start switch 550 and instantaneous stop switch 552. These circuits are electrically interlocked so that neither can be used at the same time. In update mode, the analyzer takes readings and sends them every second as normal
ie) Display on a display device. As shown in FIG.
It consists of a section 582 that displays /l'' or international units, and a section 582a that displays the operating rotational speed of the force row cell. The identification code is displayed via decoder 574. This decoder consists of the cylindrical skirt 13 of the force row cell.
Coat 2: Receives signals from five phototransistors 154 located behind the set of holes. In normal operating mode, master clock 542 sends a start pulse at regular intervals, for example, every 9.375 seconds, every 15 seconds, every 18.75 seconds, every 30 seconds, or every 37 seconds.
Sends every 5 seconds.

時間選択器556により、所望のスタートパルスを選択
して、5分、10分、または20分毎に力ローセルを1
回転させる。この選択は、5点スィツチ557を制御す
る、コンソール502に設けたノブ558によつて行う
ことができる。選択したスタートパルスは時間選択器5
56を介して一連のゲート560へ導通させる。
Time selector 556 selects the desired start pulse to cycle the force low cell once every 5, 10, or 20 minutes.
Rotate. This selection can be made by a knob 558 on console 502 that controls five point switch 557. The selected start pulse is the time selector 5.
56 to a series of gates 560.

これらのゲートは、下記の動作を行うため、記憶装置5
62、表示装置563、プリンタ564、およびパルス
カウンタ536の動作を制御する。(1)緩慢反応の定
量(2)急速反応の定量 および (3)終点の定量 ゲート560の作動は、コンソールのノブ569に結合
されているアツプダウンスィツチ568によりまた、コ
ンソールのノブ571に結合されている速度一終点スィ
ツチ570により制御される。
These gates are connected to the storage device 5 in order to perform the following operations.
62, controls the operations of the display device 563, printer 564, and pulse counter 536. (1) Slow reaction quantification, (2) rapid reaction quantification, and (3) endpoint quantification gate 560 actuation is also coupled to console knob 571 by an up-down switch 568 coupled to console knob 569. The speed is controlled by a speed-to-end switch 570.

プリンタ564は普通の型であり、紙585のロール上
に情報をプリントすることができる。円筒状スカート部
132に設けられた特定のコード孔から受ける既定識別
コードにより、回転カウンタ566は力ローセルの各サ
イクルの間に1回だけ付勢される。この情報はNAND
ゲート656b7によつて解読される。この回転カウン
タは、コンソール上のノブ573により制御される回転
選択回路572を付勢する。ノブ573は、力ローセル
の2−4回転のうち既定の1回転が終ると、装置力相動
的に停止するように調節することができる。プリンタお
よび表示装置は第29図に示すBDCデコーダ574に
対する二進信号によつて作動される。
Printer 564 is of a conventional type and is capable of printing information on a roll of paper 585. A predetermined identification code received from a particular code hole in the cylindrical skirt 132 causes the revolution counter 566 to be energized only once during each cycle of the force low cell. This information is NAND
Decoded by gate 656b7. This revolution counter energizes a revolution selection circuit 572 which is controlled by a knob 573 on the console. Knob 573 can be adjusted to dynamically stop the device force phase after a predetermined 1 out of 2-4 rotations of the force row cell. The printer and display are operated by binary signals to BDC decoder 574 shown in FIG.

ここに示す型のマスタークロツク、ゲートおよび回転カ
ウンタを使用することによつて、本出願人は処理回路を
発明したが、この回路によれば、最少の回路要素で最高
の動作弾力性が期待できる。
By using master clocks, gates and revolution counters of the type shown herein, Applicants have invented a processing circuit which provides the highest possible operational resiliency with a minimum of circuit elements. can.

この特徴を有する設計を用いて、本出願人はいくつかの
異なる型式の分析を行うために実質的に同じ回路を使用
することかできた。第18図に、好個のデ4スペンサ制
御回路360が詳細に例示されている。
Using a design with this feature, Applicants were able to use essentially the same circuit to perform several different types of analysis. A preferred despenser control circuit 360 is illustrated in detail in FIG.

同様に、第24〜35図に、分析装置400、処理回路
540および記憶装置562についての好個の実施例が
例示されている。第18図および第24〜35図の各々
において、下記の表Aに記載された型式の要素を識別す
るため参照符号が用いられている。表 A 参照符号 要素名 604抵抗器 第18図および第24〜35図において、下記の表Bに
記載された要素を識別するため、その他の参照符号が用
いられている。
Similarly, preferred embodiments of analysis device 400, processing circuitry 540, and storage device 562 are illustrated in FIGS. 24-35. Reference numerals are used in each of FIG. 18 and FIGS. 24-35 to identify elements of the type listed in Table A below. Table A Reference Numbers Element Names 604 Resistor Other reference numbers are used in Figures 18 and 24-35 to identify the elements listed in Table B below.

上記に加えて、第18図および第24−35図において
は、導体はすべて700から799の符号で表わされて
いる。
In addition to the above, all conductors in FIGS. 18 and 24-35 are designated by numbers 700 through 799.

同じ符号の導体は互に接続されている。図示のNAND
,NORおよび0Rゲートは通常の論理ゲートであり、
それらの入力端子に伝達される電圧に応答して、それら
の出力端子に2つの電圧レベルの中の1つを生ずる。
Conductors with the same sign are connected to each other. NAND shown
, NOR and 0R gates are normal logic gates,
In response to voltages communicated to their input terminals, they produce one of two voltage levels at their output terminals.

「1」状態に切り換えると、ゲートはその出力端子に比
較的高い電圧を発生し、次に零状態に切り換えると、ゲ
ートはその出力端子に比較的低い電圧を発生する。装置
の操作A アツプデート(現時点)および調整モードで
の操作アツプデートモードで装置ないし系を作動するた
めに、操作者はコンソール502上のスイツチ577を
押し電力供給装置(図示せず)を付勢する。
When switching to the "1" state, the gate will generate a relatively high voltage at its output terminal, and then when switching to the zero state, the gate will generate a relatively low voltage at its output terminal. Operating the Device A. Operation in Update and Adjustment Modes To operate the device or system in update mode, the operator presses switch 577 on console 502 to energize the power supply (not shown). .

この電力供給装置はすべての電気装置に接続されており
、図示の種々の直流および交流電圧を供給する。特に、
この電力供給装置によつてモータ444を付勢し、フィ
ルタディスク410を前述の方法で回転させる。これに
加えて、電力供給装置は光源402によつて紫外線及び
可視光線を発生させる。その結果、分析位置に配したつ
ぼ区画室に保持された試験体を介して、光パルスが単一
光学路454へ連続的に伝達される。たとえば、第5図
に示すように、光パルスは、分析位置に示す区画室83
を介して伝達される。前述のように、分析位置にある試
験体を介して伝達される光パルスは光電倍率管462(
第23図)によつて対応する電気信号に変換される。つ
いで、電気信号が比較回路489の要素によつて検出さ
れ、済波されかつ加算される。その結果、比較器510
および512による比戦をうける直流信号が導体508
および509に連続的に発生する。しかしこれらの信号
は、充電パルス源523がゲート560によつて付勢さ
れるまでは、実際には分析信号を導体702に発生させ
るように比較されない。系をアツプデートモードにより
作動するためには、アツプデートスィツチ546(第3
0図)を瞬時的に閉じる。
This power supply is connected to all electrical devices and supplies the various DC and AC voltages shown. especially,
The power supply energizes the motor 444 to rotate the filter disk 410 in the manner described above. In addition, the power supply device generates ultraviolet and visible light by means of a light source 402. As a result, light pulses are continuously transmitted into a single optical path 454 through the specimen held in the crucible compartment located at the analysis location. For example, as shown in FIG.
transmitted via. As previously mentioned, the light pulse transmitted through the specimen in the analysis position is transmitted through the photomultiplier tube 462 (
23) into a corresponding electrical signal. The electrical signals are then detected, processed and summed by elements of comparator circuit 489. As a result, comparator 510
and 512, the DC signal is transmitted to conductor 508
and 509 occur consecutively. However, these signals are not actually compared to generate an analysis signal on conductor 702 until charging pulse source 523 is energized by gate 560. To operate the system in update mode, update switch 546 (third
(Fig. 0) is closed instantaneously.

これによつてアツプデート選択器544を作動させる。
基本的には、アツプデート選択器によつて、分析位置に
保持されている単一試1験体に関するデータをほぼ1秒
に1回発生せしめ表示することが可能である。第30図
に示されるようにアツプデート選択器544は、クロツ
ク542がスタートパルスを与えるほど充分な計数をし
ないようにし、それで通常の動作か防止される。第30
図に示すように、アツプデート選択器544は2つのN
ORゲート670a8および670b8から成る。アツ
プデートスイツチ546を瞬時的に閉じ次に開くと、ゲ
ート670b8はその零状態へ切り換えられ、ゲート6
70a8はその「l]状態に切り換えられる。一方、こ
の操作によつて、ゲート617a8はその零状態へ切り
換えられ、ゲート680a8はその「1]状態に切り換
えられる。NORゲート670a8が「1]状態にある
ため、トランジスタ610a8が通電し、それによつて
アツプデート電球580を点燈させる。系が作動し始め
ると、1つの信号すなわち24ボルト、60サイクルの
交流信号が信号源576からクロツク542へ導入され
る。クロツク542は12段二進カウンタまたは周波数
分割器であり、各段は、そのQ出力で、C入力における
入力パルスの半分の周波数によりパルスを発生する。ク
ロツクかりセツトされると、各段のQ出力は比戟的低い
電圧を生ずるので各段はその零状態にある。どの段でも
そのC入力で第1の正パルスを受けると、そのQ出力は
比戟的高い電圧に切り換えられるので、その段はその「
1」状態にある。段がそのC入力で第2の正パルスを受
けると、その段は零状態に復帰する。クロツクが5つの
段を介して計数するとすぐ、NANDゲート637a9
(第31図)がその零状態に切り換えられる。それによ
つて、NANDゲート677a11および656a11
はそれらの「1」状態(第33図)に切換えられる。そ
の結果、信号S1およびS2(第36図)かそれぞれ出
力導体706および708に生ずる。信号S1に応答し
て、カウンタ536のカウンタモジユールの各々か零値
にりセツトされ、また信号S2に応答して、充電パルス
源523によりタイミングコンデンサ520か負電圧(
第23図)に充電される。その結果、比較器510およ
び512が、分析信号を導体702に与えるため、発生
装置によつて生じた電気信号の大きさを比較する。前に
も記載したように、分析信号は、パルス発生器532お
よびγツプダウンゲート534によつて一連のディジタ
ルパルスに変換される。次に、このパルスはカウンタ5
36によつて計数され、その結果は表示装置563に表
示される。次いで、クロツク542がNORゲート68
0a8によつてその「1]状態に錠止されている0Rゲ
ート384a9(第31図)を介してりセツトされ、動
作サイクルが再び開始する。その結果、表示装置563
は、ほぼ1秒に1回、分析位置に保持されている試験体
の濃度に比例する値を表示する。γツプデートモードの
動作中、系を調整するために、操作者は、スイツチ58
3(第25図)を作動する計算ボタン584(第1図)
を押す。
This activates the update selector 544.
Basically, the update selector allows data for a single test specimen held in the analysis position to be generated and displayed approximately once every second. As shown in FIG. 30, update selector 544 prevents clock 542 from counting sufficiently to provide a start pulse, thus preventing normal operation. 30th
As shown, update selector 544 has two N
Consists of OR gates 670a8 and 670b8. When update switch 546 is momentarily closed and then opened, gate 670b8 is switched to its zero state and gate 670b8 is switched to its zero state.
70a8 is switched to its "l" state. This operation, in turn, switches gate 617a8 to its zero state and switches gate 680a8 to its "1" state. NOR gate 670a8 switches to its "1" state. This causes transistor 610a8 to conduct, thereby igniting update bulb 580. When the system begins to operate, a single signal, a 24 volt, 60 cycle AC signal, is introduced from signal source 576 to clock 542. Clock 542 is a 12-stage binary counter or frequency divider, with each stage producing a pulse at its Q output with half the frequency of the input pulse at the C input. The Q output produces a relatively low voltage so that each stage is in its zero state. When any stage receives the first positive pulse at its C input, its Q output is switched to a relatively high voltage. That step is that “
1” state. When a stage receives a second positive pulse at its C input, the stage returns to the zero state. As soon as the clock counts through the five stages, NAND gate 637a9
(FIG. 31) is switched to its zero state. Thereby, NAND gates 677a11 and 656a11
are switched to their "1" state (FIG. 33). As a result, signals S1 and S2 (FIG. 36) are produced on output conductors 706 and 708, respectively. In response to signal S1, each of the counter modules of counter 536 is set to a zero value, and in response to signal S2, charging pulse source 523 causes timing capacitor 520 to be set to a negative voltage (
(Fig. 23). As a result, comparators 510 and 512 compare the magnitudes of the electrical signals produced by the generators to provide analytical signals to conductor 702. As previously described, the analysis signal is converted into a series of digital pulses by pulse generator 532 and gamma down-down gate 534. This pulse is then sent to counter 5
36, and the result is displayed on the display device 563. Clock 542 then outputs NOR gate 68.
The operating cycle begins again through 0R gate 384a9 (FIG. 31), which is locked in its "1" state by 0a8. As a result, display 563
displays a value proportional to the concentration of the test specimen held at the analysis position approximately once every second. To adjust the system during operation in the gamma update mode, the operator operates switch 58.
Calculate button 584 (Fig. 1) which activates 3 (Fig. 25).
Press.

この計算ボタンを押すことにより、ス4ツチ583が第
25図に示す位置から、ワイパ626a3と626b3
がそれぞれ接点 624a3と624b3に接触するように動かされる位
置まで移動される。
By pressing this calculation button, the switch 583 moves the wipers 626a3 and 626b3 from the position shown in FIG.
are moved to a position where they are brought into contact with contacts 624a3 and 624b3, respectively.

抵抗器604ff3−604113の値はス4ツチ接点
間の合成電圧が0.7943:1の割合になるように計
算されており、この割合は1単位の吸収に相当する。計
算ボタンを押した後、可変抵抗器521(第26図)は
、カウンタ出力が100を読み取るまで、調節される。
代りに、既知の濃度を有する基準試験体を分析位置に配
置することができる。この場合、計算ボタンは作動され
ないか、抵抗器521は、カウンタの読みが基準試,験
体の既知の濃度に対応するに至るまで調節される。よつ
て行われる。特定の妨害物質を実質的に含まない試験体
が分析位置へ移動され、カウンタの読み取りが記録され
る。ついで、かなりの量の妨害物質をもつ試験体が分析
位置に移動され、電位差計499は、カウンタの計数が
妨害物質のない試験体により得られた計数と同一になる
まで、調節される。この技術分野の者は、試験体内の種
々の物質について吸収曲線を検討することによつて電位
差計449の設定をする付加的な分析方法を知つている
。前述の調整に加えて、調整可能な抵抗器 604113(第25図)を用いて、系を「零]にする
The values of resistors 604ff3-604113 are calculated so that the combined voltage across the four switch contacts is in the ratio 0.7943:1, which corresponds to one unit of absorption. After pressing the calculate button, variable resistor 521 (FIG. 26) is adjusted until the counter output reads 100.
Alternatively, a reference test specimen with a known concentration can be placed at the analysis location. In this case, either the calculate button is not activated or the resistor 521 is adjusted until the counter reading corresponds to the known concentration of the reference test analyte. It is done by folding. The test specimen, which is substantially free of the particular interfering substance, is moved to the analysis position and the counter reading is recorded. The specimen with a significant amount of interfering material is then moved to the analysis position and the potentiometer 499 is adjusted until the reading on the counter is identical to the count obtained with the specimen without interfering material. Those skilled in the art are aware of additional analytical methods for configuring potentiometer 449 by examining absorption curves for various substances within a test body. In addition to the adjustments described above, an adjustable resistor 604113 (Figure 25) is used to "zero" the system.

この零調整をするために、ブランク試験体、たとえば水
を分析位置へ移動させ、カウンタの出力を記録する。つ
いで、抵抗器604113を調整して、カウンタの出力
を零にする。
To perform this zero adjustment, a blank specimen, for example water, is moved to the analysis position and the output of the counter is recorded. Then, adjust the resistor 604113 to make the counter output zero.

この調節を行うことによつて、導体508および509
の電圧レベルは、比戟器510と512が同時に出力パ
ルスを生ずるように同じにされる。その結果、カウンタ
536へパルスが入らないようになり、系は適切に零と
なる。B緩慢反応の定量の操作 本発明の特徴の1つはたくさんの試験体に生ずる反応速
度が、同時に決定され記録され、分析を完了するのに必
要な全体の時間を短かくすることができることである。
By making this adjustment, conductors 508 and 509
The voltage levels of are made the same so that compensators 510 and 512 produce output pulses at the same time. As a result, there will be no pulses to counter 536 and the system will properly zero. B. Operation of Quantification of Slow Reactions One of the features of the present invention is that the reaction rates occurring in a large number of specimens can be determined and recorded simultaneously, reducing the overall time required to complete the analysis. be.

この態様の操作を行うため操作者は第9図に示すように
力ローセルにこの目的のために設けられた開口中に32
個の別々のサンプルを入れた試験管を置く。
To carry out this mode of operation, the operator must insert a
Place test tubes containing several separate samples.

第5図に示すように、操作者は各試験管内の液面が水平
リング部材136の上面と一致するように試験管を置か
なければなら.ない。
As shown in FIG. 5, the operator must place the test tubes so that the liquid level in each test tube is aligned with the top surface of the horizontal ring member 136. do not have.

試験管はスプリングクリツプ例えばクリツプ143,1
44によりこれらの位置に保持される。
The test tube is attached to a spring clip such as clip 143,1.
44 in these positions.

勿論、適当な試薬液を、試薬溜め272内に入れておか
なければならない。第30図について述べれば、試験管
を力ローセルに位置決めして後にスタートスイツチ55
0が瞬時的に閉じられ、それから開放され、これにより
NORゲート680a8は零状態に、NORゲート61
7a8は「1」状態に切換えられる。
Of course, a suitable reagent solution must be placed in the reagent reservoir 272. Referring to FIG. 30, after positioning the test tube in the force cell, the start switch 55 is turned on.
0 is momentarily closed and then opened, which causes NOR gate 680a8 to go to the zero state and NOR gate 61
7a8 is switched to the "1" state.

その結果、トランジスタ610c8は、その導電状態に
切換えられ、電流が運転燈578を流れる。
As a result, transistor 610c8 is switched to its conducting state and current flows through running light 578.

操作者は更に速度一終点スィツチ570を速度位置に、
かつアツプダウンスィツチ568をアツプ位置に動かす
The operator further sets the speed one end point switch 570 to the speed position,
And move the up-down switch 568 to the up position.

第23図において32個のサンプルの反応速度は、基本
的には次の様にして決定される。
The reaction rates of the 32 samples in FIG. 23 are basically determined as follows.

クロツク542は、9.375秒、18.75秒、及び
37.5秒の間隔をもつてそのスタートパルスを送るか
ら、力ローセルが各々5,10あるいは20分毎に回転
する事になる。この様にして、時間選択スィツチ557
を通じて適当なスタートパルスを送る事により、操作者
は、力ローセルの回転する速度を制御する事ができる。
Clock 542 sends its start pulses at intervals of 9.375 seconds, 18.75 seconds, and 37.5 seconds, resulting in the force row cells rotating every 5, 10, or 20 minutes, respectively. In this way, the time selection switch 557
By sending an appropriate start pulse through the oscilloscope, the operator can control the speed at which the force row cell rotates.

スタートパルスを受信した際にゲート560は第36図
に示す出力パルスを発生する事ができる。
Upon receiving the start pulse, gate 560 can generate the output pulse shown in FIG.

しかしながら力ローセルがある回転数で回転している間
に、若干の出力パルスは停止される。力ローセルの第1
回の回転の時に、表示装置563とプリンタ564は、
操作者か気付く限りにおいて、ディスペンサだけが機能
しつつあるように減勢される。
However, while the power row cell is rotating at a certain speed, some of the output pulses are stopped. Power row cell 1st
At the time of rotation, the display device 563 and printer 564
As far as the operator is aware, only the dispenser is deenergized so that it is functioning.

探り体260の下の位置(分析位置)に各試験管が進む
と分配パルスS7は、デイスペンサに送られ、試験管の
サンブル液が試薬液と混合され前に述べた様に対応する
つぼ区画室内へ分配される。
As each test tube advances to the position below the probe body 260 (analysis position), a dispensing pulse S7 is sent to the dispenser where the sample liquid in the test tube is mixed with the reagent liquid and the sample liquid in the test tube is mixed with the reagent liquid in the corresponding vibrator compartment as described above. distributed to.

第1回の力ローセルの回転の終りにおいて、つぼ区画室
の各々は前に述べた方法で分析される試験体で満たされ
る。第2回の回転中にディスペンサは停止し、プリンタ
も停止する。
At the end of the first rotation of the force row cell, each of the acupoint compartments is filled with the specimen to be analyzed in the manner previously described. During the second revolution, the dispenser stops and so does the printer.

各試験体が分析位置に入るときに得られた分析信号の値
は、その試験体に対応するコード孔組によつて該試験体
に与えられたアドレスに記憶装置562に書き込まれる
。この値及び対、芯するアドレスは又表示装置563に
も表示される。更に詳しく述べるならば、いずれかの時
に分析されている試験体の識別コードは、試験体インジ
ケータ581に表示され、試験体中の所望の物質の濃度
(まユニツト・インジケータ582に表示される。これ
らのインジケータは共にコンソール502に設けてある
。この態様の操作を行うことにより、操作者は試験管や
試験体がおかれてない位置を除いて、記憶装置562内
に書き込まれる値を観察する事ができる。試験管がおか
れてない力ローセルの位置において、表示装置とプリン
タは常に停止される。力ローセルの第3回の回転におい
て、デイスペンサは停止しているが、第36図に示す他
のすべての機能は稼働している。
The value of the analysis signal obtained as each specimen enters the analysis position is written to storage device 562 at the address given to the specimen by the code hole set corresponding to that specimen. This value and the corresponding address are also displayed on display 563. More specifically, the identification code of the specimen being analyzed at any time is displayed on specimen indicator 581, and the concentration of the desired substance in the specimen (also displayed on unit indicator 582) is displayed on specimen indicator 581. Both indicators are provided on the console 502. By performing this mode of operation, the operator can observe the values written in the storage device 562 except for positions where test tubes or test specimens are not placed. The display and printer are always stopped in the position of the force row cell where no test tube is placed.On the third rotation of the force row cell, the dispenser is stopped, but other than that shown in FIG. All functions are working.

第3回の回転においてゲート560は次の段階の操作を
順々に行なわせる。(1)カウンター536は零値にり
セツトされる。
In the third rotation, gate 560 causes the next stage of operation to occur in sequence. (1) Counter 536 is reset to zero value.

(2)分析位置におかれた試験体に対応する前回の回転
中に記憶装置562に記憶された値は記憶装置から読み
とられアツプカウントモードのカウンタ536に負荷さ
れる。(3)回路523は、分析装置が分析位置に於け
る試験体の現在値に相当する第1分析信号を発生するよ
うに付勢される。
(2) The value stored in the storage device 562 during the previous rotation corresponding to the specimen placed in the analysis position is read from the storage device and loaded into the counter 536 in up-count mode. (3) Circuit 523 is energized so that the analyzer generates a first analysis signal corresponding to the current value of the specimen in the analysis position.

(4)第1分析信号の値は、デ4ジタル形に変換されダ
ウンカウントモードのカウンター536に入り、残値を
得るために、記憶装置562から得られた値から差引か
れる。
(4) The value of the first analysis signal is converted into digital form and enters the counter 536 in down-counting mode and is subtracted from the value obtained from the storage device 562 to obtain the residual value.

(5)残値は表示装置563により表示され、プリンタ
564によりプリントされる。
(5) The remaining value is displayed on the display device 563 and printed by the printer 564.

(6)カウンタ536は再び零値にりセツトされる。(6) Counter 536 is reset to zero value again.

(7)回路523は、分析位置における同じ試験体に対
応する第2の分析信号を発生するために再び付勢される
(7) Circuit 523 is re-energized to generate a second analysis signal corresponding to the same specimen at the analysis position.

(8)第2分析信号の値はデジタル形に変換され、アツ
プカウントモードのカウンタ536に入るO(9)カウ
ンタ536の値は分析位置の試験体に対して指示された
アドレスに記憶装置562に読み込まれる。
(8) The value of the second analysis signal is converted into digital form and entered into the counter 536 in up-count mode. (9) The value of the counter 536 is stored in the storage device 562 at the address specified for the test specimen at the analysis position Loaded.

QO)循環装置168が付勢され、後続の試験体が分析
位置に移動される。
QO) Circulator 168 is energized and subsequent specimens are moved to analysis position.

前記の動作サィタルは、第3回の力ローセルの回転中に
各試,験体が分析されるまで続く。
The above motion citals continue until each test specimen is analyzed during the third rotation of the force row cell.

前記の動作は回転選択回路つまり時間選択スィツチ57
2の位置によつて力ローセルの第4回又はそれ以上の回
転中も継続することができるから、分析結果の照合をな
し、反応速度の直線性を証明する事ができる。もし回路
572が3回の力ローセルの回転の終りにおいて分析を
終了するようにセツトされた場合は、オペレーテング選
択器548が第3回の回転の終了の時に停止に切換えら
れ、ベルが鳴つて、分析が完了した事を操作者に通報す
る。
The above operation is performed by the rotation selection circuit, that is, the time selection switch 57.
By position 2, it is possible to continue during the fourth or more revolutions of the force row cell, thus making it possible to verify the analytical results and prove the linearity of the reaction rate. If circuit 572 is set to end the analysis at the end of three force row cell revolutions, operating selector 548 is switched to stop at the end of the third revolution and the bell rings. , notifies the operator that the analysis has been completed.

第30〜38図を参照して緩慢反応の定量のための装置
の操作を更に詳細に説明する。
The operation of the apparatus for quantifying slow reactions will be explained in more detail with reference to FIGS. 30-38.

既に述べた様に、スタートスイツチ550(第30図)
が瞬間的に閉じられ、スィツチ570がその速度位置に
動かされる。
As already mentioned, start switch 550 (Figure 30)
is momentarily closed and switch 570 is moved to its speed position.

スィツチ570をその速度位置へ動かすことにより、ワ
イパー626b11は接点624c11(第33図)と
接触するように動かされ、ワイパー626a5と626
b5はそれぞれ、接点624c5と624d5(第27
図)に接触するように動かされる。
By moving switch 570 to its speed position, wiper 626b11 is moved into contact with contact 624c11 (FIG. 33), causing wipers 626a5 and 626b11 to move into contact with contact 624c11 (FIG. 33).
b5 are contacts 624c5 and 624d5 (27th
(Fig.) is moved so as to touch it.

興味ある物質が累進的にその密度を増大するような反応
に対しては、ス4ツチ568がそのアツプ位置(すなわ
ち、第33図に示す位置)に動かされ、値は記憶装置か
らアツプカウントモードのカウンタに読み込まれる。
For reactions in which the substance of interest progressively increases its density, switch 568 is moved to its UP position (i.e., the position shown in Figure 33) and the value is transferred from storage to the UP Count mode. is read into the counter.

その反対の反応に対しては、スィツチ568は、ダウン
位置に動かさなければならない。更に、操作者は、力ロ
ーセルが1回転を行うために、5,10あるいは20分
を必要とするようにスィツチ557(第35図)を位置
決めする。
For the opposite reaction, switch 568 must be moved to the down position. Additionally, the operator positions switch 557 (FIG. 35) such that the force row cell requires 5, 10, or 20 minutes to complete one rotation.

スィツチ557が5分位置に町ノ)され、ワイパー62
6a13−626d13がそれぞれ接点557a−55
7d(第35図)と接触するように動かされるものと仮
定して次の説明を行う。操作者は更に回転選択回路57
2をセツトして、力ローセルが移動する回転数を決定す
る。
Switch 557 is set to 5 minute position, wiper 62
6a13-626d13 are contacts 557a-55 respectively
7d (FIG. 35) in the following explanation. The operator further selects the rotation selection circuit 57.
2 to determine the number of revolutions at which the force row cell moves.

次の説明は回路が3回転の後に分析を終了する様にセツ
トされると仮定して行う。この結果を得るために、ワイ
パー626a10−626c10はそれぞれ接点572
d−572f(第32図)と接触するように動かされる
。上記のスィツチが表示された位置にある時に、クロツ
ク542(第31図)は60サイクルの信号を電源57
6(第30図)から受信し、前に述べた方法で計数を行
う。
The following discussion assumes that the circuit is set to terminate the analysis after three revolutions. To achieve this result, wipers 626a10-626c10 each
d-572f (Figure 32). When the above switch is in the position shown, clock 542 (FIG. 31) sends a 60 cycle signal to power supply 57.
6 (FIG. 30) and counted in the manner previously described.

クロツクはNANDゲート637b9(第31図)が零
状態に切換えられるまでその計数を続ける。この状態は
、クロツクがその計数サイクルを始めてから9.375
秒後に生ずる。
The clock continues counting until NAND gate 637b9 (FIG. 31) is switched to the zero state. This condition has been 9.375 seconds since the clock began its counting cycle.
Occurs in seconds.

この時点において負パルスがNORゲート680a13
にスィツチ557(第35図)を通して送信され、この
ゲートは零状態に切換えられる。この信号に応答して、
NORゲート680c13は零状態に切換えられ、これ
により導体762上の負スタートパルスをゲート560
に送る。もしスイツチ557が10分位置か20分位置
にあれば、動作は類似のものとなるが、これはスィツチ
557が5分、10分あるいは20分位置にあるときに
はNORゲート680b13が閉鎖されるからである。
導体762に送られる負スタートパルスはまた導体74
0にも送られて0Rゲート684a8(第30図)とN
ANDゲート656a8を通してクロツクをりセツトす
る。
At this point, the negative pulse is applied to NOR gate 680a13.
is sent through switch 557 (FIG. 35), and this gate is switched to the zero state. In response to this signal,
NOR gate 680c13 is switched to a zero state, thereby causing the negative start pulse on conductor 762 to pass through gate 560.
send to If switch 557 is in the 10 minute or 20 minute position, the operation will be similar, since NOR gate 680b13 is closed when switch 557 is in the 5, 10, or 20 minute position. be.
The negative start pulse sent to conductor 762 also connects conductor 74
0R gate 684a8 (Figure 30) and N
The clock is reset through AND gate 656a8.

更に詳細に説明すれば、0Rゲート684a8はスター
トパルスの後縁で「1」状態に切換えられ、これにより
NANDゲート656a8は零状態に切換えられる。そ
の結果、クロツクが零値にりセツトされ、直ちにもう1
つのサイクルにわたつて計数を始める。第33図におい
て、ゲート560は、導体762に送られた負スタート
パルスに応答して、力ローセルの種々の回転中にゲート
のいくつかが減勢しない場合には、第36図に示す信号
の各々を発生するだろう。
More specifically, 0R gate 684a8 is switched to a "1" state at the trailing edge of the start pulse, which switches NAND gate 656a8 to a zero state. As a result, the clock is reset to zero value and immediately
Start counting over two cycles. In FIG. 33, gates 560 respond to a negative start pulse sent to conductor 762 and, if some of the gates are not de-energized during various rotations of the force row cell, the signals shown in FIG. each will occur.

もしこれらのゲートが減勢されなかつた場合は、パルス
は次のように発生するだろう。導体762から負スター
トパルスを受信した際に信号S1とS2がそれぞれNA
NDゲート677a11と656a11を通じて直ちに
発生する。
If these gates were not deenergized, a pulse would occur as follows. When a negative start pulse is received from conductor 762, signals S1 and S2 each become NA.
It is immediately generated through ND gates 677a11 and 656a11.

スタートパルスの受信に応答してNANDゲート687
a11は「1]状態に切換えられ、NANDゲート68
7b11は零状態に切換えられる。
In response to receiving the start pulse, NAND gate 687
a11 is switched to the “1” state, and the NAND gate 68
7b11 is switched to the zero state.

その結果、負アツプーダウン信号S5は導体B1に送信
され、更にアツプーダウンスィツチ568に送信される
。クロツク542の第5段(すなわち、フリツプフロツ
プ回路622e9)が「1]状態(第31図)に切換え
られると直ちにNANDゲート687a11と687b
11(第33図)の状態が逆になり、これにより第36
図に示す信号S5の極性か変わる。
As a result, a negative up-down signal S5 is transmitted to conductor B1 and further to up-down switch 568. As soon as the fifth stage of clock 542 (ie, flip-flop circuit 622e9) is switched to the "1" state (FIG. 31), NAND gates 687a11 and 687b are activated.
11 (Fig. 33) is reversed, and this causes the situation in Fig. 36 to be reversed.
The polarity of the signal S5 shown in the figure changes.

この切換えは更に0Rゲート684b11及びNAND
ゲート677b11を介してプリント信号S4を生ぜし
める。
This switching is also performed by the 0R gate 684b11 and the NAND
A print signal S4 is generated via gate 677b11.

加えてNANDゲート687a11と687b11の切
換えは、NANDゲート687c11を[1」状態へ切
換え、かつNANDゲート687d11を零状態へ切換
える。
In addition, switching NAND gates 687a11 and 687b11 switches NAND gate 687c11 to the [1] state and NAND gate 687d11 to the zero state.

その後、クロツク542の第5及び第6段(すなわち、
フリツブフロツプ回路622e9と622f9)が[1
」状態(第31図)に切換えられると、NORゲート6
80a11(第33図)は「1」状態に切換えられ、こ
れによりNANDゲート637a11は零状態へ切換え
られる。次にNANDゲート637a11の出力は負パ
ルスをNANDゲート677a11に送信し、これによ
り第36図に示す他のカウンタリセツト信号S1が発生
せしめられる。同様に、NANDゲート637a11か
らの負パルスはNANDゲート656a11を「1]状
態に切換え、第36図に示す他のタィミングチヤージパ
ルスS2を発生せしめる。続いてクロツク542の第7
段(すなわち、フリツプフロツブ回路622g9)が「
1]状態に切換えられたとき、NANDゲート687c
11は零状態に切換えられ、NANDゲート687d〕
1は[1」状態に切換えられる。その結果、負書込可能
パルスS6が第36図に示す導体711に発生する。書
込みパルスは導体713に分配パルスS7を及び導体7
14に補助分配パルスS8を発生するために、ゲート6
70a11,687e11,680b11、と680c
11をトリカーする。第34図において、負書込みパル
スS6はまた導体L1からNORゲート617a12に
送信され、トランジスター610b12とトリアツク6
16a12を通じて第36図に示す前進パルスS9を発
生する。
Thereafter, the fifth and sixth stages of clock 542 (i.e.
The flip-flop circuits 622e9 and 622f9) are [1
” state (FIG. 31), the NOR gate 6
80a11 (FIG. 33) is switched to the "1" state, which switches NAND gate 637a11 to the zero state. The output of NAND gate 637a11 then sends a negative pulse to NAND gate 677a11, which causes another counter reset signal S1 shown in FIG. 36 to be generated. Similarly, the negative pulse from NAND gate 637a11 switches NAND gate 656a11 to the "1" state, causing another timing charge pulse S2 shown in FIG.
stage (i.e., flip-flop circuit 622g9) is
1] state, the NAND gate 687c
11 is switched to zero state, NAND gate 687d]
1 is switched to the [1] state. As a result, a negative write enable pulse S6 is generated on conductor 711 shown in FIG. The write pulse sends a distributed pulse S7 to conductor 713 and conductor 7
gate 6 to generate an auxiliary distribution pulse S8 at 14
70a11, 687e11, 680b11, and 680c
Try 11. In FIG. 34, a negative write pulse S6 is also transmitted from conductor L1 to NOR gate 617a12, which connects transistor 610b12 and transistor 610b12.
A forward pulse S9 shown in FIG. 36 is generated through 16a12.

第36図に示すように、信号S1−S9の各各を発生し
た後にNANDゲート637b9(第31図)が再び零
位置に切換えられ、信号S1−S9のもう1つのサイク
ルを生ずるスタートパルスを発生するまでゲート5!0
は不能のま\になつている。
As shown in FIG. 36, after generating each of signals S1-S9, NAND gate 637b9 (FIG. 31) is again switched to the zero position to generate a start pulse that produces another cycle of signals S1-S9. Gate 5!0 until
has become impossible.

第34図において、スタートスィツチ550が閉じると
すぐに正信号が導体C1に送信されて、回転カウンタ5
66のすべてのフリツプフロツプをりセツトする。
In FIG. 34, as soon as the start switch 550 is closed, a positive signal is sent to conductor C1 and the rotation counter 5
Resets all 66 flip-flops.

回転カウンター566は該カウンタがりセツトされる時
にO段(すなわちフリツプフロツプ622a12)か零
状態(すなわち、比戟的低い電圧を生ずるQ出力をもつ
)に切換えられるリングカウンタである。すべての他の
段1−5は「1]状態に切換えられる。負パルスが導体
764に受信されるときはいつでも、零状態の段は「l
」状態に切換えられ、次の順次の段は零状態に切換えら
れる。力ローセルの各回転はNANDゲート656b7
(第29図)を零状態に切換えるコード孔組に対向する
位置で終るから、りセツトパルスが受信された後にカウ
ンタは直ちに段1へ進められ、フリツプフロツプ622
b12は零状態に切換えられる。力ローセルが完全にl
回転を終了した時に、NANDゲート656b7は再び
零状態に切換えられ、フリツプフロツブ622c12は
零状態に切換えられる。緩慢反応を定量するための、力
ローセルの3回転中に、ゲ゛一ト560により発生せし
められる実際のパルスを第37a図に示す。第1回の回
転中に回転カウンタの段1は零状態にある。その結果、
第37aに示すように、プリント信号S4を除いて既に
述べた信号の各々が発生する。第30図において、プリ
ント信号及び表示装置はNANDゲート687a8とN
ORゲート680d8を通じて回転カウンタにより、減
勢される。
Rotation counter 566 is a ring counter that is switched between the O stage (ie, flip-flop 622a12) or the zero state (ie, with a Q output that produces a relatively low voltage) when the counter is reset. All other stages 1-5 are switched to the "1" state. Whenever a negative pulse is received on conductor 764, the stage in the zero state switches to the "l" state.
' state and the next sequential stage is switched to the zero state. Each rotation of the force row cell is a NAND gate 656b7.
(FIG. 29) ends in a position opposite the code hole set that switches the zero state, so that after the reset pulse is received, the counter is immediately advanced to stage 1 and the flip-flop 622
b12 is switched to the zero state. The power row cell is completely
At the end of rotation, NAND gate 656b7 is again switched to the zero state and flip-flop 622c12 is switched to the zero state. The actual pulses generated by gate 560 during three rotations of the force low cell for quantifying slow responses are shown in Figure 37a. During the first revolution, stage 1 of the revolution counter is in the zero state. the result,
37a, each of the signals already mentioned except print signal S4 is generated. In FIG. 30, the print signal and display device are connected to NAND gate 687a8 and NAND gate 687a8.
It is deenergized by the revolution counter through OR gate 680d8.

第1回の回転中において、プリンタ及ひ表示装置の両方
とも減勢されているので、操作者は、ディスペンサの操
作のみに気をくばる。第30図において、分配信号S7
はNORゲート670a11を通して回転カウンタによ
り発生せしめらる。
During the first rotation, both the printer and display are de-energized, so the operator is only concerned with operating the dispenser. In FIG. 30, distribution signal S7
is generated by the revolution counter through NOR gate 670a11.

既に述べたように、各分配信号を受信した後にディスペ
ンサは各試1験管からのサンプル流体を溜め272内の
試薬流体と混合し、対応するつぼ区画室中に各流体の所
定量を入れる。つぼ区画室に試験体を入れた後に、分配
及び前進パルスか同時に発生せしめられ、次の区画室が
分析位置へ回動せしめられ、満たされる。その結果、力
ローセルの一回転の終了において、つぼ区画室の各々は
分析される試験体で満たされる。もし試験管が力ローセ
ルの上のいずれかの位置からはずれていれば、分配信号
S7が水銀スィツチ166とNANDゲート687b8
(第30図)を介して減勢され、力ローセルは自動的に
次の試験管の位置へと進んで行く。
As previously mentioned, after receiving each dispense signal, the dispenser mixes the sample fluid from each test tube with the reagent fluid in reservoir 272 and deposits a predetermined amount of each fluid into the corresponding crucible compartment. After loading the test specimen into the acupoint compartment, a dispensing and advance pulse is generated simultaneously and the next compartment is rotated to the analysis position and filled. As a result, at the end of one revolution of the force row cell, each of the acupoint compartments is filled with the specimen to be analyzed. If the test tube is removed from any position above the force low cell, the distribution signal S7 is connected to the mercury switch 166 and the NAND gate 687b8.
(FIG. 30), the force row cell automatically advances to the next test tube location.

上述の如く、水銀スィツチ166は分析位置の前方位置
におかれていて、デイスペンサの動作に対してより多く
の時間を与える。
As mentioned above, the mercury switch 166 is placed in a position forward of the analysis position to allow more time for dispenser operation.

その結果、もし試験管が存在しなかつたならば、力ロー
セルが分析位置に進んだ時に、装置は、表示装置563
とプリンタ564を減勢するために、無くなつている試
験管を記憶していなければならない。この様な動作モー
ドはフリツプフロツプ回路622a10と622b10
(第32図)によつて達成される。これ等のフリツプフ
ロツプは減勢機能を行なうために、NANDゲート68
7a8(第30図)を介して作動される。力ローセルの
第2回目の回転の間に、プリント信号S4は、スィツチ
接点624c11を介して減勢される(第33図)。し
かし零状態の入力か回転カウンタ566の段2への切換
によつて、NANDゲート687a8(第30図)から
除去されるので、表示装置563は作動する。零状態の
信号が、NORゲート670a11(第33図)の入力
導体1RC0から除去されることによつて分配信号も停
止される。力ローセルの第2回目の回転の間に、試.験
体の各々は分析され、試験体の値は記憶装置562に記
入される。この動作は、ゲート560によつて上述の方
法で形成された第37b図に示される一連のパルスS1
−S9を介して達成される。試験体が分析位置に入るや
いなや、その識別コードがフオトトランジスタ154に
よつて読み取られ、導体716−720(第27図)へ
と伝達される。次にこのコードは0Rゲート684a5
−684e5を介して各記憶モジユール644に伝達さ
れ、試験体の値がその独自の識別コードに関連して記憶
装置の中に記入される。力ローセルの第2回目の回転の
間に分析位置に入る各試,験体のために、他の一連の信
号S1−S9が発生される。
As a result, if a test tube were not present, when the force row cell was advanced to the analysis position, the device would display display 563.
The missing test tube must be remembered in order to power down the printer 564. This mode of operation is achieved by flip-flop circuits 622a10 and 622b10.
This is achieved by (Fig. 32). These flip-flops have a NAND gate 68 to perform the power reduction function.
7a8 (Figure 30). During the second rotation of the force row cell, print signal S4 is deenergized via switch contact 624c11 (Figure 33). However, a zero state input or switching to stage 2 of revolution counter 566 is removed from NAND gate 687a8 (FIG. 30), so display 563 is activated. The distribution signal is also stopped by removing the zero state signal from input conductor 1RC0 of NOR gate 670a11 (FIG. 33). During the second rotation of the force row cell, the test. Each of the specimens is analyzed and the specimen values are entered into storage 562. This operation is accomplished by the series of pulses S1 shown in FIG.
- Achieved via S9. Once the specimen is in the analysis position, its identification code is read by phototransistor 154 and transmitted to conductors 716-720 (FIG. 27). Next, this code is 0R gate 684a5
-684e5 to each storage module 644, and the value of the specimen is entered into the storage device in association with its unique identification code. Another series of signals S1-S9 is generated for each test specimen that enters the analysis position during the second rotation of the force row cell.

第37b図に示される様に2回目に対して信号S1が発
生されると、各カウンタモジユール636は導体706
(第27,28図)を通つて送られる正信号によつてク
リアにされる。信号S2が2回目に対して発生されると
、回路523(第26図)が附勢され導体702の上に
分析信号が発生する。この間、信号S5は「l」状態に
あるのでNANDゲート677b5(第27図)が作動
され、パルスは、パルス発生器532からカウンタモジ
ユール636へ導体770を通つて送られる。その結果
、カウンタモジユール636はアツプカウントモードで
パルスを計数し、得られた値は表示装置563によつて
表示される。信号S6が導体711を通して送られると
、カウンタモジユールの値は試験体の識別コードに関連
して、記憶モジユール644へと送られる。同時に前進
パルスS9がソレノイド170に送られて上述の如き方
法で次の試験体が分析位置に送られる。この様にして、
第2回目の回転が終了すると、各試験体の値は記憶モジ
ユール644の中に記憶される。第2回目の回転が終る
と回転カウンタは第3段に進み、零状態の信号はスィツ
チ接点624c11(第33図)から消され、プリント
パルスS4がNANDゲート677b11を動作するこ
とによつて発生される。
When signal S1 is generated for the second time as shown in FIG. 37b, each counter module 636 connects to conductor 706.
Cleared by a positive signal sent through (FIGS. 27 and 28). When signal S2 is generated for the second time, circuit 523 (FIG. 26) is energized and an analysis signal is generated on conductor 702. During this time, signal S5 is in the "l" state so NAND gate 677b5 (FIG. 27) is activated and a pulse is sent from pulse generator 532 to counter module 636 through conductor 770. As a result, counter module 636 counts pulses in up-counting mode and the resulting value is displayed by display device 563. When signal S6 is sent through conductor 711, the value of the counter module is sent to storage module 644 in association with the identification code of the test object. At the same time, an advance pulse S9 is sent to solenoid 170 to move the next specimen to the analysis position in the manner described above. In this way,
At the end of the second rotation, the values for each specimen are stored in storage module 644. At the end of the second rotation, the rotation counter advances to the third stage, the zero state signal is removed from switch contact 624c11 (FIG. 33), and print pulse S4 is generated by operating NAND gate 677b11. Ru.

第3回目の回転の間に、ゲート560は、分析される各
試験体のために第37C図で示される一連のパルスS1
−S9を発生する。
During the third rotation, gate 560 is activated with a series of pulses S1 as shown in FIG. 37C for each specimen being analyzed.
- Generate S9.

試験体か分析位置に置かれるやいなや試験体に対応する
コード孔はフオトトランジスタ154(第23図)によ
つて読み取られる。これ等のフオトトランジスタによつ
て生ぜしめられる識別コードは導体716−720を通
つてインバーター614a5と0Rゲート684a5−
684e5(第27図)を介して各記憶モジユール64
4に送られる。スタートパルスがゲート560に受信さ
れるやいなや、カウンタリセツトパルスS1がカウンタ
モジユールの各々を零値にクリアするために導体706
を通つて送られる。同時にパルスS1より長い持続期間
を有する読み取りパルスS3か導体707を通して送ら
れ、パルスS1の終了後に対応する識別コードに対して
記憶モジユールに記録された値がカウンタモジユール6
36に負荷される。同時に信号返させるもう1つの特徴
は回転選択回路572の最下部のワイパーを介して達成
される。ワイパー626c10を接点572c(第32
図)と接触させる事によつて回転カウンタが第4段に歩
進した時、NANDゲート656b7(第29図)は錠
止される。こうして、力ローセルはスィツチ552か作
動されるまで回転しつづける。C急速反応の定量中の操
作 スィツチ557(第35図)を15秒あるいは30秒位
置に動かす事によつて、装置は急速に生ずる反応を分析
する。
As soon as the specimen is placed in the analysis position, the code hole corresponding to the specimen is read by phototransistor 154 (FIG. 23). The identification code produced by these phototransistors is passed through conductors 716-720 to inverter 614a5 and OR gate 684a5-
684e5 (FIG. 27) to each storage module 64.
Sent to 4. As soon as the start pulse is received by gate 560, a counter reset pulse S1 is applied to conductor 706 to clear each of the counter modules to a zero value.
sent through. At the same time, a read pulse S3 having a duration longer than the pulse S1 is sent through the conductor 707, and after the end of the pulse S1 the value recorded in the storage module for the corresponding identification code is sent to the counter module 6.
36. Another feature of simultaneous signal return is achieved through the wiper at the bottom of rotation selection circuit 572. Wiper 626c10 is connected to contact 572c (32nd
NAND gate 656b7 (FIG. 29) is locked when the revolution counter advances to the fourth stage by contacting NAND gate 656b7 (FIG. 29). Thus, the force row cell continues to rotate until switch 552 is actuated. C. Rapid Reaction Quantification By moving operation switch 557 (FIG. 35) to the 15 second or 30 second positions, the instrument analyzes rapidly occurring reactions.

下記においてスイツチ557か動かされ、ワイパー62
6a13「626d13がそれぞれ、接点557m−5
57pと接触する様に作動されるものとする。スィツチ
がこの位置にある時、あたかもス4ツチ557が5分位
置にあるかの如く、力ローセルの第1回目の回転は上述
の場合と全く同一の方法で終了する。その結果、第1回
目の回転の間に、ディスペンサは上述の方法で液体を各
試験管から 二対応するつほ区画室へと送り込む。第3
5図について言及すれば、第1回目の回転の終了時に回
転カウンタが第2段に歩進すると、ゲート680a13
は作動されず、ゲート680b13は作動され、フリツ
プフロツプ回 二路622a13と622b13も又作
動される。
In the following, the switch 557 is moved and the wiper 62
6a13 "626d13 are respectively contact points 557m-5
57p. When the switch is in this position, the first rotation of the force row cell is completed in exactly the same manner as described above, as if switch 557 were in the 5 minute position. As a result, during the first revolution, the dispenser delivers liquid from each test tube into two corresponding tube compartments in the manner described above. Third
Referring to FIG. 5, when the revolution counter advances to the second stage at the end of the first revolution, the gate 680a13
is not activated, gate 680b13 is activated, and flip-flop circuits 622a13 and 622b13 are also activated.

これらのフリツブフロツプ回路は回路が4つのパルスを
受信するまでNORゲート680d13とトランジスタ
610a13によつて前進機構を停止する従来の2進カ
ウンタを具備している。,第2回目の回転中、15秒毎
にNANDゲ゛ート637a13はスタートパルスを発
生させるためにゲート680b13と680c13を介
してゲートされるパルスを形成する。このスタートパル
スは前進パルスが停止し、補助分配パ.ルスS8が生ず
る以外は第37C図に示されたのと同一の信号を発生す
る。この様にして初期スタートパルスの発生に、もう1
つの試験体が分析位置に進められ、トリカー物質が試験
体中に分配されて、急速反応をおこさせる。トリカー物
質の分配はディスペンサ200と同じ様に構成されてい
る補助ディスペンサ(図示してない)を介して行われる
。ディスペンサ200が分配信号S7によつて付勢され
るのと同様の方に切換える識別コードを読み取る。これ
によつて0Rゲート684f5を動作しブランクサンブ
ルの値が記憶モジユール中へと読み取られる。位置1に
おいてNANDゲート637a5は0Rゲート684a
11を動作せず、従つて読み取りパルスS3は発生され
ない。この様にして位置1において、第38b図で示さ
れるパルスが発生されてブランク試験体の現在値が記憶
モジユール中に書き込まれる。位置1以外のあらゆる位
置において第2回目の回転中、ゲート560は第38c
図に示される如く信号S1−S9を発生する。
These flip-flop circuits include conventional binary counters that stop the advance mechanism by NOR gate 680d13 and transistor 610a13 until the circuit receives four pulses. , during the second rotation, every 15 seconds NAND gate 637a13 forms a pulse that is gated through gates 680b13 and 680c13 to generate a start pulse. This start pulse causes the forward pulse to stop and the auxiliary distributor to start. The same signal as shown in FIG. 37C is generated, except that pulse S8 is generated. In this way, one additional step is required to generate the initial start pulse.
One specimen is advanced to the analysis position and the tricar substance is distributed throughout the specimen to cause a rapid reaction. Dispensing of the tricar substance takes place via an auxiliary dispenser (not shown) configured similarly to dispenser 200. The dispenser 200 reads the identification code to switch in the same way as it is energized by the dispense signal S7. This operates 0R gate 684f5 and reads the blank sample value into the storage module. At position 1, NAND gate 637a5 is 0R gate 684a
11 and therefore no read pulse S3 is generated. Thus, at position 1, the pulse shown in Figure 38b is generated to write the current value of the blank specimen into the storage module. During the second rotation in any position other than position 1, the gate 560
Signals S1-S9 are generated as shown in the figure.

各試験体が分析位置へと移動されるのにつれて、カウン
タモジユールは信号S1によりゼロ値にクリアされ、記
憶モジユール644の中に蓄積されているブランク試験
体の値は信号S3によつてカウンタモジユール636に
負荷される。そして夕4ミング チヤージ信号S2が分
析装置を作動して分析信号を発生させる。終点の定量中
にアツプダウンゲート534がアツプカウントモードへ
錠止されるので、分析位置の試験体の値はブランク試験
体の値から差引かれて、カウンタモジユール中に残値が
得られる。この残値は表示装置5.63によつて表示さ
れプリント信号S4に応動してプリンタ564によつて
印字される。次に前進パルスS9が次の試験体を分析位
置に移動させ、そこでその値は再びブランク試験体の値
と比戟される。第3回目の回転のはじめに、位置1にお
けるブランク試験体は再び分析されゲート637b5と
624b5(第27図)を介して記憶モジユールに書き
込まれた値を有する事になる。次に、第3回目の回転が
はじまると、他の試験体の各値が、第2回目の回転中と
同様の方法でブランク試験体の修正された値と比戟され
る。もちろん終点の定量はブランク試験体として蒸溜水
を使用して行なわれ、その際、各試験体が分析されるに
ついて、その値か印字される様に装置を配置しさえすれ
ば良い。
As each specimen is moved to the analysis position, the counter module is cleared to a zero value by signal S1, and the blank specimen value stored in storage module 644 is cleared to the counter module by signal S3. Loaded on Yule 636. Then, at 4pm, the charge signal S2 activates the analyzer to generate an analysis signal. During endpoint quantification, the up-down gate 534 is locked into the up-count mode so that the value of the specimen in the analysis position is subtracted from the value of the blank specimen to provide the residual value in the counter module. This remaining value is displayed on the display device 5.63 and printed by the printer 564 in response to the print signal S4. Advance pulse S9 then moves the next specimen to the analysis position where its value is again compared to that of the blank specimen. At the beginning of the third rotation, the blank specimen at position 1 will again be analyzed and have the values written to the storage module via gates 637b5 and 624b5 (FIG. 27). Then, when the third rotation begins, the values of the other specimens are compared to the corrected values of the blank specimen in the same manner as during the second rotation. Of course, the end point quantification is carried out using distilled water as a blank test specimen, and in this case, it is only necessary to arrange the apparatus so that the value is printed for each test specimen to be analyzed.

この観点において、この装置は特に価値がある。なぜな
らば、反応が進んでいる間に、定量が行われるからであ
る。これは各試験体が特定の時間間隔だけ隔てた時間周
期で分配される事に起因しており、試験体は同じ時間間
隔だけ隔てた時間周期で分析される。緩慢及び急速反応
の定量の場合、力ローセルが回転選択回路572にセツ
トされた回転数まで回転されるやいなや、動作選択器5
84は切換えられ、力ローセルが試験管のない場所へ進
行するやいなや、装置とベル586をオフにする。
In this respect, this device is particularly valuable. This is because the quantitative determination is performed while the reaction is progressing. This is due to the fact that each specimen is distributed in time periods separated by a specific time interval, and the specimens are analyzed in time periods separated by the same time interval. In the case of slow and rapid reaction quantification, as soon as the force low cell is rotated to the number of revolutions set in the rotation selection circuit 572, the operation selector 5
84 is switched to turn off the device and bell 586 as soon as the force row cell is advanced to a location free of test tubes.

又試験管が各力ローセル位置に位置していれば、動作選
択器584は回転の終りに切り換えられる。当該技術に
熟達した者は、こ\に記述された特殊な実施例が特許請
求範囲の真の精神にそむかない限り当該技術の熟達した
人々によつて変形される事もあると言う事を理解できる
だろう。
The motion selector 584 is also switched at the end of the rotation if the test tube is located at each force low cell position. Those skilled in the art will understand that the specific embodiments described herein may be modified by those skilled in the art without departing from the true spirit of the claims. You can do it.

なお、本発明の実施態様は次の通りである。(1)第1
検出装置は、ゲート信号に応答して第1導体上に現れる
信号を分岐するゲート回路と、第1パルスの発生中を除
いてゲート信号を生ずる整流装置とを備えている特許請
求の範囲に記載の装置。(2)第1、第2及び第3済波
装置はそれぞれ低域フイルタからなる特許請求の範囲に
記載の装置。
Note that embodiments of the present invention are as follows. (1) First
As claimed in the claims, the detection device comprises a gating circuit for branching the signal appearing on the first conductor in response to the gating signal, and a rectifying device for producing the gating signal except during the generation of the first pulse. equipment. (2) The device according to claim 1, wherein each of the first, second, and third filter devices comprises a low-pass filter.

(3)タイミング装置は指数的に変化する信号を発生す
る抵抗、容量回路からなる特許請求の範囲に記載の装置
(3) The device according to claim 1, wherein the timing device comprises a resistor/capacitor circuit that generates an exponentially changing signal.

(4)第1比戦装置はタイミング信号及び第1D,C1
信号の合計が零に等しくなつた時に合成信号を生ずる特
許請求の範囲に記載の装置。
(4) The first ratio device is the timing signal and the first D, C1
Apparatus as claimed in claim 1, which produces a composite signal when the sum of the signals equals zero.

(5)ゲート装置は第1比戟装置へ接続された第1フリ
ツプフロツプ装置と、第2比戦装置へ接続された第2フ
リツプフロツプ装置と、これらの第1及び第2フリツプ
フロツプ装置へ接続された排他的な0Rゲートを備えて
いる特許請求の範囲に記載の装置。
(5) The gate device includes a first flip-flop device connected to the first flip-flop device, a second flip-flop device connected to the second flip-flop device, and an exclusive flip-flop device connected to these first and second flip-flop devices. A device as claimed in the claims, comprising a typical 0R gate.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による装置の透視図、第2図は本発明に
よるつぼの平面図、第3図は第2図の3−3線による横
断面図、第4図は第2図に示すつぼの立面図、第5図は
1部を概略にした横断面図で、つぼ、力ローセル、循環
装置、位置決め装置、および分析装置の1部を示す。 第6図は本発明による位置コード装置である。第7図は
本発明による力ローセル前進装置の1部を断面とした側
面図である。第8図は本発明によるデイスペンサの正面
からみた立面図で、デイスペンサのフードとキヤビネツ
トをはずし、探り保持体を力ローセルの試験管の上方に
位置させたところを示す。第9図は第8図に示す装置の
平面図で、探り保持体がつぼの上方に位置しているとこ
ろを示す。第10図はデイスペンサと関連して用いる探
り体の立面図である。第11図は探り体と関連して用い
る探りノズルの拡大立面図である。第12図は第8図に
示すマイクロ注射器の平面図である。第13図は第12
図の円形部分の拡大横断面図である。第14図は第8図
に示す注射器および弁の拡大概略図でその吐出作動の状
態を示している。第15図は第14図に示す弁の絋大概
略図で、その吐出作動の状態を示す。第16図は第8図
に示すディスペンサの1部の立面図である。第16a図
はディスペンサの取外し可能な板の正面図である。第1
6b図は第16図と同様の側面図である。第17図は第
16図に示す装置のl部拡大図である。第18図はディ
スペンサを制御する回路の概略図である。第19図は第
18図に示す回路から生じ 二た信号波形を示す。第2
0図は分析装置と関連して用いられるフィルタおよび整
流車の平面図である。第21図は種々の物質の輻射エネ
ルギの吸収を示すグラフである。第22図は第20図に
示すフイルタの種々の部分から伝達される光の強さを二
示す。第23図は本発明による系を概略プロツク線図で
示す。第24図は分析装置と関連して用いる増幅器の概
略図である。第25図は、分析装置と関連して用いる検
出回路、フィルタ、および加算回路を示す概略図である
。第26図は、分析装置と関連して用いる比戟装置およ
びゲート装置を示す概略図である。第27図は、本発明
と関連して用いるコンバータ回路、カウンタの1部およ
び記憶回路を示す概略図である。第28図は本発明と関
連して用いる記憶およびカウンタ回路の他の例を示す概
略図である。第29図はコード解読回路の概略図である
。第30〜35図は本発明と関連して用いる処理回路の
一部を示す概略図である。第35aおよび35b図は第
24〜35図で示した回路間の接続関係を更に明瞭に示
したものである。第36〜38図は種々の操作中に処理
回路で生ずるタイミング信号を示す概略図である。30
・・・・・・つぼ、50・・・・・・円筒状カラー、1
10・・・・・・力ローセル、160・・・・・・キヤ
ビネツト、168・・・・・・循環装置、200・・・
・・・デイスペンサ、206・・・・・・取り付け板、
212・・・・・・探り保持体、260・・・・・・探
り体、270・・・・・・混合装置、281・・・・・
・ガラス胴部、312・・・・・・ギアリン、410・
・・・・・ディスク、440・・・・・・スリツト。
1 is a perspective view of a device according to the invention, FIG. 2 is a plan view of a vase according to the invention, FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line 3--3 of FIG. 2, and FIG. 4 is shown in FIG. The elevational view of the vase, FIG. 5, is a partially schematic cross-sectional view showing portions of the vase, force row cell, circulation device, positioning device, and analysis device. FIG. 6 shows a position code device according to the present invention. FIG. 7 is a partially sectional side view of a force row cell advancement device according to the present invention. FIG. 8 is a front elevational view of a dispenser according to the present invention, with the dispenser hood and cabinet removed and the probe holder positioned over the test tube of the force flow cell. FIG. 9 is a plan view of the device shown in FIG. 8, showing the probe holder positioned above the pot; FIG. 10 is an elevational view of a probe used in conjunction with the dispenser. FIG. 11 is an enlarged elevational view of the probe nozzle used in conjunction with the probe. FIG. 12 is a plan view of the microsyringe shown in FIG. 8. Figure 13 is the 12th
FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view of the circular portion of the figure. FIG. 14 is an enlarged schematic view of the syringe and valve shown in FIG. 8, showing its discharge operation state. FIG. 15 is a schematic diagram of the valve shown in FIG. 14, showing its discharge operation state. 16 is an elevational view of a portion of the dispenser shown in FIG. 8; FIG. Figure 16a is a front view of the removable plate of the dispenser. 1st
Figure 6b is a side view similar to Figure 16. FIG. 17 is an enlarged view of the l section of the apparatus shown in FIG. 16. FIG. 18 is a schematic diagram of the circuit that controls the dispenser. FIG. 19 shows two signal waveforms resulting from the circuit shown in FIG. Second
Figure 0 is a plan view of the filter and rectifier wheel used in conjunction with the analyzer. FIG. 21 is a graph showing the absorption of radiant energy by various materials. FIG. 22 illustrates the intensity of light transmitted from various parts of the filter shown in FIG. 20. FIG. 23 shows the system according to the invention in a schematic block diagram. FIG. 24 is a schematic diagram of an amplifier used in conjunction with the analyzer. FIG. 25 is a schematic diagram showing the detection circuit, filter, and addition circuit used in conjunction with the analyzer. FIG. 26 is a schematic diagram showing a ratio device and a gate device used in conjunction with the analysis device. FIG. 27 is a schematic diagram showing a converter circuit, a portion of a counter, and a memory circuit used in connection with the present invention. FIG. 28 is a schematic diagram showing another example of a memory and counter circuit for use in connection with the present invention. FIG. 29 is a schematic diagram of the code decoding circuit. 30-35 are schematic diagrams illustrating portions of processing circuitry used in connection with the present invention. Figures 35a and 35b more clearly illustrate the connections between the circuits shown in Figures 24-35. Figures 36-38 are schematic diagrams illustrating timing signals occurring in the processing circuitry during various operations. 30
...Vase, 50...Cylindrical collar, 1
10...power row cell, 160...cabinet, 168...circulation device, 200...
...Dispenser, 206...Mounting plate,
212... Probing holding body, 260... Probing body, 270... Mixing device, 281...
・Glass body, 312...Gearin, 410・
...Disk, 440...Slit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 試験試料中の未知物質の濃度の自動測定装置であつ
て;(A)対応するフィルタの濾過によつてそれぞれ第
1および第2の波長の光を与える単一光源(該第1の波
長の光は未知物質によつて吸収されるものである)、(
B)第1および第2の波長の光を検出してその光の強度
に比例した電気信号を生ぜしめる検出装置、(C)第1
および第2の波長の光に対して透明な試験試料ホルダー
、(D)中心軸のまわりを回転することができ内部の同
心円環状部分にそつて等間隔に4個のスロットをもつ回
転ディスク:およびこの回転ディスクのスロットのそれ
ぞれに嵌合していて、円弧で互に180゜だけ置き換え
られている1対のフィルタ部材L_1、L_1と該1対
のフィルタ部材のそれぞれに対してそれぞれ90゜だけ
間隔をおいて配置され且つ円弧で互に180゜だけ置き
換えられている別の2対のフィルタ部材(L_2、L_
2とL_3、L_3:各組のL_2とL_3は同一スロ
ット中にありL_2とL_3は同種または異種でありう
る)からなり:試験位置において該1対のフィルタ部材
L_1、L_1のうちの1つのフィルタ部材が光源から
の第1の波長の光を回転ディスクの下方から上方へ通過
させて試験試料ホルダーへ指向させ、且つ該1対のフィ
ルタ部材L_1、L_1のうちの他方のフィルタ部材が
試験試料ホルダーを通過した第1の波長の光を回転ディ
スクの上方から下方へ通過させて検出装置へ指向させ、
そして上記の位置から90゜だけ回転ディスクを回転さ
せた基準位置において上記の別の2対のフィルタ部材の
うちの1つのフィルタ部材L_2、L_3の少なくとも
1要素(L_2またはL_3)が光源からの第2の波長
の光を回転ディスクの下方から上方へ通過させて試験ホ
ルダーへ指向させ、且つ上記の別の1対のフィルタ部材
のうちの他方のフィルタ部材の少なくとも1要素(L_
2またはL_3)が試験試料ホルダーを通過した第2の
波長の光を回転ディスクの上方から下方へ通過させて検
出装置へ指向させるように配置して成るフィルタ組立体
、(E)光源からの光を試験試料に指向させる装置およ
び光を試験試料から検出装置に指向させる装置、(F)
フィルタ組立体を上記の試験位置と基準位置との間を移
動させるための回転ディスクに取付けた回転装置、およ
び(G)上記の検出装置からの電気信号をデジタル信号
に変えるアナログ・デジタル変換装置、からなることを
特徴とする装置。
1. An automatic measuring device for the concentration of an unknown substance in a test sample; light is absorbed by an unknown substance), (
B) a detection device that detects light of first and second wavelengths and produces an electrical signal proportional to the intensity of the light; (C) a first
and (D) a rotating disk capable of rotating about a central axis and having four equally spaced slots along an internal concentric ring: and A pair of filter members L_1, L_1 are fitted into each of the slots of this rotary disk and are mutually displaced by 180° in a circular arc, and spaced apart by 90° with respect to each of the pair of filter members. Two further pairs of filter elements (L_2, L_
2 and L_3, L_3: each pair of L_2 and L_3 is in the same slot and L_2 and L_3 can be of the same type or different types): one filter of the pair of filter members L_1, L_1 in the test position The member directs light of a first wavelength from the light source from below to above the rotating disk and toward the test sample holder, and the other filter member of the pair of filter members L_1, L_1 is directed to the test sample holder. The light of the first wavelength that has passed through is passed from above to below the rotating disk and directed to the detection device,
Then, at a reference position where the rotary disk is rotated by 90 degrees from the above position, at least one element (L_2 or L_3) of one filter member L_2, L_3 of the other two pairs of filter members is 2 wavelengths of light are passed from below to above the rotating disk and directed toward the test holder, and at least one element (L_
(E) light from a light source; (E) light from a light source; (F) a device for directing light to a test sample and a device for directing light from the test sample to a detection device;
(G) a rotating device mounted on a rotating disk for moving the filter assembly between the test position and the reference position; and (G) an analog-to-digital converter for converting the electrical signal from the detecting device into a digital signal. A device characterized by comprising:
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