JPS59214705A - Method and device for detecting pattern for liquid crystal display element - Google Patents

Method and device for detecting pattern for liquid crystal display element

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JPS59214705A
JPS59214705A JP8745783A JP8745783A JPS59214705A JP S59214705 A JPS59214705 A JP S59214705A JP 8745783 A JP8745783 A JP 8745783A JP 8745783 A JP8745783 A JP 8745783A JP S59214705 A JPS59214705 A JP S59214705A
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JP
Japan
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liquid crystal
crystal display
display element
pattern
mask
Prior art date
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Application number
JP8745783A
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Japanese (ja)
Inventor
Mitsuyoshi Koizumi
小泉 光義
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/42Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
    • G02B27/46Systems using spatial filters

Abstract

PURPOSE:To detect the pattern of a liquid crystal display element at a high contrast, by arranging a transparent mask, wherein a part, whose thickness is different in a recessed or projected shape, is provided at the central part of a Fourier transformation surface of the pattern of the liquid crystal display element, which has a uniform thickness and lighted by a spot light source. CONSTITUTION:A mask 10 is inserted in the vicinity of a Fourier transformation surface D. The thickness of only the central part of the mask 10 is increased with respect to the peripheral part by a size corresponding to 1/4 the wavelength of a light source S (i.e., different by a phase difference pi/2). At the same time, transmittance is made to be (t). The peripheral part is transparent. Here, it is important that the central part of the mask 10 is made to agree with the distribution region of the DC component (zero order component) of the spectrum of a sample 1. When the transmittance of the central part of the mask is expressed by t=1 (i.e., perfectly transparent), a phase difference component phi becomes luminance information 2phi. Thus detection becomes easy. The central part of the mask 10 is made thick in a projected shape, but the same effect can be obtained when it is made thin in a recessed shape.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は液晶表示素子のパターンを検出する方法および
その装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Application of the Invention] The present invention relates to a method and apparatus for detecting patterns on a liquid crystal display element.

〔発明の背景〕[Background of the invention]

液晶表示素子のパターンの検出は、従来一般に血清の明
視野照明顕微鏡の拡大像をTVカメラで撮像し、TVカ
メラ信号処理にょフて行っている。
Conventionally, patterns on a liquid crystal display element have been generally detected by capturing an enlarged image of serum using a bright field illumination microscope with a TV camera and processing the TV camera signal.

しかし、液晶表示素子のパターンはコントラストが低い
のて安定した検出が容易でないという技術的間貌が有る
っ 第1図(A) 、 (B) 、 (C)は液晶表示素子
ガラス上板1と下板2とを示し、(5)は正面図、但)
は側面図0は側面図の部分的拡大図である。上板1.下
板2にはパターン4と位置合せパターン3とが予め形成
されている。各々の位置合せパターンを観察して、両者
の位置ずれを修正する位置合せ作業を行い、上板1端部
な接着剤で固定する方式が一般に採られている。
However, due to the low contrast of the pattern of the liquid crystal display element, there is a technical aspect in which stable detection is not easy. The lower plate 2 is shown, and (5) is a front view, however)
0 is a partially enlarged side view. Top plate 1. A pattern 4 and an alignment pattern 3 are formed on the lower plate 2 in advance. Generally, a method is adopted in which each alignment pattern is observed, alignment work is performed to correct any misalignment between the two, and the upper plate 1 is fixed with adhesive at one end.

又、この作業の前には、パターン4の形成状態の検査を
行い、欠け5、割れ6等の欠陥を検査し、不良品があれ
ば位置合せ作業の前に摘出排除しである。
Also, before this operation, the formation state of the pattern 4 is inspected, defects such as chips 5 and cracks 6 are inspected, and if there are any defective products, they are picked out and removed before the alignment operation.

しかし、これらの作業でパターン4、位置合セハターン
3の観察は非常に困難である。その理由は、パターン3
.4は透明導電性薄膜で形成されているためである。液
晶表示素子の点灯パターンは高コントラストで見易くシ
、非点灯パターンは見難くすることで、商品価値が存在
する為、パターン6.4を形成する薄膜は0.05μm
以下の厚さで、かつ透明にする必要がある。
However, it is very difficult to observe the pattern 4 and alignment pattern 3 during these operations. The reason is pattern 3
.. 4 is because it is formed of a transparent conductive thin film. The lighting pattern of the liquid crystal display element has high contrast and is easy to see, while the non-lighting pattern is difficult to see, which has commercial value, so the thin film forming pattern 6.4 is 0.05 μm thick.
It must be as thick as below and transparent.

以上のように構成されたパターン3.4の光学的性質は
「水中のガラス」と近似的に等価であり、透過度が均一
で、僅かな位相のみの変化を有する位相差試料であると
言うことができる。
The optical properties of pattern 3.4 configured as described above are approximately equivalent to "glass in water", and it is said to be a phase contrast sample with uniform transmittance and only a slight change in phase. be able to.

第2図は、パターン5.4が低コントラストであること
の説明図であり、同図Aは光路図、同図Bは検出像を示
す。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing that the pattern 5.4 has a low contrast, and FIG. 2A shows an optical path diagram, and FIG. 2B shows a detected image.

パターン3.4を位相差試料f(x、y’)として表わ
すと次式のようになる。
When pattern 3.4 is expressed as a phase difference sample f(x, y'), the following equation is obtained.

f(x・y)=eXpCiφ(x 、 y ) 〕−=
−(1)位相差φラジアンが2πよりも十分少さい場合
には、上式は次式に近似される。
f(x・y)=eXpCiφ(x, y)]−=
-(1) When the phase difference φ radian is sufficiently smaller than 2π, the above equation is approximated by the following equation.

f(x、)−)g 1+iφ(x 、 y ) + =
=     (2)点光源Sとし/ズ7にょ9照明され
た試料1のフーリエ変換面における試料1のスペクトル
分布は(2)式?フーリエ変換すると得られる。
f(x,)−)g 1+iφ(x, y) + =
= (2) Assuming that the point light source is S, the spectral distribution of the sample 1 on the Fourier transform plane of the illuminated sample 1 is expressed by equation (2)? Obtained by Fourier transform.

F(u、v)−δ(o)+ i T (φ(x、)・)
〕・叩曲・・・(6)ここで””l”f  ’  u=
2”f ’f;レンズ7の焦点距離 λ;光諒Sの平均波長 δ;デルタ関数 T;フーリエ変換 を意味する記号である。
F(u,v)−δ(o)+i T(φ(x,)・)
]・Playing... (6) Here ""l"f ' u=
2"f'f; focal length λ of lens 7; average wavelength δ of light beam S; delta function T; symbol meaning Fourier transform.

第2図で対物レンズ8によりくもりガラス9上に拡大さ
れた試料1の拡大像は、(3)式を再度フーリエ変換し
て得る。
The enlarged image of the sample 1 magnified on the frosted glass 9 by the objective lens 8 in FIG. 2 is obtained by Fourier transforming the equation (3) again.

f (x’、y’)=T(F(u、v):)=1+iφ
(x + y )  ・・・・・・・・・・・・  (
4)人間の眼、TVカメラで得られる情報は像((4)
式)の輝度であるので、′次式となる。
f (x', y') = T (F (u, v):) = 1 + iφ
(x + y) ・・・・・・・・・・・・ (
4) The information obtained by the human eye and TV camera is an image ((4)
Since it is the brightness of the equation), the following equation is obtained.

I (x’、y’)−f (x’、y’) ・f(x’
、y’)”= [1+iφ(x + y ) ’]・〔
1−iφ(X 、 y) ’)ン1+φz (x+y)
   ・・・・・・・・・・・・(5)(ここで記号◆
は共役を示す。) 結局、位相差情報φによるコントラス)C6は次式とな
る。
I (x', y') - f (x', y') ・f(x'
, y')"= [1+iφ(x + y)']・[
1-iφ(X, y) ')n1+φz (x+y)
・・・・・・・・・・・・(5) (Here the symbol ◆
indicates conjugation. ) In the end, the contrast) C6 based on the phase difference information φ becomes the following equation.

co=φ2/1=φ2    ・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・(6)式(6)は、例えば
φ= 1o−tと時φ2= 10”2となり、極めて低
いコントラストとなり、TVカメラの信号での検出は実
用上非常に困難である。
co=φ2/1=φ2 ・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・(6) Equation (6) becomes, for example, when φ = 1o-t, φ2 = 10”2, resulting in extremely low contrast, and detection by TV camera signal is difficult. This is extremely difficult in practice.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は上述の事情に鑑みて為され、液晶表示素子のパ
ターンを高コントラストで検出する方法および検出装置
を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and an object of the present invention is to provide a method and a detection device for detecting a pattern of a liquid crystal display element with high contrast.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

上記の目的を達成するため、本発明の第1の方法は、点
光源で照明された液晶表示素子用パターンのフーリエ変
換面に、一様な厚さであって中心部に凸状及び凹状のい
ずれかに厚さの異なる個所7設けた透明マスクを配置す
ることを特徴とする。
In order to achieve the above object, a first method of the present invention provides a method for forming convex and concave shapes with a uniform thickness on the Fourier transform surface of a pattern for a liquid crystal display element illuminated by a point light source. It is characterized in that a transparent mask having 7 portions of different thickness is placed on either side.

また、本発明の第2の方法は、点光源で照明された液晶
表示素子用パターンのフーリエ変換面に最も近い観察用
対物レンズの中心部に透明薄膜を設けることを特徴とす
る。
A second method of the present invention is characterized in that a transparent thin film is provided at the center of the observation objective lens closest to the Fourier transform surface of the liquid crystal display element pattern illuminated by a point light source.

また、本発明の第6の方法は点光源で照明された液晶表
示素子用パターンのフーリエ変換面に最も近い観察用対
物レンズの中心部に、完全透明でない薄膜(不透明を含
む)を設けることを特徴とする。
Further, the sixth method of the present invention includes providing a thin film (including an opaque film) that is not completely transparent at the center of the observation objective lens closest to the Fourier transform surface of the liquid crystal display element pattern illuminated by a point light source. Features.

また、本発明の第4の方法はリング状光源で照明された
液晶表示素子用パターンのフーリエ変換面に、一様な厚
さであってリング状の部分に凹又は凸状に厚さの異なる
個所を設けた透明マスクを配置することを特徴とする。
Further, the fourth method of the present invention is to provide a uniform thickness on the Fourier transform surface of a pattern for a liquid crystal display element illuminated by a ring-shaped light source, but with a concave or convex pattern having different thicknesses in the ring-shaped portion. It is characterized by the placement of a transparent mask with locations.

また、本発明の第5の方法はリング状光源で照明された
液晶表示素子用パターンのフーリエ変換面に最も近い対
物レンズの表面上にリング状の透明薄膜を設けたことを
特徴とする。
A fifth method of the present invention is characterized in that a ring-shaped transparent thin film is provided on the surface of the objective lens closest to the Fourier transform surface of the liquid crystal display element pattern illuminated by the ring-shaped light source.

そして、本発明の第6の方法はリング状の光源で照明さ
れた液晶表示素子用パターンのフーリエ変換面に最も近
い対費、レンズの表面にリング状の完全透明でない薄膜
(不透明を含む)を設けることを特徴とする。
The sixth method of the present invention is to apply a ring-shaped thin film that is not completely transparent (including opaque film) to the surface of the lens, which is closest to the Fourier transform surface of the liquid crystal display pattern illuminated by a ring-shaped light source. It is characterized by providing.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

次に本発明の1実施例を第3図について説明する。本図
は本発明方法を実施するために構成した本発明装置を示
し、従来の方法における第2図に対応する図である。第
2図と異るところはフーリエ変換面りの近くにマスク1
0を挿入した点である。同図Aは光路図、同図Bは検出
像を示す。
Next, one embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. This figure shows an apparatus of the present invention configured to carry out the method of the present invention, and corresponds to FIG. 2 in the conventional method. The difference from Figure 2 is that there is a mask 1 near the Fourier transform surface.
This is the point where 0 was inserted. Figure A shows an optical path diagram, and Figure B shows a detected image.

上記のマスク10は、中心部だけが光源Sの波長の1/
4に相当する分だけ光路長換算で周囲に対して厚さが増
しており(即ち、位相差π/2だけ異なる)、同時に透
過度がtとしてあり、周囲は透明となっている。ここで
マスク10の中心部は上記(3)式のδ(0)の分布領
域(即ち試料1のスペクトルのDC成分(零次成分)の
分布領域)と一致させることが肝要である。マスク10
を数式で表わすと次式となる。
In the above mask 10, only the center portion is 1/1/2 of the wavelength of the light source S.
The thickness is increased relative to the surroundings in terms of optical path length by an amount corresponding to 4 (that is, the phase difference is different by π/2), and at the same time, the transmittance is t, and the surroundings are transparent. Here, it is important that the center of the mask 10 coincides with the distribution area of δ(0) in the above equation (3) (that is, the distribution area of the DC component (zero-order component) of the spectrum of the sample 1). mask 10
Expressed numerically, it becomes the following formula.

(ここで透過度tは0≦t≦1である。)マス−り10
通過後のスペクトル分布は次式となるdG(u、v)=
F(u、v)−H(u、v)=itδ(0) + iT
 [:φ(x 、 y ) )−=・−・・(8)像f
 (x’Ly′)は次式となる。
(Here, the transmittance t is 0≦t≦1.)
The spectral distribution after passing is as follows: dG(u,v)=
F(u,v)-H(u,v)=itδ(0)+iT
[:φ(x, y))−=・−・(8) Image f
(x'Ly') becomes the following formula.

f (x’+y’)=T[GCu * v ) ]=i
(t+φ< x * y ) 〕  ・・・・・・・・
・・・・・・・(9)像の輝度は次式となる。
f (x'+y')=T[GCu*v)]=i
(t+φ< x * y) ] ・・・・・・・・・
(9) The brightness of the image is expressed by the following formula.

I (x’、y’)=f (x’、y’ ) −f (
X’、y’)”== i 2+φ2+2φt     
  (10)マスク中心部の透過度t=1の場合(即ち
完全透明)、(10)式は、 1(X’、)”)’ 1+2φ となり、位相差成分φは輝度情報2φとなり、(5)式
に比べて検出が容易になる。上記の実施例(第5図A)
のマスク10は中央部を凸状に厚くしたが、膝部を門状
に薄くしても同様の効果が得られる。
I (x', y') = f (x', y') - f (
X', y')"== i 2+φ2+2φt
(10) When the transmittance at the center of the mask is t=1 (that is, completely transparent), equation (10) becomes 1(X',)'')' 1+2φ, the phase difference component φ becomes the luminance information 2φ, and (5 ) The detection is easier than the above formula (Fig. 5A).
Although the mask 10 has a convexly thick center portion, the same effect can be obtained even if the knee portions are made thinner in a portal shape.

上述の実施例に示したように、本発明の第1の方法は点
光源で照明された液晶表示素子用パターンのフーリエ変
換面に、一様な厚さであって中心部に凸状及び凹状のい
ずれかに厚さの異なる個所を設けた透明マスクを配置す
ることにより、パターンを高コントラストで検出するこ
とができる。また本発明の第1の装置は被検物である液
晶表示素子を照明するための点光源と、上記の液晶表示
素子のフーリエ変換面に配設した透明なマスクとを備え
、上記のマスクは一様な厚さであって、しかも中心部に
凸状及び凹状の何れかに厚さの異なる個所を設けたもの
であることにより、上記の発明方法を容易に実施するこ
とができる。
As shown in the above-mentioned embodiment, the first method of the present invention is to form convex and concave shapes with a uniform thickness on the Fourier transform surface of a pattern for a liquid crystal display element illuminated by a point light source. A pattern can be detected with high contrast by arranging a transparent mask having portions with different thicknesses on either side. Further, the first apparatus of the present invention includes a point light source for illuminating a liquid crystal display element as an object to be inspected, and a transparent mask disposed on the Fourier transform surface of the liquid crystal display element. By having a uniform thickness and having a convex or concave portion of different thickness in the center, the method of the invention described above can be easily carried out.

一般に、透過度tの場合には、試料のDC成分(背景)
の輝度t2に比べ、位相成分の最高コントラスIMAX
と最低フントラストrMinの差△Iの比?コントラス
トCと定義して、−4!      ・・・・・・・・
・・・・ (12)(12)式から透過度tが小さいと
高コントラストが得られる。(例えば、t−10”3+
φ二10−2ラジアンの場合C=4oとなる。)これを
利用して第3図Aに示したマスク10の中央付近の透過
度を他の部分の透過度よりも小さくすることも有効であ
る。
Generally, in the case of transmittance t, the DC component (background) of the sample
The highest contrast of the phase component IMAX
and the ratio of the difference △I between the minimum load rMin? Defined as contrast C, -4!・・・・・・・・・
(12) From equation (12), high contrast can be obtained when the transmittance t is small. (For example, t-10”3+
In the case of φ2 10-2 radians, C=4o. ) It is also effective to utilize this to make the transmittance near the center of the mask 10 shown in FIG. 3A smaller than the transmittance of other parts.

以上が本発明方法によるパターン検出の原理であり、例
えば生物用に用いられる位相顕微鏡の基本原理に共通す
るものである。
The above is the principle of pattern detection by the method of the present invention, which is common to the basic principle of phase microscopes used for biological applications, for example.

以上では、簡単の為、マスクの中心部の厚さ変化を光路
長で1/4彼長としているが、必ずしもこの値を選ばな
くても、同様な結果を得ることが出来る。
In the above description, for simplicity, the thickness change at the center of the mask is set to 1/4 of the optical path length, but similar results can be obtained even if this value is not necessarily selected.

第4図は厚さεの薄膜パターンが平面波で照明された場
合に生ずる位相差φ乞示す。
FIG. 4 shows the phase difference φ that occurs when a thin film pattern with a thickness ε is illuminated with a plane wave.

2π φ””7(nl)!・・・・・・・・・・・・(1ろ)
(ここで、n:パターンの屈折率) 通常、照明光の波長λは約0.5μm、11=j2〜1
.5 t = 0.05μm程度であるので、となり、
(2)式が十分に成立する。
2π φ””7(nl)!・・・・・・・・・・・・(1ro)
(Here, n: refractive index of the pattern) Usually, the wavelength λ of the illumination light is about 0.5 μm, 11=j2~1
.. 5 t = about 0.05 μm, so,
Equation (2) is fully satisfied.

また、以上では点光源Sによる透過照明のみを考えてい
るが、45°半透過鏡を用いた一般的な落射照明でも全
く同じ効果を得る。
Moreover, although only transmitted illumination by the point light source S is considered above, the same effect can be obtained by general epi-illumination using a 45° semi-transmissive mirror.

また光源Sは単色光が理想的であるが、必ずしもその必
要はなく通常のタングステンランプハロゲンランプ等を
用いてもよい。この場合にはランプの平均波長λを計算
式に用いれば近似的に(13)式が成立する。
Further, although the light source S is ideally monochromatic, it is not necessary and a normal tungsten lamp, halogen lamp, or the like may be used. In this case, if the average wavelength λ of the lamp is used in the calculation formula, equation (13) approximately holds true.

第5図は本発明の第2の方法を実施するために構成した
第2の装置の説明図で、同図Aは対物レンズの正面図を
示し同図Bは光路図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of a second apparatus configured to carry out the second method of the present invention, in which FIG. 5A is a front view of the objective lens and FIG. 5B is an optical path diagram.

マスク100代わりに、フーリエ変換面に近い対物レン
ズ表面上に透明な薄膜11を中心部のみん貼り第3図の
実施例と近似的に同等な効果を得ている。前記の薄膜1
1の透過度をtにする(tzl)と、第5の装置が構成
され、これによって第3の方法が容易に実施され、前記
と同様の効果がある。
Instead of the mask 100, a transparent thin film 11 is pasted only in the center on the surface of the objective lens near the Fourier transform surface, and an effect approximately equivalent to that of the embodiment shown in FIG. 3 is obtained. Said thin film 1
When the transmittance of 1 is set to t (tzl), a fifth device is constructed, which facilitates the implementation of the third method and has the same effect as described above.

第6図に示す実施例では、スポーク状の細い線(針金等
)12に周囲から固定された薄膜13をフーリエ変換面
に配置し、第3図の実施例と同等な効果を得ている。
In the embodiment shown in FIG. 6, a thin film 13 fixed from the periphery to spoke-like thin wires (wire, etc.) 12 is placed on the Fourier transform plane, and the same effect as in the embodiment shown in FIG. 3 is obtained.

以上では、点光源Sによる照明の場合を考えたが、一般
に輝度が高い点光源は得ることは難かしい、そこで本発
明の第4の方法は、第7図K 示”r ヨ5に、一般光
源、9/、コンデンサレンズ14、及びリング状スリッ
ト15を用いたリング状照明を用いる。この照明により
試料1のDC成分をフーリエ変換面にリング状に形成し
て、リング状に厚さ変化部分を有するマスク16を配置
しても第3図におけると同等な効果を得る。第7図Bは
リング状スリット15、第7図Cはマスク16を示す。
In the above, the case of illumination by a point light source S was considered, but it is generally difficult to obtain a point light source with high brightness, so the fourth method of the present invention is shown in FIG. A ring-shaped illumination using a light source, a condenser lens 14, and a ring-shaped slit 15 is used.This illumination forms the DC component of the sample 1 in a ring shape on the Fourier transform surface, and the thickness changes part in a ring shape. Even if a mask 16 having a mask 16 is arranged, the same effect as in FIG. 3 can be obtained. FIG. 7B shows the ring-shaped slit 15, and FIG. 7C shows the mask 16.

第8図は第5の発明方法を実施するために構成した第5
の発明装皺の説明図である。この第5の方法は第7図に
ついて説明した方法の近似法であり、第7図に示した第
4の装置において、マスク160代りに対物レンズ8の
表面にリング状薄膜17を貼って前記と同様の効果を得
たものである。同図人は正面図同図Bは側面図である。
FIG. 8 shows a fifth inventive method configured to carry out the fifth invention method.
FIG. This fifth method is an approximation method of the method explained with reference to FIG. 7, and in the fourth apparatus shown in FIG. A similar effect was obtained. The person in the figure is a front view, and the figure B is a side view.

第9図は第6の方法を実施するために構成した第6の装
置の1例である。スポーク12により固定された薄膜1
8をフーリエ変換面に配置して、第7図の実施例と同等
な効果を得たものである。
FIG. 9 is an example of a sixth apparatus configured to carry out the sixth method. Membrane 1 fixed by spokes 12
8 is placed on the Fourier transform plane, and the same effect as the embodiment shown in FIG. 7 is obtained.

第8図、第9図の実施例において、薄膜17’、18は
透明に構成しても、不透明に構成してもそれぞれ高コン
トラストの検出乞行い得る。
In the embodiments shown in FIGS. 8 and 9, the thin films 17' and 18 can be transparent or opaque to provide high-contrast detection.

第10図Aは従来方法による液晶表示素子パターンのT
Vカメラ拡大像の1例、同図Bは走査線にの信号波形を
示す。また第11図Aは本発明方法による液晶表示素子
パターンのTVカメラ拡大像の1例、同図Bは走査線に
の信号波形を示す。
Figure 10A shows the T of the liquid crystal display element pattern according to the conventional method.
An example of an enlarged image of the V camera, B in the same figure, shows a signal waveform on a scanning line. FIG. 11A shows an example of an enlarged TV camera image of a liquid crystal display element pattern obtained by the method of the present invention, and FIG. 11B shows a signal waveform on a scanning line.

第10図のごと〈従来の明視野照明で得られる検出信号
は低コントラストであり、照明むら、電気的ノイズに弱
く、二値化処理が出来ない。
As shown in FIG. 10, the detection signal obtained with conventional bright field illumination has low contrast, is susceptible to illumination unevenness and electrical noise, and cannot be binarized.

又、モニタ上の目視観察も非常に見難く、前記作業の負
担になっていた。
Furthermore, visual observation on the monitor is very difficult to see, which is a burden to the above-mentioned work.

他方、本発明により得られた検出信号は第11図の如く
高コントラストであり、容易に二値化処理が出来る。本
発明により、液晶表示素子パターンの検査、上下板ガラ
ス位置合せ作業が容易、迅速に出来る。
On the other hand, the detection signal obtained by the present invention has a high contrast as shown in FIG. 11, and can be easily binarized. According to the present invention, inspection of liquid crystal display element patterns and alignment of upper and lower glass plates can be easily and quickly performed.

第10図、第11図はそれぞれ拡大率が大きい場合の例
であり、パターンのエツジのみが高コントラストになり
、パターンの平担部はD’C成分となり消されている。
FIGS. 10 and 11 are examples in which the enlargement ratio is large, and only the edges of the pattern have a high contrast, and the flat parts of the pattern become D'C components and are erased.

しかし、拡大率が小さい場合にはパターンの右左エツジ
の高輝度信号が一致し、第6図Bに示す如くパターン全
体が高いフントラストとなる。
However, when the enlargement ratio is small, the high brightness signals at the right and left edges of the pattern match, and the entire pattern has a high foot last as shown in FIG. 6B.

〔発明の効果〕 以上詳述したように、本発明の方法によれば、液晶表示
素子のパターンを高コントラストで検出することができ
る。また本発明の装置は上記の発明方法を容易に実施し
てその効果を発揮させることがで、きる。
[Effects of the Invention] As detailed above, according to the method of the present invention, a pattern of a liquid crystal display element can be detected with high contrast. Further, the apparatus of the present invention can easily carry out the above-described method of the invention and exhibit its effects.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は液晶表示素子を示し、同図Aは正面図同図Bは
側面図、同図Cは側面の部分的拡大図である。第2図は
従来方法による液晶表示素子パターンの検出状態を示し
、同図Aは光路図、同図Bは検出像である。第3図Aは
本発明の一実施例を示し、同図Aはパターン検出状態の
光路図、同図Bは検出像である。第4図は位相差の説明
図、第5図は上記と異る実施例を示し、同図Aは対物レ
ンズの平面図、同図Bは光路の説明図である。第6図A
、Bは更に異なる実施例の説明図、第7図A、B、Cは
更に異なる実施例の説明図、第8図A、Bは更に異なる
実施例の説明図、第9図は更に異なる実施例の説明図で
ある。第10図Aは従来方法によるパターン検出像の平
面図、同図Bは上記検出像の走査線の信号波形の図表で
ある。第11図Aは本発明方法によるパターン検出像、
同図Bは上記検出像の信号波形の図表である。 1・・・液晶表示素子ガラス上板、 2・・・         下板、 5・・・位置合せ用パターン、 4・・・表示用パターン、 5・・・欠け、     6・・・割れ、7・・・レン
ズ、     8・・・対物レンズ、9・・・くもりガ
ラス、10・・・マスク、11・・・薄膜、     
12…スポーク、16・・・薄膜、14・・・コンデン
サレンズ、15・・・リング状スリット、 16・・・マスク、    17・・・薄膜(リング状
)、第1図 (A) 第2n (A) 第 7図 A 第8図 第72 /3 第70図B Z(=位置) (時刻) −〉ズ。 手続補正書(0発) 発明の名称 液晶表示素子用パターン検出方法部計り−vq傑5i補
正をする者 11+’lり山イ 特許出願人 と・    Iろ・      ′31011本 式 
≦二 II:    [−]    立   装   
イ′1ミ   tすi補正の対象 明細書の発明の詳細
な説明の欄と訂正する。
Fig. 1 shows a liquid crystal display element, in which Fig. 1A is a front view, Fig. 1B is a side view, and Fig. 1C is a partially enlarged side view. FIG. 2 shows a state of detection of a liquid crystal display element pattern by a conventional method, in which A is an optical path diagram and B is a detected image. FIG. 3A shows an embodiment of the present invention, in which FIG. 3A is an optical path diagram in a pattern detection state, and FIG. 3B is a detected image. FIG. 4 is an explanatory diagram of the phase difference, and FIG. 5 is a diagram showing an embodiment different from the above. FIG. 4A is a plan view of the objective lens, and FIG. 5B is an explanatory diagram of the optical path. Figure 6A
, B are explanatory diagrams of still different embodiments, FIGS. 7A, B, and C are explanatory diagrams of still different embodiments, FIGS. 8A and B are explanatory diagrams of still further different embodiments, and FIG. It is an explanatory diagram of an example. FIG. 10A is a plan view of a pattern detection image according to the conventional method, and FIG. 10B is a chart of signal waveforms of scanning lines of the detection image. FIG. 11A is a pattern detection image by the method of the present invention;
Figure B is a chart of the signal waveform of the detected image. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Liquid crystal display element glass upper plate, 2... Lower plate, 5... Alignment pattern, 4... Display pattern, 5... Chip, 6... Crack, 7...・Lens, 8... Objective lens, 9... Cloudy glass, 10... Mask, 11... Thin film,
12... Spoke, 16... Thin film, 14... Condenser lens, 15... Ring-shaped slit, 16... Mask, 17... Thin film (ring-shaped), Fig. 1 (A) 2n ( A) Fig. 7A Fig. 8 Fig. 72/3 Fig. 70 B Z (=position) (time) -〉Z. Procedural amendment (0 shots) Name of the invention Pattern detection method for liquid crystal display elements Department measurement - vq Jie 5i Person making the correction 11+'lriyamai Patent applicant and Iro'31011 formula
≦2 II: [-] Standing
B'1 Mi Subject of amendment Correct the section of the detailed description of the invention in the specification.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、 点光源で照明された液晶表示素子用ノくターンの
フーリエ変換面に、一様な厚さであって中心部に凸状及
び凹状のいずれかに厚さの異なる個所を設けた透明マス
クを配置するこ、とを特徴とする液晶表示素子用ノくタ
ーンの検出方法。 2、 前記の透明マスクは、中心部がその他の部分と透
明度を異にするものであることを特徴とする特許請求の
範囲第1項に記載の液晶表示累子用パターンの検出方法
。 3 前記の透明マスクは、周囲からスポークで′支えら
れた透明被膜を中心部に有するものであることを特徴と
する特許請求の範囲第1項に記載の液晶表示素子用ノく
ターン検出方法。 4、 前記のマスクは周囲からスポークで支えられにも
のであり、かつ、完全透明でない薄膜を中心部に有する
ものであることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記
載の液晶表示素子用パターンの検出方法。 5、 前記のマスクは、中心部の透過度を零と−レだ一
様な厚さの透明マスクであることを特徴とする特許請求
の範囲第1項に記載の液晶表示素子用パターンの検出方
法。 6、 点光源で照明された液晶表示素子用パターンのフ
ーリエ変換面に最も近い観察用対物レンズの中心部に透
明薄膜を設けることを特徴とする液晶表示素子用パター
ンの検出方法。 2 点光源で照明された液晶表示累子用パターンのフー
リエ変換面に最も近い観察用対物レンズの中心部に、完
全透明でない薄膜(不透明を含む)を設けることを特徴
とする液晶表示素子用パターンの検出方法。 8、リング状光源で照明された液晶表示素子用パターン
のフーリエ変換面に、一様な厚さであってリング状の部
分に、凹及び凸状の何れかに厚さの異なる個所を設けた
透明マスクを配置することを特徴とする液晶表示素子用
パターンの検出方法。 9 上記のマスクは、上nリング状部分の透過度が他の
部分の透過度と異なるものであることを特徴とする特許
請求の範囲第8項に記載の液晶表示素子用パターンの検
出方法。 10□ 前記のマスクは周囲からスポークで支えられ7
Cリング状の透明薄膜を有するものである口とを特徴と
する特許請求の範囲第8項に記載の液晶表示素子用パタ
ーンの検出方法。 11、  前記のマスクは周囲からスポークで支えられ
た完全透明でないリング状薄膜を有するものであること
を特徴とする特許請求の範囲第8項に記載の液晶表示素
子用パターンの検出方法。 12、前り己のマスクは、前記リング状の部分を不透明
にしたものであることを特徴とする特許請求の範囲第8
項に記載の液晶表示素子用パターンの検出方法。 16、リング状光源で照明された液晶表示素子用。 パターンのフーリエ変換面に最も近い対物レンズの表面
上にリング状の透明薄膜を設けたことを特徴とする液晶
表示素子用パターン検出方法。 14リング状の光源で照明された液晶表示素子用パター
ンのフーリエ変換面に最も近い対物レンズの表面にリン
グ状の完全透明でない薄膜(不透明を含む)を設けるこ
とを特徴とする液晶表示素子用パターン検出方法。 15  被検物である液晶表示素子を照明するための点
光源と、上記の液晶表示素子のフーリエ変換面に配設し
た透明なマスクとを備え、上記のマスクは一様な厚さで
あって、しかも中心部に凸状及び凹状の何れかに厚さの
異なる個1’)rを設けたものであることを特徴とする
液晶表示素子用パターン検出装置。 16  前記の透明マスクは、中心部がその他の部分と
透明度を異にするものであることを特徴とする特許請求
の範囲第15項に記載の液晶表示素子用パターンの検出
装置。 1Z  前記の透明マスクは、周囲からスポークで支え
られた透明被膜を中心部に有するものであることを特徴
とする特許請求の範囲第15項に記載の液晶表示素子用
パターン検出装置。 18、前記のマスクは周囲からスポークで支えられたも
のであり、かつ、完全透明でな(・薄膜を中心部に有す
るものであることを特徴とする特許請求の範囲第15項
に記載の液晶表示素子用パターンの検出装置。 19  前記のマスクは、中心部の透過度を零とした一
様な厚さの透明マスクであることを特徴とする特許請求
の範囲第15項に記載の液晶表示素子用パターンの検出
装置。 20、被検体である液晶表示素子を照明するための点光
源を有し、かつ、上記の液晶表示素子のフーリエ変換面
に最も近く位置する観察用対物レンズの中心部に透明薄
膜を設けたことを特徴とする液晶表示素子用パターンの
検出装置。 21、被検体である液晶表示素子を照明するための点光
源を有し、かつ、上記の液晶表示素子のフーリエ変換面
に最も近く位置する観察用対物レンズの中心部に完全透
明でない薄膜(不透明を含む)を設けたことを特徴とす
る液晶表示素子用パターンの検出装置。 22  被検物である液晶表示素子を照明する定めのリ
ング状光源を設け、かつ、上記の液晶表示素子の7一リ
エ変換面に透明マスクを設は上記の透明マスクは一様な
厚さであって中心部にリング状の凸状、及びリング状の
凹状の・何れかに厚さの異なる個所を設けたものである
口とを特徴とする液晶表示素子用パターンの検出装置。 23、上記のマスクは、リング状部分の透明度が他の部
分の透過度の異なるものであることを特徴とする特許請
求の範囲第22項に記載の液晶表示素子用パターン検出
装置。 24  前記のマスクは周囲からスポークで支えられた
リング状の透明薄膜を有するものであることを特徴とす
る特許請求の範囲第22項て記、。 載の液晶表示素子用パターンの検出装置。 25  前記のマスクは周囲からスポークで支えられた
完全透明でないリング状薄膜を有するものであることを
特徴とする特許請求の範囲第22項に記載の液晶表示素
子用パターンの検出装置。 26、前記のマスクは、前記リング状の部分を不透明に
したものであることを特徴とする特許請求の範囲第22
項に記載の液晶表示素子用パターンの検出装置。 27、  被検体である液晶表示素子を照明するリング
状の光源を設け、かつ、上記の液晶表示素子のフーリエ
変換面に最も近い対物レンズにリング状の透明な薄膜を
設けたことを特徴とする液晶表示素子用パターン検出装
置。 28、被検体である液晶表示素子を照明するリング状の
光源を設け、かつ、上記の液晶表示素子のフーリエ変換
面に最も近い対物レンズにリング状の不透明薄膜を設け
たことを特徴とする液晶表示素子用パターン検出装置。
[Claims] 1. A Fourier transform surface of a nozzle for a liquid crystal display element illuminated by a point light source has a uniform thickness and a convex or concave shape with different thicknesses in the center. A method for detecting a pattern for a liquid crystal display element, comprising: arranging a transparent mask having a plurality of locations. 2. The method for detecting a pattern for a liquid crystal display according to claim 1, wherein the transparent mask has a center portion that has a different transparency from other portions. 3. The method for detecting a pattern for a liquid crystal display element according to claim 1, wherein the transparent mask has a transparent film in the center supported by spokes from the periphery. 4. A liquid crystal display device according to claim 1, wherein the mask is supported by spokes from the periphery and has a thin film in the center that is not completely transparent. How to detect patterns. 5. Detection of a pattern for a liquid crystal display element according to claim 1, wherein the mask is a transparent mask with a uniform thickness and zero transmittance at the center. Method. 6. A method for detecting a pattern for a liquid crystal display device, characterized in that a transparent thin film is provided at the center of an observation objective lens closest to the Fourier transform surface of the pattern for a liquid crystal display device illuminated by a point light source. 2. A pattern for a liquid crystal display element, characterized in that a thin film (including opaque) that is not completely transparent is provided at the center of the observation objective lens closest to the Fourier transform surface of the pattern for a liquid crystal display element illuminated by a point light source. Detection method. 8. On the Fourier transform surface of a pattern for a liquid crystal display element illuminated by a ring-shaped light source, a concave or convex portion with a different thickness is provided in the ring-shaped portion with a uniform thickness. A method for detecting a pattern for a liquid crystal display element, the method comprising arranging a transparent mask. 9. The method for detecting a pattern for a liquid crystal display element according to claim 8, wherein the mask has a transmittance that is different from the transmittance of the upper n-ring-shaped portion than the other portions. 10□ The above mask is supported by spokes from the periphery7
9. The method for detecting a pattern for a liquid crystal display element according to claim 8, characterized in that the opening has a C-ring-shaped transparent thin film. 11. The method for detecting a pattern for a liquid crystal display element according to claim 8, wherein the mask has a ring-shaped thin film that is not completely transparent and is supported by spokes from the periphery. 12. Claim 8, characterized in that the first mask is one in which the ring-shaped portion is made opaque.
The method for detecting a pattern for a liquid crystal display element as described in 2. 16. For liquid crystal display elements illuminated by a ring-shaped light source. 1. A pattern detection method for a liquid crystal display device, characterized in that a ring-shaped transparent thin film is provided on the surface of an objective lens closest to the Fourier transform surface of the pattern. 14 A pattern for a liquid crystal display element, characterized in that a ring-shaped thin film (including opaque) that is not completely transparent is provided on the surface of the objective lens closest to the Fourier transform surface of the pattern for a liquid crystal display element illuminated by a ring-shaped light source. Detection method. 15 A point light source for illuminating a liquid crystal display element as a test object, and a transparent mask disposed on the Fourier transform surface of the liquid crystal display element, the mask having a uniform thickness. A pattern detecting device for a liquid crystal display element, further comprising a convex or concave piece 1') having a different thickness in the center. 16. The device for detecting a pattern for a liquid crystal display element according to claim 15, wherein the transparent mask has a central portion having a different transparency from other portions. 1Z The pattern detection device for a liquid crystal display element according to claim 15, wherein the transparent mask has a transparent film in the center supported by spokes from the periphery. 18. The liquid crystal according to claim 15, wherein the mask is supported by spokes from the periphery, and is not completely transparent (and has a thin film in the center). Device for detecting patterns for display elements. 19. The liquid crystal display according to claim 15, wherein the mask is a transparent mask having a uniform thickness with zero transmittance at the center. Device pattern detection device. 20. The central part of the observation objective lens, which has a point light source for illuminating the liquid crystal display element to be examined, and is located closest to the Fourier transform plane of the liquid crystal display element. 21. A detection device for a pattern for a liquid crystal display element, characterized in that a transparent thin film is provided on the surface of the liquid crystal display element. A detection device for a pattern for a liquid crystal display element, characterized in that a thin film (including an opaque film) that is not completely transparent is provided in the center of an observation objective lens located closest to the surface. A ring-shaped light source for illumination is provided, and a transparent mask is provided on the 7-layer conversion surface of the liquid crystal display element.The transparent mask has a uniform thickness and a ring-shaped convex shape in the center. , and a ring-shaped concave opening with a portion having a different thickness. 23. The above-mentioned mask has a ring-shaped portion whose transparency 23. The pattern detection device for a liquid crystal display element according to claim 22, wherein the pattern detection device for a liquid crystal display element has a different transmittance in other parts. 24. The mask is a transparent ring-shaped mask supported by spokes from the periphery. 22. The device for detecting a pattern for a liquid crystal display element according to claim 22, characterized in that the mask has a thin film.25. 23. The detection device for a pattern for a liquid crystal display element according to claim 22, characterized in that the device has a thin film. 26. The mask has a ring-shaped portion made opaque. Claim 22 characterized by
A detection device for a pattern for a liquid crystal display element as described in 2. 27. A ring-shaped light source is provided to illuminate the liquid crystal display element to be examined, and a ring-shaped transparent thin film is provided on the objective lens closest to the Fourier transform surface of the liquid crystal display element. Pattern detection device for liquid crystal display elements. 28. A liquid crystal characterized in that a ring-shaped light source is provided to illuminate a liquid crystal display element as a test object, and a ring-shaped opaque thin film is provided on the objective lens closest to the Fourier transform surface of the liquid crystal display element. Pattern detection device for display elements.
JP8745783A 1983-05-20 1983-05-20 Method and device for detecting pattern for liquid crystal display element Pending JPS59214705A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61161589A (en) * 1984-12-29 1986-07-22 ベブ・カール・ツアイス・イエーナ Apparatus for analyzing 2-d original image of object

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61161589A (en) * 1984-12-29 1986-07-22 ベブ・カール・ツアイス・イエーナ Apparatus for analyzing 2-d original image of object

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