JPS59211341A - 通信試験装置 - Google Patents
通信試験装置Info
- Publication number
- JPS59211341A JPS59211341A JP58085085A JP8508583A JPS59211341A JP S59211341 A JPS59211341 A JP S59211341A JP 58085085 A JP58085085 A JP 58085085A JP 8508583 A JP8508583 A JP 8508583A JP S59211341 A JPS59211341 A JP S59211341A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- measurement
- communication device
- simulator
- measured
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- Granted
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B3/00—Line transmission systems
- H04B3/02—Details
- H04B3/46—Monitoring; Testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
皮■±１
本発明は通信装置試験装置、とくに、たとえば変復調装
置などの通信装置の伝送特性などの動作特性を単体試験
する通信装置試験装置に関するものである。
置などの通信装置の伝送特性などの動作特性を単体試験
する通信装置試験装置に関するものである。
従」Ｕ１藷
従来、たとえば変復調装置の性能を測定する場合、種々
の回線特性を模擬的に実現する回線特性シミュレータと
、信号の誤り率を測定するための誤り率測定装置（デー
タエラーアナライザ）を使用していた。従来のシミュレ
ータでは、回線特性およびＳ／Ｎなどの測定条件をダイ
アルやスイ・ンチによって手動で設定し、種々の条件の
切換えも手動で行なっている。また、データエラーアナ
ライザが測定対象としているデータ数の設定や測定開始
の指示なども手動にて行なっている。
の回線特性を模擬的に実現する回線特性シミュレータと
、信号の誤り率を測定するための誤り率測定装置（デー
タエラーアナライザ）を使用していた。従来のシミュレ
ータでは、回線特性およびＳ／Ｎなどの測定条件をダイ
アルやスイ・ンチによって手動で設定し、種々の条件の
切換えも手動で行なっている。また、データエラーアナ
ライザが測定対象としているデータ数の設定や測定開始
の指示なども手動にて行なっている。
このような千ａ設定による従来の試験システムでは、た
とえばシミュレータの設定条件を変更する都度、レベル
メータなどの指示装置を見ながら伝送レベルを調整して
いる。また、シミュレータの股、冥条件のうち、ある条
件、たとえばＳ／Ｎだけを順次変化させて他の信号劣化
要因は同一にして繰返し測定を行なうことがしばしばあ
る。このような伝送レベル調整、Ｓ／Ｎ設定の変更およ
び測定開始の指示などをその都度手動にて行なうことは
、測定作業の能率を著しく低下させる。１つの測定条件
で測定するのに要する時間は、被測定装置のデータ伝送
速度が遅いほど、またＳ／Ｎが良いほど長くなる。従来
の測定システムでは、たとえば伝送速度２，４００ビッ
ト／秒で１０７個のデータに対する誤り率を測定するの
に約１時間強を要していた。したがって、１時間に１日
程度の測定しか行なうことができな−かった。
とえばシミュレータの設定条件を変更する都度、レベル
メータなどの指示装置を見ながら伝送レベルを調整して
いる。また、シミュレータの股、冥条件のうち、ある条
件、たとえばＳ／Ｎだけを順次変化させて他の信号劣化
要因は同一にして繰返し測定を行なうことがしばしばあ
る。このような伝送レベル調整、Ｓ／Ｎ設定の変更およ
び測定開始の指示などをその都度手動にて行なうことは
、測定作業の能率を著しく低下させる。１つの測定条件
で測定するのに要する時間は、被測定装置のデータ伝送
速度が遅いほど、またＳ／Ｎが良いほど長くなる。従来
の測定システムでは、たとえば伝送速度２，４００ビッ
ト／秒で１０７個のデータに対する誤り率を測定するの
に約１時間強を要していた。したがって、１時間に１日
程度の測定しか行なうことができな−かった。
１−道
本発明はこのような従来技術の欠点を解消し、通信装置
の単体試験を能率良く迅速に行なうことのできる通信装
置試験装置を提供することを目的とする。
の単体試験を能率良く迅速に行なうことのできる通信装
置試験装置を提供することを目的とする。
横−構成
本発明の構成について以下、−実施例に基づｌ、Ｎて説
明する。
明する。
第１図を参照すると、通信回線特性シミュレータ１００
は基本的には、中央処理装置（ＣＰＵ） １０２と、一
時記憶装置（ＲＡＭ） １０４と、たとえばＲＯ１４か
らなる回線特性メモリ１０６と、たとえばキーボードな
どからなる測定条件手順設定装置１０８と、ディジタル
信号処理プロセッサ１１０とからなり、これらがシステ
ムバス１１２によって相互に接続されている。
は基本的には、中央処理装置（ＣＰＵ） １０２と、一
時記憶装置（ＲＡＭ） １０４と、たとえばＲＯ１４か
らなる回線特性メモリ１０６と、たとえばキーボードな
どからなる測定条件手順設定装置１０８と、ディジタル
信号処理プロセッサ１１０とからなり、これらがシステ
ムバス１１２によって相互に接続されている。
ＣＰｏ 、１０２は本システム全体の動作を制御統括す
るディジタルプロセッサである。
るディジタルプロセッサである。
回線特性メモリ１０６は、シミュレータ＋００で模擬的
に実現すべき種々の回線特性が蓄積されている。シミュ
レータ１００で実現すべき回線特性のプログラムすなわ
ち設定回線条件蜘測定の指示などの手順は、測定条件手
順設定装置１０８から扱者によって入力される。入力さ
れた測定条件および手順はＲＡＭ １０４に一時蓄積さ
れる。
に実現すべき種々の回線特性が蓄積されている。シミュ
レータ１００で実現すべき回線特性のプログラムすなわ
ち設定回線条件蜘測定の指示などの手順は、測定条件手
順設定装置１０８から扱者によって入力される。入力さ
れた測定条件および手順はＲＡＭ １０４に一時蓄積さ
れる。
ＤＳＰ １１０は、設定された測定条件に従って模擬的
に通信回線の伝送特性を実現する処理装置である。 Ｄ
ＳＰ １１０は、入力バス１１４がアナログ・ディジタ
ル変換器（ＡＤＣ） １１８を介して変復調装置２００
の送信部２０２の伝送路側と接続され、出力バス１１８
がディジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ） １２０を介
して同受信部２０４の伝送路側と接続される。
に通信回線の伝送特性を実現する処理装置である。 Ｄ
ＳＰ １１０は、入力バス１１４がアナログ・ディジタ
ル変換器（ＡＤＣ） １１８を介して変復調装置２００
の送信部２０２の伝送路側と接続され、出力バス１１８
がディジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ） １２０を介
して同受信部２０４の伝送路側と接続される。
ＡＤＣ１ｌｆｌは後述する被測定装置２００から受信し
たアナログ信号をディジタル信号に変換してＤＳＰ１１
０４ｍ供給し、ＯＡＣ１２０は口ＳｐＨｏカらのディジ
タル信号をアナログ信号に変換して被測定装置２００に
送出する。そこで、ＤＳＰ １１０は入力１１４から受
信した信号に対して設定回線条件に従った信号処理を施
し、つまり種々の信号劣化要因を信号に加えて出力１１
８に送信することにより、伝送特性を模擬的に実現する
。
たアナログ信号をディジタル信号に変換してＤＳＰ１１
０４ｍ供給し、ＯＡＣ１２０は口ＳｐＨｏカらのディジ
タル信号をアナログ信号に変換して被測定装置２００に
送出する。そこで、ＤＳＰ １１０は入力１１４から受
信した信号に対して設定回線条件に従った信号処理を施
し、つまり種々の信号劣化要因を信号に加えて出力１１
８に送信することにより、伝送特性を模擬的に実現する
。
変復調装置２００は被試験装置の一例として示されてい
るが、他の通信装置であってもよ＜：、ＡＤＯ１１６お
よびＤＡＣ＋２０とはそれぞれ接続線２０Ｂおよび２０
８によって着脱可能に接続されるー（また、変復調装置
２００の送信部２０２および受信部２０４の各制御線２
２２および２２４はシミュレータ１００のｃｐｔ＋１０
２に着脱可能に接続され、ＣＰＵ １０２からの起動、
停止信号０Ｎ１０ＦＦによって変復調装置としての動作
が制御される。
るが、他の通信装置であってもよ＜：、ＡＤＯ１１６お
よびＤＡＣ＋２０とはそれぞれ接続線２０Ｂおよび２０
８によって着脱可能に接続されるー（また、変復調装置
２００の送信部２０２および受信部２０４の各制御線２
２２および２２４はシミュレータ１００のｃｐｔ＋１０
２に着脱可能に接続され、ＣＰＵ １０２からの起動、
停止信号０Ｎ１０ＦＦによって変復調装置としての動作
が制御される。
変復調装置２００の宅内装置側は、接続線２１０および
２１２によってデータエラーアナライザ２２０に着脱可
能に接続される。データエラーアナライザ２２０は、シ
ミュレータ１０２のＣＰＵ １（１２から制御線２２６
を通した制御によりデータ信号を出力２’ＩＯに送出し
、入力２１２で受信したデータの−り率や歪などの信号
状態を測定する測定装置である。
２１２によってデータエラーアナライザ２２０に着脱可
能に接続される。データエラーアナライザ２２０は、シ
ミュレータ１０２のＣＰＵ １（１２から制御線２２６
を通した制御によりデータ信号を出力２’ＩＯに送出し
、入力２１２で受信したデータの−り率や歪などの信号
状態を測定する測定装置である。
変復調装置２００の送信部２０２は、データエラーアナ
ライザ２２０から受けたデータ信号を変調してシミュレ
ータ１００に送出し、シミュレータ１００のＤＳＰ １
１０ではこの信号に信号劣化要因を加えて変復調装置２
００に返送する。返送された信号は変復調装置２００の
受信部２０４で復調され、データエラーアナライザ２２
０でその誤り率などが測定される。
ライザ２２０から受けたデータ信号を変調してシミュレ
ータ１００に送出し、シミュレータ１００のＤＳＰ １
１０ではこの信号に信号劣化要因を加えて変復調装置２
００に返送する。返送された信号は変復調装置２００の
受信部２０４で復調され、データエラーアナライザ２２
０でその誤り率などが測定される。
その測定を終了すると、測定終了信号ＥＮＤが制御線２
２８によってＣＰＵ １０２およびプリンタ２３０に出
力される。また、測定結果は出力線２３２からたとえば
プリンタ２３０などの出力装置に出力される。プリンタ
の代りに、またはこれとともに、たとえばＣＲＴディス
プレイなどの他の出力装置や、外部記憶装置、通信制御
装置などに出力線２３２を接続してもよい。
２８によってＣＰＵ １０２およびプリンタ２３０に出
力される。また、測定結果は出力線２３２からたとえば
プリンタ２３０などの出力装置に出力される。プリンタ
の代りに、またはこれとともに、たとえばＣＲＴディス
プレイなどの他の出力装置や、外部記憶装置、通信制御
装置などに出力線２３２を接続してもよい。
データエラーアナライザ２２０はこのように、データ誤
り率測定装置としての機能のみならず、変復調装置２０
０の送信部２０２に対するデータ源としての機能も有す
る。なお、本実施例ではデータエラーアナライザ２２０
およびプリンタ２３０は、シミュレータ１００のＣＰＵ
１０２によって制御され、シミュレータ１００の外部
に接続された独立装置の形態をとっているが、一点鎖線
１００で囲んだシミュレータ自体にデータ源機能および
誤り率測定機能をもたせ、プリンタなどの出力装置もＣ
Ｐｏ １０２のための処理システムとしてシミュレータ
１００に含まれるものを使用してもよいことは明らかで
ある。
り率測定装置としての機能のみならず、変復調装置２０
０の送信部２０２に対するデータ源としての機能も有す
る。なお、本実施例ではデータエラーアナライザ２２０
およびプリンタ２３０は、シミュレータ１００のＣＰＵ
１０２によって制御され、シミュレータ１００の外部
に接続された独立装置の形態をとっているが、一点鎖線
１００で囲んだシミュレータ自体にデータ源機能および
誤り率測定機能をもたせ、プリンタなどの出力装置もＣ
Ｐｏ １０２のための処理システムとしてシミュレータ
１００に含まれるものを使用してもよいことは明らかで
ある。
被測定装置としての変復調装置２００の伝送特性を試験
する場合のシミュレータ１００の動作手順を第２図のフ
ロー図を参照して説明する。
する場合のシミュレータ１００の動作手順を第２図のフ
ロー図を参照して説明する。
まず、回線特性や、測定したいＳ／Ｎの範囲などの測定
条件および測定手順を測定条件手順設定装置１０８から
入力する（３０２）。これらの測定条件および手順はＲ
ＡＭ １０４に蓄積される。
条件および測定手順を測定条件手順設定装置１０８から
入力する（３０２）。これらの測定条件および手順はＲ
ＡＭ １０４に蓄積される。
次に、測定条件手順設定装置１０８から測定開始を指示
し、測定を開始させる（３０４）。そこでシミュレータ
１００のＣＰＵ １０２は、メモリ１０Ｂに格納されて
いる回線特性から設定装置１０８で指定されたものを読
み出し、ＤＳＰ １１０にこれをロードする（３０Ｅｌ
）。
し、測定を開始させる（３０４）。そこでシミュレータ
１００のＣＰＵ １０２は、メモリ１０Ｂに格納されて
いる回線特性から設定装置１０８で指定されたものを読
み出し、ＤＳＰ １１０にこれをロードする（３０Ｅｌ
）。
次に変復調装置２００の送信部２０２を起動して信号を
送出させ、設定回線特性を実現するＤＳＰ １１０でこ
れを処理する。これによって信号と雑音のレベル調整、
および受信信号のレベル調整が行なわれる（３０Ｂ）。
送出させ、設定回線特性を実現するＤＳＰ １１０でこ
れを処理する。これによって信号と雑音のレベル調整、
および受信信号のレベル調整が行なわれる（３０Ｂ）。
レベル調整が終了すると、送信部２０２を消勢し、測定
すべきＳ／Ｎを設定する（３１Ｇ）。
すべきＳ／Ｎを設定する（３１Ｇ）。
そこでＣＰＵ １０２は送信部２ｏ２．受信部２０４お
よび゛データアナライザ２２０を起動し、前述したよう
にデータ信号を変復調装Ｍ ２００を通してＤＳＰ １
１０との間で送受信し、データアナライザ２２０で誤り
率などの測定を行なう（３１２）。
よび゛データアナライザ２２０を起動し、前述したよう
にデータ信号を変復調装Ｍ ２００を通してＤＳＰ １
１０との間で送受信し、データアナライザ２２０で誤り
率などの測定を行なう（３１２）。
測定が終了すると、データアナライザ２２０はＥＮＤ信
号を出力するとともに、これに応動してＣＰＵ １０２
はプリンタ２３０に測定結果を印字させる（３１４）。
号を出力するとともに、これに応動してＣＰＵ １０２
はプリンタ２３０に測定結果を印字させる（３１４）。
ＣＰｏ １０２は、現在測定中の回線特性において未測
定のＳ／Ｎの範囲があれば（３１Ｂ）ステップ３１０へ
移行し、新たなＳ／Ｎを設定して同様の測定を繰り返す
。すべてのＳ／Ｎ設定範囲の測定・を終了したのち、設
定された回線特性で未測定のものがあ些ば（３１Ｂ）ス
テップ３０Ｂへ移行して新たな回線特性を設定して同様
の測定を繰り返す。
定のＳ／Ｎの範囲があれば（３１Ｂ）ステップ３１０へ
移行し、新たなＳ／Ｎを設定して同様の測定を繰り返す
。すべてのＳ／Ｎ設定範囲の測定・を終了したのち、設
定された回線特性で未測定のものがあ些ば（３１Ｂ）ス
テップ３０Ｂへ移行して新たな回線特性を設定して同様
の測定を繰り返す。
肱−】
本発明によれば、被測定装置の伝送特性などの測定条件
および手順をシミュレータに設定し、シミュレータでは
設定された手順に従って被測定装置の動作を制御し、そ
の送出信号に設定条件に従った処理を施すことによって
、被測定装置の単体試験を自動的に進行させることがで
きる。これによって通信装置の単体試験を能率良く迅速
に行なうことができる。なお、このような伝送特性の設
定は、すべてディジタルデータの形で行なわれており、
回線特性の模擬的な実現もディジタル信号処理装置で行
なわれる。したがって設定値のばらつきがないので、測
定精度が向上する。
および手順をシミュレータに設定し、シミュレータでは
設定された手順に従って被測定装置の動作を制御し、そ
の送出信号に設定条件に従った処理を施すことによって
、被測定装置の単体試験を自動的に進行させることがで
きる。これによって通信装置の単体試験を能率良く迅速
に行なうことができる。なお、このような伝送特性の設
定は、すべてディジタルデータの形で行なわれており、
回線特性の模擬的な実現もディジタル信号処理装置で行
なわれる。したがって設定値のばらつきがないので、測
定精度が向上する。
第１図は本発明による通信装置試験装置の実施例を示す
ブロック図、 第２図は第１図に示す回線特性シミュレータによって実
行される測定動作の例を示すフロー図である。 一τ１゛１ の； １０（Ｌ、、回線特性シミュレータ １０２、、、中央処理装置 １０Ｂ、、、回線特性メモリ １０８、、、測定条件手順設定装置 １１０、、、ディジタル信号処理ブロセ・フサ２００．
．．変復調装置 ２２０、、、 、データエラーアナライザ２’３０．、
、プリンタ 特許出願人 株式会社リコー 第１図 第２図
ブロック図、 第２図は第１図に示す回線特性シミュレータによって実
行される測定動作の例を示すフロー図である。 一τ１゛１ の； １０（Ｌ、、回線特性シミュレータ １０２、、、中央処理装置 １０Ｂ、、、回線特性メモリ １０８、、、測定条件手順設定装置 １１０、、、ディジタル信号処理ブロセ・フサ２００．
．．変復調装置 ２２０、、、 、データエラーアナライザ２’３０．、
、プリンタ 特許出願人 株式会社リコー 第１図 第２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 通信装置に接続して該通信装置の動作特性を試験する通
信装置試験装置において、該試験装置は、 前記通信装置に接続される伝送路の伝送特性を記憶した
メモリ手段と、 測定条件および手順を設定する設定手段と、該設定され
た条件および手順に従って前記メモリ手段から伝送特性
を選択的に読み出して試験を実行し、該伝送特性に従っ
て前記通信装置からの信号に信号処理を施して該通信装
置に返送する処理装置と、 前記設定された手順に従って前記通信装置に信号を送出
し、該通信装置から返送された信号を測定して該通信装
置の動作特性を測定する信号測定手段とを含むことを特
徴とする通信装置試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58085085A JPS59211341A (ja) | 1983-05-17 | 1983-05-17 | 通信試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58085085A JPS59211341A (ja) | 1983-05-17 | 1983-05-17 | 通信試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59211341A true JPS59211341A (ja) | 1984-11-30 |
| JPH0572775B2 JPH0572775B2 (ja) | 1993-10-13 |
Family
ID=13848764
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58085085A Granted JPS59211341A (ja) | 1983-05-17 | 1983-05-17 | 通信試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59211341A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4707849A (en) * | 1985-03-05 | 1987-11-17 | Michel Rault | High speed automatic test apparatus especially for electronic directory terminals |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57114996A (en) * | 1981-01-07 | 1982-07-17 | Mitsubishi Electric Corp | Transmission terminal tester |
| JPS57138242A (en) * | 1981-02-20 | 1982-08-26 | Fujitsu Ltd | Circuit fault simulator |
| JPS5870653A (ja) * | 1981-10-22 | 1983-04-27 | Mitsubishi Electric Corp | 通信シミユレ−タ |
-
1983
- 1983-05-17 JP JP58085085A patent/JPS59211341A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57114996A (en) * | 1981-01-07 | 1982-07-17 | Mitsubishi Electric Corp | Transmission terminal tester |
| JPS57138242A (en) * | 1981-02-20 | 1982-08-26 | Fujitsu Ltd | Circuit fault simulator |
| JPS5870653A (ja) * | 1981-10-22 | 1983-04-27 | Mitsubishi Electric Corp | 通信シミユレ−タ |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4707849A (en) * | 1985-03-05 | 1987-11-17 | Michel Rault | High speed automatic test apparatus especially for electronic directory terminals |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0572775B2 (ja) | 1993-10-13 |
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