JPS5919874A - 放射干渉感度試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は電子機器の放射干渉感度試験（以下１’−Ｉ
ＬＳ試験」と呼ぶ、１１．Ｓは１ｌａｄｉａｔｅｄ　５
ｕｓｃｅｐｔａｂｉｌｉｔ３’の略）を行う＋１８試験
装置において、上記電子機器に浴びせかける電磁波の電
界強度を正確にかつ安全に制御することのできる機能を
備えたＲ　Ｓ試験装置を提供するものである。

この種ａＳ試験は電磁適合性（以下［ＭＯ］と呼ぶ）試
験の一つであって、供試体である電子機器が電波干渉に
対してどの程度の耐性を有するかを試験するものである
。

まず従来のこの種装置について図を用いて簡単に説明す
る。

第１図は従来のＲＳ試験装置、を示す構成フ゛ロック図
であり１図中＋１１は供試体、（２）は送信アンテナ、
（３）は受信アンテナ、（４）は処理プログラム、測定
データ、及び試験条件などを記憶する記憶装置、（５）
は中央処理装置へ情報を入力する人力装置ＰＪ　、　（
ｅ）　ｔｄ５．上記処理プログラムに従って演算や処理
を行う中火処理装置（以下１’−（３Ｐ　Ｕ　Ｊと呼ぶ
）　、　（７１は上記０１）　Ｕ　（６１の制御命令に
よって高周波信号（以下「几Ｆ信号」と呼ぶ）を所定の
出力レベルと周波数で発生する信号発生器、（８）は上
記信号発生器（刀に接続され、その几Ｆ信号出力のレベ
ルを０．　Ｐ　Ｕ　（（３）の制御命令に従って調節す
る減衰器、（９）は上記減衰器（８）でレベル調節され
たＩｔ、　Ｆ信号の電力増幅を行う増幅器。

（１１は上記増幅器（９）の出力端に接続され、電力増
幅されたＩｔ　Ｆ信号を一方向のみ通過させ反射を阻止
して上記増幅器（９）を保護すると共にその出力を安定
にする非可逆回路（例えばアイソレータやザーキュレー
タなど）で几Ｆ伝送路Ｏｅ経由送信アンテナ（２）へ接
続される。

Ｑｌ）は受信アンテナ（３）で受信した上記几Ｆ信号が
几Ｆ伝送路θｅ経由入力されたときＯＰ　Ｕ　（（’ｉ
ｌの制御命令に従って上記几Ｆ信号の強度を計測し、そ
の強度値を０１）Ｕ　ｆ（ｉｔヘインターフェースバス
ケーブル０７）経由送出する受信機、（ｉは上記Ｃ１、
’　Ｕ　（Ｇ）ど入力装置（５）、信号発生器（刀、減
衰器（８）、受信機０１）９表示装置及び印字装＠（ｔ
４）との中継を行う入出力インタフェース、（１東は入
力装＠（５）によって入力された情報や試験結果を表示
する表示装置（例えばＣＲＴディスプレイ）　、　０４
は出力印字やクラフィックプロットを行う印字装置ｔ、
Ｑｉは上記供試体（１）、送信アンテナ（２）及び受信
アンテナ（３）を収納して送信アンテナ（２）から放射
される電波が外部へ渥洩しないよう電磁遮蔽を行う遮蔽
室である。

このような構成傾おいて供試体（１）に電波を浴ひぜか
けようとするとき、まず送信アンテナ（２）ど受信アン
テナ（３）を互いに向き合わせ、所定の位置関係に設定
した後、送信アンテナ（２）から放射される電磁波の電
界強度の校正を行う。この作業は几Ｓ試験を行う周波数
帯（一般に１０　ＫＪＩｚ〜４００ＪＩＺ　＞　　で使
用する送信アンテナ（２）及び受信アンテナ（３）の利
１類（通常は６種〜７１市）の数だけ送信アンテナ（２
）及び受信アンテナ（３）を取り替えながら繰返し実施
されるのであるが、この校ＩＦにおける従来装置の動作
は次のようになる校正を実行するだめの処理プログラム
は記憶装置（４）に記憶されているが、入力装置（５）
から操作渚が命令を入力すると、０ＰＵｆ６１は上記処
理プログラムを呼びだし取υ入れた後これを実行する。

３ 処理プログラムに従って信号発生器（７膜１ら所定周波
数とレベルの高周波信号（以下「几Ｆ信号１と呼ぶ）を
発生させ、これを減衰器（８）に入力してレベル調節し
たのち増幅器（９）に入力して増幅する。増幅された几
Ｆ信号は非可逆回路ｏ（１経由送信アンテナ（２）に入
力され電波となって放射される。

この電波の電界成分が受信アンテナ（３）によって受信
され受信機θ０へ入力され、その強度が計測される。こ
の放射電界強度値は受信機（１１）内でディジタル信号
に変換されて入出力インタフェース（１カ経由ＯＰ　Ｕ
　ｉＧ）へ送られる。処理プログラノ・は−に記放射電
界強ＩＷ値をＤｒ定の電界強度規格ど比較して９両者を
一致させるため誤差分を修正するように減衰器（８）へ
命令を出して、この減衰量を調節する。

上記減衰−…、のｉｉｌ？、１節値は記憶装置（４）に
記憶される。

以」二の校正処理は送信アンテナ（２）と受信アンテナ
（３）の周波数範囲において所定の周波数区間でそれぞ
れ繰シ返され、上記周波数範囲において校正処理が終了
した後、受信アンテナ（３１を取り除き、送信アンテナ
（２）を供試体（１）方向を向けるように設定変更する
。

次に几Ｓ試験を行うため、上述の校正処理で得られた減
衰器（８）の調節量を記憶装置（４）から呼ひ出［７，
上記所定の周波数区間に対応した」１記調節値を用いて
減衰器（８）を調節しながら、上述と同様に送（ｇアン
テナ（２）から所定の放射電界強度を有する電波を放射
して供試体（１＋に浴ひせかける。

このようにして送信アンテナ（２）の周波数範囲におい
て、放射電界強度を所定の値に制御している。

ところが、−）１記放射電界強度の制御にｄ、次のよう
な欠点がある。

すなわち、送信アンテナ（２）と受信アンテナ（３１を
対向させて電界校正を行うので供試体ｆｌｌ　’ｌ：わ
りの電界がどのようになっているのか不明であること、
さらに、几Ｓ試験は遮蔽室で行われるため、この室内に
存在する共振現象によって大きな電界分布の変動がある
。この電界分布は送信アンテナ（２）の室内における設
定位信及び周波数に関係しているため、この変動を予測
することは困難であり、上述のような電界校正と電界レ
ベル制御を行っている限り最適な電界を生成することは
不可能である。そして１例えば１００ｖ／ｍ　　もの高
電界を生成しようとする場合、電界レベル制御が不適当
で異常に高い電界レベルに達することがあり、供試体（
１）を破壊するに至る。さらＫまた。送信アンテナ（２
）の周波数範囲に対応した受信アンテナ（３）を用いて
校正を行うため１作業が頻雑とな９時間が長くかかるこ
と、などの欠点がある。

この発明はこのような従来の１で、Ｓ試験装置における
問題点を解決し、安全で正確なＩｔ、　Ｓ試験装置を従
供するもので以下図を用いてこの発明を詳述する。

以下、この発明の一実施例を第２図から第７図にわたっ
て示す。第２図はこの発明の一実施例の構成図、第３図
は電界強度計測装置及び電界センサの構成図、第４図は
処理の流れを示す流れ図、第５図は計測、制御、処理の
処理を示す信号系統図、第６図は時間領域における電界
強度と制御量との関係を示す図、第７図は周波数領域に
おける減衰器の調節値と制御量の最終値との関係を示す
図である。

図中、　（１１、＋２１　、　＋４１〜Ｏｆ）、（１’
Ｊ〜０ηは第１図に同じである。０８は非可逆回路Ｑｌ
の出力端に接続され、ｉｔｐ信号の一部を取出し几Ｆ電
力剖０１へ出力し、上記几Ｆ信号の主要部分を送信アン
テナ（２）側へ出力する結合器である。

上記ｎ、　Ｆ電力計０１は」二記結合器（田によって取
υ出された几Ｆ信号の一部の電力をＯＰ　Ｕ　（Ｇｌの
制御命令に従って計測し、この泪測値を入出力インタフ
ェース０３を介してＯＰ　Ｕ　ｆｆ３）へ導入するもの
である。

（２ＩＪは送信アンテナ（２）から放射される電波の電
界強度を検出する電界センサ、　ａｎは上記電界センサ
（瀾と電界強度計測装置（２邊との間で光信号を伝送す
るファイバケーブルである。

との電界強度計測装置Ｑ２は上記電界センサＩ２１から
得られる電界検出信号をＯＰ　ＴＪ　（６１の制御命令
に従って処理し放射電界強度値として、これをＯＰ　Ｕ
　（（ｉｌへ送出するようになっている。

第３図は電界強度計測装置及び電界センサの構成図であ
り９図中、（ハ）はファイバケーブルａｔ＋を内蔵する
誘電体、Ｑ４）〜弼は上記電界強度言１測装置四の構成
要素であシ、ｒ２４はインタフェースバスケーブルａ７
）経由ＯＰ　Ｕ　ｆｉｌに接続され、　ＣＰＵ（６）に
接続され、ＣＩ’Ｕ（６１と授受する信号の中継を行う
インタフェース回路、（ハ）はＯＰ　Ｕ　（０１の命令
を解読するデコーダ、　ＫＯは上記放射電界強度値など
を記憶するレジスタ、ｃ！ηは上記放射電界強度値を誤
差検出回路θηから取出しアナログ信号をディジタル信
号に変換するＡ／Ｄ変換回路、翰は光束−を発光する光
源、（７）は光束Ｉ：２１を集束する第１のレンズ、Ｃ
３０は光束ｃ！１を分配する光分配器、（３邊は光束四
を集束する第２のレンズ。

α１は光束−を集束する第３のレンズ、０４）は上記第
８のレンズ（至）で集束された光束Ｃ１１が入射する第
１の光電変換素子、６′３は上記光分配器０１）で分配
された光束−の一部を反射しかつ集束させる反射鏡、（
イ）は上記反射鏡６って集束された光束−を受光する第
２の光電変換素子、　Ｃ’、ｎは上記第１の光電変換素
子０◇と第２の光電変換素子α０の電気信号の比較を行
う誤差検出回路、（至）はレジスタ（４）に記憶された
電界強度データなどを整えインタフェース回路Ｃ！（イ
）へ送出するエンコーダである。

次に、この発明の一実施例の動作を第２図から第７図を
用いて説明する。第４図のＡで入力装置（５）から入出
力インタフェースθりを介してＣＰ　［Ｊ　＋６１へ試
験条件を入力する。この試験条件にけ几Ｓ試験の周波数
範囲と所要電界強度及び周波数掃引ステップ、処理の初
期状態、制御の領界値、ザンプリング区間での繰シ返し
数、最初の最適化区間における初期試行データ及び初期
設定データが含１れる。

第４図のＢで信号発生器（７）、減衰器（８）、几Ｆ電
力計＋１１及び電界強度言１測装置（２）の初期設定を
上記初期設定データを用い、処理プログラムの働らきに
よってＯＩＴ　ＣＩ　（Ｇｌから人出力インターフェー
スθり経由制御命令を送出することによって行う。

第４図のＣで上記Ｉｔ　Ｓ試験の周波数範囲における第
１の周波数掃引ステップに和尚する周波数を出力するよ
うＯＰ　Ｕ　（６１から信号発生器（刀へ駆動命令を送
出する。

さらに上記最初の最適化区間における初期試行データに
基づいてＯＰ　ＬＪ　（６１かも減衰器（８１−、所定
の減衰器に設定するよう駆動命令が送出さ１しる。

さらにまた、几Ｆ電力泪α１及び電界強度計測装＠、（
２７Ｊへ１ｕ動命令が送出され、これらを準備状態に設
定する。

第４図の１）で計測、制御、及び処理が行われるのであ
るが、Ｄについて第２図、第３図、第５図、第６図及び
第７図を用いて説明する。

第５図において、■の開側でけ几ｆ、＋電力唱α１によ
り、電力増幅されだ几Ｆ信号の電力が計測され、かつ１
１ｊ、界センザイ渕及び電界強度＊１測装置（２渇によ
り送信アンテナ（２）によって放射された電波の供試体
（１）近傍電界強度が計測される。この動作をさらに詳
しくみると第３図において、上記電波が電界センサ（イ
）の該電体９，９へ入射すると肋電体損によって誘電体
（ハ）が発熱する。この熱は誘電体Ｃ！り内に埋設され
ているファイバケーブルＣ１１）に伝わり、これの光伝
送損失を変化させる一方、　ＯＰ　Ｕｆ６）トインタフ
ェースバスケーブル（１ηによって接続されるインター
フェース回路Ｃ！ツは（３Ｐ　Ｕ（６）の制御命令を受
信してデコーダ（イ）へ送り、ここで上記制御命令が解
読されレジスタＣ！ｔＯ及びＡ　／　Ｉ）変換回路Ｑη
へ送られる。

さて、光源ＣＦ９から放射された光束０１は第１のレン
ズＣＩＫよって集束されて光分配器０１）へ入射し、こ
こで分配され一部の光束−が直進して第２のレンズ（３
邊経由フアイバケーブルＯＤへ入射−ｉ−る。この光束
（至）はファイバケーブルＣ７１１で伝送されて電界セ
ンサ（２（＃を通って電界強度計測装置（２２へ戻って
くる。そして第３のレンズ（ハ）へ入射し、集束されて
第１の光電変換素子０唖へ入射して第１の電気信号に変
換される。

一方、先に分配された光束−の他の一方は反射鏡（鴬に
より経路変更かつ集束され第２の光電変換素子（７）へ
入射し、ここで第２の電気信号に変換される。

−に記第１と第２の電気信号は誤差検出回路ＯＤによっ
て比較され、これらの差分がとりだされてＡ／Ｄ変換回
路勾へ入力される。ここでディジタル信号に変換されて
レジスタ（４）に保持される。

そしてＯＰ　Ｕ　（６１の命令に従ってエンコーダ（至
）経由インターフェース回路Ｑ４を通ってＯＰ　Ｕ　ｆ
６１へ放射電界強度値として送出される。

次に第５図において、Ｊで制御が行われる。

ここでは放射電界規格値に上記放射電界強度値が合致す
るようＫでＯＰ　Ｕ　（６１によシ最適化制御の計算が
行われ、この結果、制御計が求められて、この制御量が
処理Ｍへ入力される。

Ｍでは上記制御量に基づいて、ＣＰＵ（６１が減衰器（
８）へ命令を送り、その減衰量を調節して送信アンテナ
（２）から放射される電波の放射電界強度を調節する。

次忙■で、電界センサ（イ）及び電界強度計測装置Ｑ３
へＯＰ　Ｕ　（６）が命令を与え、上記放射電界強度を
計測させる。この結果得られた放射電界強度値はインタ
フェースバス顛及び入出力インタフェース経由０　））
　Ｕ　（６）へ送られる。

次にＬで、ｃＰｕ＋ｅ＋にょって状態推定及び識別が行
われる。状態推定とは外乱、すなわち増幅器（９）の増
幅度の変動や遮蔽室θ９の共振による放射電界強度の変
化が生じたとき、これら外乱と制御量とのベクトル和で
表わされる状態変数を推定することである。状態変数の
推定にｔより）ｖ　−ｒ　ンフイルター白（ａｌｍａｎ
ｆｉｌｔｅｒ）の理論を用いることができる。

また、Ｌの識別とは上記状態変数の推定において過去の
制御量データ、具体的には減衰器（８）の調節量をＯＰ
　Ｕ　（６１の計算によって例えば指数関数状に重み付
けすることであって、現在に近い制御量データはど重要
な要素として上記状態変数の推定を行うものである。

次にＫで、Ｌで推定された状態変数を基にＣＰ　Ｕ　（
Ｇ＋が最適化制御の計算が上述のように行われる。

なお、Ｊに示された動作、すなわちＩ（とＬは第６図に
示されているように、ザングリング区間△′Ｖの間に行
われ、制御量ＱはΔ′１゛毎に変化し、この動作がＯＰ
　Ｕ　（６１によって繰返され、放射電界強度Ｐが放射
電Ｆ￥矧１格値に合致するよう制御される。

次に、第４図において、ＥでＯＰ　Ｕ　（６１が上記サ
ンプリング区間△Ｉｌｌの繰返しが終了したかどうかを
判定し、終了しないとき、Ｇへ移りサンプリング区間△
Ｔを１ステップ進めて再びＤを実行し、終了したときは
■Ｉへ移り、第７図における周波数スデップΔＦを１ス
テップ進めて再び０．Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇを繰シ返す。

以上の動作をＩｔ　Ｓ試験の全周波数範囲で繰り返すこ
とによって、第７図に示されるように制御ｍＱの△Ｔ終
端における最終値Ｏ及び減衰器（８）の調節量Ｎが得ら
れ放射電界強度は所定の放射電界強度規格に合致するよ
う全周波数範囲にわたり制御される。

このような動作をするからその効果としては、まず、供
試体（１）近傍におかれた電界センサ（イ）によって放
射電界強度が検出されるから、常に供試体＋１）に浴び
せかけられる電波の放射電界強度を正確に知ることがで
きる。

さらにＣ１，’　Ｕ　（Ｇｌによって最適化制御を行っ
て、遮蔽室（１！９の共振による放射電界強度の変動や
増幅器（９）の増幅度変動による放射電界強度の変動な
どを最小に抑えることができるから往−確な試験を行う
ことができかつ供試体（１）に対１７て安全な試験を行
うことができる。

さらに寸だ放射電界強度の検出は１種類の電界センサ（
４）だけで行えるため従来のように受信アンテナ（３）
取替えの手間がかからず省力化や高速化が実現されるこ
となどがある。

次にこの発明の他の実施例について第８図を用いて説明
する。

第８図はこの発明の他の実施例を示す構成図であシ、（
１）から（２邊は第１図と同じで、結合器（田とＩｔ　
Ｆ電力側（１１を取υ除いた構成となっている。すなわ
ち結合器（８）とＩＬ　Ｐ電力計（ｌ！１を除き電界セ
ンサ（イ）で検出した電波の放射電界強度値のみで放射
電界強度を所定の値に設定するようになっている。この
ような構成においても先に説明した一実施例と同様の効
果が得られる。

才だ次にこの発明のさらに他の実施例について第９図を
用いて説明する。

第９図はこの発明のさらに他の実施例を示す構成図で、
（１）から０邊は第２図と同じで電界センサ（４）を複
数個、遮蔽室（国内に配置しｌｊものである。

このような構成において上記電界七ンサハ鳥によって遮
蔽室０つ内の共振による電界分布を検出することができ
、このことによって上記電界分布がもたらす供試体（１
）へ浴びせかける電波の放射電界強度の変動をＪ：り正
確に予測することができる。

なお」二連の実施例では各構成要素を一つずつ分離した
形で示しだが、いくつかの構成要素を一つにまとめて前
記した各構成要素の機能を持たせることもできるなど装
置の第１り成についてはこの発明の要旨とする点を逸脱
しない範囲において各種の変形がある。寸だ第８図に示
すこの発明の他の実施例において、電界七ンーリ−を複
数個用いた場合でも同様の効果を有するものである。

この発明は以」二のようになっているから放射干渉度試
験を正確にかつ安全に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の放射干渉感度試験装置の構成を示すブロ
ック図、第２図はとの発明に係る装置の一実施例の構成
図、第３図は電界強度計測装置Ｑ３と電界センサ■の構
成図、第４図は処理の流れを示す流れ図、第５図は言１
測、制御、処理の処理を示す信号系統図、第６図は時間
領域における電界強度と制御量との関係を示す図。 第７図は周波数領域における減衰器（８）の調節量と制
御−Ｍ゛の最終値との関係を示す図、第８図はこの発明
に係る装置の他の実施例の構成図、第９図は、この発明
に係る装置のさらに他の実施例の構成図である。 図中、（１）は供試体、（２）は送信アンテナ、（３１
は受信アンテナ、（４）は記憶装置、（５）は入力装置
。 （Ｇｌけ中央処理装置、（７）は信号発生器、（８）は
減衰器、（９）は増幅器、　（１１は非可逆回路、Ｑ１
）は受信機、０力は入出力インタフェース、　（１，１
は表示装置。 （１４は印字装置、Ｑっは遮蔽室、０［９は高周波伝送
路、Ｑ７１はインタフェースバスケーブル、　（ＩＩは
結合器、０１は高周波電力計、（イ）は電界センサ、Ｑ
υはファイバケーブル、Ｑ擾は電界強度計測装置、（ト
）は誘電体、ｃ！４はインタフェース回路、Ｑ９はテコ
ーダ、（イ）はレジスタ、ｔ２１はＡ／Ｄ変換回路、（
イ）は光源、　０１は光束、（７）は第１のレンズ、０
１）は光分配器、　４１３は第２のレンズ、（ト）は第
３のレンズ、θ◇は第１の光電変換素子、０９は反射鏡
、（至）は゛第２の光電変換素子、　ｏ’ｎは誤差検出
回路、　Ｃ（ｌはエンコーダである。 なお図中、同−又は相当部分は同一符号を付して示しで
ある。 代理人　　葛　野　信　− 第４図 １ 第６図 第７図

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）高周波信号を発生する信号発生器と、この信号発
   生器に接続され上記高周波信号の強度を調節する減衰器
   と、この減衰器に接続され強度調節された上記高周波信
   号を増幅する増幅器と、この増幅器の出力端に接続され
   、増幅された上記高周波信号を一方向にのみ通過させる
   非可逆回路と、この非可逆回路に接続され、増幅された
   上記高周波信号を電波として放射する送信アンテナと、
   この送信アンテナで放射された電波を受信し、放射電界
   強度を計測する手段を備えた放射干渉感度試験装置にお
   いて、上記送信アンテナで送信された電波を吸収する誘
   電体及びこの誘電体に設けられた。光の往復路を有する
   ファイバケーブルとで構成され上記電波の放射電界強度
   を検出する電界センサと、この電界センサに設けられた
   上記ファイバケーブルに光を入射し。 上記防電体内を通過した光の強度を検出することによっ
   て、上記誘電体へ上記軍、波が吸収されたときに生ずる
   熱を計測し、上記電波の放射電界強度値を得る機構を有
   する電界強度計測装置と、上記信号発生器、上記減衰器
   及び」−記電界強度ｎ１測装置を制御するに必要なプロ
   グラム、試験条件などを記憶する記憶装置と、この記憶
   装置との間で情報の授受を行うと共に上記電界強度計測
   装置から得られる電波の放射電界強度値を収集し、この
   泪測値を基に上記電波の放射電界強度を１９［定の値に
   設定するように所定の処理と制御を行う中央処理装置と
   、試験条件などを上記中央処理装置へ入力する入力装置
   とを備えたことを特徴とする放射干渉感度試験装置。
2. （２）上記電界センサを複数個備え、これら電界センサ
   から得られる上記電波の放射電界強度値をもって上記放
   射電界強度を所定の値に設定することを特徴とする特許
   請求の範囲第１項記載の放射干渉感度試験装置。
3. （３）　　高周波信号を発生する信号発生器と、この信
   号発生器に接続され」１記高周波信号の強度をへ周節す
   る減衰器と、この減衰器に接続され強度調節された上記
   高周波信号を増幅する増幅器と、この増幅器の出力端に
   接続され、増幅された上記高周波信号を一方向にのみ通
   過させる非可逆回路と、この非可逆回路に接続さね、増
   幅された上記高周波信号を電波として放射する送信アン
   テナと、この送信アンテナで放射された電波を受信し、
   放射電界強度を計測する手段を備えた放射干渉感度試験
   装置において、上記増幅器の出力端子に接続され、増幅
   された上記高周波信号の主要部分を送信アンテナへ出力
   する結合器と、この結合器に接続され、増幅された上記
   高周波信号の一部のｉｔｓ力を計測する高周波電力計と
   、上記電波を吸収する誘電体及びこの誘電体に設けられ
   た。光の往復路を有するファイバケーブルとで構成され
   上記電波の放射電界強度を検出する電界センサと、この
   電界センタに設りられた上記ファイバケーブルに光を入
   射１〜９上記誘電体内を通過した光の強度を検出するこ
   とＫよって、」二記肪電体へ上記電波が吸収されたとき
   に生ずる熱を開側し、上記電波の放射電界強度値を得る
   機構を有する電界強度式１測装置と、」二記信郵発生器
   、上記減衰器及び」−記電界強度組測装置を制御するに
   性差なプログラム、試験条件などを記憶する記憶装置と
   、この記憶装置との間で情報の授受を行うと共に上記信
   号発生器、上記減衰器、上記高周波電力計及び上記電界
   強度計測装置から得られる上記高周波信号の電力値と上
   記電波の放射電界強度値とを収集し、これらの言１測値
   ｆ：基に上記電波の放射電界強度を所定の値に設定する
   よう所定の処理と制御を行う中央処理装置と、試験条件
   などを」二記中吠処理装置ビへ入力する入力装置とを備
   えたことを特徴とする放射干渉感度試験装置。
4. （４）上記電界センザｆ：複数個備え、これら電界セン
   サから得られる上記電波の放射電界強度値をもって上記
   放射電界強度を所定の値に設定することを特徴とする特
   許請求の範囲第３項記載の放射干渉感度試験装置。