JPH0252261A - Temセル内部電界自動補正装置 - Google Patents

Temセル内部電界自動補正装置

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Publication number
JPH0252261A
JPH0252261A JP63203105A JP20310588A JPH0252261A JP H0252261 A JPH0252261 A JP H0252261A JP 63203105 A JP63203105 A JP 63203105A JP 20310588 A JP20310588 A JP 20310588A JP H0252261 A JPH0252261 A JP H0252261A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electric field
measured
field strength
value
field intensity
Prior art date
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Pending
Application number
JP63203105A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuji Sasaki
佐々木 充志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Erena Denshi Kk
Original Assignee
Erena Denshi Kk
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Filing date
Publication date
Application filed by Erena Denshi Kk filed Critical Erena Denshi Kk
Priority to JP63203105A priority Critical patent/JPH0252261A/ja
Publication of JPH0252261A publication Critical patent/JPH0252261A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子機器の電磁波妨害排除能力の測定や、ラジ
オやポケットベル等の各種受信器の受信感度の測定に使
用されるTEMセルの内部の電界強度の自動補正装置に
関するものである。
近年OA機器やパソコンなどの電子機器から発生する電
磁波ノイズがテレビやラジオの受信障害をもたらしたり
、コンピュータやオートマチイック車の誤動作を引き起
すというトラブルが増え、これらのいわゆる電磁波障害
が深刻な社会問題となっている。そこで電子機器に電磁
波障害対策を施し、それらの電磁波妨害排除能力を測定
している。
この測定に従来は被測定物をTEMセルの中に入れ、こ
のTEMセルに高周波電力を加えて内部に電界を発生さ
せ、周波数と高周波電力を変化させて、被測定物が受信
障害や誤動作を起し始める時のT、EMセル内の電界強
度を測定している。
上記測定において、TEMセル自身の電界強度が周波数
により第3図の線(a)に示すように差異が生じ一定の
値をとらないので、被測定物の電波障害を受ける周波数
と電界強度を測定した場合に被測定物の真の値を求める
ために、TEMセル自身の値との間の補正をしなければ
ならず、その補正に手間がかかり、多くの時間を要し、
しかも誤差が生じやすく精度が悪い。
本発明は上記に鑑み、TEMセル自身の電界強度を周波
数に関係なく一定の値となるように制御器で制御して、
被測定物の電磁波障害を引き起す時の周波数と電界強度
を測定することにより、その真の値を簡単かつ正確に求
め得る18Mセルの内部電界自動補正装置を提供するも
のである。このシステムは上記電磁波妨害排除能力の測
定の他に、ラジオやポケットペル等の受信感度の測定に
も好適に使用されるものである。
以下本発明の実施例として電磁波妨害排除能力の測定に
ついて具体的に説明する。
18Mセル(1)は、高周波信号の伝送によく使われる
同軸ケーブルと同じく、広い周波数帯に渡りインピーダ
ンスが一定な伝送線路を形成している。その構造は、方
形の中空体の両端が四角錐状に絞られていて、中心には
板状の導体(2)が設けられており同軸ケーブルを極端
に太くした形になっている。
18Mセル(1)の入力端には信号発生器がまた出力端
にはダミーロードが各々接続されている。
TEMセル(1)内には電界強度計のセンサー(4)が
設けられ、この電界強度計がインター7エイスバスライ
ン(5)を経由して信号発生器に接続され、フィードバ
ックループを形成するこの回路にパーソナルコンピュー
ター、専用制御装置等の制御器と、プリンター ブロッ
ク−等の記録(印字)装置が接続されている。
この18Mセル(1)の電界強度の制御システムの大略
の動作は、信号発生器により周波数の設定及び高周波出
力値の設定を行い、パワーアンプより出力されると、1
8Mセル(1)内に電界が発生し、その電界強度を電界
強度計で読み取り、制御器でいかなる周波数においても
一定値をとるように処理する。
次にフローチャート(第2図)で18Mセル(1)内部
の電界強度を周波数に関係なく一定になるように制御す
る過程について説明する。
■ スタート時の初期値の主たる設定として、■ これ
から測定しようとするスタートの周波数値と、 ■ 最後の測定周波数値としての終了周波数値と、 ■ 信号発生器の高周波出力レベル値と、■ 比較され
る一定値としての電界強度の基準値とが制御器に入力さ
れる。
図 上記制御器の■〜■の入力値のデータをインター7
エイスパスライン(5)を経由して信号発生器に転送す
る。
口 上記転送されたデータに応じた周波数及び高周波出
力信号が信号発生器からパワーアンプを経由して18M
セル(1)に加えられる。
国 上記信号発生器の高周波出力により、18Mセル(
υ内に電界が発生する。
m  上記18Mセル(1)に設けた電界強度計により
TEMセル内の電界強度を測定する。
園 上記電界強度計で測定した電界強度の値をデータと
して制御器に転送する。
霞 上記電界強度の測定値を制御器で電界強度の基準値
と比較し、測定値が基準値より小さい場合には後記図の
処理を行い、測定値が大きい場合には後記口の処理を行
って、各々上記口の行程からくり返す。また電界強度の
測定値がその基準値に等しい場合には、その周波数での
電界強度の測定は終了する。
ロ 初期に設定していた終了周波数と現実行周波数とを
比較し、もし等しければこのシステムでの測定は終了す
る。現実行周波数がまだ終了周波数に達してない場合に
は次の周波数の測定の準備をすゐ。
ロ 前記測定した電界強度の値がその基準値よりも低い
場合には高周波出力値を増大させて、前記lからの動作
を行う。
岡 前記測定した電界強度の値がその基準値よりも高い
場合には高周波出力値を減少させて、前記lからの動作
を行う。
回 ある任意の周波数での電界強度の測定が終了した場
合には、次の周波数値に設定して、l− 高周波出力値を初期設定値に自動的にセットする。
上記過程により、TEMセル(1)内の電界強度はいか
なる周波数においても第3図の線(b)のように一定値
をとる。
次に電磁波妨害排除能力の測定につき説明する。
被測定物としてテレビ(6)をTEMセル(1)内ニセ
ットし、該テレビに電源フィルター(7)を経由して電
源を加える。さらにテレビ(6)にテレビ信号発生器(
8)を接続し、テレビ信号を加えてテレビを受信動作状
態にする。測定システムで設定された周波数帯域内で各
周波数に対して電界強度を増減させて、被測定物(6)
が誤動作を起し始める時の電界強度を測定する。以下同
様のことを周波数を順次変えながら被測定物が誤動作を
始める時の電界強度を測定する。その結果は第3図の線
(C)に示すように図示され、誤動作の電界強度は補正
することなく直ちに読み取れる。
被測定物の受信感度の測定も前記誤動作の測定と同様に
個々の周波数において電界強度を変化させて行う。たソ
し受信感度の測定の場合には電界強度を減少させる点が
異る。
本発明は上記のようにTEMセル自身の内部電界強度を
電界強度計にて測定してその測定値と設定基準値とを制
御器で比較して測定値が設定基準値に一致するように信
号発生器の高周波の出力値を増減させて、TEMセル自
身の内部電界が一定値をとるように補正しているので、
TEMセル内に置いた被測定物の電波障害を引き起す周
波数と電界強度を測定する際は、その値を簡単かつ正確
に求めることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のTEMセル自身の内部電界自動補正装
置と被測定物の測定方法の実施例を示すブロック図、第
2図は本発明の実施例のTEMセル自身の内部電界自動
補正の過程を示すフローチャート、第3図はTEMセル
自身の内部電界を補正しない場合と補正した場合及び被
測定物の電磁波障害を測定した場合の電界強度と周波数
の関係を示すグラフである。 図中(1)はTEMセル、(2)は中心導体、(4)は
センサー、(5)dインターフェイスパスライン、(6
)はテレビ、(7)は電源フィルター、(8)はテレビ
信号発生器、(a)はTEMセル自身の補正しない場合
の線図、(b)はTEMセル自身の補正した場合の線図
、(C)は被測定物の電磁波障害の線図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 内部に電子機器等の被測定物を収納でき、高周波電力を
    加えると内部に電界を発生するようにしたTEMセルと
    、該TEMセルに高周波電力の信号を送る信号発生器と
    、TEMセル内の電界強度を測定する電界強度計と、該
    電界強度計で測定した電界強度の測定値を希望電界強度
    の設定基準値と比較し、その比較結果に基きTEMセル
    内の電界強度を基準値に一致するように上記信号発生器
    の高周波電力の出力値を増減させる制御器を具備するT
    EMセル内部電界自動補正装置。
JP63203105A 1988-08-17 1988-08-17 Temセル内部電界自動補正装置 Pending JPH0252261A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63203105A JPH0252261A (ja) 1988-08-17 1988-08-17 Temセル内部電界自動補正装置

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JP63203105A JPH0252261A (ja) 1988-08-17 1988-08-17 Temセル内部電界自動補正装置

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JPH0252261A true JPH0252261A (ja) 1990-02-21

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ID=16468474

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63203105A Pending JPH0252261A (ja) 1988-08-17 1988-08-17 Temセル内部電界自動補正装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106841830A (zh) * 2016-11-17 2017-06-13 云南电网有限责任公司电力科学研究院 基于电场强度信号检测的高压预警方法、装置及系统

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5919874A (ja) * 1982-07-26 1984-02-01 Mitsubishi Electric Corp 放射干渉感度試験装置
JPS62284271A (ja) * 1986-05-20 1987-12-10 ベ−・ベ−・ツエ−・アクチエンゲゼルシヤフト・ブラウン・ボヴエリ・ウント・コンパニイ ピラミツド状に拡大するtem導波管を有する、電子機器の電磁障害検査装置

Patent Citations (2)

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