JPS5917291A - 半導体レ−ザ制御装置 - Google Patents
半導体レ−ザ制御装置Info
- Publication number
- JPS5917291A JPS5917291A JP12703182A JP12703182A JPS5917291A JP S5917291 A JPS5917291 A JP S5917291A JP 12703182 A JP12703182 A JP 12703182A JP 12703182 A JP12703182 A JP 12703182A JP S5917291 A JPS5917291 A JP S5917291A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- semiconductor laser
- photo output
- control
- resistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体レーザの光出力を安定化させるだめの半
導体レーザ制御装置に関するものである0 半導体レーザは、発振しきい値電流が温度によって大き
く変動するために、温度変化に対して光出力を安定化さ
せる光出力制御装置が必要となる。
導体レーザ制御装置に関するものである0 半導体レーザは、発振しきい値電流が温度によって大き
く変動するために、温度変化に対して光出力を安定化さ
せる光出力制御装置が必要となる。
従来、この種の装置としては、ペルチェ素子によって温
度を制御するもの、光出力の一部をフォトダイオードで
受光し、フォトダイオードの出力値により半導体レーザ
の光出力を制御するものなどがあった。しかしながら、
前者においては、ペルチェ素子の駆動に大電力を必要と
し、通常ペルチェ素子は例えば1ステージのものであっ
ても比較的大きなものであるので、システムの節電及び
コンパクト化にとって非常に不利である。更には、゛ベ
ルチェ素子特有の部材として放熱板が必要であり、シス
テムにおける半導体レーザの設置に対して形状効果的見
地から大きなマイナスとなる。これらの欠点は、半導体
レーザをカメラ等小型の装置へ適用する場合には特に重
大な問題点となる。
度を制御するもの、光出力の一部をフォトダイオードで
受光し、フォトダイオードの出力値により半導体レーザ
の光出力を制御するものなどがあった。しかしながら、
前者においては、ペルチェ素子の駆動に大電力を必要と
し、通常ペルチェ素子は例えば1ステージのものであっ
ても比較的大きなものであるので、システムの節電及び
コンパクト化にとって非常に不利である。更には、゛ベ
ルチェ素子特有の部材として放熱板が必要であり、シス
テムにおける半導体レーザの設置に対して形状効果的見
地から大きなマイナスとなる。これらの欠点は、半導体
レーザをカメラ等小型の装置へ適用する場合には特に重
大な問題点となる。
一方、後者においては、例えば特開昭57−と抵抗によ
る比較的簡単な回路構成で半導体レーザの光出力を安定
化し得るものの、温度以外による光出力の変化に対して
も光出力制御回路が動作するので、例えばパルス駆動の
ような半導体レーザのオン・オフ制御171を適さない
。
る比較的簡単な回路構成で半導体レーザの光出力を安定
化し得るものの、温度以外による光出力の変化に対して
も光出力制御回路が動作するので、例えばパルス駆動の
ような半導体レーザのオン・オフ制御171を適さない
。
壕だパルス駆動による半導体レーザの光出力を安定化さ
せる装置としては、モニタフォトダイオードからのパル
ス出力を積分し、その積分出力変化を検知することによ
り半導体レーザのオン・オフ制御を行なうものもあるが
、モニタフォトダイオードを含めた制御回路の構成が複
雑になるという欠点を有した。
せる装置としては、モニタフォトダイオードからのパル
ス出力を積分し、その積分出力変化を検知することによ
り半導体レーザのオン・オフ制御を行なうものもあるが
、モニタフォトダイオードを含めた制御回路の構成が複
雑になるという欠点を有した。
本発明は上記の点に鑑みなされたもので、安定した光出
力が得られる半導体レーザ制御装置を提供するものであ
る。
力が得られる半導体レーザ制御装置を提供するものであ
る。
又、本発明は広い温度範囲に渡って半導体レーザの光出
力を安定化させ得る、低消費電力で回路構成が簡単かつ
小スペースの半導体レーザ制御装置を提供することを目
的としている。
力を安定化させ得る、低消費電力で回路構成が簡単かつ
小スペースの半導体レーザ制御装置を提供することを目
的としている。
以下本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図に温度(TI < T? < Ts )をパラメ
ータとした典型的な半導体レーザ光出力の電流特性を示
す。図に於てIFは半導体レーザの駆動電流、PT、は
光出力を示すものである。
ータとした典型的な半導体レーザ光出力の電流特性を示
す。図に於てIFは半導体レーザの駆動電流、PT、は
光出力を示すものである。
まだ、第2図に本実施例に於ける半導体レーザの駆動回
路を示す。ここで1は半導体レーザ、2はある温度Tで
所定の光出力PLが得られる様に駆動電流IPを制御す
る感温抵抗器で抵抗値はRoで表わされる。また3は定
電圧・源で電圧Eを発生する。
路を示す。ここで1は半導体レーザ、2はある温度Tで
所定の光出力PLが得られる様に駆動電流IPを制御す
る感温抵抗器で抵抗値はRoで表わされる。また3は定
電圧・源で電圧Eを発生する。
第2図よシ
B = IP (RL+、Ro ) (1
)ここで、RLは半導体レーザ1の動作抵抗値で、駆動
電流IFの関数として実験的に次式で与えられる。
)ここで、RLは半導体レーザ1の動作抵抗値で、駆動
電流IFの関数として実験的に次式で与えられる。
RL == ” = gn2IF”+ (
2)IF 但し、vFは半導体レーザ1の電圧で、n+(<O)。
2)IF 但し、vFは半導体レーザ1の電圧で、n+(<O)。
n2は定数である。
次K、外部微分量子効率をη、しきい値電流をIthと
すると、光出力Pt、は PL−η(IF −1th ) (3)で
与えられる。ここで、一般に Ith”k+εT/TO+ k、 ’ (4
)である。但し、kl、 k2+ ’ro (特性温度
)は定数であり、Tは温度である。また、isc<o)
、 12を定数として、?を次のようKおくことができ
る。
すると、光出力Pt、は PL−η(IF −1th ) (3)で
与えられる。ここで、一般に Ith”k+εT/TO+ k、 ’ (4
)である。但し、kl、 k2+ ’ro (特性温度
)は定数であり、Tは温度である。また、isc<o)
、 12を定数として、?を次のようKおくことができ
る。
η= 4T+12 (5)さて
、光出力Pt、を温度Tに対してf (’I’)なる関
数で変化するように制御することにする。す々わち、 Pt、 = fσ)(6) このとき、駆動電流IPは、(3) 、 (6)式より
I P = I th+ j−!”−(7)η (4) 、 (5)式を代入して IP = k、εT/ To + k2 十−何一 (
8)71T+12 このように駆動電流IPを制御するためには、電圧Eが
一定であるから、感温抵抗器2の抵抗値Roが次のよう
に変化すればよいことになる。(1)。
、光出力Pt、を温度Tに対してf (’I’)なる関
数で変化するように制御することにする。す々わち、 Pt、 = fσ)(6) このとき、駆動電流IPは、(3) 、 (6)式より
I P = I th+ j−!”−(7)η (4) 、 (5)式を代入して IP = k、εT/ To + k2 十−何一 (
8)71T+12 このように駆動電流IPを制御するためには、電圧Eが
一定であるから、感温抵抗器2の抵抗値Roが次のよう
に変化すればよいことになる。(1)。
(2)式および(8)式より
第3図に第2図の駆動回路を更に詳細にしたものを示す
。図において、4はサーミスタ、5゜6はそれぞれF−
+、Reの抵抗値を有す可変抵抗器であり、第2図と同
一構成部材には同一の番号を付けた。
。図において、4はサーミスタ、5゜6はそれぞれF−
+、Reの抵抗値を有す可変抵抗器であり、第2図と同
一構成部材には同一の番号を付けた。
サー會スタ4の抵抗値R8は、一般に次式で与えられる
。
。
Bs :RNt B(’/ T ’/ TN )
(10)但し、RN、TN、Bは定数である
。
(10)但し、RN、TN、Bは定数である
。
第3図に於て感温抵抗器2の全合成抵抗値Rtは次式の
様になる。
様になる。
、=RsE征+R2
R8+ R1
結局、(11)式で定数RN(TN) 、 Bおよび可
変抵抗器5.6の抵抗値R+、R2を適切に選ぶことK
より、ある温度範囲で RO=Rt I とすることができ、光出力PLをある温度Tに対してf
(r)なる関数で変化する様に制御することが可能と
なる。
変抵抗器5.6の抵抗値R+、R2を適切に選ぶことK
より、ある温度範囲で RO=Rt I とすることができ、光出力PLをある温度Tに対してf
(r)なる関数で変化する様に制御することが可能と
なる。
なお、温度(C関わりなく光出力PLを一定出力(九−
PLo) とするためには、(9)式で1(’i’)
= pLOとおけばよい。但し、一定の光出力PI、0
は半導体レーザ1を破壊しないように1高温でのIP
−PL特性から決める必要がちる。
PLo) とするためには、(9)式で1(’i’)
= pLOとおけばよい。但し、一定の光出力PI、0
は半導体レーザ1を破壊しないように1高温でのIP
−PL特性から決める必要がちる。
第4図は上述した各定数を示したものである。
図に於てLD−a、LD−bは本発明に用いることので
きる典型的な半導体レーザである。
きる典型的な半導体レーザである。
第5図に、本発明の実験例を示す。同図において、破線
が目標値を、実線が実験値をそれぞれ表わし、−20〜
+50゛Cの温度範囲で半導体レーザの光出力を7〜4
.4 mWまで変化させている。この様に温度変化だ伴
い半導体レーザの光出力をそのときの温度の目標値とほ
ぼ同しくすることができる。図より、光出力PLの変動
は最大で5.1%に抑えられていることがわかる。
が目標値を、実線が実験値をそれぞれ表わし、−20〜
+50゛Cの温度範囲で半導体レーザの光出力を7〜4
.4 mWまで変化させている。この様に温度変化だ伴
い半導体レーザの光出力をそのときの温度の目標値とほ
ぼ同しくすることができる。図より、光出力PLの変動
は最大で5.1%に抑えられていることがわかる。
まだ、第3図では、感温抵抗器2としてサーミスク/!
1個と可変抵抗器5.6の2個を組合せた場合を示しだ
が、場合によっては可変抵抗器5.6は不要である。そ
してサーミスタと可変抵抗器の組合せ方は(9)式で示
される感温抵抗器2の抵抗値1ン○の如きn”L度特性
がイ(fらhるものであれば、どのようなサーミスタと
可変抵抗器の組合せでもよく、両者の個数にも制限はな
い。
1個と可変抵抗器5.6の2個を組合せた場合を示しだ
が、場合によっては可変抵抗器5.6は不要である。そ
してサーミスタと可変抵抗器の組合せ方は(9)式で示
される感温抵抗器2の抵抗値1ン○の如きn”L度特性
がイ(fらhるものであれば、どのようなサーミスタと
可変抵抗器の組合せでもよく、両者の個数にも制限はな
い。
さらに、サーミスタ以外の感温抵抗体(たとえば、ポジ
スタ)を使って、第6図のように構成してもよい。図に
於て7はポジスタ、8,9け可変抵抗器であり、第2図
と同一の構成部4′」には同一の番号を伺けた。
スタ)を使って、第6図のように構成してもよい。図に
於て7はポジスタ、8,9け可変抵抗器であり、第2図
と同一の構成部4′」には同一の番号を伺けた。
寸だ本発明に於てサーミスタ等の抵抗体は、半導体レー
ザの温度変化が直接又は間接的に感知できる場所に設置
すればよい。例えば半導体レーザを支えるJ11持台に
熱的に密着させることも可能である。
ザの温度変化が直接又は間接的に感知できる場所に設置
すればよい。例えば半導体レーザを支えるJ11持台に
熱的に密着させることも可能である。
なお、上述した各図の説明は、cw、m動(連続発振)
の場合を示したが、パルス駆!flJであっても本発明
の効果に何ら変わる所はない。また、可変抵抗器は固定
抵抗器であっても構わない。
の場合を示したが、パルス駆!flJであっても本発明
の効果に何ら変わる所はない。また、可変抵抗器は固定
抵抗器であっても構わない。
以上のように、本実施例によれば、光出力の制御部が感
温抵抗体もしくは感温抵抗体と抵抗器だけで構成される
ので、低消費電力でスペースをとらない半導体レーザの
光出力制御が可能となる効果がある。また、本実施例に
よれば、制御の検出対象が温度変化であるので、安定し
た光出力が広い温度範囲に亘って得られる効果がある。
温抵抗体もしくは感温抵抗体と抵抗器だけで構成される
ので、低消費電力でスペースをとらない半導体レーザの
光出力制御が可能となる効果がある。また、本実施例に
よれば、制御の検出対象が温度変化であるので、安定し
た光出力が広い温度範囲に亘って得られる効果がある。
第1図は半導体レーザ光出力の電流特性図5第2図は本
実施例における半導体レーザの駆動回路図、第3図は第
2図の半導体レーザの駆動回路図を更に詳細に示した回
路図、第゛4図は典型的な半導体レーザの各定数を示す
図、第5図は本発明の効果を示す半導体レーザ光出力の
温度特性図、第6図は本発明の他の実施例による半導体
レーザの駆動回路図である。 ■・・・半導体レーザ、2・・・感温抵抗器、3・・・
定電圧源、4・・・サーミスタ、5.6.8.9・・・
可変抵抗器、7・・・ポジスタ。
実施例における半導体レーザの駆動回路図、第3図は第
2図の半導体レーザの駆動回路図を更に詳細に示した回
路図、第゛4図は典型的な半導体レーザの各定数を示す
図、第5図は本発明の効果を示す半導体レーザ光出力の
温度特性図、第6図は本発明の他の実施例による半導体
レーザの駆動回路図である。 ■・・・半導体レーザ、2・・・感温抵抗器、3・・・
定電圧源、4・・・サーミスタ、5.6.8.9・・・
可変抵抗器、7・・・ポジスタ。
Claims (1)
- 温度変化に伴い半導体レーザの態勢電流を制御する駆動
回路を有する半導体レーザ制御装置に於いて、前記駆動
回路に感温抵抗体を設けたことを特徴とする半導体レー
ザ制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12703182A JPS5917291A (ja) | 1982-07-21 | 1982-07-21 | 半導体レ−ザ制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12703182A JPS5917291A (ja) | 1982-07-21 | 1982-07-21 | 半導体レ−ザ制御装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5917291A true JPS5917291A (ja) | 1984-01-28 |
Family
ID=14949951
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12703182A Pending JPS5917291A (ja) | 1982-07-21 | 1982-07-21 | 半導体レ−ザ制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5917291A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6166969U (ja) * | 1984-10-09 | 1986-05-08 | ||
EP0848466A2 (en) * | 1996-12-14 | 1998-06-17 | Toshiba Corporation | Semiconductor light emitting element and optical fiber transmission system |
EP1053575A1 (en) * | 1998-04-14 | 2000-11-22 | Optobahn Corporation | Temperature compensation of laser diodes |
KR100286399B1 (ko) * | 1998-06-29 | 2001-03-15 | 무라타 야스타카 | 반도체 레이저 장치 및 그에 따른 펌핑 회로 |
JP2016046374A (ja) * | 2014-08-22 | 2016-04-04 | 株式会社トプコン | 発光装置 |
-
1982
- 1982-07-21 JP JP12703182A patent/JPS5917291A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6166969U (ja) * | 1984-10-09 | 1986-05-08 | ||
JPH0534124Y2 (ja) * | 1984-10-09 | 1993-08-30 | ||
EP0848466A2 (en) * | 1996-12-14 | 1998-06-17 | Toshiba Corporation | Semiconductor light emitting element and optical fiber transmission system |
EP0848466A3 (en) * | 1996-12-14 | 2001-04-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor light emitting element and optical fiber transmission system |
EP1053575A1 (en) * | 1998-04-14 | 2000-11-22 | Optobahn Corporation | Temperature compensation of laser diodes |
EP1053575A4 (en) * | 1998-04-14 | 2000-11-22 | Optobahn Corp | TEMPERATURE COMPENSATION OF LASER DIODES |
KR100286399B1 (ko) * | 1998-06-29 | 2001-03-15 | 무라타 야스타카 | 반도체 레이저 장치 및 그에 따른 펌핑 회로 |
US6236668B1 (en) | 1998-06-29 | 2001-05-22 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Semiconductor laser apparatus and pumping circuit therefor |
JP2016046374A (ja) * | 2014-08-22 | 2016-04-04 | 株式会社トプコン | 発光装置 |
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