JPS5917134A - 液体中の粒子の濃度測定装置 - Google Patents
液体中の粒子の濃度測定装置Info
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- JPS5917134A JPS5917134A JP58103529A JP10352983A JPS5917134A JP S5917134 A JPS5917134 A JP S5917134A JP 58103529 A JP58103529 A JP 58103529A JP 10352983 A JP10352983 A JP 10352983A JP S5917134 A JPS5917134 A JP S5917134A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
- G01N21/0303—Optical path conditioning in cuvettes, e.g. windows; adapted optical elements or systems; path modifying or adjustment
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
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- G01N21/51—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、試験室を少なくとも１つ有する透明な壁の試
験容器と、この試験容器の透明な壁に対して実質的に垂
直に試験容器内に光線を入射させる光源と、粒子によっ
て散乱される光の少なくとも一部を吸収する検出器とを
１ｎ＠えた、液体中の粒子の一度測定装置に関する。
験容器と、この試験容器の透明な壁に対して実質的に垂
直に試験容器内に光線を入射させる光源と、粒子によっ
て散乱される光の少なくとも一部を吸収する検出器とを
１ｎ＠えた、液体中の粒子の一度測定装置に関する。
多くの場合、懸濁液中の粒子の絶対濃度を測定すること
が必要である。従来の光学的方法は、懸濁粒子による入
射光線の混濁、消失、前方散乱又は後方散乱の測定に基
づいている。全て、これらの方法は極めて僅かな線状測
定範囲を有しているに過ぎない。粒子濃度の増加に連れ
て、測定信号は最大に達し、引続いて再び降下する。従
って、これらの測定方法は高い濃度もしくは粒子密度に
対しては使用できない。
が必要である。従来の光学的方法は、懸濁粒子による入
射光線の混濁、消失、前方散乱又は後方散乱の測定に基
づいている。全て、これらの方法は極めて僅かな線状測
定範囲を有しているに過ぎない。粒子濃度の増加に連れ
て、測定信号は最大に達し、引続いて再び降下する。従
って、これらの測定方法は高い濃度もしくは粒子密度に
対しては使用できない。
本発明の目的は、冒頭に挙げた種類の装置を、懸濁液中
の高粒子濃度も確実に測定できるように形成することで
ある。
の高粒子濃度も確実に測定できるように形成することで
ある。
本発明によればこの目的は、試験容器がその壁のヘリ面
に光出口面を有し、核用１」面が検出器の光入射素子と
光学的に結合可能にすることによって、達成される。
に光出口面を有し、核用１」面が検出器の光入射素子と
光学的に結合可能にすることによって、達成される。
本発明による解決法は、懸濁粒子の濃度増加に連れて光
子の多重散乱も増加するという知見に基づいている。理
論上の散乱特性は、この場合、最早や重要ではない。そ
れというのも、光は常に一様に立体角全体に散乱される
からである。測定信号（検出器電流）の対数を粒子濃度
の対数上に描けば（これについては後で詳述する）、散
乱光を大きな立体角にわたって測定するとき、線状の関
係が得られるだけである。
子の多重散乱も増加するという知見に基づいている。理
論上の散乱特性は、この場合、最早や重要ではない。そ
れというのも、光は常に一様に立体角全体に散乱される
からである。測定信号（検出器電流）の対数を粒子濃度
の対数上に描けば（これについては後で詳述する）、散
乱光を大きな立体角にわたって測定するとき、線状の関
係が得られるだけである。
本発明による装置直によれば、この測定は大きな立体角
にわたって可能となり、その立体角内において１ｌｌｌ
ｌ定器又は試験容器自体が一次光導体として形成されて
いる１、粒子によって懸濁液中に散乱された光は、試験
容器の壁での乱反射によって壁のへり而へ案内されてこ
の而を通過して外へ出る。
にわたって可能となり、その立体角内において１ｌｌｌ
ｌ定器又は試験容器自体が一次光導体として形成されて
いる１、粒子によって懸濁液中に散乱された光は、試験
容器の壁での乱反射によって壁のへり而へ案内されてこ
の而を通過して外へ出る。
試験室は光導体壁によってリング状に囲まれているので
、可能な限り大きな立体角が得られる。一方では測定液
と壁材との間の屈折率の差が僅少であり、他方では空気
と壁材との間の屈折率の差が大きいことは、壁の光伝導
効果に有利に作用する。
、可能な限り大きな立体角が得られる。一方では測定液
と壁材との間の屈折率の差が僅少であり、他方では空気
と壁材との間の屈折率の差が大きいことは、壁の光伝導
効果に有利に作用する。
壁は、ガラス又は光学目的に通しだプラスチックから成
っていてもよい。
っていてもよい。
検出器は容器壁の光出口面に１１接対向して設けてもよ
い。しかし、通常は、試験容器から離れた位置に検出器
を設け、試験容器壁の光出口面から出る光を光導体、例
えば繊維束を介して検出器へ案内するのが望ましい。
い。しかし、通常は、試験容器から離れた位置に検出器
を設け、試験容器壁の光出口面から出る光を光導体、例
えば繊維束を介して検出器へ案内するのが望ましい。
試験容器を・ぐイゾから形成してもよく、或いはその壁
が面平行板から成り、横断面が矩形のものであってもよ
い。最後に挙げた実施態様では、光の入射方向に対して
垂直な試験容器の壁の間に隔壁を配置することによって
、多数の試験室を設けることも可能である。これは、目
的の粒子と共に □不純物をも含有している液体中の粒
子濃度をｄｌ）］定し、従って同一の測定条件で粒子を
含んでいない液体試料についてパックグラウンド測定又
は零判定を行なう必要がある荷合に特に好ましい。この
場合、検出器の光入射素子及び試験容器を互いに相対的
に調整可能なように設置するのが有利であ □す、従っ
て測定試料の交換を簡単に行なうことが □できる。
が面平行板から成り、横断面が矩形のものであってもよ
い。最後に挙げた実施態様では、光の入射方向に対して
垂直な試験容器の壁の間に隔壁を配置することによって
、多数の試験室を設けることも可能である。これは、目
的の粒子と共に □不純物をも含有している液体中の粒
子濃度をｄｌ）］定し、従って同一の測定条件で粒子を
含んでいない液体試料についてパックグラウンド測定又
は零判定を行なう必要がある荷合に特に好ましい。この
場合、検出器の光入射素子及び試験容器を互いに相対的
に調整可能なように設置するのが有利であ □す、従っ
て測定試料の交換を簡単に行なうことが □できる。
試験容器壁の光出口面と検出器の光入射素子との間の過
程における散乱損失をできるたけ小さくするために、本
発明の好ましい実施態様によると、試験室を囲む試験容
器の壁の光出口面を壁の外側から内側に向かって傾斜す
るように研削し、好ましくはエツチングする。
程における散乱損失をできるたけ小さくするために、本
発明の好ましい実施態様によると、試験室を囲む試験容
器の壁の光出口面を壁の外側から内側に向かって傾斜す
るように研削し、好ましくはエツチングする。
本発明のその他の特徴と利点は、離村図面の実施例につ
き本発明を説明した以下の記載から明らかになる１、 第１図は、従来慣用の液体中の粒子濃度の光学的測定法
を図式的に示しだものである。光線ａが測定試料の入っ
ている試験器に入射する。光線ａが入射する方向にこれ
と一反対側の試験器の側面から出る光線ｂ゛は検出器４
によって細見られ、この検出器によって光の消失が測定
される。この光の消失から粒子濃度が算出される。しか
し、粒子の濃度は、検出器６による［ｊＪ方散乱の測定
又は検出器８による後方散乱の測戻によっても計算され
る。
き本発明を説明した以下の記載から明らかになる１、 第１図は、従来慣用の液体中の粒子濃度の光学的測定法
を図式的に示しだものである。光線ａが測定試料の入っ
ている試験器に入射する。光線ａが入射する方向にこれ
と一反対側の試験器の側面から出る光線ｂ゛は検出器４
によって細見られ、この検出器によって光の消失が測定
される。この光の消失から粒子濃度が算出される。しか
し、粒子の濃度は、検出器６による［ｊＪ方散乱の測定
又は検出器８による後方散乱の測戻によっても計算され
る。
これら３つの公知の光学的測定方法は、１菫かな粒子濃
度に有効な極めて僅少な線状測定範囲のみを有するとい
う欠点を有している。第２図は後方散乱（曲線Ａ）及び
前方散乱（曲ａＢ）の測定範囲を示す。この場合の散乱
は、液体中に懸濁させた直径ｌμｉｎのラテックス粒子
で測定した。横座標と縦座標に、各々対数尺度で１ミリ
メータにつき１００万単位の粒子数およびミリメルト単
位の測定信号を示す。前方散乱の線状測定範囲は粒子数
が１ミリリツトル当たり約１０７ で終り、他方測定
信号は、粒子数が約１０８で頂点に達して、粒子数が更
に増加してももはや変化しないことが認めらＩする。同
様なことが定性的如後方散乱にあてはまり、その際線状
範囲は粒子数がもつと僅かな場合無視し得る。
度に有効な極めて僅少な線状測定範囲のみを有するとい
う欠点を有している。第２図は後方散乱（曲線Ａ）及び
前方散乱（曲ａＢ）の測定範囲を示す。この場合の散乱
は、液体中に懸濁させた直径ｌμｉｎのラテックス粒子
で測定した。横座標と縦座標に、各々対数尺度で１ミリ
メータにつき１００万単位の粒子数およびミリメルト単
位の測定信号を示す。前方散乱の線状測定範囲は粒子数
が１ミリリツトル当たり約１０７ で終り、他方測定
信号は、粒子数が約１０８で頂点に達して、粒子数が更
に増加してももはや変化しないことが認めらＩする。同
様なことが定性的如後方散乱にあてはまり、その際線状
範囲は粒子数がもつと僅かな場合無視し得る。
本発明による解決の基礎となるところは、散乱光を大き
な立体角にわたって、例えば２πの角度で測定した場合
、測定信号と粒子濃度との線状関係を大きな粒子数でも
維持できるという知見に存る。これは、以下に更に記載
する本発明による装置によって得られた実験結果が示し
ており、この実験結果を第２図に対応するグラフで図示
しだ第３図に示す。曲線Ｃは直径Ｊμｍの懸濁したラテ
ックス粒子の場合を示し、他方、曲線りは精子の測定結
果を示す。第３図では、できるたけ大きな立体角にわた
る散乱光の測定に際し、二重対数線図に１ミリリツトル
当たり粒子１０９個までの粒子数と測定信号との線状関
係が得られ、まだ以下に記載の装置により大きな粒子濃
度も確実に、且つ正確に測定できることが認められる。
な立体角にわたって、例えば２πの角度で測定した場合
、測定信号と粒子濃度との線状関係を大きな粒子数でも
維持できるという知見に存る。これは、以下に更に記載
する本発明による装置によって得られた実験結果が示し
ており、この実験結果を第２図に対応するグラフで図示
しだ第３図に示す。曲線Ｃは直径Ｊμｍの懸濁したラテ
ックス粒子の場合を示し、他方、曲線りは精子の測定結
果を示す。第３図では、できるたけ大きな立体角にわた
る散乱光の測定に際し、二重対数線図に１ミリリツトル
当たり粒子１０９個までの粒子数と測定信号との線状関
係が得られ、まだ以下に記載の装置により大きな粒子濃
度も確実に、且つ正確に測定できることが認められる。
第４図に、参照番号１０を付した試験容器、光源１２、
一般に１４で表示しだ検出装置を示す。
一般に１４で表示しだ検出装置を示す。
試験容器１０は、測定液とその中に懸濁された粒子Ｉ８
を収納する試験室１６を備えている。試験室１６は矩形
の横断面を有し、−４板の面平行板２０ 、２２と底部
２４によって囲まれている。板２２ 、２４はガラス又
は光学的目的に適した屈折率約１．５及び厚さ約１陥の
プラスチックから成る。試験室は容器壁２ｆ）に垂直に
入射する光線２６の方向ｌ／Ｃ約１ ＋ｍｎの１早さを
有する。測定試料の層の厚さは０．１〜２ ｍｍの４・
α囲のものであってよい。
を収納する試験室１６を備えている。試験室１６は矩形
の横断面を有し、−４板の面平行板２０ 、２２と底部
２４によって囲まれている。板２２ 、２４はガラス又
は光学的目的に適した屈折率約１．５及び厚さ約１陥の
プラスチックから成る。試験室は容器壁２ｆ）に垂直に
入射する光線２６の方向ｌ／Ｃ約１ ＋ｍｎの１早さを
有する。測定試料の層の厚さは０．１〜２ ｍｍの４・
α囲のものであってよい。
試験容器用の上方には、図式的に示した可焼性の）し導
体：（２を、その入射面；３／１が試験室１６の長手軸
に対して実質的に垂直になるように、配置しである。光
導体３２の直径は、終端面、３・１が試験室１（５の技
手１１ｑｌ＋に対して垂直ＶＣ少なくとも試験容器の横
断面υ（はぼ対応するような寸法とする。光導体は光電
変換器：（６と接続１〜ており、これは第４図に図式的
に示しである。
体：（２を、その入射面；３／１が試験室１６の長手軸
に対して実質的に垂直になるように、配置しである。光
導体３２の直径は、終端面、３・１が試験室１（５の技
手１１ｑｌ＋に対して垂直ＶＣ少なくとも試験容器の横
断面υ（はぼ対応するような寸法とする。光導体は光電
変換器：（６と接続１〜ており、これは第４図に図式的
に示しである。
光源Ｉ２、例えばレーザから出る光線２Ｇは、この光源
に面した試験容器１０の板に対して垂直に入射して、試
験室１６の中へ入り、そこで光１ｄｌ濁した粒子１８に
よりあらゆる立体方向へ散乱される。壁材と測定液との
屈折率の僅かな差により、散乱光は容器壁に入り、その
壁内で境界面で何回もの反射によって上部の光出口面２
８ 、３０へ導びかれる。
に面した試験容器１０の板に対して垂直に入射して、試
験室１６の中へ入り、そこで光１ｄｌ濁した粒子１８に
よりあらゆる立体方向へ散乱される。壁材と測定液との
屈折率の僅かな差により、散乱光は容器壁に入り、その
壁内で境界面で何回もの反射によって上部の光出口面２
８ 、３０へ導びかれる。
この光出口面２８ 、 ：３０から散乱光が出て、終端
面：３・１を通って光導体３２に入る。試験室１６及び
板２０もしくは２２内の散乱光の光路を矢印、−１８に
よって図示する。
面：３・１を通って光導体３２に入る。試験室１６及び
板２０もしくは２２内の散乱光の光路を矢印、−１８に
よって図示する。
板２０もしくは２２のヘリ面２８ 、３０から出る、で
きるだけ全ての散乱光が実際に光導体３２に達し、また
散乱光が試験容器１０と光導体：３２との間の過程でで
きるだけ僅かしか損失しないようにするためには、板２
０もしくは２２のへり面部、３０を、各々板の外側から
内側へ傾斜させて開（」角αの一棟のｄｌｊｉ斗を形成
するように研削する。かくして、放射される散乱光の束
が光導体：３２の終端面３／Ｉに生ずる、角αの大きさ
は光導体３２０発故に対応する。研削した先出に１而２
８ 、３（Ｊを更にエノチノグしてもよい。
きるだけ全ての散乱光が実際に光導体３２に達し、また
散乱光が試験容器１０と光導体：３２との間の過程でで
きるだけ僅かしか損失しないようにするためには、板２
０もしくは２２のへり面部、３０を、各々板の外側から
内側へ傾斜させて開（」角αの一棟のｄｌｊｉ斗を形成
するように研削する。かくして、放射される散乱光の束
が光導体：３２の終端面３／Ｉに生ずる、角αの大きさ
は光導体３２０発故に対応する。研削した先出に１而２
８ 、３（Ｊを更にエノチノグしてもよい。
前述の試験容器１０を、すでに記載したように、唯一の
試験室を有するように形成してもよい３、しかし、第５
図は、試験容器１０が第４図に示した試験室を多数備え
てもよいことを示し、板２０は全試験室ｒ共通で、両端
壁を除き境界壁２２を板２０の間の隔壁として設置する
。壁又は板２２は、この場合、第５図に認められるよう
に、その上端を模形に研削する。
試験室を有するように形成してもよい３、しかし、第５
図は、試験容器１０が第４図に示した試験室を多数備え
てもよいことを示し、板２０は全試験室ｒ共通で、両端
壁を除き境界壁２２を板２０の間の隔壁として設置する
。壁又は板２２は、この場合、第５図に認められるよう
に、その上端を模形に研削する。
第５図に示した試験容器１０は図式的に示した軌条４０
に２重矢印への方向へ往復摺動可能なように支承されて
おり、従って所望の試験室Ｉ６中の１つを光線２６の通
路内に持ってくることができる。
に２重矢印への方向へ往復摺動可能なように支承されて
おり、従って所望の試験室Ｉ６中の１つを光線２６の通
路内に持ってくることができる。
試験容器１０を上方へ取り出すことができるようにする
／こめ成るいは試料を開口した試験室１６へ充てんでき
るようにするため、壁２０もしくは２２の光出口面２８
、 ：＜ｏに面した先導体３２の端部は旋回アーム３
・ＩＩ／こ支承されており、該アームは試験室１６の長
手軸に対して平行に延びる軸４４を中心として旋回０丁
能である。
／こめ成るいは試料を開口した試験室１６へ充てんでき
るようにするため、壁２０もしくは２２の光出口面２８
、 ：＜ｏに面した先導体３２の端部は旋回アーム３
・ＩＩ／こ支承されており、該アームは試験室１６の長
手軸に対して平行に延びる軸４４を中心として旋回０丁
能である。
第５図には、更に２つの検出器・１６ 、−１８が図式
的に示され、この検出器で入射した光の前方散乱もしく
は後方散乱を測定で謙る。第５図の図面から、前方散乱
及び／又は後方散乱−これらの散乱から、例えば液体中
の粒子の運動に関するデータが得られる−の測定と共に
、立体角２πにわたって放射した散乱光が本発明による
装置によって簡単に測定されることが特に明らかである
。すでに冒頭で詳述したように、この測定法では、大き
な粒子濃度の場合にも、測定信号と粒子濃度間の線」二
関係が得られる。
的に示され、この検出器で入射した光の前方散乱もしく
は後方散乱を測定で謙る。第５図の図面から、前方散乱
及び／又は後方散乱−これらの散乱から、例えば液体中
の粒子の運動に関するデータが得られる−の測定と共に
、立体角２πにわたって放射した散乱光が本発明による
装置によって簡単に測定されることが特に明らかである
。すでに冒頭で詳述したように、この測定法では、大き
な粒子濃度の場合にも、測定信号と粒子濃度間の線」二
関係が得られる。
第６図は管状に形成した試験容器５０を示す。この試験
容器では、試験室５２がシリンダー状壁５７１によって
囲まれており、膣壁はその間１コ端に円錐形の光出口面
５６を有している。更に、試験容器５ｏについては、試
験容器１０について記載したことが妥当する。試験容器
５０は、前記の装置に於て試験容器１０を同様に使用で
きる。
容器では、試験室５２がシリンダー状壁５７１によって
囲まれており、膣壁はその間１コ端に円錐形の光出口面
５６を有している。更に、試験容器５ｏについては、試
験容器１０について記載したことが妥当する。試験容器
５０は、前記の装置に於て試験容器１０を同様に使用で
きる。
第１図は液体中の粒子濃度を光学的に測定する方１去の
図式的説明図、第２図は一定の散乱角の１・”に前方散
乱もし７〈は後方散乱を測定する際の粒子−数にえ１す
る測定信号の依存関係をグラフで示しだ図、第３図はで
きるたけ大きな立体角にわたる散乱光の測定の除の第２
図に相当するグラフ、第４図は試験室の長手軸に・沿う
試験容器の断面図を含む本発明による装置の図式図、第
５図は数個の試・沃室を有する試験容器を備えた本発明
による装’Ｈ’、ｆ、の図式的平面図、第６図は看状試
験の半回式的ｊ：・１祝図である。 １（）−試験容器、 １４゛・・・・・検出器、Ｉ
ｆｉ 試験室、 ２０・・・試験容器壁、
２２ ・試験容器壁、 四・ 先出１」面１．３０
・・・光出口面、 ：３２・・・光入射素子、５
０ 試験容器、 ５２・・・ 試験室、５４
・・試験容器壁、 ５６・・・先出１」面。 外１名 図面の浄書（内容に変更なし） 手続補正書（方式） 昭和５８年８月２６日 特許庁長官殿 （特許庁審査官 殿） ■、事件の表示 昭和５８年特許願第１０３５２９号 ２、発明の名称 液体中の粒子の濃度測定装置 ３、 補正をする者 事件との関係 出願人 ４、 代 理 人 ”″ディートゲーｖ′ｖｙヤ７
ト住所 東京都港区南青山−丁目１番１号５、 補正命
令の日刊（自発）
図式的説明図、第２図は一定の散乱角の１・”に前方散
乱もし７〈は後方散乱を測定する際の粒子−数にえ１す
る測定信号の依存関係をグラフで示しだ図、第３図はで
きるたけ大きな立体角にわたる散乱光の測定の除の第２
図に相当するグラフ、第４図は試験室の長手軸に・沿う
試験容器の断面図を含む本発明による装置の図式図、第
５図は数個の試・沃室を有する試験容器を備えた本発明
による装’Ｈ’、ｆ、の図式的平面図、第６図は看状試
験の半回式的ｊ：・１祝図である。 １（）−試験容器、 １４゛・・・・・検出器、Ｉ
ｆｉ 試験室、 ２０・・・試験容器壁、
２２ ・試験容器壁、 四・ 先出１」面１．３０
・・・光出口面、 ：３２・・・光入射素子、５
０ 試験容器、 ５２・・・ 試験室、５４
・・試験容器壁、 ５６・・・先出１」面。 外１名 図面の浄書（内容に変更なし） 手続補正書（方式） 昭和５８年８月２６日 特許庁長官殿 （特許庁審査官 殿） ■、事件の表示 昭和５８年特許願第１０３５２９号 ２、発明の名称 液体中の粒子の濃度測定装置 ３、 補正をする者 事件との関係 出願人 ４、 代 理 人 ”″ディートゲーｖ′ｖｙヤ７
ト住所 東京都港区南青山−丁目１番１号５、 補正命
令の日刊（自発）
Claims (10)
- （１）試験室を少なくとも１個有する透明な壁の試験容
器と、この言野験容器の透明な壁に対して実質的に垂直
に試験容器内に光線を入射させる光源と、粒子によって
散乱される光の少なくとも一部を吸収する検出器とを備
えた、液体中の粒子の濃度測定装置に於いて、試験容器
（１０； ５０ ）がその壁（２０、２２： ５４ ）
のヘリ而に先出１」而（２８、３０； ５６ ）を有し
、核用に５１面が検出器（１４）の光入射素子（：３２
）と光学的に結合可能であることを特徴とする、液体中
の粒子の濃度測定装置。 - （２）試験容器（川；５０）の壁（２（〕、 ２２ ；
５４ ）がガラスから成ることを特徴とする特許請求
の範囲第１項に記載の装置。 - （３） 試験容器（１（１： ５０ ）の壁（２（１
、２２： ５４ ）かプラスチックから成ることを特徴
とする特許請求の範囲第１項に記載の装置。 - （４）検出器（１４）の光入射素子が可撓性の光導体（
３２）から形成されていることを特徴とする特許請求の
範囲第１項〜第３項のいずれかに記載の装置。 - （５）試験容器（１０）が矩形の横断面を有し、且つ該
容器の壁（２０、２２）面平行板から形成されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項〜第４項のいずれ
かに記載の装置。 - （６）光の入射方向に対して垂直な試験容器（１のの壁
（２０）によって整形されていることを特徴とす（２２
）によって形成されていることを特徴とする特許請求の
範囲第５項に記載の装置。 - （７） 試験容器（５０）を管状に形成したことを特
徴とする特許請求の範囲第１項〜第４項のいずれかに記
載の装置。 - （８） 試験室（１６： ５２ ）を囲む試験容器（
１０： 、５（１）の壁（２（１、２２； ５４ ）の
光出口面（２８、３０： ５６）が壁の外側から内側に
向かって傾斜していることを特徴とする特許請求の範囲
第１項〜第７項のいずれかに記載の装置。 - （９）試験容器の壁（２（＋ 、 ２２ ； ５４ ）
の光出口面（２８、３０； ５６ ）をエツチングした
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項乃至第８項のい
ずれかに記載の装置。 - （１０） 検出器（１４）の光に射素子（：３２）と
試験容器（１０： ５０ ）が互いに相対的に調節可能
であることを特徴とする特許請求の範囲第１項〜第９項
のいずれかに記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE32218672 | 1982-06-09 | ||
| DE19823221867 DE3221867C2 (de) | 1982-06-09 | 1982-06-09 | Vorrichtung zur Messung der Konzentration von Teilchen in Flüssigkeiten |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5917134A true JPS5917134A (ja) | 1984-01-28 |
Family
ID=6165757
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58103529A Pending JPS5917134A (ja) | 1982-06-09 | 1983-06-09 | 液体中の粒子の濃度測定装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0096420A3 (ja) |
| JP (1) | JPS5917134A (ja) |
| DE (1) | DE3221867C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02107945A (ja) * | 1988-10-17 | 1990-04-19 | Fuji Electric Co Ltd | 液体中微粒子検出装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FI831936A0 (fi) * | 1983-05-30 | 1983-05-30 | Labsystems Oy | Anordning foer maetning av fluorescens, turbiditet, luminescens eller absorption |
| JPH0640059B2 (ja) * | 1985-05-28 | 1994-05-25 | 出光興産株式会社 | 浮遊微粒子測定方法及びその装置 |
| US8161790B2 (en) * | 2009-04-09 | 2012-04-24 | Kidde Technologies, Inc. | Measurement system for powder based agents |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2827825A (en) * | 1955-03-22 | 1958-03-25 | White Dev Corp | Raman tube apparatus |
| US3508830A (en) * | 1967-11-13 | 1970-04-28 | Shell Oil Co | Apparatus for light scattering measurements |
| US4037974A (en) * | 1974-10-17 | 1977-07-26 | Fletcher Taylor C | Sample cell for spectrophotometers |
| DE2625088A1 (de) * | 1976-06-04 | 1977-12-15 | Bbc Brown Boveri & Cie | Optoelektronische vorrichtung |
| DE2945524C2 (de) * | 1979-11-10 | 1985-10-31 | Medizinische Feinwerktechnik E. Harig Ohg, 2000 Hamburg | Vorrichtung zum Identifizieren von Analysenproben |
| US4283143A (en) * | 1979-11-19 | 1981-08-11 | Amco Standards International | Optical characterization of a suspension |
-
1982
- 1982-06-09 DE DE19823221867 patent/DE3221867C2/de not_active Expired
-
1983
- 1983-06-08 EP EP83105633A patent/EP0096420A3/de not_active Withdrawn
- 1983-06-09 JP JP58103529A patent/JPS5917134A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02107945A (ja) * | 1988-10-17 | 1990-04-19 | Fuji Electric Co Ltd | 液体中微粒子検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0096420A2 (de) | 1983-12-21 |
| DE3221867A1 (de) | 1983-12-15 |
| EP0096420A3 (en) | 1984-02-01 |
| DE3221867C2 (de) | 1985-11-28 |
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