JPS5916831Y2 - flaw detection equipment - Google Patents
flaw detection equipmentInfo
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- JPS5916831Y2 JPS5916831Y2 JP6978881U JP6978881U JPS5916831Y2 JP S5916831 Y2 JPS5916831 Y2 JP S5916831Y2 JP 6978881 U JP6978881 U JP 6978881U JP 6978881 U JP6978881 U JP 6978881U JP S5916831 Y2 JPS5916831 Y2 JP S5916831Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detectors
- slide block
- flaw detection
- inspected
- attached
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は板や角ビレットなどの外面の欠陥を検出する
探傷装置に関し、特に板や角ビレットなどの平面の探傷
を行なう探傷装置に関する。[Detailed Description of the Invention] This invention relates to a flaw detection device for detecting defects on the outer surface of plates, square billets, etc., and particularly relates to a flaw detection device for detecting defects on flat surfaces of plates, square billets, etc.
板や角ビレットなどの平面の探傷を行なう場合には、検
出器をこの平面に沿って配置し、検出すべき傷の直角方
向に移動させることが必要である。When performing flaw detection on a flat surface such as a plate or square billet, it is necessary to arrange the detector along this plane and move it in a direction perpendicular to the flaw to be detected.
そして検出器は検出すべき面に対して所定の間隔を常に
保っている必要がある。The detector must always maintain a predetermined distance from the surface to be detected.
ところで実際の板や角ビレットなどの外面を探傷する場
合にはその板や角ビレットなどが変形したり、あるいは
傾いて配置されることにより、検出器と探傷すべき面と
の所定の位置を保つことがむずかしい。By the way, when detecting flaws on the outer surface of an actual board or square billet, the board or square billet is deformed or placed at an angle to maintain the predetermined position between the detector and the surface to be tested. It's difficult.
この考案は上記に鑑み、簡単な機構でありながら、常に
被検査材の表面との間隔を所定の間隔に保ち、安定且つ
確実な探傷機能を果たすように改善した探傷装置を提供
することを目的とする。In view of the above, the purpose of this invention is to provide an improved flaw detection device that has a simple mechanism but always maintains a predetermined distance from the surface of the material to be inspected and performs stable and reliable flaw detection functions. shall be.
以下図面を参照しながら本考案の一実施例について詳細
に説明する。An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
第1図は側面図で、この図において角ビレット1の一辺
を構成する表面を検出部10が探傷するようにしている
。FIG. 1 is a side view, in which a detection unit 10 detects flaws on the surface constituting one side of a square billet 1.
角ビレット1の他の一辺を構成する表面には励磁部20
が配置されている。An excitation part 20 is provided on the surface constituting the other side of the square billet 1.
is located.
この励磁部20は高周波マグネット21を備えており、
探傷面を励磁している。This excitation section 20 is equipped with a high frequency magnet 21,
The flaw detection surface is excited.
この検出部10および励磁部20はそれぞれフレーム3
1に取り付けられており、このフレーム31は所定の追
従機構32により保持され、その平ローラ33が角ビレ
ット1の表面に押えつけられるようにしている。The detection section 10 and the excitation section 20 are connected to the frame 3, respectively.
This frame 31 is held by a predetermined follow-up mechanism 32 so that its flat roller 33 is pressed against the surface of the square billet 1.
このようにしてライン上を走行している角ビレット1の
所定の面の探傷がなされる。In this way, a predetermined surface of the square billet 1 running on the line is inspected for flaws.
この検出部10について、さらに第2図、第3図、およ
び第4図を参照しながら詳しく説明する。This detection unit 10 will be further explained in detail with reference to FIGS. 2, 3, and 4.
第2図は第1図の一部を拡大して示す図で、第3図は第
2図の下方より見た底面図、第4図は第2図の右方より
見た正面図である。Figure 2 is an enlarged view of a part of Figure 1, Figure 3 is a bottom view seen from below in Figure 2, and Figure 4 is a front view seen from the right side of Figure 2. .
、−れらの図に示すように検出部10は、たとえばSM
Dなどの磁気感応素子より戊る検出器11を5個備えて
おり、各検出器11はそれぞれ別個の平行四辺形リンク
機構12により保持されている。, - As shown in these figures, the detection unit 10 is, for example, an SM
It is equipped with five detectors 11 made of magnetically sensitive elements such as D, and each detector 11 is held by a separate parallelogram link mechanism 12.
各平行四辺形リンク機構12はそれぞればね16などに
より弾性が与えられ、その結果各検出器11がそれぞれ
角ビレット1の表面に押えつけられるようになっている
。Each parallelogram link mechanism 12 is given elasticity by a spring 16 or the like, so that each detector 11 is pressed against the surface of the square billet 1.
この各リンク機構12はフレーム17に取り付けられて
おり、このフレーム17はスライドブロック18に取り
付けられている。Each link mechanism 12 is attached to a frame 17, and this frame 17 is attached to a slide block 18.
このスライドブロック18はスライドガイド棒15に嵌
合しており、このガイド棒15の軸方向に沿って自由に
スライドできるようになっている。This slide block 18 is fitted into the slide guide rod 15 and can freely slide along the axial direction of this guide rod 15.
このスライドブロック18にはクランク機構14が接続
されており、このクランク機構14は所定の減速機構を
介してモータ13の回転軸に連結されている。A crank mechanism 14 is connected to the slide block 18, and the crank mechanism 14 is connected to the rotating shaft of the motor 13 via a predetermined speed reduction mechanism.
したがってモータ13の回転によりクランク機構14が
働きスライドブロック18が、第3図では左右に振動す
ることになる。Therefore, the crank mechanism 14 is actuated by the rotation of the motor 13, and the slide block 18 vibrates from side to side in FIG. 3.
したがって5個の検出器11は同時に角ビレット1の走
行方向に対して直角な方向に移動させられることになる
。Therefore, the five detectors 11 are simultaneously moved in a direction perpendicular to the running direction of the square billet 1.
したがって角ビレット1の所定の探傷面すべての走査が
なされている。Therefore, all the predetermined flaw detection surfaces of the square billet 1 are scanned.
このように本考案による探傷装置は、検出器11が各々
別個に弾性を付与された平面四辺形リンク機構12によ
って保持されているため、たとえば第5図に示すように
被検査材である角ビレット1が傾いて、その探傷面が検
出器11と平行でなくなった場合でもそれぞれの検出器
11は別個に保持されているため、探傷面との距離かは
なれ、すき間があくことがなく、シたがって簡略な構成
にて極めて安定した検出機能を果たすことができる。As described above, in the flaw detection device according to the present invention, since the detectors 11 are held by the planar quadrilateral link mechanisms 12 which are individually elasticized, for example, as shown in FIG. 1 is tilted and its detection surface is no longer parallel to the detector 11, each detector 11 is held separately, so it will not be separated from the detection surface and there will be no gap. An extremely stable detection function can be achieved with a simple configuration.
なお、この考案は上記の一つの実施例に限定されるので
なく、たとえば゛第6図に示したように変形することが
可能である。Note that this invention is not limited to the one embodiment described above, but can be modified as shown in FIG. 6, for example.
すなわち、この第6図においてリンク機構12が取り付
けられたフレーム17(リンク機構基部)にはガイド棒
15またはレール上で自由にスライドできるようにされ
たスライドブロック18が取り付けられており、このス
ライドブロック18はリンク機構19によって振動させ
られるようになっている。That is, in FIG. 6, a slide block 18 that can freely slide on a guide rod 15 or rail is attached to a frame 17 (link mechanism base) to which the link mechanism 12 is attached. 18 is adapted to be vibrated by a link mechanism 19.
この第6図の場合、さらに摺動部をなくし、ピンジヨイ
ントだけで結合すれば耐久性が高まる。In the case of FIG. 6, durability can be increased by eliminating the sliding part and connecting only with a pin joint.
このように本考案は、本考案の要毒を逸脱しない範囲で
種々に構成することが可能である。As described above, the present invention can be configured in various ways without departing from the essential features of the present invention.
以上実施例について説明したように、この考案によれば
、スライドブロックに取付けられた複数個の平行四辺形
リンク機構の各々に検出器を支持させ、このスライドブ
ロックをクランク機構で往復動させるという簡単な機構
で、複数個の検出器を被検査材表面上でこれとの間の間
隔を一定に保ちながら振動させることができて、安定確
実な探傷動作を実現できる。As explained in the embodiments above, according to this invention, a detector is supported by each of a plurality of parallelogram link mechanisms attached to a slide block, and the slide block is reciprocated by a crank mechanism. With this mechanism, multiple detectors can be vibrated on the surface of the material to be inspected while maintaining a constant distance between them, making it possible to achieve stable and reliable flaw detection operations.
第1図から第4図は本考案の一実施例を示し、第1図は
側面図、第2図は第1図の部分拡大図、第3図は第2図
の下方から見た底面図、第4図は第2図の右方から見た
正面図、第5図は実施例の作用を説明するための正面図
、第6図は他の実施例を示す底面図である。
1・・・・・・被検査材、10・・・・・・検出部、1
1・・・・・・検出器、12・・・・・・平行四辺形リ
ンク機構、13・・・・・・モータ、14・・・・・・
クランク機構、15・・・・・・スライドガイド棒、1
6・・・・・・ばね、17・・・・・・フレーム、18
・・・・・・スライドブロック、19・・・・・・リン
ク機構、20・・・・・・励磁部、21・・・・・・高
周波マグネット、31・・・・・・フレーム、32・・
・・・・追従機構、33・・・・・・平ローラ。Figures 1 to 4 show an embodiment of the present invention, with Figure 1 being a side view, Figure 2 being a partially enlarged view of Figure 1, and Figure 3 being a bottom view of Figure 2 as seen from below. , FIG. 4 is a front view seen from the right side of FIG. 2, FIG. 5 is a front view for explaining the operation of the embodiment, and FIG. 6 is a bottom view showing another embodiment. 1... Material to be inspected, 10... Detection section, 1
1...Detector, 12...Parallelogram link mechanism, 13...Motor, 14...
Crank mechanism, 15...Slide guide rod, 1
6...Spring, 17...Frame, 18
...Slide block, 19 ... Link mechanism, 20 ... Excitation section, 21 ... High frequency magnet, 31 ... Frame, 32 ...・
...Following mechanism, 33...Flat roller.
Claims (1)
これら平行四辺形リンク機構のそれぞれによって各々が
支持される複数個の検出器と、これら検出器をそれぞれ
被検査材表面に押えつけるように前記平行四辺形リンク
機構の各々を付勢する複数個の弾性部材と、前記複数個
の平行四辺形リング機構の基部が取付けられている1個
のスライドブロックと、このスライドブロックをスライ
ド自由に保持するスライドガイド棒と、前記スライドブ
ロックを前記スライドガイド棒に沿って往復動させるこ
とにより前記複数個の検出器を被検査材表面上で振動さ
せるようにするクランク機構とから構成される装置multiple parallelogram link mechanisms arranged in parallel;
A plurality of detectors each supported by each of these parallelogram link mechanisms, and a plurality of detectors each urging each of the parallelogram link mechanisms to press each of the detectors against the surface of the material to be inspected. an elastic member, a slide block to which the bases of the plurality of parallelogram ring mechanisms are attached, a slide guide rod that holds the slide block in a freely sliding manner, and the slide block is attached to the slide guide rod. a crank mechanism that causes the plurality of detectors to vibrate on the surface of the material to be inspected by reciprocating along the
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6978881U JPS5916831Y2 (en) | 1981-05-13 | 1981-05-13 | flaw detection equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6978881U JPS5916831Y2 (en) | 1981-05-13 | 1981-05-13 | flaw detection equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5783462U JPS5783462U (en) | 1982-05-22 |
JPS5916831Y2 true JPS5916831Y2 (en) | 1984-05-17 |
Family
ID=29435201
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6978881U Expired JPS5916831Y2 (en) | 1981-05-13 | 1981-05-13 | flaw detection equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5916831Y2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116806310A (en) * | 2021-02-12 | 2023-09-26 | 三菱电机株式会社 | Cable flaw detection device and cable flaw detection method |
-
1981
- 1981-05-13 JP JP6978881U patent/JPS5916831Y2/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5783462U (en) | 1982-05-22 |
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