JPS59153267A - 図形の特異点抽出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈発明の技術分野〉 本発明は、例えば小切手等に押された印鑑の真偽を判別
する場合において、小切手から印影を読み取って画像化
し、印影画１象から輪郭線が急峻に変化する点（以下特
異点という）を抽出して、印影等の照合処理を実行する
図形の特異点抽出方法に関する。

〈発明の背景〉 従来この種特異点抽出方法は、例えば印影を画像化した
後、画像全体につき印影の輪郭線をデータ抽出し、然る
後輪郭線をデータ追跡することにより、輪郭線が急峻に
変化する部分を検出して、これを特異点としている。

これがため特異点の抽出処理が複雑化して、処理効率が
悪く、またメモリの大容量化を招く等の不利かあった。

そして発明者は、画像化された図形に対し、矩形状視野
をもつマスクを設定して画面を走査すると共に、マスク
の４辺を走査して、マスクの１辺と交叉する図形パター
ンを検出した後、マスクの視野内で特異点の存在を確認
し、然る後、マスク内の画像を走査して、特異点の存在
°位置を算出する方法を開発した。

この方法によれば、画像全体の輪郭線を抽出する必要が
なく、また輪郭線上をデータ追跡してゆく必要もないか
ら、特異点抽出処理が簡略化され、処理効率の向上、メ
モリ容量の節減を実現できるが、マスクの１辺と交叉す
る図形部分のみ（こ着目して、特異点を抽出するから、
特異点の抽出数が少なく、印鑑等の照合精度が低下する
不利があった。

〈発明の目的〉 本発明は、矩形状マスクを用いた特異点の抽出方法に更
に改良を加えて、特異点の抽出数を増すことによって、
特異点抽出処理の効率向上並ひにメモリ容量の節減を実
現すると共に、印鑑等の照合精度を向上させた新規な図
形の特異点抽出方法を提供することを目的とする。

〈発明の構成および効果〉 上記目的を達成するため、本発明では、マスクの１辺と
交叉する図形パターンに加えて、隣接する２辺と交叉す
る図形パターンについても着目し、この両者につきマス
クの視野内で特異点の抽出を行なうようにした。

本発明によれば、画像全体の輪郭線をデータ抽出する旧
来の方式に比較して、特異点抽出処理が簡略化され、処
理効率の向上、メモリ容量の節減を実現し得ると共に、
特異点の抽出数減少による印鑑等の照合精度の低下を防
止できる等、発明目的を達成した優れた効果を奏する。

〈実施例の説明〉 第１図は、小切手に抽された印鑑が真正印鑑か、或いは
偽造印鑑かを判別するための装償例を示している。

図示例の装置は、箱状ケース１０内へ複数枚の小切手ｌ
を重ねて収容し、ケース１０の最下部に位置する小切手
を１枚づつ取り出して、搬送ベルト１１上へ送り出して
いる。

各小切手１は、その搬送途中において、小切手に押され
た印影がチェックされ、搬送路の下流位置に配備した振
分は装置２か判別結果に基づき、真正印鑑が使用された
小切手、偽造印鑑が使用された小切手および、判別不能
な小切手の３種に振り分け、夫々回収ケース２］、、２
２．２３へ送り込む。

前記の搬送路途中には、小切手１に印字されたコード番
号を光学的若しくは磁気的方法にて読み取る読取装置５
０と、小切手１に押印された印影を画像化するカメラ装
置３とが配備してあり、読取装置５０の出力は外部メモ
リ５へ、またカメラ装置３の出力は画像プロセッサ４へ
、夫々データバス４０を介して送られる。前記外部メモ
リ５には、複数個の参照印影がデータストアされており
、読取装置５０で読み取られたコード番号に基づき、対
応する参照印影の画像データが取り出されて、画像プロ
セッサ４へ送られる。

前記カメラ装置３は、第２図に示す如く、読取ラインセ
ンサ３１と二値化回路３２とを含み、読取ラインセンサ
３１は被照合印影を画（象化し、この印影画像を行毎に
走査することにより画像の構成に応じた光信号を取り出
すと共に、この光信号を光電変換してアナログ量の画像
信号１１を出力する。また二値化回路３２は、画像信号
を二値化し、この二値信号１２を列対部のビットシリア
ルにデータバス４０を介して画像プロセッサ４へ送出す
る。

図中発振器３３は、読取ラインセンサ３１に読出しパル
スを供給すると共に、現信号のポイント座標を計算する
ためのＸ軸座標カウンタ３４にクロックパルスを供給す
る。更にこのＸ軸座標カウンタ３４からは桁上げ信号］
２が出力され、この桁上げ信号ｉ３はＹ軸座標を計算す
るためのＹ軸座標カウンタ３５に供給され、これらＸ軸
座標カウンタ３４およびＹ軸座標カウンタ３５の各出力
は、データバス４０を介して画像プロセッサ４に入力さ
れる。

画像プロセッサ４は、第６図および第７図に示す特異点
の抽出に必要なプログラム、更には印影の照合や真偽判
別に必要な各種プログラムをストアするプログラムメモ
リ４１と、印影画像をＸＹ座標と対応させて特定するた
めのデータをストアするエリアＡ（第１０図に示す）、
後記するマスクのサイズや各辺の座標に関するデータを
ストアするエリアＢ。

Ｃおよび、特異点に関するデータをストアするエリアＤ
、Ｅを有する画［象メモリ４２と、画像メモリ４２より
データを読み出しプログラムを解読実行して特異点押出
用には印影照合にかかわる各種演算や一連の処理を制御
する演算制御部４３（以下単にＣＩ）　Ｕという）とか
ら構成され、ＣＰＵ４３は更に印鑑の真偽判別結果に基
つき、出力機器２４を介して前記振分は装置２へ制御命
令を下す。

第３図は本考案にかかる特異点抽出方法の一例を示すも
ので、本考案は、印影画像を含む画面６０上に縦ａビッ
ト、横ｂビットの矩形状視野をもつマスク６を横方向（
こ走査してゆき、走査過程において、第４図＋１）　ｆ
２）に示す如く、マスク６の視野内に特異点を有する字
画部分７が含まれたとき、マスク６内を走査して特異点
の存在位置を検出するようにしたものである。

第５図はマスク６内に含まれた特異点Ｐを有する字画部
分７のパターン例を示し、第５図（１）に示す第１のパ
ターンは特異点Ｐが字画部分７の右端に、第５図（２）
に示す第２のパターンは字画部分７の下端、に、第５図
（３）に示す第３のパターンは字画部分７の左端に、第
５図（３）（こ示す第４のパターンは字画部分７の上端
に、第５１ＡＩ　（５）に示す第５のパターンは字画部
分７の右下端に、第５図（６）に示す第６のパターンは
字画部分の左下端に、第５図（７）に示す第７のパター
ンは字画部分の左上端に、第５図（８）に示す第８のパ
ターンは字画部分の右上端（こ、夫々存在位置する。

上記の各パターンにおいて、第１〜第４のパターンは字
画部分７がマスク６の１辺と交叉し、第５〜第８のパタ
ーンは字画部分７がマスク６の隣接する２辺と交叉して
いる。

第６図および第７図は特異点抽出動作の具体例を示す。

まず第６図のステップ８ｏにおいて、前記マスク６の視
野サイズ等、各種初期値が画像メモリ４２のエリアＡ等
に設定された後、っきのステップ８１でマスク６が画面
６ｏ上を１列分走査したか否かをチェックする。図示例
の場合、ＣＰＵ４３内のメモリエリア４４（第９図に示
す）に列カウンタＭを設定し、列カウンタＭの内容が設
定値ｍに達したが否かを判定することにより、画面１列
分の走査完了を判断している。この場合、ステップ８１
の判定は’ＮＯ”であるから、ステップ８２へ進み、つ
きに横フラグＦＨかセットされているか否かをチェック
する。この横フラグＦＨは、マスク内に第１〜第８のパ
ターンのいずれかが含まれたときにセットされるフラグ
であり、この場合、ステップ８２０「ＦＨ−１」の判定
は゛”ＮＯ″となって、っぎのステラプツト）横移動し
、更にステップ８４で列カウンタＭの内容が１加算され
る。。

つぎのステップ８５はマスク６が画面６゜上の全行に亘
る走査を、完了したか否かをチェックするものであり、
図示例の場合、メモリエリア４４内に設定された行カウ
ンタＮの内容が設定値ｎに達したか否かをもって判断す
る。この場合ステップ８５の判定は’Ｎｏ”であるから
、ステップ８６へ進み、マスク６内に第１〜第８のいず
れがパターンが含まれているか否かの判断処理に移る。

この処理は、まずマスク６の各辺を順次走査し、４辺の
内１辺または隣接する２辺にのみ印影の構成点（以下「
黒画素」と称する）が存在する場合に、マスク６内に特
異点を有する字画部分７が含まれていると推定する。つ
ぎにステップ８７において、前記４辺走査の結果に基づ
き、マスク６内に第１〜第８のパターンのいずれかに相
当する字画部分が存在したが否かを判定し、その判定が
’ＮＯ”；”Ｃあると、ステップ８１へ戻ることになる
。

同様の操作が繰り返し実行され、画面１列分の走査か完
了すると、列カウンタＭの内容が設定値ｍに達して、ス
テップ８１０判定が”ＹＥＳ”となり、ステップ８８へ
進み、つぎに縦フラグＦｖがセットされているか否かを
チェックする。この縦フラグＦｖは、各行の走査におい
て、特異点Ｐが抽出されたときにセットされるフラグで
あり、ステップ８８の「Ｆｖ＝ｌＪの判定が”ＮＯ”の
場合、ステップ　１ ８９へ進み、マスク６か−マスク分（↓３ビ２ ット）縦移動し、更にステップ９０て行カウンタＮの内
容か１加算される。

」１記マスク６の走査過程において、ステップ８７０判
定が“’ＹＥＳ”となって、マスク６内に特異点を有す
る字画部分か存在する可能性があると判断されたとき、
ステップ９１へ進み、特異点としての条件を充足すれば
、その特異点の座標データを算出する。

斯くて特異点の条件を充足せず、特異点の抽出がなかっ
たときは、ステップ９２の判定か”　ＮＯ”となり、ス
テップ８１へ戻るか、特異点を抽出できたとき、ステッ
プ９２の判定が”ＹＥＳ”となり、ステップ９３て横フ
ラグＦＨか、ステップ９４て縦フラグＦｖか夫々セット
される。これによりステップ８２の［ＦＨ＝１ｊの判定
が°’ＹＥＳ”となり、ステップ９５で横フラグＦＨが
クリアされた後、ステップ９６でマスク６は１マスク分
（ｂビット）横移動し、ステップ９７で列カウンタＭの
内容か２加算される。かかるステップ９６゜９７０処理
は、マスク６が同一の特異点を２度抽出しないことを考
慮したものである。また前記ステップ９４で縦フラグＦ
ｖがセットされているから、走査がつきの行へ進む際ス
テップ８８のｒＦＶ＝ＩＪの判定が”ＹＥＳ”となり、
同様の趣旨から、ステップ９８で縦フラグＦｖをクリア
した後、ステップ９９でマスク６を１マスク分（ａビッ
ト）縦移動し、ステップ１００で列カウンタＮ　、７）
内容を２加算する。

第７図のフローチャートは特異点抽出動作の詳細を示す
。まずステップ１１０において、第４図＋１］　（２＋
に示す如く、字画部分７を含むマスク６の１辺若しくは
隣接２辺につき、両端に位置する黒画素の点Ｑ、Ｒを検
出した後、線分ＱＲ間の長さＳを算出する。つぎのステ
ップ１１１は長さＳと設定値１゛Ｈ１とを比較するもの
であり、Ｉｓ＞Ｔｌｈｊの条件を充足するとき、ステッ
プ１１１が“ＹＥＳ”となって、つぎのステップ１１２
へ進み、線分ＱＲの中心点Ｃの相対座標（Ｘｏ、γ０）
を算出する。一方ステップ１１１の条件を充足しないと
き、その判定か”　ＮＯ”　　となり、特異点存在せず
として特異点抽出動作を終了する。ついでステップ１１
３において、字画部分７の各輪郭点の相対的座標を（ｘ
ｉ、ｙｉ）（但しｉ−１゜２、・・・・・・、ｎ）とす
ると、中心点Ｃから各輪郭点までの距離ｄｉを次式をも
−って算出して、曲目数メモリ４２のエリアトヘスドア
する。

つぎにステップ１１４において、」１記の各距離値中、
その最大値Ｔを抽出し、っぎのスを比較する。そしてス
テーツブ１１５の［−〉ＴＨ２Ｊの判定が’ＮＯ’″の
とき、特異点存在せずとして特異点抽出動作を完了し、
一方ステップ１１５の判定が“ＹＥＳ　’″のとき、ス
テップ１１６へ進み、最大値Ｔにかかる輪郭点を特異点
Ｐとして、マスク６内の相対的座標を算出する（ステッ
プ１１６）。今時異点Ｐの相対的座標を（ｘｉ　、　ｙ
ｉ　）とすると、っぎのステップ１１７ではこの相対座
標を画面６ｏにおける絶対座標（Ｘｉ、Ｙｉ）に変換す
る。この絶対座標（Ｘｉ　、　Ｙｉ　）は、画面６ｏ上
におけるマスク６の始端点Ｚ（第８図に示す）の絶対座
標を（ｉ、ｊ）、画面６０の原点Ｏの絶対座標を（１’
＋　１　）とすると、次式で与えられる。

上記の演算によって、特異点Ｐの絶対座標が算出され、
かかる座標データは画像メモリ４２のエリア・Ｄヘスド
アされる。

【図面の簡単な説明】

第１図は印鑑照合装置の構成を示す説明図、第２図はカ
メラ装置の回路ブロック図、第３図および第４図＋１）
　（２１は本発明にかかる特異点抽出方法を示す説明図
、第５図（１）〜（８）はマスク内のパターン例を示す
説明図、第６図および第７図は特異点抽出動作を示すフ
ローチャート、第８図は座標変換の原理を示す説明図、
第９図および第１０図はメモリ構成を示す説明図である
。 ６・・・・・・マスク　　　Ｐ・・・・・・特異点ｊ；
＋／ｘ７

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 画面上に画像化された図形から輪郭線が急峻に変化する
   点を特異点として抽出する方法であって、前記測置に対
   し矩形状視野をもつマスクを設定して画面を走査すると
   共に、マスクの４辺を走査して、マスクの１辺または隣
   接２辺と交叉する図形パターンを検出した後、マスクの
   視野内で特異点の存在を確認し、然る後マスク内の画像
   を走査して、特異点の存在位置−を算出することを特徴
   とする図形の特異点抽出方法。