JPS59150355A - 開閉器の充電電流しや断試験装置 - Google Patents
開閉器の充電電流しや断試験装置Info
- Publication number
- JPS59150355A JPS59150355A JP58017433A JP1743383A JPS59150355A JP S59150355 A JPS59150355 A JP S59150355A JP 58017433 A JP58017433 A JP 58017433A JP 1743383 A JP1743383 A JP 1743383A JP S59150355 A JPS59150355 A JP S59150355A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は断路器、しゃ断器などの開閉器の充電電流しゃ
断試験装置に関する。
断試験装置に関する。
［発明の技術的背景とその問題点］
一般的≦二断路器、しゃ断器などの開閉装置（以下開閉
器という）は、電力用コンデンサ、無負荷送電線などの
充電電流開閉の責務を負う。特５二断路器は短絡故障電
流、負荷電流の開閉の責務を負わないが、ブッシング、
非常鑑二短い電カケープルあるいは計器用変成器１分圧
器などの充電電流を開閉する責務を負う。
器という）は、電力用コンデンサ、無負荷送電線などの
充電電流開閉の責務を負う。特５二断路器は短絡故障電
流、負荷電流の開閉の責務を負わないが、ブッシング、
非常鑑二短い電カケープルあるいは計器用変成器１分圧
器などの充電電流を開閉する責務を負う。
このような充を電流開閉責務に対する開閉器のしゃ断能
力を検圧するロニは、一般的に第１図に示す試験回路が
用いられる。第１図ａ二おいて、ｌｌｌ５は電源装置で
短絡発電機あるいは実系統からの商用周波電源を必要な
試験電圧まで変成して用いる。
力を検圧するロニは、一般的に第１図に示す試験回路が
用いられる。第１図ａ二おいて、ｌｌｌ５は電源装置で
短絡発電機あるいは実系統からの商用周波電源を必要な
試験電圧まで変成して用いる。
ＬＳは電源側インダクタンスで、試験回路で短絡が発生
した時の電流抑制用に挿入される。０日は電源側のキャ
パシタンス、Ｌは線路インダクタンス。
した時の電流抑制用に挿入される。０日は電源側のキャ
パシタンス、Ｌは線路インダクタンス。
ＯＬは開路対象となる負荷キャパシタンス、Ｂは供試問
閉器である。
閉器である。
いま電源電圧ｅにより負荷側のキャパシタンス（３Ｌが
充電され、その充電電流を開閉器Ｓによって開路する場
合を考えると、充電電流が非常Ｓ１小さいために開閉器
の接触子が開離を始めた直後の僅かな間隙長においても
充電電流はしゃ断されてしまう。しかしながら開閉器の
接触子間の絶縁回復は充分でなく、接触子間に加わる電
圧がこの絶縁回復を上回わったとき、接触子間のｆＩ５
Ｒ破象が生じ、再び接触子間にアークが点弧する。この
現象を再点弧と呼び再点弧１ユよる電流は、０８−Ｌ−
ＯＬの直列回路で自由振動する高周波電流であって直ち
に消弧される。この再点弧に接触子間の絶縁回復力が小
さい期間は、再点弧の間隔は短い時間で繰返され、接触
子間距離が大きくなるにつれて絶縁回復力は増大し再点
弧の間隔も長くなり、再点弧時の接触子間電圧も高くな
る。
充電され、その充電電流を開閉器Ｓによって開路する場
合を考えると、充電電流が非常Ｓ１小さいために開閉器
の接触子が開離を始めた直後の僅かな間隙長においても
充電電流はしゃ断されてしまう。しかしながら開閉器の
接触子間の絶縁回復は充分でなく、接触子間に加わる電
圧がこの絶縁回復を上回わったとき、接触子間のｆＩ５
Ｒ破象が生じ、再び接触子間にアークが点弧する。この
現象を再点弧と呼び再点弧１ユよる電流は、０８−Ｌ−
ＯＬの直列回路で自由振動する高周波電流であって直ち
に消弧される。この再点弧に接触子間の絶縁回復力が小
さい期間は、再点弧の間隔は短い時間で繰返され、接触
子間距離が大きくなるにつれて絶縁回復力は増大し再点
弧の間隔も長くなり、再点弧時の接触子間電圧も高くな
る。
第２図にこの時の現象を示している。ｅは電源側の電圧
＋ ｅＬは負荷側の電圧を示す。点Ｐ −Ｐ’で接触子
が開離し電流しゃ断後開閉器の端子間に現われる電圧ｅ
Ｔは、開閉器の絶縁回復力（ギャップ長）！−従い、し
だいに高い値となり、最大で電源電圧波高値Ｅｍの２倍
の値まで達する。この値に対し開閉器の絶縁回復力が上
回われば、しゃ断は完了するが、この点Ｑ、 −Ｑ’で
再点弧が発生した場合、負荷側キャパシタンスｃＬには
理論的に電源電圧波高値Ｅヨの３倍のサージ電圧が発生
することになる。
＋ ｅＬは負荷側の電圧を示す。点Ｐ −Ｐ’で接触子
が開離し電流しゃ断後開閉器の端子間に現われる電圧ｅ
Ｔは、開閉器の絶縁回復力（ギャップ長）！−従い、し
だいに高い値となり、最大で電源電圧波高値Ｅｍの２倍
の値まで達する。この値に対し開閉器の絶縁回復力が上
回われば、しゃ断は完了するが、この点Ｑ、 −Ｑ’で
再点弧が発生した場合、負荷側キャパシタンスｃＬには
理論的に電源電圧波高値Ｅヨの３倍のサージ電圧が発生
することになる。
このような再点弧が発生しｆｃ場合、送電系統ｌ二異常
電圧による悪影響を及ぼすだけでなく、開閉器自体に対
しても充分に開離した接触子間でアークが点弧する現象
であることからしてそのアーク長は長く、不安定な挙動
をするものとなり、大地電位にある開閉器のケースへの
アークの移行、すなわち地絡現象を引起す場合である。
電圧による悪影響を及ぼすだけでなく、開閉器自体に対
しても充分に開離した接触子間でアークが点弧する現象
であることからしてそのアーク長は長く、不安定な挙動
をするものとなり、大地電位にある開閉器のケースへの
アークの移行、すなわち地絡現象を引起す場合である。
このため開閉器の充電電流しゃ断試験Ｃ二おいては、こ
の再点弧サージｇ二対する対地絶縁強度を検証すること
が重要な項目としてとりあげられる。
の再点弧サージｇ二対する対地絶縁強度を検証すること
が重要な項目としてとりあげられる。
しかしながら実試験回路Ｃ二おいて、サージ電圧が進行
後直二よる非常ｉ二速い周波数の現象であり、回路損失
もあることから、開閉器端子間電圧が２−になったとき
のサージ電圧は、最大２〜２．５倍であること、また負
荷側キャパシタンスｃＬの漏洩抵抗５二より２に、の端
子間電圧（二て再点弧アークが発生する確率も非常Ｃ１
小さく、サージ電圧は一部値以下Ｃ二おさえられること
がほとんどである。
後直二よる非常ｉ二速い周波数の現象であり、回路損失
もあることから、開閉器端子間電圧が２−になったとき
のサージ電圧は、最大２〜２．５倍であること、また負
荷側キャパシタンスｃＬの漏洩抵抗５二より２に、の端
子間電圧（二て再点弧アークが発生する確率も非常Ｃ１
小さく、サージ電圧は一部値以下Ｃ二おさえられること
がほとんどである。
これは実系統においても同様であるが、試験≦ユおいて
はその開閉器の対地絶縁強度を検証しておく必要があり
、試験電圧を規定の値より上昇させたり、開閉器内の絶
縁ガス圧力を低下させての検証が行われている。
はその開閉器の対地絶縁強度を検証しておく必要があり
、試験電圧を規定の値より上昇させたり、開閉器内の絶
縁ガス圧力を低下させての検証が行われている。
ところがこの検証法５二よると相対的なサージ電圧が高
くなる効果のほかにしゃ断の際の相対的絶縁回復力が低
下することがらしゃ断完了までの時間が長くなってしま
うこととなり、再点弧時の接触子間距離が規定の電圧、
圧力下での値いよりも長くなってしまい、アーク径路の
不安定化、対地電界強度の増大などを招き開閉器の対地
絶縁能力にとって非常Ｃ二過酷なものとなってしまう。
くなる効果のほかにしゃ断の際の相対的絶縁回復力が低
下することがらしゃ断完了までの時間が長くなってしま
うこととなり、再点弧時の接触子間距離が規定の電圧、
圧力下での値いよりも長くなってしまい、アーク径路の
不安定化、対地電界強度の増大などを招き開閉器の対地
絶縁能力にとって非常Ｃ二過酷なものとなってしまう。
第３図に接触子間距離に対する接触子とケース（大地）
間のフラッシュオーバー電圧の特性を示している。
間のフラッシュオーバー電圧の特性を示している。
［発明の目的］
本発明の目的は、開閉器の充電電流しゃ断時、規定の条
件下での接触子間距離ｌ二おいて、高いサージ電圧を発
生し、効率よく開閉器の対地絶縁強度を検証できる開閉
器の充ｉ！電流しゃ断試験装置を提供するにある。
件下での接触子間距離ｌ二おいて、高いサージ電圧を発
生し、効率よく開閉器の対地絶縁強度を検証できる開閉
器の充ｉ！電流しゃ断試験装置を提供するにある。
［発明の概要］
本発明の開閉器の充を電流しゃ断試験装置は、供試開閉
器に少なくとも１個の補助勤閉器を接続し、充電電流し
ゃ断時に発生する再点弧時の電圧が両開閉器の端子間電
圧の合成値で定まるようＣ二構成したことを％徴とする
ものである。
器に少なくとも１個の補助勤閉器を接続し、充電電流し
ゃ断時に発生する再点弧時の電圧が両開閉器の端子間電
圧の合成値で定まるようＣ二構成したことを％徴とする
ものである。
［発明の芙施例］
以下まず本発明（二よる試験装置を第４図１二示す試験
回路ミニついて説明する。第４図において、Ｇは短絡発
電機、 Ｔｒは試験用変圧器であり、供試開閉器Ｓ、補
助開閉器Ａｓに商用周波電源を供給する。
回路ミニついて説明する。第４図において、Ｇは短絡発
電機、 Ｔｒは試験用変圧器であり、供試開閉器Ｓ、補
助開閉器Ａｓに商用周波電源を供給する。
ＬＳは短絡電流抑制用インダクタンス、 ａＳは電源側
キャパシタンス、Ｌは線路インダクタンス、ＯＬは負荷
側キャパシタンスである。
キャパシタンス、Ｌは線路インダクタンス、ＯＬは負荷
側キャパシタンスである。
この試験回路Ｃ二おいて、充電電流しゃ断試験方法を実
施するＣ二は、まず供試開閉器Ｓおよび補助開閉器Ａｓ
を閉じておき、発電機Ｇを励磁して回路（二充電電流を
流す。この時の試験電圧は、発生したサージ電圧値と回
路特性により定められ、通常は規定の試験電圧より高い
値となる。電圧設定後に供試開閉器Ｓを開路して充電電
流をしゃ断するが、この時補助開閉器Ａｓも供試開閉器
Ｓと同時又は前後して開路動作を行わせる。
施するＣ二は、まず供試開閉器Ｓおよび補助開閉器Ａｓ
を閉じておき、発電機Ｇを励磁して回路（二充電電流を
流す。この時の試験電圧は、発生したサージ電圧値と回
路特性により定められ、通常は規定の試験電圧より高い
値となる。電圧設定後に供試開閉器Ｓを開路して充電電
流をしゃ断するが、この時補助開閉器Ａｓも供試開閉器
Ｓと同時又は前後して開路動作を行わせる。
したがって、充電電流のしゃ断は、供試開閉器８と補助
開閉器ＡＥＩの合成絶縁回復力と試験電圧によって決ま
り、合成の絶縁回復力が試験電圧を上回わった時にしゃ
断は完了する。この合成の絶縁回復力が試験電圧より低
い場合、再点弧を繰返すわけであるが、再点弧サージす
るサージ電圧の最大要素である再点弧時の開閉器の端子
間電圧は、この場合供試開閉器Ｓの端子間電圧と補助開
閉器Ａｓの端子間電圧の和となる。すなわち、供試器Ｓ
が規定条件下と同じ接触子間距離において、しゃ断が完
了するよう（ユ補助開閉器の接触子間距離と試験電圧を
調整することにより、規定条件下での再点弧時の端子間
電圧は、供試器日のみの時より大きな値が得られて発生
するサージ電圧も大きな値が得られる。
開閉器ＡＥＩの合成絶縁回復力と試験電圧によって決ま
り、合成の絶縁回復力が試験電圧を上回わった時にしゃ
断は完了する。この合成の絶縁回復力が試験電圧より低
い場合、再点弧を繰返すわけであるが、再点弧サージす
るサージ電圧の最大要素である再点弧時の開閉器の端子
間電圧は、この場合供試開閉器Ｓの端子間電圧と補助開
閉器Ａｓの端子間電圧の和となる。すなわち、供試器Ｓ
が規定条件下と同じ接触子間距離において、しゃ断が完
了するよう（ユ補助開閉器の接触子間距離と試験電圧を
調整することにより、規定条件下での再点弧時の端子間
電圧は、供試器日のみの時より大きな値が得られて発生
するサージ電圧も大きな値が得られる。
第５図５二本発明の第４図に示す試験回路での試験した
ときの各部の電圧波形を示している０第５図の電圧波形
は、補助開閉器ｋＢと供試用開閉器Ｓの端子間電圧をは
ソ等しく設定した時のもので、補助開閉器Ａ８と供試開
閉器Ｓに印加される試験電圧をＶとし、点Ｐ −Ｐ’で
電流がしゃ断され、点Ｑ−Ｑ’で再点弧が発生したこと
を想定している。
ときの各部の電圧波形を示している０第５図の電圧波形
は、補助開閉器ｋＢと供試用開閉器Ｓの端子間電圧をは
ソ等しく設定した時のもので、補助開閉器Ａ８と供試開
閉器Ｓに印加される試験電圧をＶとし、点Ｐ −Ｐ’で
電流がしゃ断され、点Ｑ−Ｑ’で再点弧が発生したこと
を想定している。
電流しゃ断後の補助開閉器Ａｓの端子間電圧なｅＴｌ
＋供試開閉器Ｓの端子間電圧をｅＴＢ、合成の端子間電
圧をｅＴとし、再点弧時の端子間電圧をそれぞれＢ１．
Ｅｓ１．１！！とじている。この再点弧時の合成の端
子間電圧Ｅは、補助開閉器Ａｓの端子間電圧Ｅ１と供試
開閉器端子間電圧ＢＢの和となり１発生するサージ電圧
ＶＳはこの値Ｃ二よって定まり、発生したサージ電圧Ｖ
Ｓが供試開閉器Ｓの対地間に印加される。
＋供試開閉器Ｓの端子間電圧をｅＴＢ、合成の端子間電
圧をｅＴとし、再点弧時の端子間電圧をそれぞれＢ１．
Ｅｓ１．１！！とじている。この再点弧時の合成の端
子間電圧Ｅは、補助開閉器Ａｓの端子間電圧Ｅ１と供試
開閉器端子間電圧ＢＢの和となり１発生するサージ電圧
ＶＳはこの値Ｃ二よって定まり、発生したサージ電圧Ｖ
Ｓが供試開閉器Ｓの対地間に印加される。
このことは、供試開閉器Ｓの規定条件以下での接触子間
距離において、補助開閉器Ａｓの接触子間距離および試
験電圧の調整を行なうことにより、再点弧時に発生する
サージ電圧を任意に得ることが可能となることを指すも
のである。したがって、供試開閉器Ｂにとって過酷な条
件となることなく、開閉器Ｓの充電電流しゃ断時の再点
弧サージに対する対地絶縁強度の検証を行なうことがで
きる。
距離において、補助開閉器Ａｓの接触子間距離および試
験電圧の調整を行なうことにより、再点弧時に発生する
サージ電圧を任意に得ることが可能となることを指すも
のである。したがって、供試開閉器Ｂにとって過酷な条
件となることなく、開閉器Ｓの充電電流しゃ断時の再点
弧サージに対する対地絶縁強度の検証を行なうことがで
きる。
つぎに、第６図に本発明の他の実施例シーよる試験回路
を示している。補助開閉器Ａｓと並列に調整可能な固定
ギャップＧＳを設けたことを％徴としている。この実施
例における補助開閉器Ａ８の開路後の再点弧は、このギ
ャップａＳと供試開閉器Ｓの絶縁回復特性Ｃ二より決定
されるよう構成した試験方法が行なわれるものであり、
第４図に示す回路に比べてさらに調整が簡単となり、安
定した検証を行なうことができる。
を示している。補助開閉器Ａｓと並列に調整可能な固定
ギャップＧＳを設けたことを％徴としている。この実施
例における補助開閉器Ａ８の開路後の再点弧は、このギ
ャップａＳと供試開閉器Ｓの絶縁回復特性Ｃ二より決定
されるよう構成した試験方法が行なわれるものであり、
第４図に示す回路に比べてさらに調整が簡単となり、安
定した検証を行なうことができる。
［発明の効果］
以上のように本発明においては、充電電流をしゃ断する
試験回路において、その供試用開閉器１ニ少なくとも１
つの補助開閉器を直列に接続し、その充電電流しゃ断時
の発生する再点弧時の電圧が、供試開閉器の端子間電圧
と補助開閉器の端子間電圧の合成値で定まるよう署−構
成したことミニより、補助開閉器の接触子間距離および
試験電圧の調整（二よって再点弧時Ｃ二発生するサージ
電圧な耐量に得られ、供試開閉器Ｃ二とって過酷な条件
を課することなく、開閉器の充電電流しゃ断時の再点弧
サージに対する対地絶縁強度の検証を行なうことができ
る。
試験回路において、その供試用開閉器１ニ少なくとも１
つの補助開閉器を直列に接続し、その充電電流しゃ断時
の発生する再点弧時の電圧が、供試開閉器の端子間電圧
と補助開閉器の端子間電圧の合成値で定まるよう署−構
成したことミニより、補助開閉器の接触子間距離および
試験電圧の調整（二よって再点弧時Ｃ二発生するサージ
電圧な耐量に得られ、供試開閉器Ｃ二とって過酷な条件
を課することなく、開閉器の充電電流しゃ断時の再点弧
サージに対する対地絶縁強度の検証を行なうことができ
る。
第１図は従来の充電電流しゃ断試験装置を示す回路図、
第２図は充電電流しゃ断時の現象を説明するための波形
図、第３図は開閉器の接触子間距離と対地フラッシュオ
ーバーとの関係を説明する電圧曲線図、第４図は本発明
による開閉器の光電電流しゃ断試験装置を示す回路図、
第５図は本発明ｉ二よる充電電流しゃ断時の現象を説明
するための波形図、第６図は本発明による充電電流しゃ
断試験装置の他の実施例を示す回路図である０Ｇ・・・
短絡発電機 Ｔｒ・・・試験用変圧器（電源装置） Ｓ・・・供試開閉器 ＡＳ−・・補助開閉器Ｌ８−
・・短絡電流抑制用インダクタンスＯ８・・・電源側キ
ャパシタンス Ｌ・・・線路インダクタンス ＯＬ＝負荷側キャパシタンス ＧＳ・・・固定ギャップ 代理人 弁理士 猪 股 祥 晃（ほか１名）第１図 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図
第２図は充電電流しゃ断時の現象を説明するための波形
図、第３図は開閉器の接触子間距離と対地フラッシュオ
ーバーとの関係を説明する電圧曲線図、第４図は本発明
による開閉器の光電電流しゃ断試験装置を示す回路図、
第５図は本発明ｉ二よる充電電流しゃ断時の現象を説明
するための波形図、第６図は本発明による充電電流しゃ
断試験装置の他の実施例を示す回路図である０Ｇ・・・
短絡発電機 Ｔｒ・・・試験用変圧器（電源装置） Ｓ・・・供試開閉器 ＡＳ−・・補助開閉器Ｌ８−
・・短絡電流抑制用インダクタンスＯ８・・・電源側キ
ャパシタンス Ｌ・・・線路インダクタンス ＯＬ＝負荷側キャパシタンス ＧＳ・・・固定ギャップ 代理人 弁理士 猪 股 祥 晃（ほか１名）第１図 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１）開閉器の一方の端子にキャパシタンスを対地間に
接続し、他方の端子より交流電圧を印加し、開閉器でキ
ャパシタンスへの充電電流をしゃ断する試験回路Ｉ：お
いて、その供試開閉器に少なくとも１個の補助開閉器を
は列に接続し、充電電流しゃ断時Ｃ発生する再点弧時の
電圧が前記両開閉器の端子間電圧の合成値で定まるよう
に構成したことを特徴とする開閉器の充電電流しゃ断試
験装置（２）補助開閉器は少なくとも１組以上の接離可
能な接点を直列に有することを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載の開閉器の充電電流しゃ断試験装置 （８）・補助開閉器に′調整可能な固定ギャップを並列
に接続したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の開閉器の充電電流しゃ断試験装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58017433A JPS59150355A (ja) | 1983-02-07 | 1983-02-07 | 開閉器の充電電流しや断試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58017433A JPS59150355A (ja) | 1983-02-07 | 1983-02-07 | 開閉器の充電電流しや断試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59150355A true JPS59150355A (ja) | 1984-08-28 |
| JPH0416753B2 JPH0416753B2 (ja) | 1992-03-25 |
Family
ID=11943883
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58017433A Granted JPS59150355A (ja) | 1983-02-07 | 1983-02-07 | 開閉器の充電電流しや断試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59150355A (ja) |
-
1983
- 1983-02-07 JP JP58017433A patent/JPS59150355A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0416753B2 (ja) | 1992-03-25 |
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