JPS59128564U - 磁粉探傷に用いるテストパタ−ン - Google Patents
磁粉探傷に用いるテストパタ−ンInfo
- Publication number
- JPS59128564U JPS59128564U JP2204683U JP2204683U JPS59128564U JP S59128564 U JPS59128564 U JP S59128564U JP 2204683 U JP2204683 U JP 2204683U JP 2204683 U JP2204683 U JP 2204683U JP S59128564 U JPS59128564 U JP S59128564U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flaw detection
- magnetic particle
- test pattern
- pattern used
- pseudo
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第１図はテレビカメラによる傷模様の撮影状況を示す斜
視図、第２図は本考案の一実施例を示す斜視図、第３図
は第２図のものの作用を示す断面図、第４図は本考案の
他の実施例を示す要部拡大断面図である。 ３・・・・・・紫外光線、４′、４″・・・・・・疑似
傷模様、５．５′・・・・・・遮光物体。
視図、第２図は本考案の一実施例を示す斜視図、第３図
は第２図のものの作用を示す断面図、第４図は本考案の
他の実施例を示す要部拡大断面図である。 ３・・・・・・紫外光線、４′、４″・・・・・・疑似
傷模様、５．５′・・・・・・遮光物体。
Claims (1)
- 紫外光線の照射によって発光する物体で疑似傷模様を作
り、この疑似傷模様に照射する紫外光線の光量を減少し
うる遮光物体を上記疑似傷模様の近傍に配置して、上記
疑似傷模様の発光量を調整しうるようにした磁粉探傷に
用いるテストパターン。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2204683U JPS59128564U (ja) | 1983-02-17 | 1983-02-17 | 磁粉探傷に用いるテストパタ−ン |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2204683U JPS59128564U (ja) | 1983-02-17 | 1983-02-17 | 磁粉探傷に用いるテストパタ−ン |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59128564U true JPS59128564U (ja) | 1984-08-29 |
| JPH026363Y2 JPH026363Y2 (ja) | 1990-02-15 |
Family
ID=30153161
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2204683U Granted JPS59128564U (ja) | 1983-02-17 | 1983-02-17 | 磁粉探傷に用いるテストパタ−ン |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59128564U (ja) |
-
1983
- 1983-02-17 JP JP2204683U patent/JPS59128564U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH026363Y2 (ja) | 1990-02-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS59128564U (ja) | 磁粉探傷に用いるテストパタ−ン | |
| JPS6027347U (ja) | 線条体の外観試験装置 | |
| JPS5920541U (ja) | 露光装置 | |
| JPS5845533U (ja) | 照度分布測定装置 | |
| JPS596261U (ja) | レ−ザ光走査装置 | |
| JPS5960649U (ja) | 原稿露光装置の露光光量検出装置 | |
| JPS5921744U (ja) | レンズの比像面照度測定装置 | |
| JPS5867322U (ja) | 撮影装置 | |
| JPS596788U (ja) | 放射線検知ロボツト | |
| JPS59155785U (ja) | コ−ド取り出し口の遮光装置 | |
| JPS6071982U (ja) | 切手検知器 | |
| JPS5942954U (ja) | パタ−ン検査装置 | |
| JPS5836739U (ja) | 原稿セツト用押え具 | |
| JPS58182915U (ja) | 光照射装置 | |
| JPS5985568U (ja) | 撮像管用バイアスライト | |
| JPS5925436U (ja) | 露光判定器用測光器 | |
| JPS6090434U (ja) | マイクロフイルム | |
| JPS59119411U (ja) | 投影露光装置 | |
| JPS60133468U (ja) | 現像装置 | |
| JPS5820942U (ja) | ランプ断線検知装置 | |
| JPS5942956U (ja) | 硝子ビンのきず検出装置 | |
| JPS58131818U (ja) | 姿勢矯正装置器 | |
| JPS6092237U (ja) | 電子複写機の露光装置 | |
| JPS6061886U (ja) | 自動試験装置 | |
| JPS6023888U (ja) | 表示装置 |