JPS59126338A - 光ヘテロダイン検波装置 - Google Patents

光ヘテロダイン検波装置

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Publication number
JPS59126338A
JPS59126338A JP58000659A JP65983A JPS59126338A JP S59126338 A JPS59126338 A JP S59126338A JP 58000659 A JP58000659 A JP 58000659A JP 65983 A JP65983 A JP 65983A JP S59126338 A JPS59126338 A JP S59126338A
Authority
JP
Japan
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frequency
light
signal
local oscillation
discriminator
Prior art date
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Pending
Application number
JP58000659A
Other languages
English (en)
Inventor
Minoru Shikada
鹿田 實
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS59126338A publication Critical patent/JPS59126338A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B10/00Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/60Receivers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は光通信システムや元情報処理システム等に寂
ける光ヘテロダイン検波装置に関する。
一般に、光ヘテロゲイン検波方式は、通算の光検波方式
に比べて10〜100倍も光受信感度を高くできるため
、例えば光フアイバ通信においては長中継間隔伝送が可
能になる方式として、また光情報処理においては各種光
センサーの超高感度化が可能になる方式として注目され
ている。
この光ヘテロゲイン検波方式は、光受信部におい′C信
号光とわずかに波長のずれた局部発振光を用慧し、この
局部発振光と信号光を合波した後、その合波光を光検波
器に入射して篭気情′号に変換している。この電気信号
は局部発振光と信号光との波長差、すなわち周波数差を
中間周波数とした中間周波信号である。通常この中間周
波数は、信号伝送速度にもようが、数100MHz〜数
GHzが選はれており、この中間周波数の周波数安定度
としてはIOMH2以下が要求されている。
従来、この中間周波数の安定度を尚めるために「オフセ
ットロッキング」という方法が用いられてきた。この方
法は中間周波数の設定値からのずれを電気的周波数弁別
器等で検知し、その誤差出力を局部発振光光源に帰還し
て発振周波数を制御し、中間周波数を設定値に安定化す
る方法である。
この局部発振光光源とし゛C1半導体レーザを考えた場
合、発振周波数は印加電流と周囲温度によって変るので
これを制御することによりオフセットロッキングが可能
である。
ところで、半導体レーザ発振周波数の印加電流および周
囲温度による依存性は大きく、それぞれ3GHz/mA
、200Hz/℃程もある。このため光検波装置の動作
を開始する時、局部発振光光源の発振周波数が信号光周
波数とは数10GHz〜数100GHzも離れており、
電気的周波数弁別器の弁別範囲から外れCいるのが一般
的である。この周波数弁別器の弁別範囲を大きくするた
めには、光検波器の電気回路の周波数帯域を大きくする
必要があるが、雑音増加、電気回路の烏価格化等の点で
好゛ましくない。また、弁別範囲が数十GHz以上の電
気回路は未だ実現されていなかったので、自動的に周波
数の引込みが可能な光ヘテロダイン検波装置は実現でき
なかった。
本発明の目的は、局部発振光の周波数を信号光の周波数
に近接させる周波数弁別器の弁別範囲が広く、自動的な
オフセットロッキング調整が可能で、しかも電気回路と
して広周波数帯域の光検波器を必要としない光ヘテロダ
イン検波装置を提供することにある。
この発明の構成は、局部発振光の発振周波数を制御でき
る発振周波数制御部を有する局部発振光光源と、この局
部発振光光源からの前記局部発掘光と信号光とを合波す
る光合波部と、この光合波部から出力される第1の合波
光を受光して中間周波電気信号に変換する検波回路と、
前記中間周波電気信号の中間周波数を弁別する第1の周
波数弁別器と、前記光合波部から出力される第2の合波
光を受光して前記局部発振光と前記信号光の周波数弁別
を行う広帯域な第2の周波数弁別器とを含み、前記第1
の周波数弁別器および前記第20周波数弁別器の各弁別
出力を前記発振周波数制御部に帰還させて前記中間周波
電気信号の中間周波数を所定値に制御することを特徴と
する。
この発明においては、従来の周波数弁別器である第1の
周波数弁別器に加えて、周波数引込み範囲がより広い第
2の周波数弁別器を設け、最初に第2の周波数弁別器を
作動させて局部発振光の発振周波数を信号光の周波数に
近づけ、局部発振光と信号光の差周波数が第1の周波数
弁別器の弁別範囲内にまで入ったら第1の周波数弁別器
を作動させて、その差周波数(中周周波数)を設定値に
まで制御し固定するようにしたものである。
この発明の光ヘテロダイン検波装置によれば、第2の周
波数弁別器の弁別範囲を十分広くしたので周波数自動引
込みが可能であり、また、第1の周波数弁別回路の弁別
範囲が従来の回路と同程度で良いので、光検波部の電気
回路の帯域を必要以上に高くする必要がなく、従っ゛C
雑音の増加、電気回路の筒価格化等の問題を生じない。
また、光合波器はハーフミラ−や導波路結合器5− で構成されるが、これらは光方向性結合器の一褌であり
、必要とする第1の合波光の他に第2の合波光を不可避
的に生じるがこの第2の合波光を用いて第2の周波数弁
別回路を作動させるので、第1の合波光を受光、検波す
る系に栄分な損失を生じさせないという利点もある。
次に図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の第1の実施例を示す構成図、第2図は
第2の周波数弁別器13の構成図である。
光ファイバ1を出射した信号光2は、半透過ミラー3か
らなる光合波器4に入射する。一方、半導体レーザ5を
発光源とする局部発振光の光源6から出射された局部発
振光7も同様に光合波器4に導かれ、信号光2と合波さ
れてそれぞれ第1.第2の合波光8,9を生じる。第1
の合波光8は光検波回路31に入射し′C1信号光2と
局部発掘光7の差周波数を中間周波数として出力される
電気信号10に変換される。
この電気信号10の中間周波数は第1の周波数弁別器1
1(電気回路)によって弁別されるが、 6− 中間周波数が設定値からずれている場合、ずれ量に比例
した@1の制御信号12が第1の周波数弁別回路11か
ら出力され、局部発振光光源6の印加電流制御回路32
に送られる。この印加電流制御回路32は第1の制御イ
6号12に応じて半導体レーザ5の印加電流を変え、そ
れによって局部発振光7の発振周波数、ひいては電気信
号10の中間周波数が設定値に一致するよう制御する。
一方、第2の合波光9は広帯域な第2の周波数弁別器1
3に入射する。この周波数弁別器13は回折格子対14
とフォトダイオードアレイ15およびフォトダイオード
アレイ15上への光ビームの入射位置を検出する検出回
路16を含む一釉の分光器である。この周波数弁別器1
3には、最初に信号光成分17を導き、回折格子対14
を通してフォトダイオードアレイ15に入射さぜる。そ
の信号光成分の入射位置19を検出回路16に記憶させ
、次に局部発振光ツC源6を作動して、その局部発振y
tS成分18を第2の周波数弁別器13に導き、同様に
7オトダイオードアレイ15上に入射して局部発振光の
入射位1f20を検出回路16によって検出する。
これら信号光成分17と局部発振光成分18の各波長(
周波数)が等しい場合、両入射位fi19゜20は一致
するが、それぞれの波長が異なると両入射位tf19,
20はずれる。このずれ量に比例した電気出力を第2の
制御信号21として検出回路16から出力し、局部発振
光光源6の温度制御回路22に送る。温度制御回路22
は第2の制御信号21に応じ”C半導体レーザ5の周囲
温度を変え、それによって局部発振光7の発振波長(周
波?りを制御して、信号光2の波長に一致させるもので
ある。
本実施例において、電気信号10の中間周波数は1.シ
(J Hzに設定されており、第1の周波数弁別器11
は通常の電気回路による周波数弁別回路であり、その周
波数弁別範囲ば12士Q、 5 G 1−J zとなっ
°〔いる。また、第2の周波数弁別器13の弁別範囲は
光学的手段によっrいるので広く、±200(JHz(
〜±10X)に達する。局部発振光7の発振周波数を信
号光2の周波数(波長)に一致さするために、本実施例
では最初に第2の周波数弁別器を作動させ、半導体レー
ザ5の周囲温度を変えることによって局部発振光7の波
長を信号光2の波長に近づけ、それぞれの光の差周波数
が第1の周波数弁別回路11の周波数弁別範囲内に入る
まで1h制御する。そして弁別範囲内に差周波数が引込
゛まれたら、血ちに半導体レーザ5の印加電流制御回路
32を作動させ、その差周波数を設定値1.2GHzに
゛まで制御して安定化させる。この一連の動作は多少複
雑であるが、マイクロプロセッサ(図示せず)を用いれ
ば容易に制御可能である。なお半導体レーザ5に許客佃
以上の電流が流れそうな時あるいは電流が発振閾値以下
になりそうな時は、温度制御回路22が働いて周波数ず
れを補償するような機能もマイクロプロセッサには持た
せることもできる。
このようにして得られた光ヘテロゲイン検波装置は、第
2の周波数弁別器13の周波数弁別範囲が十分広いので
周波数の自動引込みが可能である。
−9= また、第1の周波数弁別器11の弁別範囲は従来のもの
と同程度であるから第1の光検波回路の周波数帯域を必
要以上に大きくする必要がなく、雑音の増加、電気回路
の高価格化等のm1題を生じない。さらに、第2の周波
数弁別器13に入射する第2の合波光9は光合波器4に
よって不可避的に生じるものなので、電気信号10に変
換される第1の合波光8に対して余分な損失を生じさせ
ることがない等の利点を有する。
第3図は本発明の第2の実施例を示すブロック図、第4
図、第5図は第3図の@2の周波数弁別器13の構成図
および動作原理を示す特性図である。この実施例の基本
構成は第1の実施例と同様であり、信号光2を伝送する
光ファイバ19局部発振光光源6.光合波器4.光検波
回路31.第1の周波数弁別器11.広帯域な第2の周
波数弁別器139発振周波数制御装酋23を含んで構成
される。信号光2と局部発振光7の周波数差に対応した
第1.第2の制御信号12.21がそれぞれ第1.第2
の周波数弁別回路11.13がら出10− 力されて発振周波数制御装置23に送られ、局部発振光
源6に含まれる半導体レーザ5の印加電流。
周囲温度を変えることにより、局部発振光7の周波数制
御を行なうものである。
この第2の実施例において、光合波器4は、局部発振光
7を伝送する第2の光ファイバ24を光ファイバ1に近
接して融層させたものを使用し、これら近接させた二つ
の導波路間のモード結合を利用して第11第2の合波光
8,9を得るものである。
また、周波数弁別器13は、エタロン(etalon 
)板25を用いたものを使用しており、2枚の対向した
半透過ミラー26.27から成るエタロン板25と、こ
のエタロン板25からの透過光28の受光処理装置29
と、これら半透過ミラー26゜27の間隔を調整できる
駆動装置30とを含む一柚の分光器となっている。
エタロン板の透過光28は、第5図の透過率−波長特性
図に示される。この第2の周波数弁別器13に最初に信
号光成分17を尋き、エタロン板25を通して受光処理
装置29に入射させる。このエタロン板25の透過ピー
ク波長は、第5図のλl、λ2に示すように、半透過ミ
ラー26.27の間隔を駆動装置d30で調整すること
により変えることができるので、ここでは透過ピーク波
長λlが信号光成分17の波長Aと一致するように半透
過ミラー26.27の間隔を調整する。次に、局部発振
光光源6を作動させて、その局部発振光成分18を第2
の周波数弁別器13に導く。ここで信号光成分17の波
長Aと局部発振光成分18の波長Bとが、第5図のよう
にずれているとする。
このずれ量は、例えば半透過ミラー26.27の間隔を
微小振動させれば、エタロン板透過光28もこの微小振
動周波数に対応した光強度変動を生じることから検知で
きる。そしてこのずれ量を示す第2の制御信号21を用
いて発振周波数制御装置d23を制御することにより、
局部発振光7の波長(周波数)を信号光20波長に一致
させることができる。この周波数弁別回路(13)とし
ては、半透過ミラー26.27の間隔数十μmで周波数
弁別範囲±100GHz(〜±5^)をもつものが得ら
れている。
なお発振周波数制側1装置23は、第1.第2の制御信
号12.21それぞれを適切に選択して、半導体レーザ
5の印加電流および周囲温度を変え局部発振光7の波長
を制御しているが、マイクロプロセッサ(図示せず)を
用いて第1の実施例と同様の一連の周波数引込み動作の
制御を行うことができる。
本発明においては、これら実施例の他にもさま機能を有
するものであれば利用が可能である。また、電気回路に
よる広帯域周波数弁別器が実現すれば、それを利用する
こともできる。光合波器4としては平面光導波路による
光合波器も使用可能である。局部発振光光源6としては
波長(周波数)制御が可能なものであれば、半導体レー
ザ以外のものであっても良い。
なお、信号光2の波長(周波数)が確定してい13− る場合、第2の周波数弁別器3はその確定値に局部発振
光7の波長を一致させるように第2の制御信号21を出
力すれば艮い。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例のブロック図、第2図は
第1図中の第2の周波数弁別器13の構成図、第3図は
本発明の第2の実施例のブロック図、架4.第5図は第
3図中の第2の周波数弁別器13の構成図およびその動
作原理を示す特性図である。図において 1.24・・・・・・光ファイバ、2・・・・・・信号
光、3・・・・・・半透明ミラー、4・・・・・・光合
波器、5・・・・・・半導体レーザ、6・・・・・・局
部発振光源、7・・・・・・局部発振光、8.9・・・
・・・合波光、10・・・・・・電気信号、11.13
・・・・・・周波数弁別器、12.21・・・・・・制
御信号、14・・・・・・回折格子対、15・・・・・
・フォトダイオードアレイ、16°°°°゛°光位置検
出回路、17・・・・・・信号光成分、18・・・・・
・局部発振光成分、19.20・・・・・・入射位置、
22・・・・・・温度制御回路、23・・・・・・発振
周14− 波数制御回路、25・・・・・・エタロン板、26.2
7・・・・・・半透明ミラー、28・・・・・・透過光
、29・・・・・・受光処理装置、3o・・・・・・駆
にυ装置、31・・°・・・光検波回路、32・・・・
・・印加電流制御回路である。 15− 201− 第2閃 第4図 筋!5閃

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 発振光の発振周波数を制御できる発振周波数制御部を有
    する局部発振光光源と、この局部発振光光源からの周部
    発振光と信号光とを合波する光合波部と、この光合波部
    から出力される第10合波光を受光して中間周波電気信
    号に変換する検波回路と、前記中間周波電気信号の中間
    周波数を弁別する第1の周波数弁別器と、前記光合波部
    から出力される第2の合波光を受光して前記局部発振光
    と前記信号光の周波数弁別を行う広帯域な第2の周波数
    弁別器とを含み、前記第1の周波数弁別器および前記第
    2の周波数弁別器の各弁別出力を前記発振周波数制御部
    に帰還させる構成としたことを%徴とする光へテロダイ
    ン検゛波装置。
JP58000659A 1983-01-06 1983-01-06 光ヘテロダイン検波装置 Pending JPS59126338A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6352528A (ja) * 1986-08-22 1988-03-05 Fujitsu Ltd 周波数トラッキング方式

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6352528A (ja) * 1986-08-22 1988-03-05 Fujitsu Ltd 周波数トラッキング方式

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