JPS5912405A - 合焦位置検出装置 - Google Patents
合焦位置検出装置Info
- Publication number
- JPS5912405A JPS5912405A JP12068482A JP12068482A JPS5912405A JP S5912405 A JPS5912405 A JP S5912405A JP 12068482 A JP12068482 A JP 12068482A JP 12068482 A JP12068482 A JP 12068482A JP S5912405 A JPS5912405 A JP S5912405A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- luminous flux
- light
- light beam
- detection device
- position detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/16—Beam splitting or combining systems used as aids for focusing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
検出装置に関する〇
従来、一眼レフレックスカメラの合焦位置検出装置とし
て公開特許公報昭３３；−／！；３；３θｇに記載のも
のが提案されている。この装置においては、第１図に示
されるように、結像レンズ／によって導かれた被写体光
束一が予定結像面３及びこの前後にほぼ等距離能れた位
置における結像状態を検 □出する３個の受光器Ｆ
、ｔ， ｇによって検出され、その出力゛信号によｐ合
焦状態を判定する。これらの受光器ｐ、ｊ、乙は、例え
ばＣＯＤアＶイ・センサーのようなラインセンサーが用
いられる。第２図においてはさらにこの合焦位置検出装
置の具体的構成が示される。７は、サブミラーであシ、
図示しないクイックリターンミラーの後方にあって、ク
イックリターンミラーを透過した光束２の一部を受ける
様になっている。ざは、光分割器であシ、ソー／、７−
．２はハーフミラ−１９−３は全反射ミラーである。／
θは、受光器グ、ｊ、乙の具体的素子であるラインセン
サー受光器／ ／ −／、／ ／−２、／／−３が設け
られているシリコン基板である。
て公開特許公報昭３３；−／！；３；３θｇに記載のも
のが提案されている。この装置においては、第１図に示
されるように、結像レンズ／によって導かれた被写体光
束一が予定結像面３及びこの前後にほぼ等距離能れた位
置における結像状態を検 □出する３個の受光器Ｆ
、ｔ， ｇによって検出され、その出力゛信号によｐ合
焦状態を判定する。これらの受光器ｐ、ｊ、乙は、例え
ばＣＯＤアＶイ・センサーのようなラインセンサーが用
いられる。第２図においてはさらにこの合焦位置検出装
置の具体的構成が示される。７は、サブミラーであシ、
図示しないクイックリターンミラーの後方にあって、ク
イックリターンミラーを透過した光束２の一部を受ける
様になっている。ざは、光分割器であシ、ソー／、７−
．２はハーフミラ−１９−３は全反射ミラーである。／
θは、受光器グ、ｊ、乙の具体的素子であるラインセン
サー受光器／ ／ −／、／ ／−２、／／−３が設け
られているシリコン基板である。
このような合焦位置検出装置において上述の公報に述べ
られているようにライセンサ−受光器／／−／、／／−
、！、／／−３からの出力信号を電気的に処理すること
により第３図に示されるようなディフォーカス量に対応
した出力値が得られる。
られているようにライセンサ−受光器／／−／、／／−
、！、／／−３からの出力信号を電気的に処理すること
により第３図に示されるようなディフォーカス量に対応
した出力値が得られる。
第３図において横軸はレンズのく９出し量を表わし縦軸
は、電気的に処理した後の各受光器からの出力値を表わ
す。受光器グ、！、乙からの出方値は、レンズくシ出し
量に対してＦｌｓ Ｆ２ ｓ Ｆ３のように変化する。
は、電気的に処理した後の各受光器からの出力値を表わ
す。受光器グ、！、乙からの出方値は、レンズくシ出し
量に対してＦｌｓ Ｆ２ ｓ Ｆ３のように変化する。
／２で示される領域においては３つの出力が正しく区別
されるが、／３で示される領域においては３つの出力の
区別が困難となり、正しい合焦状態の判定が不可能とな
ってしまうという問題点が有る。この問題点全解決する
ものとして、第７図に示されるように、予定結像面３か
ら更に離れた位置の結像状態を検出子る第グの受光器／
ダを設けた装置が有る。その具体的な構成が第Ｓ図に示
される。／Ｓは、光分割器であり、／６−／、／乙−２
，７６−３はハーフミラ−１／乙−グは全反射ミラーで
ある。／７は、シリコン基板で、７ｇ−へ／と一！、／
に−３、／と一グはライセンサ−受光器である。
されるが、／３で示される領域においては３つの出力の
区別が困難となり、正しい合焦状態の判定が不可能とな
ってしまうという問題点が有る。この問題点全解決する
ものとして、第７図に示されるように、予定結像面３か
ら更に離れた位置の結像状態を検出子る第グの受光器／
ダを設けた装置が有る。その具体的な構成が第Ｓ図に示
される。／Ｓは、光分割器であり、／６−／、／乙−２
，７６−３はハーフミラ−１／乙−グは全反射ミラーで
ある。／７は、シリコン基板で、７ｇ−へ／と一！、／
に−３、／と一グはライセンサ−受光器である。
第３図において、レンズのくり出し量と各受光器からの
出力信号を処理して得られる出力値Ｆ′１゜” ＋ Ｆ
３ ＋ Ｆ’４の対応を示す。この図からもわかる様に
、上述の如くすれば／３で示される領域においても、出
力値Ｆ′４のため合焦状態の判定が可能となる。しかし
、このよう廃合熱位置検出装置においては、結像レンズ
／から同一の光束をグ分割して使用する。このため上述
した第１図、第２図の装置に比べ各受光器へ導かれる光
量が減少し、各出力値ＦＳ ＋ Ｆ ２ ＋ Ｆ ３
＋ Ｆ’４のレベルが低くなる。このため合焦位置の検
出精度が低くなるという欠陥が有った。
出力信号を処理して得られる出力値Ｆ′１゜” ＋ Ｆ
３ ＋ Ｆ’４の対応を示す。この図からもわかる様に
、上述の如くすれば／３で示される領域においても、出
力値Ｆ′４のため合焦状態の判定が可能となる。しかし
、このよう廃合熱位置検出装置においては、結像レンズ
／から同一の光束をグ分割して使用する。このため上述
した第１図、第２図の装置に比べ各受光器へ導かれる光
量が減少し、各出力値ＦＳ ＋ Ｆ ２ ＋ Ｆ ３
＋ Ｆ’４のレベルが低くなる。このため合焦位置の検
出精度が低くなるという欠陥が有った。
本発明は、上述の欠陥を解消するために提案されたもの
で、合焦位置検出可能な領域が広く、かつ合焦位置検出
精度の高い一眼レフレックスカメラの合焦位置検出装置
を提供することを目的とする０ 本発明は、レンズからの結像光束を予定結像面の前後に
配置したセンサーで受光し、レンズの合焦位置を検出す
る合焦位置検出可能忙おいて、上記センサーが受光する
結像光束とは異なった視野の結像光束を光学的に予定結
像面からの距離の異なるセンサーで受光する様にしたこ
とを特徴とする合焦位置検出装置である。
で、合焦位置検出可能な領域が広く、かつ合焦位置検出
精度の高い一眼レフレックスカメラの合焦位置検出装置
を提供することを目的とする０ 本発明は、レンズからの結像光束を予定結像面の前後に
配置したセンサーで受光し、レンズの合焦位置を検出す
る合焦位置検出可能忙おいて、上記センサーが受光する
結像光束とは異なった視野の結像光束を光学的に予定結
像面からの距離の異なるセンサーで受光する様にしたこ
とを特徴とする合焦位置検出装置である。
以下、本発明を図面を参照してその実施例について説明
する。
する。
第７図は、本発明の第１の実施例の概略構成図である。
結像レンズ／の光軸を中心とする光束−を受ける位置に
受光器グ、ｊ、乙が順次配置される。
受光器グ、ｊ、乙が順次配置される。
この受光器Ｆ、 ｔ、乙はＣＣＤ アレイセンサーの
如きラインセンサーによシ構成される。第グの受光器２
θは、受光器乙に比べ予定結像面３から更に離れた位置
に配置され、光束−の近傍で光束３ととは異なる視野の
光束／２を受ける位置に配置されるものである。第に図
は、第７図の実施例の具体的構成を示すものである。光
分割器２３は、光軸上に設けられたサブミラー、２／に
よって反射された光束を受ける位置に配設されこの入射
する光束を３分割し、シリコン基板、、２１１ｔ上に設
けられた受光器ｑ、ｓ、乙の具体的素子例えばＣＯＤラ
インセンサーの如き、受光器、２３−／、２Ｓ−３，２
ｊ−３に導く。サブミラー、２，２は結像レンズ／の光
軸外に設けられた第２のサブミラーであり第グの受光器
２θの具体的素子であるＣＯＤレインセンサーの如き受
光器、２３−グに光束を導く。
如きラインセンサーによシ構成される。第グの受光器２
θは、受光器乙に比べ予定結像面３から更に離れた位置
に配置され、光束−の近傍で光束３ととは異なる視野の
光束／２を受ける位置に配置されるものである。第に図
は、第７図の実施例の具体的構成を示すものである。光
分割器２３は、光軸上に設けられたサブミラー、２／に
よって反射された光束を受ける位置に配設されこの入射
する光束を３分割し、シリコン基板、、２１１ｔ上に設
けられた受光器ｑ、ｓ、乙の具体的素子例えばＣＯＤラ
インセンサーの如き、受光器、２３−／、２Ｓ−３，２
ｊ−３に導く。サブミラー、２，２は結像レンズ／の光
軸外に設けられた第２のサブミラーであり第グの受光器
２θの具体的素子であるＣＯＤレインセンサーの如き受
光器、２３−グに光束を導く。
この実施例におけるレンズのくシ出し量と各受光器より
の信号を処理して得られる出力値の関係は第３図とほぼ
同様であるが第りの受光器βθによって入射する光束を
別光路によって導いているため各受光器Ｚ、ｔ、乙、λ
θの受ける光量は少なくならず従って、各信号出力値レ
ベルは第３図に比較して高い点が異なる。このため、第
グ図、第５図の合焦位置検出装置に比較して、よシ高い
精度の合焦位置の検出が可能であるという効果を奏する
。
の信号を処理して得られる出力値の関係は第３図とほぼ
同様であるが第りの受光器βθによって入射する光束を
別光路によって導いているため各受光器Ｚ、ｔ、乙、λ
θの受ける光量は少なくならず従って、各信号出力値レ
ベルは第３図に比較して高い点が異なる。このため、第
グ図、第５図の合焦位置検出装置に比較して、よシ高い
精度の合焦位置の検出が可能であるという効果を奏する
。
次に、本発明の第３の実施例を説明する。
第２図は、本発明の第２の実施例の概略構成図である。
この実施例にては、第７図の第１の実施例に、更に、第
５の受光器！乙が予定結像面３を狭んで受光器−〇と反
対方向にほぼ等距離の位置の同一光路上に設けられてい
る。第７０図は第２図の実施例の具体的構成を示すもの
である。この実施例においては、光軸外に設けられたサ
ブミラーｎ′からの光束を第２の光分割器２ｇによって
２分割し、シリコン基板２９上に設けられた受光器２θ
、！乙の具体的素子であるＣＯＤラインセンサー受光器
３θ−’ｌ、３０−！；に導くものである。この実施例
のレンズのくシ出し量と各受光器からの信号を処理して
得られる出力値Ｆｌ’ 、 Ｆｉ 、 Ｆ３’ 、 Ｆ
ｉｌＦｇ は第１θ図において示される。この実施例に
おいては、出力値１１ｉ１．″、 Ｆ５１１によシ概略
の合焦位置の検出を行い、レンズのくシ出し量が７．２
で示された領域に入った後に出力値Ｆ′１． ｐＨ、Ｆ
Ｈによって精密な合焦位置６の検出を行う０このため、
第１の実施−例より更に広い領域での精度の高い合焦位
置の検出が可能となる効果を奏する。
５の受光器！乙が予定結像面３を狭んで受光器−〇と反
対方向にほぼ等距離の位置の同一光路上に設けられてい
る。第７０図は第２図の実施例の具体的構成を示すもの
である。この実施例においては、光軸外に設けられたサ
ブミラーｎ′からの光束を第２の光分割器２ｇによって
２分割し、シリコン基板２９上に設けられた受光器２θ
、！乙の具体的素子であるＣＯＤラインセンサー受光器
３θ−’ｌ、３０−！；に導くものである。この実施例
のレンズのくシ出し量と各受光器からの信号を処理して
得られる出力値Ｆｌ’ 、 Ｆｉ 、 Ｆ３’ 、 Ｆ
ｉｌＦｇ は第１θ図において示される。この実施例に
おいては、出力値１１ｉ１．″、 Ｆ５１１によシ概略
の合焦位置の検出を行い、レンズのくシ出し量が７．２
で示された領域に入った後に出力値Ｆ′１． ｐＨ、Ｆ
Ｈによって精密な合焦位置６の検出を行う０このため、
第１の実施−例より更に広い領域での精度の高い合焦位
置の検出が可能となる効果を奏する。
尚、本発明を構成する光軸上の光束を受ける第１の受光
器群の受光器数は３個に限定されないことは言うまでも
ない。
器群の受光器数は３個に限定されないことは言うまでも
ない。
本発明は、以上のように光軸外の光束を受ける第ρの受
光器群を設けることにより、各受光器が受ける光量の減
少を防止し、この光量の減少による合焦位置の検出精度
の低下を防止し、かつ、合焦位置検出領域を拡大する効
果を奏する。
光器群を設けることにより、各受光器が受ける光量の減
少を防止し、この光量の減少による合焦位置の検出精度
の低下を防止し、かつ、合焦位置検出領域を拡大する効
果を奏する。
第１図は、従来の一眼レフレックスカメラの合焦位置検
出装置の概略構成図、第２図は、第１図の装置の具体的
な構成図、第３図は、第１図の装置の信号出力とレンズ
くり出し量の関係を示すグラフ、第９図は、従来の他の
一眼レフレックスカメラの合焦位置検出装置の概略構成
図、第５図は、第９図の装置の具体的な構成図、第６図
は、第９図の装置の信号出力とレンズくシ出し量の関係
を示すグラフ、第７図は、本発明の第１の実施例の概略
°構成図、第に図は、第７図の実施例の具体的な構成図
、第２図は、本発明の第２の実施例の概略構成図、第１
θ図は、第２図の実施例の具体的な構成図、第１／図は
、第２図の実施例の信号出力とレンズくシ出し量の関係
を示すグラフである。 ／・・結像レンズ、 グ、Ｓ１乙・・第１の受光器群、 一θ、３乙・・・第３の受光器群。 ２ 第１図 第２図 第３図 第４図 第６図 第７図 第８図 第９図 第１１５１１
出装置の概略構成図、第２図は、第１図の装置の具体的
な構成図、第３図は、第１図の装置の信号出力とレンズ
くり出し量の関係を示すグラフ、第９図は、従来の他の
一眼レフレックスカメラの合焦位置検出装置の概略構成
図、第５図は、第９図の装置の具体的な構成図、第６図
は、第９図の装置の信号出力とレンズくシ出し量の関係
を示すグラフ、第７図は、本発明の第１の実施例の概略
°構成図、第に図は、第７図の実施例の具体的な構成図
、第２図は、本発明の第２の実施例の概略構成図、第１
θ図は、第２図の実施例の具体的な構成図、第１／図は
、第２図の実施例の信号出力とレンズくシ出し量の関係
を示すグラフである。 ／・・結像レンズ、 グ、Ｓ１乙・・第１の受光器群、 一θ、３乙・・・第３の受光器群。 ２ 第１図 第２図 第３図 第４図 第６図 第７図 第８図 第９図 第１１５１１
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 検出する合焦位置検出装置において、上記センサーが受
光する結像光束とは異なった視野の結像光束を光学的に
予定結像面からの距離の異なるセンサーで受光する様に
したことを特徴とする合焦位置検出装置。 ノ、前記センサーは、前記結像レンズの光軸を中心とす
る光束を受は予定結像面に近い位置における結像状態を
検出する複数個の受光器よシなる第１の受光器群と、前
記光束近傍の異なる視野の第２の光束を受は前記第１の
受光器群に比べ前記予定結像面からよシ隔った位置にお
ける結像状態を検出する少なくとも７個以上の受光器よ
りなる第一の受光器群である特許請求の範囲第１項記載
の合焦位置検出装置。。 ３前記第１および第一の受光器群が同一平面上に配置さ
れた特許請求の範囲第２項記載の合焦位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12068482A JPS5912405A (ja) | 1982-07-13 | 1982-07-13 | 合焦位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12068482A JPS5912405A (ja) | 1982-07-13 | 1982-07-13 | 合焦位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5912405A true JPS5912405A (ja) | 1984-01-23 |
Family
ID=14792386
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12068482A Pending JPS5912405A (ja) | 1982-07-13 | 1982-07-13 | 合焦位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5912405A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63103941U (ja) * | 1986-12-23 | 1988-07-06 | ||
| JPH02311208A (ja) * | 1989-05-24 | 1990-12-26 | Hitachi Seiki Co Ltd | 深穴加工機 |
-
1982
- 1982-07-13 JP JP12068482A patent/JPS5912405A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63103941U (ja) * | 1986-12-23 | 1988-07-06 | ||
| JPH02311208A (ja) * | 1989-05-24 | 1990-12-26 | Hitachi Seiki Co Ltd | 深穴加工機 |
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