JPS59120968A - Fixture device for test of parts - Google Patents
Fixture device for test of partsInfo
- Publication number
- JPS59120968A JPS59120968A JP57228683A JP22868382A JPS59120968A JP S59120968 A JPS59120968 A JP S59120968A JP 57228683 A JP57228683 A JP 57228683A JP 22868382 A JP22868382 A JP 22868382A JP S59120968 A JPS59120968 A JP S59120968A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- fixture
- measured
- board unit
- printed board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
（１）発明の技術分野
本発明は、プリント基板又はプリント板ユニット等の被
測定物の導通又は機能テストを行う部品テスト用フイク
スチュア装置に関し、特にフイクスチュアにり“リッド
状に配置して多数植え付けられたコンタクトプローブを
被測定物の端子部の位置に対応して適宜選択して接触さ
せ複数種類の被測定物に対して柔軟に対応できる部品テ
スト用フイクスチュア装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (1) Technical Field of the Invention The present invention relates to a fixture device for component testing that performs continuity or function tests on objects to be measured such as printed circuit boards or printed board units, and in particular, the present invention relates to a fixture device for testing parts that performs continuity or functional tests on objects to be measured such as printed circuit boards or printed board units. The present invention relates to a component testing fixture that can flexibly handle a plurality of types of objects to be measured by appropriately selecting and contacting a large number of contact probes arranged in a plurality of contact probes according to the positions of the terminals of the object to be measured.
（２） 従来技術と問題点
従来のこの種の部品テスト用フイクスチュア装置は、第
１図に示すように、台板状のフイクスチュア１の下面側
から上面側に向けてコンタクトプローブ２を植え付け、
このフイクスチュア１の上面側に被測定物たるプリント
板ユニット３を載置し、上記フイクスチュア１のコンタ
クトグローブ２の先端をプリント板ユニット３の測定箇
所の端子部に押圧して、導通テスト又は■Ｃ４、抵抗５
等の機能テストを行っていた。(2) Prior Art and Problems As shown in FIG. 1, in a conventional component testing fixture of this type, a contact probe 2 is planted from the bottom side of a base plate-shaped fixture 1 toward the top side.
Place the printed board unit 3, which is the object to be measured, on the upper surface of the fixture 1, press the tip of the contact glove 2 of the fixture 1 against the terminal part of the printed board unit 3 at the measurement location, and conduct a continuity test or , resistance 5
Functional tests were conducted.
しかしこの場合、フイクスチュア１のコンタクトグロー
ブ２の植設位置は、テストすべきブ１ノント板ユニット
３の端子部の位置に応じて固定されており、一つの種類
のプリント板ユニット３に対して一つのフイクスチュア
が対応付けられていた。したがって、他の種類のブ１ノ
ント板ユニット３をテストするには、それに対応したコ
ンタクトグローブの植設位置を有するフイクスチュアと
取り替えて測定し々ければならな力＼つだ。すなわち、
テストすべきプリント板ユニット又はプリント基板の種
類に応じてそれぞれ専用のフイクスチュアを多数必要と
し、コスト高と々るものであった。However, in this case, the installation position of the contact globe 2 of the fixture 1 is fixed according to the position of the terminal part of the printed board unit 3 to be tested, and is fixed for one type of printed board unit 3. Two fixtures were associated. Therefore, in order to test other types of contact plate units 3, it is necessary to replace the fixture with a fixture having a corresponding contact glove installation position and measure the force. That is,
A large number of dedicated fixtures are required depending on the type of printed board unit or printed circuit board to be tested, resulting in a high cost.
（３） 発明の目的
本発明は上記の問題点を解消するためになされたもので
、フイクスチュアにグリッド状に配置して多数植え付け
られたコンタクドブローフ′を被測定物の端子部の位置
に対応して適宜選択して接触させ複数棟類の被測定物に
対して柔軟に対応できる部品テスト用フィクスチュア装
置を提供することを目的とする。(3) Purpose of the Invention The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and uses a method in which a large number of contact blobs, which are arranged in a grid pattern on a fixture, correspond to the positions of the terminals of the object to be measured. It is an object of the present invention to provide a fixture device for component testing that can flexibly respond to multiple types of objects to be measured by appropriately selecting and contacting them.
（４） 発明の構成
そして上記の目的は本発明によれば、被測定物を載置す
るフイクスチュアに多数のコンタクトグローブを所定間
隔でグリッド状に配列して植え付け、このフイクスチュ
アの下面側には上記被測定物の端子部の配置に対応して
接触パッドが形成されると共にこの接触パッドに信号出
入用ワイヤが布線された個別カードをセットし、この個
別カード自身に被測定物の端子部の配置に逆対応してコ
ン−タクトグローブの下端部が貫通する選択孔を穿設し
て選択板とするか、又は被測定物の端子部の配置に対応
してコンタクトプローブの先端部が貫通する選択孔を穿
設した選択板を該被測定物の下面側にセットし、この選
択板の選択孔の配置によシ上記多数のコンタクトグロー
ブのうち被測定物の端子部の配置に対応するコンタクト
プローブのみを選択して上記端子部に抑圧接触させるよ
うにしたことを特徴とする部品テスト用フイクスチュア
装置を提供することによって達成される。(4) Structure of the Invention and the above-mentioned object is that according to the present invention, a large number of contact gloves are arranged and planted at predetermined intervals in a grid on a fixture on which an object to be measured is placed, and the above-mentioned contact gloves are arranged on the lower surface of this fixture. An individual card is set in which a contact pad is formed corresponding to the arrangement of the terminal part of the object to be measured, and a signal input/output wire is wired to this contact pad, and this individual card itself has a contact pad formed in accordance with the arrangement of the terminal part of the object to be measured. A selection plate is formed by drilling a selection hole through which the lower end of the contact glove passes through inversely corresponding to the arrangement, or a selection hole through which the tip of the contact probe passes through in accordance with the arrangement of the terminals of the object to be measured. A selection plate with selection holes drilled therein is set on the underside of the object to be measured, and according to the arrangement of the selection holes on this selection plate, contacts corresponding to the arrangement of the terminal portions of the object to be measured are selected from among the numerous contact gloves. This is achieved by providing a component testing fixture characterized in that only the probe is selected and pressed into contact with the terminal portion.
（５） 発明の実施例
以下、本発明の実施例を重付図面に基いて詳細に説明す
る。(5) Embodiments of the invention Hereinafter, embodiments of the invention will be described in detail with reference to the overlapping drawings.
第２図は本発明による部品テスト用フイクスチュア装置
を示す断面説明図である。この装置の上面部には平板状
に形成されたフイクスチュア１１が設けられている。こ
のフイクスチュア１１は、被測定物たるプリント板ユニ
ット１２又はプリント基板を載置するもので、その平面
部には多数の植付孔１３．１３・・・・・・が所定の間
隔（例えば２．５４ｍｍ間隔）でグリッド状に配列して
貫通穿設されている。そして、上記植付孔１３．１３・
・・・・・にはそれぞれ一本のコンタクトグローブ１４
が下向きに付勢され且つ上方向に摺動可能に植え付けら
れている。したがって、上記フイクスチュア１１の平面
部には、多数のコンタクトグローブ１４．１４・・・・
・・が所定間隔でグリッド状に配列して植え付けられて
いることとなる。このコンタクトグローブ１４は、先端
部に上記プリント板ユニット１２のＩＣｌ３等の端子部
１６．１６・・・・・・と接触するチップ１Ｔを有し、
下端部には、後述の個別カード１９の接触パッド２０と
接触する接触端１８を有している。FIG. 2 is an explanatory cross-sectional view showing a fixture device for component testing according to the present invention. A fixture 11 formed into a flat plate is provided on the upper surface of this device. This fixture 11 is used to place a printed board unit 12 or a printed circuit board as an object to be measured, and a large number of planting holes 13, 13, . . . are formed at predetermined intervals (eg, 2. Through-holes are arranged in a grid pattern at intervals of 54 mm. And the above planting hole 13.13.
One contact glove 14 for each...
is biased downward and slidably planted upward. Therefore, on the plane part of the fixture 11, there are a large number of contact gloves 14, 14...
... are planted in a grid pattern at predetermined intervals. This contact glove 14 has a tip 1T at its tip that contacts the terminal portions 16, 16, etc. of the printed board unit 12 such as ICl3,
The lower end has a contact end 18 that comes into contact with a contact pad 20 of an individual card 19, which will be described later.
上記フイクスチュア１１の下面側には、プリント板化さ
れた個別カード１９が被測定物たるプリント板ユニット
１２０種類に応じてセットされる。この個別カード１９
は、テストすべきプリント板ユニット１２の端子部１６
の配置に応じて上記フイクスチュア１１の多数のコンタ
クトグローブ１４．１４・・・・・・のうちどのコンタ
クトグローブ１４を上記端子部１６に接触させるかを選
択するもので、その板面には上記プリン１ト板ユニツト
１２の端子部１６の配置に応じて接触バンド２０が形成
されると共にこの接触パッド２０にはそれぞれ信号出入
用ワイヤ２１がワイヤボンディング方式で布線され、且
つ上記プリント板ユニット１２の端子ｆＪ１６の無い位
置（逆対応の位置）にはコンタクトグローブ１４の下端
部が貫通する選択孔２２が穿設されている。On the lower surface side of the fixture 11, individual cards 19 made of printed boards are set according to the types of printed board units 120 that are objects to be measured. This individual card 19
is the terminal section 16 of the printed circuit board unit 12 to be tested.
Which of the contact gloves 14, 14,... of the fixture 11 is to be brought into contact with the terminal portion 16 is selected according to the arrangement of the contact gloves 14, 14, 14, 14, 14, 14, 14, 14, 14, etc. A contact band 20 is formed according to the arrangement of the terminal portions 16 of the printed board unit 12, and signal input/output wires 21 are wired to each of the contact pads 20 by a wire bonding method. A selection hole 22, through which the lower end of the contact globe 14 passes, is provided at a position where the terminal fJ16 is not present (reverse corresponding position).
上記信号出入用ワイヤ２１の他端は、上記個別カード１
９の一側部に設けられたスルーホーられたバッド２４と
導通されている。このバッド２４には、テストヘッドコ
ネクタ２５のプローブ２６の一端部２Ｔが抑圧接触され
、このグローブ２６の他端部２８はシステムコネクタ２
９に接触して図示外のテスターへテスト信号を出入する
ようになっている。The other end of the signal input/output wire 21 is connected to the individual card 1
It is electrically connected to a through-hole pad 24 provided on one side of the holder 9. One end 2T of the probe 26 of the test head connector 25 is pressed into contact with this pad 24, and the other end 28 of this globe 26 is pressed into contact with the system connector 2.
9 to input and output test signals to a tester not shown.
次に、このように構成された部品テスト用フイクスチュ
ア装置の使用について説明する。まス、フイクスチュア
１１の下面側にこれからテストすべきプリント板ユニッ
ト１２の端子部１６の配置に逆対応して選択孔２２．２
２・・・・・・が穿設された個別カード１９をセットし
、上記フィクスチュア１１の上面側のシール３０．３０
の部分には被測定物たるプリント板ユニット１２を載置
する。この状態で吸気口３１がら空気を抜いてシール３
０の内部を負圧とすると、プリント板ユニット１２の上
面及び個別カード１９の下面からそれぞれ矢印Ａ、Ｂの
ように正圧がかかシ、プリント板ユニット１２がフイク
スチュア１１の上面側に固定されると共に個別カード１
９がフイクスチュア１１の下面側に押し上けられる。こ
のとき、選択孔２２があけられた位置に植え付けられた
コンタクトグローブ１４はその１まの状態で動かないが
、接触バッド２０が形成された位置に該当するコンタク
トグローブ１４はその下端の接触端１８が上記接触バッ
ド２０に接触すると共に押し上げられ、その結果コンタ
クトグローブ１４の全体が上方に摺動して押し上けられ
、先端のチップ１７がプリン。Next, the use of the component testing fixture device configured as described above will be explained. Also, on the lower surface side of the fixture 11 there are selected holes 22.
2. Set the individual card 19 with a hole in it, and set the seal 30.30 on the top side of the fixture 11.
The printed board unit 12, which is the object to be measured, is placed in the area. In this state, remove the air from the intake port 31 and seal 3.
0, positive pressure is applied from the upper surface of the printed board unit 12 and the lower surface of the individual card 19 as shown by arrows A and B, respectively, and the printed board unit 12 is fixed to the upper surface side of the fixture 11. Individual card 1
9 is pushed up to the lower surface side of the fixture 11. At this time, the contact glove 14 planted in the position where the selection hole 22 is drilled does not move in that state, but the contact glove 14 corresponding to the position where the contact pad 20 is formed has its lower contact end 18 contacts the contact pad 20 and is pushed up, and as a result, the entire contact glove 14 slides upward and is pushed up, causing the tip 17 at the tip to bulge.
ト板ユニット１２の端子部１６に抑圧接触される。この
ようにして、フイクスチュア１１に多数植え付けられた
コンタクトプローブ１４．１４・・・・・・のうち、テ
ストすべきプリント板ユニット１２の端子部１６の配置
に対応するコンタクトグローブ１４だけを選択して、上
記端子部１６に抑圧接触させることができる。このよう
な状態で図示外のテスターからシステムコネクタ２９及
びテストへラドコネクタ２５を介してテスト信号を出入
して、被測定物たるプリント板ユニット１２の導通又は
機能テストを行う。別の種類のプリント板ユニット１２
をテストするときは、当該プリント板ユニット１２の端
子部１６の配置に逆対応して選択孔２２が穿設された別
の個別カード１９につけ替えればよい。It is pressed into contact with the terminal portion 16 of the top plate unit 12. In this way, only the contact probes 14 corresponding to the arrangement of the terminal portions 16 of the printed board unit 12 to be tested are selected among the contact probes 14, 14, etc. planted in the fixture 11. , can be pressed into contact with the terminal portion 16. In this state, a test signal is sent in and out from a tester (not shown) to the system connector 29 and the RAD connector 25 to perform a continuity or function test of the printed board unit 12, which is the object to be measured. Another type of printed board unit 12
When testing, it is sufficient to replace the printed board unit 12 with another individual card 19 having selection holes 22 formed therein in reverse correspondence to the arrangement of the terminal portions 16 of the printed board unit 12.
第３図は本発明の他の実施例を示す断面説明図である。FIG. 3 is an explanatory cross-sectional view showing another embodiment of the present invention.
上記第２図の実施例では、個別カード１９に直接選択孔
２２を穿設して個別カード１９自身をもって選択板を兼
ねさせたものであるが、第３図の実施例では個別カード
１９には選択孔２２をあけず個別カード１９とは別個に
選択板３２を用意し、この選択板３２を被測定物１２の
下面側にセットしたものである。この選択板３２も上記
と同様に、テストすべきプリント板ユニット１２の端子
部１６の配置に応じて上記フイクスチュア１１の多数の
コンタクトグローブ１４．１４・・・・・・のうちどの
コンタクトグローブ１４を上記端子部１６に接触させる
かを選択するもので、その板面には上記プリント板ユニ
ット１２の端子部１６の配置に応じてコンタクトプロー
ブ１４の先端部が貫通ずる選択孔３３が穿設されている
。したかつて、テスト時において吸気口３１がら空気を
抜いてシール３０の内部を負圧とすると、上記と同様に
して、プリント板ユニット１２がフイクスチュア１１の
上面側に固定されると共に個別カード１９がフィクスチ
ュア１１の下面側に押し上けられ、該フイクスチュア１
１に植え付けられたコンタクトグローブ１４．１４・−
・・・・はすべて上記個別カード１９によって押し上け
られる。しかし、谷コンタクトグローブ１４の先端部は
、選択板３２の介在によって選択孔３３が形成された位
置のコンタクトプローブ１４のみの先端チップ１７が該
選択孔３３を貫通してプリント板ユニット１２の端子部
１６に押圧接触される。他の部位のコンタクトグローブ
１４のチップ１Ｔは上記選択板３２に当接してやや収縮
状態とされる。このようにして、フイクスチュア１１に
多数植え付けられたコンタクトグローブ１４．１４・・
・・・・のうち、テストすべきプリント板ユニット１２
の端子部１６の配置に対応するコンタクトグローブ１４
だけを選択して、上記端子部１６に抑圧接触させること
ができる。この実施例においては、個別カード１９に直
接選択孔を穿設しないでよいので、個別カード１９の簡
易化を図ることができる。なお、個別カード１９の接触
ハツト２０はコンタクトグローブ１４の位置に対応して
グリッド状に配列しであるが、該接触パッド２０への信
号出入用ワイヤ２１の布線は、テストすべきプリント板
ユニット１２の端子部１６の配置に応じてその箇所だけ
に行なえばよい。１だ、個別カード１９と選択板３２と
は、それぞれに同一番号又は信号をつける等して一対の
ものとして管理するのが望ましい。In the embodiment shown in FIG. 2, the selection hole 22 is directly formed in the individual card 19 so that the individual card 19 itself serves as a selection board, but in the embodiment shown in FIG. A selection plate 32 is prepared separately from the individual card 19 without a selection hole 22, and this selection plate 32 is set on the underside of the object to be measured 12. Similarly to the above, this selection board 32 also selects which contact glove 14 out of the many contact gloves 14, 14, . A selection hole 33 is bored in the board surface, through which the tip of the contact probe 14 passes, depending on the arrangement of the terminal part 16 of the printed board unit 12. There is. Once, during a test, when air was removed from the air inlet 31 to create a negative pressure inside the seal 30, the printed board unit 12 was fixed to the upper surface side of the fixture 11 and the individual card 19 was fixed to the fixture 11 in the same manner as described above. The fixture 11 is pushed up to the lower surface side, and the fixture 1
Contact glove planted in 1 14.14・-
. . . are all pushed up by the individual cards 19. However, at the tip of the valley contact globe 14, the tip 17 of only the contact probe 14 at the position where the selection hole 33 is formed by the interposition of the selection plate 32 passes through the selection hole 33 and forms the terminal portion of the printed board unit 12. 16 is brought into pressure contact. The tip 1T of the contact glove 14 in other parts comes into contact with the selection plate 32 and is slightly contracted. In this way, a large number of contact gloves 14.14... are planted in the fixture 11.
Printed board unit 12 to be tested among...
A contact glove 14 corresponding to the arrangement of the terminal portion 16 of
It is possible to selectively press only the terminal portion 16 into contact with the terminal portion 16. In this embodiment, since it is not necessary to directly punch the selection hole in the individual card 19, the individual card 19 can be simplified. Note that the contact pads 20 of the individual cards 19 are arranged in a grid pattern corresponding to the positions of the contact gloves 14, and the wiring of the signal input/output wires 21 to the contact pads 20 depends on the printed circuit board unit to be tested. Depending on the arrangement of the 12 terminal parts 16, it is only necessary to perform the process at that location. 1. It is desirable that the individual card 19 and the selection board 32 be managed as a pair by giving them the same number or signal.
（６ン 発明の効果
本発明は以上のように構成子れたので、フイクスチュア
１１にグリッド状に配置して多数殖え付けられたコンタ
クトグローブ１４．１４・・・・・・のうち、テストす
べき被測定物たるプリント板ユニット１２の端子部−１
６の配置に対応するコンタクトグローブ１４だけを選択
して、上記端子部１６に押圧接触させることができる。(6) Effects of the Invention Since the present invention has been constructed as described above, among the contact gloves 14. Terminal part-1 of the printed board unit 12 as the object to be measured
Only the contact gloves 14 corresponding to the arrangement No. 6 can be selected and pressed into contact with the terminal portions 16.
したがって、選択板を適宜つけ替えるだけで複数棟類の
被測定物に対して柔軟に対応することができる。このこ
とから、従来のように被測定物の種類の数だけ専用のフ
イクスチュアを多数用意することを不要とし、コストの
低廉化を図ることができる。Therefore, it is possible to flexibly handle multiple objects to be measured by simply replacing the selection plate as appropriate. This eliminates the need to prepare as many dedicated fixtures as there are types of objects to be measured, as in the past, and costs can be reduced.
椰１図は従来の部品テスト用フイクスチュア装置を示す
断面説明図、第２図は本発明による部品テスト用フイク
スチュア装置を示す断面説明図、第３図は他の実施例を
示す断面説明図である。
１１・−・・−・フイクスチュア
１２・・・・・・プリント板ユニット（被測定物）１４
・・・・・・コンタクトグローブ
１６・・・・・・端子部
１１・・・・・・先端部のチップ
１８・・・・・・下端部の接触端
１９・・・・・・個別カード
２０・−・・・・接触パッド
２１・・・・・・信号出入用ワイヤ
２２．３３・・・・・・選択孔
３２・・・・・・選択板
出願人 富士通株式会社Fig. 1 is an explanatory cross-sectional view showing a conventional fixture device for testing parts, Fig. 2 is an explanatory cross-sectional view showing a fixture device for testing parts according to the present invention, and Fig. 3 is an explanatory cross-sectional view showing another embodiment. . 11...Fixture 12...Printed board unit (object to be measured) 14
...Contact glove 16...Terminal section 11...Tip 18 at the tip section...Contact end 19 at the lower end section...Individual card 20 --- Contact pad 21 --- Signal input/output wire 22.33 --- Selection hole 32 --- Selection board applicant: Fujitsu Limited
Claims (1)
プローブを所定間隔でクリッド状に配列して植え付け、
このフイクスチュアの下面側には上記被測定物の端子部
の配置に対応して接触パッドが形成されると共にこの接
触パッドに信号出入用ワイヤが布線された個別カードを
セットし、この個別カード自身に被測定物の端子部の配
置に逆対応してコンタクトグローブの下端部が貫通する
選択孔を穿設して選択板とするか、又は被測定物の端子
部の配置に対応してコンタクトグローブの先端部が貫通
する選択孔を穿設した選択板を該被測定物の下面側にセ
ットシ、この選択板の選択孔の配置により上記多数のコ
ンタクトグローブのうち被測定物の端子部の配置に対応
するコンタクトグローブのみを選択して上記端子部に抑
圧接触させるようにしたことを特徴とする部品テスト用
フイクスチュア装置。A large number of contact probes are arranged in a grid pattern at predetermined intervals and planted on the fixture on which the object to be measured is placed.
Contact pads are formed on the bottom side of this fixture in correspondence with the arrangement of the terminals of the object to be measured, and an individual card with signal input/output wires wired to this contact pad is set, and this individual card itself A selection plate is formed by drilling a selection hole through which the lower end of the contact glove passes through inversely corresponding to the arrangement of the terminals of the object to be measured, or a contact glove is formed in accordance with the arrangement of the terminals of the object to be measured. A selection plate with a selection hole drilled through which the tip of the contact glove passes through is set on the underside of the object to be measured, and the arrangement of the selection hole of this selection plate determines the arrangement of the terminals of the object to be measured among the many contact gloves. A fixture device for component testing, characterized in that only a corresponding contact glove is selected and pressed into contact with the terminal portion.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57228683A JPS59120968A (en) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | Fixture device for test of parts |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57228683A JPS59120968A (en) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | Fixture device for test of parts |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59120968A true JPS59120968A (en) | 1984-07-12 |
Family
ID=16880168
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57228683A Pending JPS59120968A (en) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | Fixture device for test of parts |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59120968A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6197773U (en) * | 1984-11-30 | 1986-06-23 | ||
| US4749945A (en) * | 1985-11-26 | 1988-06-07 | Itt Austria Gesellschaft Gmbh | Test equipment for printed circuit boards |
| CN113120612A (en) * | 2021-04-22 | 2021-07-16 | 昆山精讯电子技术有限公司 | Material conveying system capable of realizing non-power-off handshake |
-
1982
- 1982-12-28 JP JP57228683A patent/JPS59120968A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6197773U (en) * | 1984-11-30 | 1986-06-23 | ||
| US4749945A (en) * | 1985-11-26 | 1988-06-07 | Itt Austria Gesellschaft Gmbh | Test equipment for printed circuit boards |
| CN113120612A (en) * | 2021-04-22 | 2021-07-16 | 昆山精讯电子技术有限公司 | Material conveying system capable of realizing non-power-off handshake |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4977370A (en) | Apparatus and method for circuit board testing | |
| US5767692A (en) | Device for converting the test point grid of a machine for electrically testing unassembled printed circuit boards | |
| US5175491A (en) | Integrated circuit testing fixture | |
| JPH02183177A (en) | Mounting device for electric test | |
| US4841231A (en) | Test probe accessibility method and tool | |
| US5311120A (en) | Test fixture with test function feature | |
| US6191601B1 (en) | Test fixture for matched impedance testing | |
| US5654646A (en) | Apparatus for testing printed circuit boards | |
| US5929649A (en) | Method and apparatus for electrical parasitic measurement of pin grid array | |
| CN212625492U (en) | LED chip detection device | |
| JPS59120968A (en) | Fixture device for test of parts | |
| JP4667679B2 (en) | Probe card substrate | |
| ATE34621T1 (en) | ADAPTER FOR A PCB TESTER. | |
| DE3575206D1 (en) | DEVICE FOR FUNCTIONAL TESTING OF INTEGRATED CIRCUITS. | |
| JPH0725722Y2 (en) | Socket for electronic parts | |
| US4950981A (en) | Apparatus for testing a circuit board | |
| US20010033180A1 (en) | Test pin with removable head | |
| JPS58137773A (en) | Fixture used for circuit substrate test system | |
| JPS62162979A (en) | Individual air cylinder type universal fixture | |
| KR100266612B1 (en) | Probe for circuit test | |
| JPH0191261U (en) | ||
| JPH02295194A (en) | Pattern short inspection jig | |
| JPH0815361A (en) | Inspection method for printed wiring board | |
| JPH0432757Y2 (en) | ||
| JPS6111907Y2 (en) |