JPS5911860B2 - Ｘ線応力測定方法 - Google Patents
Ｘ線応力測定方法Info
- Publication number
- JPS5911860B2 JPS5911860B2 JP49055496A JP5549674A JPS5911860B2 JP S5911860 B2 JPS5911860 B2 JP S5911860B2 JP 49055496 A JP49055496 A JP 49055496A JP 5549674 A JP5549674 A JP 5549674A JP S5911860 B2 JPS5911860 B2 JP S5911860B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stress
- ray
- diffraction
- rays
- equation
- Prior art date
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- Expired
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
発明の利用分野
本発明は、白色Ｘ線を多結晶からなる試料面に入射し、
その回折Ｘ線のエネルギー分析を行うことにより応力を
測定する方法に係ク、特に無応力状態における格子定数
を知ることなく高精度に応力測定を行う方法に関する。
その回折Ｘ線のエネルギー分析を行うことにより応力を
測定する方法に係ク、特に無応力状態における格子定数
を知ることなく高精度に応力測定を行う方法に関する。
発明の背景
従来のＸ線応力測定装置は、第１図に示すように、特性
Ｘ線源、ソーラースリット２、試料３、ソーラースリッ
ト４、計数管５及び計数管走査機構６からなＶ）回折Ｘ
線の検出部が入射Ｘ線に対し試料面上のＸ線照射位置を
中心に回転走査できるように構成されている。
Ｘ線源、ソーラースリット２、試料３、ソーラースリッ
ト４、計数管５及び計数管走査機構６からなＶ）回折Ｘ
線の検出部が入射Ｘ線に対し試料面上のＸ線照射位置を
中心に回転走査できるように構成されている。
この回転走査により回折Ｘ線の回折角度一強度線図を得
、ピーク角度における回折角度（２θ）を求める。次い
でこのような操作を入射Ｘ線と試料法線のなす角Ψ。を
変えて行ない、ピーク強度における回折角度を比較して
応力を求めていた。このような従来の方法には次のよう
な欠点がある。Ｘ線検出器を回転走査させる為の機械的
走査が必要となるため測定時間の短縮には限度がある。
、ピーク角度における回折角度（２θ）を求める。次い
でこのような操作を入射Ｘ線と試料法線のなす角Ψ。を
変えて行ない、ピーク強度における回折角度を比較して
応力を求めていた。このような従来の方法には次のよう
な欠点がある。Ｘ線検出器を回転走査させる為の機械的
走査が必要となるため測定時間の短縮には限度がある。
（応力測定の為に約１時間程度を要する。）又機械的走
査範囲に亘つて十分な精度を確保するには、テイフラク
トメータ部分の剛性を高くしなければならないため、装
置が大型大重量となる。更に被測定物試料の材質、結晶
構造によつて適当な特性Ｘ線源を選択する必要があるが
、適当な特性Ｘ線管球が得られないため、測定困難な材
質、例えばオーステナイト系ステンレス鋼があつた。又
検出器感度の特性及び熱散乱因子の影響により高温時（
１００℃以上）の応力測定が困難である。ところで特性
Ｘ線応力測定法では、無応力状態における格子定数を正
確に知る必要があるが、一般に機械構造物は同一合金で
も組成により格子定数は変化するし、同一組成でも残留
応力が異なれば格子定数も変つてくるため正確な応力測
定ができない。発明の目的３０本発明の目的は、多結晶
からなる各種の金属及び合金材料に対し、Ｘ線測定器の
回転走査を不要とした簡単な装置にて、無応力状態の格
子定数を知ることなく短時間でかつ高精度に応力測定を
行う方法を提供することにある。
査範囲に亘つて十分な精度を確保するには、テイフラク
トメータ部分の剛性を高くしなければならないため、装
置が大型大重量となる。更に被測定物試料の材質、結晶
構造によつて適当な特性Ｘ線源を選択する必要があるが
、適当な特性Ｘ線管球が得られないため、測定困難な材
質、例えばオーステナイト系ステンレス鋼があつた。又
検出器感度の特性及び熱散乱因子の影響により高温時（
１００℃以上）の応力測定が困難である。ところで特性
Ｘ線応力測定法では、無応力状態における格子定数を正
確に知る必要があるが、一般に機械構造物は同一合金で
も組成により格子定数は変化するし、同一組成でも残留
応力が異なれば格子定数も変つてくるため正確な応力測
定ができない。発明の目的３０本発明の目的は、多結晶
からなる各種の金属及び合金材料に対し、Ｘ線測定器の
回転走査を不要とした簡単な装置にて、無応力状態の格
子定数を知ることなく短時間でかつ高精度に応力測定を
行う方法を提供することにある。
３５発明の概要
本発明の特徴とするところは、応力を測定すべき多結晶
の試料面に入射角一定の白色Ｘ線を照射（１），（２）
式より次式が求まる。
の試料面に入射角一定の白色Ｘ線を照射（１），（２）
式より次式が求まる。
試料表面では、平面応力状態とみなせるので弾性力学よ
り次式が成立する。
り次式が成立する。
σｘ：測定応力
Ｅ：ヤング率
ν：ボアソン比
εψＶ／：試料表面上の主応力方向よりψ角度傾いた面
内にて、試料表面法線に対しＦ角度傾いた回折格子面法
線方向のひずみ （ψ，ｒ１）方向のひずみεψＷ１は（３）式より得ら
れたＤＶ／１を用いると次のように表わせる。
内にて、試料表面法線に対しＦ角度傾いた回折格子面法
線方向のひずみ （ψ，ｒ１）方向のひずみεψＷ１は（３）式より得ら
れたＤＶ／１を用いると次のように表わせる。
ＤＯ＝無応力状態の格子面間隔伺このεψＦ，をＩＦｌ
が異なる場合につき２個所以上測定しても、（４）式中
の０６ψ７ が求まるの８ｒ．ピ一２Ｗで応力値σｘが
得られるが、このような方法では無応力状態に｝ける格
子定数が予めわかつている必要がある。
が異なる場合につき２個所以上測定しても、（４）式中
の０６ψ７ が求まるの８ｒ．ピ一２Ｗで応力値σｘが
得られるが、このような方法では無応力状態に｝ける格
子定数が予めわかつている必要がある。
そこで（３），（４），（５）式から次の（６）式が求
まる。
まる。
リ一学−―−Ｖｈ′４亀晶▲即ち、（３）式を微分する
と ―１１り［μＶ ひずみεはΔｄ／ＤＯとして表わされるので（５）式は
（３拭を代入して次の様に表すことが出来る。
と ―１１り［μＶ ひずみεはΔｄ／ＤＯとして表わされるので（５）式は
（３拭を代入して次の様に表すことが出来る。
よつて（４）式は（５）′を代入すると次の様に表され
る。上式は即ち（６）式である。
る。上式は即ち（６）式である。
向回折角度θ１とθ２が異なる場合は（３），（５）式
よりひずみεφＷ，，εφＷ２をそれぞれ求めれば、（
４）式よや応力σ、を算出できる。
よりひずみεφＷ，，εφＷ２をそれぞれ求めれば、（
４）式よや応力σ、を算出できる。
ところで高温時の場合、無応力状態の格子面間隔Ｄ。
或は格子定数ａのあらかじめ知られていない状態、ある
いは時間と共に温度が変化して格子面間隔ｄ或は格子定
数ａが変わる工うな場合があるため無応力状態での格子
面間隔Ｄ。が既知とみなした（６）式では応力を求める
ことは不十分である。肯、無応力状態の格子面間隔Ｄ。
は次の式によつて表わされる。上式において分子ａは無
応力状態の格子定数、分母はミラー定数であ９回折面の
位置を示す指標（Ｈ，ｋ，ｌ）に対応するものである。
いは時間と共に温度が変化して格子面間隔ｄ或は格子定
数ａが変わる工うな場合があるため無応力状態での格子
面間隔Ｄ。が既知とみなした（６）式では応力を求める
ことは不十分である。肯、無応力状態の格子面間隔Ｄ。
は次の式によつて表わされる。上式において分子ａは無
応力状態の格子定数、分母はミラー定数であ９回折面の
位置を示す指標（Ｈ，ｋ，ｌ）に対応するものである。
そこで、本発明に訃いては次のような応力測定方法を考
案した。
案した。
つまク、Ｅｎをある一定の入射角度にて試料面に照射さ
れた白色Ｘ線が、この試料面の法線と回折面法線とのな
す角度Ｗがそれぞれ異なる結晶からの複数の回折Ｘ線に
おける任意の１つの回折面でのピークエネルギー値の平
均値とする。
れた白色Ｘ線が、この試料面の法線と回折面法線とのな
す角度Ｗがそれぞれ異なる結晶からの複数の回折Ｘ線に
おける任意の１つの回折面でのピークエネルギー値の平
均値とする。
すなわち、Ｅｎｉ：ｉ番目に測定された結晶からの回折
Ｘ線の任意の回折面におけるピークエネルギー値 ｍ：測定回数（ｍ≧２） これは、第３図を用いて説明すると、この図では実線で
示したものが、ある結晶から回折した試料法線と回折面
法線とのなす角度がＷ１の場合の回折Ｘ線のエネルギー
を示すものと想定すると、３つの回折面１１０，２００
，２１１で夫々ピークエネルギーＥｎｌ，Ｅｎｌ′，Ｅ
Ｏｌｌが出ている状況を表わしている。
Ｘ線の任意の回折面におけるピークエネルギー値 ｍ：測定回数（ｍ≧２） これは、第３図を用いて説明すると、この図では実線で
示したものが、ある結晶から回折した試料法線と回折面
法線とのなす角度がＷ１の場合の回折Ｘ線のエネルギー
を示すものと想定すると、３つの回折面１１０，２００
，２１１で夫々ピークエネルギーＥｎｌ，Ｅｎｌ′，Ｅ
Ｏｌｌが出ている状況を表わしている。
そこで図に｝いてまず一点鎖線で示した所定の１つの回
折面１１０に卦ける回折Ｘ線のピークエネルギーＥＯｌ
榛１ｊ定し、次に同様の方法により破線で示される近接
した他の結晶から回折した試料法線と回折面法線とのな
す角度Ｗ２の場合に訃ける回折Ｘ線のエネルギーからＷ
１と同じ所定の回折面（一点鎖線で表した１１０回折面
）でのピークエネルギーＥｌ２を測定する。そして同様
な測定を測定が必要な回折面について複数の測定回数（
最低２回）行う。そうして例えばこの所定の１１０回折
面に｝けるピークエネルギーの平均値Ｅｎを（７）式に
基づいて算出すれば良いものである。次にＸ線のピーク
エネルギーの平均値ＥＯを用＊いて格子面間隔ｄ を（
３）式を用いて とおけばｄ＊は無応力状態の格子面間隔Ｄ。
折面１１０に卦ける回折Ｘ線のピークエネルギーＥＯｌ
榛１ｊ定し、次に同様の方法により破線で示される近接
した他の結晶から回折した試料法線と回折面法線とのな
す角度Ｗ２の場合に訃ける回折Ｘ線のエネルギーからＷ
１と同じ所定の回折面（一点鎖線で表した１１０回折面
）でのピークエネルギーＥｌ２を測定する。そして同様
な測定を測定が必要な回折面について複数の測定回数（
最低２回）行う。そうして例えばこの所定の１１０回折
面に｝けるピークエネルギーの平均値Ｅｎを（７）式に
基づいて算出すれば良いものである。次にＸ線のピーク
エネルギーの平均値ＥＯを用＊いて格子面間隔ｄ を（
３）式を用いて とおけばｄ＊は無応力状態の格子面間隔Ｄ。
との差違が無視出来る程小さいことがわかつているので
ｄ＊はＤ。と等しいと見なせる。即ち、応力が作用した
状態の結晶の歪量εは、格子面間隔の変化率δｄ／ｄに
対応するから、ε−δｄ−となる。
ｄ＊はＤ。と等しいと見なせる。即ち、応力が作用した
状態の結晶の歪量εは、格子面間隔の変化率δｄ／ｄに
対応するから、ε−δｄ−となる。
また炭素鋼では、応力σＸ二１０Ｋｇｄ／Ｍｎ２、ヤン
グ率Ｅ＝２１０００ｋ９ｆ／ＭＴｌＬ２であり、σ、＝
Ｅεの関係があるから、ε二Ｖ＝７占％６−：０．００
０５ところで格子面間隔の変化率δｄ／ｄは Ｉｄ本一ＤＯＩａ不 ０ｄ に等しいことから、一＝１一 Ｄ６ｄｌｄＶ ）ｄ＊はＤ。
グ率Ｅ＝２１０００ｋ９ｆ／ＭＴｌＬ２であり、σ、＝
Ｅεの関係があるから、ε二Ｖ＝７占％６−：０．００
０５ところで格子面間隔の変化率δｄ／ｄは Ｉｄ本一ＤＯＩａ不 ０ｄ に等しいことから、一＝１一 Ｄ６ｄｌｄＶ ）ｄ＊はＤ。
と等しいと見なせる。また、このことは回折Ｘ線のエネ
ルギーピーク値に関して見ても妥当と云える。
ルギーピーク値に関して見ても妥当と云える。
つま９上記と同様に炭素鋼を例にとつて説明すると、応
力σ。＝１０ｋｇ／Ｍｌ２、ヤング率Ｅ＝２１０００ｋ
ｇｆノＩ２、ポアソン比ν＝０．３とし回折角θ＝３Ｃ
ｆ）で回折面が１１０面を測面するとすればここで格子
定数ａ＝２．８６６４、ミラー指数ｈ＝，ｋ＝１，２＝
０であるので、今Ｖ＝０１，４５′の２点なる角度をと
つた場合、上式は次の如く簡単になる。
力σ。＝１０ｋｇ／Ｍｌ２、ヤング率Ｅ＝２１０００ｋ
ｇｆノＩ２、ポアソン比ν＝０．３とし回折角θ＝３Ｃ
ｆ）で回折面が１１０面を測面するとすればここで格子
定数ａ＝２．８６６４、ミラー指数ｈ＝，ｋ＝１，２＝
０であるので、今Ｖ＝０１，４５′の２点なる角度をと
つた場合、上式は次の如く簡単になる。
＝−１．８９×１０−３（ＫｅＶ）
従つて１１０面の回折Ｘ線のエネルギーピーク値ＥＯ＝
６．１１７ＫｅＶに対してピークのずれは僅かに１．８
９×１０−３ＫｅＶであるので、ＥｎとしてＶ７′を種
々変えて応力測定したときのピーク値Ｅｎｉの平均値で
σ、を求めても誤差は極めて小さいことになる。
６．１１７ＫｅＶに対してピークのずれは僅かに１．８
９×１０−３ＫｅＶであるので、ＥｎとしてＶ７′を種
々変えて応力測定したときのピーク値Ｅｎｉの平均値で
σ、を求めても誤差は極めて小さいことになる。
よつてす＊＝１とおいて計算して０ｄ０も差しつかえな
い。
い。
上記の説明から理解出来るように、？＝１にゝ ｄよつ
て前述の（支）〃式はＤ。
て前述の（支）〃式はＤ。
―？？拮Ｉ２：諷わせる。従つて（６）式は次の様に表
わすことが出来る。―暉ｒ１−一１１五ＶυＪ！ｌ具１
上記（８）式が本発明になる白色Ｘ線応力測定法の基礎
式である。
わすことが出来る。―暉ｒ１−一１１五ＶυＪ！ｌ具１
上記（８）式が本発明になる白色Ｘ線応力測定法の基礎
式である。
（８）式かられかるように少なくともＷ角を変えて２箇
所以上（例えばＷ，，Ｗ２）で測定すれば、回折Ｘ線の
所定の回折面からのピークエネルギーの平均値Ｅｎは簡
単に測定出来、しかもヤング率Ｅ及びポアソン比νは材
料により定まる値であることから、前記諸測定値に基づ
き（８）式を用いて、正確な応力σｘを簡単に求めるこ
とができる。以下本発明の好適な一実施例について説明
する。
所以上（例えばＷ，，Ｗ２）で測定すれば、回折Ｘ線の
所定の回折面からのピークエネルギーの平均値Ｅｎは簡
単に測定出来、しかもヤング率Ｅ及びポアソン比νは材
料により定まる値であることから、前記諸測定値に基づ
き（８）式を用いて、正確な応力σｘを簡単に求めるこ
とができる。以下本発明の好適な一実施例について説明
する。
第４図は本発明を適用した白色Ｘ線応力測定装置の一実
施例で、第５図はその構造部分の詳細図である。白色Ｘ
線管４２よジ出た白色Ｘ線は多結晶からなる試＠４１の
結晶にて回折され、回折Ｘ線のＸ線エネルギーが２台の
検出器４６により検出され、増幅器３０によつて増幅後
、波高分析器３１（マルチチヤンネル型）にてエネルギ
ー選別を行なつて、整形用増幅器３２からＡ−Ｄ変換器
３３、解栢涜ｕ御装置３４を経て、計算機３５に工り記
憶される。伺（８）式の演算は解析制御装置３４にて行
なわれる。処理されたデータは、デイジタルプリンタ一
３６、ＸＹプロツタ３７、モニターテレビ３８に表示さ
れる工うになつている。
施例で、第５図はその構造部分の詳細図である。白色Ｘ
線管４２よジ出た白色Ｘ線は多結晶からなる試＠４１の
結晶にて回折され、回折Ｘ線のＸ線エネルギーが２台の
検出器４６により検出され、増幅器３０によつて増幅後
、波高分析器３１（マルチチヤンネル型）にてエネルギ
ー選別を行なつて、整形用増幅器３２からＡ−Ｄ変換器
３３、解栢涜ｕ御装置３４を経て、計算機３５に工り記
憶される。伺（８）式の演算は解析制御装置３４にて行
なわれる。処理されたデータは、デイジタルプリンタ一
３６、ＸＹプロツタ３７、モニターテレビ３８に表示さ
れる工うになつている。
試料法線０Ｐより傾いた位置（本装置では回折角θの余
角ηだけ傾いた位置）に白色Ｘ線管４２及びソーラース
リツト４３を設定しており、これをはさんで入射Ｘ線に
対し試料表面のＸ線照射位置を中心にして夫々２ηなる
角度位置にソーラースリツト４５、検出器４６が管球検
出器円弧支持体４７に夫々設定されている。
角ηだけ傾いた位置）に白色Ｘ線管４２及びソーラース
リツト４３を設定しており、これをはさんで入射Ｘ線に
対し試料表面のＸ線照射位置を中心にして夫々２ηなる
角度位置にソーラースリツト４５、検出器４６が管球検
出器円弧支持体４７に夫々設定されている。
なお管球４２はこの円弧支持体４７（これはＸ線照射位
置を中心とした円弧体である）上、上記の角度関係を保
つて移動できる。４８は、Ｘ線照射位置決めを行うため
の治具を保持するための部材である。
置を中心とした円弧体である）上、上記の角度関係を保
つて移動できる。４８は、Ｘ線照射位置決めを行うため
の治具を保持するための部材である。
前記両Ｘ線検出器４６は半導体検出器であるため液化窒
素温度にて冷却しておく必要がある。
素温度にて冷却しておく必要がある。
このための冷却液タンク（ボンベ）４９、冷却用真空管
に封入された冷却熱伝達棒５０を経て検出器４６が冷却
される。被測定物の幾何学的条件によジセツテイング角
度を変更させる必要の生じた際は管球位置を変えると共
にソーラースリツト調節器５１により検出回折角を変え
る。管球検出器設定円弧支持体４７は球形継手５２に支
持され、冷却用窒素容器４９も球形継手上に設置され自
由に測定点、方向が設定できる。球形継手５２は測定ヘ
ツド支持体５３に結合され支持体５４を介してヘツド支
柱５５により支持されている。支持体５３と５４の間及
び支持体５４と支柱５５の間にラツク、ピニオン機構を
採用すれば、夫々水平方向及び垂直方向の微動調節が可
能となる。Ｘ線管４２は高圧ケーブル４４を経て高圧ト
ランスに接続されている。Ｘ線検出器にて検出された信
号は前述した第４図の装置によりエネルギー選別され解
析される。検出器を２台用いたことにより８式を用いて
約１０分程度の短時間にて応力測定乃至連続応力測定が
可能である。以上の実施例では、白色Ｘ線管１個、検出
器２個の組合せについて説明したが、さらに多くの検出
器を用いることにより任意の方向の応力が同時に測定で
きる。
に封入された冷却熱伝達棒５０を経て検出器４６が冷却
される。被測定物の幾何学的条件によジセツテイング角
度を変更させる必要の生じた際は管球位置を変えると共
にソーラースリツト調節器５１により検出回折角を変え
る。管球検出器設定円弧支持体４７は球形継手５２に支
持され、冷却用窒素容器４９も球形継手上に設置され自
由に測定点、方向が設定できる。球形継手５２は測定ヘ
ツド支持体５３に結合され支持体５４を介してヘツド支
柱５５により支持されている。支持体５３と５４の間及
び支持体５４と支柱５５の間にラツク、ピニオン機構を
採用すれば、夫々水平方向及び垂直方向の微動調節が可
能となる。Ｘ線管４２は高圧ケーブル４４を経て高圧ト
ランスに接続されている。Ｘ線検出器にて検出された信
号は前述した第４図の装置によりエネルギー選別され解
析される。検出器を２台用いたことにより８式を用いて
約１０分程度の短時間にて応力測定乃至連続応力測定が
可能である。以上の実施例では、白色Ｘ線管１個、検出
器２個の組合せについて説明したが、さらに多くの検出
器を用いることにより任意の方向の応力が同時に測定で
きる。
周、白色Ｘ線応力測定の基本となる（８）式から明らか
なように応力σ、はヤング率Ｅ１ポアソン比νの関数で
あるが、これは温度の関数であるので測定温度に｝ける
ヤング率Ｅ１ポアソン比νを用いるようにすれば更に正
確な応力値を求めることができる。
なように応力σ、はヤング率Ｅ１ポアソン比νの関数で
あるが、これは温度の関数であるので測定温度に｝ける
ヤング率Ｅ１ポアソン比νを用いるようにすれば更に正
確な応力値を求めることができる。
発明の効果
以上詳述したように、本発明によれば、簡単な装置にて
無応力状態における格子定数がわからなくても短時間で
かつ高精度に材料の応力を測定できるという優れた効果
がある。
無応力状態における格子定数がわからなくても短時間で
かつ高精度に材料の応力を測定できるという優れた効果
がある。
第１図は従来のＸ線応力測定装置の原理図、第２図は本
発明を適用したＸ線応力測定装置の原理図、第３図は本
発明を適用したＸ線応力測定装置により測定したＸ線強
度一エネルギ一線図、第４図は本発明のＸ線応力測定装
置の一実施例を示す図、第５図は本発明の一実施例であ
るＸ線応力測定装置を示す部分構造図である。 １３・・伯色Ｘ線管、１５・・・試料、１７，１９・・
・検出器、２２，２３・・・回折Ｘ線、Ｅｎ・・・ピー
クエネルギー値、Ｅｎ・・・ピークエネルギー値の平均
値、ν・・・ポアソン比、Ｅ・・・ヤング率、Ｗ・・・
試料法線と回折面法線のなす角。
発明を適用したＸ線応力測定装置の原理図、第３図は本
発明を適用したＸ線応力測定装置により測定したＸ線強
度一エネルギ一線図、第４図は本発明のＸ線応力測定装
置の一実施例を示す図、第５図は本発明の一実施例であ
るＸ線応力測定装置を示す部分構造図である。 １３・・伯色Ｘ線管、１５・・・試料、１７，１９・・
・検出器、２２，２３・・・回折Ｘ線、Ｅｎ・・・ピー
クエネルギー値、Ｅｎ・・・ピークエネルギー値の平均
値、ν・・・ポアソン比、Ｅ・・・ヤング率、Ｗ・・・
試料法線と回折面法線のなす角。
Claims (1)
- １ 応力を測定すべき多結晶からなる試料面に入射角一
定の白色Ｘ線を照射し、該試料面の法線と回折面法線と
のなす角が異なる結晶面からの複数の回折Ｘ線をそれぞ
れ検出し、これら各回折Ｘ線の検出値における任意の１
つの回折面でのピークエネルギーの平均値を求め、前記
ピークエネルギーの平均値を用いて無応力状態の格子定
数を知ることなく応力を求めることを特徴とする白色Ｘ
線応力測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP49055496A JPS5911860B2 (ja) | 1974-05-20 | 1974-05-20 | Ｘ線応力測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP49055496A JPS5911860B2 (ja) | 1974-05-20 | 1974-05-20 | Ｘ線応力測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS50147983A JPS50147983A (ja) | 1975-11-27 |
| JPS5911860B2 true JPS5911860B2 (ja) | 1984-03-19 |
Family
ID=13000235
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP49055496A Expired JPS5911860B2 (ja) | 1974-05-20 | 1974-05-20 | Ｘ線応力測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5911860B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6815933B2 (ja) | 2017-05-31 | 2021-01-20 | 株式会社神戸製鋼所 | 応力測定方法 |
| JP6776181B2 (ja) * | 2017-05-31 | 2020-10-28 | 株式会社神戸製鋼所 | 応力測定方法 |
| DE102017223228B3 (de) | 2017-12-19 | 2018-12-27 | Bruker Axs Gmbh | Aufbau zur ortsaufgelösten Messung mit einem wellenlängendispersiven Röntgenspektrometer |
-
1974
- 1974-05-20 JP JP49055496A patent/JPS5911860B2/ja not_active Expired
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| SCIENCE#N3818=1968 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS50147983A (ja) | 1975-11-27 |
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