JPS59111079A - プラズマ測定装置 - Google Patents
プラズマ測定装置Info
- Publication number
- JPS59111079A JPS59111079A JP57221540A JP22154082A JPS59111079A JP S59111079 A JPS59111079 A JP S59111079A JP 57221540 A JP57221540 A JP 57221540A JP 22154082 A JP22154082 A JP 22154082A JP S59111079 A JPS59111079 A JP S59111079A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plasma
- ray
- detectors
- image forming
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/0006—Investigating plasma, e.g. measuring the degree of ionisation or the electron temperature
- H05H1/0012—Investigating plasma, e.g. measuring the degree of ionisation or the electron temperature using electromagnetic or particle radiation, e.g. interferometry
- H05H1/005—Investigating plasma, e.g. measuring the degree of ionisation or the electron temperature using electromagnetic or particle radiation, e.g. interferometry by using X-rays or alpha rays
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は核融合装置のプラズマを測定する装置に関する
。
。
一般に核融合装置は真空容器内にプラズマを形成してこ
のプラズマ中で核融合反応をおこなうように構成されて
いる。ところで、上記プラズマには種々の不安定性がち
シ、このプラズマの形状が変形してその一部が真空容器
の内面に接触し、プラズマが急激に減少するいわゆるデ
ィスラプションが発生する。そして、このディスラプシ
ョンが発生するとプラズマが消滅して核融合反応が停止
するばかシでなく、真空容器やプラズマ封じ込め用の磁
石を損傷する等の不具合があった。このような不具合を
防止するにはプラズマの状態を常に把握し、プラズマを
正確に制御することが必要となるが、従来このプラズマ
の形状等を総合的に把握する適当な装置がなく、プラズ
マ全体の形状等を正確に把握することができなかった。
のプラズマ中で核融合反応をおこなうように構成されて
いる。ところで、上記プラズマには種々の不安定性がち
シ、このプラズマの形状が変形してその一部が真空容器
の内面に接触し、プラズマが急激に減少するいわゆるデ
ィスラプションが発生する。そして、このディスラプシ
ョンが発生するとプラズマが消滅して核融合反応が停止
するばかシでなく、真空容器やプラズマ封じ込め用の磁
石を損傷する等の不具合があった。このような不具合を
防止するにはプラズマの状態を常に把握し、プラズマを
正確に制御することが必要となるが、従来このプラズマ
の形状等を総合的に把握する適当な装置がなく、プラズ
マ全体の形状等を正確に把握することができなかった。
本発明は以上の事情にもとづいてなされたもので、その
目的とするところはプラズマ全体の形状等を把握するこ
とができるプラズマ測定装置を得ることにある。
目的とするところはプラズマ全体の形状等を把握するこ
とができるプラズマ測定装置を得ることにある。
以下本発明を図面に示す一実施例にしたがって説明する
。図中１は核融合装置の真空容器であって、この真空容
器１内にはプラズマ２が形成されるように構成されてい
る。そして、この真空容器１の一部には計測ポート３が
形成され、この計測ポート３に続いて真空箱４が設けら
れている。そして、この計測ポート３および真空箱４内
は前記真空容器１内と同様に高真空に排気されている。
。図中１は核融合装置の真空容器であって、この真空容
器１内にはプラズマ２が形成されるように構成されてい
る。そして、この真空容器１の一部には計測ポート３が
形成され、この計測ポート３に続いて真空箱４が設けら
れている。そして、この計測ポート３および真空箱４内
は前記真空容器１内と同様に高真空に排気されている。
そして、上記計測ポート３内にはＸ線結像機構Ａが設け
られている。このＸ線結像機構ＪはたとえばＸ線不透過
性材料からなる遮蔽板６にピンホールすなわち小孔７を
形成したものである。そして、上記真空容器１内に形成
されるプラズマ２の各部から放射されたＸ線はこの小孔
７を通って真空箱４の後壁８の内面にプラズマ４全体の
像を結像するように構成されている。なお、この真空箱
４の後壁８は上記小孔７を中心とする球面状をなしてい
る。そシテ、この後壁８の内面すなわちプラズマ２のＸ
線像の結像面に沿って多数のＸ線検出器９ ａ。
られている。このＸ線結像機構ＪはたとえばＸ線不透過
性材料からなる遮蔽板６にピンホールすなわち小孔７を
形成したものである。そして、上記真空容器１内に形成
されるプラズマ２の各部から放射されたＸ線はこの小孔
７を通って真空箱４の後壁８の内面にプラズマ４全体の
像を結像するように構成されている。なお、この真空箱
４の後壁８は上記小孔７を中心とする球面状をなしてい
る。そシテ、この後壁８の内面すなわちプラズマ２のＸ
線像の結像面に沿って多数のＸ線検出器９ ａ。
９ｂｐ９ｃ・・・９ｎが配列されている。これら放射線
検出器９ａ、９ｂ、９ｃ・・・９ｎはＰＩＮフォトダイ
オード等を用いたもので、Ｘ線を電気信号に変換し、ま
たその時間応答性がμｓｅｃ以下のものである。そして
、これらＸ線検出器９ａ、９ｂ１９ｃ・・・９ｎからの
信号はそれぞれ増幅器１０ ａ。
検出器９ａ、９ｂ、９ｃ・・・９ｎはＰＩＮフォトダイ
オード等を用いたもので、Ｘ線を電気信号に変換し、ま
たその時間応答性がμｓｅｃ以下のものである。そして
、これらＸ線検出器９ａ、９ｂ１９ｃ・・・９ｎからの
信号はそれぞれ増幅器１０ ａ。
１０ ｂ ｐ １０ ｃ・・・１０ｎに送られ、その信
号を増幅し、さらにとれら増幅器１０ ａ ｐ １０
ｂ ｐｌｏｃ・・・１０ｎからの信号はアナログ・デジ
タル変換器１１ ａ 、 １ ｌ ｂ 、 １１ ｃ
−１Ｉ ｎ （以下Ａ／Ｄ変換器と称す）に送られ、羊
れぞれデジタル信号に変換される。なお、これらＡ／Ｄ
変換器１１ ｍ 、 １１ ｂ ｐ １１ ｃ −１Ｉ
ｎは精度が１２ビツト、変換時間が５μｓｅｃ以下の
ものが使用される。そして、これらめ変換器ｌ ｌ ａ
ｐ １ｌｂｐ１１ｃ・・・ｌｌｎでデジタル化された
信号はそれぞれパックアメモリ１２を介して信号処理回
路１３に送られる。この信号処理回路１３は上記Ｘ線検
出器９ ａ ＋ ９ ｂ ｐ ９ ｃ・・・９ｎからの
信号にもとづいてプラズマ２の断面形状等を求め、これ
をＣＲＴ等の表示器１４に表示するように構成されてい
る。
号を増幅し、さらにとれら増幅器１０ ａ ｐ １０
ｂ ｐｌｏｃ・・・１０ｎからの信号はアナログ・デジ
タル変換器１１ ａ 、 １ ｌ ｂ 、 １１ ｃ
−１Ｉ ｎ （以下Ａ／Ｄ変換器と称す）に送られ、羊
れぞれデジタル信号に変換される。なお、これらＡ／Ｄ
変換器１１ ｍ 、 １１ ｂ ｐ １１ ｃ −１Ｉ
ｎは精度が１２ビツト、変換時間が５μｓｅｃ以下の
ものが使用される。そして、これらめ変換器ｌ ｌ ａ
ｐ １ｌｂｐ１１ｃ・・・ｌｌｎでデジタル化された
信号はそれぞれパックアメモリ１２を介して信号処理回
路１３に送られる。この信号処理回路１３は上記Ｘ線検
出器９ ａ ＋ ９ ｂ ｐ ９ ｃ・・・９ｎからの
信号にもとづいてプラズマ２の断面形状等を求め、これ
をＣＲＴ等の表示器１４に表示するように構成されてい
る。
以上の如く構成された本発明の一実施例は真空容器１内
のプラズマ２から放射されたＸ線はＸ線結像機構互の小
孔７を通って結像され、このＸ線の像はＸ線検出器９
＆ １９ ｂ 、 ９．ｃ−９ｎで検出され、信号処理
回路１３で処理されてプラズマ２の形状等が求められる
。この場合、プラズマ２から放射されるＸ線はプラズマ
２中全透過するので、このプラズマ２内部で発生したＸ
線も外部に放射される。よって、たとえばＸ線検出器９
ａで検出するＸ線はプラズマ２中の（Ｌａ）の部分から
放射されたＸ線、Ｘ線検出器９ｂで検出するＸ線はプラ
ズマ２の（Ｌｂ ）の部分で生じたＸ線量、Ｘ線検出器
９ｃで検出するＸ線はプラズマ２の（Ｌｃ ）の部分か
ら放射されるＸ線量。
のプラズマ２から放射されたＸ線はＸ線結像機構互の小
孔７を通って結像され、このＸ線の像はＸ線検出器９
＆ １９ ｂ 、 ９．ｃ−９ｎで検出され、信号処理
回路１３で処理されてプラズマ２の形状等が求められる
。この場合、プラズマ２から放射されるＸ線はプラズマ
２中全透過するので、このプラズマ２内部で発生したＸ
線も外部に放射される。よって、たとえばＸ線検出器９
ａで検出するＸ線はプラズマ２中の（Ｌａ）の部分から
放射されたＸ線、Ｘ線検出器９ｂで検出するＸ線はプラ
ズマ２の（Ｌｂ ）の部分で生じたＸ線量、Ｘ線検出器
９ｃで検出するＸ線はプラズマ２の（Ｌｃ ）の部分か
ら放射されるＸ線量。
Ｘ線検出器９ｎで検出するＸ線はプラズマ２の（Ｌｎ
）の部分で生じたＸ線量である。したがって、各Ｘ線検
出器９ａ、９ｂ、９ｃ・・・９ｎで受けるＸ線量はその
Ｘ線検出器９ａ、９ｂ、９ｃ・・・９ｎとＸ線結像機構
りの小孔７とを結んだ直線の延長線がプラズマ２を横切
る部分の長さであるので、各Ｘ線検出器９ ａ ｒ ９
ｂ 、 ９ ｃ −９ｎで検出するＸ線の強さからこ
のプラズマ２の断面形状を求めることができるものであ
る。また、プラズマ２は通常高速で回転しているので、
とのプラズマ２の回転速度や位相を磁気グローブで検出
してプラズマ２の回転位置を求めればどの位置からプラ
ズマを見た像であるかを判別でき、また少しずつ時間を
ずらしてプラズマ２の像を求めればプラズマ２を全方向
から測定することができる。なお、プラズマ２は上述の
如く高速回転しているため、１回の測定時間をあまシ長
くすると解像力が低下する不具合を生じるので、プラズ
マ２０回転周期をＴ、Ｘ線検出器９ａ。
）の部分で生じたＸ線量である。したがって、各Ｘ線検
出器９ａ、９ｂ、９ｃ・・・９ｎで受けるＸ線量はその
Ｘ線検出器９ａ、９ｂ、９ｃ・・・９ｎとＸ線結像機構
りの小孔７とを結んだ直線の延長線がプラズマ２を横切
る部分の長さであるので、各Ｘ線検出器９ ａ ｒ ９
ｂ 、 ９ ｃ −９ｎで検出するＸ線の強さからこ
のプラズマ２の断面形状を求めることができるものであ
る。また、プラズマ２は通常高速で回転しているので、
とのプラズマ２の回転速度や位相を磁気グローブで検出
してプラズマ２の回転位置を求めればどの位置からプラ
ズマを見た像であるかを判別でき、また少しずつ時間を
ずらしてプラズマ２の像を求めればプラズマ２を全方向
から測定することができる。なお、プラズマ２は上述の
如く高速回転しているため、１回の測定時間をあまシ長
くすると解像力が低下する不具合を生じるので、プラズ
マ２０回転周期をＴ、Ｘ線検出器９ａ。
９ｂ、９ｃ・・・９ｎの数をＮとしたとき、１回の測定
時間はＴハ以下であるととが好ましく、パソファメモリ
ではＴ／Ｎ以下の時間で信号を分割することが好ましい
。また、上記のＸ線結像機構玉は小孔７すなわちピンホ
ールを用いたものであるから構造が簡単であシ、またピ
ント等の調整も不要である。また、このＸ線結像機構互
およびＸ線検出器９ａ、９ｂ、９ｃ・・・９ｎは真空箱
４内に収容されているので、硬Ｘｉも減衰することなく
これらＸ線検出器９ａ、９ｂ、９ｃ・・・９ｎに達する
ので測定精度も向上する。
時間はＴハ以下であるととが好ましく、パソファメモリ
ではＴ／Ｎ以下の時間で信号を分割することが好ましい
。また、上記のＸ線結像機構玉は小孔７すなわちピンホ
ールを用いたものであるから構造が簡単であシ、またピ
ント等の調整も不要である。また、このＸ線結像機構互
およびＸ線検出器９ａ、９ｂ、９ｃ・・・９ｎは真空箱
４内に収容されているので、硬Ｘｉも減衰することなく
これらＸ線検出器９ａ、９ｂ、９ｃ・・・９ｎに達する
ので測定精度も向上する。
なお、本発明は上記の一実施例には限定されない。
たとえばＸ線結像機構は必らずしも上記の如きものに限
らず、たとえばＸ線不透過性の多数のリング部を同心状
に配置してＸ線を１点に集光するいわゆるフレネルゾー
ンプレート等ヲ用いたものでもよい。
らず、たとえばＸ線不透過性の多数のリング部を同心状
に配置してＸ線を１点に集光するいわゆるフレネルゾー
ンプレート等ヲ用いたものでもよい。
また、Ｘ＆９検出器等は必らずしも真空箱内に収容しな
くてもよい。
くてもよい。
さらに、各Ｘ線検出器からの信号にょシプラズマの断面
形状を求める手段は必らずしも上記のものに限らず超音
波断層撮影や透過性放射線による断層撮影で用いられて
いる方式たとえば「特開昭５０−４９９８８号公報」に
記載されている如き方式その他の方式を用いることもで
きる。
形状を求める手段は必らずしも上記のものに限らず超音
波断層撮影や透過性放射線による断層撮影で用いられて
いる方式たとえば「特開昭５０−４９９８８号公報」に
記載されている如き方式その他の方式を用いることもで
きる。
上述の如く本発明は内部にプラズマが形成される真空容
器の一部にＸ線結像機構を設け、このＸ線結像機構の結
像面に多数のＸ線検出器を設け、これらＸ線検出機構か
らの信号にもとづいてプラズマの形状を算出する信号処
理回路を設けたものである。したがって、プラズマの断
面形状その他プラズマ全体の形状”ｔａ合的に把握する
ことができ、プラズマを容易かつ正確に制御することが
できる等その効果は犬である。
器の一部にＸ線結像機構を設け、このＸ線結像機構の結
像面に多数のＸ線検出器を設け、これらＸ線検出機構か
らの信号にもとづいてプラズマの形状を算出する信号処
理回路を設けたものである。したがって、プラズマの断
面形状その他プラズマ全体の形状”ｔａ合的に把握する
ことができ、プラズマを容易かつ正確に制御することが
できる等その効果は犬である。
図面は本発明の一実施例の概略構成図である。
１・・・真空容器、２・・・プラズマ、３・・・計測ポ
ート、４・・・真空箱、王・・・Ｘ線結像機構、６・・
・遮蔽板、７・・・小孔、９ａ、９ｂ Ｆ ９ｃｍ９ｎ
＝・Ｘ線検出器、１３・・・信号処理回路。
ート、４・・・真空箱、王・・・Ｘ線結像機構、６・・
・遮蔽板、７・・・小孔、９ａ、９ｂ Ｆ ９ｃｍ９ｎ
＝・Ｘ線検出器、１３・・・信号処理回路。
Claims (3)
- （１） 内部にプラズマを形成する真空容器の一部に
設けられ上記プラズマから放射されるＸ線の像を形成す
るＸ線結像機構と、このＸ線結像機構の結像面に沿って
配列された多数のＸ線検出器と、これらＸ線検出器から
の信号を受は上記プラズマの形状を算出する信号処理回
路とを具備したことを特徴とするプラズマ測定装置。 - （２）前記Ｘ線結像桟構はＸ線不透過性材料で形成され
た遮蔽部材に形成された小孔を備えたものであることを
特徴とする特許 囲第１項記載のプラズマ測定装置。 - （３）前記Ｘ線結像機構および前記Ｘ線検出器は内部が
真空に排気された真空箱内に収容されていることを特徴
とする前記特許請求の範囲第１項記載のプラズマ測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57221540A JPS59111079A (ja) | 1982-12-17 | 1982-12-17 | プラズマ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57221540A JPS59111079A (ja) | 1982-12-17 | 1982-12-17 | プラズマ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59111079A true JPS59111079A (ja) | 1984-06-27 |
Family
ID=16768315
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57221540A Pending JPS59111079A (ja) | 1982-12-17 | 1982-12-17 | プラズマ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59111079A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04303599A (ja) * | 1991-03-29 | 1992-10-27 | Shibaura Eng Works Co Ltd | プラズマの診断方法 |
| JP2007136044A (ja) * | 2005-11-22 | 2007-06-07 | Fujinon Corp | 内視鏡の処置具起立装置 |
| KR20150060383A (ko) * | 2013-11-26 | 2015-06-03 | 한국전기연구원 | Ｘ―ｒａｙ 다중에너지 필터를 이용한 플라즈마 이온 분포 측정 방법 및 그 시스템 |
-
1982
- 1982-12-17 JP JP57221540A patent/JPS59111079A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04303599A (ja) * | 1991-03-29 | 1992-10-27 | Shibaura Eng Works Co Ltd | プラズマの診断方法 |
| JP2007136044A (ja) * | 2005-11-22 | 2007-06-07 | Fujinon Corp | 内視鏡の処置具起立装置 |
| KR20150060383A (ko) * | 2013-11-26 | 2015-06-03 | 한국전기연구원 | Ｘ―ｒａｙ 다중에너지 필터를 이용한 플라즈마 이온 분포 측정 방법 및 그 시스템 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20080075227A1 (en) | Coordinate Measuring Apparatus And Method For Measuring An Object | |
| US5394453A (en) | Device for measuring the pulse transfer spectrum of elastically scattered X-ray quanta | |
| WO2001001167A2 (en) | High resolution imaging system for detecting photons | |
| CN101023322A (zh) | 用于测量对象的坐标测量仪和方法 | |
| US6080989A (en) | Apparatus and methods for detecting and/or imaging gamma radiation | |
| JPS59111079A (ja) | プラズマ測定装置 | |
| JPS61162783A (ja) | 放射能源の遠隔位置測定装置 | |
| Hanson et al. | Measurement of radiation symmetry in Z-pinch-driven hohlraums | |
| Franz et al. | High resolution soft x-ray tomography in the Madison Symmetric Torus | |
| US4881251A (en) | Computed tomograph apparatus | |
| Darrow et al. | Enhancements to the Compact Helical System fast ion loss probe | |
| JPH09510773A (ja) | 放射源の画像化又は測定装置とその方法 | |
| RU2164081C2 (ru) | Устройство для малоугловой рентгеновской томографии | |
| GB1603593A (en) | Device for computed tomography | |
| JP4157945B2 (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| JPH03246862A (ja) | 電子顕微鏡等のｘ線分析装置 | |
| JPS6173083A (ja) | 時経過陽電子放射カメラによる放射線検出方法及びその実施に使用するカメラ | |
| JP2019045404A (ja) | 非破壊分析装置 | |
| SU432439A1 (ru) | Способ абсолютной калибровки нейтроннб1х спектрометров по времени пролета частиц | |
| JPS61235782A (ja) | エミツシヨンｃｔ装置 | |
| JP2004170125A (ja) | 放射線測定装置 | |
| JPH01316683A (ja) | Ｘ線検出装置 | |
| GB1539685A (en) | Tomography scanning | |
| JPS5940278B2 (ja) | 放射線望遠鏡 | |
| JPS60105982A (ja) | ポジトロンカメラ |