JPS59107479A - Bubble memory device - Google Patents

Bubble memory device

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Publication number
JPS59107479A
JPS59107479A JP57216126A JP21612682A JPS59107479A JP S59107479 A JPS59107479 A JP S59107479A JP 57216126 A JP57216126 A JP 57216126A JP 21612682 A JP21612682 A JP 21612682A JP S59107479 A JPS59107479 A JP S59107479A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
data
memory device
reading
bubble memory
Prior art date
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Pending
Application number
JP57216126A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinji Kamei
亀井 新史
Otokichi Suzuki
鈴木 乙吉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
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Filing date
Publication date
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Priority to JP57216126A priority Critical patent/JPS59107479A/en
Publication of JPS59107479A publication Critical patent/JPS59107479A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/02Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
    • G11C11/14Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using thin-film elements

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent the breakdown or errors of data due to an operation mistake by checking a temporary memory circuit before data reading/writing and reading out an index mark page to store the read-out position in a control circuit for reading/writing if the temporary memory circuit is set at the setting side (instantaneous stop). CONSTITUTION:A temporary memory circuit 15 is checked before writing and reading data. If the circuit 15 is set at the resetting side (correct index position is stored in a control circuit 13), the data is directly read and written with a command of the memory 13. While the index page in a bubble memory device 10 is read by an index mark reading circuit 11 if the circuit 15 is set at the setting side (instantaneous stop). The position of the index page is stored in the circuit 13, and then the data is read and written. As a result, it is not needed to produce a program or to perform the operator working due to an instantaneous stop. This prevents the breakdown or errors of data owing to an operation mistake.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、小形計算(幾の補助メモリ、漢字パターンメ
モリ、画像処理メモリ、端末機器ローブ、NC用プログ
ラムメモリ等に用いるのに適したバブルメモリ装置に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a bubble memory device suitable for use in small calculations (auxiliary memory for numbers, kanji pattern memory, image processing memory, terminal device lobe, program memory for NC, etc.).

バフルメモリデバイスは、磁性単結晶の薄膜に、膜面に
垂直なバイアス磁界を与えて円柱状の磁区(バブルと呼
ばれる)を作り、このバブルのf無を2進情報の“1 
++ 、 it Ot+に対応させたメモリデバイスで
ある。前記薄膜上にパーマロイパターンを置き、膜面に
平行な磁界を印加するとパーマロイパターンが磁化し、
バブルを吸引又は反発させる。
Baffle memory devices create cylindrical magnetic domains (called bubbles) in a magnetic single crystal thin film by applying a bias magnetic field perpendicular to the film surface.
It is a memory device compatible with ++ and it Ot+. When a permalloy pattern is placed on the thin film and a magnetic field parallel to the film surface is applied, the permalloy pattern becomes magnetized.
Attract or repel bubbles.

この平行磁界を回転させるとパーマロイパターンの磁極
の位置か順次移動し、バフルを転送することができる。
When this parallel magnetic field is rotated, the positions of the magnetic poles of the permalloy pattern are sequentially moved, and the baffle can be transferred.

この回転する平行磁界は直又コイルに電流を流して発生
させる。通常、バイアス磁界用には永久磁石を使用する
ので不揮発性メモリとすることがで与る。
This rotating parallel magnetic field is generated by passing current through a straight coil. Normally, a permanent magnet is used for the bias magnetic field, so it is advantageous to use a non-volatile memory.

さて、メジャーライン・マイナーループ構成のバブルメ
モリデバイスは、第1図の如く、データ記憶用のマイナ
ーループ1と、データを読出すための読出し用メジャー
ライン2と、データを書込むための書込み用メジャーラ
イン3と、読出しのための検出器4と、書込みのための
バブル発生器5とをもっている。マイナーループ1はメ
ジャーライン2,3に対して並列に多数配置されている
Now, as shown in Figure 1, a bubble memory device with a major line/minor loop configuration has a minor loop 1 for storing data, a major line 2 for reading data, and a writing line 2 for writing data. It has a measuring line 3, a detector 4 for reading, and a bubble generator 5 for writing. A large number of minor loops 1 are arranged in parallel to major lines 2 and 3.

データの読出し及び書込み方法については色々な方法が
あるか、ここではスワップ・リプリケート方式(書込み
はバブルの交換で、読出しはバブルの複製で行なう方式
)のバブルメモリデバイスについて説明する。
There are various methods for reading and writing data.Here, we will explain a bubble memory device using a swap/replicate method (writing is performed by exchanging bubbles, and reading is performed by duplicating bubbles).

読出しの場合は、各マイナーループ1」二のリプリケー
ト位置にあるバブルをいっせいに読出し用メジャーライ
ン2上に複製転送する。もとのバフルはそのままマイナ
ーループ1上にのこる。書込みの場合1工、書込み用メ
ジャーライン3上のバブルとマイナーループ上のスワッ
プ位置にあるバブルとをいっせいに交換する。
In the case of reading, the bubbles located at the replicate position of each minor loop 1''2 are duplicated and transferred onto the reading major line 2 all at once. The original baffle remains on the minor loop 1 as it is. In the case of writing, the bubble on the major line 3 for writing and the bubble at the swap position on the minor loop are exchanged all at once.

従って、各マイナーループ1上の並列方向に同一位置に
あるバブル発生器の動作で読み書トされるデータ群とな
る。このデータ群をページと呼ぶ・。
Therefore, a data group is read and written by the operation of the bubble generators located at the same position in the parallel direction on each minor loop 1. This data group is called a page.

そのページを意味のあるデータとして扱うためには、そ
のページ゛がマイナーループ上のどこに位置するのかを
認識する必要がある。通常は、第2図の如く、各マイナ
ーループ1」二にインデックスマークページIPを作成
し、その位置を基準にして、そこから左回り(バブルの
回転方向と同し)に各ページIP〜(M−1)Pと番号
1月すをしている。
In order to treat the page as meaningful data, it is necessary to recognize where the page is located on the minor loop. Normally, as shown in Figure 2, an index mark page IP is created in each minor loop 1''2, and from there, each page IP ~ ( M-1) P and number January.

従って、バフルメモリデバイスにデータを読み書きする
前(こ、まずそのインデックスマークページIPをさが
し出し、その位置をデータの読出し及び書込みを指令す
る制御回路内に記・隨する。そして、その設定したイン
デックスマークページIPの位置を基準にしてバブルメ
モリデバイスを磁気的に回転させ、データの読み書きを
行っている。
Therefore, before reading or writing data to the baffle memory device (first, the index mark page IP is found, its position is recorded in the control circuit that commands data reading and writing, and the set index The bubble memory device is magnetically rotated based on the position of the mark page IP to read and write data.

ところで、データ読み書と時に瞬停(瞬間的な停電)に
よりバブルメモリデバイスの回転磁界発生用駆動電圧が
低下すると、指令通りの回転ができないことがある。ま
た、制御回路に供給している電圧が低下してインデック
スマークページIPの位置の記憶を破壊してしまうこと
かある。そうなると、制御回路で管理しているインデッ
クスマークページ゛IPの現在位置と、バブルメモリデ
バイス内のインデックスマークページ゛IPの現在位置
とが一致しなくなってしまう。すると、制御回路が指定
したバブルメモリデバイス内の番地(ページ)を読み書
きしようとしても、バブルメモリデバイス内では指令と
は異なった番地に対して読み書きをしてしまうことにな
り、データの破壊、又は読み取りエラーとなってしまう
By the way, if the drive voltage for generating the rotating magnetic field of the bubble memory device decreases due to instantaneous power failure during reading or writing of data, the bubble memory device may not be able to rotate as instructed. Furthermore, the voltage supplied to the control circuit may drop, which may destroy the memory of the position of the index mark page IP. In this case, the current position of the index mark page IP managed by the control circuit and the current position of the index mark page IP in the bubble memory device will no longer match. Then, even if the control circuit tries to read or write an address (page) in the bubble memory device specified by the control circuit, the data will be read or written to a different address than the one specified in the bubble memory device, resulting in data destruction or A reading error will occur.

従って、制御回路で管理しているインデックスマークペ
ージ゛位置とバフルメモリデバイ入内のインデックスマ
ークページ位置とを一致させるために、もう一度バプル
メモリデバイス内のインデックスマークページをさがし
出すことか必要となってくる。
Therefore, in order to match the index mark page position managed by the control circuit with the index mark page position in the buffer memory device, it is necessary to search for the index mark page in the bubble memory device again. .

今までは、電圧監視回路を倫け、前記バブルメモリデバ
イスの回転磁界発生用駆動電圧及び制御回路への供給電
圧が瞬停状態になるとオペレータに知らせていた。オペ
レータはデ゛−夕の読み書きを行なう前にインデックス
マークページを読み出してその位置を制御回路に記憶し
なおす命令をその都度性なうか、あるいはそのような時
にはインデックスマークを読み出して制御回路に記憶し
なおすように予めプログラムしておく必要かあった。
Until now, a voltage monitoring circuit has been used to notify the operator when the drive voltage for generating the rotating magnetic field of the bubble memory device and the supply voltage to the control circuit are momentarily interrupted. Before reading or writing data, the operator issues a command each time to read the index mark page and store its position in the control circuit, or in such cases, reads the index mark and stores it in the control circuit. It was necessary to program it in advance to fix it.

本発明は、そのようなオペレータの作業やプログラム作
成を不用とし、操作ミスによるデータの破壊やエラーの
防止を図ったバブルメモリ装置を提供しようとするもの
である。
The present invention aims to provide a bubble memory device that eliminates the need for such operator work and program creation, and prevents data destruction and errors due to operational errors.

以下、本発明に係るバブルメモリ装置の実施例を図面に
従って説明する。
Embodiments of a bubble memory device according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

第3図に示すように、バブルメモリ装置は、バブルメモ
リデバイス10と、該バブルメモリデバイス10のイン
デックスマークページを読取るインデックスマーク読出
し回路11と、デ゛−タを前記バブルメモリデバイス1
0より読出し及びデータを前記バブルメモリデバイスに
書込むデータ読出し書込み回路12と、インデックスマ
ーク位置を記憶するとともにデータの読出し及び書込み
を指令する制御回路13と、前記バブルメモリデバイス
10及び各回路への供給電圧を監視する電圧監視回路1
4と、7リツプ70ツブ、レジスタ等の一時記憶回路1
5とを具備している。ここで、rtij記電圧監視回路
14は、前記各供給電圧か動作範囲より低下したことを
検出したときにオンとなるものである。また、一時記憶
回路15は、制御回路13がインデックスマーク続出し
回路11を通してインデックスマークページを読みとり
、その位置を内部に記憶した時にリセット状態になり、
前記電圧監視回路14がオン状態になったときセット状
態になるものである。
As shown in FIG. 3, the bubble memory device includes a bubble memory device 10, an index mark reading circuit 11 that reads an index mark page of the bubble memory device 10, and an index mark reading circuit 11 that reads the index mark page of the bubble memory device 10.
a data read/write circuit 12 for reading from 0 and writing data into the bubble memory device; a control circuit 13 for storing index mark positions and instructing data reading and writing; Voltage monitoring circuit 1 that monitors supply voltage
4, 7 lip 70 tub, temporary memory circuit 1 such as register
5. Here, the voltage monitoring circuit 14 turns on when it is detected that each of the supply voltages has fallen below the operating range. Further, the temporary storage circuit 15 enters a reset state when the control circuit 13 reads the index mark page through the index mark successive output circuit 11 and stores its position internally.
When the voltage monitoring circuit 14 is turned on, it enters the set state.

以上の構成において、データを読み書きする11カにそ
の一時記憶回路15を調べ、もしリセッート側になって
いれば(制御回路13に正しいインデックスマークペー
ノ位置が記憶されていることを意味する。)、制御回路
13の指令によりそのままデータの読み書外を行ない、
もしセット側−になっていれば(瞬停があったことを意
味する。)、バブルメモリゾ゛バイス10内のインデッ
クスマークページをインデックスマーク続出し回路11
にて読みとり、その位置を制御回路内に記憶してから、
その後にデータの読み書きを行う。
In the above configuration, the temporary memory circuit 15 is checked in the 11 devices that read and write data, and if it is on the reset side (meaning that the correct index mark peno position is stored in the control circuit 13). , read and write data as is according to the commands of the control circuit 13,
If it is negative on the set side (meaning there was an instantaneous power outage), the circuit 11 continuously prints index marks on the index mark page in the bubble memory device 10.
After reading the position and storing it in the control circuit,
Then read and write data.

このような実施例の構成によれば、瞬停が発生し、制御
回路13内で記憶されているインデノクスマークヘージ
位置ドパ′プルメモリゾ゛バイス10内にあるインデッ
クスマークページの現在位置とが一致しなくなっても、
自動的に再びインデックスマークページを制御回路内に
読み取ってからデータの読み書きを行なうので、オペレ
ータは瞬停に対して全く気にかけないですむ。
According to the configuration of this embodiment, when an instantaneous power outage occurs, the index mark hedge position stored in the control circuit 13 does not coincide with the current position of the index mark page in the memory device 10. Even if I don't do it,
Since the index mark page is automatically read into the control circuit again before reading or writing data, the operator does not have to worry about momentary power outages at all.

以上説明したように、本発明によれば、瞬停に伴うオペ
レータの作業やプログラム作成を不用とし、操作ミスに
よるデータの破壊やエラーを防止することが可能なバブ
ルメモリ装置を得ることかできる。
As described above, according to the present invention, it is possible to obtain a bubble memory device that eliminates the need for operator work or program creation due to instantaneous power outages, and that can prevent data destruction and errors due to operational errors.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は一般的なバブルメモリデバイスの構成を示すブ
ロック図、第2図は同説明図、第3図は本発明に係るバ
ブルメモリ装置の実施例を示すブロック図である。 1・・・マイナーループ、2.3・・・メジャーライン
、4・・・検出器、5・・・バブル発生器、10・・・
バブルメモリデバイス、11・・・インデックスマ〜り
続出し回路、12・・・データ読出し書込み回路、13
・・・制御回路、14・・・電圧監視回路、15・・・
一時記憶回路。 特許出願人 東京電気化学工業株式会社 代理人 弁理士 村 井  隆 第1図 第2図
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a general bubble memory device, FIG. 2 is an explanatory diagram thereof, and FIG. 3 is a block diagram showing an embodiment of a bubble memory device according to the present invention. 1...Minor loop, 2.3...Major line, 4...Detector, 5...Bubble generator, 10...
Bubble memory device, 11... Index memory successive circuit, 12... Data read/write circuit, 13
...Control circuit, 14...Voltage monitoring circuit, 15...
temporary memory circuit. Patent applicant Tokyo Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd. Representative Patent attorney Takashi Murai Figure 1 Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)バブルメモリデバイスと、データを前記バブルメ
モリデバイスより読出し及びデータを前記バブルメモリ
デバイスに書込むデータ読出し書込み回路と、前記バブ
ルメモリデバイスのインデックスマーク位置を記憶する
制御回路と、ritj記バブルメモリデバイス及び各回
路への供給電圧を監視する電圧監視回路とを備えたバブ
ルメモリ装置において、前記供給電圧が動作範囲より低
下したことを前記電圧監視回路が検出したときにセラI
I’れ、0;j記制御回路が前記インデックスマークを
読取ったときにリセットされる一時記憶回路を設け、該
一時記憶回路がセット状態のときは前記インデックスマ
ークを読出してインデックスマーク位置を制御回路に記
憶しなおすことを特徴とするバブルメモリ装置。
(1) a bubble memory device, a data read/write circuit that reads data from and writes data to the bubble memory device, a control circuit that stores the index mark position of the bubble memory device, and a bubble memory device; In a bubble memory device comprising a memory device and a voltage monitoring circuit that monitors supply voltage to each circuit, when the voltage monitoring circuit detects that the supply voltage has fallen below an operating range,
I', 0; A bubble memory device characterized by re-memorizing data.
JP57216126A 1982-12-09 1982-12-09 Bubble memory device Pending JPS59107479A (en)

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JP57216126A JPS59107479A (en) 1982-12-09 1982-12-09 Bubble memory device

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JP57216126A Pending JPS59107479A (en) 1982-12-09 1982-12-09 Bubble memory device

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