JPS59104549A - Ultrasonic microscope - Google Patents

Ultrasonic microscope

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JPS59104549A
JPS59104549A JP57214385A JP21438582A JPS59104549A JP S59104549 A JPS59104549 A JP S59104549A JP 57214385 A JP57214385 A JP 57214385A JP 21438582 A JP21438582 A JP 21438582A JP S59104549 A JPS59104549 A JP S59104549A
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JP
Japan
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sample
ultrasonic
piezoelectric transducer
piezoelectric
waves
Prior art date
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Pending
Application number
JP57214385A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koji Taguchi
耕司 田口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS59104549A publication Critical patent/JPS59104549A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/06Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy

Abstract

PURPOSE:To adjust automatically a scan plane and a sample surface in parallel, by providing a piezoelectric transducer for position detection so as to surround a piezoelectric transducer and detecting the time difference of sample reflected waves and displacing a sample placing face on a basis of this time difference. CONSTITUTION:An ultrahigh-frequency burst wave electric signal is supplied to a piezoelectric transducer 22 for information detection of an ultrasonic transmitting and receiving part from a high frequency pulse generator 2 through a cir culator 3 under the control of a control part 1, and a sample placed on a sample table 31 is scanned with an ultrasonic spot, and reflected waves are processed to display an ultrasonic image on a display part 13. The burst wave signal from the high frequency pulse generator 2 is supplied to piezoelectric transducers 22a-23d for position detection through a circulator to project ultrasonic waves to the sample, and the difference of reception time of sample reflected waves among transducers 23a, 23b, 23c, and 23d is detected, and X and Y-direction adjusting motors 33 and 34 of a goniometer 32 are driven to displace the sample table 31, thereby adjusting the scan plane and the sample surface in parallel automatically.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は超音波顕微鏡に関するものである。[Detailed description of the invention] The present invention relates to an ultrasound microscope.

超音波顕微鏡は従来種々のものが提案されている。第1
図は反射形の超音波顕微鏡の基本構成を示すもので、制
御部lにより高置波、<ルス発生器2を制御して超高周
波のバースト波電気信号を発生ぎせ、これをサーキュレ
ータ8を介して圧電トランスジューサ4に供給し、こ\
で電気信号から超音波Gこ変換して音響レンズ(超音波
収束レンズ)5および液体6を介して試料台7に載置さ
れた試料8にスポット状に投射する。音響レンズ5およ
び試料台7は、超音波スポットにより試料8を二次元的
に走査するため、制御部lの制御の下にX方向走査部9
およびY方向走査部10により、相対的(こ二次元的に
移動可能に構成される。一方、試料8からの反射波は、
音響レンズ5で集音し、圧電トランスジューサ4で電気
信号Gこ変換してサーキュレータ3を介して受信部11
に供給し、ここで制御部1の制御の下に試料8からの反
射波に対応する信号のみを取出して、増幅、検波し、こ
の検波信号を輝度信号として制御部lの制御の下にXお
よびY方向走査部9およびlOからの位置Gこ1y4す
る信号と共にスキャンコンバータ12に記録した後、表
示部j3において画像として表示する。
Various types of ultrasonic microscopes have been proposed in the past. 1st
The figure shows the basic configuration of a reflection-type ultrasound microscope, in which a controller 1 controls a high-frequency wave generator 2 to generate ultra-high frequency burst wave electrical signals, which are transmitted via a circulator 8. and supply it to the piezoelectric transducer 4,
The electric signal is converted into an ultrasonic wave G and is projected in the form of a spot onto a sample 8 placed on a sample stage 7 via an acoustic lens (ultrasonic converging lens) 5 and a liquid 6. The acoustic lens 5 and the sample stage 7 are operated by an X-direction scanning section 9 under the control of the control section 1 in order to two-dimensionally scan the sample 8 with an ultrasonic spot.
and the Y-direction scanning unit 10, it is configured to be relatively (two-dimensionally movable).On the other hand, the reflected wave from the sample 8 is
The acoustic lens 5 collects the sound, the piezoelectric transducer 4 converts it into an electrical signal, and the signal is sent to the receiver 11 via the circulator 3.
Here, under the control of the control unit 1, only the signal corresponding to the reflected wave from the sample 8 is extracted, amplified and detected, and this detected signal is used as a luminance signal to be After being recorded in the scan converter 12 together with the position G signal from the Y-direction scanning section 9 and 10, it is displayed as an image on the display section j3.

このような超音波顕微鏡においては、試料8は超音波ビ
ームが最小に絞られる位置に配置する必要がある。すな
わち超音波ビームの最小スポットが走査によって作る平
面と、試料8の面とを一致あるいは平行する必要がある
。そこで、一般には試料台7を二方向に関して面の平行
度ご調整できるゴニオメータ上に設けて、超音波スポッ
トが走査によって作る平面に対して試料8の面が平行と
なるように調整するようにしているが、従来は試料8を
超音波ビームで二次元的に繰返し走査して表示部13に
おいて形成される画像を観察しながら、画像に現われる
干渉縞を減らすようるこゴニオメータを手動により調整
しているため、調整作業台があった。
In such an ultrasonic microscope, the sample 8 needs to be placed at a position where the ultrasonic beam is minimized. That is, it is necessary that the plane created by the scanning of the minimum spot of the ultrasonic beam and the surface of the sample 8 coincide with or be parallel to each other. Therefore, in general, the sample stage 7 is installed on a goniometer that can adjust the parallelism of the surface in two directions, and the surface of the sample 8 is adjusted so that it is parallel to the plane created by scanning the ultrasonic spot. However, in the past, the sample 8 was repeatedly scanned two-dimensionally with an ultrasonic beam, and while observing the image formed on the display section 13, the goniometer was manually adjusted to reduce interference fringes appearing in the image. Because of this, there was an adjustment workbench.

本発明の目的は、上述した不具合を解決し、簡単な構成
により超音波スポットが走査によって作る平面と試料面
とを自動的に迅速に平行にし得るよう適切に構成した超
音波顕微鏡を提供しようとするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and to provide an ultrasonic microscope suitably configured to automatically and quickly make the plane created by scanning an ultrasonic spot parallel to the sample surface using a simple configuration. It is something to do.

本発明は、試料を載置する試料台と、一体に設けた圧電
トランスジユーザおよび音響レンズとを二次元的に相対
的に移動させて、圧電トランスジューサから音響レンズ
を経て試料に超音波をスポット状に投射して該試料を走
査するようにした超音波顕微鏡において、 前記圧′市トランスジューサとは別にこれを囲むように
配置され、前記試料に対して超音波を送信すると共にそ
の反射波を受信する少く共3個の位置検出用圧電トラン
スジューサと、これら位置検出用圧電l・ランスジュー
サでそれぞれ検出される試料反射波の時間差を検出する
手段と、この時間差検出手段の出力に基いて前記試料台
の試料載置面を変位させる手段どを具え、前記音響レン
ズを経て投射される超音波スポットの走査によって形成
される平面と、前記試料面とを自動的に平行に1週整し
イ(fるよう構成したことを特徴とするものである。
In the present invention, a sample stage on which a sample is placed, a piezoelectric transducer and an acoustic lens provided integrally are moved relative to each other in two dimensions, and ultrasonic waves are spotted from the piezoelectric transducer to the sample via the acoustic lens. In an ultrasonic microscope configured to scan a sample by projecting an ultrasonic beam onto the sample, an ultrasonic transducer is arranged separately from the pressure transducer to surround it, and transmits ultrasonic waves to the sample and receives reflected waves thereof. at least three piezoelectric transducers for position detection; means for detecting a time difference between sample reflected waves detected by each of these piezoelectric transducers for position detection; A plane formed by scanning an ultrasonic spot projected through the acoustic lens and the sample surface are automatically aligned in parallel for one week (f It is characterized by being configured so that

以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第2図AおよびBは本発明の超音波顕微鏡に用いる超音
波送受部の一例の構成を示す平面図および断面図である
。本例では超音波伝搬媒体としてサファイアロッド2]
を用い、その一端面には中央部に情報検出用の圧電トラ
ンスジーサ22を設けると共に、この圧電トランスジュ
ーサ22を囲むように互いに直交するXおよびY方向に
それぞれ2個の位iδ検出用の圧電トランスジューサ2
3a;23b、23Ci23dを設はル。サファイアロ
ッド21の他端面には圧電トランスジューサ22と対向
する中央部に圧電トランスジューサ22からサファイア
ロッド21を経て投射される超音波を試料台上Gこ載置
される試料にスポット状る。二収束し、その試料反射波
を集音する音響レンズ24を形成すると共に周辺部には
圧電トランスジューサ23a〜23dからそれぞれサフ
ァイアロッド21を経て試料に超音波を投射し、その反
射波を集音する位1汽検出用超音波送受部25を形成す
る。
FIGS. 2A and 2B are a plan view and a sectional view showing the configuration of an example of an ultrasonic transmitting/receiving section used in the ultrasonic microscope of the present invention. In this example, the sapphire rod 2 is used as the ultrasonic propagation medium]
A piezoelectric transducer 22 for detecting information is provided at the center of one end surface, and two piezoelectric transducers for detecting iδ are placed in the X and Y directions perpendicular to each other so as to surround the piezoelectric transducer 22. transducer 2
3a; 23b, 23Ci23d are set. The other end surface of the sapphire rod 21 has a central portion facing the piezoelectric transducer 22, and the ultrasonic waves projected from the piezoelectric transducer 22 through the sapphire rod 21 are spot-shaped onto the sample placed on the sample stage G. An acoustic lens 24 is formed which converges two waves and collects the waves reflected from the sample, and at the periphery, ultrasonic waves are projected onto the sample from piezoelectric transducers 23a to 23d through the sapphire rods 21, and the reflected waves are collected. 1. An ultrasonic wave transmitting/receiving section 25 for steam detection is formed.

このサファイアロッド21を、第3図に示すようにレン
ズホルダ26に保持して試料27と液体28を介して対
向させた状態で、第4図Aに示す時刻t□で圧電トラン
スジューサ23a〜23a(図面ではX方向の圧電トラ
ンスジューサ23a。
With this sapphire rod 21 held in the lens holder 26 and opposed to the sample 27 via the liquid 28 as shown in FIG. 3, the piezoelectric transducers 23a to 23a ( In the drawing, the piezoelectric transducer 23a is in the X direction.

23 ’Dのみを示す)に同時に電気信号を供給してそ
れぞれサファイアロッド21および液体28をfJて試
料27に超音波を投射すると、各超音波の試料27刀1
らの反射波が液体28およびナファイ7o7)−21を
経て対応する圧電トランスジューサで受信される時間は
、サファイアロッド21の各圧電トランスジューサ23
a〜23aと超音波送受部25との間の長さを等しくす
れば、超音波送受部z5と試料27どの間の距離によっ
て決まり、その距離が対を成す圧電トランスジューサ2
3ai23b、23c;23d間で異なると、その距離
の差に応じて両者の受信時間に差が生じることになる。
When an electric signal is simultaneously supplied to the sapphire rod 21 and the liquid 28 (only 23 'D shown) and ultrasonic waves are projected onto the sample 27, each ultrasonic wave causes the sample 27
The time during which the reflected waves from the sapphire rods 23 and 23 pass through the liquid 28 and the nanofiber 7o7)-21 and are received by the corresponding piezoelectric transducers is determined by
If the lengths between a to 23a and the ultrasonic transducer 25 are made equal, the distance between the ultrasonic transceiver z5 and the sample 27 determines the distance between the piezoelectric transducers 2 that form a pair.
3ai23b, 23c; 23d, there will be a difference in reception time between the two depending on the difference in distance.

ナえば、第3図に示すように試料27がX方向に傾いて
、圧電トランスジューサ23aおよび28b側における
送受部25と試料27との間の距離がそれぞれdoおよ
びd2(〈d工)とな俤− ると、液体28内での音速を01サフアイアロツド21
内での音速を無視すれば、圧電トランスジューサ23a
においては超音波の出力から入力まで第4図Bに示すよ
うにta = 2d1/cの時間を要し、また圧電トラ
ンスジユーザ23bにおいては第4図Gに示すようにt
b = 2d2/Cを要することになり、これらの間に
は距離差(dニーd2)に応じた(1a−tb)の時間
差が生じる。したがって、XおよびY方向において、そ
れぞれ対を成す圧電トランスジューサ23 a i 2
8 b 、 23 c; 23 (i ニおける受信時
間の差を検出すれば、それぞれの方向における試料27
の傾き量およびその方向(極性)を知ることができる。
For example, as shown in FIG. 3, the sample 27 is tilted in the X direction, and the distances between the transmitting/receiving section 25 and the sample 27 on the piezoelectric transducer 23a and 28b sides become do and d2 (<d), respectively. - Then, the speed of sound in the liquid 28 is 01 Sapphire Rod 21
If the speed of sound within the piezoelectric transducer 23a is ignored, the piezoelectric transducer 23a
In the piezoelectric transuser 23b, the time from the output to the input of the ultrasonic wave is ta = 2d1/c as shown in FIG. 4B, and in the piezoelectric transuser 23b, as shown in FIG.
b = 2d2/C, and a time difference of (1a-tb) corresponding to the distance difference (d knee d2) is generated between them. Therefore, in the X and Y directions, each pair of piezoelectric transducers 23 a i 2
8 b, 23 c; 23 (i) If the difference in reception time in the two directions is detected, the sample 27 in each direction is
The amount of inclination and its direction (polarity) can be known.

第5図は本発明の超音波顕微鏡に用いる試料台の一例の
構成を示す斜視図である。本例では試料台31をゴニオ
メータ32上に設けると共に、ゴニオメータ32をそれ
ぞれ正逆方向に回転可能なX方向調整用モータ33およ
びY方向調整用モータ34・を介してX方向およびY方
向に独立して駆動し得るよう購成し、これにより試料台
31をX方向およびY方向に自動的に変位させるように
する。
FIG. 5 is a perspective view showing the configuration of an example of a sample stage used in the ultrasonic microscope of the present invention. In this example, the sample stage 31 is provided on a goniometer 32, and the goniometer 32 is independently rotated in the X and Y directions via an X-direction adjustment motor 33 and a Y-direction adjustment motor 34, which are rotatable in forward and reverse directions. The sample stage 31 is thereby automatically displaced in the X direction and the Y direction.

本発明の一実施例においては、第1図に示した、超音波
顕微鏡において圧電トランスジューサ4および音響レン
ズ5の代わりに、第2図AおよびBに示した超音波送受
部を用いると共に、試料台7として第5図に示した構成
のものを用いる。これら超音波送受部およびゴニオメー
タ32は、第1図において制御部lの制御の下にX方向
走査部9およびY方向走査部10により相対的に二次元
的に移動させる。また、超音波送受部の情報検出用圧電
トランスジューサ22には制御部1の制御の下に高周波
パルス発生器2からサーキュレータ3を介して超高周波
のバースト波電気信号を供給して試料台31上に載i;
tされる試料を超音波スポットGこより走査し、その試
料反射波を第1図と同様に処理して表示部13に超音波
像を表示させる。
In one embodiment of the present invention, in place of the piezoelectric transducer 4 and acoustic lens 5 in the ultrasonic microscope shown in FIG. 1, an ultrasonic transmitting and receiving section shown in FIGS. 7, the configuration shown in FIG. 5 is used. The ultrasonic transmitting/receiving section and the goniometer 32 are relatively two-dimensionally moved by an X-direction scanning section 9 and a Y-direction scanning section 10 under the control of a control section 1 in FIG. Further, under the control of the control unit 1, an ultrahigh frequency burst wave electrical signal is supplied from the high frequency pulse generator 2 via the circulator 3 to the piezoelectric transducer 22 for information detection in the ultrasonic transmitting/receiving unit. Listed i;
The sample to be scanned is scanned by the ultrasonic spot G, and the sample reflected waves are processed in the same manner as in FIG. 1 to display an ultrasonic image on the display section 13.

本例においては、高周波パルス発生器2から発生される
高周波のバースト波電気信号を位置検出用の圧電トラン
スジューサ23a−23(iにそれぞれサーキュレータ
を介して供給して試料に超音波を投射し、その試料反射
波のXおよびY方向において対を成す圧電トランスジュ
ーサ23ai23b。
In this example, a high-frequency burst wave electrical signal generated from a high-frequency pulse generator 2 is supplied to piezoelectric transducers 23a-23(i) for position detection through respective circulators, and ultrasonic waves are projected onto the sample. Piezoelectric transducers 23ai23b form a pair in the X and Y directions of the sample reflected wave.

23Ci23dでの受信時間の差をそれぞれ検出し、そ
れらの時間差に基いてゴニオメータ32のXおよびY方
向調整用モータ33および34・を駆動して試料台31
を変位させることにより、情報検出用圧電トランスジュ
ーサ22711ら音響レンズ24を介して試料に投射さ
れる超音波スポットが走査によって形成される平面と、
試噺面とを自動的に平行に調整する。
The difference in reception time at 23Ci23d is detected, and based on the time difference, the X and Y direction adjustment motors 33 and 34 of the goniometer 32 are driven to adjust the sample stage 31.
By displacing the information detection piezoelectric transducer 22711, a plane in which an ultrasonic spot is projected onto the sample through the acoustic lens 24 is formed by scanning;
Automatically adjust the test surface to be parallel to the test surface.

すt、「わち、第6図にX方向の調整回路の構成を示す
ように、制御部1からの第7図Aに示す制御パルスうこ
より高周波パルス発生器2から発生する超高周波のバー
スト波電気信号をサーキュレータ41aおよび41bを
経てX方向において対を成す位置検出用の圧電トランス
ジューサ23 a#J:び23bにそれぞれ供給して試
料に超音波を投射する。これら圧電トランスジューサ2
3aおよび23bで受信した試料反射波信号は、それぞ
れサーキュレータ4.1 aおよび4 l bを経て増
幅・検波部4I2aおよび442bに供給して第7図B
およびCに示すような反射信号を得る。これら反射信号
は、第3図および第4・図においで説明したように、試
料までの距離に応じて、超音波が発射されてからぞれぞ
れtaおよびtbの時間で発生し、両者間ζこ距(隆の
差がある場合、すなわち試料がX方向において傾いてい
る場合にはその発生時間に差が生じることになる。これ
ら反射信号は雑音等の影響を避けるために比較器43a
および43bにそれぞれ供給し1.こ\で基準値V。と
比較して第7 F2 DおよびEに示すようなパルス信
号に整形してこれらをそれぞれサンプルホールド回路4
’4aおよび441bに供給する。
In other words, as shown in FIG. 6 showing the configuration of the adjustment circuit in the X direction, the control pulse shown in FIG. Wave electrical signals are supplied to piezoelectric transducers 23a and 23b for position detection forming a pair in the X direction through circulators 41a and 41b, respectively, to project ultrasonic waves onto the sample.These piezoelectric transducers 2
The sample reflected wave signals received by 3a and 23b are supplied to amplification/detection sections 4.1a and 442b via circulators 4.1a and 4.1b, respectively, and are then supplied to amplification/detection sections 4.1a and 442b, respectively.
and a reflected signal as shown in C is obtained. As explained in Fig. 3 and Fig. 4, these reflected signals are generated at times ta and tb after the ultrasonic wave is emitted, depending on the distance to the sample, and there is a difference between the two. If there is a difference in the ridges, that is, if the sample is tilted in the X direction, a difference will occur in the generation time.
and 43b, respectively.1. This is the standard value V. 7th F2 D and E, and these signals are sent to the sample and hold circuit 4, respectively.
'4a and 441b.

一方、制御部1からの第7図Aに示す制御パルスは積分
器45にも供給し、こ\で制御パルスに同期して第7図
Fに示すような鋸歯波状の電圧を発生させる。この鋸歯
波状電圧はサンプルホールド回路44&および44k)
にそれぞれ供給し、こくで比1i43aおよび4abか
らのパルス信号(第71JDおよびE)によりサンプリ
ングしてホールドし、第7図、GおよびHに示すように
試料反射波の受信時間に応じた電圧(Va l Vb)
の信号を得る。これらサンプルホールド回路44・aお
よび44bの出力はゲート回路46を経て、第7図工に
示す制御パルスと同期したゲートパルスのタイミングで
差動増幅器47に供給し、ぞの差を検出する。この差動
増幅器47で検出される電圧差は、圧電トランスジュー
サ23a、28bでの試料反射波の受信時間の差に対応
し、その値は試料までの距離差に、また極性は試料の傾
きの方向に対応する。この差動増幅器47の出力はモー
タ駆動部/l18に供給し、これによりゴニオメータ3
2のX方向調整用モータ33を駆動して試料台31をX
方向に関して変位させて試料の傾きを補正する。
On the other hand, the control pulse shown in FIG. 7A from the control section 1 is also supplied to the integrator 45, which generates a sawtooth waveform voltage as shown in FIG. 7F in synchronization with the control pulse. This sawtooth voltage is applied to the sample and hold circuit 44 & 44k)
The pulse signals (71st JD and E) from the ratios 1i43a and 4ab are sampled and held, and as shown in FIG. 7, G and H, the voltage ( Val Vb)
get the signal. The outputs of these sample and hold circuits 44.a and 44b are supplied to a differential amplifier 47 via a gate circuit 46 at the gate pulse timing synchronized with the control pulse shown in FIG. 7, and the difference between them is detected. The voltage difference detected by the differential amplifier 47 corresponds to the difference in reception time of the sample reflected waves at the piezoelectric transducers 23a and 28b, and its value corresponds to the distance difference to the sample, and its polarity corresponds to the direction of the sample inclination. corresponds to The output of the differential amplifier 47 is supplied to the motor drive section /l18, which drives the goniometer 3.
Drive the X-direction adjustment motor 33 of No. 2 to move the sample stage 31 in the X direction.
Correct the tilt of the sample by displacing it in the direction.

この補正は差動増幅器47の出力が零となった時点で終
了し、これによりX方向に関して超音波スポットが走査
によって形成する平面と試料面とを平行にすることがで
きる。
This correction ends when the output of the differential amplifier 47 becomes zero, thereby making it possible to make the plane formed by scanning the ultrasonic spot parallel to the sample surface in the X direction.

以上X方向に関しての調整について説明したが、1静 Y方向に関しても同様の回路構成により同時に調整を行
なえば、XおよびY方向において超音波スポットが走査
によって形成する平面と試料面とを自動的かつ迅速に平
行にすることができる。
The adjustment in the X direction has been explained above, but if the same circuit configuration is used to simultaneously adjust the Y direction, the plane formed by the ultrasonic spot by scanning in the X and Y directions and the sample surface can be automatically and Can be quickly parallelized.

なお、本発明は上述した例にのみ限定されるものではな
く、幾多の変形または変更が可能である。
Note that the present invention is not limited to the above-mentioned example, and can be modified or changed in many ways.

例えば位置検出用の圧電トランスジューサは3個でもよ
く、またこれらは情報検出用の圧電トランスジューサを
取付けた超音波伝搬媒体とは別に取付けてもよい。また
、本発明は上述した反射形のものに限らず、透過形の超
音波顕微鏡にも有効に適用することができる。
For example, there may be three piezoelectric transducers for position detection, and these may be attached separately from the ultrasonic propagation medium to which the piezoelectric transducers for information detection are attached. Further, the present invention is not limited to the above-mentioned reflection type ultrasonic microscope, but can also be effectively applied to a transmission type ultrasonic microscope.

以上述べたように本発明によれば、超音波スポットが走
査によって形成する平面と試料面とを自動的かつ迅速に
平行に調整することができるから、従〕((のような煩
!ALな調整作業を省くことができる。
As described above, according to the present invention, the plane formed by scanning the ultrasonic spot and the sample surface can be automatically and quickly adjusted to be parallel to each other. Adjustment work can be omitted.

、1・図1fllのIf;j単な説明 第1図は反射形超音波顕微鏡の基本構成を示す拓! i
!JN 第2図AおよびBは本発明の超音波顕微鏡に用いる超音
波送受部の一例の構成を示す平面図およびii5′i[
n1図、 第8図および第4図A−Cはその動作を説明するための
線図、 第5図は本発明の穎音波顕微鏡に用いる試料台の一例の
構成を示す斜視図、 第6図は本発明の超音波顕微鏡の一例の要部の回路構成
を示すブロック図、 第7図A〜■は同じくその動作を説明する信号波形図で
ある。
, 1/If of Figure 1;j Simple explanation Figure 1 shows the basic configuration of a reflection ultrasound microscope. i
! JN Figures 2A and 2B are a plan view and ii5'i[
Fig. n1, Fig. 8, and Fig. 4 A-C are diagrams for explaining its operation; Fig. 5 is a perspective view showing the configuration of an example of a sample stage used in the ultrasonic wave microscope of the present invention; Fig. 6; 7 is a block diagram showing the circuit configuration of a main part of an example of the ultrasonic microscope of the present invention, and FIGS. 7A to 7A are signal waveform charts illustrating its operation.

1・・・制御部      2・・・局周波パルス発生
器3・・・サーキュレータ   4・・・圧電トランス
ジューサ5・・・音響レンズ    6・・・液体7・
・・試料台      8・・・試料・9・・・X方向
走査部   lO・・・Y方向走査部11・・・受’M
 NS       12・・・スキャンコンバータ1
3・・・表示部     21・・・サファイアロッド
22・・・情報検出用圧電トランスジューサ23a〜z
sd・・・位置検出用圧電トランスジューサ24・・・
音響レンズ 25・・・位置検出用超音波送受部 26・・・レンズホルダ  27・・・試料28・・・
液体      31・・・試料台32・・・ゴニオメ
ータ   38・・・X方向調整用モータ34・・・Y
方向ル′(盤用モータ 41a、41b・・・サーキュ
レータ、1.2a、42b・・・増幅・検波部 43a
、43b・・・比較器i、 4. a 、 44・b・
・・サンプルホールド回路45・・・積分器     
46・・・ゲート回路47・・・差動増幅器   4+
8・・・モータ駆動部第2図 第3図 手続袖正書 昭1058 年 11月 S 日 1、 :+J件の表示 昭和!57年 q、テ シ′「 願第2.111・38
5号2、発明の名称 超音波顕微鏡 3、補正をする者 +1H件との関係 q・〒計量願人 (037)  オリンパス光学工業株式会社電 話 (
581) 2’241番(代表)5゜ 6 補正の対象明紬111の「イ、′1.i′!−請求
の範囲」「発明の詳細な説明」の面7、補正の内容 (
別紙の通り) 1、明細古第1頁第3行〜第2頁第2行の特許請求の範
囲を下記のとおり訂正する。
1... Control unit 2... Local frequency pulse generator 3... Circulator 4... Piezoelectric transducer 5... Acoustic lens 6... Liquid 7.
...Sample stand 8...Sample 9...X-direction scanning unit lO...Y-direction scanning unit 11...Receiver'M
NS 12...Scan converter 1
3...Display section 21...Sapphire rod 22...Piezoelectric transducer for information detection 23a-z
sd... Piezoelectric transducer for position detection 24...
Acoustic lens 25... Ultrasonic transmitter/receiver for position detection 26... Lens holder 27... Sample 28...
Liquid 31... Sample stage 32... Goniometer 38... X direction adjustment motor 34... Y
Direction le' (board motor 41a, 41b...circulator, 1.2a, 42b...amplification/detection section 43a
, 43b... comparator i, 4. a, 44・b・
...Sample hold circuit 45...Integrator
46...Gate circuit 47...Differential amplifier 4+
8...Motor drive part Fig. 2 Fig. 3 Procedure Sleeve Book November 1, 1058 S Day 1: +J display Showa! 1957 q, Teshi''Writ No. 2.111.38
No. 5 No. 2, Name of the invention Ultrasonic microscope 3, Person making the correction + 1 Relationship with the H matter q.
581) No. 2'241 (Representative) 5゜6 Target of amendment Myotsumugi 111, "A, '1.
(As per attached sheet) 1. The scope of claims on page 1, line 3 to page 2, line 2 of the specification are amended as follows.

2、特許請求の範囲 L 試料を載置する試料台と、一体に設けた圧電トラン
スジューサおよび音響レンズとを二次元的に相対的に移
動させて・圧電トランスジューサから音響レンズを経て
試料に超音波なスポット状に投射して該試料を走査する
ようにした超音波顕微鏡において、 1ltJ記% g トランスジューサとは別にこれ3 
+4[むように配置ざrl、前記試料に対して超音波を
送信すると共にその反射波を受信する少く共3個の位置
検出用圧電トランスジューサと、これら位置検出用圧′
屯トランスジューサでそれぞれ検出される試p)反射波
の時間差を検出する手段と、この時間差検出手段の出力
に基いて前記試料台の試料載置面を変位させる手段とを
具え、前記音響レンズを経て投射される超音波スポット
の走査によって形1成ぎれる平布と、前記試料面とを自
動的に)F行に調整し得るよう構成したことを特徴とす
る超音波顕微鏡。」 、2明細@箇〕2頁第16〜]8行の「また、本発明は
一一一することができる。」を削除する。
2. Claim L A sample stage on which a sample is placed, and a piezoelectric transducer and an acoustic lens provided integrally are moved relative to each other in two dimensions. Ultrasonic waves are transmitted from the piezoelectric transducer to the sample via the acoustic lens. In an ultrasonic microscope that scans the sample by projecting it in the form of a spot, this 3
At least three piezoelectric transducers for position detection that transmit ultrasonic waves to the sample and receive their reflected waves, and these position detection pressures
p) Means for detecting a time difference between the reflected waves detected by the tun transducers, and means for displacing the sample mounting surface of the sample stage based on the output of the time difference detecting means, 1. An ultrasonic microscope characterized in that the plane cloth formed into a shape 1 by scanning a projected ultrasonic spot and the sample surface can be automatically adjusted to line F. , 2 Specification @ Section] Page 2, No. 16 to] Line 8, ``The present invention can also be modified from one to one.'' is deleted.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 L 試料を載置する試料台と、一体に設けた圧電トラン
スジューサおよび音響レンズとを二次元的に相対的に移
動させて、圧電トランスジューサから音響レンズを経て
試料に超音波をスポット状に投射して該試料を走査する
ようにした超音波顕微鏡において、 前記圧電トランスジューとは別にこれを囲むように配置
され、前記試料に対して超音波を送信すると共にその反
射波を受信する少く共3個の位置検出用圧電トランスジ
ューサと、これら位置検出用圧電トランスジューサでそ
れぞれ検出される試料反射波の時間差を検出する手段と
、この時間差検出手段の出力に基いて前記試料台の試料
載置面を変位きせる手段とを具え、前記音響レンズを経
て投射される超音波スポットの走査によって形成される
平面と、前記試料面とを自動的に平行に調整し得るよう
構成したことを特徴とする超音波顕微鏡。
[Claims] L A sample table on which a sample is placed, a piezoelectric transducer and an acoustic lens provided integrally are moved relative to each other in two dimensions, and ultrasonic waves are transmitted from the piezoelectric transducer to the sample via the acoustic lens. In an ultrasonic microscope that scans the sample by projecting a spot-like beam, the transducer is arranged separately from the piezoelectric transducer to surround the piezoelectric transducer, and transmits ultrasonic waves to the sample and receives the reflected waves thereof. at least three piezoelectric transducers for position detection; means for detecting a time difference between sample reflected waves detected by each of these piezoelectric transducers for position detection; and means for displacing the placement surface, and configured to automatically adjust the plane formed by scanning the ultrasonic spot projected through the acoustic lens to be parallel to the sample surface. ultrasound microscope.
JP57214385A 1982-12-07 1982-12-07 Ultrasonic microscope Pending JPS59104549A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02140465U (en) * 1989-04-25 1990-11-26
US5050135A (en) * 1989-12-20 1991-09-17 Unico, Inc. Magnetostrictive multiple position sensing device
US5648683A (en) * 1993-08-13 1997-07-15 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device in which a first resin-encapsulated package is mounted on a second resin-encapsulated package

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH02140465U (en) * 1989-04-25 1990-11-26
US5050135A (en) * 1989-12-20 1991-09-17 Unico, Inc. Magnetostrictive multiple position sensing device
US5648683A (en) * 1993-08-13 1997-07-15 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device in which a first resin-encapsulated package is mounted on a second resin-encapsulated package

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