JPS5892069A - 読み取り方式 - Google Patents

読み取り方式

Info

Publication number
JPS5892069A
JPS5892069A JP56190242A JP19024281A JPS5892069A JP S5892069 A JPS5892069 A JP S5892069A JP 56190242 A JP56190242 A JP 56190242A JP 19024281 A JP19024281 A JP 19024281A JP S5892069 A JPS5892069 A JP S5892069A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
counter
ccd
bit
mtf
read out
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56190242A
Other languages
English (en)
Inventor
Junichi Kitabayashi
淳一 北林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP56190242A priority Critical patent/JPS5892069A/ja
Publication of JPS5892069A publication Critical patent/JPS5892069A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Character Input (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電荷結合素子(以下CCDと称する)を用いた
MTF検査機における読み取り方式に関する。
MTF検査機として被検レンズにより線像をCCD上に
結像し、このCODのあらかじめ選択された一定間隔お
きの複数個の光感応素子より信号を読み取ってフーリエ
変換しMTFを求めるものが提案されて・いる。しかし
CCDは多数の素子を配列したものであるため、製造工
程により光感度、転送効率等が他の素子と大きく異なる
異常な素子(異常ピット)ができやすい。CCDの一定
間隔をおいて選択された素子に異常ビットがあると、C
CD上の光分布の測定に大きな誤差を生ずる。
また異常ピットのできる位置はCCD毎に異なり、あら
かじめ異常ピットの位置を測定してその選択を避けるよ
うにするには非常に手間がかかる。
本発明はこのような事情に鑑み、CCDの異常ビットに
よる影響をなくし得る簡便な読み取り方式を提供するこ
とを目的とする。
以下図面を参照しながら本発明について実施例をあげて
説明する。
第1図は本発明に使用するCCDの構成例である。中央
部に一列に並んだ複数個の光感応素子よりなるイメージ
センサ11はそれに照明される光量に対応した電荷量を
77トレジスタ12.13に転送する。7フトレジスタ
12.13はイメージセンサ11をはさむように2組配
置され、それぞれイメージセンサ11の奇数ビットと偶
数ビットをうけもつ。
ンフトレジスタ12,13の出力は前置増幅器14.1
5を通り出力回路16を介して元の順序で出力される。
第2図(α)は被検レンズにより線像がイメージセンサ
11に垂直に結像された時の出力回路16のビデオ出力
を示す。MTF検査機において2 IJノットャートの
線像を被検レンズによりCCD上に作ってそのダレ具合
をフーリエ変換してMTFを求める方式のものでは一般
にCCDのビデオ出力をすべて演算する必要はなく、c
cDの複数ビットおきに選択したビットの出力を演算す
るのが普通である。第2図(α)において斜線はその選
択されたヒントの出力であり、異常ピントの出力を2ビ
ット分A、B含んでいる。このだめ線像分布が第2図<
b>のようになり、演算誤差の原因となる。
これをさけるためには選択ビットをどちらかにシフトし
て異常ビットの選択をさけるようにすればよい。
第3図は選択ビットをシフトして得た4種類の線像分布
m、  m+l、  m+2.  m+3  とその処
理を示す。最初の分布mから計算されたMTF■は異常
ビットのためた他のものとは大きく異なる異常値となる
。したがってこれを除いて他の分布m+1゜m+2. 
 m+3  から各々計算された3つのMTF’■。
■、■を平均化回路17で平均化して最終的なMTF値
とすることによりより精度の高MTF値が得られる。ま
た2種類の7フトレジスタ12.13の転送効率や前置
増幅器14.15のゲインの相違による偶数ビット出力
と奇数ビット出力の相違も同時に取り除くことができる
第4図は本発明の実施回路例を示す。CCD18はスリ
ットチャートの線像が被検レンズにより垂直に結像され
、CCD1Bからのビデオ信号が1時ランダムアクセス
メモリ(RAM)19の各番地に順次に記憶される。R
AM19からビデオ信号を読み出すためにクロック発生
器20から出力されるクロツクパルスはRAM 19の
指定番地を歩進させなからN進カウ/り21を増加させ
る。このNはC0D18のビット数と一致している。カ
ウンタ21の下位2ビツト出力は排他的オア回路EX1
 、 EX2 。
インバータIN1.IN2及びアンド回路ANDよりな
る比較回路22にてカウンタ23の出力と比較され、両
者が一致した時に出力をRAM19に印加してビデオ信
号を読み出させる。したがってRAM19はビデオ信号
を4番地おきに読み出し、つまりCCD18からのビデ
オ信号を4ピツトおきに選択して読み出す。カウンタ2
1がN個のクロ′ツクパルスを数え終わってキャリーパ
ルスを発生すると、このキャリーパルスによりカウンタ
23が1つ増加してRAM 19の読み出し番地を1番
地だけシフトさせる。同様にカウンタ21のキャリーパ
ルスによりカウンタ23が1つ増加する毎にRAM19
の読み出し番地が1番地づつシフトされる。この結果R
AM19に記憶されていたCCD18からのビデオ信号
はまず4.8.12・・・ ビットの信号よりなる第1
組の信号が読み出され、次に1.5.9・・・ビットの
信号よりなる第2組の信号が読み出され、以後2,6゜
10・・・ ビットの信号よりなる第3組の信号と3゜
7.11・・・ビットの信号よりなる第4組の信号が順
次に読み出される。RAM19から読み出されたビデオ
信号は図示しない演算回路により各組の信号毎にフーリ
エ変換されてMTF’■〜■が計算され、このMTF■
〜■のうちの異常なもの■と正常なもの■〜■が判別さ
れて正常なもの■〜■のみが平均化回路17で平均化さ
れる。
以上のように本発明によれば被検レンズによりチャート
像が結像されるCCDにおける一定間隔おきの複数個の
光感応素子よりの信号を読み取ってフーリエ変換するM
TF検査機において、CCDにおける各々同じ一定間隔
おきの複数個の光感応素子よりなる複数組の光感応素子
群よりの信号を順次に読み取るので、これらの信号をフ
ーリエ変換して正常なMTF値を求めることが可能にな
り、CCDの異常ピントによる影響をなくすことができ
て手間もかからなくなる。
【図面の簡単な説明】
第1図はCCDの構成例を示すブロック図、第2図及び
第3図は本発明を説明するだめの図、第4図は本発明の
実施回路例を示すブロック図であ、る。 18・・CCD、   19・・RAM、   20・
・クロック発生器、21.23・・カウンタ、22・・
・比較回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被検レンズによりチャ□−ト像が結像される電荷結合素
    子における一定間隔おきの複数個の光感応素子よりの信
    号を読み取ってフーリエ変換するMTF検査機において
    、前記電荷結合素子における各々同じ一定間隔お−きの
    複数個の光感応素子よりなる複数組の光感応素子群より
    の信号を順次に読み取ることを特徴とする読み取り方式
JP56190242A 1981-11-27 1981-11-27 読み取り方式 Pending JPS5892069A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56190242A JPS5892069A (ja) 1981-11-27 1981-11-27 読み取り方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56190242A JPS5892069A (ja) 1981-11-27 1981-11-27 読み取り方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5892069A true JPS5892069A (ja) 1983-06-01

Family

ID=16254865

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56190242A Pending JPS5892069A (ja) 1981-11-27 1981-11-27 読み取り方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5892069A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20030123726A1 (en) Scene change detection apparatus
JPH04313949A (ja) 高ダイナミックレンジ撮像装置
JPS5892069A (ja) 読み取り方式
US4516263A (en) Spatially integral, video signal processor
JPH07146139A (ja) 測距用ccdの信号補正装置
JP2004266797A (ja) ビデオ信号の修正方法
JPH0271682A (ja) 画像読取素子補正装置
JP3104462B2 (ja) マスク欠陥検査装置
CN112687411B (zh) 一种基于多探测器接力信号的反应性测量方法
JPS6113983Y2 (ja)
JPS63222247A (ja) 画像歪補正方法
EP0428626B1 (en) Automated system for testing an imaging sensor
JP3353725B2 (ja) 検査対象の良否判断方法
JPS6219965Y2 (ja)
CN113691804A (zh) 一种检测功能验证方法、装置、设备和介质
JPS62157499A (ja) イメ−ジセンサのきず検査方法
JPS593681B2 (ja) パタ−ン検査方式
JP2006343228A (ja) 固体撮像素子の検査方法及び検査装置
JP2001343217A (ja) 顕微鏡的対象物の測定における物理的に状態付けられた誤差の修正方法
JPS60148287A (ja) 固体撮像素子
JPS61225604A (ja) 寸法測定方法
JPH0556355A (ja) 光電変換装置
JPS61258105A (ja) 丸鋼の直径測定方法
JPH04373393A (ja) 固体撮像素子検査装置
JPS61264280A (ja) ポジトロンct装置