JPS587858U - サブランス・プロ−ブ - Google Patents

サブランス・プロ−ブ

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JPS587858U
JPS587858U JP9992181U JP9992181U JPS587858U JP S587858 U JPS587858 U JP S587858U JP 9992181 U JP9992181 U JP 9992181U JP 9992181 U JP9992181 U JP 9992181U JP S587858 U JPS587858 U JP S587858U
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JP9992181U
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藤原　龍次
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山里エレクトロナイト株式会社
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本案の１例を示すプローブの試料採取管の縦断
面図、第２図は従来の試料採取管を示す縦断面図である
。 １；試料採取管、２：・隔壁、３：採取室、４：採取口
。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試料採取管１に複数の採取室３・・・を設けるとともに
    各採取室３・・・に形成される採取口４・・・を高さ、
    　　　方向一定間隔毎にかつ開口方向を一定角度づつ変
    位させて形成したことを特徴とするサブランス・プロー
    ブ。
JP9992181U 1981-07-03 1981-07-03 サブランス・プロ−ブ Granted JPS587858U (ja)

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JP9992181U JPS587858U (ja) 1981-07-03 1981-07-03 サブランス・プロ−ブ

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JP9992181U JPS587858U (ja) 1981-07-03 1981-07-03 サブランス・プロ−ブ

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JPS587858U true JPS587858U (ja) 1983-01-19
JPS6319796Y2 JPS6319796Y2 (ja) 1988-06-02

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63208737A (ja) * 1987-02-25 1988-08-30 Tokyo Electron Ltd 発塵量測定方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1439586B1 (de) 1996-06-26 2014-03-12 OSRAM Opto Semiconductors GmbH Licht abstrahlendes Halbleiterbauelement mit Lumineszenzkonversionselement

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JPS63208737A (ja) * 1987-02-25 1988-08-30 Tokyo Electron Ltd 発塵量測定方法

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JPS6319796Y2 (ja) 1988-06-02

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