JPS5872033A - 差動型熱天秤装置 - Google Patents

差動型熱天秤装置

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JPS5872033A
JPS5872033A JP17113081A JP17113081A JPS5872033A JP S5872033 A JPS5872033 A JP S5872033A JP 17113081 A JP17113081 A JP 17113081A JP 17113081 A JP17113081 A JP 17113081A JP S5872033 A JPS5872033 A JP S5872033A
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JP
Japan
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sample
weight
change
output
circuit
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JP17113081A
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JPS624654B2 (ja
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Yumi Nakamine
中峯 由美
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Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N5/00Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は熱天秤装置に関し、特に一対の蛎動コイル金
用いることにより簡申にベースラインの補正ケ行なうこ
とがでAるための新規な改良に関するものである。
従来、用いられていたこの種の装置においては天秤全駆
動する1駆勺コイルが1個であるため、調整機構は半固
?で使用(fi調整が困難であった。
従って、熱天秤のベースラインは昇温時のビームの熱#
り長や浮力の変化1’l:エリアンバランスが発生する
ことが多く、簡便な調整機4′!Iがなかった。
この発明は以上のような欠点をすみやかに除去するため
の極めて効果的な手段’?1il供することケ目的とす
るもので、吾に、一対の天秤ビームに各々サンプル1則
お工びリファレンス側則の、駆Jコイルを設げ、この各
天秤ビームの他端にスリット孔を有するシャッタ板?設
げ、リファレンス側の駆動コイルの出力とサンプル側の
駆動コイルの出力との差?求め、熱天秤出力ゲ取り出す
ようにした構成である。
以下、図面と共にこの発明による熱天秤装置々の好適な
実施例について詳細に説明すると、図面において符号1
および2で示すrLるものは駆1助コイルであり、こf
Lらの各駆動コイル1お工び2にはリファレンス1則ビ
ーム3お工ひザンフ゛ル側ビーム4とが各々設V丁ら打
ている。この各ビーム3.4の先端部にはリファレンス
ホルダ5およびサンプルホルダ6が設けらn、さらに各
ホルタ5訃工び6の近傍には第1および第2の加熱・1
戸A、Bが設けらnていることにより、谷ホルダ5.6
内の試料を加熱するものである。
前古C各ビーム3.4の他端部にはスリット部7を肩す
るシャツタ板8が設けらfL%谷シャッタ板80間には
発光体9が取りつげら7’しており、この発光体9のf
tはスリット@7ケ経て各シャツタ板8の外側部に設け
らIした一対の受yt体10.11に到達する。この各
受光体10,11から発生した出力@号Fi第1.第2
の制御部12.13におけるPより制御(ロ)路11V
c入力さitており、各制御部12.13はPより制御
1包路14、オートバランス回路15お工び基準電圧発
生回路16とから各々構成前−rしている。
さらに、各制御部12.13の出力信号は各駆動コイル
1.2に入力さnl この、駆動コイル1゜2の出力信
号は第1.第2のゲイン調整回路17゜18VC各々入
力さfLると共に、谷ゲイン調整回路      −1
7,18の各出力は引き算回路19に入力さnている。
この引き′痒回路19の出力はバッファ20、時定0回
路21、バッファ22を介して熱天秤出力端子26から
分析結果の出力信号が得らnる。このバッファ22の出
力信号Fi微分回路24ケ経て微分出力端子25から出
力さ′t′Lると共に、パネルメータ26によりリメー
タ表示される。
以上のような構成において、サンプルホルダ6に試料會
人几、加熱炉8分プログラム温くコノトローラ27にエ
リプログラム昇!?行なうと、ある温度でサンプルが重
量変化ケし、サンプル側ビーム4がわずかに動く、こn
による位置変化はスリット部8を経て受光体11によっ
て位(4検出さfL、 ビーム4が足位1−にくるよう
に制御部13の制御により駆動コイル2に電流電流して
ビーム4を動かし制御する。
この駆動電流はゲイン調整回路17.18で重着に相当
する電圧に変換gnる。この場合、サンプル9+11ビ
ーム4で検出さfLる@量変化分の中には天秤ビーム3
.4の膨張や浮力の変化による重量変化も含1rしてい
るため、そfLらの不必要な′fL袈変化ケ同様のJa
綱で横hyさnているリファレンス側ビームで測足し、
サンプル411重量変化出力から引き算回路19Vc、
J:り差し引き、必要な京1寸変化のみf取り出すこと
ができる。
従って、簡単にベースラインの補正2行なうことができ
るものである。
【図面の簡単な説明】
白面はこの発明による熱天秤装置01示すための全体構
成図である。  5− 1および2は駆動コイル、3はリファレンス側ビーム、
4はサンプル側ビーム、5はリファレンスホルダ、6は
サンプルホルダ、AおよびB/ri加熱炉、7はスリッ
ト部、8はシャツタ板、9は発光体、10および11は
受光体、i2および13は制御部、14FiPより制御
回路、15はオートバランス回路、t6td基準電圧発
生回路、17および18はゲイン調整回路、19は引き
算回路、20はバッファ、21は時足O回路、23は熱
天秤出力端子、24は微分回路、25は微分出力端子、
26Fiツメネルメータである。 以   上 出願人 株式会社第二精工舎 代理人 弁理士最上  務  6 −

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. サンプル1則およびり7アレンス側の駆動コイルヲ壱す
    る一対の天秤ビームと、この各天秤ビームの一唱に投げ
    らT′したりファレンス仙ホルダお工びサンプル側ホル
    ダと、この各天秤ビームの他端に設けら几スリット孔ヲ
    有するシャツタ板と、こnラノ各シャッタ板の間に投げ
    らfした光源と、各シャツタ板の外側部に設げらnた受
    光器と、各受光器に接続さfl P より制御回路、オ
    ートバランス1路および基準電圧発生回路からなる制御
    回路と、前記各ホルダの近傍に設けらf′した加熱炉と
    、各部[幼コイルからの出力@号を入力する。ための一
    対のゲイン調整回路と、各ゲイン調整回路からの出力を
    引き箕回路分よび時定数回路を経て出力を出すための熱
    天秤出力端子とを備え、リファレンス側の駆動コイルの
    出力とサンプル側の@励コイルの出力との差全求め前記
    熱天秤出力端子から出力を重り出す工゛うにしたことを
    特徴とする熱天秤装置。
JP17113081A 1981-10-26 1981-10-26 差動型熱天秤装置 Granted JPS5872033A (ja)

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JPS624654B2 JPS624654B2 (ja) 1987-01-31

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EP0822393A2 (en) * 1996-07-29 1998-02-04 Seiko Instruments Inc. Thermogravimetric instrument
CN102590006A (zh) * 2012-02-05 2012-07-18 南昌航空大学 一种采用两台电子天平精确连续测量金属材料质量变化的方法

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CN102590006A (zh) * 2012-02-05 2012-07-18 南昌航空大学 一种采用两台电子天平精确连续测量金属材料质量变化的方法

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