JPS586871A - ウエブ走査装置 - Google Patents
ウエブ走査装置Info
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- JPS586871A JPS586871A JP10151682A JP10151682A JPS586871A JP S586871 A JPS586871 A JP S586871A JP 10151682 A JP10151682 A JP 10151682A JP 10151682 A JP10151682 A JP 10151682A JP S586871 A JPS586871 A JP S586871A
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- light
- web
- scanning
- receiver
- directing
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Controlling Rewinding, Feeding, Winding, Or Abnormalities Of Webs (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は非常に狭いビームの光、代表的にはレーザービ
ームを使用して走査することKよってウェブを検査する
方法に関する。通常の方法においては、振動反射器によ
ってまたは多数刻み面付き鏡によってウェブを横切って
ビームを走査させて、ウェブによってビームを反射また
は透過させる。この光は次いで受光器系に入って光エネ
ルギーが電気信号に変換される。
ームを使用して走査することKよってウェブを検査する
方法に関する。通常の方法においては、振動反射器によ
ってまたは多数刻み面付き鏡によってウェブを横切って
ビームを走査させて、ウェブによってビームを反射また
は透過させる。この光は次いで受光器系に入って光エネ
ルギーが電気信号に変換される。
この方法は、ビームがウェブのへりを横切るときに合成
信号が必然的に急激に変化し、この変化が信号処理回路
中の過渡現象を励起する、という点で欠点をもつ。見掛
けの警報信号の必然の傾向を安全にするためには、へや
を横切った後の短い期間、系の応答を遮断または変性す
ることが通常必要である。また、東に別の問題がビーム
軸のすぐそばにしばしば存在する閃光から、たとえばや
−変色した反射表面からの散乱により、生ずる。閃光の
存在はウェブの2つのへりの走行の場合における波形の
肩を必然的に丸くする。これはまた見掛けの警報信号を
生ぜしめる傾向があ抄うる。これらの効果はウェブの先
端へ抄に直角な方向に系が検査するのを不能にする傾向
がアリ、検査を受けないストリップは数藺の幅であ抄う
る。これはある製品にとって、たとえば感光性材料のあ
らかじめ分割したクエプを欠陥検査するときに、許容し
えないことである。
信号が必然的に急激に変化し、この変化が信号処理回路
中の過渡現象を励起する、という点で欠点をもつ。見掛
けの警報信号の必然の傾向を安全にするためには、へや
を横切った後の短い期間、系の応答を遮断または変性す
ることが通常必要である。また、東に別の問題がビーム
軸のすぐそばにしばしば存在する閃光から、たとえばや
−変色した反射表面からの散乱により、生ずる。閃光の
存在はウェブの2つのへりの走行の場合における波形の
肩を必然的に丸くする。これはまた見掛けの警報信号を
生ぜしめる傾向があ抄うる。これらの効果はウェブの先
端へ抄に直角な方向に系が検査するのを不能にする傾向
がアリ、検査を受けないストリップは数藺の幅であ抄う
る。これはある製品にとって、たとえば感光性材料のあ
らかじめ分割したクエプを欠陥検査するときに、許容し
えないことである。
本発明の目的は走査されるウェブ材料の検査されない幅
を減少させることにある。
を減少させることにある。
本発明によれば、ウェブのへりを横切りこれを越えて掃
射する狭い光ビームによねウェブを走査し、ウェブによ
り反射または透過される光を光測定装置の受光器に指向
させて対応する電気信号を発生させ、そしてウェブの光
学的反射または透過の性質をウェブの横方向のへ妙に近
接する2つの補助走査帯域について、該電気信号の平均
強度が実質的に全部の走査掃射にわたって一定であるよ
うに、光学的Kまたは電子工学的にシミュレーションす
る、ことから成ることを特徴とする移動ウェブ物質を光
電的に走査する方法が提供される。
射する狭い光ビームによねウェブを走査し、ウェブによ
り反射または透過される光を光測定装置の受光器に指向
させて対応する電気信号を発生させ、そしてウェブの光
学的反射または透過の性質をウェブの横方向のへ妙に近
接する2つの補助走査帯域について、該電気信号の平均
強度が実質的に全部の走査掃射にわたって一定であるよ
うに、光学的Kまたは電子工学的にシミュレーションす
る、ことから成ることを特徴とする移動ウェブ物質を光
電的に走査する方法が提供される。
本発明の方法において好ましくは、ウェブによって反射
または透過される光および補助走査帯域内のウェブを通
る光は通常の受光器に指向され、そしてウェブを通る光
の光学通路に光変調素子を存在させる。この光変調素子
がウェブの反射ま走は透過の性質をシきニレ−ジョンす
る。
または透過される光および補助走査帯域内のウェブを通
る光は通常の受光器に指向され、そしてウェブを通る光
の光学通路に光変調素子を存在させる。この光変調素子
がウェブの反射ま走は透過の性質をシきニレ−ジョンす
る。
この明細書でいう“光1なる用語は可視光のみならず赤
外光および紫外光をも包含する。本発明の方法は感光性
写真ウェブ材料の走査K特に有用である。このようなウ
ェブ材料は多くの場合、光透過性であるがまた散乱性で
もある写真感光性層を透明プラスチック基材上に被覆し
て成るものである。すなわちこのような材料を透過する
光はまた拡散または散乱される。このよ5な写真材料は
非化学光線(通常は赤外線が使用される)の走査用ビー
ムを使用して被覆の欠陥を試験しなければならない。
外光および紫外光をも包含する。本発明の方法は感光性
写真ウェブ材料の走査K特に有用である。このようなウ
ェブ材料は多くの場合、光透過性であるがまた散乱性で
もある写真感光性層を透明プラスチック基材上に被覆し
て成るものである。すなわちこのような材料を透過する
光はまた拡散または散乱される。このよ5な写真材料は
非化学光線(通常は赤外線が使用される)の走査用ビー
ムを使用して被覆の欠陥を試験しなければならない。
写真フィルム材料上の被覆物はまた光を部分的に反射す
;1す る。更に、ウェブ材料が紙であるとウェブは走査光を全
反射する。すなわち、写真ウェブ材料の走査によって見
られる信号は環境に依存して反射または透過のいづれか
によって検出される。
;1す る。更に、ウェブ材料が紙であるとウェブは走査光を全
反射する。すなわち、写真ウェブ材料の走査によって見
られる信号は環境に依存して反射または透過のいづれか
によって検出される。
本発明の方法において好ましくは、レーザー走査ビーム
が使用される。本発明の方法において好ましくは、ビー
ムは振動反射器の使用によってまたは多数刻み面付き鏡
ドラムの使用によってビームを横切って走査させる。
が使用される。本発明の方法において好ましくは、ビー
ムは振動反射器の使用によってまたは多数刻み面付き鏡
ドラムの使用によってビームを横切って走査させる。
本発明の方法の一面において、ウェブが光透過性である
がまた光散乱性または光拡散性でもあるという事実から
使用が行なわれる。
がまた光散乱性または光拡散性でもあるという事実から
使用が行なわれる。
すなわち、本発明のこの面によれば、偏光された狭い光
ビームによりウェブを走査することを含み、走査される
ウェブと受光器系との間に、走査されるウェブのへりを
越えて突出する偏光性物質から成る光透過性のシートを
存在させ、この偏光性物質のシートを配向させてウェブ
のへりを越える偏光された走査用ビームを部分的に消去
する、光透過性拡散性ウェブ材料の走査法が提供される
。
ビームによりウェブを走査することを含み、走査される
ウェブと受光器系との間に、走査されるウェブのへりを
越えて突出する偏光性物質から成る光透過性のシートを
存在させ、この偏光性物質のシートを配向させてウェブ
のへりを越える偏光された走査用ビームを部分的に消去
する、光透過性拡散性ウェブ材料の走査法が提供される
。
本発明の方法のこの面において、検査帯域内において、
偏光ビームがウェブ上に入射しウェブを透過する。ウェ
ブの拡散特性によね、この透過光はもはや強く偏光され
てはいない。この光の一部がその光の強度を更に減衰さ
せる偏光性シートを経て受光器に入る。減衰の程度はシ
ートの配向によって実質的に影響されない。ウェブのへ
りを越える走査先端において、ビームは偏光状態を保持
する。それはビームがウェブを透過しなかったためであ
りまた従ってビームはシートの配向によるこの偏光性シ
ートによって減衰されないためである。すなわち、光源
の偏光の配向によって又は偏向性シートの配向によって
、拡散性材料中の透過から見られる信号は走査先端に対
応する信号と密接に釣合わせることができる。然しなか
も、この系はこれによってウェブ中の欠陥に対して不感
性になることが想儂され5る。
偏光ビームがウェブ上に入射しウェブを透過する。ウェ
ブの拡散特性によね、この透過光はもはや強く偏光され
てはいない。この光の一部がその光の強度を更に減衰さ
せる偏光性シートを経て受光器に入る。減衰の程度はシ
ートの配向によって実質的に影響されない。ウェブのへ
りを越える走査先端において、ビームは偏光状態を保持
する。それはビームがウェブを透過しなかったためであ
りまた従ってビームはシートの配向によるこの偏光性シ
ートによって減衰されないためである。すなわち、光源
の偏光の配向によって又は偏向性シートの配向によって
、拡散性材料中の透過から見られる信号は走査先端に対
応する信号と密接に釣合わせることができる。然しなか
も、この系はこれによってウェブ中の欠陥に対して不感
性になることが想儂され5る。
これは主要な欠陥(たとえば透明ウェブ上の大きな穴ま
たは該ウェブ上の拡散層の不存在)については真実であ
るけれども、Haな欠陥の存在は偏光のランダム性から
著るしく逸脱することなしに透過光の強度を変性するの
に役立つ。
たは該ウェブ上の拡散層の不存在)については真実であ
るけれども、Haな欠陥の存在は偏光のランダム性から
著るしく逸脱することなしに透過光の強度を変性するの
に役立つ。
それ故、この系はこのような欠陥に対する感受性を保つ
。
。
被瞳していないウェブおよび他の大きな欠陥を検出する
別の粗大欠陥検出器を装備するのが通常の慣習である。
別の粗大欠陥検出器を装備するのが通常の慣習である。
その土、閃光もまた主として偏光される。ウェブのへり
を横切る場合の信号の過渡現象が本発明の方法の採用に
よってほとんど完全に消滅されることは簡単な分析によ
って示される。この方法に本とづ〈実用系において、検
査されないへ抄のストリップの幅を0.5mに減少させ
ることが可能であった。
を横切る場合の信号の過渡現象が本発明の方法の採用に
よってほとんど完全に消滅されることは簡単な分析によ
って示される。この方法に本とづ〈実用系において、検
査されないへ抄のストリップの幅を0.5mに減少させ
ることが可能であった。
本発明の方法の別の面において、移動ウェブの反射性に
ついての使用が行なわれる。
ついての使用が行なわれる。
すなわち、本発明のこの面によれば、狭い光ビームによ
抄このウェブを走査することおよびウェブ表面から反射
される光の一部を受光器に指向させることを含み、光源
から離れたウェブの面に光害指向部材を存在させ、ウェ
ブのへりを横切る光の部分をウェブから反射される光を
受は入れる同じ受光器に再指向させるように上記光害指
向部材を配置し、ウェブから反射される光の通路中かあ
るいは光害指向部材から受光器へ再指向される光の通路
中かそのいづれかに光減衰フィルタを存在させ、ウェブ
から反射される光により受光器から生じる電気信号の平
均強電が光害指向部材から受光器へ再指向される光によ
る電気信号の平均強度に等しくなるように光減衰フィル
タの強度を定める、光反射性ウェブ材料の走査法が提供
される。
抄このウェブを走査することおよびウェブ表面から反射
される光の一部を受光器に指向させることを含み、光源
から離れたウェブの面に光害指向部材を存在させ、ウェ
ブのへりを横切る光の部分をウェブから反射される光を
受は入れる同じ受光器に再指向させるように上記光害指
向部材を配置し、ウェブから反射される光の通路中かあ
るいは光害指向部材から受光器へ再指向される光の通路
中かそのいづれかに光減衰フィルタを存在させ、ウェブ
から反射される光により受光器から生じる電気信号の平
均強電が光害指向部材から受光器へ再指向される光によ
る電気信号の平均強度に等しくなるように光減衰フィル
タの強度を定める、光反射性ウェブ材料の走査法が提供
される。
通常は、光害指向部材によって再指向される光の強度は
1°゛ウエブから反射される光の強度よ
抄も大きく、従って光減衰用フィルタは再指向の光の通
路中に配置される。
1°゛ウエブから反射される光の強度よ
抄も大きく、従って光減衰用フィルタは再指向の光の通
路中に配置される。
以後は、本発明の方法を再指向の光の通路中に配置した
光減衰用フィルタについて記述する。
光減衰用フィルタについて記述する。
使用する光減衰用フィルタは傾斜密度型のものでありう
る。本発明の方法に使用しうる別の有用な光減衰用フィ
ルタは一方が他方に対して光を減衰させるように配向さ
せた2枚の重ね合せた光偏光性シートから成るものであ
る。
る。本発明の方法に使用しうる別の有用な光減衰用フィ
ルタは一方が他方に対して光を減衰させるように配向さ
せた2枚の重ね合せた光偏光性シートから成るものであ
る。
好ましくは、光害指向部材は反射部材である。
光を再指向させるために光反射部材を使用するとき、ウ
ェブは走査点で支持されていない状態にあることができ
、光反射性ストリップが走査点において走査光源から離
れたウェブの面上にウェブのいづれかのへりを越えて突
出するように配置される。すなわち、光は反射によって
受光器に再指向される。
ェブは走査点で支持されていない状態にあることができ
、光反射性ストリップが走査点において走査光源から離
れたウェブの面上にウェブのいづれかのへりを越えて突
出するように配置される。すなわち、光は反射によって
受光器に再指向される。
好ましくは、光反射性部材は鏡である。
別法として、走査ビームは偏光であることができ、ウェ
ブのへりを越える光反射部材はそこから反射された光を
減衰させるように配向された偏光性シートであることが
できる。
ブのへりを越える光反射部材はそこから反射された光を
減衰させるように配向された偏光性シートであることが
できる。
また別法として、走査点におけるウェブ支持部材は光を
反射によって受光器に再指向させる磨かれたローラであ
る。
反射によって受光器に再指向させる磨かれたローラであ
る。
然しなから、光害指向部材は光伝導部材たとえば一列の
光パイプ類であることができる。本発明の別の面におい
て、光反射部材はウェブのへりを横切る光を受光器に再
指向させるために使用することができる。
光パイプ類であることができる。本発明の別の面におい
て、光反射部材はウェブのへりを横切る光を受光器に再
指向させるために使用することができる。
ウェブが鏡のように反射性であるか又は拡散的に反射性
であるかに依存して、再指向部材の性質を変えてウェブ
からの反射光の信号と釣合う信号をうろことが可能であ
り、そして次に光減衰用フィルタの使用によってウェブ
走査中にウェブのへ抄を横切る際の信号の過渡現象をほ
とんど完全に消滅させることも可能である。これらの技
術の1つに、・もとづく実用系において、検査されない
ストリップは0.5Uの幅にまで減少させられた。
であるかに依存して、再指向部材の性質を変えてウェブ
からの反射光の信号と釣合う信号をうろことが可能であ
り、そして次に光減衰用フィルタの使用によってウェブ
走査中にウェブのへ抄を横切る際の信号の過渡現象をほ
とんど完全に消滅させることも可能である。これらの技
術の1つに、・もとづく実用系において、検査されない
ストリップは0.5Uの幅にまで減少させられた。
本発明の方法において、好ましくはレーザー走査ビーム
が使用される。
が使用される。
本発明の方法の史に別の面によれば、ウェブによって反
射または透過される光は第1の受光器に指向され、補助
走査帯域内のウェブを通過する光は第2の受光器に指向
され、これらの受光器の出力信号はえられた合計信号が
実質的に全部の走査掃射にわたって一定であるように釣
合わせられ且つ付加される。
射または透過される光は第1の受光器に指向され、補助
走査帯域内のウェブを通過する光は第2の受光器に指向
され、これらの受光器の出力信号はえられた合計信号が
実質的に全部の走査掃射にわたって一定であるように釣
合わせられ且つ付加される。
この特定の方法は光がウェブから反射される場合に最も
よく使用される。
よく使用される。
ある場合には、光走査ビームがウェブを横切る時を知る
ことが必要とされ、従ってこのような場合にはウェブの
へ秒を横切るビームの走行に対応する電気信号を発生さ
せることが、たとえばウェブ自体のまたは線状欠陥のト
ラッキングの検査に対してのみ適切な信号の電子工学的
選択のために、必要となる。
ことが必要とされ、従ってこのような場合にはウェブの
へ秒を横切るビームの走行に対応する電気信号を発生さ
せることが、たとえばウェブ自体のまたは線状欠陥のト
ラッキングの検査に対してのみ適切な信号の電子工学的
選択のために、必要となる。
すなわち、従来技術が述べているように偏光性シートの
挿入によって光をウェブ中に透過させる方法において、
ウェブのへりは光を集める受光器に対する透明性が付与
された。偏光性シートに入る光の一部を補助光検出器の
窓に向けてそらすことが可能である。このそらされた光
はウェブ上に入射しないときの入射ビーム強度の固定部
分またはウェブによって散乱され不光の固定部分である
ことができる。
挿入によって光をウェブ中に透過させる方法において、
ウェブのへりは光を集める受光器に対する透明性が付与
された。偏光性シートに入る光の一部を補助光検出器の
窓に向けてそらすことが可能である。このそらされた光
はウェブ上に入射しないときの入射ビーム強度の固定部
分またはウェブによって散乱され不光の固定部分である
ことができる。
その結果としての電気信号はウェブのへ抄を横切る場合
に走査ビームによって急激に変化する。この突然の変化
は工、2.。=ッ2..。フイッ、f−2.□□オ、3
ヵ1□6゜ )・!光のこのような一部をそらすため
に、ビームスブリット装置をウェブと偏光性シートとの
間に挿入することができ、あるいけ偏光性シートの反射
面をそれ自体ビームスプリッタとして使用することもで
きる。
に走査ビームによって急激に変化する。この突然の変化
は工、2.。=ッ2..。フイッ、f−2.□□オ、3
ヵ1□6゜ )・!光のこのような一部をそらすため
に、ビームスブリット装置をウェブと偏光性シートとの
間に挿入することができ、あるいけ偏光性シートの反射
面をそれ自体ビームスプリッタとして使用することもで
きる。
同様に、上述の釣合せ法によって光をウェブから反射さ
せる方法において、ウェブのへりは光を集める受光器に
対して透明性が付与された。その結果として、光減衰フ
ィルタに入る光の一部を補助光検出器の窓に指向させる
ことが必要で為る。えられる輻射はウェブ上に入射しな
いときの入射ビーム強度の固定部分またはフィルタに入
る前にウェブ中の透過により減衰された光の同じ固定部
分である。その結果としての電気信号はウェブのへり゛
を横切る場合に走査ビームによって急激に変化する。こ
の急激の変化は既に述べたようにエレクトロエックスの
スイッチとして使用することができる。光のこのような
部分をそらすために、ビームスブリット装置を光減衰フ
ィルタのすぐ前の通路に挿入することができる。
せる方法において、ウェブのへりは光を集める受光器に
対して透明性が付与された。その結果として、光減衰フ
ィルタに入る光の一部を補助光検出器の窓に指向させる
ことが必要で為る。えられる輻射はウェブ上に入射しな
いときの入射ビーム強度の固定部分またはフィルタに入
る前にウェブ中の透過により減衰された光の同じ固定部
分である。その結果としての電気信号はウェブのへり゛
を横切る場合に走査ビームによって急激に変化する。こ
の急激の変化は既に述べたようにエレクトロエックスの
スイッチとして使用することができる。光のこのような
部分をそらすために、ビームスブリット装置を光減衰フ
ィルタのすぐ前の通路に挿入することができる。
本発明の別の面によれば、狭い走査光ビームを発生させ
てこのビームをウェブのへ抄を横切りこれを越えて掃射
するための部材、受は入れた光に対応する電気出力信号
を発生する受光器を含む測定装置、ウェブによって反射
または透過される光を受光器に指向させる部材、および
ウェブの光学的反射または透過の性質をウェブの横方向
のへりに近接する2つの補助走査帯域について、該電気
出力の信号の平均強度が実質的に全部の走査掃射にわた
って一定であるようにシミュレーションするための光学
的または電子工学的部材、から成ることを特徴とする移
動ウェブの走査装置が提供される。
てこのビームをウェブのへ抄を横切りこれを越えて掃射
するための部材、受は入れた光に対応する電気出力信号
を発生する受光器を含む測定装置、ウェブによって反射
または透過される光を受光器に指向させる部材、および
ウェブの光学的反射または透過の性質をウェブの横方向
のへりに近接する2つの補助走査帯域について、該電気
出力の信号の平均強度が実質的に全部の走査掃射にわた
って一定であるようにシミュレーションするための光学
的または電子工学的部材、から成ることを特徴とする移
動ウェブの走査装置が提供される。
好ましくはこの装置において、光指向部材はウェブによ
って反射または透過される光ならびに補助走査帯域内の
ウェブを通る光を受光器に指向させ、シミュレーション
部材はウェブを通る光学通路に存在する光学的光変調素
子である。
って反射または透過される光ならびに補助走査帯域内の
ウェブを通る光を受光器に指向させ、シミュレーション
部材はウェブを通る光学通路に存在する光学的光変調素
子である。
好ましい一装置において、光変調素子は減衰度をうるた
め匠相1ffiK配向した2枚の偏光性シートから成る
。
め匠相1ffiK配向した2枚の偏光性シートから成る
。
ウェブ材料を走査しウェブによって透過される信号を受
は入れることKよって装置が作動するときは、好ましく
は光走査部材は偏光の光源でア転光変調素子は偏光性シ
ートである。
は入れることKよって装置が作動するときは、好ましく
は光走査部材は偏光の光源でア転光変調素子は偏光性シ
ートである。
好ましくは偏光性シートはウェブのうしろの走査光の方
向に配置され、ウェブおよび補助走査帯域を横切って伸
びる。
向に配置され、ウェブおよび補助走査帯域を横切って伸
びる。
ウェブ材料を走査しウェブによって反射される信号を受
は入れることによって装置が作動するときは、好ましく
は光変調素子は光学密度くさびである。
は入れることによって装置が作動するときは、好ましく
は光変調素子は光学密度くさびである。
この装置において、好ましくは光反射表面はウェブを横
切って伸びる鐘によって構成される。別の具体例におい
て、反射表面は走査点においてウェブを支持する磨かれ
たローラの反射表面によって構成される。
切って伸びる鐘によって構成される。別の具体例におい
て、反射表面は走査点においてウェブを支持する磨かれ
たローラの反射表面によって構成される。
この装置の一具体例において、光指向部材はウェブを通
る光を受光器に導く光伝導部材から成る。
る光を受光器に導く光伝導部材から成る。
本発明による装置の別の具体例において、測定装置は付
属増幅器およびこの増幅器の出力信号のための付加器を
もつ2個の受光器から成抄、光指向部材がウェブにより
反射または透過される光を一方の受光器に指向させ、補
助走査帯域内のウェブを通る光を他の受光器に指向させ
、そして増幅器が付加器によって発生される合計信号が
実質的に全部の走査掃射にわたって一定であるように相
互に釣合わせられている。
属増幅器およびこの増幅器の出力信号のための付加器を
もつ2個の受光器から成抄、光指向部材がウェブにより
反射または透過される光を一方の受光器に指向させ、補
助走査帯域内のウェブを通る光を他の受光器に指向させ
、そして増幅器が付加器によって発生される合計信号が
実質的に全部の走査掃射にわたって一定であるように相
互に釣合わせられている。
一
好ましくは本発明の装置には、ウェブと1つの補助走査
帯域との両者からの光を受は入れるように配置した付加
的受光器から成るウェブのへり検出器が装備されている
。
帯域との両者からの光を受は入れるように配置した付加
的受光器から成るウェブのへり検出器が装備されている
。
本発明の装置において好ましくは、光ビームを発生させ
るために使用する光源はレーザーである。好ましくは振
動反射器または多数刻み面付き鏡をこの装置中に使用し
てウェブを横切ってビームを走査させる。
るために使用する光源はレーザーである。好ましくは振
動反射器または多数刻み面付き鏡をこの装置中に使用し
てウェブを横切ってビームを走査させる。
添付の図面は本発明を更に具体的に説明するためのもの
である。
である。
第1図〜第3図、および第5a図〜第7c図は光がウエ
ラ°中を透過する場合の装置および方法に関する。
ラ°中を透過する場合の装置および方法に関する。
第8図〜第16b図は光がウェブから反射する場合の装
置および方法に関する。
置および方法に関する。
第4a図および第4b図は反射および透過の両方の方法
に関する。
に関する。
すべての図において同じ符号は同じ意味をもつ。
第1図はウェブを従来技術により光の透過によって検査
する代表的な装置を示すものである。レーザー光源(1
m)からのレーザービーム(1)は回転する刻み面付き
鏡ドラム(2)上に投影され、該ドラムからの反射ビー
ム(3)が(5a)および(3b)Kよって規定される
通路上を走査してウェブ(4)上に入射する。入射点は
ウェブの運動方向(4)に対して直角の方向にウェブを
横切る。ビーム(3)はウェブ(4)によって変性され
且つ部分的に透過されてフォトセル(7,8)を含む受
光器(6)の窓(5)に落下する。ビームがウェブに入
射しないで受光器(6)の窓(5)に直接落下する場合
の走査の部分中のビームの占める通路(10゜11)も
同様に示しである。
する代表的な装置を示すものである。レーザー光源(1
m)からのレーザービーム(1)は回転する刻み面付き
鏡ドラム(2)上に投影され、該ドラムからの反射ビー
ム(3)が(5a)および(3b)Kよって規定される
通路上を走査してウェブ(4)上に入射する。入射点は
ウェブの運動方向(4)に対して直角の方向にウェブを
横切る。ビーム(3)はウェブ(4)によって変性され
且つ部分的に透過されてフォトセル(7,8)を含む受
光器(6)の窓(5)に落下する。ビームがウェブに入
射しないで受光器(6)の窓(5)に直接落下する場合
の走査の部分中のビームの占める通路(10゜11)も
同様に示しである。
第2図は第1図に示す装置と同じ装置配列中に偏光性ス
トリップ(109)をウェブ(4)と受光器(6)の窓
(5)の穴との間に配置した装置を示す本のである。偏
光性ストリップ(109)は図示するように走査面に対
して傾斜している。
トリップ(109)をウェブ(4)と受光器(6)の窓
(5)の穴との間に配置した装置を示す本のである。偏
光性ストリップ(109)は図示するように走査面に対
して傾斜している。
第5図は第2図のストリップ(109)において、スト
リップ(109)の偏光の好ましい方向(112)を示
すものである。このようにして光ビーム(1)および従
って光ビーム(3)が偏光される。この図中のビームは
ウェブ(4)の不存在下での窓(5)に対して直角の位
置にあるように示されている。ビーム(3)の偏光の方
向(113)は窓(5)のへり(LM、MN)に対して
それぞれ平行に引かれた軸(aa、bb)に対して小さ
い角度(θ)をなすようにえらばれる。
リップ(109)の偏光の好ましい方向(112)を示
すものである。このようにして光ビーム(1)および従
って光ビーム(3)が偏光される。この図中のビームは
ウェブ(4)の不存在下での窓(5)に対して直角の位
置にあるように示されている。ビーム(3)の偏光の方
向(113)は窓(5)のへり(LM、MN)に対して
それぞれ平行に引かれた軸(aa、bb)に対して小さ
い角度(θ)をなすようにえらばれる。
第4a図〜第4b図はや一変色した鏡ドラム表面の効果
を示すものである。
を示すものである。
第4a図はレーザー光源からのビーム(1)が刻み面付
きドラム上のや一変色した鏡表面によって反射されて主
たるビーム(6)を形成する様子をこの主ビームのまわ
9に軸的に対称に位置する光線(3fx 、sb )に
よって代表的に形成される狭い円錐状のビームと共に示
すものである。
きドラム上のや一変色した鏡表面によって反射されて主
たるビーム(6)を形成する様子をこの主ビームのまわ
9に軸的に対称に位置する光線(3fx 、sb )に
よって代表的に形成される狭い円錐状のビームと共に示
すものである。
第4b図は主たるビームおよび付随する閃光から成るプ
ロフィル(P)を示すものである。
ロフィル(P)を示すものである。
第5a図〜第5b図は従来技術による装置がへりの位置
におけるストリップを検査しえない様子を示すものであ
る。
におけるストリップを検査しえない様子を示すものであ
る。
第5a図はフォトセル(7t a )からの、フィルタ
ーを通していない合計信号がビーム(3)を先端通路(
3a、3b)間で走査させる際に変化する様子を示すも
のである。
ーを通していない合計信号がビーム(3)を先端通路(
3a、3b)間で走査させる際に変化する様子を示すも
のである。
ウェブ上に落下する主ビーム(3)の直前に、部分(3
ft)がウェブ上に入射し、ウェブ(4)によって減衰
せしめられてから窓(5)を経て受光器(6)に入る。
ft)がウェブ上に入射し、ウェブ(4)によって減衰
せしめられてから窓(5)を経て受光器(6)に入る。
信号の強さはそれ故に(114)のように落下しはじめ
る。走査が進んで主1”ti ビームがウェブ上に落下すると、信号は(115)のよ
うに急激に落下する。その後、閃光の部分は付加的に減
衰せしめられて(116)のようにゆるやかな落下が生
じる。
る。走査が進んで主1”ti ビームがウェブ上に落下すると、信号は(115)のよ
うに急激に落下する。その後、閃光の部分は付加的に減
衰せしめられて(116)のようにゆるやかな落下が生
じる。
同様に急激の変化(117)および丸みを帯びる効果(
118,119)は追跡ヘリを走査ビームが横切るとき
に逆方向に生じる。ウェブまたはその被覆物中の代表的
な欠陥に対する応答は第5a図に(120)として示し
である。
118,119)は追跡ヘリを走査ビームが横切るとき
に逆方向に生じる。ウェブまたはその被覆物中の代表的
な欠陥に対する応答は第5a図に(120)として示し
である。
第5b図は適切な高度フィルタリング後の信号を示すも
のである。効果(114,116,118,119)と
共に急激の変化(115,117)に基因する過渡現象
(121,122)は欠陥によって発生する過渡現象(
125)と強度において類似であることが認められ、そ
れ故に適切な信号ゲーティングおよびその結果としての
へり付近の検査の損失なしには消すことができない。
のである。効果(114,116,118,119)と
共に急激の変化(115,117)に基因する過渡現象
(121,122)は欠陥によって発生する過渡現象(
125)と強度において類似であることが認められ、そ
れ故に適切な信号ゲーティングおよびその結果としての
へり付近の検査の損失なしには消すことができない。
第6a図〜第6b図はウェブ中の透過による検査に関し
て本発明によりウェブをその全表面にわたって検査する
ことができる様子を示すものである。
て本発明によりウェブをその全表面にわたって検査する
ことができる様子を示すものである。
第6a図はビーム3が先端通路(3m、5b)間で走査
されるとき、信号が偏光性ストリップ(109)ならび
にビーム(5)の正しい偏光によ抄影響される様子を示
すものである。
されるとき、信号が偏光性ストリップ(109)ならび
にビーム(5)の正しい偏光によ抄影響される様子を示
すものである。
主ビームが偏光され、付随の閃光も同じ面にそって主と
して偏光される。ウェブのへりを横切ってビーム(5)
が移動する直前または直後の任意の段階において、任意
の基本ビーム(主ビーム3または閃光の円錐内のビーム
)は偏光性ストリップ<1o9)中を透過してθの値に
従って減衰されるか、あるいはウェブを部分的に透過し
てウェブによってランダムに偏光され、次いでストリッ
プ(109)においてθとは無関係の量で減衰せしめら
れる。ウェブに入射するか否かにか\わりなく、このよ
うな任意の基本ビームからえられる信号が実質的に同じ
であるようにθの値をえらぶことは可能である。見られ
た合計信号はそれ故につニブのへりを横切るビームの走
行の場合に過渡現象を実質的に含まない。唯一の残存過
渡現象(120)は真の欠陥によって発生するものであ
る。このようにして、ウェブ(4)をその全表面にわた
って検査することが今や可能である。
して偏光される。ウェブのへりを横切ってビーム(5)
が移動する直前または直後の任意の段階において、任意
の基本ビーム(主ビーム3または閃光の円錐内のビーム
)は偏光性ストリップ<1o9)中を透過してθの値に
従って減衰されるか、あるいはウェブを部分的に透過し
てウェブによってランダムに偏光され、次いでストリッ
プ(109)においてθとは無関係の量で減衰せしめら
れる。ウェブに入射するか否かにか\わりなく、このよ
うな任意の基本ビームからえられる信号が実質的に同じ
であるようにθの値をえらぶことは可能である。見られ
た合計信号はそれ故につニブのへりを横切るビームの走
行の場合に過渡現象を実質的に含まない。唯一の残存過
渡現象(120)は真の欠陥によって発生するものであ
る。このようにして、ウェブ(4)をその全表面にわた
って検査することが今や可能である。
第6b図はゆるやかな変化から急激な変化を分離するた
めに適切なフィルタリングを行なった後の信号(123
)を示すものである。
めに適切なフィルタリングを行なった後の信号(123
)を示すものである。
第7a図〜第7C図は装置がウェブのへりの検出器を与
えるのに適する様子を示すものである。
えるのに適する様子を示すものである。
第7a図は偏光性ストIJツブ(109)の傾斜角の適
切な選択によって、ウェブ(4)のへねを透過する又は
へりの近くのウェブによって散乱される光の部分が、第
2の受光器または検出器(124)に向けて、偏光スト
リップ(109)の表面によって反射される様子を示す
ものである。残余の光は前述のように偏光ストリップ(
10?)を透過する。
切な選択によって、ウェブ(4)のへねを透過する又は
へりの近くのウェブによって散乱される光の部分が、第
2の受光器または検出器(124)に向けて、偏光スト
リップ(109)の表面によって反射される様子を示す
ものである。残余の光は前述のように偏光ストリップ(
10?)を透過する。
第7b図は側部立面図としてみた同じ配置を示す。
第7c図は、へ抄を横切る際に補助ホトセル(124)
によって発生する応答(125)を示す。突然の変化(
126)は電子工学的スイッチの目的に使用することが
できる。
によって発生する応答(125)を示す。突然の変化(
126)は電子工学的スイッチの目的に使用することが
できる。
第8図は光反射によってウェブを検査する装置を示す。
レーザービーム(1)を回転する刻み面付き鏡ドラム(
2)に投影し、そこから反射ビーム(5)を(5a)お
よび(3b)によって規定される通路上を走査させ、そ
れによってウェブ(4)上に入射させる。入射点はウェ
ブの運動方向(匍に直角の方向にウェブを横切る。ビー
ム(3)は反射ビーム(5rv)がフォトセル(7,8
)を含む受光器(6)の窓上に!T−1,につ、ヵ42
.よっ□□5ゎ□つう工、 )パ反射される。ビー
ム(3)はウェブのへ抄を越えて走査せしめられ次いで
反射性ストリップ(209)上に落下する。
2)に投影し、そこから反射ビーム(5)を(5a)お
よび(3b)によって規定される通路上を走査させ、そ
れによってウェブ(4)上に入射させる。入射点はウェ
ブの運動方向(匍に直角の方向にウェブを横切る。ビー
ム(3)は反射ビーム(5rv)がフォトセル(7,8
)を含む受光器(6)の窓上に!T−1,につ、ヵ42
.よっ□□5ゎ□つう工、 )パ反射される。ビー
ム(3)はウェブのへ抄を越えて走査せしめられ次いで
反射性ストリップ(209)上に落下する。
光線(1o、11)はこのような代表的ビームを示す。
これらのビームはそれぞれ方向(10rm、11rm)
にそって反射されて受光器(6)の同じ窓(5)に入る
。
にそって反射されて受光器(6)の同じ窓(5)に入る
。
第9図は再指向ビーム(たとえば10rm、11rm)
中1に減衰性フィルタ(212)を介在させた側部立面
図を示すものである。フィルタの密度は、ウェブ(4)
によって反射された光によりホトセル(7,8)によっ
て生ずる電気信号の平均強奪がフィルタ(212)を経
て鐘(209)から受光器に再指向される光による電気
信号の平均強奪に等しくなるような密度である。この図
においてウェブは2個のローラ(213,214)によ
って支持されている。
中1に減衰性フィルタ(212)を介在させた側部立面
図を示すものである。フィルタの密度は、ウェブ(4)
によって反射された光によりホトセル(7,8)によっ
て生ずる電気信号の平均強奪がフィルタ(212)を経
て鐘(209)から受光器に再指向される光による電気
信号の平均強奪に等しくなるような密度である。この図
においてウェブは2個のローラ(213,214)によ
って支持されている。
第4a図〜第4b図を再び参照して、そこには光線(3
r!v 3ft)によって代表的に規定される狭い円錐
ビームを生せしめるや一変色した鏡ドラム表面の効果が
示してあ第10a図〜第10b図はフィルタ(212)
のない装置がへりの部分におけるストリップを検査しえ
ない様子を示すものである。
r!v 3ft)によって代表的に規定される狭い円錐
ビームを生せしめるや一変色した鏡ドラム表面の効果が
示してあ第10a図〜第10b図はフィルタ(212)
のない装置がへりの部分におけるストリップを検査しえ
ない様子を示すものである。
第10a図はビーム(3)が先端通路(3m、3b)間
で走査せしめられるときのフォトセル(7,8)からの
フィルター処理されていない合計信号の変化の様子を示
すものである。
で走査せしめられるときのフォトセル(7,8)からの
フィルター処理されていない合計信号の変化の様子を示
すものである。
主ビーム(3)がウェブ上に落下する直前に部分(3f
r)がウェブ(りに入射してウェブによ抄反射されて窓
(5)を経て受光器(6)に入る。このようにして信号
強度は(2157において上昇しはじめる。走査が進行
して主ビーム(5)がウェブ上に落下せしめられると、
信号は(216)において急激に上昇する。その後、閃
光の部分は付加的に反射されて(217)においてゆる
やかに上昇する。同様に急激な変化(218)および丸
みの効果(219,220)が追跡ヘリを走査ビームが
横切るとき逆方向に生じる。ウェブまたはその被覆物中
の代表的な欠陥に対する応答は(221)として示しで
ある。
r)がウェブ(りに入射してウェブによ抄反射されて窓
(5)を経て受光器(6)に入る。このようにして信号
強度は(2157において上昇しはじめる。走査が進行
して主ビーム(5)がウェブ上に落下せしめられると、
信号は(216)において急激に上昇する。その後、閃
光の部分は付加的に反射されて(217)においてゆる
やかに上昇する。同様に急激な変化(218)および丸
みの効果(219,220)が追跡ヘリを走査ビームが
横切るとき逆方向に生じる。ウェブまたはその被覆物中
の代表的な欠陥に対する応答は(221)として示しで
ある。
第1CIb図は適切な高度フィルタリングの稜の信号を
示す。効果(215,217,219,220)と共に
急激な変化(216,218)にそれぞれ起因する過渡
現象(222,225)は欠陥によって発生する過渡現
象(224)と強度において類似であり、それ故に適切
な信号ゲーティングおよびその結果として生ずる、へり
の近くの検査の損失なしKは消すことができない。
示す。効果(215,217,219,220)と共に
急激な変化(216,218)にそれぞれ起因する過渡
現象(222,225)は欠陥によって発生する過渡現
象(224)と強度において類似であり、それ故に適切
な信号ゲーティングおよびその結果として生ずる、へり
の近くの検査の損失なしKは消すことができない。
第11a図〜第11b図はウェブがらの反射による検査
に関して本発明によりウェブがその全表面にわたって検
査できる様子を示す吃のである。
に関して本発明によりウェブがその全表面にわたって検
査できる様子を示す吃のである。
第11a図はビーム(5)が先端通路(3a、3b)間
で走査せしめられる際にフォトセル(7,8)からの処
理していない合計信号の変化の様子を示すものである。
で走査せしめられる際にフォトセル(7,8)からの処
理していない合計信号の変化の様子を示すものである。
ウェブのへ松を横切ってビーム(3)が移動する直前ま
えは直後の任意の段階において、任意の基本ビーム(主
ビーム3または閃光の円錐内のビーム)はウェブにより
反射されて受光器および従ってホトセル(y、a)に入
るか、あるいはフィルタ(212)を経て鏡(209)
によって同じホトセルに再指向される。このような任意
の基本ビームからえられる信号は、ウェブに入射するか
否かにか\わ抄なく、実質的に同一である。見られた合
計信号はそれ故にウェブのへやを横切るビームの走行の
場合に過渡現象を実質的に含まない。唯一の残存過渡現
象(221)は真の欠陥によって発生するものである。
えは直後の任意の段階において、任意の基本ビーム(主
ビーム3または閃光の円錐内のビーム)はウェブにより
反射されて受光器および従ってホトセル(y、a)に入
るか、あるいはフィルタ(212)を経て鏡(209)
によって同じホトセルに再指向される。このような任意
の基本ビームからえられる信号は、ウェブに入射するか
否かにか\わ抄なく、実質的に同一である。見られた合
計信号はそれ故にウェブのへやを横切るビームの走行の
場合に過渡現象を実質的に含まない。唯一の残存過渡現
象(221)は真の欠陥によって発生するものである。
このようにして、ウェブ(4)をその全表面にわ九って
検査することが今や可能である。
゛)第11b図はゆるやかな変化から急激な変化を分離
するために適切な高度フィルタリングを行なった後の信
号を示すものである。
検査することが今や可能である。
゛)第11b図はゆるやかな変化から急激な変化を分離
するために適切な高度フィルタリングを行なった後の信
号を示すものである。
第12図は別の具体例を示すものである。2つの光パイ
プ列(225,226)が反射性スL IJツブの代り
に使用され、フィルタ(227,228)をそれぞれ経
てフォトセル(7,8)に光を再指向させる。ウェブ(
4)からの反射による信号強度が光パイプ列(225,
226)中の透過による信号強度を越える場合、フィル
タが代りに受光器(6)の窓(5)を横切って配置され
る。
プ列(225,226)が反射性スL IJツブの代り
に使用され、フィルタ(227,228)をそれぞれ経
てフォトセル(7,8)に光を再指向させる。ウェブ(
4)からの反射による信号強度が光パイプ列(225,
226)中の透過による信号強度を越える場合、フィル
タが代りに受光器(6)の窓(5)を横切って配置され
る。
第13図は本発明の更に別の具体例においてウェブを高
度に磨かれ九ローラ(229)による走査線において支
持する様子を示すものである。ウェブによって反射され
た光は面(2so、2s1)によって代表的に規定され
る一定範囲の方向にわたってしばしば散乱せしめられる
。代表的に面(232)にそった走査先端において磨か
れたローラ(229)によって光はしばしば鏡のように
反射される。ウェブおよびロー2による平均信号強度の
釣り合いは適切な光学密度のフィルタ材料(255)の
薄いストリップを面(2!52)に配置すること罠よっ
て達成される。
度に磨かれ九ローラ(229)による走査線において支
持する様子を示すものである。ウェブによって反射され
た光は面(2so、2s1)によって代表的に規定され
る一定範囲の方向にわたってしばしば散乱せしめられる
。代表的に面(232)にそった走査先端において磨か
れたローラ(229)によって光はしばしば鏡のように
反射される。ウェブおよびロー2による平均信号強度の
釣り合いは適切な光学密度のフィルタ材料(255)の
薄いストリップを面(2!52)に配置すること罠よっ
て達成される。
第14a図〜第14b図は第9図に示す装置がウェブの
ヘリの検出器を与えるのに適する様子を示すものである
。
ヘリの検出器を与えるのに適する様子を示すものである
。
第14a図において、ビームスプリッタ(254)が再
指向ビーム(たとえば10rm、11rm)によって形
成される平面光通路中に挿入されている。このビームス
プリッタは再指向光を光線(236)によって示すよう
に補助フォトセル(235)上に落下するように指向さ
せる。
指向ビーム(たとえば10rm、11rm)によって形
成される平面光通路中に挿入されている。このビームス
プリッタは再指向光を光線(236)によって示すよう
に補助フォトセル(235)上に落下するように指向さ
せる。
第14b図は、ビーム(3)が横切る場合のへりのよう
に補助フォトセル(235)により発生する応答(23
7)を示す。急激な変化(23B)は電子工学的スイッ
チの目的に使用することができる。
に補助フォトセル(235)により発生する応答(23
7)を示す。急激な変化(23B)は電子工学的スイッ
チの目的に使用することができる。
第15図には、光がレンズによりフォトセル(242)
上に集光される別の具体例が示しである。
上に集光される別の具体例が示しである。
レーザー光源からのビーム(1)は回転する刻み面付き
鏡ドラム(2)に投影され、そこからビームが反射され
、鏡(23?)によッテ更に反射された後に(3a)、
(5b)によって規定される光学通路にわたって走査さ
れ、それによってウェブ(4)上に入射し、次いでウェ
ブのへりを越えて反射性ストリップ(209)上に落下
する。通路(5e1゜3句)によって規定される走査ビ
ームはウェブ(4)ニよっテ反射されてビーム(5rw
)を形成し、この反射ビームは通路(3e1rw、3
e2rw)間を走査し、それからフォトセル(242)
の窓(241)の近傍の点(240)において集光曲面
レンズ(245)によって濃縮され、その後に入口窓(
241)上に落下する。鏡(209)によって反射され
たビーム(たとえば10rm、11rm)は同様に集光
レンズ(243)によって(241)の点で濃縮され、
その後にフォトセル(242)の入口窓(241)に落
下する。
鏡ドラム(2)に投影され、そこからビームが反射され
、鏡(23?)によッテ更に反射された後に(3a)、
(5b)によって規定される光学通路にわたって走査さ
れ、それによってウェブ(4)上に入射し、次いでウェ
ブのへりを越えて反射性ストリップ(209)上に落下
する。通路(5e1゜3句)によって規定される走査ビ
ームはウェブ(4)ニよっテ反射されてビーム(5rw
)を形成し、この反射ビームは通路(3e1rw、3
e2rw)間を走査し、それからフォトセル(242)
の窓(241)の近傍の点(240)において集光曲面
レンズ(245)によって濃縮され、その後に入口窓(
241)上に落下する。鏡(209)によって反射され
たビーム(たとえば10rm、11rm)は同様に集光
レンズ(243)によって(241)の点で濃縮され、
その後にフォトセル(242)の入口窓(241)に落
下する。
ウェブ(4)による反射に起因する信号強度とストリッ
プ(209)による反射に起因する信号強度との釣合い
は焦点(244)に中性くさびフィルタ(245)を介
在させることによって然し点(240)に集光するビー
ムを阻止しないようにして達成される。また、図示の如
く、中性くさび(245)のすぐ前の通路にビームスプ
リッタ(254)を挿入して反射性ストリップ(209
)によって反射された光の一部を補助フォトセル(23
5)に指向させる。
プ(209)による反射に起因する信号強度との釣合い
は焦点(244)に中性くさびフィルタ(245)を介
在させることによって然し点(240)に集光するビー
ムを阻止しないようにして達成される。また、図示の如
く、中性くさび(245)のすぐ前の通路にビームスプ
リッタ(254)を挿入して反射性ストリップ(209
)によって反射された光の一部を補助フォトセル(23
5)に指向させる。
すなわち、この具体的において、ウェブ(4)によって
反射された光はフォトセルの受光面の一区域において集
光され、同様に*(209)によって反射された光は同
じ受光面の異なる区域において集光されるようになって
いる。この第2の焦点をおおうように然し第1の焦点は
覆わないようにくさびフィルタ(245)を配置するこ
とによって、ウェブによる平均反射および縫による平均
反射に対応するそれぞれの強度は単にくさびの位置を調
整することによって釣合わせることが可能である。実質
的に異なった表面反射性をもつ製品を検査しようとする
とき、これは明らかに利点である。
反射された光はフォトセルの受光面の一区域において集
光され、同様に*(209)によって反射された光は同
じ受光面の異なる区域において集光されるようになって
いる。この第2の焦点をおおうように然し第1の焦点は
覆わないようにくさびフィルタ(245)を配置するこ
とによって、ウェブによる平均反射および縫による平均
反射に対応するそれぞれの強度は単にくさびの位置を調
整することによって釣合わせることが可能である。実質
的に異なった表面反射性をもつ製品を検査しようとする
とき、これは明らかに利点である。
第16a図〜第16b図は多数のフォトセルからの信号
の組合せを本発明の更に別の具体例に使用する様子を示
すものである。
の組合せを本発明の更に別の具体例に使用する様子を示
すものである。
第16a図において、ウェブの先導ヘリを横切る前のビ
ーム(10)が補助フォトセル(246)上に落下せし
められる。同様にウェブの追跡ヘリを横切った後のビー
ム(11)は第2の補助フォトセル(247)上に落下
せしめられる。
ーム(10)が補助フォトセル(246)上に落下せし
められる。同様にウェブの追跡ヘリを横切った後のビー
ム(11)は第2の補助フォトセル(247)上に落下
せしめられる。
第16b図はウェブ(4)によって反射された光ビーム
(3rv)に起因するフォトセル(7,8)からの信号
が装置(248)において付加され、増幅器(249)
によって増幅される様子を示すものである。同様にして
光ビーム(10,11)に起因する補助フォトセル(2
46,247)からの信号は装置(250)において付
加され、可変増加分増幅器(251)によって増幅され
る。増幅器(251)の増加分はその出力信号が増幅器
(249)のそれに等しくなるように調整される。すな
わち、ウェブのへ9を横切るビーム(5)の移動の直前
のまたは移動波の任意の段階として、任意の基本ビーム
(主ビーム3または閃光の円錐内のビーム)はウェブに
よって反射されて受光器に従ってフォトセル(7,8)
に入るか、あるいは直接に補助フォトセル(246また
は247)に落下する。このような任意の基本ビームか
らえられる装置(252)の出力信号は従ってウェブに
よって反射されると否とにか\わらず実質的に同じであ
り、その結果としてのフィルタ処理を受けた信号中の唯
一の残存過渡現象は真の欠陥によって発生する過渡現象
である。こ\でもまた、ウェブ(4)をその全表面にわ
たって検査することが可能である。
(3rv)に起因するフォトセル(7,8)からの信号
が装置(248)において付加され、増幅器(249)
によって増幅される様子を示すものである。同様にして
光ビーム(10,11)に起因する補助フォトセル(2
46,247)からの信号は装置(250)において付
加され、可変増加分増幅器(251)によって増幅され
る。増幅器(251)の増加分はその出力信号が増幅器
(249)のそれに等しくなるように調整される。すな
わち、ウェブのへ9を横切るビーム(5)の移動の直前
のまたは移動波の任意の段階として、任意の基本ビーム
(主ビーム3または閃光の円錐内のビーム)はウェブに
よって反射されて受光器に従ってフォトセル(7,8)
に入るか、あるいは直接に補助フォトセル(246また
は247)に落下する。このような任意の基本ビームか
らえられる装置(252)の出力信号は従ってウェブに
よって反射されると否とにか\わらず実質的に同じであ
り、その結果としてのフィルタ処理を受けた信号中の唯
一の残存過渡現象は真の欠陥によって発生する過渡現象
である。こ\でもまた、ウェブ(4)をその全表面にわ
たって検査することが可能である。
たとえば増幅器(251)からの信号は前述の如く電子
工学的信号スイッチ用に使用することができる。
工学的信号スイッチ用に使用することができる。
添付の図面は本発明の方法および装置を具体的に説明す
るためのものであり、第1図〜第3図および第5a図〜
第7c図は光がウェブ中を透過する場合の方法および装
置に関し、第8図〜第16図は光がウェブから反射する
場合の方法および装置に関し、第4a図および第4b図
は反射および透過の両方の方法に関する。 図中において; 1・・・レーザービーム; 1a・・ルーザー光源;2
・・・刻み面付き鐘ドラム: 3・・・走査ビーム;3
m、3b・・・走査ビームの先端通路:5fl、5f、
・・・ビーム(3)のまわ抄に軸的に対称に位置する光
線; 3fw、3e1rw・・・反射ビーム; 4・
・・ウェブ: 5・−・窓; 6−・・受光器ニア、
8−・・フォトセル: 10rm、11rm・・・再
指向ビーム; 1o9・・・偏光性ストリップ:112
.113−−・偏光の方向: 114,115,11
6,117゜118.09,120・・・7オトセル(
7,8)からの信号の走査ビーム先端通路(3a、3b
)間での変化(透過光使用の場合) ; 121,1
22,123・・・過渡現象: 124・・・補助フォ
トセル: 125・・・補助フォトセル(124)の応
答信号:126−・・急激な信号変化: 2o9・・・
反射性スト’)”)プ: 212・・・減衰性フィル
タ: 213,214・・・ローラ: 215,2
16,217,218,219,220,221川フォ
トセA−(7,8)ヵ1.。おっ。え。”5SJIia
u (s a 、 ’・15b)間での変化(
反射光使用の場合):222.225,224・・・過
渡現象; 225,226・・・光パイプ列;227
.228・・・フィルタ; 229・・・ローラ;23
0.231・・・反射光の散乱範囲; 252−・・
反射光:233・・・フィルタ: 254・・・ビーム
スプリッタ:235・・・補助フォトセル: 256・
・・再指向ビーム;237・−・応答信号: 238・
・・信号の急激な便化:240・・・走査ビーム: 2
41・・・窓: 242・・・フォトセル: 245・
・・レンズ: 244・・・焦点; 245・・・くさ
びフィルタ: 246,247・・・補助フォトセル
:248.250・・・信号付加装置: 249,2
51・・・増幅器;252・・・信号発生装置; W・・・ウェブの運動方向: LM、MN・・・窓(
5)のへり;aa、bb−LM、MNKそれぞれ平行な
軸:P・・・プロフィル
るためのものであり、第1図〜第3図および第5a図〜
第7c図は光がウェブ中を透過する場合の方法および装
置に関し、第8図〜第16図は光がウェブから反射する
場合の方法および装置に関し、第4a図および第4b図
は反射および透過の両方の方法に関する。 図中において; 1・・・レーザービーム; 1a・・ルーザー光源;2
・・・刻み面付き鐘ドラム: 3・・・走査ビーム;3
m、3b・・・走査ビームの先端通路:5fl、5f、
・・・ビーム(3)のまわ抄に軸的に対称に位置する光
線; 3fw、3e1rw・・・反射ビーム; 4・
・・ウェブ: 5・−・窓; 6−・・受光器ニア、
8−・・フォトセル: 10rm、11rm・・・再
指向ビーム; 1o9・・・偏光性ストリップ:112
.113−−・偏光の方向: 114,115,11
6,117゜118.09,120・・・7オトセル(
7,8)からの信号の走査ビーム先端通路(3a、3b
)間での変化(透過光使用の場合) ; 121,1
22,123・・・過渡現象: 124・・・補助フォ
トセル: 125・・・補助フォトセル(124)の応
答信号:126−・・急激な信号変化: 2o9・・・
反射性スト’)”)プ: 212・・・減衰性フィル
タ: 213,214・・・ローラ: 215,2
16,217,218,219,220,221川フォ
トセA−(7,8)ヵ1.。おっ。え。”5SJIia
u (s a 、 ’・15b)間での変化(
反射光使用の場合):222.225,224・・・過
渡現象; 225,226・・・光パイプ列;227
.228・・・フィルタ; 229・・・ローラ;23
0.231・・・反射光の散乱範囲; 252−・・
反射光:233・・・フィルタ: 254・・・ビーム
スプリッタ:235・・・補助フォトセル: 256・
・・再指向ビーム;237・−・応答信号: 238・
・・信号の急激な便化:240・・・走査ビーム: 2
41・・・窓: 242・・・フォトセル: 245・
・・レンズ: 244・・・焦点; 245・・・くさ
びフィルタ: 246,247・・・補助フォトセル
:248.250・・・信号付加装置: 249,2
51・・・増幅器;252・・・信号発生装置; W・・・ウェブの運動方向: LM、MN・・・窓(
5)のへり;aa、bb−LM、MNKそれぞれ平行な
軸:P・・・プロフィル
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 ウェブのへりを横切抄これを越えて掃射する狭い
光ビームによりウェブを走査し、ウェブによ抄反射また
は透過される光を光測定装置の受光器に指向させて対応
する電気信号を発生させ、そしてウェブの光学的反射ま
たは透過の性質をウェブの横方向のへ9に近接する2つ
の補助走査帯域について、該電気信号の平均強度が実質
的に全部の走査掃射にわたって一定であるように、光学
的忙または電子工学的にシミュレーションする、ことか
ら成ることを特徴とする移動ウェブ物質を光電的に走査
する方法。 Z ウェブによって反射または透過される光および補助
走査帯域内のウェブを通る光を通常の受光器に指向させ
、ウェブを通る眩光の光学通路に光変調素子を存在させ
、該変調素子がウェブの反射または透過の性質をシミュ
レーションするようになした特許請求の範囲第1項記載
の方法。 五 レーザー走査ビームを使用する特許請求の範囲第1
項または第2項に記載の方法。 4、振動反射器の使用によって又は多数刻み面付き鏡ド
ラムの使用によってビームをウェブを横切って走査させ
る特許請求の範囲第1項〜第3項のいづれかに記載の方
法。 5、 ウェブが光透過性の拡散性物質から成り、偏光さ
れ九狭い光ビームによりこのウェブを走査することを含
み、走査されるウェブと受光器系との間に、走査される
ウェブのへ9を越えて突出する偏光性物質から成る光透
過性のシートを存在させ、この偏光性物質のシートを配
向させてウェブのへ抄を越える偏光された走査用ビーム
を部分的に消去する、特許請求の範囲第1項〜第4項の
いづれかに記載の方法。 6. ウェブが光反射性の物質から成り、狭い光ビーム
によりこのウェブを走査することおよびウェブ表面から
反射される光の一部を受光器に指向させることを含み、
光源から離れたウェブの面に光害指向部材を存在させ、
ウェブのへりを横切る光の部分をウェブから反射される
光を受は入れる同じ受光器に再指向させるように上記光
害指向部材を配置し、ウェブから反射される光の通路中
かあるいは光害指向部材から受光器へ再指向される光の
通路中かそのいづれかに光減衰フィルタを存在させ、ウ
ェブから反射される光により受光器から生じる電気信号
の平均強度が光害指向部材から受光器へ再指向される光
による電気信号の平均強度に等しくなるように光減衰フ
ィルタの強度を定める特許請求の範囲第1項〜第4項の
いづれかに記載の方法。 l 光減衰フィルタを反射光の通路中に配置する特許請
求の範囲第6項記載の方法。 a 光減衰フィルタが傾斜密度型のものである特許請求
の範囲第6項または第7項に記載の方法。 9 光減衰フィルタが2枚の重ねた偏光性シートから成
り、その一方が他方に対して配向されている特許請求の
範囲第6項または第7項に記載の方法。 1α光再指向部材が反射性部材である特許請求の範囲第
6項記載の方法。 11、光反射性部材が光走査源から離れたウェブの面に
ウェブのいづれかのへりを越えて突出するように配置し
た鏡である特許請求の範囲第10項記載の方法。 12、走査用ビームが偏光でsb、光反射性部材がウェ
ブのへ抄を越えて配置された且つウェブから反射された
光を減衰するように配置された偏光シートである特許請
求の範囲 ゛1゛第10項記載の方法。 怪光反射部材が走査点においてウェブを支持する磨力λ
れたローラである特許請求の範囲第10項記載の方法。 14、光害指向部材が光伝導部材である特許請求の範囲
第6項記載の方法。 15、ウェブによって反射または透過された光を第1の
受光器に指向させ、補助走査帯域内のウェブを通過する
光を第2の受光器に指向させ、これらの受光器の出力信
号をえられた合計信号が実質的に全部の走査掃射にわた
って一定であるように釣り合わせ且つ加える特許請求の
範囲第1項H己載の方法。 1&走査ビームがウェブの1つのへりを横切るときに信
号を受は入れる特許請求の範囲第1項〜第15項のいづ
れ力)に記載の方法。 1Z狭い走査光ビームを発生させてこのビームをウェブ
のへりを横切りこれを越えて掃射するための部材、受は
入れた光に対応する電気出力信号を発生する受光器を含
むm1定装置、ウェブによって反射または透過される光
を受光器に指向させる部材、およびウェブの光学的反射
またGま透過の性質をウェブの横方向のへりに近接する
2つの補助走査帯域について、該電気出力の信号の平均
強度カ;実質的に全部の走査掃射にわたって一定である
ように、シミュレーションするための光学的または電子
工学的部材、力為ら成ることを特徴とする移動ウェブの
走査装置。 1&光指向用部材がウェブによって反射また&ま透過さ
れる光ならびに補助走査帯域内のウェブを通過する光を
受光器に指向させるものであり、シミュレーション部材
d(ウェブを通る光の光学通路に存在する光学的光変調
素子であZ。 特許請求の範囲第17項記載の装置。 19、光変調素子が相互に配向された2枚の偏光性シー
トから成る特許請求の範囲第18項記載の装置。 2α光がウェブによって透過される光から受光器によっ
て受は入れられ、光走査源が偏光であり、光変調素子が
偏光性シートである特許請求の範囲第17項または第1
8項に6己載の装置虻。 21、偏光性シートがウェブのうしろの走査光の方向に
配置されていてウェブおよび補助走査帯域を横切って伸
びている特許請求の範囲第20項記載の装置。 22、光がウェブによって反射される光から受光器によ
って受は入れられ、光変調素子が光学密度くさびである
特許請求の範囲第17項または第18項に記載の装置。 2五光がウェブによって反射される光から受光器によっ
て受は入れられ、光反射表面がウェブを横切って伸びそ
のへりを越えて突出している鏡である特許請求の範囲第
17項、第18項または第22項に記載の装置。 24、光がウェブによって反射される光から受光器によ
って受は入れられ、光反射性表面が走査点においてウェ
ブを支持する磨かれたローラである特許請求の範囲第1
7項、第18項または第22項に記載の装置。 25、測定装置が付属増幅器およびこの増幅器の出力信
号のための付加器をもつ2個の受光器から成り、光指向
部材がウェブにより反射または透過される光を一方の受
光器に指向させ、補助走査帯域内のウェブを通る光を他
の受光器に指向させ、そして増幅器を付加器によって発
生される合計信号が実質的に全部の走査掃射にわたって
一定であるように相互に釣合わせて成る特許請求の範囲
第17項記載の装置。 26、ウェブおよび一方の補助走査帯域の両者からの光
を受は入れるように配置した付加的受光器から成るウェ
ブのへり検出器を装備した特許請求の範囲第17項〜第
25項のいづれかに記載の装置。 2Z光ビームを発生させるために使用する光源がレーザ
ーである特許請求の範囲第17項〜第り6項のいづれか
に記載の装置。 2&伝動反射器または多数刻み面付き鏡を使用してビー
ムをウェブを横切って走査させるようになした特許請求
の範囲第17項〜第27項のいづれかに記載の装置。 29、添付図面蚕参照して実質的に明細書に記載した特
許請求の範囲第17項記載の装置。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB8118575 | 1981-06-17 | ||
GB8118576 | 1981-06-17 | ||
GB8118575 | 1981-06-17 | ||
GB8129538 | 1981-09-30 | ||
GB8135928 | 1981-11-27 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS586871A true JPS586871A (ja) | 1983-01-14 |
Family
ID=10522559
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10151682A Pending JPS586871A (ja) | 1981-06-17 | 1982-06-15 | ウエブ走査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS586871A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5321978A (en) * | 1976-08-12 | 1978-02-28 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Apparatus for detecting flaws on the surface of metal tape |
-
1982
- 1982-06-15 JP JP10151682A patent/JPS586871A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5321978A (en) * | 1976-08-12 | 1978-02-28 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Apparatus for detecting flaws on the surface of metal tape |
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