JPS5865559U - ピンホ−ル検出機構 - Google Patents

ピンホ−ル検出機構

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Publication number
JPS5865559U
JPS5865559U JP15898681U JP15898681U JPS5865559U JP S5865559 U JPS5865559 U JP S5865559U JP 15898681 U JP15898681 U JP 15898681U JP 15898681 U JP15898681 U JP 15898681U JP S5865559 U JPS5865559 U JP S5865559U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
light
detection mechanism
light source
pinhole
Prior art date
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Pending
Application number
JP15898681U
Other languages
English (en)
Inventor
牧野　義和
下西　幾二
木塚　秀雄
正和 藤田
Original Assignee
東英電子工業株式会社
川崎製鉄株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by 東英電子工業株式会社, 川崎製鉄株式会社 filed Critical 東英電子工業株式会社
Priority to JP15898681U priority Critical patent/JPS5865559U/ja
Publication of JPS5865559U publication Critical patent/JPS5865559U/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
図面は本考案の技術的内容を示すものであって、第１図
は従来のピンホール検出機構についての説明図、第２図
は本考案によるものの説明図、第３図はその受光器の説
明図、第４図はその投光器の説明図、第５図はそのピン
ホール検出状態の説明図、第６図は本考案番ミよるもの
の配設関係を示した平面図、第７図ばその自動追縁装置
を用いた場合の説明図である。 然してこれらの図面において、７は被検査材、８は受光
器、９・・・投光器、１０はビーム光、１１は受光レン
ズ、１２はイメージセンサ−１１５はピンホール、１６
はその散乱光、１７はエツジ、１８はその散乱光、１９
は受光視野を示すものである。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 走行する帯状体の被検査物体の一面側に設けた光源と、
    上記被検査物体を挾み光源と対向した位置で被検査物体
    のピンホールを被検査物体面の光散乱により、検知する
    受光素子を備えたものにおいて、前記光源は方向性を有
    するビーム光とし、且つ該ビーム光は被検査物体の内側
    からエツジ又は被検査物体面に対して傾きをつけて投光
    する投光手段を用い、しかも前記受光素子に一次元自己
    走査型フオドダイオードアレイを用いたことを特徴とす
    るピンホール検出機構。
JP15898681U 1981-10-27 1981-10-27 ピンホ−ル検出機構 Pending JPS5865559U (ja)

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JP15898681U JPS5865559U (ja) 1981-10-27 1981-10-27 ピンホ−ル検出機構

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Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5865559U true JPS5865559U (ja) 1983-05-04

Family

ID=29951461

Family Applications (1)

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JP15898681U Pending JPS5865559U (ja) 1981-10-27 1981-10-27 ピンホ−ル検出機構

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010091460A (ja) * 2008-10-09 2010-04-22 Nippon Steel Corp 穴欠陥検出装置及び穴欠陥検出方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5019068A (ja) * 1973-06-19 1975-02-28
JPS5535276A (en) * 1978-09-04 1980-03-12 Nippon Steel Corp Edge pin-hole detector
JPS55140135A (en) * 1979-04-19 1980-11-01 Nippon Seiko Kk Appearance tester

Patent Citations (3)

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